UNIVERSIDAD DE LA COSTA

DEPARTAMENTO DE CIENCIAS BÁSICAS

ÁREA DE LABORATORIO DE FÍSICA

FACULTAD DE INGENIERÍA

RESISTIVIDAD ELÉCTRICA.

Raúl Rincon1, José Lopez2, Víctor De La Hoz2, Luis Torres2

1
Ingeniería Electrónica, 2Ingeniería de Sistemas
Laboratorio de Física Mecánica Grupo:____

Resumen

En el presente trabajo se procedió a realizar una serie de mediciones de resistividad que tienen distintos
materiales con respecto a su longitud. Esto se llevó a cabo a través de una interfaz (PASCO 850), sensores
de voltajes y un aparato de resistencias en los cuales se procedió a medir la resistividad de las varillas de
distintos materiales graduando su longitud y observando los resultados en el programa.

Palabras claves
Resistividad, longitud, mediciones, sensores.

Abstract
In the present work we proceeded to make a series of resistivity measurements that have different materials
with respect to their length. This was carried out through an interface (PASCO 850), voltage sensors and a
resistance device in which the resistivity of the rods of different materials was measured by measuring their
length and observing the results in the program.

Keywords
Resistivity, length, measurements, sensors

1. Introducción con la ley de ohm se denomina resistividad del

La resistividad eléctrica ρ es una propiedad de los
materiales conductores. Su valor no depende de
la forma ni de la masa del cuerpo. Sino más bien,
su dependencia es únicamente de las propiedades
microscópicas de la sustancia de la que está
hecho el cuerpo. A esta propiedad se le clasifica
como intensiva.
No se debe confundir resistividad eléctrica con
resistencia eléctrica. Son dos conceptos
diferentes. La resistencia eléctrica R depende de
las dimensiones de un cuerpo.
Experimentalmente se encuentra que la
resistencia R de una barra metálica o de un
alambre es directamente proporcional a su
longitud L e inversamente proporcional al área
A de su sección transversal:
𝐿
𝑅=ƿ
𝐴 (A), V el voltaje que se mide en voltios (V); y R
En esta expresión ƿ es una constante de
proporcionalidad y siempre que la barra cumpla
material ya que es una propiedad
exclusiva de cada material, independiente de la
cantidad que se tenga de éste.
2. Fundamentos Teóricos
2.1 Ley de ohm.
La Ley de Ohm relaciona las magnitudes de
voltaje, resistencia e intensidad de la siguiente
manera. Su enunciado es el siguiente: Ley de
Ohm.
La intensidad de corriente que atraviesa un
circuito es directamente proporcional al voltaje o
tensión de este e inversamente proporcional a la
resistencia que presenta.
En forma de fracción se pone de la siguiente
forma: I igual a V entre R.
Donde I es la intensidad que se mide en amperios
la resistencia que se mide en
ohmios (Ω)

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2.2 Resistividad eléctrica.

La resistividad es la resistencia eléctrica
específica de un determinado material. Se
designa por la letra griega rho minúscula (ρ) y se
mide en ohmímetro (Ω•m)1
p = RS/L en donde R es la resistencia en ohms, S
la sección transversal en m² y L la longitud en m.

Su valor describe el comportamiento de un

material frente al paso de corriente eléctrica: un
valor alto de resistividad indica que el material es
mal conductor mientras que un valor bajo indica
que es un buen conductor. La resistividad es la Figura 2. Filtros de colores para diferentes
inversa de la conductividad eléctrica. longitudes de onda PHIWE.
Usualmente, la magnitud de la resistividad (ρ) es
la proporcionalidad entre el campo eléctrico E y 4. Datos obtenidos del laboratorio.
la densidad de corriente de conducción J: E = pJ
Como ejemplo, un material de 1 m de largo por 1 Voltaje de frenado
m de ancho por 1 m de altura que tenga 1 Ω de Filtro
resistencia tendrá una resistividad (resistencia  (nm) V1 V2 V3 V
específica, coeficiente de resistividad) de 1
Ω•m.2 366 (nm) 2,11 2.11 2,11 2.110
Generalmente la resistividad de los metales 405(nm) 1.77 1.77 1,77 1.770
aumenta con la temperatura, mientras que la
resistividad de los semiconductores disminuye 436(nm) 1.75 1.76 1,75 1.753
ante el aumento de la temperatura. 546(nm) 1.17 1.17 1,17 1.170
578(nm) 0.88 0.88 0,88 0.880
3. Desarrollo experimental Tabla 1. Voltajes de frenado medidos, obtenidos de la
celda fotoeléctrica de Potasio (K)

4. Cálculos y análisis de resultados

En la gráfica 1 se muestra la curva Voltaje de

frenado contra frecuencia. Como la relación
funcional entre Voltaje de frenado (V) y la
frecuencia (f) está dada por la ecuación:
h W
V f
e e
Figura 1. Diagrama de montaje del equipo Por lo que la pendiente de esta gráfica está dada
PHIWE para analizar el efecto fotoeléctrico. por:
h
Se realizó el montaje experimental del equipo m
e
para determinar medir el voltaje de detención o
Y finalmente:
de frenado para los diferentes filtros con
diferentes longitudes de onda, utilizando una h  me
lámpara de mercurio.
De acuerdo al método de los mínimos cuadrados,
la pendiente de la línea recta obtenida y del punto
b de intersección están dados por las expresiones:

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N  ( xi yi )   xi  yi Por lo que podemos afirmar que:

m
N  xi2    xi 
2

h  6.16 x1034 (J / s )  7.019% (J / s )

b
x  y x x y
i
2
i i i i 5. Conclusiones
N  x   x 
2 2
i i La determinación de la constante de Planck

 (nm) f (x1014 Hz) Voltaje(V) X1029

Por lo que: xi xi yi
Yi Xi^2
m  3.84 x1014 (V / Hz )
578 5.190311 0.88 2.69 4.567
y b  1.011 (V ) 546 5.494505 1.17 3.019 6.423
436 6.880734 1.757 4.734 12.088
Tabla 2. Método de los mínimos cuadrados 405 7.407407 1.763 5.486 13.068
366 8.196721 2.11 6.724 17.302

x y x x y
En la gráfica 1, creada con origin, se muestra 2
i i i i i
también los datos obtenidos con el ajuste lineal,
obteniéndose los mismos resultados. 33.2 7.68 22.65 53.44
arrojó como resultado un valor de
h  6.16 x10-34 J s con un margen de error
porcentual equivalente al 7.09 %. Este margen
lo atribuimos a factores externos como la
radiación de la lámpara de mercurio utilizada
cerca de los equipos nuestros, sumado al tiempo
de descarga del capacitor de los equipos
amplificadores de señal, que obligaba en
ocasiones a partir de valores casi nulos en el
voltímetro.

También debe considerarse el ancho de banda

Grafica 1. Voltajes de frenado (V) contra frecuencia
(f) para la celda fotoeléctrica de Potasio (K).
El cálculo de la constante de Plack arroja un
resultado de:
h  6.16 x1034 (J / s )
de los filtros y su calibración, lo cual puede
ocasionar errores sistemáticos en las mediciones.
Se desconoce si el ánodo de la celda
fotoeléctrica es de Potasio, ya que si es diferente
aparece un voltaje adicional llamado Potencial de
Contacto que debe incluirse en los cálculos.

Cálculo del error porcentual en la constante Bibliografía

de Planck.
1. SEARS, Francis; ZEMANSKY, Mark.
El error porcentual para la constante de Planck Física Universitaria. Volumen. 9° edición
está dado por: Ed. Pearson Educación. México. 2000. Pag
h h  236.
h %   teórico experimental  x100
 hteórico  2. BENSON, Harris. Física universitaria.
Volumen. Primera edición. Ed. Cecsia.

Por lo que 3. SERWAY, Raymond. Física. Tomo II. 4°

h  7.09% edición. Ed. Mc Graw Hill. México. 2002.
Pag 456.

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