Microscopía de Fuerza

Atómica (AFM),
(AFM) modos de
operación y aplicaciones
Gema Rodríguez Crespo

Eva Carbonero, Victoria Sánchez

Ciclo Conoce el ICTP

23 Julio 2013
 MICROSCOPÍA DE SONDA DE BARRIDO (SPM)

• Microscopio de efecto túnel (STM)
Microscopio de efecto túnel (STM)
• Microscopio de fuerza atómica (AFM)

Premio Nobel Física 1986

G. Binnig H. Rohrer

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 MICROSCOPÍA DE EFECTO TUNEL (STM)

z x

y y

x y

Resolución: LIMITACIONES
•Lateral 2D: 2 Å No se puede emplear sobre materiales aislantes
•Vertical: 0.1 Å No se puede aplicar a muestras biológicas o 
poliméricas
li é i

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MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA (AFM)

Punta

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MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA (AFM)

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 PUNTAS AFM

SNL tip RTESP tip
Tip radius 2 nm Tip radius 8 nm
Imágenes cortesía de Bruker,  
http://www.brukerafmprobes.com/

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 MODOS DE TRABAJO AFM

Contacto continuo entre punta y muestra

Contacto continuo entre punta y muestra
 MODO CONTACTO (Contact mode)
 MEDIDA DE FUERZAS (Curva de fuerza, Force
MEDIDA DE FUERZAS (Curva de fuerza Force Volume)
Contacto intermitente entre punta y muestra
 CONTACTO INTERMITENTE (Tapping
CONTACTO INTERMITENTE (Tapping mode)
 CONTRASTE DE FASE (Phase Contrast mode)
No contacto entre punta y muestra (Non‐contact
p y ( mode))
Otros modos:
 Medida de fuerzas magnéticas (Magnetic Force Microscopy, MFM)
 Medida de fuerzas eléctricas (Electric Force Microscopy, EFM)
 Medida de potencial de superficie  ( Surface Potencial Microscopy)
 Medida de fuerzas químicas ( Chemical Potencial Microscopy)

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 AFM en MODO CONTACTO

 Fuerza constante
 Curvas de fuerza
C d f

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 AFM en MODO CONTACTO

Fuerza constante
• Topografía
• Afectada por la respuesta mecánica del material

Curvas de fuerza
Curvas de fuerza

Permite distinguir zonas con 
diferente comportamiento 
mecánico

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AFM MODO CONTACTO
INTERMITENTE
Tapping
pp g Mode

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 CONTACTO INTERMITENTE – Contraste de fase

Topografía

Fase

Modo No Contacto
Modo No Contacto

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Modo de trabajo Ventajas Inconvenientes

Fuerzas laterales pueden 
Altas velocidades de 
distorsionar la imagen
Contacto barrido
Fuerzas normales fuertes 
Resolución atómica
Resolución atómica
Daño muestras blandas
Mayor resolución 
Contacto
Contacto  lateral
M
Menor velocidad de barrido
l id d d b id
intermitente Menor interacción con 
la muestra

No se aplica fuerza 
sobre la muestra Menor resolución lateral
No contacto
Útil para muestras  Menor velocidad de barrido
hid fóbi
hidrofóbicas

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 Otros modos

MFM

Vertices magnéticos en nanodots triangulares

Jaafar et al. Physical Review B 2010, 81, 054439 

EFM

Agregados de negro de carbono en una matriz de caucho
Imagen cortesía de Bruker AXS

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 Otros modos

MFM
EFM

MICROSCOPÍA DE FUERZAS QUIMICAS

Puntas funcionalizadas
f l d

Fisisorción Quimisorción Modificación covalente

Hinterdorfer, P., Dufrêne, Y.F. Detection and localization of single molecular recognition events using atomic force microscopy. Nature Methods 2006, 3, 5, 347.

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Direct imaging of covalent bond structure in single‐molecule chemical reactions
Oteyza, D.G. et al. Science 2013, 340 (6139), pp. 1434‐1437.  

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Descripción AFM de ICTP

MultiMode SPM, Bruker
Nanoscope IVa

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Descripción AFM de ICTP

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 Descripción AFM de ICTP
Escáner “J”
x‐y: 100 um
100 m
z: 5 um Soporte punta

Punta

RTESP
Tapping

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Medidas en celda de líquidos

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Algunas cuestiones prácticas…

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 Preparación de muestras

Vidrio Mica
Silicio

 Casting
 Spin coating
 Ultramicrotomo

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Artefactos en la imágen

Punta sucia o en mal estado

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 Artefactos en la imágen

Interferencia óptica
Interferencia óptica C
Contaminación muestra
i ió

Parámetros mal  ajustados 

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¿ Qué podemos medir con un AFM?

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 Topografía

Nanoparticulas cargadas con heparina
Felisa Reyes – ICTP, CSIC

Fibras electrospinning PAN‐MA
Mukhatyar et al. Biomaterials 2011, 32, 3958

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 Topografía

topography phase

Hidroxiapatita
Luis Rodríguez – ICTP, CSIC

14
20
12
10 10

Z[Deg]
Z[nm]

8 0
6
-10
4
2 -20
0
0 10 20 30 40 50 0 10 20 30 40 50
X[nm] X[nm]

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 Topografía

Fotolitografía en superficies de PS
g p

Palacios M., García O., Rodríguez‐Hernández J. Langmuir 2013, 29, 2756−2763

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 Topografía Material Biológico

Células vivas (osteoblastos) en medio de cultivo
( )

DNA

Imágenes cortesía de Bruker AXS

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 Adhesión proteínas
Patrón de adhesión de proteínas de la matriz extracelular en superficies poliméricas

P l (EA‐co‐HEA)
Poly (EA HEA)
Col IV

> XOH

Coelho et al.
Tissue Engineering: Part A 2011, 17,17‐18, 2245

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 Estructura

Estructura cristalina

Time evolution of the growing crystal observed by in‐situ AFM observation.

Liuxin Jin et al. Polymer 2009, 50, 25, 6157 – 6165

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 Estructura

2.2 µm
2.2 µm

Fase Topografía

polipentafluoroestireno‐b‐ps‐b‐pegma
Sandra Muñoz – ICTP, CSIC 

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 Estructura

J. Pyun, T. Kowalewski, K. Matyjaszewski

Macromol. Rapid Commun. 2003, 24, 1043–1059 Altura  Fases

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 Materiales compuestos

0.5% 1%

2% 3%

L. Peponi et al. Composites Science and Technology 2008 ,68, 1631‐1636

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 AFM / EFM

L. Peponi et al. Carbon 2010, 48, 2590‐2595

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 Curvas de Fuerza

La adhesión se puede determinar localmente mediante Curvas de Fuerza
Las curvas de fuerza permiten distinguir zonas con diferente comportamiento mecánico

D. Olmos, F.J. González
UC3M

El resultado puede verse afectado 
por la topografía de la muestra

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 Nanoindentación con AFM

LLa punta de AFM se puede utilizar para indentar
t d AFM d tili i d t con AFM
AFM
Se puede obtener una imagen de la indentación

Acercar punta‐muestra

Contacto punta‐muestra

Indentación

Alejar punta‐muestra

Imagen de huella

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 Nanoindentación con AFM

LLa punta de AFM se puede utilizar para indentar
t d AFM d tili i d t con AFM
AFM
Se puede obtener una imagen de la indentación

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 Conclusiones

• La Microscopía de Fuerza Atómica es una herramienta versátil para

conocer y caracterizar mejor los materiales poliméricos

• Permite emplear diferentes modos de medida tanto topográficos como

funcionales, si bien para polímeros el mas utilizado es el modo contacto
intermitente (Tapping)

• Con un AFM podemos medir diferentes aspectos de muestras

poliméricas como:
‐Topografía
‐ Distribución de fases cristalinas y amorfas
‐ Organización de fases en polímeros nanoestructurados
‐ Propiedades de adhesión
‐ Indentación
‐ Propiedades magnéticas, eléctricas
‐Propiedades en inmersión

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