Vous êtes sur la page 1sur 1

ENGENHARIA E CINCIAS DOS MATERIAIS

PROFESSOR: ARMANDO SHINOHARA


ALUNO: ULYSSES CAYNN AMORIM DE AZEVEDO FERRAZ

4 QUESTO DA PROVA DE CINCIA E ENGENHARIA DOS MATERIAIS

O difratmetro um aparelho usado na determinao dos ngulos nos


quais ocorre a difrao em amostras pulverizadas. Neste processo uma
amostra no formato de uma chapa plana colocada de maneira que seja
possvel girar ao redor de certo eixo. Esse eixo perpendicular ao plano da
placa. Um feixe monocromtico de raios X gerado e as intensidades dos
feixes que so difratados podem ser medidos, pelo contador.
O contador tambm pode se mover (com velocidade angular constante)
e conforme o contador se move, um registrador plota automaticamente as
intensidades dos feixes que so difratados e seus respectivos ngulos de
difrao podem assim ser medidos experimentalmente.
Um dos principais empregos da difratometria de raio X na
determinao da estrutura cristalina do material. O tamanho e a geometria da
clula unitria podem ser obtidos atravs das posies angulares dos picos de
difrao, enquanto o arranjo de tomos no interior da clula unitria est
associada s intensidades relativas dos picos.