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III. RESULTADOS
Nas figuras seguintes observa-se uma vista ampliada de
rea de maior concentrao de campo eltrico bem como uma
escala de cores.
A Fig. 4 ilustra a simulao do campo eltrico num
isolador perfeito, onde o maior valor encontrado foi 84 kV/cm
externamente ao terminal de alta tenso. Nas proximidades da
primeira saia foi observado um campo de aproximadamente
13 kV/cm.
Fig.3 - Representao do isolador perfeito na interface Autocad.
Fig.4 - Concentrao do campo eltrico no isolador perfeito. Fig.5 - Concentrao de campos eltricos para isolador com defeito tipo 1.
Na Fig.5 so mostradas as concentraes de campo eltrico
para o isolador que apresenta defeito do tipo 1. Observou-se
um campo eltrico cuja intensidade 97,1 kV/cm, exatamente
na extremidade superior do condutor que se encontra
interligado ao terminal de alta tenso. O esforo eltrico
produzido pelo campo no polmero pode conduzir a gerao
de descargas parciais desde que exista uma pequena cavidade
de ar [2], [9], [10], [11]. A presena do condutor ocasionou
uma reduo considervel do campo eltrico nas proximidades
da primeira saia.
Na Fig.6 so mostradas as concentraes de campo eltrico
para o isolador que apresenta defeito do tipo 2. Observou-se
que o maior campo eltrico encontrado foi 93,3 kV/cm
exatamente na extremidade inferior do condutor que se
encontra flutuando (no interligado ao terminal de alta
tenso). Na extremidade superior do fio condutor foi
encontrado um campo eltrico de 31,1 kV/cm. O
comportamento do campo eltrico nas adjacncias da primeira
saia semelhante ao caso do isolador perfeito.
Na Fig.7 so mostradas as concentraes de campo eltrico
para o isolador que apresenta defeito do tipo 3. O maior valor
Fig.6 - Concentrao de campos eltricos para isolador com defeito tipo 2.
de campo eltrico encontrado foi 81,2 kV/cm no terminal
inferior, sendo tambm observado um campo eltrico de
5,1 kV/cm no interior da regio com falta de aderncia.
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A Fig.8 ilustra as concentraes de campo eltrico para o Fig. 9 - Concentrao de campos eltricos para isolador com defeito tipo 5.
isolador que apresenta defeito do tipo 4. Na anlise, observou-
se que o campo eltrico no interior da regio com perda de Em todos os casos, o comportamento do campo eltrico dos
isoladores foi simulado utilizando-se da sua simetria axial.
aderncia foi de aproximadamente 50 kV/cm. A regio
Assim, necessrio ressaltar que nos isoladores Tipo 1 e 2, o
caracterizada pela perda de aderncia e preenchimento com ar
na presso atmosfrica, enquanto que o valor mximo fio de cobre colocado entre o basto e o revestimento
polimrico foi representado por um anel envolvendo o ncleo.
encontrado foi de 81,6 kV/cm externamente ao terminal
De uma forma geral, observou-se que os isoladores
inferior.
polimricos com e sem defeitos apresentaram concentraes
de campo eltrico na regio que compe a primeira saia e o ar
circunvizinho, isto se deve a proximidade com o terminal
conectado alta tenso. Constatou-se tambm que nos
defeitos que envolvem um fio condutor, a maior intensidade
do campo eltrico ocorreu internamente ao material
polimrico. Os defeitos que apresentam falta de aderncia no
apresentaram grandes concentraes de campo eltrico.
Entretanto, a perda de aderncia uma situao crtica, pois
mesmo em campos menores possvel que as descargas
provoquem a carbonizao da regio, tornado-a condutiva. A
transformao do material isolante em condutor em uma
micro-regio interna ao isolador pode ser oriunda da
carbonizao do polmero ou pela presena de soluo aquosa.
Como foi constatado na simulao do Tipo 2, corpos
condutores inseridos no interior do isolador podem provocar
uma grande concentrao de campo eltrico. Com o objetivo
de analisar esta nova condio, uma nova simulao foi
realizada. Assim, na Fig. 10 exibida uma extrapolao do
Fig.8. - Concentrao de campos eltricos para isolador com defeito tipo 4. defeito apresentado na amostra Tipo 2, ou seja, um material
Na Fig.9 so mostradas as concentraes de campo eltrico condutor a 5 cm de distncia do terminal de alta tenso, porm
para o isolador que apresenta defeito do tipo 5. Nesta anlise com 0,3 mm de espessura e 0,5 mm de altura. O campo
observou-se um campo eltrico mximo de 81,1 kV/cm eltrico na micro-regio do material condutivo atinge
externamente ao terminal inferior, enquanto que no interior da 446 kV/cm.
falta de aderncia o valor encontrado do campo foi
aproximadamente 3,5 kV/cm. Comparando-se com a
simulao da perda de aderncia prxima do terminal de alta
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[6] C. Desai and J. Abel, Introduction to the Finite Element Method, Van
Nostrand-Reinhold, New York, 1971.
[7] O. C. Zienkiewicz, The Finite Element Method in Engineering
Science, McGraw-Hill Book Company, London, 1971.
[8] O. C. Zienkiewicz, The Finite Element Method, 3rd ed. McGraw-Hill
Book Company, New York, 1977.
[9] Y. Shibuya, S. Zoledziowski, J. H. Calderwood, Void Formation and
Electrical Breakdown In Epoxy Resin, IEEE Trans. on Power
Apparatus and Systems, Vol. PAS-96, N 1, 1977.
[10] Y. Shibuya, S. Zoledziowski, J. H. Calderwood, Light Emission and
Deterioration in Epoxy Resin Subjected to Power Frequency Electric
Fields, Proc. IEEE, Vol. 125, N 4, 1978.
[11] E. G. da Costa, Ruptura Eltrica em Resina Epoxy, tese de mestrado,
Departamento de Engenharia Eltrica, Universidade Federal da Paraba,
Campina Grande, 1981.
VII. BIOGRAFIAS
Fig. 10 - Concentrao de campos em uma extrapolao do defeito Tipo 2. Max G. G. Neri nasceu no Brasil em 1977. Recebeu o ttulo de Engenheiro
Eletricista em 2004. Recebeu o ttulo de mestre (M.Sc) em 2005 e atualmente
aluno do programa de Ps-Graduao (doutorado) da Universidade Federal
de Campina Grande, Brasil. Suas reas de interesse so: alta tenso, campos
IV. CONCLUSES eltricos, descargas parciais e isoladores.
Foram realizadas sete simulaes do comportamento
eltrico de amostras de isolador polimrico para 69 kV. Edson G. Costa nasceu no Brasil em 1954. Recebeu o ttulo de Engenheiro
Eletricista em 1978, em 1981 recebeu o ttulo de mestre (M.Sc.) e em 1999
Considerando os resultados obtidos nas simulaes, recebeu o ttulo de doutor (D.Sc) todos da Universidade Federal da Paraba.
possvel concluir que a presena de corpos condutores no Suas reas de interesse so: alta tenso, campos eltricos, descargas parciais,
interior do isolador causa uma forte intensificao do campo pra-raios e isoladores. Desde 1978 professor do Departamento de
Engenharia Eltrica da Universidade Federal de Campina Grande, Brasil.
eltrico, entretanto esta condio de ocorrncia incomum
nos isoladores.
Embora, a simulao da falta de aderncia no tenha
apresentado grandes concentraes de campo eltrico, este
defeito pode evoluir para situaes extremas, devido
carbonizao de uma micro-regio, causada pelas descargas
eltricas ou presena de soluo aquosa.
A presena das descargas ou da soluo aquosa no interior
do isolador promovendo uma intensificao do campo eltrico
fornece condies favorveis ocorrncia do processo de
trilhamento (tracking).
V. AGRADECIMENTOS
Os autores do trabalho agradecem a Isabele Larouche da
Comsol, que gentilmente enviou uma amostra do software
Femlab para avaliao e, a Eletrobrs pelo suporte
financeiro atravs do Convnio ECV- 082/2005.
VI. BIBLIOGRAFIA
[1] R. Hackam. Outdoor HV Composite Polymeric Insulators. IEEE
Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation. Volume 6 NO. 5,
pp. 557-585, October 1999.
[2] E. A. A. Segundo Comportamento do Campo Eltrico em Isoladores
Polimricos com Defeitos apresentado no Transmission and
Distribution Latin Amrica 2004, So Paulo Brasil.
[3] Femlab. Quick Start and Quick Reference, 2004.
[4] K. H. Heubner, The Finite Element Method for Engineers, John Wiley
& Sons, Second Edition, 1982.
[5] C. A. Brebbia, The Boundary Element Method for Engineers, Pentech
Press, London, 1978.