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CAPITULO II
TECNICAS DE PUESTA A TIERRA
Neutro Tensin
Delta Virtual Neutro-
No PAT. (Flotante) Tierra
T
UNT 0
R S
UN Tensin
Neutro Neutro
Delta Virtual Tierra
PAT. (Fijo) UNT = UT
T
Fig. 01.- Esquemas Tpicos de Sistemas Tringulo (Delta), Flotante y Puesto a Tierra
R UN S
R S
UN
Estrella Neutro Tensin
PAT Real NeutroTierra
(Fijo) T UNT = 0
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2
IF Sin PAT
XCO
Recorrido
Peligroso
I1 I2 Fases I2
Sanas I2
2 I1
Con PAT I
1 RT RS I2
Recorrido
Sin Peligro
RG = 0
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VT Perfil de
VT VP Potencial
VP
VP
Mxima
Elevacin de
Potencial
1m VT
VT
VP
Perfil de 1m
Potencial
VP
Fig. 05.- Potenciales en el Suelo de Lneas Elctricas Fig. 06.- Potenciales en el Suelo de S.E. MT/BT
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3
Nomenclatura IEC-60364
2
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5
I = 1A Distancia
12.
r 8.9
6 (km.)
C p 6.3
4.5
3.2
2.2
1.8
r 16
32
dr 8
Flujo de 34
Cascos 2
Corriente 1
Equipotencial
es Densidad de
Corriente ( A/m2)
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Dichos rangos no siempre coinciden con los valores reales obtenidos al procesar los datos de medidas
Wenner de campo en suelos considerados similares, se les debe verificar antes de aplicarlos al Diseo.
La medida de la Resistividad en Laboratorio (ASTM: G-57) exige reproducir las condiciones naturales de la
muestra, caso contrario, los errores son grandes; en cambio, es confiable para amasados artificiales.
b.- Resistividades Referenciales de Aguas en General.
En la instalacin de PAT se puede utilizar cualquier agua, las aguas minerales naturales o salobres son ptimas
para el tratamiento previo del fondo de las excavaciones, antes del relleno que sirve de lecho al conductor y que
tambin debe contener humedad, pero de agua dulce.
Tipo de Agua (Ohm.m)
Aguas Superficiales Puras (filtraciones del suelo) 3 000
Aguas Metericas (lluvia atmsfera limpia) 800 - 1 200
Agua de Filtraciones Rocosas, cristalinas y puras 30 - 1 000
Aguas Metericas (lluvia atmsfera industrial) 30 - 400
Aguas Estancadas o agua con materia orgnica 30 - 150
Aguas Superficiales Salobres (mar y minerales) 0.1
Aguas de Anomalas Geotrmicas (no utilizables) 0.03 - 0.3
En Laboratorio se suele medir la Conductividad en ( S/cm); de los Fludos y tambin de Materiales slidos, en este
caso de muestras de Suelo, dicha medida para uso qumico es indirecta, corresponde a una solucin de 20gr de
muestra terrosa disuelta en 100cc u otro volumen de agua destilada, no es aplicable al diseo de PATs
c.- Variaciones de Otros Parmetros Elctricos del Suelo
La Permitividad; se incrementa con el contenido de humedad; ej, para suelo seco es (r=3,5) y su Conductividad
(=10S/cm) o Resistividad (=1000.m); idnticamente para el agua pura se tienen (r=80), (=0), (=).
El Gradiente Disruptivo; varia poco, para suelos arcillosos hmedos de baja Resistividad (E=300kV/m), suelos
terrosos secos (E=350kV/m), rocas (E=400kV/m), suelos granulados y aluviales (E=450kV/m).
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V2 I
r
V1
I S
La Resistencia (R) a lo largo de ( r), en el volumen de suelo que se toma como conductor, al ser recorrido por la
corriente ( I), est dada por la siguiente relacin de Pouillet, en funcin de (S) y ( ).
r V
R , y de otro lado, segn la Ley de Ohm, R
S I
Igualando ambas expresiones de (R), e intercambiando trminos, se evidencia el Gradiente de Potencial (E) y por ende
la expresin bsica del Campo Elctrico con la Densidad de corriente:
dV dI .I
, luego E J , y reemplazando E
dR dS 2. .r 2
Entonces la intensidad del Campo Elctrico (E) o el Gradiente de Potencial en la direccin (r) se cumplen de
idntica forma que en el aire o en el vaco, es decir el Campo vara en forma inversamente proporcional al
cuadrado de la distancia.
Consecuentemente el anlisis elctrico aplicado al comportamiento de las Puestas a Tierra seguir las mismas
pautas que un Campo Conservativo, dado que la corriente electrnica ser la que circule predominantemente.
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1
J I I
2 r2 V ,E
I 2 r 2 r2
C
r
r
dr p
Reemplazando (J) en la expresin de (E), se obtiene la variacin del Gradiente de Potencial en forma radial
desde la superficie del electrodo de PAT a lo largo del eje de abscisas (r); y al integrar, se obtiene la expresin
anloga del Potencial variable hasta el infinito.
dV I I
E que al ser integrado entre (r, ) resulta, V
dr 2 r2 2 r
Luego, si (C) fuese una PAT de radio (ro), la d.d.p. (V) con respecto a un punto cualquiera (p) del suelo a
distancia (rp), se determinar haciendo participar los potenciales absolutos:
I 1 1
V Vro Vp
2 ro rp
Si (p) tuviese un potencial (Vp=0), (rp) se hallara en el infinito, luego (V=Vo), sera el Potencial del propio
Electrodo en el suelo, y (Ro= V0 / I) su Resistencia de Dispersin.
I
Vo , y finalmente Ro
2 ro 2 ro
Luego conociendo la corriente inyectada (I) y la diferencia de potencial entre dos puntos cualesquiera del suelo,
se podrn medir sus parmetros elctricos a travs de su Resistencia (R).
Las Puestas a Tierra en la prctica, pueden tener armados de diferente cobertura; para determinar el Radio (ro)
elctrico equivalente que las representa, se procede a despejarlo segn el caso, para:
- PATs puntuales; despejndolo al igualar (Ro) con, Rd = f(ro), (Resistencia de Dispersin).
- PATs amplias de geometra iregular; se la despeja al igualar (Ro) con, Sc = ro2, (Sup. Circular).
- PATs extensas de geometra regular; se le despeja al igualar (Ro) con, Se = 2ro2, (Sup. Hemisferio).
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dr
r1 r2
r p1 p2
Los Potenciales en uno de los puntos (p) inducidos desde (C1) y (C2) por (+I), (-I), sern:
I I
Vp(1) , Vp( 2)
2 r1 2 r2
El Potencial inducido total (Vp) en dicho punto (p) estar dado por : Vp = Vp(1) + Vp(2)
I 1 1
Vp
2 r1 r2
Idnticamente para dos puntos en la superficie del suelo, definidos desde (C1 y C2) como (P1) con distancias (r1,
r2) y como (P2) con distancias (R1, R2), la d.d.p. entre ambos ser (Vs):
I 1 1 1 1 I
VS F rn
2 r1 r2 R1 R2 2
El trmino F(rn), denominado Factor de Forma es totalmente geomtrico y en la prctica interesa ser
simplificado para minimizar los esfuerzos del trabajo de campo.
Conociendo (I) y (VS) se calcula la Resistencia (R=VS/I) del suelo involucrado, parmetro que tambin se puede
medir directamente con un Telurmetro, o con un Gemetro.
Dicha Resistencia est en funcin de F(rn); luego, segn el Mtodo de conexion aplicado a la medida, se pueden
calcular segn el caso, tanto la Resistencia de Dispersin (R) como la Resistividad del suelo ( ); la precisin
depender de la geometra de medida F(rn).
1
R F rn 2 R
2 F rn
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I 1 1 1 1
VS F rn , F rn
2 r1 r2 R1 R2
I
VS
a a a
C1 P1 P2 C2
b Lnea de
Medidas
a 2a
2a a
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e
R R0
E 2 ro
PC
E C1P1 P P2 C C2
p=6
c = 10
Para una mejor aproximacin, se hace una segunda medida cambiando a una distinta directriz, los circuitos de
Corriente y Potencial, con nuevos puntos (C) y (P).
(1) ( 2)
e 2 ro Ro a ; e
e e
, de dos medidas
2
Los valores aproximados de Resistividad que se obtienen con una medida o con el promedio de dos medidas,
sern siempre valores de Resistividad aparente que en ste caso se aproximan en valor a la Resistividad media
del suelo hasta la profundidad ().
(), se puede procesar con el Mtodo de TAGG para valores aparentes (a), pero la base de datos no asegura
una buena resolucin de las Resistividades obtenidas.
La dificultad del clavado muchas veces no posibilita medidas progresivas a diferentes profundidades para obtener
la caracterstica de puntos requerida para el procesamiento, adems el propio mtodo de medidas es lento muy
laborioso y costoso.
Actualmente sta alternativa no se utiliza ni se acepta para determinar las Resistividades de diseo de Puestas a
tierra segn Estndares internacionales.
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o Para PATs convencionales de CA slo se requieren sondeos hasta el doble (a 8m) de las profundidades
medias que alcanzan normalmente los electrodos instalados en el suelo, a menos que se requiera hallar
estratos profundos de muy baja Resistividad para diseo de electrodos especiales.
o El mnimo nmero de Sondeos en cada Serie de Medidas de una Lnea es (04), porque menos puntos no
permiten traducir bien la directriz ni la pendiente de una caracterstica; segn ello, es aconsejable ampliar el
cuadro de medidas con puntos adicionales intermedios y externos.
o Para PAT de baja Impedancia, de preferencia se deben hacer el mayor nmero de Sondeos en cada Lnea
de Medidas, a fin de obtener una mejor definicin de la caracterstica de puntos; se sugieren en la Tabla.
a. Distancias (a) Entre Electrodos Medidas con Mtodo de WENNER
Cada sondeo (SGV) de medida a una distancia (a) entre electrodos, entrega una Resistividad aparente media,
casi a la misma profundidad; es decir, traduce la exploracin hecha a una profundidad doble (2a); se sugieren las
siguientes series (en negrita van las distancias aplicables a una serie bsica de nmero mnimo de medidas).
El Mtodo de medidas Wenner (ASTM: G57), que recomiendan los Estndares Internacionales:
- No exige alta sensibilidad de los Instrumentos de Medida, cada medida toma la diferencia de potencial
segn la distancia (a) del sondeo.
- Es aplicable y muy confiable para despliegues cortos, exploracin poco profunda
- Las variaciones laterales del suelo slo distorsionan su precisin, en sondeos de gran profundidad que
no se usan para el diseo de PATs de CA.
- Facilita el Procesado multiestrato simplificado a partir de los datos de campo, utilizando dos familias de
caractersticas, denominadas; una Patrn Estndar y otra Patrn Auxiliar
b. Profundidades de Clavado () - Medidas con Mtodo de Electrodo Piloto
Cada sondeo (SGV) de medida a una profundidad (a) del electrodo piloto, entrega un valor de Resistividad
equivalente (e) propio de dicha profundidad.
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a Caracterstica
A A Lnea de de Campo
Medidas (CSG)
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muy baja Resistencia que deben instalarse utilizando armados de electrodos mallados.
C B D a DB Distorsin
C por Roca
A Aflorante
Roca Lnea
P
A A Principal
Agua Caractersticas
Antes de Lisado
Lnea Distorsin AA
por Napa BB DD
D B C Complementari Fretica CC
a
a
En el sitio se eligen para las medidas, slo dos trayectorias rectilneas ortogonales que forman las lneas de
medida (AA y BB), se toman datos caractersticos del suelo.
En ambas trayectorias, se efectan sendas series de medidas y se grafican los datos respectivos en la
misma hoja; a) vs Distancia (a).
En caso de discordancia entre ambas curvas, se hace una serie de medidas en una nueva trayectoria
diagonal (CC), si aparecen nuevas discordancias se har otra serie de medidas en la otra trayectoria
diagonal (DD).
Por lo menos dos de las tres o cuatro curvas con los datos de campo a vs a), deben resultar prximas o
coincidentes para ser representativas del suelo.
Dichas caractersticas se lisan conjuntamente analizando los puntos aberrantes de ambas, para obtener
una sola caracterstica (CSG) representativa del sitio.
La caracterstica (CSG) nica final es de puntos con valores promediales a), de las caractersticas
parcialmente coincidentes, ser destinada al procesamiento.
Nota: Se simplifican las medidas en reas muy extensas con el Mtodo de Triangulacin , que permite la
caracterizacin del Suelo Estatificado en cualquier punto intermedio.
4.3. Medidas Para Puestas a Tierra Extensas
Las medidas Wenner se hacen en idntica forma que para PAT puntuales; aparte ello, dada la extensin de las reas
cubiertas y las bajas o muy bajas Resistencias objetivo, su ejecucin debe prever la lotizacin del terreno y series de
medida con mayor numero de puntos.
o El rea debe subdividirse en lotes cuadrangulares idnticos para ser representativos, para la mejor adecuacin
se pueden incluir franjas imaginarias exteriores de hasta10m de ancho.
o Se traza el cuadrillado de lotes de medidas, segn la extensin del rea, con una longitud lateral nica para todos
los lotes cuadrados que podr tener de 25m hasta 35m.
o Los puntos centrales de cada uno de los lotes definen los puntos de medida: P1, P2, ..., donde se cruzan las
Lneas ortogonales de medidas (habran dos curvas de campo a tratar).
o La caracterstica (CSG) resultante de cada lote con puntos de valores promediales a), ser procesada y definir
la densidad del mallado de la PAT en dicho lote.
o Iguamente la caracterstica (CSG) representativa de toda el rea, puede ser elegida entre entre las de los lotes
ms desfavorables.
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o Tambin, yuxtaponiendo los grficos a vs Pi) con su parmetro (a), se halla el perfil de espesores de estrato del
suelo del rea, ello muestra el perfil de espesores.
2
10
Franja Complemento Exterior
Sondeo Linea a
Transversal a=
P1 P2 P3 1
V a=
2 a=2
a= a=1
3 a=4
P4 P5 P6 50 a=8
H a=
Sondeo Linea 4
Longitudinal 30
P1 P2 P3 Punt
20
os
a. Para Puestas a Tierra Extensas de Uso Industrial 15
Estas reas aparte la distribucin1 de equipo de manufactura, tienen subsistemas de Control, Automatizacin,
10 10
Proteccin, Medida, Comunicaciones, flujo de Data; prevn Puestas a Tierra con armados de electrodos
9
horizontal en mallado irregular y eventual adicin de una cama de electrodos7 verticales para cumplir con bajas a
8
5
b. Para Puestas a Tierra extensas de Alta Tensin 4
Se destinan al Diseo de sistemas de PAT de muy baja Resistencia objetivo3 (<1) tales como distintos tipos de
2.5
Estaciones de Transformacin, Patios de llaves, Centrales Elctricas, todas con extremas exigencias de
2
seguridad de las personas por las elevadas corrientes de falla a Tierra y de confiabilidad de la operacin de los
1.5
subsistemas de automatizacin.
0
10 -m) 1000
a( -m) 1000 a(
B
800 D 800
C 1/1.5
600 A 600
500 500 1/2
1/3
300 300
1/4
Suelo (3) 1/5
Suelo (3)
200 200
1/6
1/7
C 1/8
-1 D
100 10 100 1/9
A B
400 400
1/30
Suelo (1) Suelo (1)
300 300
-2
100 10 100
-1 2
10 20 30 10 20 30
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1< 2< 3
a a 1 2 a
1< 2 PI
PI
PI PI
PI 1> 2> 3
1= 2
1
= 1> 2 PI
2
a
a a
Un Estrato Dos Estratos (nPI+1) Estratos
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KS C2
I = 1 pu 2h1 4h1
K=1
=
S C r
P1 M1
1 h1 2h1 M2
r1
2 h1
K KS 4h1
C1 P1
KS
C3
Siendo (K) una constante de Atenuacin que afecta a la energa de la fuente (S) al pasar su imagen desde
(1) a (2) y cuando esa imagen ya como (C1) se refleja a su vez en (M1), ser (K=1) para el aire.
La Imagen virtual (KS) de (S) que est en (C1), dista tambin (h1) del plano de interfaz (M2), mientras que La
Imagen virtual (KS) de (C1) que est en el aire y es (C2), distar idnticamente (2h1) del plano de interfaz
(M1) y no cambia de valor por atenuacin, porque la constante del aire es (K=1).
El Potencial (UP1) en el punto de la superficie del suelo (P1) en (1), resultar de la suma de los potenciales
debido a la Fuente (S) en (C) a la distancia (r) y el de la Imagen (KS) en (C1) a la distancia (r1) dando:
I 1 1 K
U P1 (En el estrato 1 )
2 r r1
El Potencial (UP1) en el punto profundo (P1) en (2), resultar de la suma de los potenciales, uno (+) debido
a la Fuente (S) en (C) a distancia (r2 = r1) y otro (-) de la imagen (KS) en (C1) a la distancia (r), dando:
I 2 1 K
U P1 (En el estrato 2 )
2 r2 r
Siendo iguales ambos potenciales (UP1), (UP1) en la interfaz (M2) por estar en el mismo plano equipotencial,
para determinar (K) se igualan sus expresiones, considerando (r r1 r2) por ser distancias grandes; luego:
( / ) 1 1 K
Para ; r r1 r2 K 2 1
o K 2 1
, entonces 2
2 1 ( 2 / 1) 1 1 1 K
rn2 r2 2nh1 2
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La Fuente Real en (C) y sus Imgenes en (C2n-1), (C2n) participan en pares, con iguales distancias (rn) y
respectivas atenuaciones (KnS) de potencial de la fuente, siendo (n) el nmero de reflexiones.
El Potencial (UP1) en el punto (P1) a la distancia (r) de la fuente, ser igual a la suma de los Potenciales de
la Fuente Real (C) ms los potenciales de las (n) Imgenes vistas desde la superficie del suelo en (1).
I 1 I Kn I 1 Kn
UP1 1
2 1
; luego se tiene UP1 1
2
2 r n 1 2 rn 2 r n 1 r2 2nh1
2
Para las medidas Wenner, con base en la expresin (UP1) del potencial en el punto (P1), se establece el
potencial en (UP2) en el punto (P2) a distancia (2r), cuya diferencia entre ambos se expresa como (Vs); es
decir, el parmetro que junto con la corriente inyectada ( I ) permite hallar la Resistividad aparente.
c.- Resistividades ( a) para Modelo de Suelos de Dos Estratos (Ecuacin de Tagg)
Siendo (VS) la diferencia de potencial entre (UP1) y (UP2), al ser remplazada en la formula de Resistividad
Aparente de Wenner ( a = 2 a VS / I ), permite obtener la expresin operativa:
Kn Kn
a
1 4 , donde : u = 2 n h1 / a
1 n 1 (1 u 2 )1 / 2 ( 4 u 2 )1 / 2
Dicha expresin origina la familia de Caractersticas Estndar-STD, donde cada una se identifican con un
parmetro propio (Ko = 2/1), al hacer variar en el Coeficiente de Reflexin (K) las Resistividades de ambos
estratos (1) y (2) entre cero e infinito.
La familia (STD) representa todas las innumerables posibilidades de caractersticas de suelos de dos
estratos, con las que pueden comparase las curvas (CSG) obtenidas a partir de datos de medidas de
campo, para caracterizar sus parmetros en modelo de suelo biestrato (1, 2, h1).
La familia (STD) en transparencia o lmina magntica, permite la caracterizacin grfica por comparacin, a
partir de las Curvas de Medidas - CSG obtenidas con medidas Wenner, sus resultados son confiables.
Contrariamente, la caracterizacin mecanizada por medio digital no asegura resultados confiables,
debido a que las medidas de campo difcilmente entregan series de valores coherentes
4.6. Caracterizacin Grfica de los Suelos Estratificados
La caracterizacin de los suelos en modelo estratificado a partir de las medidas de Resistividad aparente (a),
expresadas en el grfico de campo (CSG), puede hacerse en dos formas:
a.- Con Mtodos Numricos: El programa procesa directamente a) que se le suministran, ello exige el
ingreso de datos de medidas de campo precisas
b.- Con Mtodos Grficos: Utilizando las curvas patrn de comparacin que permiten corregir las desviaciones o
puntos aberrantes de las medidas de campo que an siendo realizadas por especialistas tienen errores; se
aconseja preferir estos mtodos.
El Grfico de Campo (CSG) se compara con las Caractersticas Patrn (STD), para determinar el perfil del
suelo con sus parmetros ( 1), (h1) y ( 2) en modelo biestrato.
La Familia (STD) relaciona en Abscisas Log (a/h1) y en Ordenadas Log ( a / 1) para valores (+) y (-) de (K),
siendo K0 = 2/ 1 el parmetro nominal de cada curva.
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2
10
/
/ 2 1
50
a 1
30
20
15
1
10 10
9
8
7
6
2.5
1.5
0
10
1/1.5
1/2
1/2.5
1/3
1/4
1/5
1/6
1/7
1/8
-1
10 1/10
1/15
1/20
1/30
1/50
a/h1
-2
10
-1 0 1 2
10 10 10 10
Familia de Caractersticas Patrn ESTNDAR
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La Condicin es que los grficos Patrn (STD) y de Campo (CSG) deban estar a igual escala, y la comparacin
por superposicin mantenga el paralelismo de los ejes.
No siempre toda la directriz de la curva (CSG) simple, coincide con una de la Familia Estndar (STD), se
procesa el segmento coincidente, empezando desde la izquierda.
a a/ 1 Tramo
Coincidente 3.0
2 K0
2.5 =
1
2.0
1.5
Tramo
Siguiente
1
O1
Patrn (STD)
a / h1
Curva (CSG)
h1 a
Desde (O1) en el papel de la (CSG) se hallan, leyendo en Ordenadas ( 1), y en Abscisas (h1).
Para hallar ( 2) se toma el valor de (K0) de la curva STD coincidente y se le calcula.
a
a/ 1
1 O1
1/7
1/8
1/10
2 K0
1/12 =
Patrn (STD) 1
1/15
Curva (CSG) a/h1
h1 a
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24
2
CURVA PATRON STANDARD
10
Familia STD
/
/ 2 1
50
aa/ 11
30
Grfico 20
de Campo 15
1
10 10
9
8
7
6
2.5
104 2
p1 =3600 1.5
-m 10
0
O1
1/1.5
1/2
1/2.5
1/3
103
1/4
1/5
1/6
1/7
1/8
-1
10
1/12 3600
1/10
2 300 m
121/15
1/20
1/30
1 1/50
02 a/h
1
Familia (STD)
-2
10
-1 0 1 2
10 10 10 10
h1=3.0 m
Curva (CSG) 1 10
S1
1 '1 = e
h1
S2
h'1
2
h2 '2
S3 3
Considerando al suelo conductor, las superficies (S1) y (S2) de los estratos ( 1) y ( 2), con espesores (h1) y (h2),
representan sus respectivas secciones y longitudes de conduccin.
Se puede entonces determinar sus Resistencias (R1) y (R2) al paso de la corriente, as como la Resistencia
Equivalente (Re) con ( 1), de su conexin en paralelo.
h1 h2 h'
R1 1 , R2 2 , Re '1 1
S1 S2 Se
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La Conductancia total es igual a suma de las Conductancias individuales de los estratos involucrados que
como mnimo sern dos, al procesar suelo de 3 estratos
R R1 R2 Rn 1 1 1 1
...
e Re R1 R2 Rn
El nuevo estrato subyacente ( 3) ser determinado como si fuese el segundo estrato ( 2), del nuevo suelo de
dos estratos antes configurado segn Hummel ( 1 y 2); reemplazando y operando se tiene:
1 Se S1 S2
, Si se asume que S1 h12 , S2 h22 , Se ( h'1 ) 2
Re e h '1 1h1 2 h2
1 2 / 1 h'1 / h1 1
suelo en modelo de (3) estratos:
'1 2 / 1 h'1 / h1
Del mismo modo, segn Hummel, al poner en paralelo los tres estratos superiores, se desarrolla:
h' '1 h1 h2 h3 h1 h'1 h1 h' '1 h'1
' '1 1 2 3 1 2 3
Multiplicando por ( 1) y dividiendo entre (h1) y resolviendo resulta tambin la expresin de transicin que
permite la caracterizacin de un suelo en modelo de (4) estratos:
1 h1 1 h'1 h1 1 h' '1 h'1
, que permite obtener ( 3).
' '1 h' '1 2h' '1 3 h' '1
Una curva (CSG) multiestrato, requiere por lo menos (8) puntos medidos a distancias Wenner (a>1m).
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2
10
' '
K0 = 2
/ 1
50
30
20
15
1
10 10
9
8
7
6
5
4
3
2.5
1.5
0
10
1/1.5
1/2
1/2.5
1/3
1/4
1/5
1/6
1/7
1/8
-1
10 1/1
0
1/15
1/20
1/30
1/50
h2 / h1
10
-2 Familia de Caractersticas Patrn AUXILIAR
-1 0 1 2
10 10 II; Tcnicas de Puesta a Tierra.
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4.8. Procesamiento de Suelos MULTIESTRATOS
Se identifican los mximos y los mnimos de la curva (CSG), de modo que quede segmentada en tramos
ascendentes o descendentes para ser procesadas separada y consecutivamente.
a.- Procesamiento del Primer Tramo de la (CSG): Wenner
Es idntico al procesamiento aplicado para Suelo de dos Estratos.
Se marca la curva de la Familia (STD) coincidente con los puntos de la curva (CSG), con el Trazo I,
anotando al final de la misma su Parmetro (K0)
Se marca simultneamente (O1) en la hoja de la curva (CSG), y luego desde dicho punto se hallan ( 1)
en ordenadas, (h1) en abscisas y ( 2) a partir del valor de (K0).
b.- Procesamiento Segundo Tramo - Mtodo Wenner.
Se coloca el Origen de la Familia (AUX) sobre el Origen (O1) de la hoja de la (CSG).
Se calca en la hoja de (CSG) con un Trazo II, la curva (AUX) de igual K0 que la (STD)
El Segundo tramo de la curva (CSG) se compara con la familia (STD), desplazando el origen de sta
sobre el Trazo II, buscando una nueva curva (STD) que coincida con dicho tramo.
Luego de calzar el segundo tramo con la nueva curva (STD), marcar en la hoja de (CSG), el nuevo
origen de la familia (STD), dicho punto (O2) estar sobre el Trazo II.
Desde (O2) en la hoja de (CSG), se leen en forma similar ( 1), ( h1) y (K0 = 2 / 1); la Resistividad del
nuevo estrato ser ( 3= 2), mientras que la Resistivividad ( 2) ser calculada.
Para un nuevo Estrato adicional se procede en forma idntica; luego los espesores de los estratos
sucesivos se obtienen de la siguiente forma:
Para O1 : Se tendrn ; 1 , h1 , 2 donde h1 = h1 , para 1
a
O1
1 1 Tramo 2 Tramo
1 = 2
2 = 3
Trazo I (STD) K01
O2
1 Trazo II (AUX)
3
1 2
a
h1 h1
Si el propsito es hallar primero un estrato de baja Resistividad, se puede configurar el perfil, con las
sucesivas Resistividades Equivalentes ( e= n ),
1 para calcular enseguida los valores de ( 2), ( 3),..,( n-1);
para diseo de PAT de CA, normalmente es suficiente el procesado biestrato poco profundo.
El siguiente ejemplo muestra el desarrollo del mtodo de procesado multiestrato (4) estratos (3 PI), para
un suelo real de Selva Baja (fino limoso, hmedo), de alta Resistividad superficial
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10 5
8 PUESTA A TIERRA CENTRAL TERMICA DE IQUITOS
PROCESAMIENTO DE RESISTIVIDADES DEL SUELO
6
Procesamiento de Suelo de 4 Estratos
4 O1 O2 O3
3 K0 = 1/10 K0 = 15 K0 = 1/15
1= 5800 '1 = 620 ''1=1200
2 2 = 580 '2 = 9300 ''2=80
h1= 0.33 h'1=4.6 h''1=9.4
h1 = 0.33 h2= 4.27 h3= 4.8
10 4
8
6 O1
h1 h'1- h1 h' 1- h'1
4 '
IV AUX
2 (15)
O1 STD, O AUX
O2 STD, O
O3 AUX
10 3
8
O2
6 II AUX
I STD (1/10) (1/10)
4
1 Tramo 2 Tramo 3 Tramo
3
V STD (1/15)
2
10 2
Medidas Wenner Perfil de Resistividades del Suelo de 4 Estratos
8
a(m) ( -m)
6 '1 = 5800 -m h1 = 0.33 m
0.6 2150 1
1.00 1000 '1
2.00 633 ''1 h'1
4 620 = 579 -m h2 = 4.27 m
4.00 846 1200 -m
2
3 6.00 1093 -m
8.00 1015 h3 = 4.80 m h''1
3 = 11584 -m
12.00 720
2
15.00 520
4 = 80 -m h4 = m
1 2 3 4 6 8 10 0 2 3 4 6 8 10 1 2 3 4 6 8
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