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Universidad de Los Andes

Facultad de Ciencias Económicas y Sociales


Escuela de Estadı́stica

Muestreo de Aceptación por Variables

Prof. Douglas Rivas

22 de marzo de 2010

Prof. Douglas Rivas Muestreo de Aceptación por Variables


Ventajas y desventajas
Muestreo de Aceptación por Variables
Militar Estándar 414

Ventajas
Ventajas
Permiten obtener las mismas curvas de CO con un
tamaño de muestra más pequeño del que se necesitarı́a
en un plan de muestreo para atributos.
Los datos de mediciones proporcionan más información
acerca del proceso de manufactura o del lote que los
datos de atributos.
Cuando los niveles de calidad aceptable son muy
pequeños, los tamaños de muestra requeridos tienden a
ser más pequeños que los muestreos por atributos.

Desventajas
Es necesario conocer la distribución de probabilidad de la
caracterı́stica de la calidad.
Debe emplearse un plan de muestreo
Prof. Douglas Rivas
para cada
Muestreo de Aceptación por Variables
Ventajas y desventajas
Muestreo de Aceptación por Variables
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Ventajas
Ventajas
Permiten obtener las mismas curvas de CO con un
tamaño de muestra más pequeño del que se necesitarı́a
en un plan de muestreo para atributos.
Los datos de mediciones proporcionan más información
acerca del proceso de manufactura o del lote que los
datos de atributos.
Cuando los niveles de calidad aceptable son muy
pequeños, los tamaños de muestra requeridos tienden a
ser más pequeños que los muestreos por atributos.

Desventajas
Es necesario conocer la distribución de probabilidad de la
caracterı́stica de la calidad.
Debe emplearse un plan de muestreo
Prof. Douglas Rivas
para cada
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Ventajas
Ventajas
Permiten obtener las mismas curvas de CO con un
tamaño de muestra más pequeño del que se necesitarı́a
en un plan de muestreo para atributos.
Los datos de mediciones proporcionan más información
acerca del proceso de manufactura o del lote que los
datos de atributos.
Cuando los niveles de calidad aceptable son muy
pequeños, los tamaños de muestra requeridos tienden a
ser más pequeños que los muestreos por atributos.

Desventajas
Es necesario conocer la distribución de probabilidad de la
caracterı́stica de la calidad.
Debe emplearse un plan de muestreo
Prof. Douglas Rivas
para cada
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Ventajas y desventajas
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Ventajas
Ventajas
Permiten obtener las mismas curvas de CO con un
tamaño de muestra más pequeño del que se necesitarı́a
en un plan de muestreo para atributos.
Los datos de mediciones proporcionan más información
acerca del proceso de manufactura o del lote que los
datos de atributos.
Cuando los niveles de calidad aceptable son muy
pequeños, los tamaños de muestra requeridos tienden a
ser más pequeños que los muestreos por atributos.

Desventajas
Es necesario conocer la distribución de probabilidad de la
caracterı́stica de la calidad.
Debe emplearse un plan de muestreo
Prof. Douglas Rivas
para cada
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Ventajas y desventajas
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Ventajas
Ventajas
Permiten obtener las mismas curvas de CO con un
tamaño de muestra más pequeño del que se necesitarı́a
en un plan de muestreo para atributos.
Los datos de mediciones proporcionan más información
acerca del proceso de manufactura o del lote que los
datos de atributos.
Cuando los niveles de calidad aceptable son muy
pequeños, los tamaños de muestra requeridos tienden a
ser más pequeños que los muestreos por atributos.

Desventajas
Es necesario conocer la distribución de probabilidad de la
caracterı́stica de la calidad.
Debe emplearse un plan de muestreo
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para cada
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Ventajas
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Permiten obtener las mismas curvas de CO con un
tamaño de muestra más pequeño del que se necesitarı́a
en un plan de muestreo para atributos.
Los datos de mediciones proporcionan más información
acerca del proceso de manufactura o del lote que los
datos de atributos.
Cuando los niveles de calidad aceptable son muy
pequeños, los tamaños de muestra requeridos tienden a
ser más pequeños que los muestreos por atributos.

Desventajas
Es necesario conocer la distribución de probabilidad de la
caracterı́stica de la calidad.
Debe emplearse un plan de muestreo
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para cada
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Ventajas
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Permiten obtener las mismas curvas de CO con un
tamaño de muestra más pequeño del que se necesitarı́a
en un plan de muestreo para atributos.
Los datos de mediciones proporcionan más información
acerca del proceso de manufactura o del lote que los
datos de atributos.
Cuando los niveles de calidad aceptable son muy
pequeños, los tamaños de muestra requeridos tienden a
ser más pequeños que los muestreos por atributos.

Desventajas
Es necesario conocer la distribución de probabilidad de la
caracterı́stica de la calidad.
Debe emplearse un plan de muestreo
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para cada
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Ventajas
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Permiten obtener las mismas curvas de CO con un
tamaño de muestra más pequeño del que se necesitarı́a
en un plan de muestreo para atributos.
Los datos de mediciones proporcionan más información
acerca del proceso de manufactura o del lote que los
datos de atributos.
Cuando los niveles de calidad aceptable son muy
pequeños, los tamaños de muestra requeridos tienden a
ser más pequeños que los muestreos por atributos.

Desventajas
Es necesario conocer la distribución de probabilidad de la
caracterı́stica de la calidad.
Debe emplearse un plan de muestreo
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Tipos de planes

Tipos de planes
Planes que controlan la fracción defectuosa (o
disconforme) del lote
Planes que controlan un parámetro (generalmente la
media) del lote o del proceso.

Considere un plan de muestreo por variables para controlar la


fracción disconforme del lote o proceso. Como la caracterı́stica
de calidad es una variable, habrá un lı́mite inferior de
especificación (LIE), un lı́mite superior de especificación (LSE),
o ambos, que definen los parámetros aceptables de ese
parámetro. Suponiendo conocida la desviación estándar del
proceso, un plan de muestreopor variables puede organizarse
de dos maneras:
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Tipos de planes

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Planes que controlan la fracción defectuosa (o
disconforme) del lote
Planes que controlan un parámetro (generalmente la
media) del lote o del proceso.

Considere un plan de muestreo por variables para controlar la


fracción disconforme del lote o proceso. Como la caracterı́stica
de calidad es una variable, habrá un lı́mite inferior de
especificación (LIE), un lı́mite superior de especificación (LSE),
o ambos, que definen los parámetros aceptables de ese
parámetro. Suponiendo conocida la desviación estándar del
proceso, un plan de muestreopor variables puede organizarse
de dos maneras:
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Tipos de planes

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Planes que controlan la fracción defectuosa (o
disconforme) del lote
Planes que controlan un parámetro (generalmente la
media) del lote o del proceso.

Considere un plan de muestreo por variables para controlar la


fracción disconforme del lote o proceso. Como la caracterı́stica
de calidad es una variable, habrá un lı́mite inferior de
especificación (LIE), un lı́mite superior de especificación (LSE),
o ambos, que definen los parámetros aceptables de ese
parámetro. Suponiendo conocida la desviación estándar del
proceso, un plan de muestreopor variables puede organizarse
de dos maneras:
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Tipos de planes

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Planes que controlan la fracción defectuosa (o
disconforme) del lote
Planes que controlan un parámetro (generalmente la
media) del lote o del proceso.

Considere un plan de muestreo por variables para controlar la


fracción disconforme del lote o proceso. Como la caracterı́stica
de calidad es una variable, habrá un lı́mite inferior de
especificación (LIE), un lı́mite superior de especificación (LSE),
o ambos, que definen los parámetros aceptables de ese
parámetro. Suponiendo conocida la desviación estándar del
proceso, un plan de muestreopor variables puede organizarse
de dos maneras:
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Tipos de planes

Tipos de planes
Planes que controlan la fracción defectuosa (o
disconforme) del lote
Planes que controlan un parámetro (generalmente la
media) del lote o del proceso.

Considere un plan de muestreo por variables para controlar la


fracción disconforme del lote o proceso. Como la caracterı́stica
de calidad es una variable, habrá un lı́mite inferior de
especificación (LIE), un lı́mite superior de especificación (LSE),
o ambos, que definen los parámetros aceptables de ese
parámetro. Suponiendo conocida la desviación estándar del
proceso, un plan de muestreopor variables puede organizarse
de dos maneras:
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Tipos de planes
Procedimiento 1
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico
x̄ − LIE
ZLIE = (1)
σ
Si ZLIE ≥ k siendo k un valor crı́tico, el lote se aceptarı́a

Procedimiento 2
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico de ecuación 2. Se usa ZLIE para
determinar la fracción defectuosa del lote o proceso como el
área bajo la p
curva normal estándar de ZLIE .
(QLIE = ZLIE n/(n − 1)). Sea p̂ la estimación obtenida de p. Si
p̂ > M, el lote se rechaza.
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Tipos de planes
Procedimiento 1
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico
x̄ − LIE
ZLIE = (1)
σ
Si ZLIE ≥ k siendo k un valor crı́tico, el lote se aceptarı́a

Procedimiento 2
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico de ecuación 2. Se usa ZLIE para
determinar la fracción defectuosa del lote o proceso como el
área bajo la p
curva normal estándar de ZLIE .
(QLIE = ZLIE n/(n − 1)). Sea p̂ la estimación obtenida de p. Si
p̂ > M, el lote se rechaza.
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Procedimiento 1
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico
x̄ − LIE
ZLIE = (1)
σ
Si ZLIE ≥ k siendo k un valor crı́tico, el lote se aceptarı́a

Procedimiento 2
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico de ecuación 2. Se usa ZLIE para
determinar la fracción defectuosa del lote o proceso como el
área bajo la p
curva normal estándar de ZLIE .
(QLIE = ZLIE n/(n − 1)). Sea p̂ la estimación obtenida de p. Si
p̂ > M, el lote se rechaza.
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Procedimiento 1
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico
x̄ − LIE
ZLIE = (1)
σ
Si ZLIE ≥ k siendo k un valor crı́tico, el lote se aceptarı́a

Procedimiento 2
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico de ecuación 2. Se usa ZLIE para
determinar la fracción defectuosa del lote o proceso como el
área bajo la p
curva normal estándar de ZLIE .
(QLIE = ZLIE n/(n − 1)). Sea p̂ la estimación obtenida de p. Si
p̂ > M, el lote se rechaza.
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Tipos de planes
Procedimiento 1
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico
x̄ − LIE
ZLIE = (2)
σ
Si ZLIE ≥ k siendo k un valor crı́tico, el lote se aceptarı́a

Procedimiento 2
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico de ecuación 2. Se usa ZLIE para
determinar la fracción defectuosa del lote o proceso como el
área bajo la p
curva normal estándar de ZLIE .
(QLIE = ZLIE n/(n − 1)). Sea p̂ la estimación obtenida de p. Si
p̂ > M, el lote se rechaza.
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Procedimiento 1
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico
x̄ − LIE
ZLIE = (2)
σ
Si ZLIE ≥ k siendo k un valor crı́tico, el lote se aceptarı́a

Procedimiento 2
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico de ecuación 2. Se usa ZLIE para
determinar la fracción defectuosa del lote o proceso como el
área bajo la p
curva normal estándar de ZLIE .
(QLIE = ZLIE n/(n − 1)). Sea p̂ la estimación obtenida de p. Si
p̂ > M, el lote se rechaza.
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Tipos de planes
Procedimiento 1
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico
x̄ − LIE
ZLIE = (2)
σ
Si ZLIE ≥ k siendo k un valor crı́tico, el lote se aceptarı́a

Procedimiento 2
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico de ecuación 2. Se usa ZLIE para
determinar la fracción defectuosa del lote o proceso como el
área bajo la p
curva normal estándar de ZLIE .
(QLIE = ZLIE n/(n − 1)). Sea p̂ la estimación obtenida de p. Si
p̂ > M, el lote se rechaza.
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Procedimiento 1
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico
x̄ − LIE
ZLIE = (2)
σ
Si ZLIE ≥ k siendo k un valor crı́tico, el lote se aceptarı́a

Procedimiento 2
Se toma una muestra aleatoria de n artı́culos del lote y se
calcula el estadı́stico de ecuación 2. Se usa ZLIE para
determinar la fracción defectuosa del lote o proceso como el
área bajo la p
curva normal estándar de ZLIE .
(QLIE = ZLIE n/(n − 1)). Sea p̂ la estimación obtenida de p. Si
p̂ > M, el lote se rechaza.
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Tipos de planes

En el caso de un lı́mite superior, se puede usar cualquiera de


los 2 procedimientos, pero se calcula el estadı́stico

LSE − x̄
ZLSE = (3)
σ
Cuando están presentes los dos lı́mites se usa el segundo
procedimiento.

Procedimiento 2
Cuando se desconoce la desviación estándar σ, se estima con
la desviación estándar muestral S

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En el caso de un lı́mite superior, se puede usar cualquiera de


los 2 procedimientos, pero se calcula el estadı́stico

LSE − x̄
ZLSE = (3)
σ
Cuando están presentes los dos lı́mites se usa el segundo
procedimiento.

Procedimiento 2
Cuando se desconoce la desviación estándar σ, se estima con
la desviación estándar muestral S

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Tipos de planes

En el caso de un lı́mite superior, se puede usar cualquiera de


los 2 procedimientos, pero se calcula el estadı́stico

LSE − x̄
ZLSE = (3)
σ
Cuando están presentes los dos lı́mites se usa el segundo
procedimiento.

Procedimiento 2
Cuando se desconoce la desviación estándar σ, se estima con
la desviación estándar muestral S

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Tipos de planes

En el caso de un lı́mite superior, se puede usar cualquiera de


los 2 procedimientos, pero se calcula el estadı́stico

LSE − x̄
ZLSE = (3)
σ
Cuando están presentes los dos lı́mites se usa el segundo
procedimiento.

Procedimiento 2
Cuando se desconoce la desviación estándar σ, se estima con
la desviación estándar muestral S

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Ventajas y desventajas
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Diseño de un PMV con una CCO especificada

Usando el procedimiento 1
Sean (p1 , 1 − α), (p2 , 1 − β) los dos puntos de interés en la
CCO. p1 y p2 pueden ser los niveles de la fracción disconforme
del lote o del proceso que corresponde a los niveles de calidad
de aceptación y de rechazo, respectivamente. Entonces se usa
el nomograma siguiente para diseñar el plan.

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Diseño de un PMV con una CCO especificada

Usando el procedimiento 1
Sean (p1 , 1 − α), (p2 , 1 − β) los dos puntos de interés en la
CCO. p1 y p2 pueden ser los niveles de la fracción disconforme
del lote o del proceso que corresponde a los niveles de calidad
de aceptación y de rechazo, respectivamente. Entonces se usa
el nomograma siguiente para diseñar el plan.

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Diseño de un plan con una CCO


Nomograma

Figura: Nomograma
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Diseño de un plan con una CCO


Nomograma

Figura: Nomograma
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Diseño de un PMV con una CCO especificada

Ejemplo
Un embotellador de refrescos compra envases no retornables
de un proveedor. El ha establecido una especificación inferior
de 225 psi para la resistencia del estallamiento de los envases.
si 1 % o menos de los envases estallan abajo de este lı́mite, el
embotellador desea aceptar el lote con una probabilidad de
0.95 (p1 = 0,01, 1 − α = 0,95), mientras que si 6 % o más de
los envases estallan abajo de este lı́mite, el embotellador
querrı́a rechazar el lote con una probabilidad de 0.90
(p2 = 0,06, 1 − β = 0,90). Suponiendo σ desconocida, se
obtiene que n = 40 y k = 1,9. Con σ conocida, se obtiene que
n = 15 y k = 1,9

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Diseño de un PMV con una CCO especificada

Ejemplo
Un embotellador de refrescos compra envases no retornables
de un proveedor. El ha establecido una especificación inferior
de 225 psi para la resistencia del estallamiento de los envases.
si 1 % o menos de los envases estallan abajo de este lı́mite, el
embotellador desea aceptar el lote con una probabilidad de
0.95 (p1 = 0,01, 1 − α = 0,95), mientras que si 6 % o más de
los envases estallan abajo de este lı́mite, el embotellador
querrı́a rechazar el lote con una probabilidad de 0.90
(p2 = 0,06, 1 − β = 0,90). Suponiendo σ desconocida, se
obtiene que n = 40 y k = 1,9. Con σ conocida, se obtiene que
n = 15 y k = 1,9

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Diseño de un PMV con una CCO especificada

Usando el procedimiento 2
Se sigue el mismo procedimiento anterior, pero en este caso
es necesario hallar el valor de M, para lo cual su usa la
siguiente figura.

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Diseño de un PMV con una CCO especificada

Usando el procedimiento 2
Se sigue el mismo procedimiento anterior, pero en este caso
es necesario hallar el valor de M, para lo cual su usa la
siguiente figura.

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Diseño de un plan con una CCO


Nomograma

Figura: Carta para determinar M

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Diseño de un plan con una CCO


Nomograma

Figura: Carta para determinar M

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Diseño de un PMV con una CCO especificada

Ejemplo
Para el ejemplo 1, se obtuvo que n = 15 y k = 1,9. Se consulta
la figura con n = 40 y valor de abscisa
√ √
1 − kn−1n 1 − 1,93940
= = 0,35
2 2
con lo cual M = 0,030. Suponga que una vez extraı́das las 40
observaciones x̄ = 255 y S = 15, entonces

x̄ − LIE 255 − 225


ZLIE = = =2
S 15

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Diseño de un PMV con una CCO especificada

Ejemplo
Para el ejemplo 1, se obtuvo que n = 15 y k = 1,9. Se consulta
la figura con n = 40 y valor de abscisa
√ √
1 − kn−1n 1 − 1,93940
= = 0,35
2 2
con lo cual M = 0,030. Suponga que una vez extraı́das las 40
observaciones x̄ = 255 y S = 15, entonces

x̄ − LIE 255 − 225


ZLIE = = =2
S 15

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Ventajas y desventajas
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Diseño de un PMV con una CCO especificada


Ejemplo
usando la figura siguiente se obtiene p̂ = 0,020, lo cual es
menor que M = 0,030, el lote se acepta.

Nomograma

Figura: Carta para determinar p̂ a partir de Z

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Diseño de un PMV con una CCO especificada


Ejemplo
usando la figura siguiente se obtiene p̂ = 0,020, lo cual es
menor que M = 0,030, el lote se acepta.

Nomograma

Figura: Carta para determinar p̂ a partir de Z

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Diseño de un PMV con una CCO especificada


Ejemplo
usando la figura siguiente se obtiene p̂ = 0,020, lo cual es
menor que M = 0,030, el lote se acepta.

Nomograma

Figura: Carta para determinar p̂ a partir de Z

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Ventajas y desventajas
Muestreo de Aceptación por Variables
Militar Estándar 414

Diseño de un PMV con una CCO especificada

Cuando hay dos lı́mites de especificación, se calcula el valor


de n y k usando el nomograma. Una vez obtenida la muestra
se calcula ZLIE y ZLSE , y con la figura anterior se obtienen los
valores de p̂LSE y p̂LIE . Si p̂LIE + p̂LSE ≤ M, se acepta el lote.

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Militar Estándar 414

Diseño de un PMV con una CCO especificada

Cuando hay dos lı́mites de especificación, se calcula el valor


de n y k usando el nomograma. Una vez obtenida la muestra
se calcula ZLIE y ZLSE , y con la figura anterior se obtienen los
valores de p̂LSE y p̂LIE . Si p̂LIE + p̂LSE ≤ M, se acepta el lote.

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Ventajas y desventajas
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Militar Estándar 414

MIL STD 414


Es un plan de muestreo de aceptación por lote por variables.
Se introdujo en 1957.

Hay cinco niveles generales de inspección, y el nivel IV se


designa como ”normal”. El nivel de inspección V da una CCO
más empinada que el nivel IV. Cuando es necesario abatir los
costos del muestreo y cuando puedan o deban tolerarse
riesgos mayores, se usan los niveles de inspección más bajos.

Al igual que la MIL STD 105E, se usan letras de código para el


tamaño de la muestra. Pero no es la misma tabla. Se estipulan
la inspección, normal, reducida y rigurosa.

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MIL STD 414


Es un plan de muestreo de aceptación por lote por variables.
Se introdujo en 1957.

Hay cinco niveles generales de inspección, y el nivel IV se


designa como ”normal”. El nivel de inspección V da una CCO
más empinada que el nivel IV. Cuando es necesario abatir los
costos del muestreo y cuando puedan o deban tolerarse
riesgos mayores, se usan los niveles de inspección más bajos.

Al igual que la MIL STD 105E, se usan letras de código para el


tamaño de la muestra. Pero no es la misma tabla. Se estipulan
la inspección, normal, reducida y rigurosa.

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MIL STD 414


Es un plan de muestreo de aceptación por lote por variables.
Se introdujo en 1957.

Hay cinco niveles generales de inspección, y el nivel IV se


designa como ”normal”. El nivel de inspección V da una CCO
más empinada que el nivel IV. Cuando es necesario abatir los
costos del muestreo y cuando puedan o deban tolerarse
riesgos mayores, se usan los niveles de inspección más bajos.

Al igual que la MIL STD 105E, se usan letras de código para el


tamaño de la muestra. Pero no es la misma tabla. Se estipulan
la inspección, normal, reducida y rigurosa.

Prof. Douglas Rivas Muestreo de Aceptación por Variables


Ventajas y desventajas
Muestreo de Aceptación por Variables
Militar Estándar 414

Militar Estándar 414

MIL STD 414


Es un plan de muestreo de aceptación por lote por variables.
Se introdujo en 1957.

Hay cinco niveles generales de inspección, y el nivel IV se


designa como ”normal”. El nivel de inspección V da una CCO
más empinada que el nivel IV. Cuando es necesario abatir los
costos del muestreo y cuando puedan o deban tolerarse
riesgos mayores, se usan los niveles de inspección más bajos.

Al igual que la MIL STD 105E, se usan letras de código para el


tamaño de la muestra. Pero no es la misma tabla. Se estipulan
la inspección, normal, reducida y rigurosa.

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Cuadro: Letras de código para el tamaño de la muestra


Niveles de inspección
Tamaño del lote I II III IV V
3a8 B B B B C
9 a 15 B B B B D
16 a 25 B B B C E
26 a 40 B B B D F
41 a 65 B B C E G
66 a 110 B B D F H
111 a 180 B C E G I
181 a 300 B D F H J
301 a 500 C E G I K
501 a 800 D F H J L
801 a 1300 E G I K L
1301 a 3200 F H J L M
3201 a 8000 G I L M N
8001 a 22000 H J M N O
22001 a 110000 I K N O P
110001 a 550000 I K O P Q
550001 en adelante I K P Q Q
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Se divide en cuatro secciones:


La sección A es una descripción general de los planes de
muestreo, que incluye las definiciones, las letras de código
para el tamaño de la muestra y las CCO para los
diferentes planes de muestreo.
La sección B presenta los planes de muestreo por
variables basados en la desviación estándar muestral para
σ desconocida.
La sección C presenta los planes de muestreo por
variables basados en el método del rango muestral.
La sección C presenta los planes de muestreo por
variables para σ conocida.

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Se divide en cuatro secciones:


La sección A es una descripción general de los planes de
muestreo, que incluye las definiciones, las letras de código
para el tamaño de la muestra y las CCO para los
diferentes planes de muestreo.
La sección B presenta los planes de muestreo por
variables basados en la desviación estándar muestral para
σ desconocida.
La sección C presenta los planes de muestreo por
variables basados en el método del rango muestral.
La sección C presenta los planes de muestreo por
variables para σ conocida.

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Se divide en cuatro secciones:


La sección A es una descripción general de los planes de
muestreo, que incluye las definiciones, las letras de código
para el tamaño de la muestra y las CCO para los
diferentes planes de muestreo.
La sección B presenta los planes de muestreo por
variables basados en la desviación estándar muestral para
σ desconocida.
La sección C presenta los planes de muestreo por
variables basados en el método del rango muestral.
La sección C presenta los planes de muestreo por
variables para σ conocida.

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Se divide en cuatro secciones:


La sección A es una descripción general de los planes de
muestreo, que incluye las definiciones, las letras de código
para el tamaño de la muestra y las CCO para los
diferentes planes de muestreo.
La sección B presenta los planes de muestreo por
variables basados en la desviación estándar muestral para
σ desconocida.
La sección C presenta los planes de muestreo por
variables basados en el método del rango muestral.
La sección C presenta los planes de muestreo por
variables para σ conocida.

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Se divide en cuatro secciones:


La sección A es una descripción general de los planes de
muestreo, que incluye las definiciones, las letras de código
para el tamaño de la muestra y las CCO para los
diferentes planes de muestreo.
La sección B presenta los planes de muestreo por
variables basados en la desviación estándar muestral para
σ desconocida.
La sección C presenta los planes de muestreo por
variables basados en el método del rango muestral.
La sección C presenta los planes de muestreo por
variables para σ conocida.

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Ejemplo
Considere el embotellador del ejemplo anterior. El lı́mite inferior
de especificación para la resistencia del estallamiento es 225
psi. Suponga que el AQL en este lı́mite es 1 %. Suponga
además que los lotes son de tamaño N = 100000 y se supone
que la desviación estándar es desconocida.

Ejemplo
Si se usa el nivel de inspección IV, la letra código para el
tamaño de la muestra es O, para lo cual se obtiene un tamaño
de muestra de n = 100. Para un nivel de calidad aceptable de
1 %, con una inspección normal k = 2,00.

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Ejemplo
Considere el embotellador del ejemplo anterior. El lı́mite inferior
de especificación para la resistencia del estallamiento es 225
psi. Suponga que el AQL en este lı́mite es 1 %. Suponga
además que los lotes son de tamaño N = 100000 y se supone
que la desviación estándar es desconocida.

Ejemplo
Si se usa el nivel de inspección IV, la letra código para el
tamaño de la muestra es O, para lo cual se obtiene un tamaño
de muestra de n = 100. Para un nivel de calidad aceptable de
1 %, con una inspección normal k = 2,00.

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Ejemplo
Considere el embotellador del ejemplo anterior. El lı́mite inferior
de especificación para la resistencia del estallamiento es 225
psi. Suponga que el AQL en este lı́mite es 1 %. Suponga
además que los lotes son de tamaño N = 100000 y se supone
que la desviación estándar es desconocida.

Ejemplo
Si se usa el nivel de inspección IV, la letra código para el
tamaño de la muestra es O, para lo cual se obtiene un tamaño
de muestra de n = 100. Para un nivel de calidad aceptable de
1 %, con una inspección normal k = 2,00.

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