Universidad de Concepcin

Facultad de Ingeniera
Ingeniera de minas

Metalurgia extractiva
551321
Captulo 2.2 Muestreo de Minerales
Prof. Mara Cristina Ruiz
 Contenidos
Muestreo
i. Introduccin
ii. Muestro en minera
iii. Definiciones
iv. Errores de muestreo
v. Protocolos de muestreo
vi. Equipos
vii. Ejercicios
 3. Muestreo
Introduccin
En todas las etapas del procesamiento de minerales es necesaria la
caracterizacin detallada de la mena o mezcla de minerales en proceso. Para ello
es necesario obtener en forma peridica de porciones relativamente pequeas
del material en tratamiento, lo que se denomina muestra, para su anlisis
posterior.

El muestreo cubre la prctica de seleccin de muestras para evaluacin

metalrgica de un depsito mineral, muestreo para balance metalrgico o control
de proceso de las distintas etapas de la operacin de una planta de
procesamiento, muestreo de acopios o embarques de mineral, etc.

Las propiedades que se desean medir pueden ser varias: Contenido de humedad,
distribucin de tamao de partculas, gravedad especfica, porcentaje de un cierto
componente, etc.

El objetivo ms importante del muestreo es que la muestra sea representativa, es

decir, contenga todos los componentes en la misma proporcin en que stos
existen en el material original que se est muestreando. En la prctica esto nunca
se logra cuando se muestrean mezclas heterogneas de minerales.
 3. Muestreo
Trminos estadsticos
Distribucin normal:
1 (x)2

f(x , ) = e 2 2
22

2 es la varianza de la distribucin
es la desviacin estndar
es el valor medio

2 y generalmente no se conocen, pero pueden estimarse de:

Promedio de la muestra: =


Varianza de la muestra: =

 3. Muestreo
Dado que:
La muestra que se toma es pequea.
El material en muy heterogneo.
Existe un error en las mediciones efectuadas con la muestra respecto del
conjunto a representar.

Error absoluto (fortuito o aleatorio) es la diferencia entre el valor medido y el

valor verdadero de la propiedad (o la estimacin ms confiable del valor
verdadero).
Tipos de heterogeneidades:
Heterogeneidad de composicin: distribucin no uniforme de minerales de un
fragmento a otro (con el consiguiente cambio en propiedades). Estas variaciones
tienden a aumentar a medida que aumenta el grado de reduccin de tamao del
material, dado que aumenta el grado de liberacin. Las variaciones entre
muestras disminuyen a medida que aumenta el tamao (masa) de la muestra.
Heterogeneidad de distribucin: existe segregacin, es decir la ubicacin fsica de
una partculas depende de sus caractersticas (tamao, forma, densidad). Esta
segregacin puede ocurrir en el almacenamiento o transporte de los minerales.
Se elimina mediante el mezclado, y el error se reduce a lo que se denomina error
fundamental, que tiene una distribucin normal.
 3. Muestreo
Segregacin por tamaos
En este caso si la densidad es constante las partculas ms pequeas se ubicarn
en diferentes posiciones en el lote que las partculas grandes.

finos gruesos

Segregacin por densidad

En este caso si el tamao permanece constante las partculas las densas o
pesadas se ubicaran en posiciones inferiores a las livianas.

livianos
pesados
 3. Muestreo
De que tamao debe ser la muestra para asegurar la exactitud requerida en el
valor medido de la propiedad de inters?
El error de muestreo de un lote (conjunto de material) es mnimo si el material se
encuentra bien mezclado y toda su masa esta disponible para muestrear (error
fundamental de muestreo). Si el material est segregado el error de muestreo
puede ser muy grande y es difcil de predecir.
No slo es importante determinar el tamao de la muestra primaria, tambin
deben determinarse en las etapas sucesivas de reduccin de tamao y
remuestreo, a las que debe ser sometida sta antes de obtener la muestra final,
que ser analizada.
 3. Muestreo
Estimacin del error fundamental de muestreo de lotes de mineral

Al igual que otros tipos de errores, el error fundamental es una variable aleatoria y en general se
puede suponer que tiene una distribucin Normal o Gaussiana.
Consideremos que se est analizando la ley a de un lote homogneo de mineral de peso total M, en
gramos. Para ello se extraen varias muestras que se analizan por el metal de inters (en duplicado o
triplicado).

Sea ag la ley (promedio) de la muestra de peso mg, a g la media de la distribucin de ag (en la prctica

a g a ) y 2 (a g ) la varianza de la distribucin de ag (ley de la muestra).

Pierre Gy propuso un modelo basado en espacios de muestreo equiprobables y obtuvo la siguiente

frmula del error fundamental para la ley promedio de un lote homogneo de mineral de masa M.

2
S
1 m g
2 a g 1
f m l g d3
2
ag M mg
 3. Muestreo

Muestreo de lotes de mineral:

Variables en la frmula de Gy:
S : Error fundamental ( Coeficiente de variacin de Pearson), describe las
variaciones de ag debidas al carcter estocstico del muestreo.
ag : Ley de la muestra de peso mg

a g : Media de la distribucin de ag

2 a g : varianza de la distribucin de ag

d: Tamao de la partcula ms grande del lote a muestrear. En la prctica, es d95.

f, m, l, g: Factores empricos
 3. Muestreo
Factores empricos de la ecuacin de Gy: f, m,l y g
f: factor de forma de los fragmentos (adimensional); rango 0-1. l: factor de liberacin (adimensional). Rango 0 1.
Para menas tpicas f = 0.5. Para metales preciosos f = 0.2 l = 0 si todas las partculas tienen idntica composicin.
m: factor de composicin mineralgica (g/cc): l = 1 si hay liberacin completa.
1 ~a El factor l se puede calcular por: l = (L/d)b
m ~ 1 ~a r ~a t
a L: Tamao de liberacin (cm). Experimental.
~a : Contenido mineral de la mena (fraccin)
d: Tamao mximo de la mena o concentrado en cm (d95)
r: Densidad media del mineral valioso b: Parmetro del modelo, b = 0.5 para menas normales.
t: Densidad media de la ganga Para minerales preciosos b 1.5.
l: factor de liberacin (adimensional). Rango 0 1.
Factor de liberacin en forma tabular
d/L 1 1-4 4 - 10 10 - 40 40 - 100 100 - 400 400
l 1 0.8 0.4 0.2 0.1 0.05 0.02

g: factor de distribucin de tamao (adimensional); rango 0-1.

Para muestras sin clasificar g= 0.25; Para material clasificado g= 0.5
 3. Muestreo

El valor de S est relacionado con la precisin de la estimacin y la confianza requerida.

S
z
Donde es la precisin relativa escogida (fraccin)
z es la ordenada de la distribucin normal al nivel de confianza requerido como
se indica a continuacin:
Nivel de Confianza (%) z
90 1.64
95 1.96
99 2.58
99.9 3.29

La relacin entre S y el intervalo de confianza, IC de la variable ag al nivel requerido es:

IC = a g zS a g
 3. Muestreo

Ejemplo: Se muestrea un lote de mineral de Zn que tiene 5% de Zn y se

desea determinar este valor con una precisin relativa de 2% en 95 de cada
100 muestras. Esto significa que el valor de la ley de Zn debera estar en el
intervalo de confianza IC =5% 0.1% de Zn con una probabilidad de 95%. Esto
significa que el mximo valor de S que puede ser tolerado es:

0.02 0.1%
S 10 2 o considerando el intervalo de confianza S 10 2
z 1.96 1.96 5%

Generalmente una probabilidad de 95% de estar dentro de los lmites

preestablecidos es un nivel de probabilidad aceptable
 3. Muestreo

Ecuacin de Gy simplificada

Si los factores f, m, l y g se agrupan en una sola constante global C y se

desprecia la razn mg/M, la ecuacin de Gy se simplifica a:
2 C d3
S
mg

Notemos que la constante global C (g/cm3) es funcin de las

caractersticas del material y en particular de d.

Esta ecuacin simplificada ilustra muy bien los principales principios

del muestreo. Para una mena dada, caracterizada por una constante C,
la varianza del error relativo del muestreo equiprobable es:
Proporcional al volumen del fragmento ms grande.
Inversamente proporcional a la masa de la muestra.
 3. Muestreo
La ecuacin de Gy simplificada permite resolver fcilmente tres tipos de problemas de muestreo.
Qu peso de muestra deber tomarse de una masa mucho mayor, caracterizada por una
constante C, conociendo el tamao mximo (d) de modo que el error de muestreo no exceda
una varianza especificada, S2?
3
La ecuacin deber estar en la forma: mg Cd2
S
Cul es el error introducido cuando se obtiene una muestra de masa mg desde un material con
una constante C y un tamao mximo de partcula d.

2 C d3
La ecuacin debe escribirse: S
mg

Si se saca una muestra de masa mg, desde una masa de material caracterizada por una
constante C, qu grado de chancado o molienda se requiere para bajar el error a un valor
especificado de la varianza S2?

3
mg S 2
La forma de la ecuacin sera ahora: d
C
Como la reduccin de tamao altera el valor de C ste problema se debe resolver en forma
iterativa.
 3. Muestreo
Protocolos de muestreo
Generalmente la muestra primaria de un lote de material es demasiado grande
para su anlisis individual. Por lo tanto, debe ser reducida en masa mediante
divisiones de muestra, que pueden ir acompaadas de reduccin de tamao.
Este proceso de preparacin de la muestra, incluye varias etapas de divisin de
muestra, que constituyen muestreos adicionales y cuyo error asociado puede
calcularse tambin usando la frmula de Gy. Este proceso debe seguir un
riguroso protocolo de muestreo.
Ejemplo, protocolo de muestreo para un mineral de oro.
Pesar muestra inicial (P1) y determinar tamao mximo d1 (d95)
Reducir de tamao la muestra 100% - d2 cm (chancador primario)
Homogeneizar y cortar la muestra P1 en cortador rotatorio o riffle (P2 = 0,25 * P1)
Homogeneizar y cortar la muestra P2 en cortador rotatorio o riffle (P3 = 0,125 * P2)
Reducir de tamao la muestra 100% - d3 cm (chancador de rodillos)
Homogeneizar y cortar la muestra P3 en cortador rotatorio o riffle (P4 = 0,25 *P3)
Reducir de tamao la muestra 100% - d4 cm (chancador de rodillos)
Cortar la muestra utilizando cortador rotatorio (P4 = 0,5 * P3)
Pulverizar P4 a 200#
Cortar P4 con cortador rotatorio (P5 = 0,5 * P4), dejar la otra mitad de contramuestra.
 3. Muestreo
Error en la preparacin de la muestra y el ensayo
Las varianzas del muestreo primario, de los procesos de preparacin de muestra y
del anlisis son aditivas

ST2 S2M SS2 Sa2

ST2 Varianza total

S2M Varianza del muestreo primario

SS2 Varianzas asociadas con la preparacin de la muestra

Sa2 Varianza asociada con el anlisis qumico

El valor de Sa2 normalmente ser pequeo y se pueden determinar analizando la misma

muestra final en duplicado o triplicado.
Adems de estos errores fundamentales pueden existir errores por la operacin
inapropiada del muestreador y el proceso de preparacin que produzcan
contaminacin de la muestra o prdida de material.
 3. Muestreo
Protocolos de muestreo

Para optimizar los protocolos de muestreo es til construirlos nomogramas

de muestreo.

Los nomogramas son grficos Log Log donde:

El eje Y corresponde a la varianza relativa del error fundamental, S2

El eje X es la masa de la muestra en gramos, mg.

La ecuacin de Gy, simplificada se puede expresar como sigue (recta de

pendiente -1):

Log S2 = Log C + 3Log d - Log mg

 3. Muestreo

Nomograma de muestreo
Para cada tamao, di,
tenemos una recta de
pendiente 1.
La operacin no debe pasar
la lnea de seguridad
recomendada.

Valores de Slimite sugeridos por F. Pitard

(lnea de seguridad).
Nomograma de muestreo
 3. Muestreo
Nomograma de muestreo
Ejemplo: Una muestra de 94kg un mineral de oro se tritura a -5mm y se debe
obtener una submuestra de 30g para hacer un anlisis de oro. Se desea que el
error asociado para el protocolo de muestreo no exceda 1x10-3. Como de ilustra
en la Figura 1, si de divide directamente la muestra primaria, cuando se reduce la
masa de la muestra a valores inferiores a 200g, se excede el error especificado.

Fig. 1
 3. Muestreo
Nomograma de muestreo
Para mantenerse en la exactitud requerida del protocolo de muestreo,
se debe seguir un rgimen similar al que se muestra en la Figura 2. La
muestra de 2000g se subdivide en una submuestra de 1000g en una
primera etapa. Esta muestra de 1000g es pulverizada a -0.5 mm y
subdividida de nuevo a los 30 g requeridos de muestra.

Fig. 2
 3. Muestreo
Muestreo en plantas mineras
Procesamiento de minerales
Muestreo en correas de alimentacin
Control Granulomtrico de Chancado y Molienda
Plantas de flotacin
Muestreo de leyes de cabeza
Muestreo de leyes de cola
Muestreo de concentrados
Muestreo para control de procesos
Planta de lixiviacin
Muestreo de leyes de cabeza
Muestreo de ripios (mineral lixiviado)
Muestreo para comercializacin
Muestreo de ctodos
Muestreo de concentrados
 3. Muestreo
Muestreo de corrientes de proceso (muestreo incremental)
Es comn muestrear corrientes continuas de menas o concentrados que son transportados
hacia o desde las diferentes etapas en el procesamiento del mineral. El trasportador puede
ser una correa transportadora, un chute para slidos, una caera o canal para pulpa, etc.
Si toda la corriente es desviada por un intervalo especificado para la obtencin de la
muestra, estas corrientes se pueden considerar lotes unidimensionales. El muestreo de
toda la corriente elimina los errores debidos a la estratificacin del material en el
transportador. Para mayor exactitud, el mtodo preferido es muestrear de la descarga del
transportador, porque ah toda la corriente est accesible para muestreo. Para minimizar el
error, la muestra normalmente se compone de varias porciones o incrementos que se
cortan en forma peridica, mediante procedimientos de muestreo incremental.
 3. Muestreo
Muestreo incremental completamente aleatorio
Un incremento es la cantidad extrada en una sola operacin del dispositivo que toma la
muestra. Si el rgimen de muestreo requiere la toma de n incrementos primarios,
podemos generar n nmeros al azar, arreglarlos en secuencia y tomar los incrementos
correspondientes. Ej. El material transportado hacia un proceso durante un turno se divide
en 100 incrementos y se elije muestrear 5 incrementos al azar. Inconveniente: con una
frecuencia predecible se tomaran 5 incrementos consecutivos, lo que tiene mayor error y
requiere un sistema secundario (sistema de preparacin de muestra) de gran capacidad.

Muestreo completamente aleatorio

 3. Muestreo
Muestreo incremental estratificado aleatorio
La unidad de muestreo de masa M se divide en cierto nmero de estratos y de cada
estrato se toma slo un incremento primario. La seleccin del incremento en cada estrato
es al azar. Es el mejor sistema desde el punto de vista de error de muestreo, pero con
cierta frecuencia se muestrearn dos incrementos consecutivo (sistema secundario todava
grande).

Muestreo estratificado aleatorio

 3. Muestreo
Muestreo estratificado sistemtico
En este caso, slo incremento primario del primer estrato se elige al azar y los todos los
siguientes n-1 incrementos se eligen a intervalos constantes de masa o tiempo. Tiene
mayor variabilidad que el muestreo estratificado aleatorio, pero requiere la menor
capacidad del sistema secundario. Puede tener mucho error si la corriente que se
muestrea tiene cambios peridicos en sus propiedades.

Muestreo estratificado sistemtico

 3. Muestreo incremental
Muestreo completamente aleatorio
Si la masa de la unidad de muestreo es M y la masa de un incremento primario es m, el espacio de
M m
la muestra es igual a N y la probabilidad de cada incremento es igual a . La probabilidad
m M
n
1
de una combinacin cualquiera de n incrementos es igual a . Pero no todas las muestras son
N
igualmente precisas.

Muestreo estratificado aleatorio

M
En este caso la unidad de muestreo se dividide en n estratos de masa M y el espacio de la
n
M
muestra (en cada estrato) es N . La posibilidad de elegir al azar cualquier incremento en cada
m
m
estrato es igual a . Luego, la probabilidad de una muestra consistente de n incrementos
M
n n
m M
primarios es igual a y la cantidad total de muestras es igual a .
M m
 3. Muestreo incremental
Muestreo estratificado sistemtico
n N
En este caso la probabilidad de una muestra dada es y el nmero total de muestras es igual a
N n

Diagrama de Venn para los sistemas de muestreo

 3. Muestreo
Equipos para muestrear desde transportadores
El dispositivo de la izquierda muestrea mineral de la descarga de slidos desde
una correa. El cortador es un recipiente que acumula la muestra y la descarga en
un canal. El dispositivo de la derecha muestrea directamente de una correa
mediante un recipiente ranurado. Puede dejar solidos finos en la correa,
produciendo un error sistemtico.

Muestra Muestra
 3. Muestreo
Muestreo de pulpas
Usando una caera flexible se puede desviar un flujo de pulpa (cabezas, colas,
concentrados) en una cierta secuencia, por ejemplo 60 veces por hora durante 10
segundos cada vez.
 3. Muestreo
Muestreo de lotes bidimensionales
Lotes bidimensionales son apilamientos de pequeo espesor. En este caso los
incrementos se toman perforando la pila en todo su espesor con un esquema
aleatorio.

Muestreo de lotes tridimensionales

En este caso es ms difcil reducir el error de muestreo y en general se trata de
evitar realizar el muestro de lotes tridimensionales (pilas de acopio, tolvas etc.).
Una opcin en mover el material y tomar paladas como incrementos en un
esquema aleatorio o sistemtico.
 3. Muestreo
Sistemas secundarios
Cada sistema de muestreo mecnico consiste de un muestreador primario en
combinacin con un sistema secundario que est designado para reducir en masa
y a veces en tamao de partculas una muestra primaria.
 3. Muestreo
Sistemas secundarios: Divisores de muestra
Para reducir en masa una muestra primaria se utilizan divisores de muestra.

Divisor rotacional vertical Divisor rotatorio de disco (Turnstile divider)

 3. Muestreo
Mtodos de divisin de muestra en laboratorio

Existen numerosos divisores de muestra

que puede seer automticos o manuales.

Divisor rotatorio

Cortador de riffles
 3. Muestreo
Mtodos de divisin de muestra en laboratorio
Cono y cuarteo: Consiste en mezclar el material en una carpeta para
posteriormente apilarlo a la forma de un cono. Este cono se aplasta y se divide
con una pala o esptula en forma de cruz. Se retiran dos cuartos opuestos y los
otros dos, que constituyen la muestra se vuelven a mezclar repitindose el
proceso cuantas veces se desee.
 3. Muestro
Mtodos de divisin de muestra en laboratorio
Divisin por Paladas Alternadas: Se extrae una palada a intervalos especificados