Los recubrimientos también se

caracterizaron mediante difracción de rayos X para detectar

posibles cambios de fase.

Análisis de difracción de rayos X - Análisis de granulometrías

El gel fue lavado, secado, briqueteado y tratado térmicamente a diferentes temperaturas, lográndose cordierita
en fase mayoritaria a los1200 ºC, lo cual fue corroborado mediante el análisis por difracción de
rayos X de los productos del tratamiento térmico.

En ambos tipos de materiales se han

observado por difracción de rayosX cambios en
el contenido de grafito con la distancia a la cara fría.

La caracterización mineralógica se
ha realizado con difracción de rayosX, microscopia óptica
y microsonda electrónica.

En combinación con la difracción de rayos X, se pueden determinar

los elementos que constituyen la fibra descubierta.

7 Cristales de difracción de rayos X de estearato de plomo

La secuencia de reacción,
obtenida mediante difracción de rayos X(DRX), muestra
la formación de una fase con estructura de zircona tetragonal en la primera etapa.

Tradicionalmente, la orientación preferente se estudia por medio

del análisis de las reflexiones principales obtenidas por difracción de rayos X, que sólo en ciertos
casos son características de una determinada textura.

Para ello se han utilizado las

técnicas de análisis convencional, así
como microscopía óptica y electrónica, difracción de rayos X y análisis térmico diferencial y
gravimétrico.

A causa de su estructura amorfa cuando

se observan por difracción de rayos X, se conocen como
vidrio metálico.

En este trabajo, fueron utilizados, la microscopia

electrónica de barrido y la difracción de rayos-X para identificación
y caracterización de las fases presentes.

Usa métodos espectrofotométricos, tales como infrarrojo, espectrometría de masas, resonancia

magnética nuclear y difracción de rayos X de monocristales, para
la caracterización de metabolitos secundarios.

Las soluciones sólidas se

caracterizaron por difracción de rayos-X ymedidas de densidad.
El análisis de las fases cristalinas presentes, después de cada
tratamiento térmico se ha realizado a través de la difracción de Rayos-X, método de muestras en polvo
distribuido al azar.

Para desarrollar los revestimientos, que dan lugar a las mejores propiedades del depósito en todo el intervalo
de densidades de corriente, Atotech ha realizado investigaciones mediante difracción de rayos X y FIB (haz
de iones focalizado).

Palabras clave: circona, difracción de rayos X, análisis cuantitativo,

métodos polimórficos.

La caracterización estructural y
estabilización del
polimorfo-² de alta temperatura fueron investigadas por difracción de rayos-X de alta resolución (XRD) y
calorimetría diferencial
de barrido (DSC).

La materia prima
sintetizada se caracterizó utilizando Difracción de Rayos X (DRX) y Microscopía Electrónica de
Barrido (MEB).

Estudio por difracción de rayos X de la hidratación

de mezclas de CaAl2O4 - Humo de silice

La temperatura óptima de clinquerización, determinada con estas técnicas, ha sido de 1360 ±

5ºC. Los análisis cuantitativos de los clínqueres
se llevaron a cabopor difracción de rayos-X con la metodología
Rietveld.

El estudio por difracción de rayos-X y espectroscopía

infrarroja permitió comprobar que la atmósfera húmeda evita la descomposición
de la hidroxia¬patita, todo lo contrario a lo que sucede en aire donde es evidente la presencia del zirconato
cálcico (CZ) en la interfaz entre la partícula de circona y la matriz de HA.

Las muestras obtenidas fueron

caracterizadas mediante difracción de rayos X y electrones, microscopía
electrónica de transmisión
y barrido y espectroscopia Mössbauer

Para ello se utilizan dos métodos cuantitativos

basados en la difracción de rayos X, el método
de Rietveld y un método sin estándar.

Primero, la difracción de rayos X es un método

no destructivo a la escala del nanómetro que suministra parámetros de material
esenciales sin necesitar referencia.

Difracción de rayos X para análisis de

fases y evaluación de tensiones residuales

sistema POLAB® APM, para la preparación rápida y

cuidadosa de las muestras, para su
espectroscopia por fluorescencia (RFA) y su análisis por difracción de rayos X (RBA) en un solo paso

Éstas comprenden la microscopía/espectroscopía

electrónicas, la espectroscopía electrónica
Auger (AES), ladifracción de rayos X (XRD) y la espectroscopía
de fotoelectrones (XPS),
incluyendo la evaluación de su uso en una gama más amplia de cerámicas y para los estudios de materiales
poliméricos.
Se ha determinado su estructura
cristalina por Difracción de Rayos X(DRX).

La calidad probada de nuestros capilares pueden ser usados In Situ para la

recolección de datos de difracción de rayos-X.