Chap.

1 : Introduction au Test de Systèmes

Électronique
Exercices

)Abdelhakim Khouas

Département de Génie Électrique

École Polytechnique de Montréal
 Exercice 1

)On suppose qu’on a un programme de test sur un

testeur qui coûte 0,03$/s. Quels sont les économies
qu’on pourra effectuer en réduisant le temps moyen
de test d’un circuit de 4,5s à 3s ?. Sachant qu’on doit
vendre 5 millions de circuits, que le rendement
Y=90%, et que le temps moyen de test d’un circuit
défectueux est initialement de 1,5s.

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 Exercice 2

)On suppose que le prix de vente d’un circuit est de

1,80$ et que le gain est de 20% avant taxe. Combien
de circuits doit-on vendre pour gagner 233 333$,
sachant que la taxe est de 36% sur le bénéfice.

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 Exercice 3

) Nous souhaitons fabriquer 1 million de circuits avec un

processus ayant Y=90% et un coût de test par seconde Cs. On
suppose qu'un circuit défectueux qui passe le test coûte Cd. Soit
les deux scénarios de test suivants :
ª 1 - FC=90% et Tm=3s.

ª 2 - FC=95% et Tm=13s.

1) Pour Cs=0,05$/s et Cd=100$, déterminer le meilleur scénario de test.

2) Pour Cs=0,05$/s, déterminer en fonction du coût Cd le meilleur scénario de

test.

3) Pour Cd=100$, déterminer en fonction du coût Cs le meilleur scénario de

test.

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 Exercice 4

)Une carte utilise 50 ICs, 20 sont fabriqués avec un

processus 1 ayant FC=80%, Y=95% et prix=6$. Les 30
autres sont fabriqués avec un processus 2 ayant
FC=80%, Y=90 et prix=10$. Le coût de fabrication et
de test de chaque carte est de 50$ (y compris les
cartes défectueuses). En supposant que le test des
cartes fabriquées est parfait, quel est le coût moyen
de fabrication d’une carte non défectueuse ?.

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 Exercice 5

)Un manufacturier peut fabriquer des circuits avec

un rendement Y=80% avant encapsulation, le coût
d’encapsulation est de 40$. Pour que le circuit soit
rentable, le coût moyen d’encapsulation (y compris
l’encapsulation des circuits défectueux) ne doit pas
dépasser 45$. En supposons que le test après
encapsulation est parfait, quel est le taux de
couverture minimum qu’il faut avoir pour le test des
circuits avant encapsulation ?

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