CAPITULO 2TEORIA GENERAL IONIZACION POR IMPACTO ELECTRONICO ESPECTROS DE MASAS 2.1 lonizacién por impacto electrénico (El) 2.1.1 Introduccién Supongamos que introducimos una muestra en forma gaseosa en la fuente de ionizacién. Las moléculas no colisionaraén entre si puesto que el vacio reinante, del orden de 10° mbar o mejor, hace que el tecorrido medio libre sea mayor de unos 20 cm, y la cémara de ioni- zaci6n s6lo mide 1 6 2 cm. Sin embargo, las moléculas de nuestra muestra se encontraran con una cortina de electrones procedentes de un filamento incandescente (ver figura 2.1), produciéndose el impacto. Llegados a este punto debemos hacer notar que, aunque hablemos de impactos 6 choques, lo que realmente tiene lugar es una interacci6n entre los electrones incidentes y el 4tomo bombardeado, sin que Ilegue a haber contacto teal, dadas las dimensiones relativas de las particulas subatémicas y el propio 4tomo. Si la energia de los electrones, procedentes del filamento de la fuente de ionizaci6n, es superior al potencial de ionizacién de nuestras molécu- las, al producirse el choque, éstas se ionizaran por emisién estimulada de ‘un nuevo electr6n, generandose asi iones moleculares. Si el choque ha sido muy pleno y eficaz, la energia comunicada por el electron habra sido superior a la necesaria para producir la ionizacién, quedando el exceso de energia en forma de energia vibracional, lo que provoca la fragmentaci6n del ion molecular inicialmente formado, por rotura de uno 0 varios enlaces. Evidentemente, unos impactos serén més eficaces que otros, pro- duciéndose en algunos casos la ionizacién sin exceso de energia, lo que conduciré a la formaci6n de iones moleculares exclusivamente.48 » La espectrometria de masas en imagenes lel ra Tolle) IMPACTO ELECTRONICO Figura 2.1 n otros casos, y dependiendo de la eficacia del impacto, apareceran iones con diferentes excesos de energia, lo que dara lugar a diferentes iones fragmento. Para un compuesto dado, y siempre que se reproduzcan las condi- ciones de la ionizacién, especialmente la energia de los electrones, las preporciones relativas del ion molecular y de los diferentes fragmen- tos producidos seran fijas, constituyendo el patrén de fragmenta- cién de esa molécula, que queda reflejado en el espectro de masas ebtenido, ¥ que pedemos considerar como la huella digital de la molécula analizada. En la figura 2.2 podemos ver graficamente la relacién entre la ener- gia de los electrones utilizados y la corriente idnica total conseguida para un compuesto determinado, que es una medida de la eficacia del proceso. La eficacia de ionizacién de una molécula es nula por debajo de su potencial de ionizacié6n, y aumenta progresivamente con la energia de los electrones hasta alcanzar un maximo alrededor de los 70 eV (depende de la molécula}, disminuyendo lentamente para ener- jas superiores. Por convenio universal se ha adoptado el valor de 70 eV como energia electronica “standard”, para poder comparar directa- mente los espectros producidos en diferentes laboratorios, y asi editar espectrotecas 0 colecciones de espectros que pueden almacenarse en nuestro ordenador para ayudarnos a interpretar e identificar de modo automatizado nuestros espectros problema.Capitulo 2 : Teorla General * 49 IONIZACION Penn Peer rere te (ioe fe was PROCESO CTE ie tse) Psi e oe rel eye Lael aaa Bre) eee Bey PROCESOS PRIMARIOS (©) ius estean (re93)} Figura 2.2 75 eV =°1.700 Keal/mol a ee eae cen REACCIONES UNIMOLECULARES PF sieek ect es a Oe50+ La espectrometcia de masas en imagenes 2.1.2 Procesos primarios in las condiciones que hemos establecido como normales para la ionizacién por impacto electrénico, el proceso primario que nor- malmente se realiza es la formacién de iones positivos con una sola carga. En algunos casos pueden formarse también iones negativos por captura de electrones, cuando en la molécula hay algtin ele- mento electronegative, como por ejemplo un halégeno, También en algunas ocasiones pueden formarse iones con dos o mas cargas, aunque en cantidades despreciables (fig. 2.2). 2.1.3. Modelo mecanistico En la figura 2.3 podemes ver de forma esquematica algunos de los process de fragmentacién que pueden tener lugar a partir de una an la figura 2.4 hace- molécula “ABC” y su ion molecular “ABC**”. mos una sencilla introduccién al modelo mecanistico de la Espec- trometria de Masas, en el que se basa la interpretacién de espectros, tema en el que no entraremos en este libro, salvo muy tangencial- mente, por salitse del propésito del mismo. El contenido del postulado basico es muy expresivo: “Uno de los factores principales que regulan la abundancia relativa de los iones producidos por fragmentacién, es la estabilidad de los productos de descomposicidn”. Es decir, si al descomponerse el ion primatio ABC*t pueden producirse alternativamente los iones AB* (mas el fragmento ltONIZACION MODELO MECANISTICO DE LA ESPECTROMETRIA DE MASAS i Prete tect Rete ern tower ites Figura 2.4Capitulo 2: Teoria General * $1 neutro C), y A* (mas fragmento neutro BC), se formar4 en mayor pro- porcién el ian mas estable o de menor contenido energético, es decir e] AB* en el ejemplo de la figura. O lo que es lo mismo: Entalpia de formacion baja conduce a fragmentos abundantes, 2.1.4. La fuente “EI” En Ia figura 2.5 se representa un esquema de una fuente de impacto electrénico tipica (EI = Electron Impact). Podemos observar la presencia de unos pequefios imanes, empleados para conseguir que la trayectoria de los electrones, desde el filamento hacia el 4nodo, tenga forma espi- ral, con lo que se aumenta el recorrido y la probabilidad de colisién. Una placa repulsora, con potencial positivo, se encarga de expulsar de la fuente los iones positivos formados que, a través de una rendija de salida, pasan a la zona de aceleracion. A continuacién, en los espectré- metros de masas magnéticos, los iones son acelerados mediante la apli- cacién de un voltaje V que suele ser del orden de los 4 a 10 keV; en los espectrémetros cuadrupolares se utilizan pequefios voltajes, del orden de5V. El voltaje aplicado entre el filamento y el colector es de 70 V, para que los electrones emitidos tengan una energia de 70 eV que, como sabemos, es la energia normalmente empleada. A veces sucede que la fragmentacién producida es excesiva, pudiendo desaparecer el ion molecular. En estos casos podemos optar por reducir la energia electré- Lei fra Toilets) FUENTE DE (ONIZACION DE IMPACTO ELECTRONICO Figura 2.5metria de masas en imagenes. IONIZACION Figura 2.6 FUENTES Et frie] re Der werTte Te Prete Trad see eee lr Ce ae fs BAJOS EFECTOS DE CONTAMINA fae ala) Ce er Meee ey Zale ee neath eye) Peer nae acs) Pewee ger aT eee i eer) PN totes ate le Ceara ct lb ctca ad ag 1 abl erate teeta Care mr e orte) a tae eee te Le ( Ba Lom acta) Caen a Py geen Ce) Sere ternal tt Ur freon Figura 2.7Capitulo 2 : Teoria General « 53 nica a valores inferiores (fig. 2.6), lo que disminuye la fragmentacién, pero también el ntimero de moléculas ionizadas, o emplear otro sistema de ionizacién alternativo mas “blando” que el EI. El método alternativo mids habitual es la fuente de ionizacién quimica (CI = Chemical lonisa- tion), que veremos en detalle en el capitulo 5, Téngase en cuenta que las moléculas de analito se encuentran muy alejadas unas de otras en la fuente, debido al alto vacio teinante, y que la eficacia de la lonizacién es muy baja, ionizindose una muy pequeha proporcion, Las figuras 2.5 y 2.6 presentan una imagen idealizada en la que el tamaio de las moléculas y sus distancias relativas no correpon- den, légicamente, a la realidad. En la figura 2.7 se indican algunos tipos de fuentes EI utilizades para diferentes aplicaciones. EI disefio de tipo cerrado es el mas empleado en los equipos GC-MS y, en general, en los espectrometros de masas de aplicacion organica, asi como para monitorizacién de gases a presiones cercanas a la atmosférica, Las fuentes de haz molecular se emplean en aquellos casos en que la muestra se presenta en forma de haz molecular colimado, como en experimentos en los que se usan léseres como fuente de excitacién, o en equipos de epitaxia molecular MBE (Molecular Beam Epitaxy), o cuando sé quieran analizar gases corrosivos, La fuente radial es un tipo de fuente extremadamente sencillo, ade- cuado para cuando no sean necesarias caracteristicas muy especiales ni ase FILAMENTOS TUNGSTENO 3 RENO G J ( (J Cd HEXABORURO IRIDIO TORIADO _< DE LANTANO ach ceed OMe erie) Figusa 2.854 « La espectrometria de masas cn imagenes una elevada sensibilidad. Por ultimo, las fuentes para aplicaci6n en ultra-alto vacio (UHV) poseen una geometria muy abierta para conse- guir captar el mayor ntimero de moléculas posible, y se fabrican con platino y materiales especiales de baja desgasificacian compatibles con las condiciones de UHV. En la figura 2.8 se presenta un cuadro con los diferentes tipos de fila- mentes utilizados en las fuentes EI, con un pequefio comentario sobre sus caracteristicas y aplicaciones. 2.2 El espectro de masas “EI” 2.2.1. Fragmentacién Veamos, como ejemplo, el caso del metano. Al recibir el impacto de los electrones energéticos de la fuente, la molécula de metano se ionizara dando lugar al ién molecular M* (CH,*). Los diferentes exce- sos de energia originados en los impactos con las moléculas de meta- no presentes, haran que algunos iones moleculares formados se des- compongan para formar diferentes fragmentos. Veamos cuales: En algunos casos el exceso de energia no sera suficiente para des- componer el ion molecular, siendo éste detectado como tal. Estos jones moleculares daran lugar a un pico de masa nominal 16 (masa exacta 16,03140. A partir de ahora nos referiremos a la masa nominal simplemente como “masa”), cuya altura relativa en el espectro indica aTaaie aed METANO ei eee baer tii a 2 s eis Leese eT OISTRIBUCION foe re eee mille) saad [Oe one) Figura 2.9Capitulo 2: Teoria General * 55 su abundancia. Fn este caso, el ion molecular es el pico mas alto del espectro, que Hamaremos pico base, y lo normalizamos al valor 100 (ver fig. 2.9}. Algunos iones moleculares quedaran con exeeso de energia, des- componiéndose posteriormente para formar diferentes iones frag- mento. Los que pierdan un protén formarin iones de masa 15 (CH, los que pierdan dos protones daran iones de masa 14 (CH,"), ete. Los diferentes iones formados son detectados en el espectrémetro de masas de modo consecutivo durante el barrido del analizador, produciendo una seal que, debidamente amplificada, da lugar a los diferentes picos del espectro. Las intensidades relativas de los picos Son una medida de la abundancia relativa de cada uno de ellos, lo que puesto en forma de tabla o de espectro constituye el llamado patrén de fragmentacién del compuesto analizado, en este caso del metano, 2.2.2 Calculo de estructuras Cuando el espectro a interpretar sea de alta resolucién, la medida de Ja masa exacta del ion molecular pucde ser suficiente para identificar el compuesto analizado. Esto es posible, ya que los espectrometros de masas de alta resoluci6n son capaces de distinguir masas muy prdxi- Mas entre si (con un alto grado de resolucion), midiendo la masa molecular con una precision de varias cifras decimales. CALCULO DE ESTRUCTURAS (-7W PG Tse Nelle} 5) enn, ead he Chee Figura 2.1056 * La espectrometria de masas en imagenes Sin embargo, el caso mas habitual es disponer del espectro de baja resolucién donde, frecuentemente, sélo sabemos las masas nomina- les de cada ion. En este caso deberemos identificar el compuesto de que se trate, atendiendo a las diferentes “pistas” que encontraremos al observar el espectro detenidamente, Aunque no es nuestra inten- ¢ién profundizar en la teoria de interpretacién de espectros, si men- cionaremos algunos conceptos basicos que nos seran necesarios para la correcta comprensidn de otros temas posteriores. El ion “(M+1)*" En la figura 2.10 se presenta un caso muy tipico: Las moléculas de N,, CO, y C,H. Las tres tienen una masa nominal idéntica de 28 uma {unidades de masa atémica), aunque su masa exacta sea diferente, Por tanto, si observamos el ion molecular del espectro de baja resolucion de cada uno de estos tres compuestos no sabremos a cual de ellos corres- ponde, ya que en los tres espectros aparece el mismo pico de masa 28. Sin embargo, si nos fijamos mejor, veremos que ¢n los tres espec tros aparece un pequefio pico de masa 29, que lamaremos pico (M+1)*. Este pico se debe a que algunas moléculas contienen un is6- topo pesado (‘3c y '5N principalmente), cuya abundancia natural, aunque pequenia, es suficiente para generar un pico perceptible, En el caso del espectro del CO, el pico correspondiente al ion (M+1)* tiene una altura relativa del 1,12% comparado con el M*, ya Pate aye) BAJA RESOLUCION TON (M+1)”. Weta a ed ESTERAN (1903) Figura 248Capitulo 2 : Teoria General « 57 que la abundancia relativa del 3C frente al 12C en la naturaleza es, precisamente, del 1,124. (No consideramos la pequefiisima contribu- cién del '70). En el espectro correspondiente al CH=CH), la abundancia del ion de masa 29.es del 2,24%, como corresponde a una molécula con dos carbonos. (Tampoco consideramos la pequefia contribucién del deu- terio). El espectro del nitrogeno presenta un ion (M+1)" de un 0,76%, debido a la presencia del atemo de nitrégeno '8N, cuya abundancia natural es del 0,38% (en la molécula de nitrogeno hay dos 4tomos) Hemos visto que, con selo medir la altura relativa del ion (M+1)*, podemos diferenciar los espectros del CO, Ny y CjHy. En Ja figura 2.11 podemos ver el ion M* y el (M+1)" del espectro del naftaleno (C,yH,). Aqui, la probabilidad de que una molécula contenga un isétopo pesado es bastante alta, ya que hay 10 étomos de carbono (10x 1,124 = 11,29) y 8 dtomos de hidrdgeno (8 x 0,016% =0,128%). La altura relativa cel pico (M+1)* sera 11,2 + 0,128 = 11,328% (despre- ciamos la ligera disminucién de la altura de pico asi calculada, debido a la formacién de algunos iones (M+2)! con 8C y 2H simultineamente). Fragmentos Continuando con el mismo ejemplo del CO, Ny y C,Hy, podriamos también diferenciar los diferentes espectros de baja resolucién sin CALCULO DE ESTRUCTURAS fered es eM Len FRAGMENTACION TAMBIEN NOS AYUI JNTERPRETAR EL ESPECTAO DE BAJA RESOLUCION. aoa eae el ee Meee eam ere eg lot eee fofe Teel ae i eel ede NITROGENO, a A EN EL CASO DEL MONOXIDO DE CARBONO Oe ae ga pk te eed 12 CORRESPONDIENTES AL OXIGENO Y AL rT Telrad EN EL ESPECTAO DEL ETILENO HAY VARI fa Les nee) Cae Wee OMe Melee Pe ae ace a ed aad ba oie] CORRESPONDIENTE AL CARBONO. Sem OMe ures, Figuea 2.1258 © La espectrometria de masas en imagenes TTS aaa) ALTA RESOLUCION Poe eee ew ESPECTAO DE ALTA beeen el) ¥ AEBOLUCION (OWA. utes Figura 2.13 necesidad de medir el ion (M+1)", simplemete fijéndonos en los iones fragmento que aparecen en cada espectro (figura 2,12): En el espectro del nitrégeno, ademas del ion molecular de masa 28, aparece un fragmento muy abundante de masa 14 que correspon- de a la rotura del ion molecular N,* para dar un ion N+ y un fragmen- to neutro N, Evidentemente, también habra un pequefo pico de masa 15, por la raz6n ya conocida de la existencia del isétopo del nitrogeno de masa 15. En el espectro del CO no aparece ningun pico de masa 15, por razones obvias, y en cambio aparecen fragmentos a masa 12 y 16, correspondientes a los iones fragmento C* y O-. El espectro del C,H, presenta un aspecto muy diferente a los dos anteriores, con picos a masa 27, 26, etc., como corresponde a los dife- rentes fragmentos que se pueden formar, Vemos, por tanto, que también somos capaces de diferenciar los espectros de los tres compuestos de nuestro problema atendiento a la informacién estructural que nos offece la fragmentacién producida en la fuente de ionizacién de impacto electronica. En la figura 2.13 vemos representada la zona del ion molecular correspondiente a una mezcla de CO, No y CH, en baja y alta resolu- cién, Podemos apreciar que, mientras en el espectro de baja resolu- cién sélo apreciamos un pico de masa 28, en el espectro de alta reso- lucién aparecen separadas las masas de los tres iones moleculares,Capitulo 2: Teoria General ° 59 En el caso de analizar una mezcla de varios compuestos, el espec- tro resultante puede interpretarse, en muchos casos, a partir de los patrones de fragmentacion de cada uno de ellos, mediante los opor- tunos célculos, © mediante programas de ordenador que realizan la deconvolucién de modo automatico. Cuando la mezcla es suficien- temente compleja, y coinciden muchos picos de los diferentes espectros individuales, puede suceder que no sea factible la decon- volucién directa, Una ayuda suplementaria para resolver matemati- camente este caso consiste en realizar varios espectros utilizando diferente energia electronica en cada caso, con lo que los patro- nes de fragmentacién de cada compuesto varian de forma distinta, lo que aporta nuevos datos para resolver el sistema de ecuaciones planteado Aunque la solucién més frecuente al problema citado de las mez- clas sea la separacion previa mediante sistemas cromatogrificos, hay casos en que la aplicacién directa de la monitorizacién por Espectro- metria de Masas es necesaria, ya que permite el andlisis en tiempo real y en modo continuo. Cuando la mezcla es de gases permanen- tes, como éxides de carbono, nitrégeno, oxigeno, xidos de nitroge- no, oxidos de azufre, agua, amoniaco,etc. la técnica de deconvolu- cién matematica con ayuda de patrones de fragmentacion a dife rentes voltajes de ionizacién puede ser adecuada, utilizando espectré- metros de masas de baja resolucién y bajo rango de masas. Cuando se CALCULO DE ESTRUCTURAS BAJA-ALTA RESOLUCION Pe esi ra re] ry Bt ed 37 cre EL) 7 ot hl] ch ce Ly bite cz ee ty Wee aad ee (Oak Figura 2.14ometria de mas CALCULO DE ESTRUCTURAS as Pee ee Figura 2.25 INTERPRETACION DE ESPECTAOS ee ae ee ee ee ee Caer eas Melee Morn MeL ieee ee Boe Yel falter Tele a UNA HERRAMIENTA MUY UTIL PARA LA INTERPRETACION DE ESPECTROS [re Wee lela eae ea ee CE a et) REALIZADA AUTOMATICAMENTE POR EL ORDENADOR DEL EQUIPO. <= Pf Ha eee eat COMPARA\ VENTAJAS SISTEMA INVERSO Cyr PNM eee) WM tall) (@.NO SE REQUIERE SUSTRACCION DE font Tol AE) Wace ented eed Pre CL Mas) Meee ele Le eT ee Vea ee COMPUESTOS HOMOLOGOS. CeeCapitulo 2 : Teoria General * 61 trate de matrices organicas complejas, y no sea posible la separacién previa, la solucién puede encontrarse en técnicas MS/MS, que requie- ren espectrémetros de caracteristicas especiales, como veremos en el capitulo 9. El ion (M+2)* Cuando Ia molécula analizada contiene un 4tomo de cloro o de bro- mo, aparece un ion (M+2)* muy intenso, ya que ambos halégenos poseen dos is6topos muy abundantes (ver figura 2.14). En el caso de la presencia de miltiples 4tomos de cloro o de bromo, aparecen iones abundantes (M+4)*, (M+6)*, (M+8)*, etc, dando un aspecto muy carac- teristico a la zona del ion molecular con una distribucién de picos iso- tdpicos diferente y propia de cada combinaci6n (fig. 2.15). 2.2.3 Busqueda en espectroteca En los espectr6metros de masas de hoy dia, la adquisicién de datos y el control total del instrumento se realiza mediante un ordenador. Entre las herramientas de las que dispone habitualmente el soporte légico del equipo, se encuentran programas de comparacién automatica de espectros (Library Search) que permiten realizar la comparacién de nuestro espectro problema con una colecci6n de espectros, o espectro- teca (a veces mal llamada libreria), almacenada en la memoria. En la figura 2.16 vemos los dos métodos de comparacién norma- les. El método directo consiste en buscar la presencia de todos los picos del espectro problema en cada uno de los espectros de la espec- troteca. En el método inverso se buscan todos y cada uno de los picos de cada espectro de la espectroteca en el espectro problema. En la figu- Ta vemos esquematicamente las ventajas e inconvenientes de cada sis- tema. Lo normal es realizar las dos comparaciones simultaneamente y utilizar un algoritmo de calculo combinado. 2.3 Resolucién y sensibilidad Los picos de los espectros de masas deberian ser lineas de grosor des- preciable, pues cada una corresponde a una masa diferente. Sin embargo, debido a causas miltiples, como las pequefias diferencias de energia cinética de los iones, ruido 0 inestabilidad de componen- tes electrénicos, etc., los picos se ensanchan pudiendo solaparse o interferir con los ms proximos. La resolucién o poder de resoluci6én de un espectro6metro de masas es un pardémetro que define la anchura relativa de los picos obtenidos con un equipo o en un experimento determinado. Hay dos definiciones muy utilizadas y equivalentes: 2.3.1 Resolucién a 10% de valle Lo explicaremos con un ejemplo: Se dice que la resoluci6n a 10% de valle es 10.000 cuando el pico de masa 10.000 se separa del pico de62» La espectrometria de masas en imagenes GENERAL Figura 2.23 cy ae0 Ce enn gene Sea ere ee Oe Er Re weer Ber ee olen are eel Fa Tel le agree geet) Se eee ea ©) _ivis esresan (1933) gura 2.8Capitulo 2 : Teoria General * 63 masa 10.001 con un solapamiento, o valle sin resolver, correspon- diente al 10% de la altura de los picos, siempre que la altura de éstos sea equivalente (ver figura 2.17). En general diremos que la resolucién es M a 10% de valle cuando el pico de masa M se separe del de masa M+1 con el solapamiento indi- cado del 10%. En los equipos magnéticos o de alta resolucién, si podemos separar el pico de masa 10.000 del 10.001 con 10% de valle, significa que tam- bién conseguiremos la misma separaci6n entre los picos de masa 1.000,0 y 1.000,1; 0 entre el 100,00 y el 100,01; el 10,000 y el 10,001; y entre el 1,0000 y el 1,0001. Es decir, en los espectrometros magnéticos la separacién entre masas aumenta al disminuir la masa del ion obser- vado. Esto nos permite, cuando trabajemos a altas resoluciones, realizar medidas de masas muy precisas, con varias cifras decimales exactas. 2.3.2 Resolucién a 5% de la altura del pico Esta definicién es exactamente equivalente a la de 10% de valle, y dice lo siguiente: La resoluci6n para un pico de masa M es el resultado de dividir M por la anchura del pico, medida al 5% de su altura. Esta anchura, que denominamos A M, se debe expresar en las mismas uni- dades en que se exprese Ja distancia entre M y M+1. Por tanto, en el ejemplo anterior del pico de masa 10.000, la resolu- cién, a 5% de altura de pico, sera 10,000 cuando la anchura del pico 10.000 medida a un 5% de su altura (ver fig. 2.17), sea exactamente equi- valente a la distancia entre la masa 10.000 y 10.001 (que puede no estar presente en el espectro). O lo que es lo mismo: R = 10.000 / 1 = 10.000, 2.3.3 Resolucion. Otras definiciones Las dos definiciones explicadas son sin duda las mas empleadas. Sin embargo podemos encontrarnos con algunas otras de uso menos fre- cuente, tales como la resolucién a 50% de valle, la resoluci6n minima aprovechable o el porcentaje de contribucién o solapamiento de un pico “I” sobre su contiguo “II”. En la figura 2.18 se representan estas tres definiciones. Otra definici6n o denominacién, utilizada para los espectrOmetros de masas de tipo cuadrupolar, es la de “resolucién unidad”: Si un cua- drupolo tiene resolucién 1.000 cuando se observa el pico de 1.000 uma., tendra resolucién 100 cuando nos refiramos al pico de masa 100, resolucién 10 respecto al pico de masa 10 y resolucién 1 para el pico de masa 1. Es decir, la separacién relativa de las masas contiguas en un equipo cuadrupolar es constante. 2.3.4 Sensibilidad El término sensibilidad se refiere el valor de la corriente iénica detec- tada en el colector, para una presi6n de vapor determinada en la fuente i6nica, Se mide en Amperios / torr, y debe siempre estar referida64 « La espectrometria de masas en imagenes aun pico de masa nominal dada, del espectro de un compuesto deter- minado, ya que la facilidad de ionizaci6n, y por tanto la magnitud de la respuesta detectada, es diferente para cada compuesto. Suele emplearse el nitrégeno como sustancia de referencia, pudiéndose expresar la sen- sibilidad de un espectrometro de masas frente a otros gases, utilizando el término de sensibilidad relativa frente al nitrogeno, o sensibilidad equivalente. La definici6n anterior de sensibilidad es utilizada frecuentemente en equipos de pequefio rango de masas dedicados a anilisis de gases, y que trabajan a resoluci6n unidad. ‘Los instrumentos con placas colectoras tipo copa de Faraday, pue- den tener sensibilidades del orden de 10-4 A/torr, lo que, por ejem- plo, permite detectar una corriente iénica de 10°? A para una presion de nitrégeno de 10-5 torr en la fuente idnica. Los detectores basados en multiplicadores de electrones pueden tener sensibilidades del orden de 106 veces mayores, por lo que factores de 100 A/torr suelen ser normales. Un término, seguramente mas importante que el de sensibilidad definido arriba, es el de presién parcial minima detectable, que se ve afectado grandemente por la calidad del amplificador empleado. Si aceptamos que la minima corriente detectable por un amplificador es equivalente a su nivel de ruido, si éste es del orden de los 10-15 A, Ja menor presiOn parcial detectable en la fuente iénica, cuando utili- zemos un detector de placa de Faraday con una sensibilidad de 10-4 A/torr, sera: 10715 A ——— = 10" torr 104 A/torr Podria pensarse que con un multiplicador de electrones mejoraria el nivel de detecci6n hasta 10~'” torr, pero esto no es posible porque el multiplicador introduce una nueva fuente de ruido, y en la practi- ca solo se consiguen detectar presiones minimas del orden de los 10714 torr. Presiones tan bajas, de 10-!4 torr, corresponden normalmente a corrientes idnicas muy bajas, del orden de 10-18 A, 0 lo que es lo mis- mo, de unos 6 iones por segundo. A estos niveles, las fluctuaciones de corriente iénica son muy grandes, y es necesario el empleo de sis- temas electrénicos de contaje especiales. A estas fluctuaciones se las denomina ruido iénico estadistico. En los equipos de mayor rango de masas y alta resoluci6n, suelen emplearse otras definiciones de sensibilidad. Normalmente se indica la corriente generada en culombios por cada microgramo de muestra introducido en la fuente idnica, o la relaci6n sefial / ruido obtenida al inyectar una determinada cantidad de un compuesto dado, medi- da para un pico de masa determinada, a una cierta resolucion y a una velocidad de barrido concreta. Efectivamente, la sensibilidad dismi-Capitulo 2 : Teoria General + 65: nuye al aumentar la resoluci6n, ya que para ello deberemos cerrar la rendija que conduce al colector, lo que disminuye el niimero de jones que lo alcanzan. También baja la sensibilidad al aumentar la velocidad de barrido, puesto que disminuye el tiempo disponible en cada barride para detectar una determinada masa, por lo que pasard una menor cantidad de iones al colector. El compuesto de referencia que suele emplearse para definir la sensibilidac, cuando se utiliza una fuente de ionizaci6n de impacto electrénico, es el estearato de metilo. Una definicién tipica para un espectrometro de masas orginico acoplado a un cromatégrafo de gases (GC-MS), seria, por ejemplo: 100 pg de estearato de metilo inyectados en una columna capilar, para dar un pico de 3 segundos de anchura medida a la mitad de su altura, producen una relacién sefal / ruido de 300:1 para el ion molecular de masa m/z = 298, a una resolucién de 2.000 a 10% de valle, y a una velocidad de barri- do de 1 segundo por década para el ciclo completo de masas S00- 50-500. Otras definiciones tipicas podrian ser, por ejemplo: La sensibilidad para un determinado equipo magnético, traba- jando con un potencial de aceleraci6n de 8 kV, a una resolucién de 1.000 a 10% de valle, para muestras introducidas directamente en la fuente de impacto electronico, es de § x 10-7 Cfpg para el pico m/z 298 del estearato de metilo, GENERAL apy tosis Lah ee eee eR tao A IONICA DETECTADA EN EL COLECTOR, PARA UNA PRESION DE VAPOR Pras Nee eee SE MIDE EN AMPERIOS/TORR, ¥ DEBE SIEMPRE ESTAR REFERIDA A UN (ee tie ara To tle) ESTE TERMINO ES REALMENTE MAS IMPORTANTE QUE EL DE healer a alae AR Ieee ee A eee Tolle tt aera) Cer 7 ata P ini eee Piaget cele o Diamar Ls EN EL CASO DE UNA COPA DE FARADAY Stes el en ae mel) PT Pr Rae ag arise en Lae a EN EL GASO DEL EJEMPLO, LA CORRIENTE DE 10°" AMPERIOS EQUIVALE APROXIMADAMENTE A 8 1ONES/SEGUNDO. sae use er ee nee) FLUCTUACIONES A LAS QUE ESTA SOMETIDA NORMALMENTE DI CORRIENTE, DENOMINADA: fen eee Figura 2.1966 « La espectrometria de masas en imagenes 2.4 Sensibilidad en abundancia La sensibilidad en abundancia se puede definir como la contribu- cién de un pico mayoritario a la sefial del pico vecino, Es un indica- dor de la forma de pico. En efecto, si el pico correspondiente a una determinada masa tiene mucha “cola”, la sefial de dicha cola se sumara a la de los picos adyacentes, de tal modo que inducira a error en la cuantificacién de los mismos, pudiendo incluso limitar Ja resoluci6n y sensibilidad maximas obtenibles. Diremos que la sensibilidad en abundancia para un pico de masa determinada M, es de 1 ppm, cuando la contribucién del pico M, de intensidad I, en la sefial del pico M,+1, sea I, x 10-© (ver fig. 2.20). Un ejemplo practico: Si decimos que la contribucién del pico de masa 28 sobre la masa 29 es de 1 ppm, y suponiendo que el pico de masa 29 tenga aproximadamente una intensidad del 1% respecto a la del pico 28, la contribucién de la sefial del pico 28 sera del orden de 100 ppm de la intensidad real del pico 29, o sea de un 0,01%. Hay varias razones para explicar esta contribucién, tales como pequefias dispersiones de energia producidas por choques de los iones en vuelo con moléculas de gases residuales presentes, aberra- ciones de la 6ptica iénica del espectrémetro, dispersi6n de energias en el proceso de ionizaci6n, etc. Evidentemente, las mejores especificaciones corresponderan a sis- temas con elevada resoluci6n, alta dispersion y dotados de 6ptica y electrénica mas estables y mejor disefiadas. 2.5 Medida exacta de masas Si queremos saber la composicién elemental del ion molecular o de cualquier ion fragmento presente en nuestro espectro problema, necesitamos medir su masa con al menos tres 0 cuatro cifras decima- les exactas. En los espectr6metros cuadrupolares, por lo general con una reso- luci6n equivalente a una unidad de masa en todo el rango de medi- da, s6lo podremos asignar masas nominales, por lo que normalmente no ser4 posible realizar la medida exacta de masas. Los equipos mas adecuados son los de sector magnético, de doble o triple enfoque, tra- bajando en alta o media resoluci6n. Hay bdsicamente dos técnicas para realizar la medida exacta de masas con un espectré6metro de masas magnético de alta resolucién. La primera de ellas, conocida universalmente como “peak matching” (coincidencia o apareamiento de picos) se describe a continuacién. Debemos aclarar que ésta técnica es la mds exacta, aunque requiere tiempo y no es aplicable a picos cromatograficos muy rapidos. Puede ejecutarse manualmente mediante dispositivos electr6nicos adecua- dos, aunque hoy este modo esta en desuso, o de forma automatica bajo el control del ordenador del sistema. En la técnica “peak matching” introducimos en la fuente iénica, deCapitulo 2: Teoria General © 67 era a SENSIBILIDAD EN ABUNDANCIA i Ps modo simulténeo, nuestra muestra problema y una sustancia de refe- rencia como PRK (perfluorequerosena), Heptacosa, ete., cuyo espectro contenga abundantes picos de masa exacta conocida en la region espectral de nuestro interés Fn una pantalla oscilografica con memoria, 0 en la pantalla de ordenador del equipo, podremos ver superpuestos los espectros del compuesto de referencia y de nuestra muestra. Seleccionamos y ampliamos la zona del espectro donde se encuentra el pico cuya masa exacta queremos medir y el pico de referencia de masa conoci- da mas préximo. Mediante cambios sucesivos y alternativos del vol- taje de aceleracién, vamos desplazando un pico hacia el otre aprox’ mandolos hasta su total coincidencia. La variacién del veltaje de aceleracian del pico de muestra (Vy) respecto al de referencia (Vy), que ha sido necesaria para [a total Coincidencia de los dos picos pantalla, nos wa a dar la medida exacta de la masa que buscamas. Fn efecto, sabemos que la separacién magnética se rige por la ccuacion fundamental siguiente (ver analizadores maynéticos en capitulo 4): m= masa del ion B? Re z= carga del ion (unidad) mj/2= — B= campo magnetico 2c2¥ ¥V = voltaje de aceleracin R= radio de la trayectoria c= constante (velocidad luz)68 © La espectrometria de masas en imigenes GENERAL PRECISION EN LA MEDIDA DE MASAS bose een Mane eed ©) _wwis esresan (1993)] Figura 2.21 El campo magnético “B” y el radio de la trayectoria “R” tantes, y la carga “2” es la unidad. Por tanto, son cons- = m m= mpg Ves ¥, En los equipos actuales el ordenador se encarga de realizar los oportunos calculos e informarnos en pantalla del resultado y de la exactitud conseguida en cada caso, expresada normalmente en *mmu” (milésimas de unidad de masa atomica) o en “ppm” (partes por millén). En los sistemas manuales, donde el desplazamiento de los picos se leva a cabo mediante potenciémetros calibrados en unidades de masa, décimas, centésimas, etc., podemos leer la dife- rencia de masa entre el pico de la muestra y el de la referencia, con lo que podemos calcular facilmente la masa problema (ver fig. 2.21). Fl segundo método alternativo para la medida exacta de masas, que describiremos brevemente, es mas rapido aunque menos exacto que el anterior y es el empleado habitualmente. Se trata de un procedimiento controlado totalmente por el ordenador del sistema y opera basica- mente del siguiente modo: Se suele trabajar a resolucién media (5.000 - 10.000), para conse- guir una separacién de picos suficiente con una seital la mas alta y estable posible con picos gausianos, y se realizan barridos de campoCapitulo 2 : Teoria General * 69 magnético lo mas lentos posible, sobre el rango de masas en el que estemos interesados. Se introduce una sustancia de referencia y se adquieren algunos barridos, almacenendo los datos en memoria, en un archivo de calibra- cion. Seguidamente se introduce la muestra en la fuente idnica, y el ordenador se encarga de calibrar la escala de masas del nuevo espectro utilizando los datos del archivo de calibracién, calculando por interpo- lacién las masas exactas de los picos requeridos del espectro de la muestra.