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Microscopio Electrnico de Barrido (SEM) El microscopio electrnico de barrido - SEM- es el mejor

mtodo adaptado al estudio de la morfologa de las superficies. A diferencia de un microscopio


ptico que utiliza fotones del espectro visible, la imagen entregada por el SEM se genera por la
interaccin de un haz de electrones que "barre" un rea determinada sobre la superficie de la
muestra. Construccin de un Microscopio Electrnico de Barrido La parte principal de un
microscopio electrnico de barrido es la denominada columna de electrones la cual lleva alojados
en su interior los siguientes elementos: Un can de electrones con un filamento que acta
como emisor o fuente de iluminacin, por analoga con un sistema ptico. Un sistema de lentes
electromagnticas encargado de focalizar y reducir a un dimetro muy pequeo el haz de
electrones producido por el filamento. Un sistema de barrido que hace recorrer el haz de
electrones ya focalizado por la superficie de la muestra. Uno o varios sistemas de deteccin que
permiten captar el resultado de la interaccin del haz de electrones con la muestra y
transformarlo en una seal elctrica. Una salida conectada a una o varias bombas que producen
el vaco necesario para que el conjunto funcione adecuadamente.

En el grfico se han dibujado dos detectores. Uno, el de electrones secundarios, que son los
electrones arrancados a la propia muestra por la accin del haz incidente. Con esta seal
obtenemos en un monitor una imagen de la muestra, muy parecida a la visin del ojo humano
debido a la gran profundidad de foco de esta seal. El otro detector, de rayos X, captura este tipo
de seal, con la que obtenemos un espectro de elementos, es decir un anlisis qumico elemental
de la muestra.

La tcnica esencialmente consiste en hacer incidir en la muestra un haz de electrones. Este


bombardeo de electrones provoca la aparicin de diferentes seales que, captadas con detectores
adecuados, nos proporcionan informacin acerca de la naturaleza de la muestra La seal de
electrones secundarios proporciona una imagen de la morfologa superficial de la muestra. La
seal de retrodispersados una imagen cualitativa de zonas con distinto nmero atmico medio, y
la seal de rayos X espectros e imgenes acerca de la composicin de elementos qumicos en la
muestra.

Electrones Secundarios La seal de electrones secundarios es la que se emplea normalmente para


obtener una imagen de la muestra. Es la seal que nos proporciona una imagen ms real de la
superficie que estemos estudiando, se considera un electrn secundario aquel que emerge de la
superficie de la muestra con una energa inferior a 50 eV(electronvoltios), y un electrn
retrodispersado el que lo hace con una energa mayor.

Electrones Retrodispersados La seal de electrones retrodispersados est compuesta por aquellos


electrones que emergen de la muestra con una energa superior a 50 eV(electronvoltios). Estos
electrones proceden en su mayora del haz incidente que rebota en el material despus de
diferentes interacciones, La intensidad de la seal de retrodispersados, para una energa dada del
haz, depende del nmero atmico del material (a mayor numero atmico mayor intensidad) Este
hecho permite distinguir fases de un material de diferente composicin qumica.

La preparacin de muestras es, en general, sencilla. Los requisitos indispensables que deben
cumplir son ausencia de lquidos, es decir, la muestra tiene que estar seca y adems debe ser
conductora de la corriente elctrica. Este ltimo requisito se cumple en los metales, pero no as en
otro tipo de materiales, por lo que para hacer a la muestra conductora se la recubre de una capa
de algn material conductor tal como el carbn o el oro. Este recubrimiento ha de ser
suficientemente grueso como para que circule la corriente elctrica que se deposita en la muestra
y suficientemente delgado para que no enmascare o tape las caractersticas superficiales de
inters.

Tcnica de recubrimiento con oro Cuando el propsito del anlisis de una muestra no incluye la
obtencin de un espectro de RX, un elemento que se utiliza frecuentemente para recubrir la
superficie es el oro. El grfico muestra esquemticamente lo que se conoce como "sputtering".
Consiste en una fuente de alimentacin en corriente continua regulable de 1 a 3 KV conectada por
una parte a una tarjeta de oro u oro-paladio y por otra parte al porta muestras. El conjunto va
acoplado a una bomba de vaco. La introduccin de un gas tal como el argn en la campana de
vaco provoca que los tomos de argn impacten en la tarjeta de oro y se desprendan tomos de
dicha tarjeta que son atrados hacia la muestra en la cual quedan depositados proporcionando un
espesor de recubrimiento que depende del tiempo de exposicin.

Tcnica de recubrimiento con carbono En el caso de precisarse un anlisis elemental en una


muestra no conductora es necesario recubrir la superficie de un elemento lo ms transparente
posible a los RX. Este elemento es el carbono. Uno de los tipos de metalizadores de carbono se
muestra esquemticamente en el grfico. Consiste en dos electrodos conectados a una fuente de
corriente alterna de bajo voltaje y alta intensidad entre los que se intercala una barra de carbono
terminada en una punta afilada. Al pasar la corriente, la punta de la barra se va evaporando, de
forma que roca la muestra con una fina capa de carbono. La punta va acoplada a un muelle que la
mantiene en todo momento en contacto con el otro electrodo. Todo el conjunto est encerrado
en vaco con el fin de facilitar la deposicin de la pelcula de carbono sobre la muestra.