TEM

 Nanoscale structures are difficult to be resolved by conventional light

microscopy.
 offers a powerful alternative to exam some fine features whose
characteristic dimensions are less than 100 nm in size.
 In 1938, Siemens company in Germany created the first commercial
product of a TEM, which achieved a resolution of 10 nm at the
accelerating voltage of 80 kV.
 obtener información tanto estructural como de caracterización de
defectos(dislocación de borde(de cuña) y de espiral (
 los elect en ME se forman x efecto termo-iónico en un filamento
(cátodo) que es generalmente wolframio, y se monocromatizan
acelerándolos a través de un potencial
 se muestra las diferentes respuestas que da un material al ser
estimulado con un haz de electrones paralelo
 Uno puede seleccionar un microcristal de la muestra y obtener el
difractograma de ese microcristal embebido dentro de la muestra lo
cual es una ventaja al estudiar muestras polifásicas
 Uno puede seleccionar un microcristal de la muestra y obtener el
difractograma de ese microcristal embebido dentro de la muestra lo
cual es una ventaja al estudiar muestras polifásicas
 microfotografías TEM se debe a las diferencias en el potencial
electrostático en el cristal
 microfotografías TEM se debe a las diferencias en el potencial
electrostático en el cristal
 muchos materiales no sobreviven a las condiciones que existen en la
cámara del microscópico: a) alto vacío y b) impacto de electrones
acelerados.
 difractogramas de electrones de un cristalito de MgO enfocando el haz
de electrones desde tres direcciones diferentes-Esto se consigue
experimentalmente, porque la muestra en el microscopio TEM se sitúa
en un goniómetro que se puede girar dentro de unos límites.
 SEM
 Su funcionamiento se basa en recorrer la muestra con un haz muy
concentrado de electrones, similar al barrido de un haz de electrones
en la pantalla de un TV.
 Voltaje de aceleración 200V-30kV
 Tiene una resolución de 10nm y una profundidad de foco de 10mm.
 emisión de electrones se metaliza la muestra que es recubrirla de una
pequeña capa de carbono o de un metal conductor como el Au.
 Voltajes pequeños para muestras sensibles y altos para metales
 Los electrones secundarios se detectan por encima del espécimen y la
imagen muestra la intensidad de los electrones secundarios emitidos
por las diferentes partes de la muestra
 Imágenes tridimensionales
 estudiar la morfología de los cristalitos
 el haz no es estacionario, sino que se mueve barriendo la muestra
 Ejemplo del sem:
 los microcristales como plaquetas (diminutas laminillas) que
son capaces de sufrir reacciones de intercalación, es decir de
hospedar (albergar) moléculas o iones entre las láminas.
Topografía: características que presenta la superficie o el relieve de un terreno.

FESEM
 Funcionamiento similar al SEM
 Amplia variedad de información similar al SEM
 Mayor resolución(nitidez) (Magnificacion de
1000-20nm/la resolución es del orden de ~ 2 nm
a 1 keV y ~ 1 nm a 15 keV) y rango de energía
 Proporciona haces de electrones de alta y baja
energía muy focalizados.
 Utilización de detectores dentro de la lente.
 Requiere mayores condiciones de vacio
 Voltaje de aceleración 0.5-30kV
 Fuente de electrones tungsteno y lantano
 Estos tipos de emisores de electrones pueden
producir hasta 1000x la emisión de un filamento
de tungsteno.
 utiliza como fuente de electrones un cañón de emisión de campo
que proporciona haces de electrones de alta y baja energía muy
focalizados, lo que mejora notablemente la resolución espacial
y permite trabajar a muy bajos potenciales, (0.02 - 5 kV); esto
ayuda a minimizar el efecto de carga en especímenes no
conductores y a evitar daños en muestras sensibles al haz
electrónico.
 utilización de detectores dentro de la lente, (in lens).Estos
detectores están optimizados para trabajar a alta resolución y
muy bajo potencial de aceleración, por lo que son
fundamentales para obtener el máximo rendimiento al equipo.
 Detector de electrones secundarios SE2: muestra con una
gran profundidad de campo. navegar por la muestra a bajos
aumentos buscando puntos de interés y para estudiar muestras
con mucha información topográfica.
 Detector de electrones secundarios in lens: trabaja con
electrones secundarios de baja energía y ofrece las imágenes de
mayor resolución. Es muy sensible a las características
superficiales de la muestra, por lo que es muy adecuado para la
caracterización superficial de cualquier material
