Interferencia

‡1 ‡2 ‡3*
Enrı́quez López José Andrés , Rios Salgado Alfonso David , Flores Calderón Rafael Álvaro
‡
Facultad de Ciencias, Universidad Nacional Autónoma de México
1 2 3
Email: jjandres1997@ciencias.unam.mx, alfonsod.rioss@ciencias.unam.mx, rflorescalderon@ciencias.unam.mx
Realización:29/10/2018; 06/11/2018; 08/11/2018 Entrega: 16/11/2018

Resumen
Se utilizaron los interferómetros de Young y Michelson para medir la longitd de onda
de un láser rojo y el ı́ndice de refracción de un par de placas de vidrio respectivamente,
con el interferómetro de Young se encontró una transparencia con diferentes separaciones
entre rendijas lo que ayudó a variar parámetros junto con la distancia entre la rendija
y la pantalla para al final hacer un promedio de las longitudes de onda obtenidas con
los distintos arreglos, ası́ obteniendo que la longitud de onda del láser de He-Ne es de
630.552 ± 8.565 nm comparando este valor con el propuesto por el fabricante (632.8 nm)
se calculó un porcentaje de error de 0.36 %, terminado el experimento del Interferómetro
de Young, se alineo el interferómetro de Michelson y se midió la constante del tornillo
micrométrico para poder hacer el cálculo del ı́ndice de refracción de dos placas de vidrio
de distinto espesor obteniendo el ı́ndice de refracción de un cubreobjetos (1.6129 ± 0.2625)
y un portaobjetos (1.6129 ± 0.0262) lo cual indica que el vidrio pudo ser flint o crown
impuro, aunque esto no es conclusivo, ya que aunque no se sabe de que vidrio se trata, lo
natural es pensar que el ı́ndice de refracción serı́a el del vidrio común de 1.52.
Palabras Clave: Interferencia, Michelson, Young, Índice de refracción

1. Introducción
La interferencia óptica equivale a la interacción de dos o más ondas de luz que producen una
irradiancia resultante que se desvı́a de la suma de las irradiancias componentes. Los sistemas
interferométricos se pueden dividir en dos grupos: división del frente de onda y división de
amplitud. En el primer caso, se usan partes del frente de onda primario para producir fuentes
virtuales de ondas secundarias. Estas ondas secundarias se juntan para dar lugar a interferencia.
En el caso de división de amplitud, la onda primaria se secciona en dos segmentos que viajan
por caminos diferentes antes de recombinarse e interferir.
Dado que la irradiancia puede medirse directamente utilizando una gran variedad de sensores,
resulta conveniente plantear el estudio de la interferencia por medio de la irradiancia.
Si dos haces deben interferir para producir una distribución estable, su frecuencia tiene que
ser casi igual, ya que una diferencia de frecuencias significativa darı́a lugar a un desfase de va-
riación rápida y dependiente del tiempo, que ocasionarı́a que nuestro término de interferencia
promediara a cero. Para poder observar una distribución de franjas, las dos fases no tienen por
qué estar en fase una con otra. A las fuentes que pueden estar en fase o no pero que siempre
marchan juntas, se les denomina coherentes. Al hacer interferir ondas monocromáticas cohe-
rentes, se obtienen zonas claras y oscuras que se verı́an en una pantalla colocada en la región
de interferencia. A estas franjas se les denomina franjas de interferencia.[1]
Los instrumentos que nos permiten producir interferencia de una manera controlada para rea-
lizar mediciones se llaman interferómetros. En casi todos los interferómetros se busca producir
*
Se presentó a la primera sesión, pero por motivos de salud no se pudo presentar al resto, de igual manera
contribuyó a este trabajo.

1
haces con irradiancia uniforme sobre la región de observación. De esta manera, las variaciones
importantes de irradiancia se deben a la variación de la diferencia de fase en la misma región,
por lo que buena parte del estudio de un interferómetro se dedica a determinar la manera en que
dicha diferencia cambia con la posición sobre la región de observación. Durante esta práctica
se trabajará con los interferómetros de Young y de Michelson.

1.1. Interferómetro de Young

En el experimento de Young se hace incidir un haz de luz proveniente de una fuente mono-
cromática de frentes de ondas esféricos o cilı́ndricos sibre dos rendijas, que se encuentran muy
juntas, estrechas y paralelas. Cuando existe simetrı́a, los segmentos del frente de onda prima-
rio que llegan a las dos rendijas estarán exactamente en fase y las rendijas constituirán dos
fuentes secundarias coherentes. Donde quiera que las dos ondas se superpongan, se producirá
interferencia.

Figura 1: Interferómetro de Young.[2]

Figura 2: Patrón de interferencia. Recuperado de [1].

1.2. Interferómetro de Michelson

El interferómetro de división de amplitud más conocido es el interferómetro de Michelson.
Su configuración se muestra en la figura 3. Una fuente extensa emite una onda, el divisor de haz
G1 divide la onda en dos, un segmento se desplazará a la derecha y otro hacia arriba. El primero
pasa por la placa compensadora G2 . Ambos haces se reflejan en los espejos M1 y M2 . Los haces
vuelven al divisor de haz, donde se unen y se produce la interferencia. Con este interferómetro
se obtiene un patrón de franjas circulares concéntricas. Este interferómetro tiene un espejo
móvil que se traslada a lo largo de la normal al espejo. El mecanusmi de traslación consta de
un tornillo micrométrico que permite realizar desplazamientos de 1µm, aunque sólo se puedan

2
realizar lecturas de hasta 0.01 mm. El tornillo no actúa directamente sobre el espejo, sino que
se usa una palanca para reducir el movimiento del espejo. Dada la precisión tan alta que se
puede obtener con el interferómetro, se requiere determinar con precisión el desplazamiento del
espejo móvil.

Figura 3: Diagrama del interferómetro de Michelson: S-fuente puntual, L-placa esmerilada,

V-tornillo micrométrico, Mi -espejos, Gi -divisores de haz.[2]

Figura 4: Patrón de franjas circulares. [3]

Este interferómetro se puede usar para medir el ı́ndice de refracción de una placa de vidrio.
Cuando se introduce una placa de vidrio en uno de los brazos del interferómetro de Michelson,
el haz luminoso recorre una longitud de camino óptico mayor a la recorrida cuando no estaba
inserta la placa. El consecuencia, el patrón de interferencia cambia, dado que la diferencia de fase
entre los dos haces del interferómetro ha sido modificada por la placa.[4] En el procedimiento
se da una manera de calcular el ı́ndice de refracción utilizando luz blanca.

3
2. Teorı́a
Consideremos dos fuentes puntuales de ondas monocromáticas. de la misma frecuencia en
un modo homogéneo. La irradiancia total está dada por:
p
I = I1 + I2 + 2 I1 I2 cos δ (1)

donde δ es la diferencia de fase resultante de la combinación de una diferencia de longitud de

camino y una diferencia del ángulo de desfase inicial.
√
Un máximo de irradiancia de alcanza cuando cos δ = 1, de modo que Imax = I1 I2 + 2 I1 I2
cuando δ = 2mπ.
En cambio, se tiene una irradiancia mı́nima cuando δ = (2m + 1)π, en este caso Imin =
√
I1 + I2 − 2 I1 I2 . El número entero m se conoce como ı́ndice de interferencia.
Cuando las amplitudes de ambas ondas son iguales, la ecuación 1 se puede escribir como

δ
I = 4I0 cos2 (2)
2

2.1. Interferómetro de Young

La posición de la m-ésima franja brillante en la pantalla está dada por
s
y = mλ (3)
a
y su posición angular es
mλ
θ= (4)
a
donde a es la separación de las aberturas (centro a centro), s es la distancia entre la pantalla
con las aberturas y la pantalla de observación y λ la longitud de onda.
Los mı́nimos se encuentran en  
1 s
y = m+ λ (5)
2 a
La diferencia en las posiciones de dos máximos (o mı́nimos) consecutivos es
s
∆y = λ (6)
a

2.2. Interferómetro de Michelson

Los mı́nimos de irradiancia están dados por

2d cos θ = mλ (7)

donde d = |d1 − d2 | es la distancia relativa de los espejos planos al divisor de haz, y θ es el

ángulo que hacen los haces que interfieren respecto al eje óptico de la lente de enfoque. El orden
de las franjas aumenta del borde del patrón hacia el centro. Si imponemos la condición de que
en el centro del patrón de franjas circulares se encuentra un mı́nimo de interferencia, se tiene

4
que
2d = mλ (8)

Definiendo un nuevo ı́ndice p para el orden de interferencia, pero ahora contando a partir de la
franja central, tenemos que
2d(1 − cos θp ) = pλ (9)

En consecuancia, tenemos que el radio angular de la p-ésima franja está dado por
r
pλ
θp = (10)
d

Se tiene que para distinto orden de interferencia

λ
∆d = d − d0 = (m − m0 ) (11)
2
La contante de proporcionalidad entre el desplazamiento del tornillo y del espejo es K, por lo
que
de = Kdt (12)

Para determinar K se usa la expresión

Nλ
K= (13)
2dt

donde N es el número de franjas contadas.

2.3. Medición del ı́ndice de refracción de una placa de vidrio

Para la placa de vidrio, se tiene que el orden de interferencia cambia de acuerdo a

2h(n − 1)
∆m = (14)
λ
donde h es el espesor de la placa, y n su ı́ndice de refracción.
Se puede relacionar un cambio en el orden de interferencia con el cambio de posición del espejo
móvil mediante la siguiente expresión

2d = λ∆m (15)

De donde se obtiene que el ı́ndice de refracción está dado por

∆d
n = |1 + | (16)
h
Las incertidumbres de las cantidades a determinar se deducirán en el apéndice.

5
3. Método experimental
3.1. Interferómetro de Young
Se iluminó con un láser una transparencia con diferentes separaciones poniendo atención
a que sólo iluminara la zona con la separación requerida para el arreglo. Luego se observó el
patrón de interferencia proyectado en una pantalla a la cual se le pegó una regla graduada cada
milı́metro para después tomar una foto de este patrón y analizarlo en ImageJ con una escala
visible en cada imagen.

Figura 5: Ejemplo de fotografı́a tomada para hacer el análisis.

Esto se repitió para 5 arreglos distintos variando, como se mencionó antes, la distancia entre
las rendijas y la distancia entre la rendija y la pantalla.

3.2. Interferómetro de Michelson

Se alineó un interferómetro de Michelson haciendo incidir luz láser, desde la ventana de
entrada del interferómetro, haciéndolo incidir normalmente sobre el espejo móvil. Se coloca
una pantalla opaca a la salida del interferómetro, para poder observar varios puntos luminosos,
los generados por las reflexiones que se producen sobre el espejo móvil y los asociados con las
reflexiones producidas en el espejo fijo. Con ayuda de los tornillos de alineación del espejo fijo,
se hicieron coincidir estos grupos de puntos. Luego se colocó un objetivo de microscopio para
expandir la luz del láser y ahora se proyectan franjas sobre la pantalla donde antes sólo se
veı́an los grupos de puntos. Finalmente para acabar de alinearlo, con los tornillos del espejo fijo
se buscó que las franjas fueran circulares en el centro de la proyección en la pantalla como se
muestra en la Figura 4.
Utilizando el valor de la longitud de onda del láser usado, en este caso el de un láser amarillo
(594.1 nm), se calibró el tornillo micrométrico, es decir, se busca el valor de K haciendo girar
lentamente el tornillo micrométrico se observa como las franjas convergen al centro y se des-
vanecen, contando la cantidad de máximos que se desvanecen de 100 en 100 y midiendo cada
vez la distancia recorrida con la escala del tornillo micrométrico, utilizando la ecuación (13), se
determina esta cantidad que servirá para cálculos posteriores.

6
3.3. Medición del ı́ndice de refracción de una placa de vidrio
Con el interferómetro alineado se desplazó el espejo móvil de manera que las franjas se
desvanecen en el centro del patrón, haciendo que las franjas se engrosen, esto se hizo hasta que
se observan cuatro o cinco franjas en el patrón. Luego se colocó una lampara de luz blanca
junto con el láser de manera que la mitad del patrón generado con el láser fuera visible y la
otra mitad sólo la luz blanca. Se anotó la posición del tornillo micrométrico para poder regresar
a esta posición si es que fuera necesario. Se siguió moviendo el tornillo en la misma dirección
hasta que en la mitad visual de la luz blanca se observan franjas de interferencia, paralelas
a las generadas por el láser, se anotó esta posición para de igual manera regresar a ella en
caso de ser necesario. Con esto conseguido los tornillos de alineación del espejo fijo no deben
moverse, ya que se podrı́an perder las franjas de luz blanca. Se retira el láser para sólo dejar la
lámpara de luz blanca y se coloca una placa de vidrio en un brazo del interferómetro, ortogonal
al mismo, cubriendo sólo la mitad del campo visual. Desde este punto, se volvió a girar el
tornillo micrométrico hasta encontrar las siguientes franjas de interferencia que se generan por
la luz blanca y la placa de vidrio, anotando esta posición para tener la medición de ∆d, luego
se regresó a la posición donde se ven las franjas de interferencia de la luz blanca y se volvieron a
buscar las franjas con la placa tres veces. Esto se hizo con dos placas de distinto espesor. Luego
con un vernier se midió el espesor de ambas placas, una siendo un portaobjetos de microscopio
y la otra un cubreobjetos, en el caso del cubre objetos, al ser muy delgado se midió el espesor
de 10 juntos y luego se dividió entre 10 el dato obtenido para tener el valor del espesor de una
sola placa.

4. Resultados
4.1. Interferómetro de Young
Se utilizaron 5 arreglos distintos para calcular un promedio de longitud de onda del láser
rojo, detallados en la siguiente tabla:

Arreglo s [mm] ±0.5 a [mm] ±0.001

1 746 0.16
2 901 0.14
3 806 0.10
4 830 0.12
5 785 0.20

Tabla 1: Tabla de arreglos del interferómetro de Young.

Figura 6: Fotografı́a obtenida del segundo arreglo del interferómetro de Young.

7
 Se observó un patrón de interferencia con máximos y mı́nimos bien definidos lo cual dio
oportunidad de al menos medir 9 franjas en cada arreglo, ası́ obteniendo los siguientes resulta-
dos.

Arreglo s [mm] a [mm] n y [mm] ∆y [mm] δ∆y λ0 [nm] δλ0

±0.5 ±0.001 ±0.3
1 746 0.160 18 53.9720 2.9984 0.0167 643.098 8.02501356
2 901 0.140 20 81.6836 4.0842 0.0150 634.612 7.21585559
3 806 0.100 11 54.9792 4.9981 0.0273 620.113 9.96952632
4 830 0.120 9 39.3228 4.3692 0.0333 631.692 10.4639106
5 785 0.200 21 51.3709 2.4462 0.0143 623.244 7.15286404

Tabla 2: Datos obtenidos después de analizar las imágenes tomadas con ImageJ, la incertidum-
bre dada a la distancia medida por este método es la distancia correspondiente a una lı́nea de
la regla utilizada para la escala de medición.

Dando un promedio de 630.552 ± 8.565 nm el cual al compararlo con el valor propuesto por
el fabricante (632.8 nm) da un porcentaje de error de 0.36 %.

4.2. Interferómetro de Michelson

Figura 7: Fotografı́a obtenida después del alineamiento del interferómetro de Michelson.

Para calcular la K del tornillo micrométrico se siguió el procedimiento antes mencionado,

haciendo pausas cada 100 franjas para anotar las mediciones respectivas, ası́ obteniendo:

8
 Vueltas Distancia
±5 ±0.01
0 2.20
100 2.06
200 1.92
302 1.76
402 1.62
502 1.47

Tabla 3: Tabla de numero de vueltas dadas y distancia recorrida con el tornillo micrométrico.

Con esto, y la longitud de onda del láser utilizado (594.1 nm) utilizando la ecuación (13) se
obtuvo:
K = 0.2043 ± 0.0048

4.3. Medición del ı́ndice de refracción de una placa de vidrio

Figura 8: Se observan las franjas de luz blanca encontradas en la distancia de 1.76 ± 0.01mm,
paralelas a las franjas generadas por el láser.

9
 Figura 9: Franjas encontradas para el portaobjetos en la distancia de −0.77 ± 0.01mm.

Figura 10: Franjas encontradas para el cubreobjetos en la distancia de 1.34 ± 0.01mm.

Placa ∆d Espesor (h) δh K δK n δn

[mm] [mm]
±0.02
Portaobjetos 2.53 0.85 0.01 0.2403 0.0048 1.6081 0.0262
Cubreobjetos 0.42 0.14 0.05 0.2403 0.0048 1.6129 0.2625

Tabla 4: Se presentan los datos necesarios y los ı́ndices de refracción de dos placas de vidrio de
distinto espesor.

10
5. Discusión
Al hacer incidir el haz de luz monocromática sobre la doble rendija se obtuvo el patrón
de interferencia, conformado por franjas brillantes y oscuras alternadas sobre una pantalla. En
total se observaban 25 franjas brillantes, pero solo se usaron 9 franjas para hacer los cálculos. Se
usaron 5 aberturas distintas, como se muestra en la tabla 1. Los resultados del interferómetro
de Young arrojaron una longitud de onda que va entre 620 y 643 nm. Dichas longitudes de onda
corresponden al color rojo del espectro, donde el valor esperado según el manual es de 632.8
nm. Este valor entra dentro de la incertidumbre al tomar el promedio de los valo4res obtenidos,
como se mostró en los resultados. La variación en los resultados de las longitudes de onda se
atribuyen a la medición del ancho de las franjas y a la variación de la distancia de la rendija a
la pantalla, dado que lo ideal es mantener la pantalla lo más alejada posible.
Usando el interferómetro de Michelson se observaron franjas de interferencia circulares. Se
decidió no usar la pantalla opaca, sino proyectar las franjas de interferencia sobre la pared
para tener un mayor rango de visión. Se alineó el interferómetro de tal forma que las franjas
circulares estuvieran en el centro del campo visual. Se decidió contar franjas de 100 en 100
para tener mayor precisión y disminuir la incertidumbre, al tener tres cifras significativas. Era
posible observar directamente con el ojo las franjas al colocar una placa de vidrio esmerilado en
la ventana de entrada del interferómetro, lo que no cambiaba el patrón de interferencia, pero sı́
la intensidad de la luz emitida debido a que la placa refleja parte de la intensidad de la luz y es
posible que se absorba también. Sin la placa esmerilada, dos personas se encargaron de contar
las franjas circulares conforme se giraba el tornillo micrométrico, para evitar que se perdiera la
cuenta y corregir en caso de que se perdieran franjas debido a la sensibilidad del instrumento.
Debido a que se se trabajó con un láser distinto, no fue posible usar el valor de 632.8 nm para
la calibración del tornillo micrométrico, por lo que se usó un valor aproximado de 594.1 nm de
acuerdo al color naranja del láser. Ası́ se obtuvo un valor de K = 0.2043 ± 0.0048, muy cercano
al de 1/5 que se esperaba del manual.
El interferómetro de Michelson se usó para medir el ı́ndice de refracción de un cubreobjetos y un
portaobjetos. Fue importante poner atención a la orientación del giro del tornillo micrométrico.
La parte más complicada fue alinear el interferómetro para que fueran visibles las franjas de luz
blanca. Una vez que se encontraron las franjas, se marcó la posición en el tornillo y se colocó la
placa de vidrio, se requirió poner atención en las vueltas que daba el tornillo, dado que debido
a la orientación del giro ya no era visible la escala. Además cuando se encontraron de nuevo las
franjas, éstas presentaban deformaciones, debido a las deformaciones de la placa. Esto dificultó
un poco el encontrar la franja de orden cero.
Para medir el grosor de un cubreobjetos se midió con un Vernier el grosor de 10 cubreobjetos
juntos para tomar el promedio. Ası́ se obtuvo el grosor de 0.14 mm. De acuerdo a la tabla 4, se
calculó un ı́ndice de refracción de 1.613 para el cubreobjetos, correspondiente a un vidrio flint
o un vidrio crown impuro. Para el portaobjetos se obtuvo su grosor de 0.85 mm con el Vernier.
Su ı́ndice de refracción fue 1.608, correspondiente a policarbonato, vidrio flint o vidrio crown
impuro. Se piensa que el valor real también podrı́a ser de entre 1.50-1.54 para vidrio crown
puro, o de 1.52 para el vidrio convencional, sin embargo, no se tiene la certeza de a cuales

11
longitudes de onda corresponden estos valores.[5]
Se puede mejorar el resultado debido a que no se tuvo la certeza de que los rayos llegaran
completamente ortogonales a la placa de vidrio, lo que puede alterar la distancia a la que
se vuelven a observar las franjas de luz blanca. Además en el laboratorio no habı́a tornillos
micrométricos, los que harı́an más precisa la medición del grosor de las placas de vidrio.

6. Conclusiones
Al incidir luz monocromática sobre una doble rendija se obtiene un patrón de interferencia
observable sobre una pantalla.
Dependiendo del tipo de interferómetro se obtienen franjas de interferencia diferentes. Se en-
tendió el funcionamiento de los interferómetros de Young y Michelson, junto con su correcta
alineación. Se determinó exitosamente la longitud de onda de un láser rojo de He-Ne utilizando
el interferómetro de Michelson y rendijas con distintas aperturas. Se puede usar el interferóme-
tro de Michelson para medir con precisión ı́ndices de refracción de placas de vidrio, siendo la
habilidad del experimentador con el interferómetro un factor clave.
Las franjas de luz blanca se encuentran en un pequeño intervalo, por lo que se pueden perder
fácilmente.

Referencias
[1] E. Hecht. Optics. Addison-Wesley, 1998. pp. 384-410.

[2] F. A. Jenkins and H. E. White. Fundamentals of optics. McGraw-Hill Primis Custom

Publishing, 2001. pp. 262 & 272.

[3] I. R. Kenyon. The light fantastic: a modern introduction to classical and quantum optics.
Oxford University Press, 2008. p. 104.

[4] D. U. J. Rufino. Laboratorio de óptica manual de prácticas. Departamento de fı́sica, 2nd.

edition, 2017. pp. 115-121.

[5] Wikipedia contributors. List of refractive indices — Wikipedia, the free encyclopedia, 2018.
[Online; accessed 15-November-2018].

Apéndice
Propagación de incertidumbres
Para la longitud de onda tenemos que

a∆y
λ0 =
s

12
Por lo que su incertidumbre es

∆y a a∆y
δλ0 = δa + δ∆y + δs
s s s
Y dividiendo entre λ0 tenemos
δλ0 δa δ∆y δs
= + +
λ0 a ∆y s
 
δa δ∆y δs
∴ δλ0 = + + λ0
a ∆y s
Dado que se miden N franjas, la incertidumbre δ∆y disminuye de la siguiente manera:

δ(∆y)1
δ(∆y)N =
N
Donde δ(∆y)N es la incertidumbre asociada al ancho de una franja, cuando se mide el ancho
de N franjas a la vez.
De la ecuación 13, calculamos la incertidumbre para K de manera similar a la de λ0 :
 
δN δλ0 δdt
δK = K + +
N λ0 dt

Para la placa de vidrio, de las ecuaciones 12 y 16 tenemos que

∆d kdt
n=1+ =1+
h h
Su incertidumbre está dada por

dt K Kdt
δn = δK + δdt + 2 δh
h h h
Lo anterior se puede simplificar un poco dividiendo entre Kdt /h:

hδn δK δdt δh
= + +
Kdt K dt h
   
kdt δK δdt δh δK δdt δh
=⇒ δn = + + = (n − 1) + +
n K dt h K dt h

13