Difracción de Rayos X

Teoría de Difracción

José L. Solis
Universidad Nacional de Ingeniería
 Difracción

Es un fenómeno característico
de las ondas que consiste en
la dispersión y curvado
aparente de las ondas cuando
encuentran un obstáculo.

La dimensión de la rendija u obstáculo

es del orden de la longitud de onda.

No se produce una sombra bien definida.

 Difracción en una rendija

• Incidencia normal en una

rendija plana y rectangular
• Aparece un gran máximo
central y=0
• Los máximos secundarios y
mínimos que están
separados por:
D
y m =mλ ; m≠ 0
a
 Interferencia
Una cubeta de ondas

Superposición de ondas
 Interferencia
Constructivas Destructivas
cosδ = 1  E0 = E01 + E02 cosδ = 1  E0 = E01  E02
λ
δ = ( 2m +1 )π  Δr = ( 2m +1 )
δ = 2mπ  Δr = mλ 2
 Distancia entre familia de planos

OA cos 

(a/h) cos = dhkl

(b/k) cos  = dhkl
(c/l) cos = dhkl
dhkl

cos2  + cos2  + cos2  = 1
Para un cristal cúbico:

1 h2 + k2 + l2
=
2
dhkl a2
 dhkl distancia interplanar

d110
d100

d111
d111
 Difracción de rayos X
Son ondas electromagnéticas con  ~ 0.1 nm
En un sólido cristalino los átomos están separados dhkl ~ 0.1 nm
y pueden servir como rejillas de difracción (Von Laue 1912)‫‏‬

Condición de Bragg para máximos

2d senθ = nλ
Microscopio Electrónico de Transmisión

Austenita (FCC)‫‏‬
 Material Cristalino

Monocristal: la muestra como un todo o

aquella parte irradiada esta constituida por
un solo cristal.

Policristal: la muestra esta constituida no

por un cristal sino por un gran número de
ellos, cuyas caras, aristas y planos no
tienen la misma orientación en el espacio.
 Método de Laue: método de monocristal

Un monocristal, montado en una

orientación definida, se ilumina por
radiación policromática y todas las
reflexiones de Bragg se recogen
simultáneamente en una películas o
detector.
Método de polvo cristalino
Difracción de electrones

ZnO policristalino
Camara de polvo de Debye-Scherrer
 Difractómetro de polvo

difractograma de AgCl obtenido con λ‫‏=‏‬1.5405 A.

 Sólidos

Amorfo Policristalino Cristal

orden de corto completamente ordenado sólido entero formado
alcance en segmentos con átomos ordenados
Difractograma de un material amorfo
 Difractograma de un monocristal



2

Los planos (110) deberían Los planos (200) son paralelos a los
A 2 20.6°, la ley de
difractar a 2 29.3°; sin embargo, planos (100). Entonces, estos
Bragg se cumple para los
el haz difractado no esta alineado también son difractados por el cristal.
planos (100), produciendo
apropiadamente para producir un Como d200 es ½ d100, esta aparece a
un pico de difracción.
pico de difracción. 242°.
 Difractrograma de una muestra en polvo (policristal)‫‏‬



• Para cada grupo de planos, existirá un pequeño numero de cristales que están
apropiadamente ubicados para difractar (la normal a estos planos es la bisectriz de los haces
incidentes y difractados).
Difractograma de rayos X
Interacción de los rayos X con la Materia
Intensidad de los picos difractados

Factor de estructura
Factor de polarización
Factor de Lorentz
Factor de multiplicidad
Factor de temperatura
 Dispersión por un electrón
Un electrón oscilará en fase con el haz de rayos X de
acuerdo a la siguiente ecuación (J.J. Thompson demostró
esta relación en 1906):

Factor de polarización

Indica que el haz incidente de rayos X no-polarizado es

polarizado por el proceso de dispersión, resultando en una
variación direccional en la intensidad dispersada.
 Dispersión por un átomo
La dispersión por un átomo es esencialmente la suma de las
dispersiones de los electrones que están alrededor del
núcleo.
Debido a que la radiación es
coherente se necesita considerar
los efectos de interferencia de los
diferentes electrones dentro del
átomo. Esto produce una fuerte
dependencia angular de la
dispersión. Esto se conoce como
factor átomico de dispersión, fo.
Factor atómico de dispersión
 Dispersión anómala
Ocurre cuando la energía del haz de rayos X incidente es
suficiente para producir el efecto fotoeléctrico en un átomo
del material. Este proceso se denomina fluorescencia.
Este fenómeno es responsable de la reducción de la
intensidad del haz difractado para materiales que
contienen ciertos elementos.
 Factor térmico
Los átomos de los cristales no están quietos, sino que vibran
alrededor de sus posiciones de equilibrio. El efecto sobre el
factor de dispersión atómico es la reducción de su valor a
ángulos de dispersión altos. Esta vibración es tanto mayor
cuanto mayor sea la temperatura a la que está el cristal por lo
que la disminución del factor de dispersión atómico se hace
más pronunciado a altas temperaturas.

donde B está relacionada con la amplitud vibracional

cuadrática media, U2 , a través de la expresión .
Conocido como el factor Debye-Waller.
Factor térmico
 Dispersión por un celda unitaria
Dispersión por un electrón
es modificado por

Dispersión por un grupo de electrones (átomo)‫‏‬

es modificado por

Dispersión por un grupo de átomos (cristal)‫‏‬

 El factor de estructura es la amplitud dispersada

por celda unitaria.
 Dispersión de rayos X por un celda unitaria
Factor de estructura, Fhkl:
Fhk
l

Propiedad electrónica Propiedad estructural de la

de un átomo celda unitaria
Información del tipo de Información acerca de la
átomo posición de los átomos

– fj = factor átomico de dispersión del átomo j

– h, k, l = Índices de Miller de la reflección hkl
– xj, yj , zj = Coordenadas del átomo j
 Factor de estructura

• La intensidad de la reflexión de Bragg es

proporcional al cuadrado del factor de estructura:

I  Fhkl Fhkl = Fhkl 

2
F‫‏‬puede‫‏‬ser‫‏‬complejo,‫‏‬pero‫“‏‬I”‫‏‬debe‫‏‬
ser real!

El valor de esta función es real cuando x es múltiplo de 2π. Es igual a 1

para múltiplos pares de 2π‫‏‬y‫‏‬-1 para múltiplos impares de 2π.
Factor de estructura del CsCl
Factor de estructura del CsCl
Difractograma teórico del CsCl
 Extinciones sistemáticas: BCC

Para el caso de un cuerpo centrado (BCC) todos los picos

con h+k+l igual a un número impar Fhkl se anula.
Consideremos el caso del Sodio que tiene una estructura
BCC con átomos de Na en (0,0,0) y (½,½,½). Las
ecuaciones son similares al CsCl, pero los factores átomicos
de dispersión son iguales.
Patrones de difracción
Condiciones de extinción por simetria traslacional
 Factor de multiplicidad
 El factor de multiplicidad, Mhkl, proviene del hecho que en
general hay varios grupos de planos hkl que tienen diferente
orientaciones en un cristal pero con el mismo d y F2.
 Se evalúa buscando el número de variaciones en la posición y
signo en ±h, ±k y ±l que tengan planos con el mismo d y F2.
 Los valores dependen de hkl y la simetría cristalina.
 Para el caso de la simetría cúbica se tiene:

- - -
100, 100, 010, 010, 001, 001 M100 = 6
- - -- - - - - -- M110 = 12
110, 110, 110, 110, 101, 101, 101, 101, 011, 011, 011, 011
- - - -- - - -- ---
111, 111, 111, 111, 111, 111, 111, 111 M111 = 8
Factor de multiplicidad, Mhkl
Intensidad del pico de difracción
Cálculo de las Intensidades de difracción

θ
 Factores que afectan la Intensidad

Orientación preferencial
Se asume que una muestra policristalina esta compuesta de
granos orientados aleatoriamente. La presencia de una
orientación preferencial produce una intensidad diferente.
Se tiene que tener bastante cuidado en la preparación de la
muestra.

Extinción
La teoria asume que una muestra es “idealmente imperfecta” si
esta compuesta de cristales pequeños, eventos simples de
difracción.
Cristales grandes perfectos (“idealmente perfecto”) difractan mas
débilmente que los cristales imperfectos.
La extinción puede minimizarse por la molienda.
Orientación preferencial

Mg(OH)‫‏‬
 Información de un difractograma

1. Posición de los picos 2. Intensidad de los picos

esta determinado por la esta determinado por
forma y tamaño de la celda posición de los átomos en la
unitaria. celda unitaria.
 Información de un difractograma

4. El ruido de fondo puede 3. El ancho del pico esta

contener información acerca determinado por el
del orden de corto alcance tamaño/tensión de los
del material. cristalitos, microestructura.