Tecnología y química de materiales

Práctica 3. Microscopio electrónico de

barrido

Nombre: ________________________________________
Matrícula: _______________________________________

Instrucciones:
1. Observa el video de la práctica.
2. Toma notas para responder los ejercicios.
3. Al finalizar entrega tu reporte a través de la plataforma.

Recuerda: puedes mantener el video abierto durante la resolución de la práctica.

Objetivo:
 Principio de funcionamiento del microscopio electrónico de barrido vs.
sistema óptico.
 Características, capacidades y aplicaciones de la técnica del SEM.
 Observar un par de aplicaciones en el uso de esta tecnología.

Equipo:
 Microscopio electrónico de barrido
 Equipo de deposición de oro/carbón

Materiales:
 Primer material

Lectura previa sobre:

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 https://www.youtube.com/watch?v=VQaHU2yMqSQ
 https://www.youtube.com/watch?v=Xx0PJtRTIYQ
 https://www.youtube.com/watch?v=GY9lfO-tVfE
Realice la siguiente práctica en el simulador de microscopia electrónica:
 http://www.ammrf.org.au/myscope/sem/practice/

Nota: alguno de los videos está en inglés solicita a tu profesor la explicación del
mismo, en caso necesario.

Reflexiona antes de realizar tu reporte:

 ¿Cuáles características podemos apreciar por medio de la observación
directa? ¿Qué tamaño de partes podemos resolver?

 ¿A qué distancia necesita estar los objetos que observamos con nuestros
propios ojos? ¿Qué ocurre para el caso de imágenes vistas mediante
microscopía?

 ¿Cómo mejoran?

Procedimiento:
Responde la práctica a partir de los videos que aparecen en la lectura previa y:
a. Las indicaciones del instructor de laboratorio dictadas en el video.
b. Información obtenida de su libro y otras fuentes bibliográficas (al final de la
práctica se muestra).

I. Obtén una imagen en electrones secundarios de una roca

siguiendo los pasos mostrados en el tutorial. Al obtener la imagen

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solicitada haga un print screen que muestre claramente los valores

de:

 Voltaje de aceleración
 Tamaño del haz
 Distancia a la muestra
 Posición de los selectores de enfoque, brillo, contraste y astigmatismo.

II. Una vez hecho esto, ahora varía los parámetros de:
 Voltaje de aceleración
 Tamaño del haz
 Distancia a la muestra

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¿Qué cambios ocurren en la imagen?

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__________________________________________________________
__________________________________________________________
¿A qué se atribuye?
__________________________________________________________
__________________________________________________________
__________________________________________________________

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III. Con la misma información responde las siguientes preguntas:

1. ¿Cuál es la fuente de iluminación de la muestra bajo análisis en:

a. Microscopio óptico________________________
b. Microscopio electrónico de barrido ____________________

2. ¿Cuál es el aumento mínimo y máximo que se puede obtener

a. En un microscopio óptico ____________________________
b. Microscopio electrónico de
barrido_______________________________________

3.Los electrones secundarios son los mayormente utilizados para obtener

información topológica de la superficie de la muestra, ¿por qué?

4. Los electrones retrodispersados chocan elásticamente y rebotan a un

detector que se encuentra enfrente de la muestra, lo que da un ángulo de
rebote prácticamente de 180°. Con que característica de la muestra está
relacionada la cantidad de energía que tiene el electrón que llega al
detector de los BSE (electrones retrodispersados)

5. ¿Cuál es la Composición Química del cristal del detector del EDS?

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6. Indica que información proporcionan los rayos x característicos. Explica cómo el

principio por el que se obtiene dicha información de esta señal:

7. Ordena en orden de aparición (desde la parte superior a la inferior de la

columna) las partes que constituyen al MEB convencional
Colimador, Lente electromagnético, Muestra de análisis, Detector de BSE
(electrones retrodispersados), Detector de SE (electrones secundarios), Filamento
(), Ánodo
_____________________________
_____________________________
_____________________________
_____________________________
_____________________________
_____________________________
_____________________________
_____________________________

9. ¿Para qué se requiere recubrir una muestra con material conductor?

10. En un espectro que muestra las energías de los fotones para un material en
particular, ¿por qué un elemento químico puede mostrar más de un pico
característico?

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Referencias:

Askeland, D. y Wright, W. (2016). Ciencia e ingeniería de los materiales. (7ª ed.).

México: Pearson.

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