Académique Documents
Professionnel Documents
Culture Documents
Maro-2016
Resumo
Palavras-chave: Testes de burn-in, Perodo de burn-in, Fiabilidade, Curva da banheira, Taxa instantnea
de falhas, Risco de falha, Probabilidade condicionada de falha, Perodo de garantia
Introduo
Este artigo sobre testes de burn-in, vem juntar-se a outros trs [1], [2], [3] que escrevi para a
revista QUALIDADE. Embora no tenha focado a minha vida profissional no tema Qualidade,
verdade que ele sempre andou por perto e interrelacionado. Todos estes temas surgiram em algum,
ou mais momentos e, como de costume, espicaaram a minha curiosidade de Engenheiro e
levaram-me a estud-los. Em algumas ocasies, mesmo, a p-los em prtica em empresas diversas
na minha actividade de consultor em Economia Operacional. Tratei-os tambm no mbito de
aulas em Universidades e em aces de formao inter e intra empresas. O tema de testes de burn-
in surgiu-me por trs vezes: pela primeira vez, h muitos anos, na fabricao de lmpadas na
Philips em Eindhoven, na fabricao de cabinas de comutao telefnica digital na Alcatel em
Cascais e na fabricao de autorrdios na Pioneer no Seixal. No primeiro caso como actor e no
segundo e terceiro casos como espectador. Mais uma vez me entusiasmou a perspectiva da
eficincia, em complemento da sempre necessria eficcia, em todas as actividades de natureza
operacional desenvolvidas em empresas industriais. Conforme j deixei escrito no artigo sobre
garantias e contratos de assistncia aps-venda [2], a fiabilidade a expresso da qualidade ao
longo do tempo. Mais uma vez, a fiabilidade surge nesta perspectiva neste quarto e ltimo artigo.
Conforme j foi referido na sinopse, um teste (ou ensaio) de burn-in um processo pelo qual se
garante (com um determinado nvel de confiana) que um sistema no sofrer falhas antes de
decorrido um determinado perodo de utilizao. Para tal, os componentes que compem o
sistema so ensaiados em condies simuladas da realidade ou, por vezes, mais exigentes, de
modo a que as falhas infantis se manifestem e os componentes falhados sejam substitudos ou
reparados, antes de o sistema chegar ao mercado e ser colocado em servio. No caso de
componentes electrnicos ou de circuitos integrados complexos, os testes so realizados
frequentemente em condies de vida acelerada causando-lhes stress, fazendo-os funcionar em
condies de temperatura e de humidade elevadas seguindo perfis temporais predefinidos, ao
mesmo tempo que sujeitos a sobretenses. As placas de circuitos impressos, e quadros elctricos
completos podem tambm ser sujeitos a vibraes e, mesmo, choques. No caso dos quadros
elctricos, tambm a jactos de gua se forem destinados a funcionar no exterior.
Por vezes, as falhas podem surgir da interaco entre diferentes componentes, circunstncias nas
quais os sistemas so testados j montados com todos os seus componentes. , por exemplo, o
caso de motores de combusto interna, tendo-se popularizado, neste caso, o termo rodagem,
teste este que hoje realizado em fbrica, de modo a prevenir reclamaes resultantes da
manifestao de falhas infantis nas viaturas j nas mos dos clientes.
Os testes de burn-in constituem todavia um custo importante de produo, pelo que devem ser
criteriosamente concebidos, seguindo Normas e optando, sempre que possvel, por testes (ou
Ensaios) No Destrutivos (END). Obviamente, que ser sempre prefervel eliminar as causas
raiz das falhas infantis em lugar da realizao de testes de burn-in. Porm, no incio da
fabricao de novos produtos, estes ensaios tero de ser realizados idealmente, aproveitando-se
a circunstncia para identificar e eliminar cada nova causa raiz surgida.
1. Conceitos bsicos
A funo h(t) encontra-se representada graficamente na Figura 1. Notemos que h(t) uma
probabilidade condicional, isto , encontra-se condicionada ao nmero de rgos sobreviventes
Ns no momento t e deduzida a partir das outras funes de fiabilidade, pela Expresso (1).
1 dRt f t
ht . (1)
Rt dt Rt
1) Modos de falha infantis (h(t) decrescente), os quais, originados durante o processo de fabrico,
se existirem, manifestar-se-o muito provavelmente no incio da vida, podendo todavia, vir a
manifestar-se mais tarde com probabilidade decrescente;
2) Modos de falha casuais (h(t) constante e igual a ), os quais, com causa extrnseca, podero
manifestar-se em qualquer momento do ciclo de vida;
3) Modos de falha por degradao (h(t) crescente), os quais, com causa intrnseca, manifestar-
se-o seguramente no fim de vida, podendo todavia, manifestar-se mais cedo com
probabilidade decrescente.
Notar que um componente de um sistema poder nunca vir a falhar por causas infantis sobretudo
se tiver sido submetido a testes de burn-in no fabricante assim como poder nunca vir a falhar
por causas extrnsecas (casuais) mas falhar sempre no perodo de degradao se aqui chegar.
R(t)
f(t) h(t) F(t)
1
F(t)
R(t)
h(t)
f(t)
f(t)
0
0 Ti Tn T
Perodo de Perodo de maturidade Perodo de degradao
infncia ou de vida til
A forma eficaz de minimizar este problema, para alm dos necessrios cuidados de projecto e
rigor de fabrico, consiste na prtica em testar a totalidade da produo em condies de servio
simulado (ou rodagem) antes da entrada em servio efectivo nas mos dos clientes. Este tipo
de teste conhecido por burn-in, conforme referido anteriormente.
No perodo de maturidade, a funo de risco h(t) praticamente constante e designa-se por taxa
de falhas, sendo representada por . A funo de risco h(t) e a taxa de falhas podem ser melhor
compreendidas atravs de uma analogia: uma viatura realizou uma viagem a uma velocidade
mdia de 100 Km/hora (equivalente taxa de falhas ), embora tenha percorrido diversas partes
do percurso a velocidades instantneas diferentes (equivalente a h(t)).
No caso, por exemplo, dos aparelhos electrnicos, as causas que mais contribuem para as falhas
so: a temperatura excessiva, a sobretenso, a humidade, as variaes bruscas de temperatura, a
vibrao e os choques mecnicos.
h(t)
Componentes
mecnicos
Componentes
electrnicos
0 Tempo
Aps a idade Tn (vulgarmente designada por vida nominal) ser atingida (ver a Figura 1), a taxa
instantnea de falhas h(t) cresce acentuadamente em consequncia de fenmenos de degradao:
Fluncia (Deformao plstica que ocorre num material em resultado de uma carga esttica
aplicada durante muito tempo e ampliada pelo efeito do calor);
Fadiga mecnica, trmica e oligocclica (Ciclos curtos de flutuao trmica como, por
exemplo, os ciclos pra-arranca);
Corroso (atmosfrica, qumica ou electroqumica);
Eroso (desgaste).
h(t)
Software Hardware
0 Tempo
O perodo de degradao pode ser evitado se substituirmos preventivamente o rgo antes de este
atingir a idade Tn, ou beneficiarmos o seu estado, de forma a adiar o momento Tn, isto , a
prolongar significativamente a sua vida til.
E a quantidade que sobreviveu ao teste e que ir falhar durante a vida til especificada (ou
garantida) nf(t), tendo em conta a Expresso (2), ser calculada por:
nf(t) = N.R(T).[1 R(t|T)] = N.R(T).[1 R(t + T)/R(T)] = N.[R(T) R(t + T)] (4)
Obviamente que um teste de burn-in s se justifica se a condio R(t) < R* for verdadeira.
O teste dever ser prolongado at que se verifique a condio R(t | T) R*. Ou seja, necessrio
que o produto no incio da sua fase de operao apresente uma fiabilidade para a misso t (vida
til especificada), dado ter sobrevivido ao teste que durou o tempo T, igual ou superior
fiabilidade desejada R*.
Rt | T .RT Rt T 0 (5)
T t T
R * . exp exp 0 (6)
O perodo de burn-in pode tambm ser determinado em funo dos custos pertinentes em cada
contexto especfico. O custo total encontrado atravs de uma anlise de compromisso (trade-
off) entre os custos que ocorrero em resultado do teste de burn-in e os custos das falhas que
ocorrero j na fase de operao nas mos dos clientes (deve incluir o custo de eventuais
garantias). Trata-se pois de uma anlise custo-benefcio, na qual o teste pra quando o custo
incremental da sua extenso por mais uma unidade de tempo (custo) supera o custo decremental
(economia gerada ou benefcio) das falhas consequentes aps o teste. A Expresso (8) resulta
deste raciocnio [6], ou seja, o custo esperado E[C] por cada unidade submetida a teste deve ser
mnimo. Este custo igual soma:
[Custo do teste de burn-in de cada item Cb + Custo de cada item falhado e perdido durante o teste
Cf + Custo de cada item falhado durante o perodo de vida til Co]
Interessa pois saber qual dever ser o valor de T, de modo a que E[C] resulte mnimo, o que se
consegue adoptando um mtodo numrico de resoluo.
T T T t
E C cb .T c f 1 exp co 1 exp exp (8)
E[C]
E[C]mn
Cf Cb
Co
2. Exemplos de aplicao (as resolues em EXCEL dos dois casos aqui descritos
encontram-se em http://www.rassis.com/manutencao.html
Exemplo 1
Sem realizao do teste de burn-in, o produto apresenta uma fiabilidade para uma misso t =
1.500 horas, R(t = 1.500), igual a [2]:
0,5
1.500
Rt 1.500 e 50.000 0,885170 0,9
Como este valor de fiabilidade para a misso de 1.500 horas, inferior ao valor
especificado/desejado (R* = 0,9), torna-se necessrio um perodo de burn-in.
Resolvendo a equao (9) por um mtodo numrico (usando o algoritmo GRG Nonlinear do
SOLVER no EXCEL, por exemplo), obtm-se: T = 75,22 75 horas. Logo, R(t = 1.500 | 75) =
0,9. Ou seja, 0,9 ser a fiabilidade (probabilidade de sobrevivncia) de qualquer item para um
perodo de 1.500 horas de funcionamento, depois de ter sobrevivido durante 75 horas s condies
de burn-in.
Pela Expresso (4) podemos tambm conhecer quantas unidades falharo provavelmente durante
a fase operacional do produto.
nf(t) = N.[R(T) R(t + T)] = 100 x [(1 WEIBULL(75; 0,6; 50.000; 1)) +
(1 WEIBULL(1.500 + 75; 0,6; 50.000; 1))] = 100 x (0,979955 0,881959) = 9,8 10 unidades
Ou seja, aproximadamente, 10% das unidades que passaram o teste falharo durante a vida
garantida. Esta informao poder servir para o clculo de uma eventual garantia.
Este resultado pode tambm ser confirmado por simulao de Monte-Carlo. Com efeito, se
simularmos a falha de uns milhares de itens numa coluna do EXCEL, programando a Expresso
do processo gerador dos TTF (Time To Failure) da distribuio de Weibull [5], eliminarmos os
TTF inferiores a 75 horas noutra coluna, tratarmos em frequncia os TTF assim filtrados e
calcularmos a frequncia dos TTF superiores a 1.500 horas (sobrevivero, pelo menos, at 1.500
horas), encontraremos o valor 90%. Os outros 10% falharo durante a vida garantida, conforme
calculado anteriormente.
Exemplo 2
A substituio de um determinado produto se ele falhar durante a sua vida garantida de 5 anos (5
x 365 = 1.825 dias), Co = 8.200 /unidade. O custo do teste de burn-in por cada dia e unidade
testada Cb = 80 /dia.unidade. Cada unidade falhada durante o teste custar Cf = 780 /unidade.
Um teste de fiabilidade (sobrevivncia) mostrou que o comportamento em falha do produto pode
ser representado por uma distribuio de Weibull com os parmetros = 0,37 e = 3.800 dias de
operao. Qual ser o perodo de burn-in mais econmico?
T 0,37
T 0,37 T 1.825 0,37
E C 80.T 7801 exp 8.2001 exp
exp
3.800
3.800 3.800
Resolvendo esta equao por um mtodo numrico (usando o algoritmo GRG Nonlinear do
SOLVER no EXCEL, por exemplo), obtm-se: T* = 1,94 dias e E[C]min = 4.095 .
Complementarmente, podemos determinar quantas unidades do produto falharo durante o teste
recorrendo Expresso (3) e ao EXCEL. Teremos, ento, por cada N = 100 unidades:
Pela Expresso (4) podemos tambm conhecer quantas unidades falharo provavelmente durante
a vida operacional do produto.
nf(t) = N.[R(T) R(t + T)] = 100 x [(1 WEIBULL(1,94; 0,37; 3.800; 1)) +
(1 WEIBULL(1.825 + 1,94; 0,37; 3.800; 1))] = 100 x (0,941251 0,466435) = 47,48 48
unidades
Ou seja, aproximadamente, 48% das unidades que passaram o teste falharo durante a vida
garantida. Esta informao poder servir para o clculo de uma eventual garantia. Mais
realisticamente, serviria para justificar a reengenharia do processo, com base nos resultados de
uma anlise FMEA, j que parece consensual considerar-se aquela percentagem proibitiva.
3. Concluses
Um teste de burn-in caro devido aos meios que mobiliza (equipamentos, pessoas, energia,) e
aos produtos rejeitados. Em contrapartida, quanto mais exigente (ou prolongado no tempo) menor
ser a probabilidade de algum defeito no se revelar. O perodo de burn-in poder assim ser
determinado de duas formas: 1) Fixando-se empiricamente uma fiabilidade mnima dos produtos
colocados no mercado, o mesmo dizer que o fabricante garante o seu funcionamento em
condies especificadas por si como considerando-se normais, durante um certo perodo, ou 2)
realizando uma anlise de custo-benefcio, ou de compromisso (trade-off) entre os custos da
realizao do teste e os custos que resultaro mais tarde das reclamaes dos clientes e
consequentes substituies ou reparaes, para alm da deteriorao da imagem de qualidade do
fabricante.
Uma anlise FMEA justifica-se, a maioria das vezes, de modo a listar todos os modos de falha
infantis que podero estar latentes num qualquer produto industrial e decidir a forma mais
econmica de eliminar as suas causas, alterando materiais, o design, os mtodos de fabrico,
Idealmente, uma anlise FMEA deve ser levada a cabo, ainda na fase de projecto, de modo a
eliminar ou, pelo menos, diminuir drasticamente a necessidade de ensaios de burn-in.
Cumulativamente, esta anlise deve listar tambm os modos de falha originados pela normal
degradao (causas intrnsecas: desgaste, corroso, fadiga,), a qual inevitavelmente ocorrer
medida que o uso se vai acumulando, e os modos de falha induzidos por causas externas
(extrnsecas). Esta informao servir de base para a seleco/recomendao de polticas de
manuteno, no caso das primeiras, e para definio de medidas de mitigao das consequncias,
no caso das segundas. Aquelas na perspectiva do fabricante (que o utilizador poder mais tarde
alterar e adaptar em funo das consequncias das falhas luz da sua realidade especfica) e estas
j na perspectiva do utilizador.
Referncias bibliogrficas