UNIVERSIDAD NACIONAL DE INGENIERÍA

FACULTAD DE INGENIERÍA ELÉCTRICA Y ELECTRÓNICA

LABORATORIO DE MICROONDAS

INFORME FINAL

LABORATORIO N°4: DETERMINACIÓN DEL COEFICIENTE DE REFLEXIÓN

– CARTA DE SMITH

ALUMNO:

 RIVERA CERSSO HAROLD ERNESTO

FECHA DE ENTREGA:

08/12/2018
ANÁLISIS DE LOS RESULTADOS

Analizando las tablas 3.1 y 3.2 se puede observar que entre los datos obtenidos existe una variación
en el SWR y por consiguiente en el modulo del coeficiente de reflexión |r|, esto es debido a que, a
pesar de que en ambas tablas se uso la misma carga, se utilizo diferentes métodos en la obtención
de los valores.

𝑆 = 1.8 ^ |𝑟| = 0.285 (tabla 3.1)

𝑆 = 1.49 ^ |𝑟| = 0.19 (tabla 3.2)

Esta variación solo hace variar los valores en magnitud de la resistencia y la reactancia, mas no su
fase, ya que en ambos métodos se considera que el uso de la carga desplazable es apta y correcta.

Por tanto, se concluye que la fase del coeficiente de reflexión es:

𝜙 = 170 °

Tomando los datos de la tabla 3.3, se puede observar que utilizando el método de la adaptación y
desfasaje, es posible obtener el coeficiente de reflexión con cualquier valor tanto para su modulo
como para su fase. En el laboratorio se uso para obtener los valores de coeficiente de reflexión para
valores de modulo y fase correspondientes a 0.70 y 0o. Según los datos tomados, podemos ver que
mediante las fórmulas:

−𝑎(𝑑𝐵)
|𝑟| = 10 10 ^ 𝜙 = 𝜋 + 2( 𝜓𝑜 − 𝜓1 )

Se obtienen los valores para dichas variables de:

|𝑟| = 0.7585 ^ 𝜙 = 354°

Con estos valores se puede observar que se obtienen errores pequeños de:

𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟|𝑟| = 8.357% ^ 𝜙 = 1.667%

Que pudieron haber sido provocadas por la tolerancia de los dispositivos del laboratorio
CUESTIONARIO

1) Determinar la impedancia normalizada correspondiente al objeto A de medición (ver tabla 3.1)

usando la carta de Smith

De la tabla 3.1 se obtiene el valor del coeficiente de reflexión para nuestro objeto A, este viene dado
por:
𝑟 = 0.272 𝑒 𝑗(46.5°)

Ubicando el punto en la carta de Smith:

Como es observable en la Tabla de Smith, se puede concluir que la impedancia normalizada
aproximada es igual a:

𝑍̅ ≅ 1.3 + 𝑗0.6

2) Para la configuración especificada en la figura 3.6, comente sobre la transformación del

coeficiente de reflexión 𝒓 = −𝟏 (cortocircuito) en un valor arbitrario dado 𝒓 = |𝒓|𝒆𝒋𝝓 usando la
carta de Smith

La transformación del coeficiente de reflexión 𝑟 = −1 (cortocircuito) en un valor arbitrario 𝑟 =

|𝑟|𝑒 𝑗𝜙 viene dada en la carta de Smith por un desfasaje en el ángulo de fase en la carga dada por:
𝜙 = 𝜋 − 2 𝜓 − 2∆

Además de un modulo del coeficiente de reflexión |r| expresada por:

−𝑎(𝑑𝐵)
|𝑟| = 10 10
Donde “a” se encuentra en decibeles, y es la atenuación de la amplitud 1 del coeficiente de reflexión
para el cortocircuito.

Estos cambios en la carta de Smith vienen dadas por el uso de atenuadores y destazadores en un
circuito de cortocircuito de guía de onda.

CONCLUSIONES

_La medición de tanto el SWR como del su coeficiente de corrección |r|, viene dado por
procedimientos diferentes dependiendo de la relación de amplitudes de la onda estacionaria. Si la
relación de amplitud es menor a 5, el primer método se puede considerar como uno bueno para los
cálculos, sin embargo, si es superior a ese, es necesario realizar el segundo metodo debido a que a
esas relaciones el detector empieza a funcionar un poco mal además que el ruido aparece haciendo
que la aplicación del primer método nos lleve a errores.

_Mediante el uso de un desfasador y un atenuador es posible obtener coeficientes de reflexión

variables en un circuito de microonda por guía de onda.