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Manual Técnico De Phased Array

OLYMPUS
1.1 Patrones de escaneo y vistas ultrasónicas
Este capítulo describe patrones automatizados de inspección ultrasónica (o
escaneo) y vistas típicas de datos ultrasónicos en modos de configuración,
adquisición y análisis actualmente utilizado por los sistemas R / D Tech®.1-13 Vistas
específicas utilizadas para calibraciones y la evaluación FFT de la sonda se detallan
en los capítulos 3 y 4. Estas vistas pueden también se puede encontrar en las
Pautas Técnicas de Phased Array: Fórmulas útiles, Gráficos y Ejemplos.14

2.1 Patrones de escaneo


La detección y el tamaño confiables de los defectos se basan en patrones de
escaneo y especificaciones específicas combinaciones funcionales entre el escáner
y el haz de matriz en fase.
La inspección puede ser:
• automatizado: el transportador de la sonda es movido por una unidad de
accionamiento controlada por motor;
• semiautomatizado: el portador de la sonda se mueve a mano o con una mano
escáner, pero el movimiento está codificado y se recopilan datos; o
• Manual (o basado en el tiempo, a veces llamado libre funcionamiento): el conjunto
de fases la sonda se mueve a mano y los datos se guardan, en función del (los)
tiempo (s) de adquisición, o los datos no se guardan
La adquisición puede ser activada por la posición del codificador, el reloj interno, o
por una señal externa.
Los sistemas R / D Tech® pueden proporcionar los siguientes tipos de inspección:
1-10
• Tomoscan III PA, Tomoscan FOCUS ™, TomoScan FOCUS LT ™:
Automatizado, semiautomatico, manual
• OmniScan® PA: manual automatizado, semiautomático
• QuickScan® PA, PipeWIZARD®: automatizado (semiautomatizado para
Calibración / configuraciones mecánicas)
Patrón de escaneo Número de Observaciones
ejes
Linear 1 Todos los datos se registran en un solo pase axial (vea la Figura 2-1).

Bi-directional 2 La adquisición se realiza en ambas direcciones de escaneo (consulte la Figura


2-4).
Unidirectional 2 La adquisición se realiza en una sola dirección de escaneo; escánerse mueve
hacia adelante y hacia atrás en cada longitud de escaneo (vea la Figura 2-4).
Skewed/Angular 2 Similar a bidireccional, unidireccional o lineal con el principal ejes desviados
contra los ejes mecánicos (ver Figura 2-5).
Helical 1 La adquisición se realiza a lo largo de una ruta helicoidal, es decir, a lo largo de
y alrededor del cilindro (vea la Figura 2-6).
Spiral 1 La adquisición se realiza a lo largo de una trayectoria en espiral sobre una
superficie circular (vea la Figura 2-7).

Custom 1 Personalizado para perfil multieje o componente.


Tabla 2-1 Patrones de escaneo para inspecciones automáticas y semiautomáticas.
2.1.1 Escaneo Lineal
Un escaneo lineal es una secuencia de escaneo de un eje que usa solo un codificador de posición
(Escanear o indexar) para determinar la posición de la adquisición.
El escaneo lineal es unidimensional y continúa a lo largo de una ruta lineal. Lo único las configuraciones que se deben proporcionar
son la velocidad, los límites a lo largo del eje de escaneo, y el espaciado entre adquisiciones (que puede depender del codificador)
resolución).Los escaneos lineales se usan con frecuencia para aplicaciones tales como inspecciones de soldadura y mapeo de
corrosión. Los escaneos lineales con escaneo electrónico son típicamente orden de magnitud más rápido que el raster ultrasónico
convencional equivalente escaneos.
La Figura 2-1 muestra una exploración de barrido típica (izquierda) y una exploración lineal equivalente (derecho). El escaneo lineal
ahorra tiempo tanto en las zonas "nul" donde el ráster El escáner cambia de dirección y durante el escaneo, ya que las matrices en
fase pueden pulsar mucho más rápido que los escáneres mecánicos se pueden mover.
Figura 2-1 Patrón de escaneo de rasterizado (izquierda) y patrón de escaneo lineal
equivalente (derecha)

Durante el escaneo lineal, la sonda phased array emite un escaneo electrónico, un S-scan,
o múltiples escaneos. Dependiendo de la configuración y el instrumento, más de un
escaneo se puede realizar simultáneamente. Por ejemplo, Figura 2-2 muestra escaneos
electrónicos en dos ángulos de conformidad con ASME típico requisitos de inspección.
Otros patrones de escaneo son posibles, como dual matrices, escaneos S múltiples o
combinaciones.

Figura 2-2 Patrón de escaneo electrónico de doble ángulo típico para soldaduras con
phased array y escaneo lineal Normalmente, se usa una matriz para cada lado de la
soldadura.

Los escaneos lineales son muy útiles para la caracterización de la sonda sobre un bloque
de referencia con orificios perforados lateralmente (vea la Figura 2-3).

2.1.2 Escaneo bidireccional


En una secuencia bidireccional, la adquisición de datos se lleva a cabo tanto en él y
direcciones hacia atrás a lo largo del eje de escaneo (vea la Figura 2-4).
2.1.3 Escaneo unidireccional
En una secuencia unidireccional, la adquisición de datos se lleva a cabo en una sola
dirección a lo largo del eje de escaneo (vea la Figura 2-4). El escáner es luego pisado por
otro pasar.

Figura 2-4 Exploración de ráster bidireccional (izquierda) y unidireccional (derecha). La


línea roja representa la ruta de adquisición
2.1.4 Escaneo sesgado (para el software TomoView ™)
Esta sección se puso a disposición por cortesía de Ontario Power Generation Inc., Canadá.
La secuencia de exploración sesgada (también llamada exploración angular) es una
derivación de la normal secuencia de exploración bidireccional. Esta secuencia permite la
exploración y la sonda de índice caminos a ser sesgados por un ángulo seleccionable por
software generado por pequeños incrementos (más cerca de la resolución del codificador)
en el eje de escaneo e índice. Este ángulo es diferente de los ejes mecánicos. El dibujo en
la Figura 2-5 muestra el movimiento real de la sonda con una trayectoria de línea promedio
para aproximar esto trayectoria de escaneo en ángulo.
Esta secuencia es útil cuando los ejes del escáner y la pieza de inspección no pueden
colocarse en la mejor ruta de exploración entre sí, y / o el defecto la ubicación y la
orientación requieren un patrón de escaneo específico (línea) para un óptimo detección y
dimensionamiento. Seleccionar un ángulo de ruta de escaneo específico que mejor se
adapte a la la pieza de inspección / la orientación del defecto pueden eliminar el costoso
escáner modificaciones, reducen significativamente el tamaño del archivo y facilitan el
análisis de defectos.
Figura 2-5 Ejemplo de escaneo bidireccional sesgado (angular). Izquierda: patrón de
exploración de sonda contra el eje mecánico en una parte compleja; derecha: la
trayectoria de la sonda (línea roja) está sesgada versus eje mecánico rectangular para un
ángulo óptimo para detectar grietas en el área de tensión.

2.1.5 Escaneo Helicoidal La secuencia helicoidal se usa para inspeccionar superficies


cilíndricas. El escáner realiza un movimiento helicoidal alrededor del cilindro. Dos
codificadores independientes controlan la secuencia. El codificador del eje de escaneo
controla la rotación continua alrededor del cilindro, mientras que el eje del índice el
codificador controla el movimiento continuo a lo largo del cilindro. Una señal de
sincronización se puede utilizar para restablecer el codificador del eje de escaneo a la
posición "Cero" después de cada rotación alrededor del cilindro. Las combinaciones de
estos dos movimientos crearán una exploración helicoidal patrón (vea la Figura 2-6).

Las exploraciones helicoidales se utilizan para la inspección de cuerpo completo de


tuberías y tubos más grandes. En práctica, las exploraciones helicoidales se pueden
realizar moviendo y girando tubo, o moviendo el cabezal de escaneo y girando el tubo.
2.1.6 Escaneo en espiral
La secuencia en espiral está diseñada para inspeccionar superficies circulares como discos.
Los mecanismo de inspección realiza un movimiento en espiral en la superficie circular (vea
la Figura 2-7). Dos codificadores independientes controlan la secuencia. El escanaxis
codificador controla el ángulo theta (θ) en la rotación continua alrededor del centro de
superficie; mientras que el codificador del eje índice controla la posición rho (ρ) en el
movimiento continuo a lo largo del radio. Se puede usar una señal para restablecer
codificador del eje de escaneo para colocar el cero después de cada rotación.

2.1.7 Direcciones de haz La dirección del haz de la sonda phased array puede tener una
dirección diferente a las direcciones del eje de escaneo e índice. Las definiciones y el valor
de ángulo de estas instrucciones dependen del instrumento específico de R / D Tech y su
software opciones de escaneo (TomoView ™ u OmniScan®), como se muestra en la Figura
2-8 para TomoView y la Figura 2-9 para OmniScan. Estas instrucciones están definidas por
ángulo de inclinación de la sonda
Los límites de la superficie de inspección, así como el espacio entre adquisiciones
(resolución en cada eje), determinarán la superficie de escaneo, la número de escaneos A
adquiridos a lo largo del eje de escaneo y tamaño de píxel del datos ultrasónicos. Un
ejemplo de configuración de una secuencia de escaneo usando TomoView ™ 2.2R9 es
presentado en la Figura 2-10.

Figura 2-10 Secuencia unidireccional de un área de 200 mm por 200 mm. El tamaño de
píxel del C-scan es 1 mm por 1 mm. La velocidad de escaneo en ambos ejes es de 25
mm / s.
2.1.8 Otros patrones de escaneo
La parte, el movimiento de la sonda y la dirección del haz pueden generar
patrones de escaneo para cualquiera de las siguientes combinaciones (vea la Tabla 2-2 y
2-11 a Figura 2-13). Figura 2-11 Principio de barrido electrónico de haz. Parte y sonda no
se están moviendo.
Tabla 2-2 Dependencia de secuencia de inspección en parte, escáner y haz

Figura 2-12 Escaneo electrónico y lineal de una soldadura (principio). Eje del índice (exploración de
trama en UT convencional) se elimina a través del escaneo electrónico por las matrices de la sonda
(aumentando velocidad y confiabilidad). Tenga en cuenta que las cuñas generalmente se utilizan
para reducir el desgaste y optimizar el incidente anglo.
2.1.9 Escaneo basado en el tiempo
Si el codificador está configurado a tiempo (reloj), la adquisición se basa en el escaneo
tiempo (segundos) [vea la Figura 2-14]. La secuencia se usa para detección y
dimensionamiento, pero no debe usarse para trazado de defectos

Figura 2-14 Ejemplos de secuencias basadas en el tiempo (B-scan y S-scan). El eje horizontal B-scan valor es
el número de escaneos A adquiridos en un intervalo de tiempo dado.

El tiempo de adquisición para una secuencia de ejecución libre se calcula por el total
número de adquisiciones, dividido por la tasa de adquisición:

Ultrasonic Views (Scans)


The basic ultrasonic views (scans) are:

• A-scan

• B-scan

• C-scan

• D-scan

• S-scan

• Polar view

• Strip chart (amplitude and/or position)

• TOFD view (special gray-scale application

of a B-scan) There are also combined views, such as

top, side, end” or “top, side, TOFD”

views.
4 Características del instrumento, calibración y Métodos de prueba.
Este capítulo describe las características del phased array principal de Olympus NDT
instrumentos, métodos de calibración y prueba. Tolerancias en el equipo las características
se detallan y luego se explican.

1 Rendimiento del instrumento 4. Esta sección detallará las características principales de


los instrumentos phased array, y su funcionalidad y relación con otros parámetros. Paso a
paso detallado los procedimientos se encuentran en los manuales de software1-8 y en el
capítulo 5, "Configuración de ultrasonido, calibración y comprobación periódica" de R / D
Tech Pautas técnicas de phased Array.9
4.1.1 Características principales del instrumento Las características ultrasónicas
genéricas para un instrumento de matriz en fase se presentan en
Tabla 4-1. Tabla 4-1 Características ultrasónicas principales de instrumentos phased array.a

Las funciones se pueden encontrar en diferentes pestañas, dependiendo del instrumento y Versión del software.

Un alto valor de relación señal-ruido, mayor velocidad de adquisición, evitando el ecos


fantasma y preservar la esperanza de vida de la sonda de matriz en fase son logrado a
través de la optimización de parámetros ultrasónicos

4.2 Pulsador-Receptor
Esta sección describe algunos de los efectos de las características clave del equipo, como
voltaje, ancho de pulso, filtros y suavizado.
4.2.1 Voltaje
El voltaje máximo aplicado en los elementos del conjunto en fase depende de la sonda
frecuencia (espesor del cristal) y en el paso del elemento (vea la Figura 4-1).
Figura 4-1 Dependencia máxima del voltaje en la frecuencia (izquierda) y en el tono (derecha)

El bajo voltaje tiene una doble ventaja: aumenta la vida útil de la sonda y produce menos
calor, por lo que no se necesitan dispositivos de enfriamiento adicionales. El valor de bajo
voltaje puede ser compensado aumentando la ganancia (hardware o paleta suave) sin una
aumento significativo del nivel de ruido (vea la Figura 4-2). La paleta suave se refiere a
capacidad de cambiar la intensidad del color en la pantalla; ganancia suave se refiere a la
capacidad de cambiar la amplitud de la imagen en la pantalla.

Figura 4-2 Detección y dimensionamiento de una grieta de fatiga mediante una matriz
lineal de 3,5 MHz a -1,0 mm de paso probar en diferentes combinaciones de voltaje
usando el instrumento Tomoscan FOCUS ™. La grieta las pantallas que usan ganancia
suave (S = paleta suave) y ganancia difícil (H = ganancia de hardware) son muy similares.

La relación entre el valor de voltaje y la variación de amplitud se presenta en la Figura 4-3


Figura 4-3 Datos experimentales para la dependencia de la amplitud elemento

4.2.2 Ancho de pulso (Pulse Width) El valor del ancho del pulso del pulso depende de la
frecuencia de la sonda (vea la Figura 4-4).

Figura 4-4 Ajuste de ancho de pulso como función de la frecuencia central de la sonda. El
ancho de pulso (forma cuadrada negativa) debe configurarse a 100 ns para una sonda de
5 MHz.
4.2.3 Filtros de paso de banda Band-Pass Filters El valor de los filtros de paso de banda
inferior / superior se basa en el centro de la sonda frecuencia y valor de ancho de banda
absoluto (ver Tabla 4-2).
Tabla 4-2 Valores recomendados para filtros de paso de banda basados en la frecuencia de la sonda.
Dependiendo del tipo de aplicación, el valor del ancho del pulso y los filtros de paso de
banda pueden ser alterados. Una mejor SNR y un análisis de datos más preciso
compensará la pérdida de sensibilidad (pérdida de ganancia) [vea la Figura 4-5].

Figura 4-5 Ejemplo de mejora de la capacidad de dimensionamiento de grietas mediante filtros y


pulsos de alta frecuencia ajuste de ancho En este ejemplo, una sonda de matriz lineal de 5 MHz en
modo de onda de corte detectó una grieta de 10 mm de altura. Izquierda: filtros de paso de banda 2-10
MHz, ancho de pulso = 100 ns; mesurado altura de fisura = 8.8 mm. Derecha: filtros de paso de banda
5-15 MHz, ancho del pulso = 50 ns; mesurado altura de fisura = 10.1 mm

4.2.4 Suavizado (Smoothing)


El suavizado es una operación electrónica realizada en la señal rectificada. El suavizado
tiene una doble ventaja: aumenta la calidad de la imagen (consulte la Figura 4-6) y
conduce a una frecuencia de digitalización más baja (tamaño de archivo más pequeño,
más rápido tasa de adquisición) [ver Figura 4-7].

Figura 4-6 Ejemplo de efecto de suavizado en la detección de grietas y la imagen de tamaño.


Izquierda: suavizado a 4 MHz. Derecha: sin alisamiento.
Figura 4-7 Ejemplo de proceso de suavizado (izquierda) e influencia en la frecuencia
de digitalización (derecha).

4.3 Digitalizador Esta sección describe los parámetros clave del digitalizador, incluidos
frecuencia, promedio, compresión, PRF, tasa de adquisición, ganancia suave, y enfoque
de profundidad dinámica.
4.3.1 Frecuencia de digitalización La frecuencia de digitalización (MHz) es el recíproco
del intervalo de tiempo requerido para muestree un escaneo A de RF (vea la Figura 4-8).
La frecuencia de digitalización determina el número de muestras para un rango de tiempo
de vuelo de inspección específico.

Figura 4-8 Ejemplo de frecuencia de digitalización de una señal de RF. Izquierda: 16


muestras; Derecha: 8 muestras para la misma señal de RF.

La frecuencia de digitalización tiene una gran influencia en el tamaño del archivo, la tasa de
adquisición y la calidad de imagen. El error de amplitud debido a un bajo valor de
digitalización la frecuencia viene dada por la fórmula (vea la Figura 4-9):

εA: error de amplitud debido al valor de frecuencia de digitalización [dB]


fp: frecuencia de sonda [MHz]
fs: frecuencia de digitalización (muestreo) [MHz]
d
Figura 4-9 Dependencia de error de amplitud en la relación de frecuencia de digitalización
/ sonda n.

Figura 4-9 Dependencia de error de amplitud en la relación de frecuencia de digitalización


/ sonda n.

Un ejemplo de influencia de frecuencia de digitalización en A-scan e imagen de calidad de


El S-scan para la detección de grietas se presenta en la Figura 4-10.

Figura 4-10 Ejemplo de influencia de frecuencia de digitalización en la calidad de imagen


de escaneo A y S para una Sonda de matriz lineal de 4 MHz para dimensionar una grieta
de fatiga de 6 mm. (a) 12,5 MHz; (b) 25 MHz; (c) 100 MHz.
La frecuencia de digitalización debe ser al menos cuatro veces la frecuencia central de la
sonda. Si TOFD se aplica con sondas phased array, la frecuencia de digitalización debe
ser diez veces o más que la frecuencia central de la sonda. La frecuencia de digitalización
de los instrumentos phased array de nueva generación (OmniScan® y TomoScan FOCUS
LT ™) se fija a 100 MHz.
4.3.2 Promediado (Averaging)
El promedio es el número de muestras (escaneos A) sumados para cada adquisición paso
en cada A-scan visualizado; el promedio aumenta la SNR al reducir ruido aleatorio:

La función de promedio reduce la velocidad de adquisición


4.3.3 Compresión (Compression)
Compresión es la reducción en el número de puntos de datos de muestra basados en
posición y amplitud máxima (vea la Figura 4-11). La compresión reduce el tamaño de
archivo sin comprometer la detección de defectos y contribuye a una mayor tasa de
adquisición.

Figura 4-11 Ejemplo de compresión con una relación de 4: 1 para un escaneo A.

4.3.4 Repetición o frecuencia de repetición (PRF-Pulse-Repetition Frecuencia)


La frecuencia de repetición (PRF o frecuencia de repetición de pulsos) es la frecuencia de
disparo de la señal ultrasónica. PRF depende del promedio, tiempo de adquisición, retraso
antes de la adquisición, la longitud de la puerta, el tiempo de procesamiento y la tasa de
actualización de los parámetros. En general, el PRF debe establecerse tan alto como sea
razonable, asegurando que cualquier eco fantasma está fuera del rango de adquisición.
PRF depende de la ruta ultrasónica y el promedio, de acuerdo con la siguiente fórmula:
Donde inicio y rango son valores de tiempo de vuelo (en segundos) del ultrasonido
Ventana de inspección.
Un ejemplo de dependencia de PRF del rango ultrasónico y el promedio es presentado en
la Figura 4-12.

Figura 4-12 Ejemplo de PRF y dependencia de velocidad de adquisición en el rango


ultrasónico y promediando Izquierda: velocidad normal de adquisición de exploración S =
4 / s (casi estática); PRF = 700 Hz. Derecha: velocidad de adquisición de exploración S
recortada = 20 / s; PRF = 2,000 Hz. Tenga en cuenta la calidad de imagen S-scan mejora
para la evaluación de defectos debido a una optimización de los parámetros ultrasónicos
(inicio y rango) en la pantalla derecha.

4.3.5 Tasa de adquisición (Acquisition Rate)


La tasa de adquisición (Hz) representa el número de secuencias de adquisición completa
que el sistema de inspección puede realizar en un segundo. La velocidad máxima de
adquisición depende de muchas características: tiempo de adquisición de vuelo, promedio,
frecuencia de digitalización, recurrencia, número de escaneos A, velocidad de transferencia
y valores de compresión (consulte la Tabla 4-3, Figura 4-13 y Figura 4-14). La tasa de
adquisición determina la velocidad máxima de escaneo sin datos de ultrasonidos faltantes
(vea la Figura 4-14).
Las siguientes relaciones deben ser satisfechas:

Figura 4-13 Dependencia de la velocidad de adquisición en la velocidad de transferencia,


número de muestras y configuración modo.
Figura 4-14 Ejemplo de la influencia de la velocidad de exploración en la tasa de
adquisición. Izquierda: escaneo velocidad 25 mm / s (datos faltantes). Derecha: 10 mm / s
(todos los datos recopilados).

Establecer el PRF correcto es muy importante para evitar los ecos fantasma, y para recoger
todos los datos relevantes. Los ecos fantasmas son ecos de interferencia debido a un
desajuste entre el tasa de repetición (PRF) y ventana de adquisición. Un mayor valor de
PRF dará lugar a una secuencia de disparo que es demasiado corta. Una secuencia de
disparo consiste en lo siguiente intervalos de tiempo de vuelo (vea la Figura 4-15):
• Retardo (electrónico + cuña / interfaz + pieza de prueba)
• Adquisición (rango útil)
• Procesamiento
• Actualización La longitud de una secuencia de disparo es el recíproco de la PRF / canal.

Figura 4-15 Componentes de la secuencia de encendido para la frecuencia de


digitalización <50 MHz (TomoView ™).
En la Figura 4-16 se presenta un ejemplo de la influencia de PRF en los ecos fantasmas.

Figura 4-16 Ejemplo de ecos fantasma (izquierda) con ruido incrementado - PRF = 2,000
Hz, y su eliminación (derecha) - PRF = 500 Hz. Tenga en cuenta la disminución del ruido
debido a un PRF más bajo.

4.3.6 Soft Gain


El uso de ganancia suave (Olympus NDT's TomoView ™ o Zetec's UltraVision®
capacidad del software para ajustar la ganancia en el modo de análisis y adquisición para
configuración de hardware específica) tiene las siguientes ventajas:
• Elimina la necesidad de otro canal con mayor ganancia. Mediante el uso Datos de
12 bits el rango dinámico se incrementa en 24 dB (en comparación con 8 bits). Si la
ganancia suave aumenta, la señal de baja amplitud se muestra correctamente sin distorsión
(vea la Figura 4-17).
• Mejora la calidad de la imagen.
• Permite la grabación de datos con poca ganancia de hardware.
Figura 4-17 Ejemplo de uso de 8 bits (izquierda) y 12 bits (derecha) de ganancia suave en
el tamaño de grietas. Dinámica el rango se incrementa en 24 dB para ganancia suave de
12 bits, sin distorsión de señal de exploración A.

4.3.7 Saturación
La saturación es un fenómeno electrónico inherente a la matriz en fase tecnología.
Dentro de una sonda de matriz de fase única, los diferentes elementos de un la apertura
virtual contribuye de manera diferente a la señal final. Algunos elementos pueden entregar
una señal débil, mientras que otros transfieren una señal de muy alta amplitud por encima
del 100%. Cuando al menos un elemento recibe una señal de amplitud más alta de 100%,
la señal de ese elemento en particular se dice que está saturada porque el circuito
electrónico no puede entregar una amplitud de señal mayor que 100% Cuando esto sucede,
la señal final deriva de la suma de diferentes elementos también se llama saturado. La Tabla
4-4 ilustra la influencia de las señales saturadas en la señal final amplitud.

Tabla 4-4 Señales saturadas en función de la amplitud de la señal final.


La Tabla 4-4 es un ejemplo de apertura virtual con 11 elementos cada uno con un señal de
amplitud diferente entre 10% y 50% (segunda columna). En columna 3, 4 y 5, la ganancia
aumenta respectivamente en 6 dB, 12 dB, y 18 dB. Con 6 dB de ganancia, ninguna de las
señales de los elementos está saturada (todas las señales están por debajo del 100%) y la
amplitud de la ganancia sumada es del 51%, que es el doble del valor de la señal en bruto,
como se esperaba. Al agregar 12 dB a la materia prima señal, los elementos 4 a 8 están
saturados (negrita, rojo) y la amplitud sumada es 79% mientras que debería ser 100%. Al
agregar 18 dB a la señal sin procesar, la la amplitud de la suma debe ser del 200%. Es solo
98% en este ejemplo debido a la saturación de los elementos 2 a 10.
Por lo tanto, es importante que el instrumento phased array tenga el capacidad de revelar
que un elemento está saturado. OmniScan® phased el instrumento array ofrece la
capacidad de visualizar la saturación directamente en la vista A-scan (consulte la Figura 4-
18 y la Figura 4-19).

Figura 4-18 En el instrumento OmniScan phased array, la puerta parpadea tan pronto como uno el
elemento está saturado, avisando al usuario de que la amplificación de la señal ya no es lineal.

Figura 4-19 Influencia de la saturación en la señal de amplitud final para 11 elementos


(igual que en la Figura 4-18): a más de 8 dB de ganancia, algunos elementos están
saturados y la amplitud final no más tiempo corresponde a la amplitud esperada.

La saturación se puede evitar utilizando una ganancia de amplificador menor o reduciendo


la cantidad de elementos por apertura
4.3.8 Enfoque de profundidad dinámica (DDF)
El enfoque de profundidad dinámica (DDF) es una respuesta de matriz programable en
tiempo real en recepción modificando la línea de retardo, la ganancia y la excitación de cada
elemento como una función del tiempo (vea la Figura 4-20). DDF reemplaza múltiples leyes
focales para el mismo rango focal por el producto del haz emitido con "foco separado" haces
"en la etapa de recepción. En otras palabras, DDF cambia dinámicamente el Distancia focal
a medida que la señal regresa a la sonda phased array. DDF aumenta significativamente la
profundidad de campo y la SNR. La divergencia del haz DDF en el eje acústico [ΔX-6dB
(SDH) - mm] es el haz ancho medido utilizando la amplitud eco-dinámica del agujero de
perforación lateral Reflectores (SDH) cuando la placa DDF está habilitada. Una
comparación de DDF con las sondas estándar de phased array se presentan en la figura 4-
21. Tenga en cuenta el estrecho haz del DDF en comparación con el enfoque estándar
phased array.

Figura 4-20 Enfoque dinámico de profundidad (DDF): (a) principio que muestra el haz resultante del
DDF (derecho); (b) comparación entre el enfoque estándar de arreglo en fase (arriba); y DDF en la
profundidad de campo (abajo). Tenga en cuenta la detección de dos SDH en la zona cercana a la
superficie por DDF que son se perdió por el enfoque estándar de phased array.
Figura 4-21 Divergencia del haz: (a) principio; (b) ondas longitudinales a 0 °; (c) comparación entre
enfoque estándar de phased array (SPAF) y DDF.

Ventajas de DDF
DDF tiene las siguientes ventajas:
• La profundidad de campo generada por un DDF optimizado se mejora con una factor de
cuatro en aplicaciones prácticas con respecto al enfoque estándar.
• La mancha del haz producida por DDF es siempre tan pequeña como la producida por
enfoque estándar, o más pequeño.
• El uso de DDF crea diferenciales de haz muy pequeños. Mitad de ángulos tan pequeños
como 0.30 y 0.14 grados se obtuvieron usando lineal y matriz anular sondas
• DDF disminuye la dispersión del haz sin alterar las dimensiones del haz obtenido con la
matriz en fase estándar.
• El SNRDDF es mayor que el SNRSPAF.
• El tamaño del archivo se reduce considerablemente porque solo se registra un A-scan
en cada posición mecánica
• El PRF efectivo aumenta porque solo se necesita un A-scan para cubrir una vía de
sonido larga en lugar de múltiples impulsos de transductores individuales.
Todas estas propiedades hacen que el uso de DDF sea adecuado para aplicaciones tales
como inspecciones de barrena, palanquilla de titanio y raíz de la cuchilla (ver capítulo 7,
"Aplicaciones industriales avanzadas"). Más detalles sobre el rendimiento de DDF se
puede encontrar en la referencia 10.
4.4 Calibración y prueba del instrumento La calibración y la prueba del instrumento
podrían realizarse en los siguientes etapas: en el laboratorio, usando equipo electrónico
trazable (avanzado); en el laboratorio, sin usar equipo electrónico; y en el sitio, usando
diferentes bloques y accesorios electrónicos. 4.4.1 Calibración electrónica Un instrumento
ultrasónico phased array consta de múltiples tablas, que contiene 8 a 64 pulsadores y 8 a
512 receptores. Fabricantes de equipos Calificar procedimientos trazables específicos
para instrumentos phased array. 11-13 Sin embargo, las normas internacionales14-26 se
refieren a ultrasonidos convencionales instrumentos (un receptor de pulser-one). Algunas
recomendaciones hechas en referencia 27 y la necesidad de equipos phased array en
nuclear, aeronáutica, y las industrias petroquímicas conducirán a una guía y estándar
para calibración, prueba y sustitución de equipos.