3.

GRFICOS DE CONTROL PARA ATRIBUTOS

Este tipo de grficos clasifica como conforme o disconforme un producto con

respecto a especificaciones de las caractersticas de la calidad preestablecidas

El uso para este tipo de cartas consiste en estudiar un atributo que es una
caracterstica de calidad.

El trmino atributo se utiliza en control de calidad para describir dos situaciones:

Cada pieza producida es defectuosa o no defectuosa (cumple las

especificaciones o no).

Una sola pieza puede tener uno o mas defectos y el numero de estos
es determinado.

Es por eso que se estos grficos se pueden dividir como muestra el siguiente
cuadro:

P PORCENTAJE
DEFECTIVA
TRABAJOS
DEFECTUOSOS NP NUMERO DE
UNIDADES
DEFECTIVOS
Para atributos
U PORCION DE
DEFECTOS
DEFECTOS POR
UNIDAD
C NUMERO DE
DEFECTOS

Figura 13. Tipos de Grficos de control para atributos

3.1 Grfica np y p

Estas grficas estn basadas en la distribucin Binomial y se usan cuando la

caracterstica de calidad se representa por

El nmero de unidades defectuosas (np)

La fraccin de unidades defectuosa (p).

Para una muestra de tamao constante se usa una grfica de pn y se refiere al
control del nmero de artculos no conformes. La grfica p se usa para una
muestra de tamao variable, adems que se refiere a la fraccin defectiva por no
cumplir con las especificaciones.

Cuando un proceso est en control, la probabilidad de que cualquier pieza sea

defectuosa es p (proporcin a largo plazo de piezas defectuosas para un proceso
en control). Si tenemos una muestra de n piezas obtenida en un tiempo, y sea X
el numero de defectuosas, entonces p = X/n. Como X tiene una distribucin
binomial, E(X) = np y F(X) = np (1-p), y este es el principio de las frmulas de
estas grficos

Elaboracin de una grfica np

1. Recopilacin y organizacin de datos: se deben recopilar mas de 20

muestras y se deben registrar el numero de unidades defectuosas por lote
de cada una de las muestras, las cuales deben ser constantes, en una hoja
de registro.

2. Calcule la p de la siguiente manera, donde:

k

D i
p i 0
k n
D= nmero de unidades defectuosas
n= tamao de lote inspeccionado
k=nmero total de inspecciones

3. Calcule los lmites de control para la grfica pn

= + 3 (1 )
=
= 3 (1 )
Si LIC es negativo, no se considera y el lmite ser 0

4. Dibuje las lneas o lmites de control de la grfica de nmero de defectos

por lote, marque el nmero de muestras y en el eje vertical los valores
defectuosos.

5. Localice los puntos, registrando el nmero de defectos en la grfica.

 6. Registre los datos que puedan ser de utilidad, escribe el tamao del
subgrupo, los nombres del proceso, del periodo, mtodo de medicin turno,
etc..

NP Chart
GRAFICO DEof Num defectos
CONTROL NP
14
1

12 UCL=11.98

10
Sample Count

6 __
NP=5.28
4

0 LCL=0

1 7 14 21 28 35 42 49 56 63 70
Sample

Figura 14. Ejemplo de Grfico np

Elaboracin de una grfica p

1. Recopilacin y organizacin de datos: se deben recopilar mas de 20

muestras y registrar el nmero de unidades defectuosas encontrados por
lote, el cual puede ser variable, de cada una de las muestras en una hoja
de verificacin.

2. Calcule la p, para cada muestra donde:

D
p
n
D= nmero de unidades defectuosas
n= tamao de lote inspeccionado
 3. Calcule el promedio p

p
p
k

4. Calcule los lmites de control para cada muestra, utilizando su tamao de

lote, el cual es variable.

(1 )
= + 3

=
(1 )
= 3

Cuando se tienen ms de 30 muestras, entonces se hace un promedio de los
tamaos de lotes y se aplica la misma frmula.

Si LIC es negativo, no se considera y el lmite ser 0

5. Dibuje las lneas o lmites de control de la grfica de fraccin de unidades

defectuosas de cada inspeccin y marque el nmero de muestras, en el eje
vertical los valores defectuosos.

6. Localice los puntos, registrando la fraccin de defectos en la grfica.

7. Registre los datos que puedan ser de utilidad, escribe el tamao del
subgrupo, los nombres del proceso, del periodo, mtodo de medicin turno,
etc..
 P Chart
GRAFICO DEof Num defectos
CONTROL P
1 1
0.055
UCL=0.05316
0.050

0.045
Proportion

0.040 _
P=0.03812
0.035

0.030

0.025
LCL=0.02308
0.020
3 6 9 12 15 18 21 24 27 30
Sample
Tests performed with unequal sample sizes

Figura 15. Ejemplo de Grfico p

3.2 Grfica c y u

Estas grficas estn basadas en la distribucin de Poisson se utilizan para

controlar y analizar un proceso por los defectos que presenta un producto. Se
representan por:

El nmero de defectos por unidad (c)

La porcin de defectos por unidad (u)

La grfica c se usa para productos de dimensiones constantes, mientras que la

grfica u se usa para productos de dimensiones variables

Este tipo de grficas est basada en la distribucin de probabilidad de Poisson, ya

que busca la probabilidad de que ocurra x nmero de xitos cuando el nmero
promedio de ocurrencia es .
En este caso el xito consiste en encontrar el mayor nmero de defectos en un
producto o unidad de inspeccin.

Elaboracin de una grfica c

1. Recopilacin y organizacin de datos: se deben recopilar mas de 20

muestras y registrar el nmero de defectos por producto o unidad, de cada
una de las muestras en una hoja de verificacin.

2. Calcule la c, para cada muestra donde:

c
D i

D= cantidad de defectos por unidad de inspeccin

n= nmero total de unidades inspeccionadas

3. Calcule los lmites de control de la grfica.

LSC c 3 c
LCC c
LIC c 3 c

4. Dibuje las lneas o lmites de control de la grfica del nmero de defectos

por unidad, marque el nmero de muestras y en el eje vertical el nmero
de defectos por unidad o producto.

5. Localice los puntos, registrando los defectos por unidad en la grfica.

6. Registre los datos que puedan ser de utilidad, escribe el tamao del
subgrupo, los nombres del proceso, del periodo, mtodo de medicin turno,
etc..
 GRAFICO DE CONTROL
C Chart C
of Visitas
160
1

140

120 1
Sample Count

100
1 1
UCL=87.3
80
_
C=63.4
60

40 LCL=39.5
1 1
11 11
20 1 1
1 6 12 18 24 30 36 42 48 54 60
Sample

Figura 15. Ejemplo de Grfico c

Elaboracin de una grfica u

1. Recopilacin y organizacin de datos: se deben recopilar mas de 20

muestras y registrar el nmero de defectos por producto o unidad, de cada
una de las muestras en una hoja de verificacin.

2. Calcule u para cada muestra, la cual se calcula:

ci
ui
n
c= cantidad de defectos por unidad de inspeccin
n= nmero de unidades inspeccionadas

3. Calcule el promedio de u

u c i

n i
4. Calcule los lmites de control para cada muestra, utilizando el nmero de
unidades inspeccionadas, el cual es variable.
u
LSC u 3
nk
LCC u
u
LIC u 3
nk
Cuando se tienen ms de 30 muestras, entonces se hace un promedio de
las n y se aplica la misma frmula.

Si LIC es negativo, no se considera y el lmite ser 0

5. Dibuje las lneas o lmites de control de la grfica, marque el nmero de

muestras y en el eje vertical la porcin de defectos por unidad de
inspeccin.

6. Localice los puntos, registrando dichas porciones en la grfica.

7. Registre los datos que puedan ser de utilidad, escribe el tamao del
subgrupo, los nombres del proceso, del periodo, mtodo de medicin turno,
etc..
 GRAFICO
U Chart ofDE CONTROL
Numero U
manchas

20 UCL=19.44
Sample Count Per Unit

15

_
10 U=9.87

0 LCL=0.30

3 6 9 12 15 18 21 24 27 30
Sample
Tests performed with unequal sample sizes

Figura 16. Ejemplo de Grfico u

3.3 ANLISIS DEL NDICE DE CAPACIDAD DEL PROCESO

El anlisis de capacidad del proceso se define como el estudio de ingeniera para

estimar la capacidad del proceso.

La estimacin de la capacidad del proceso puede estar en la condicin de una

distribucin de probabilidad que tenga una forma, centro (media) y dispersin
(desviacin estndar) especificados.

La capacidad del proceso puede expresarse como un porcentaje fuera de las

especificaciones. Sin embargo, las especificaciones son necesarias para realizar
el anlisis de capacidad del proceso.

El anlisis de capacidad de proceso es una tcnica que tiene aplicacin en

muchos segmentos del ciclo del producto, incluyendo el diseo de producto y
procesos, la fuente de proveedores, la planeacin de la produccin o la
manufactura, y la propia manufactura

La frmula para la capacidad del proceso potencial que ms se usa es:

 Capacidad del proceso = +3 (un total de 6 )

Para la tasa de capacidad:

Rango de especifica cin LES - LEI

C
p Capacidad del proceso 6s

Donde LES= Lmite de especificacin superior

LEI = Lmite de especificacin inferior

Se refiere a la variacin en un proceso alrededor del valor promedio

Para analizar la capacidad del proceso se utiliza la tabla de los ndices del estudio.

ndice Cpk

El ndice Cpk refleja la proximidad de la media actual del proceso al lmite de

especificacin superior (LES) o bien, al lmite de especificacin inferior (LEI).

Cpk se estima mediante:

X - LEI LES - X
C pk min ,
3s 3s

Si el promedio actual es igual al punto medio del rango de especificacin,

entonces Cpk = Cp.

Entre ms alto sea el valor de Cpk, ms baja ser la cantidad de producto que est
fuera de los lmites de especificacin.

Ejercicios:

1. En una fbrica de productos de plsticos se tiene un problema de rugosidades que

afecta el aspecto del producto, con el propsito de analizar la estabilidad del
proceso y tratar de localizar las causas especiales de variacin se inspeccionan 22
lotes de cierto producto y quiere saber si el proceso est bajo control. A
continuacin se muestra los siguientes datos:
 Cmo se encuentra el proceso?

2. En esta empresa los criterios para rechazar una botella de producto terminado han
sido burbujas en el vidrio, mal etiquetado, defectos en el cierre de botella entre
otros, los datos recopilados cada hora en un da de trabajo (en los tres turnos) se
muestran a continuacin en la siguiente tabla:
 Cmo se encuentra el proceso?

3. En una fbrica de playeras se desea conocer si la materia prima tiene buena

calidad, por lo tanto se analiza el nmero de defectos de estampado por metro
cuadrado de tela del proveedor principal. Se obtuvieron los siguientes resultados:
 Cmo se encuentra el proceso?

4. Un fabricante de computadores personales desea establecer una grfica de

control para conocer si el proceso est controlado en la lnea de ensamble final.
Se tomaron 30 muestras que se presentan a continuacin:
 Piezas con
defectos

Cmo se encuentra el proceso?