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Phased Array Testing
Teoría básica para

aplicaciones industriales
NDT Field Guides
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Phased Array Testing
Teoría básica para
aplicaciones
industriales
Olympus
NDT Field Guides

Phased Array Testing: Teoría básica para aplicaciones industriales
Publicado por: Olympus Scientific Solutions Americas, 48 W
oerd Avenue,
Waltham, MA 02453, EE. UU.
Comercialización y distribución: Olympus Scientific Solutions Americas
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previo aviso.
Número de pieza de Olympus: DMTA-20003-01EN, rev. do
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esta publicación puede ser reproducida, traducida o distribuida sin el permiso
expreso por escrito de Olympus.
Printed in Canada
Third edition, August 2014
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respectivos propietarios y entidades de terceros.
Tabla de contenido
Preface .......................................................................................... 1
About This Guide .................................................................. 1
About Olympus ..................................................................... 2
A Note on Terminology ........................................................ 3
1. Introduction ....................................................................... 5
1.1 General Introduction to Phased Array Testing ................. 5
1.2 What Is a Phased Array System? ......................................... 7
1.3 How Does Ultrasonic Phasing Work? ................................. 8
1.4 Advantages of Phased Array as Compared with
Conventional UT .................................................................. 10
2. Phased Array Probes ...................................................... 11

2.1 Ultrasonic Beam Characteristics ........................................ 11
2.2 Fundamental Properties of Sound Waves ........................ 14
2.3 Phased Array Probe Characteristics .................................. 21
2.4 Phased Array Wedges ......................................................... 24
2.5 Phased Pulsing ..................................................................... 25
2.6 Beam Shaping and Steering ................................................ 27
2.7 Beam Focusing with Phased Array Probes ...................... 31
2.8 Grating Lobes and Side Lobes ........................................... 33
2.9 Phased Array Probe Selection Summary ......................... 34
3. Basics of Phased Array Imaging ................................... 37

3.1 A-Scan Data .......................................................................... 38
3.2 Single Value B-Scans ............................................................ 39
3.3 Cross-sectional B-Scans ....................................................... 40
3.4 Linear Scans .......................................................................... 42
3.5 C-Scans .................................................................................. 43
3.6 S-Scans ................................................................................... 46
3.7 Combined Image Formats .................................................. 48
3.8 Scan Rate and Data Acquisition ........................................ 48
4. Phased Array Instrumentation ..................................... 51

4.1 Important Specifications ..................................................... 51
4.2 Calibration and Normalization Methods ......................... 59
5. Phased Array Test Setup and Display Format ........... 63
Olympus iii
5.1 Instrument Setup Considerations ..................................... 63
5.2 Normal Beam Linear Scans ................................................ 66
5.3 Angle Beam Linear Scans ................................................... 69
5.4 S-Scan Display Examples ................................................... 72
5.5 Interpreting Reflector Positioning .................................... 76
Appendix A: Constants and Useful Formula Tables ......... 81
Appendix B: Unit Conversion ............................................... 87
Appendix C: Support and Training ...................................... 89
Appendix D: Types of Equipment Available ...................... 91

D.1 EPOCH 1000 Series — Advanced Ultrasonic Flaw
Detectors with Phased Array Imaging ............................. 92
D.2 OmniScan Series — Advanced Flaw Detectors with UT
and PA Technologies ........................................................... 93
D.2.1 OmniScan MX2 .................................................... 93
D.2.2 OmniScan SX ........................................................ 94
D.3 TomoScan FOCUS LT — Powerful, Flexible, and Compact
UT Data Acquisition System ............................................. 95
D.4 TomoView — UT Data Acquisition and Analysis Software
96
D.5 NDT SetupBuilder — Inspection Setup and Beam
Visualization Simulation Software ................................... 97
D.6 OmniPC — UT and PA Data Analysis and Reporting
Software ................................................................................ 98
Phased Array Glossary ............................................................ 99
Index ......................................................................................... 105
iv Olympus
Prefacio
A medida que las pruebas ultrasónicas industriales se trasladaron al

siglo veintiuno, probablemente el desarrollo más importante en el
campo fue la creciente disponibilidad y aceptación de los
instrumentos portátiles de formación de imágenes de matriz en fase.
La prueba de matrices en fase se basa en la misma física de onda
básica que admite los detectores de fallas convencionales y los
medidores de espesor que han estado en uso comercial durante más
de cincuenta años. Sin embargo, el aumento de la capacidad que
ofrecen las pruebas de matrices en fase a menudo requiere un mayor
nivel de habilidad y comprensión por parte de los inspectores que
utilizan las pruebas de matrices en fase. Por lo tanto, la introducción
de nuevos instrumentos de matriz en fases requiere el desarrollo de
nuevos recursos de capacitación también.
Olympus se enorgullece de presentar esta nueva guía de campo
Phased Array Testing como un recurso conveniente para los clientes y
cualquier otra persona interesada en la tecnología de matriz phased.
Está diseñado para ser una introducción fácil de seguir a las pruebas
de conjuntos de fases por ultrasonidos, tanto para los recién llegados
como para los usuarios más experimentados que deseen revisar los
principios básicos. Esta guía comienza explicando qué es la prueba de
matrices en fase y cómo funciona, luego describe algunas
consideraciones para seleccionar sondas e instrumentos y concluye
con información de referencia adicional y un "Glosario de matrices en
fase".
acerca de esta guía
Esta guía está dividida en las siguientes secciones:
Capítulo 1, “Introducción”. Este capítulo proporciona una breve

historia de las pruebas convencionales de ultrasonido y en fase.
También enumera las ventajas de la prueba de matrices en fase en
comparación con los ultrasonidos convencionales.
Capítulo 2, “Sondas de matriz en fase”. Este capítulo describe cómo se
construyen los transductores ultrasónicos y las sondas de matriz en
fase, y explica sus características. Además, el lector aprende sobre la
secuenciación de la ley focal, la configuración y dirección del haz y el
enfoque del transductor.
Capítulo 3, "Principios básicos de la creación de imágenes de
conjuntos en fase". En este capítulo se explican los diversos formatos
de imagen disponibles para presentar datos de inspección a través de
ilustraciones fáciles de entender tanto de instrumentos convencionales
como de conjuntos en fase, como: A-scans, B-scans, C- Exploraciones,
exploraciones lineales y exploraciones sectoriales.
Olympus Preface 1
Capítulo 4, “Phased Array Instrumentation”. Este capítulo incluye
una breve descripción general de las categorías de instrumentos
disponibles comercialmente. También describe especificaciones y
características importantes que se deben tener en cuenta al seleccionar
tanto la instrumentación de arrays convencional como la de fase.
Capítulo 5, “Configuración de prueba de matriz de fase y formato de
pantalla”. Este capítulo proporciona ayuda adicional para interpretar
pantallas y realizar mediciones.
Apéndices Estas secciones incluyen una variedad de información de

referencia, que incluye fórmulas ultrasónicas útiles, velocidad de
material e información de impedancia acústica, conversión de
unidades, fuentes de capacitación adicional y referencia, y los tipos de
equipos disponibles que utilizan estas tecnologías.
“Glosario de matrices en fase”. Esta sección final presenta una lista

conveniente de definiciones para los términos utilizados en las
pruebas de ultrasonido en matrices convencionales y en fases.
Esperamos que esta guía le sea útil para llevar a cabo inspecciones
ultrasónicas de matrices en fase. Los comentarios y sugerencias son
bienvenidos y pueden enviarse a: info@olympusndt.com.
Acerca de Olympus
Olympus Corporation es una compañía internacional que opera en los
mercados industrial, médico y de consumo, especializada en óptica,
electrónica e ingeniería de precisión. Los instrumentos Olympus
contribuyen a la calidad de los productos y aumentan la seguridad de
la infraestructura y las instalaciones.
Olympus es un fabricante líder mundial de instrumentos innovadores

de prueba y medición no destructivos que se utilizan en aplicaciones
industriales y de investigación que van desde productos
aeroespaciales, generación de energía, petroquímicos, infraestructura
civil y productos automotrices hasta productos de consumo. Las
tecnologías de prueba de vanguardia incluyen ultrasonido, matriz en
fase de ultrasonido, corriente de Foucault, matriz de corriente de
Foucault, microscopía, metrología óptica y fluorescencia de rayos X.
Sus productos incluyen detectores de fallas, medidores de espesor,
sistemas industriales de NDT y escáneres, videoscopios, boroscopios,
cámaras de video de alta velocidad, microscopios, sondas y varios
accesorios.
Olympus Scientific Solutions Americas tiene su sede en Waltham,
Massachusetts, EE. UU., Y tiene centros de ventas y servicio en las
principales ubicaciones industriales del mundo. Visite www.olympus-
ims.com para obtener solicitudes y asistencia de ventas.
2 Preface Olympus
Una nota sobre terminología
Debido a que el uso generalizado de las pruebas de matrices en fase es
relativamente nuevo en el NDT ultrasónico, parte de la terminología
sigue evolucionando. Hay casos en los que industrias específicas,
como la energía nuclear, organizaciones de estándares, como ASME, y
fabricantes de equipos de conjuntos en fase usan diferentes términos
para la misma actividad. Las principales diferencias incluyen los
muchos términos utilizados para S-scan y el uso del término scan
lineal. Se puede consultar el "Glosario de matrices en fase" que se
presenta al final de esta guía para obtener una explicación más
detallada. La terminología utilizada en esta guía está diseñada para
ser coherente con la incorporada en los instrumentos de matriz phased
de Olympus, como OmniScan y EPOCH 1000.
• El término exploración lineal se usa para describir el formato de
exploración en el que la apertura del haz activo se mueve
electrónicamente a lo largo de una sonda de matriz lineal, ya sea en
incidencia normal o en un ángulo fijo. Este formato se conoce
alternativamente como un "E-scan" en ciertos documentos ASME e
IIW.
• A probe that has been programmed to generate a linear scan
in the forward direction may also be mechanically moved
along the length of a weld or similar test piece, generating an
encoded linear scan. This format is known as a “one-line scan” or
“C-scan.”
• The term S-scan is used to describe the scan format in which the
beam angle is electronically swept through a selected range. This
format is also known as a “sectorial,” “sector,” “azimuthal,” or
“swept angle” scan. Alternately, in some instruments the
term S-scan has been applied to any stacked A-scan display,
including linear scans.
• Time-Varied Gain (TVG) is also known as Time-Corrected
Gain (TCG).
Activity Nuclear ASME

Mechanical scan One-line scan Linear scan
along weld (encoded)
Electronic scan at Linear scan E-scan
fixed angle
S-scan Sector scan, sectorial S-scan—also sectorial
scan, or S-scan scan, sector scan, or
swept angle scan
C-scan One-line scan, or C-scan
multiple line scans
En esta guía, usaremos S-scan para "barrido de ángulo barrido",

escaneo lineal para "barrido de apertura barrida" y C-scan o escaneo
de una línea para cualquier "escaneo codificado".
Olympus Preface 3
4 Preface Olympus
1. Introducción
1.1 Introducción general a Phased

Array Testing
Muchas personas están familiarizadas con las aplicaciones médicas de
las imágenes de ultrasonido, en las que se utilizan ondas de sonido de
alta frecuencia para crear imágenes de órganos transversales
altamente detalladas. Los sonogramas médicos se hacen comúnmente
con sondas multielemento especializadas1 conocidas como matrices
en fase y su hardware y software que lo acompañan. Pero las
aplicaciones de la tecnología de conjuntos de fase por ultrasonidos no
se limitan al diagnóstico médico. En los últimos años, los sistemas de
matrices en fase han aumentado en uso en entornos industriales para
proporcionar nuevos niveles de información y visualización en
pruebas ultrasónicas comunes que incluyen inspección de soldadura,
prueba de adherencia, perfilado de espesor y detección de grietas en
servicio.
Durante sus primeras dos décadas, los instrumentos comerciales de
ultrasonidos se basaron por completo en transductores de un solo
elemento que utilizaban un cristal piezoeléctrico para generar y recibir
ondas de sonido, transductores de doble elemento que tenían cristales
de transmisión y recepción separados, y sistemas de paso y captura o
de transmisión continua. que utilizaron un par de transductores de un
solo elemento en tándem. Estos enfoques aún son utilizados por la
mayoría de los instrumentos ultrasónicos comerciales actuales
diseñados para la detección de fallas industriales y la medición de
espesores; sin embargo, los instrumentos que utilizan matrices en fase
son cada vez más importantes en el campo de las pruebas ultrasónicas
no destructivas (NDT).
El principio de interacción constructiva y destructiva de las ondas fue
demostrado por el científico inglés Thomas Young en 1801 en un
experimento notable que utilizó dos fuentes de luz puntuales para
crear patrones de interferencia. Las ondas que se combinan en fase se
refuerzan entre sí, mientras que las ondas que se combinan fuera de
fase se cancelan entre sí (consulte la Figura 1-1).
1. Como compañía global, Olympus ha optado por utilizar los términos

ISO para equipos; por ejemplo, una matriz se denomina
específicamente "sonda" en esta guía, no un "transductor".
Olympus Introduction 5
Q = Maximum pressure
Q = Minimum pressure
S 1 S 2
Figura 1-1 Patrón de interferencia de fuente de dos puntos
El cambio de fase, o cambio de fase, es a su vez una forma de

controlar estas interacciones mediante frentes de onda de cambio de
tiempo que se originan a partir de dos o más fuentes. Se puede
utilizar para doblar, dirigir o enfocar la energía de un frente de onda.
En la década de 1960, los investigadores empezaron a desarrollar
sistemas de matrices de fase ultrasónica que utilizaban múltiples
transductores de fuente puntual que se pulsaban para dirigir los
haces de sonido por medio de estos patrones de interferencia
controlados. A principios de la década de 1970, los sistemas
comerciales de conjuntos en fase para uso de diagnóstico médico
aparecieron por primera vez utilizando haces dirigidos para crear
imágenes de sección transversal del cuerpo humano (consulte la
Figura 1-2).
Figura 1-2 Arreglos en fase utilizados para diagnósticos médicos

Inicialmente, el uso de sistemas de conjuntos de fases por ultrasonidos
se limitaba en gran medida al campo médico, ayudado por el hecho
de que la composición y estructura predecibles del cuerpo humano
hacen que el diseño del instrumento y la interpretación de la imagen
sean relativamente sencillos. Las aplicaciones industriales, por otro
lado, representan un desafío mucho mayor debido a las propiedades
acústicas de metales, compuestos, cerámicas, plásticos y fibra de
vidrio que varían ampliamente, así como a la enorme variedad de
espesores y geometrías que se encuentran en el ámbito de las pruebas
industriales.
6 Chapter 1 Olympus
Los primeros sistemas de matrices de fase industrial, introducidos en
la década de 1980, eran extremadamente grandes y requerían la
transferencia de datos a una computadora para realizar el
procesamiento y la presentación de imágenes. Estos sistemas fueron
los más utilizados para las inspecciones de generación de energía en
servicio. En gran parte, esta tecnología fue impulsada en gran medida
en el mercado nuclear, donde la evaluación crítica permite en gran
medida el uso de tecnología de punta para mejorar la probabilidad de
detección. Otras aplicaciones tempranas involucraron grandes ejes
forjados y componentes de turbina de baja presión.
A principios de la década de 2000, aparecieron instrumentos portátiles

de conjuntos de baterías por fases para uso industrial. Los diseños
analógicos requerían potencia y espacio para crear las configuraciones
multicanal necesarias para la dirección de haz. Sin embargo, la
transición al mundo digital y el rápido desarrollo de
microprocesadores integrados de bajo costo permitieron un desarrollo
más rápido de la siguiente generación de equipos de matriz en fase.
Además, la disponibilidad de componentes electrónicos de baja
potencia, mejores arquitecturas de ahorro de energía y el uso en toda
la industria de diseños de tableros de montaje en superficie llevaron a
la miniaturización de esta tecnología avanzada. Esto dio lugar a
herramientas de matriz en fases, que permitieron la configuración
electrónica, el procesamiento de datos, la visualización y el análisis,
todo dentro de un dispositivo portátil, por lo que las puertas se
abrieron para un uso más generalizado en todo el sector industrial.
Esto, a su vez, dio la capacidad de especificar sondas de matriz en fase
estándar para aplicaciones comunes.
1.2 ¿Qué es un sistema de matriz en fase?

Los transductores ultrasónicos convencionales para NDT consisten
comúnmente en un solo elemento activo que genera y recibe ondas de
sonido de alta frecuencia, o dos elementos emparejados, uno para
transmitir y otro para recibir. Por otro lado, las sondas matriciales en
fase consisten típicamente en un conjunto de transductor con 16 hasta
256 elementos individuales pequeños que pueden pulsarse por
separado (consulte la Figura 1-3 y la Figura 1-4). Estos se pueden
organizar en una tira (matriz lineal), matriz 2D, un anillo (matriz
anular), una matriz circular (matriz circular) o una forma más
compleja. Como es el caso de los transductores convencionales, las
sondas matriciales en fase pueden diseñarse para uso de contacto
directo, como parte de un conjunto de haz de ángulo con una cuña, o
para uso de inmersión con acoplamiento de sonido a través de una
trayectoria de agua. Las frecuencias de los transductores son más
comúnmente en el rango de 2 MHz a 10 MHz. Un sistema matricial en
fase también incluye un sofisticado instrumento basado en
computadora que es capaz de conducir la sonda multielemento,
recibir y digitalizar los ecos de retorno y trazar esa información de eco
en varios formatos estándar. A diferencia de los detectores de fallas
convencionales, los sistemas de matrices en fase pueden barrer un haz
de sonido a través de un rango de ángulos refractados o a lo largo de
una trayectoria lineal, o enfocar dinámicamente a varias
profundidades diferentes, lo que aumenta la flexibilidad y la
capacidad en las instalaciones de inspección.
Figura 1-3 Conjuntos típicos de sondas de matriz en fase
Elementos individuales
Piezocompuesto
Figura 1-4 Construcción típica multielemento.
1.3 ¿Cómo funciona el phasing ultrasónico?

En el sentido más básico, un sistema de matrices en fase utiliza el
principio de la fase de la física de ondas. Esto varía el tiempo entre
una serie de pulsos ultrasónicos salientes de tal manera que los frentes
de onda individuales generados por cada elemento en la matriz se
combinan entre sí. Esta acción agrega o cancela energía de maneras
predecibles que efectivamente dirigen y dan forma al haz de sonido.
Esto se logra pulsando los elementos individuales de la sonda en
momentos ligeramente diferentes.
Con frecuencia, los elementos se pulsan en grupos de 4 a 32 para
mejorar la sensibilidad efectiva al aumentar la apertura, lo que reduce
la propagación no deseada del haz y permite un enfoque más nítido.
El software conocido como una calculadora de ley focal establece
tiempos de retardo específicos para disparar cada grupo de elementos
para generar la forma de haz deseada, teniendo en cuenta las
características de la sonda y la cuña, así como las propiedades
geométricas y acústicas del material de prueba. La secuencia de
pulsos programada seleccionada por el software operativo del
instrumento lanza una serie de frentes de onda individuales en el
material de prueba. Estos frentes de onda, a su vez, se combinan de
manera constructiva y destructiva en un solo frente de onda primario
que viaja a través del material de prueba y refleja las grietas,
discontinuidades, paredes posteriores y otros límites de material
como una onda ultrasónica convencional. El haz puede ser dirigido
dinámicamente a través de varios ángulos, distancias focales y
tamaños de puntos focales de tal manera que un solo conjunto de
sonda sea capaz de examinar el material de prueba a través de un
rango de diferentes perspectivas. Esta dirección de haz se realiza muy
rápidamente, por lo que se puede realizar un escaneo desde múltiples
ángulos o con múltiples profundidades focales en una fracción de
segundo.
8 Chapter 1 Olympus
Los ecos de retorno son recibidos por los diversos elementos o grupos
de elementos y desplazados en el tiempo según sea necesario para
compensar los diferentes retardos de cuña, y luego se suman. A
diferencia de un transductor convencional de un solo elemento, que
fusiona efectivamente los efectos de todos los componentes del haz
que inciden en su área, una sonda de matriz en fase puede clasificar
espacialmente el frente de onda que regresa de acuerdo con el tiempo
de llegada y la amplitud de cada elemento. Cuando se procesa
mediante el software del instrumento, cada ley focal devuelta
representa la reflexión desde un componente angular particular del
haz, un punto particular a lo largo de una trayectoria lineal y / o una
reflexión desde una profundidad focal particular (consulte la Figura
1-5 y la Figura 1-) 6). La información de eco se puede mostrar en
cualquiera de varios formatos.
Delay (retrazo) (ns)
PA probe(sonda)
Dirección de ángulo
Incidente frente de onda
Figura 1-5 Ejemplo de un haz de ángulo generado por una sonda plana por
medio del retardo variable
Grupo activo
16
1 128
Dirección de escaneo
Figura 1-6 Ejemplo de escaneo lineal de haz de ángulo enfocado
1.4 Ventajas de Phased Array en
comparación con UT convencional
Los sistemas de conjuntos de fases por ultrasonidos pueden emplearse

potencialmente en casi cualquier prueba en la que tradicionalmente se
han utilizado detectores de fallas por ultrasonidos convencionales.
Las inspecciones de soldadura y la detección de grietas son las
aplicaciones más importantes, y estas pruebas se realizan en una
amplia gama de industrias, como la aeronáutica, la generación de
energía, la petroquímica, la palanquilla metálica y los proveedores de
productos tubulares, la construcción y el mantenimiento de tuberías,
los metales estructurales y la fabricación en general. Los arreglos en
fase también se pueden usar de manera efectiva para perfilar el
espesor de pared restante en aplicaciones de levantamiento de
corrosión.
Los beneficios de la tecnología de matriz en fase sobre la UT

convencional se deben a su capacidad para utilizar múltiples
elementos para dirigir, enfocar y escanear haces con un único conjunto
de sonda. La dirección de haz, comúnmente conocida como
exploración S (exploración sectorial), puede usarse para mapear
componentes en ángulos apropiados. Esto puede simplificar
enormemente la inspección de componentes con geometría compleja.
La pequeña huella de la sonda y la capacidad de barrer el haz sin
mover la sonda también ayudan a la inspección de dichos
componentes en situaciones donde hay acceso limitado para la
exploración mecánica. El escaneo sectorial también se usa típicamente
para la inspección de soldaduras. La capacidad de probar soldaduras
con múltiples ángulos desde una sola sonda aumenta
considerablemente la probabilidad de detección de anomalías. El
enfoque electrónico optimiza la forma y el tamaño del haz en la
ubicación del defecto esperado, así como también optimiza la
probabilidad de detección. La capacidad de enfocar a múltiples
profundidades también mejora la capacidad de dimensionar defectos
críticos para inspecciones volumétricas. El enfoque puede mejorar
significativamente la relación señal-ruido en aplicaciones desafiantes,
y el escaneo electrónico a través de muchos grupos de elementos
permite la producción rápida de imágenes de C-scan. La capacidad de
realizar pruebas simultáneas a través de múltiples ángulos y / o
escanear un área más grande de la pieza de prueba a través de la
exploración lineal aumenta la velocidad de inspección. Las
velocidades de inspección de matrices en fase pueden ser hasta 10
veces más rápidas en comparación con la UT convencional, lo que
brinda una gran ventaja.
Las desventajas potenciales de los sistemas de arreglo en fase son un

costo algo más alto y un requisito para la capacitación del operador.
Sin embargo, estos costos son frecuentemente compensados por su
mayor flexibilidad y una reducción en el tiempo necesario para
realizar una inspección determinada.
10 Chapter 1 Olympus
2. Sondas de matrices en fase
2.1 Características del haz ultrasónico

Los transductores ultrasónicos de onda longitudinal convencionales
funcionan como una fuente de pistón de vibraciones mecánicas de alta
frecuencia, u ondas de sonido. A medida que se aplica voltaje, el
elemento transductor piezoeléctrico (a menudo llamado cristal) se
deforma al comprimir en la dirección perpendicular a su cara. Cuando
se elimina el voltaje, generalmente menos de un microsegundo más
tarde, el elemento retrocede, generando el pulso de energía mecánica
que comprende una onda ultrasónica (consulte la Figura 2-1). De
manera similar, si el elemento está comprimido por la presión de una
onda ultrasónica que llega, genera un voltaje en sus caras. Por lo
tanto, un solo elemento piezoeléctrico puede actuar como transmisor
y receptor de pulsos ultrasónicos.
+
–
Estado de reposo
++++++++++++++++++
++++++++
–––––––– ––––––––––––––––––
Voltaje aplicado
+
–
Voltaje eliminado
+
–
Return to rest state
Figura 2-1 Principio del elemento transductor piezoeléctrico
Olympus Phased Array Probes 11

Todos los transductores del tipo más comúnmente utilizado para la NDT
ultrasónica tienen las siguientes propiedades funcionales fundamentales:
Tipo. El transductor se identifica de acuerdo con su función como
contacto, línea de retardo, haz de ángulo o tipo de inmersión. Las
características del material inspeccionado (como la rugosidad de la
superficie, la temperatura, la accesibilidad y la posición de un defecto
dentro del material y la velocidad de inspección) influyen en la
selección del tipo de transductor.
Tamaño. El diámetro o longitud y ancho del elemento transductor
activo, que normalmente se aloja en una caja algo más grande.
Frecuencia. El número de ciclos de onda completados en un segundo,
normalmente expresado en kilohertz (kHz) o megahertz (MHz). La
mayoría de las pruebas ultrasónicas industriales se realizan en el rango
de frecuencia de 500 kHz a 20 MHz, por lo que la mayoría de los
transductores se encuentran dentro de ese rango, aunque los
transductores comerciales están disponibles desde menos de 50 kHz
hasta más de 200 MHz. La penetración aumenta con una frecuencia
más baja, mientras que la resolución y la nitidez focal aumentan con
una frecuencia más alta.
Ancho de banda La porción de la respuesta de frecuencia que cae
dentro de los límites de amplitud especificados. En este contexto, se
debe tener en cuenta que los transductores NDT típicos no generan
ondas de sonido en una sola frecuencia pura, sino más bien en un
rango de frecuencias centradas en la designación de frecuencia
nominal. El estándar de la industria es especificar este ancho de banda
en el punto de –6 dB (o media amplitud).
Duración de la forma de onda. La cantidad de ciclos de onda
generados por el transductor cada vez que se pulsa. Un transductor de
ancho de banda estrecho tiene más ciclos que un transductor de ancho
de banda más amplio. El diámetro del elemento, el material de
respaldo, la afinación eléctrica y el método de excitación del
transductor afectan la duración de la forma de onda.
Sensibilidad. La relación entre la amplitud del pulso de excitación y la
del eco recibido de un objetivo designado.
Perfil de la viga. Como una aproximación de trabajo, el haz de un

transductor de disco no enfocado típico a menudo se considera una
columna de energía que se origina en el área del elemento activo que
se expande en diámetro y finalmente se disipa (vea la Figura 2-2).
Figura 2-2 Perfil del haz
De hecho, el perfil real del haz es complejo, con gradientes de presión

en las direcciones transversal y axial. En la siguiente ilustración del
perfil del haz (Figura 2-3), el rojo representa las áreas de mayor
energía, mientras que el verde y el azul representan la menor energía.
Figura 2-3 Áreas de energía en el perfil del haz.
El campo de sonido de un transductor se divide en dos zonas: el

campo cercano y el campo lejano (consulte la Figura 2-4). El campo
cercano es la región cercana al transductor donde la presión del
sonido pasa por una serie de máximos y mínimos, y termina en el
último máximo en el eje a la distancia N de la cara. La distancia al
campo cercano N representa el foco natural del transductor.
Figura 2-4 El campo de sonido de un transductor
El campo lejano es la región más allá de N donde la presión del

sonido cae gradualmente a cero a medida que el diámetro del haz se
expande y su energía se disipa. La distancia de campo cercano es una
función de la frecuencia y el tamaño del elemento del transductor, y la
velocidad del sonido en el medio de prueba, y se puede calcular para
los elementos cuadrados o rectangulares que se encuentran
comúnmente en las pruebas de matrices en fase de la siguiente
manera:
kL 2 f kL 2
N = ----------- or N = ---------
4c 4λ
dónde:
N = longitud de campo cercano
k = constante de relación de aspecto (ver abajo)
L = longitud del elemento o abertura
f = frecuencia
c = Velocidad del sonido en el material de prueba.
λ = longitud de onda = c--

f

La constante de relación de aspecto es la que se muestra en la Tabla
2-1. Se basa en la relación entre las dimensiones cortas y largas del
elemento o abertura.
Tabla 2-1 Constante de relación de aspecto
Ratio corto / largo k

1.0 1.37 (elemento cuadrado)
0.9 1.25
0.8 1.15
0.7 1.09
0.6 1.04
0.5 1.01
0.4 1.00
0.3 y por debajo 0.99
En el caso de elementos circulares, k no se usa y el diámetro del

elemento (D) se usa en lugar del término de longitud:
D2 f D2
N = --------- or N = -------
4c 4λ
Debido a las variaciones de la presión del sonido dentro del campo

cercano, puede ser difícil evaluar con precisión las fallas usando
técnicas basadas en la amplitud (aunque la medición del espesor
dentro del campo cercano no es un problema). Además, N representa
la mayor distancia a la que se puede enfocar un haz de transductor
por medio de una lente acústica o técnicas de fase. El enfoque se
explica con más detalle en la sección 2.7, en la página 31.
2.2 Propiedades fundamentales de las

ondas sonoras
Formación de frente de onda. Si bien se puede pensar en un

transductor de un solo elemento como una fuente de pistón, un solo
disco o placa que empuja hacia adelante el medio de prueba, la onda
que genera se puede modelar matemáticamente como la suma de las
ondas de un número muy grande de fuentes puntuales. Esto se deriva
del principio de Huygens, propuesto por primera vez por el físico
holandés Christiaan Huygens del siglo XVII, que establece que cada
punto en un frente de onda que avanza puede considerarse como una
fuente puntual que lanza una nueva ola esférica, y que el frente de
onda unificado resultante es el Suma de todas estas ondas esféricas
individuales.
Difusión del haz. En principio, la onda de sonido generada por un
transductor viaja en línea recta hasta que encuentra un límite de
material.
Lo que sucede entonces se discute a continuación. Pero si la longitud
de la trayectoria del sonido es más larga que la distancia del campo
cercano, el haz también aumenta de diámetro, divergiéndose como el
haz de un foco (vea la Figura 2-5).
D _ BEAM AXIS
N
0 N 2N 3N 4N
Figura 2-5 Difusión del haz
El ángulo de dispersión del haz de un transductor circular

desenfocado más allá del campo cercano se puede calcular de la
siguiente manera:
2 D 2-
Longitud del campo cercano = D
---------f = ------
4c 4λ
D = diámetro del elemento o apertura

f = frecuencia
c = Velocidad del sonido en el medio de prueba.
λ c
= longitud de onda = --
f
–6 dB ángulo de propagación de medio haz (α) de un transductor
desenfocado:
0.514c
α = sin – 1  ----------------
 fD 
De esta ecuación se ve que el ángulo de dispersión del haz aumenta

con las frecuencias más bajas y los diámetros más pequeños. Un gran
ángulo de dispersión del haz puede hacer que la energía del sonido
por unidad de área caiga rápidamente con la distancia. Esto
disminuye efectivamente la sensibilidad a pequeños reflectores en
algunas aplicaciones que involucran rutas de sonido largas. En tales
casos, la respuesta de eco se puede mejorar utilizando transductores
de mayor frecuencia y / o mayor diámetro.
En el caso de elementos rectangulares, la expansión del haz es
asimétrica, con un ángulo de distribución del haz más grande a través
de la dimensión más pequeña de la viga. El ángulo para cada eje se
puede calcular utilizando la fórmula que se proporciona a
continuación, utilizando la longitud o anchura adecuadas para el
término L:
0.44c 0.44λ
α = sin – 1  ------------- or α = sin – 1  --------------
 fL   L 

Los siguientes gráficos muestran algunos cambios generalizados en la
propagación del haz con cambios en el diámetro y la frecuencia del
transductor. Si la frecuencia es constante, entonces la dispersión del
haz disminuye a medida que aumenta el diámetro del transductor
(consulte la Figura 2-6 y la Figura 2-7).
Velocidad: 5850 m / s (0.230 in./µs) Diámetro: 3 mm (0.125

in.) Frecuencia: 5.0 MHz
Figura 2-6 Difusión del haz con un elemento de 3 mm.

Figura 2-7 Difusión del haz con un elemento de 13 mm.
If the transducer diameter is constant, then beam spreading decreases

as frequency increases (see Figure 2-8 and Figure 2-9).

Figura 2-8 Difusión de haz con un elemento de 2.25 MHz
Figura 2-9 Difusión de haz con un elemento de 10 MHz
Atenuación. A medida que viaja a través de un medio, el frente de

onda organizado generado por un transductor ultrasónico comienza a
descomponerse debido a una transmisión imperfecta de energía a
través de la microestructura de cualquier material. Las vibraciones
mecánicas organizadas (ondas de sonido) se convierten en vibraciones
mecánicas aleatorias (calor) hasta que el frente de onda ya no es
detectable. Este proceso se conoce como atenuación del sonido.
La teoría matemática de la atenuación y la dispersión es compleja. La
pérdida de amplitud debido a la atenuación en una ruta de sonido
dada es la suma de los efectos de absorción y los efectos de dispersión.
La absorción aumenta linealmente con la frecuencia, mientras que la
dispersión varía a través de tres zonas dependiendo de la relación de
longitud de onda a los límites del tamaño de grano u otros
dispersores. En todos los casos, los efectos de dispersión aumentan
con la frecuencia. Para un material dado a una temperatura dada,
probado a una frecuencia dada, existe un coeficiente de atenuación
específico, comúnmente expresado en nepers por centímetro (Np /
cm). Una vez que se conoce este coeficiente de atenuación, las
pérdidas en una ruta de sonido determinada se pueden calcular de
acuerdo con la ecuación:
p = p 0 e – ad
dónde:
p = presión de sonido al final del camino
p0 = Presión sonora al comienzo del camino.
e = base de logaritmo natural
a = coeficiente de atenuación
d = longitud del camino del sonido
Como cuestión práctica, en las aplicaciones NDT ultrasónicas, los

coeficientes de atenuación normalmente se miden en lugar de
calcularse. Las frecuencias más altas se atenúan más rápidamente que
las frecuencias más bajas en cualquier medio, por lo que las
frecuencias de prueba bajas se emplean generalmente en materiales
con altos coeficientes de atenuación, como plásticos y caucho de baja
densidad.
Reflexión y transmisión en un límite de plano perpendicular.
Cuando una onda de sonido que viaja a través de un medio
encuentra un límite con un medio diferente que se encuentra
perpendicular a la dirección de la onda, una parte de la energía de
la onda se refleja directamente hacia atrás y una parte continúa en
línea recta.

El porcentaje de reflexión frente a la transmisión está relacionado con
las impedancias acústicas relativas de los dos materiales, mientras que
la impedancia acústica se define a su vez como la densidad del
material multiplicada por la velocidad del sonido. El coeficiente de
reflexión en un límite plano (el porcentaje de energía de sonido que se
refleja de nuevo a la fuente) se puede calcular de la siguiente manera:
Z2 – Z1
R = -------------------
Z2 + Z1
dónde:
R = coeficiente de reflexión en porcentaje
Z1 = Impedancia acústica del primer medio.
Z2 = Impedancia acústica del segundo medio.
De esta ecuación se puede ver que a medida que las impedancias

acústicas de los dos materiales se vuelven más similares, el coeficiente
de reflexión disminuye y que las impedancias acústicas se vuelven
menos similares, el coeficiente de reflexión aumenta. En teoría, la
reflexión desde el límite entre dos materiales de la misma impedancia
acústica es cero, mientras que en el caso de materiales con
impedancias acústicas muy diferentes, como en un límite entre el
acero y el aire, el coeficiente de reflexión se acerca al 100%.
Refracción y conversión de modo en límites no perpendiculares.

Cuando una onda de sonido que viaja a través de un material
encuentra un límite con un material diferente en un ángulo distinto de
cero grados, una parte de la energía de onda se refleja hacia adelante
en un ángulo igual al ángulo de incidencia. Al mismo tiempo, la
porción de la energía de onda que se transmite al segundo material se
refracta de acuerdo con la Ley de Snell, que fue derivada de manera
independiente por al menos dos matemáticos del siglo XVII. La ley de
Snell relaciona los senos del incidente y el ángulo refractado con la
velocidad de la onda en cada material, como se ilustra a continuación.

e
e

e

Figura 2-10 Refracción de onda de sonido y conversión de modo
sin θ sin θ sin θ rs

------------i = -------------rl- = --------------
-
ci c rl c rs
dónde:
θi = ángulo incidente de la cuña
θrl = ángulo de la onda longitudinal refractada
θrs = ángulo de la onda de corte refractada
ci = Velocidad del material incidente (longitudinal).
crl = Velocidad del sonido material (longitudinal)
crs = Velocidad del material de prueba (cizallamiento).
R
L
S S
Longitudinal Shear
Surface
0 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80
Ángulo de incidente
1st Critical 2nd Critical
angle angle
Figura 2-11 Amplitud relativa de los modos de onda

Si la velocidad del sonido en el segundo medio es mayor que la del
primero, entonces, por encima de ciertos ángulos, esta flexión está
acompañada por la conversión de modo, más comúnmente de un
modo de onda longitudinal a un modo de onda de corte. Esta es la
base de las técnicas de inspección de haz de ángulo ampliamente
utilizadas. A medida que aumenta el ángulo incidente en el primer
medio (más lento) (como una cuña o agua), aumenta el ángulo de la
onda longitudinal refractada en el segundo material (más rápido),
como el metal. A medida que el ángulo de onda longitudinal
refractado se aproxima a 90 grados, una porción progresivamente
mayor de la energía de onda se convierte en una onda de corte de
velocidad más baja que se refracta en el ángulo predicho por la Ley de
Snell. En ángulos incidentes más altos que los que crearían una onda
longitudinal refractada de 90 grados, la onda refractada existe
completamente en modo de corte. Un ángulo de incidencia aún mayor
da lugar a una situación en la que la onda de corte se refracta
teóricamente a 90 grados, momento en el que se genera una onda de
superficie en el segundo material. Los diagramas de la Figura 2-12, la
Figura 2-13 y la Figura 2-14 muestran este efecto para un conjunto de
haz de ángulo típico acoplado al acero.
Figura 2-12 Ángulo de incidencia: 10 °. Onda longitudinal fuerte y onda de corte débil.
Figura 2-13 Ángulo de incidencia: 30 °. Más allá del primer ángulo crítico, la onda
longitudinal ya no existe, y toda la energía refractada está contenida en la onda de
corte.
Figura 2-14 Ángulo de incidencia: 65 °. Más allá del segundo ángulo crítico, la onda
de corte ya no existe, y toda la energía refractada está contenida en una onda de
superficie.
2.3 Características de la sonda Phased Array
Figura 2-15 Sonda Phased array
Una matriz es una disposición organizada de grandes cantidades de

un objeto. La forma más simple de una matriz ultrasónica para NDT
sería una serie de varios transductores de un solo elemento dispuestos
de tal manera que aumenten la cobertura de inspección y / o la
velocidad de una inspección en particular. Ejemplos de esto incluyen:
• Inspección de tubos, donde a menudo se utilizan múltiples sondas

para detectar grietas, detectar fallas laminares y medir el espesor
general.
• Inspección de piezas metálicas forjadas, que a menudo requieren
múltiples sondas enfocadas a diferentes profundidades para
permitir la detección de pequeños defectos de forma zonal.
• Inspección de compuestos y metales, donde se requiere una
disposición lineal de sondas a lo largo de una superficie para
aumentar la detección de fallas laminares en compuestos o
corrosión en metales.
Estas inspecciones requieren equipos de ultrasonidos multicanal de

alta velocidad con impulsores, receptores y lógica de compuerta
adecuados para procesar cada canal, así como una instalación
cuidadosa de cada transductor para configurar correctamente las
zonas de inspección.

En su forma más simple, se puede pensar en una sonda de matriz en
fase como una serie de elementos individuales en un paquete
(consulte la Figura 2-16). Si bien los elementos en realidad son mucho
más pequeños que los transductores convencionales, estos elementos
pueden pulsarse como un grupo para generar frentes de onda
controlables direccionalmente. Este “conformado de haz electrónico”
permite que múltiples zonas de inspección sean programadas y
analizadas a velocidades muy altas sin el movimiento de la sonda.
Esto se discute con mayor detalle en las páginas posteriores.
Figura 2-16 Sonda Phased array
Si bien las sondas matriciales en fase vienen en una amplia gama de

tamaños, formas, frecuencias y número de elementos, todos tienen en
común un elemento piezoeléctrico que se ha dividido en varios
segmentos.
Las sondas de matrices en fase contemporáneas para aplicaciones

industriales de NDT se construyen típicamente alrededor de
materiales piezocompuestos, que se componen de muchas varillas
pequeñas y delgadas de cerámica piezoeléctrica incrustadas en una
matriz de polímero. Si bien pueden ser más difíciles de fabricar, las
sondas compuestas generalmente ofrecen una ventaja de sensibilidad
de 10 dB a 30 dB sobre las sondas piezocerámicas de diseño similar. El
metalizado segmentado se usa para dividir la tira compuesta en una
serie de elementos eléctricamente separados que pueden pulsarse
individualmente. Este elemento segmentado se incorpora luego a un
conjunto de sonda que incluye una capa protectora coincidente, un
respaldo, conexiones de cables y un alojamiento (consulte la Figura
2-17).
Multiconductor
coaxial cable
Backing
External
housing
Inner
sleeve
Metallic
plating
Piezocomposite
Matching element
layer
Figura 2-17 Sección transversal de la sonda de matriz en fase
Las sondas matriciales en fase se categorizan funcionalmente de

acuerdo con los siguientes parámetros básicos:
Tipo. La mayoría de las sondas de matrices en fase son del tipo de haz
en ángulo, diseñadas para usarse con una cuña de plástico o una
zapata de plástico recta (cuña de cero grados), o línea de retardo.
También están disponibles las sondas de contacto directo y de
inmersión.
Frecuencia. La mayoría de la detección de fallas por ultrasonidos se
realiza entre 2 MHz y 10 MHz, por lo que la mayoría de las sondas de
matriz en fase entran dentro de ese rango. Las sondas de frecuencia
inferior y superior también están disponibles. Al igual que con los
transductores convencionales, la penetración aumenta con una
frecuencia más baja, mientras que la resolución y la nitidez focal
aumentan con la frecuencia más alta.
Número de elementos. Las sondas matriciales en fase generalmente
tienen de 16 a 128 elementos, y algunas tienen hasta 256. Un mayor
número de elementos aumenta la capacidad de enfoque y dirección, lo
que también aumenta la cobertura del área, pero los costos de la sonda
y la instrumentación también aumentan. Cada uno de estos elementos
se pulsa individualmente para crear el frente de onda de interés. Por
lo tanto, la dimensión a través de estos elementos a menudo se
denomina dirección activa o de dirección.
Tamaño de los elementos. A medida que se reduce el ancho del
elemento, aumenta la capacidad de dirección de la viga, pero la
cobertura de área grande requiere más elementos a un costo mayor.
Los parámetros dimensionales de una sonda de matriz en fase se
definen habitualmente de la siguiente manera:
(
L
W N
Figura 2-18 Parámetros dimensionales de una Sonda phased array
A = Apertura total en dirección de dirección activa.

H = Elemento de altura o elevación. Como esta dimensión es
fija, a menudo se la denomina plano pasivo.
p = paso, o distancia de centro a centro entre dos elementos

sucesivos
e = ancho de un elemento individual
g = espaciado entre elementos activos
Esta información es utilizada por el software del instrumento para
generar la forma de haz deseada. Si el software de reconocimiento de
la sonda no lo ingresa automáticamente, el usuario debe ingresarlo
durante la configuración.

2.4 Phased Array Cuñas
Los conjuntos de sondas de matriz en fase generalmente incluyen una
cuña de plástico. Las cuñas se utilizan en aplicaciones de onda
cortante y onda longitudinal, incluidas las exploraciones lineales de
haz recto. Estas cuñas realizan básicamente la misma función en los
sistemas de matriz en fase que en la detección de fallas de un solo
elemento convencional, acoplando la energía de sonido de la sonda a
la pieza de prueba de tal manera que el modo se convierta y / o
refracte en un ángulo deseado de acuerdo con la ley de Snell. . Si bien
los sistemas de matrices en fase utilizan la dirección de haz para crear
haces en múltiples ángulos desde una sola cuña, este efecto de
refracción también es parte del proceso de generación de haz. Las
cuñas de onda de corte son muy similares a las usadas con los
transductores convencionales, y al igual que las cuñas convencionales,
vienen en muchos tamaños y estilos. Algunos de ellos incorporan
orificios de alimentación para aplicaciones de escaneo. En la Figura
2-19 se ven algunas cuñas típicas de sondas de matriz en fase.
Figura 2-19 Cuñas de sonda de matriz en fase
Las cuñas de cero grados son básicamente bloques de plástico planos

que se utilizan para acoplar energía de sonido y para proteger la cara
de la sonda de rasguños o abrasión en exploraciones lineales rectas y
exploraciones en ángulo de onda longitudinal de ángulo bajo
(consulte la Figura 2-20).
Figura 2-20 Una cuña de cero grados
2.5 Pulsación gradual
Cuando las ondas que se originan de dos o más fuentes interactúan
entre sí, hay efectos de fase que conducen a un aumento o
disminución de la energía de onda en el punto de combinación.
Cuando las ondas elásticas de la misma frecuencia se encuentran de
tal manera que sus desplazamientos están sincronizados con precisión
(en fase o ángulo de fase de grado cero), las energías de onda se
suman para crear una onda de mayor amplitud (consulte la Figura
2-21a). Si se encuentran de tal manera que sus desplazamientos son
exactamente opuestos (180 grados fuera de fase), entonces las energías
de onda se cancelan entre sí (consulte la Figura 2-21c). En ángulos de
fase entre 0 grados y 180 grados, hay un rango de etapas intermedias
entre la adición total y la cancelación total (consulte la Figura 2-21b).
Al variar la sincronización de las ondas desde un gran número de
fuentes, es posible usar estos efectos para dirigir y enfocar el frente de
onda combinado resultante. Este es un principio esencial detrás de la
prueba de matrices en fase.
Ondas en fase - Refuerzo
Condicion intermedia
Olas fuera de fase - Cancelación
Figura 2-21 Efectos de fase: combinación y cancelación

En los transductores convencionales, los efectos de interferencia
constructivos y destructivos crean las zonas de campo cercano y
campo lejano y los diversos gradientes de presión en ellos. Además,
un transductor de haz de ángulo convencional utiliza un solo
elemento para lanzar una onda en una cuña. Los puntos en este frente
de onda experimentan diferentes intervalos de retardo debido a la
forma de la cuña. Estos son retrasos mecánicos, a diferencia de los
retrasos electrónicos empleados en la prueba de matrices en fase.
Cuando el frente de onda llega a la superficie inferior, se puede
visualizar a través del principio de Huygens como una serie de
fuentes puntuales. Las ondas teóricamente esféricas de cada uno de
estos puntos interactúan para formar una sola onda en un ángulo
determinado por la ley de Snell.
En las pruebas de matrices en fase, los efectos de refuerzo y
cancelación predecibles causados por la fase se usan para dar forma y
dirigir el haz ultrasónico. Pulsar elementos individuales o grupos de
elementos con diferentes retardos crea una serie de ondas de fuente
puntual que se combinan en un solo frente de onda que se desplaza
en un ángulo seleccionado (consulte la Figura 2-22). Este efecto
electrónico es similar al retardo mecánico generado por una cuña
convencional, pero puede controlarse aún más cambiando el patrón
de los retrasos. A través de la interferencia constructiva, la amplitud
de esta onda combinada puede ser considerablemente mayor que la
amplitud de cualquiera de las ondas individuales que la producen. De
manera similar, los retardos variables se aplican a los ecos recibidos
por cada elemento de la matriz. Los ecos se suman para representar
un solo componente angular y / o focal del haz total. Además de
alterar la dirección del frente de onda primario, esta combinación de
componentes de haz individuales permite el enfoque del haz en
cualquier punto del campo cercano.
Resulting wavefront
Figura 2-22 Forma de onda en ángulo
Los elementos generalmente se pulsan en grupos de 4 a 32 para

mejorar la sensibilidad efectiva al aumentar la apertura, lo que reduce
la difusión no deseada del haz y permite un enfoque más nítido.
Los ecos de retorno son recibidos por los diversos elementos o grupos.
de elementos y se modifica en el tiempo según sea necesario para
compensar los distintos retardos de cuña y luego se suman. A
diferencia de un transductor convencional de un solo elemento, que
fusiona efectivamente los efectos de todos los componentes del haz
que inciden en su área, una sonda de matriz en fase puede clasificar
espacialmente el frente de onda que regresa de acuerdo con el tiempo
de llegada y la amplitud de cada elemento. Cuando se procesa
mediante el software del instrumento, cada ley focal devuelta
representa la reflexión desde un componente angular particular del
haz, un punto particular a lo largo de una trayectoria lineal y / o una
reflexión desde una profundidad focal particular. La información de
eco se puede mostrar en cualquiera de varios formatos estándar.
Como se señaló anteriormente, los haces de matriz en fase se generan
pulsando los elementos de sonda individuales o grupos de elementos
en un patrón particular. Los instrumentos de matriz en fase generan
estos patrones en función de la información que ha ingresado el
usuario.
El software conocido como una calculadora de ley focal establece
tiempos de retardo específicos para disparar cada grupo de elementos
con el fin de generar la forma de haz deseada a través de la interacción
de onda, teniendo en cuenta las características de sonda y cuña, así
como la geometría y las propiedades acústicas del material de prueba.
La secuencia de pulsos programada seleccionada por el software
operativo del instrumento, luego lanza una serie de frentes de onda
individuales en el material de prueba. Estos frentes de onda, a su vez,
se combinan de manera constructiva y destructiva en un solo frente de
onda primario que viaja a través del material de prueba y refleja las
grietas, discontinuidades, paredes posteriores y otros límites de
material como con cualquier onda ultrasónica convencional. El haz
puede ser dirigido dinámicamente a través de varios ángulos,
distancias focales y tamaños de puntos focales de tal manera que un
solo conjunto de sonda sea capaz de examinar el material de prueba a
través de un rango de diferentes perspectivas. Esta dirección de haz se
realiza muy rápidamente, por lo que se puede realizar un escaneo
desde múltiples ángulos o con múltiples profundidades focales en una
fracción de segundo.
2.6 Conformación de vigas y dirección

La respuesta de cualquier sistema de prueba ultrasónica depende de
una combinación de factores: el transductor utilizado, el tipo de
instrumento utilizado y su configuración, y las propiedades acústicas
del material de prueba. Las respuestas producidas por sondas
matriciales en fase, como las de cualquier otro transductor ultrasónico
para NDT, están relacionadas tanto con los parámetros de diseño del
transductor (como la frecuencia, el tamaño y la amortiguación
mecánica) como con los parámetros del pulso de excitación que se usa
para conducir la sonda.
Cuatro parámetros importantes de la sonda tienen una serie de
efectos interrelacionados en el rendimiento.
Frecuencia. Como se señaló en la sección anterior, la frecuencia de
prueba tiene un efecto significativo en la longitud del campo cercano
y la dispersión del haz. En la práctica, las frecuencias más altas
pueden proporcionar una mejor relación señal-ruido que las
frecuencias más bajas, porque ofrecen un enfoque potencialmente
más nítido y, por lo tanto, un punto focal más ajustado y
optimizado.

Al mismo tiempo, la penetración en cualquier material de prueba
disminuye cuando la frecuencia aumenta porque la atenuación del
material aumenta a medida que aumenta la frecuencia. Las
aplicaciones que involucran rutas de sonido muy largas o materiales
de prueba que son altamente atenuantes o dispersantes requieren el
uso de frecuencias más bajas. Comúnmente, las sondas de matriz de
fase industrial se ofrecen con frecuencias entre 1 MHz y 15 MHz.
Tamaño del elemento. A medida que disminuye el tamaño de los
elementos individuales en una matriz, aumenta su capacidad de
dirección de haz. El tamaño mínimo de los elementos prácticos en las
sondas comerciales suele ser de cerca de 0,2 mm. Sin embargo, si el
tamaño del elemento es menor que una longitud de onda, se
producirán lóbulos laterales fuertes no deseados.
Número de elementos. A medida que aumenta el número de
elementos en una matriz, también puede aumentar el área de
cobertura física de la sonda y su sensibilidad, capacidad de enfoque y
capacidad de dirección. Al mismo tiempo, el uso de arreglos grandes a
menudo debe equilibrarse con los problemas de complejidad y costo
del sistema.
Echada y apertura. Pitch es la distancia entre elementos individuales;
la apertura es el tamaño efectivo de un elemento pulsante que
generalmente está compuesto por un grupo de elementos
individuales que se pulsan simultáneamente (apertura virtual). Para
optimizar el rango de dirección, el paso debe ser pequeño. Para
obtener una sensibilidad óptima, una mínima propagación del haz no
deseado y un enfoque fuerte, la apertura debe ser grande. Los
instrumentos de matrices en fase de la mayoría de los tiempos
generalmente admiten leyes de enfoque para aperturas de hasta 16
elementos. Los sistemas más avanzados permiten aperturas de hasta
32 o incluso 64 elementos.
Los conceptos clave para una comprensión general del haz de matriz
en fase se pueden resumir de la siguiente manera: Un grupo de
elementos se activa con una ley focal programada. Esto construye la
apertura deseada de la sonda y las características de la viga.
Paso decreciente y ancho de Iaumenta la capacidad de dirección del haz
elementos con un número
constante de elementos
Aumento de tono o frecuencia. Crea lóbulos de rejilla no deseados.
Aumento del ancho del elemento. Crea lóbulos laterales (como en UT
convencional), reduce la dirección del
haz
Aumento de la apertura activa
utilizando muchos elementos Aumenta el factor de enfoque (nitidez
pequeños con un paso pequeño de la viga)
Como se señaló en las páginas anteriores, la esencia de la prueba de

matrices en fase es un haz ultrasónico cuya dirección (ángulo
refractado) y enfoque se puede dirigir electrónicamente variando el
retardo de excitación de elementos individuales o grupos de
elementos. Esta dirección de haz permite la inspección de múltiples
ángulos y / o múltiples puntos desde una única sonda y una única
posición de sonda (consulte la Figura 2-23).
Figura 2-23 Secuencias de ley focal
Como se explicó anteriormente, las características del haz ultrasónico
están definidas por muchos factores. Además de la dimensión del
elemento, la frecuencia y la amortiguación que gobiernan el
rendimiento de un solo elemento convencional, el comportamiento de
la sonda de matriz en fase se ve afectado por la forma en que los
elementos individuales más pequeños se posicionan, clasifican y
agrupan para crear una apertura efectiva equivalente a su contraparte
convencional.
Para las sondas matriciales en fase, los elementos N se agrupan para
formar la apertura efectiva para la cual se puede aproximar la
dispersión del haz mediante modelos de transductores convencionales
(consulte la Figura 2-24).
Transductor Matriz de 16 elementos Matriz de 16 elementos
convencional de un Todos los elementos 4 elementos pulsantes
solo pulso. pulsantes
Figura 2-24. Apertura efectiva.

Para las sondas matriciales en fase, el ángulo máximo de dirección (en
–6 dB) en un caso dado se deriva de la ecuación de dispersión del haz.
Se puede ver fácilmente que los elementos pequeños tienen una
mayor difusión del haz y, por lo tanto, un mayor contenido de energía
angular, que puede combinarse para maximizar la dirección. A
medida que disminuye el tamaño del elemento, se deben pulsar más
elementos para mantener la sensibilidad.
λ
sin θ st = 0.514 ---
e
dónde:
sinθst = seno del ángulo de dirección máximo

λ = longitud de onda en el material de prueba
e = ancho del elemento
64 mm abertura
9˚
32 mm abertura
18˚
16 mm abertura
36˚
Figura 2-25 Límites de dirección de la viga: cuando el número del elemento es

constante, 16 como se muestra, el ángulo máximo de dirección de la viga aumenta
a medida que disminuye el tamaño de la abertura.
Recordando que el límite práctico para la fabricación de la sonda de
matriz en fase restringe el ancho del elemento individual más
pequeño a 0.2 mm, la apertura activa para una sonda de 16 elementos
con elementos de 0.2 mm sería de 3.2 mm. Crear una apertura de 6,4
mm requeriría 32 elementos. Si bien estas sondas sin duda
maximizarían la dirección, las aperturas pequeñas limitarían el área
de cobertura estática, la sensibilidad, la penetración y la capacidad de
enfoque.
El rango de dirección puede modificarse aún más utilizando una cuña
en ángulo para cambiar el ángulo de incidencia del haz de sonido
independientemente de la dirección electrónica.
Desde el ángulo de dispersión del haz, se puede calcular el
diámetro del haz a cualquier distancia de la sonda. En el caso de
una sonda de matriz de fase cuadrada o rectangular, la
propagación del haz en el plano pasivo es similar a la de un
transductor desenfocado. En el plano dirigido o activo, el haz
puede enfocarse electrónicamente para converger la energía acústica
a una profundidad deseada.
Con una sonda enfocada, el perfil del haz se puede representar
típicamente mediante un cono que disminuye (o cuña en el caso del
enfoque de un solo eje) que converge a un punto focal y luego se
desvía en un ángulo igual más allá del punto focal, como se describe a
continuación. :
La longitud del campo cercano y, por lo tanto, la divergencia natural
de un haz ultrasónico están determinadas por la apertura (igual al
diámetro del elemento en el caso de los transductores monolíticos
convencionales) y la longitud de onda (velocidad de la onda dividida
por la frecuencia). Para una sonda circular no enfocada, la longitud del
campo cercano, el ángulo de dispersión del haz y el diámetro del haz
se pueden calcular de la siguiente manera:
2 2
Longitud de campo cercano= D
---------f = D
-------
4c 4λ
dónde:

f = frecuencia
c = velocidad del sonido en el medio de prueba
= longitud de onda = c--

λ
f
Para la fórmula de elementos cuadrados o rectangulares, consulte las
páginas 13-14.
2.7 Enfoque de haz con sondas de matriz

en fase
Los haces de sonido pueden enfocarse como rayos de luz, creando un
haz en forma de reloj de arena que se estrecha hasta un diámetro
mínimo en un punto focal y luego se expande una vez que pasa ese
punto focal (consulte la Figura 2-26).
Figure 2-26 Focused sound beam

La profundidad a la que se enfoca el haz desde una matriz en fase
puede modificarse cambiando los retardos del pulso. La longitud del
campo cercano en un material dado define la profundidad máxima a
la que se puede enfocar un haz de sonido. Una viga no puede
enfocarse más allá del final del campo cercano en el material de
prueba.
La sensibilidad efectiva de una sonda enfocada se ve afectada por el
diámetro del haz en el punto de interés. Cuanto menor es el diámetro
del haz, mayor es la cantidad de energía que se refleja en un pequeño
defecto. Además, el pequeño diámetro del haz en el foco puede
mejorar la resolución lateral. El diámetro del haz de –6 dB o el ancho
de una sonda enfocada en el punto focal se puede calcular de la
siguiente manera:
1.02 Fc
–6 dB diámetro o ancho del haz= ------------------
fD
dónde:
F = distancia focal en el medio de prueba

c = velocidad del sonido en el medio de prueba
Para elementos rectangulares, esto se calcula por separado para las
direcciones activa y pasiva.
A partir de estas fórmulas, se puede ver que a medida que aumenta el
tamaño del elemento y / o la frecuencia, el ángulo de dispersión del
haz disminuye. Un ángulo de dispersión del haz más pequeño a su
vez puede resultar en una mayor sensibilidad efectiva en la zona de
campo lejano debido a que la energía del haz se disipa más
lentamente. Dentro de su campo cercano, una sonda puede enfocarse
para crear una viga que converja en lugar de divergir. Reducir el
diámetro o la anchura del haz a un punto focal aumenta la energía del
sonido por unidad de área dentro de la zona focal y, por lo tanto,
aumenta la sensibilidad a los pequeños reflectores. Los transductores
convencionales usualmente hacen esto con una lente acústica
refractiva, mientras que los arreglos en fase lo hacen electrónicamente
por medio de pulsos en fase y los efectos resultantes de conformación
del haz.
En el caso de las matrices de fase lineal más utilizadas con elementos
rectangulares, el haz se enfoca en la dirección de la dirección y se
desenfoca en la dirección pasiva. Aumentar el tamaño de la abertura
aumenta la nitidez del haz enfocado, como se puede ver en estos
perfiles de haz (consulte la Figura 2-27). Las áreas rojas corresponden
a la presión de sonido más alta y las áreas azules para reducir la
presión de sonido.
Figura 2-27 Enfoque de haz con diferentes tamaños de apertura
2.8 Lóbulos de rejilla y lóbulos laterales

Otro fenómeno asociado con las sondas matriciales en fase es la
generación de lóbulos de rejilla y lóbulos laterales no deseados. Estos
dos fenómenos estrechamente relacionados están causados por la
energía del sonido que se extiende desde la sonda en ángulos distintos
a la ruta del sonido principal. Los lóbulos laterales no se limitan a los
sistemas de matrices en fase; los lóbulos laterales también se producen
con transductores convencionales a medida que aumenta el tamaño
del elemento. Los lóbulos de la rejilla solo se producen en sondas
matriciales en fases como resultado de componentes de rayos
asociados con el espaciado regular y periódico de los elementos
individuales pequeños. Estas trayectorias de rayos no deseadas
pueden reflejar las superficies en la pieza de prueba y causar
indicaciones espurias en una imagen. La amplitud de los lóbulos de la
rejilla se ve afectada significativamente por el tamaño del tono, la
cantidad de elementos, la frecuencia y el ancho de banda. Los perfiles
del haz que se muestran en la Figura 2-28 comparan dos situaciones
en las que la apertura de la sonda es aproximadamente la misma, pero
el haz de la izquierda está generado por seis elementos con un paso de
0.4 mm, y el haz de la derecha por tres elementos con un paso de 1
mm . El haz de la izquierda tiene una forma algo similar a un cono,
mientras que el haz de la derecha tiene dos lóbulos espúreos en un
ángulo aproximado de 30 grados con respecto al eje central de la viga.

Figura 2-28 Perfiles de vigas con diferente número de elementos
Los lóbulos de la rejilla se producen cuando el tamaño de los

elementos individuales en una matriz es igual o mayor que la longitud
de onda. No hay lóbulos de rejilla cuando el tamaño del elemento es
más pequeño que la mitad de una longitud de onda. (Para tamaños de
elementos entre la mitad y una longitud de onda, la generación de
lóbulos de la rejilla depende del ángulo de dirección). Por lo tanto, la
forma más sencilla de minimizar los lóbulos de la rejilla en una
aplicación determinada es usar una sonda con un paso pequeño. Un
diseño de sonda especializado que incorpora subdicción (cortar
elementos en elementos más pequeños) y variar el espaciado de los
elementos, también reduce los lóbulos no deseados.
2.9 Resumen de selección de sonda Phased Array

El diseño de sondas matriciales en fase es siempre un compromiso
entre la selección del tono, el ancho del elemento y la apertura
adecuados. El uso de un gran número de elementos pequeños para
aumentar la dirección, reduce los lóbulos laterales y proporciona
enfoque, pero puede estar limitado por el costo de fabricación y la
complejidad del instrumento. La mayoría de los instrumentos
estándar admiten aperturas de hasta 16 elementos. La separación de
elementos a distancias mayores puede parecer la forma más fácil de
obtener el tamaño de la abertura, pero esto crea lóbulos de rejilla no
deseados.
Es importante tener en cuenta que los proveedores de sondas de
matriz en fase a menudo ofrecen sondas estándar que han sido
diseñadas teniendo en cuenta estos compromisos, lo que resulta en un
rendimiento optimizado para el uso previsto. La selección de la sonda
real es, en última instancia, dirigida por las necesidades de la
aplicación final. En algunos casos, se requiere una dirección de
triángulos en pequeñas vías metálicas, por lo que no se necesitan o no
se desean tamaños de apertura grandes.
En otros casos, la aplicación, que puede abarcar áreas extensas para
defectos laminares, requiere aberturas grandes y un formato de
escaneo lineal con múltiples elementos agrupados en los que no es
necesaria la dirección. En general, el usuario puede aplicar las mejores
prácticas a partir de su conocimiento de UT convencional para la
selección de frecuencia y apertura.
El catálogo de sondas de matriz en fase Olympus se puede ver en la

siguiente dirección:
www.olympus-ims.com/en/probes/pa/
Consúltela para ver la selección completa de sondas y cuñas

disponibles.

3. Conceptos básicos de imagenes
Phased Array
Tanto los instrumentos ultrasónicos convencionales como los phased

array utilizan ondas de sonido de alta frecuencia para verificar la
estructura interna de una pieza de prueba o medir su grosor. Ambos
se basan en las mismas leyes básicas de la física que rigen la
propagación de las ondas de sonido. Se emplean conceptos similares
en ambas tecnologías ultrasónicas para presentar datos ultrasónicos.
Los instrumentos ultrasónicos convencionales para NDT consisten
comúnmente en un solo elemento activo que genera y recibe ondas de
sonido de alta frecuencia, o dos elementos emparejados, uno para
transmitir y otro para recibir. Un instrumento típico consiste en un
pulsador y receptor de un solo canal que genera y recibe una señal
ultrasónica con un sistema de adquisición digital integrado, que se
coordina con un módulo de medición y visualización a bordo. En
unidades más avanzadas, se pueden usar múltiples canales receptores
de pulsos con un grupo de transductores para aumentar la zona de
cobertura para evaluar diferentes profundidades u orientaciones de
fallas, y pueden proporcionar salidas de alarma. En sistemas más
avanzados, los ultrasonidos convencionales se pueden integrar con
codificadores posicionales, controladores y software como parte de un
sistema de imágenes.
Por otro lado, los instrumentos de matrices en fase son multicanal de
forma natural, ya que necesitan proporcionar patrones de excitación
(leyes focales) a las sondas con 16 hasta 256 elementos. A diferencia de
los detectores de fallas convencionales, los sistemas matriciales en fase
pueden barrer un haz de sonido desde una sonda a través de un rango
de ángulos refractados, a lo largo de una trayectoria lineal, o enfocar
dinámicamente a varias profundidades diferentes, aumentando así la
flexibilidad y la capacidad en las instalaciones de inspección.
Olympus Basics of Phased Array Imaging 37

Esta capacidad adicional para generar múltiples rutas de sonido
dentro de una sonda, agrega una poderosa ventaja en la detección y,
naturalmente, agrega la capacidad de "visualizar" una inspección
creando una imagen de la zona de inspección. La formación de
imágenes en matrices en fase proporciona al usuario la capacidad de
ver los cambios relativos punto a punto y las respuestas de defectos
multiangulares, lo que puede ayudar en la discriminación de defectos
y el tamaño. Si bien esto puede parecer intrínsecamente complejo, en
realidad puede simplificar la expansión de la cobertura de inspección
al aumentar la detección al eliminar los accesorios complejos y los
múltiples transductores que a menudo se requieren con los métodos
de inspección de UT convencionales.
Las siguientes secciones explican con más detalle los formatos básicos
para la presentación de datos de matriz convencional y por fases.
3.1 A-Scan Data

Por lo general, todos los instrumentos ultrasónicos registran dos
parámetros fundamentales de un eco: su tamaño (amplitud) y dónde
se produce en el tiempo con respecto a un punto cero (tiempo de
tránsito del pulso). El tiempo de tránsito, a su vez, generalmente se
correlaciona con la profundidad o la distancia del reflector, según la
velocidad del sonido del material de prueba y la siguiente relación
simple:
Distance = Velocity × Time
La presentación más básica de los datos de forma de onda ultrasónica

es en forma de un escaneo A, o pantalla de forma de onda, en la que la
amplitud de eco y el tiempo de tránsito se representan en una
cuadrícula simple con el eje vertical que representa la amplitud y el eje
horizontal que representa el tiempo. El ejemplo de la Figura 3-1
muestra una versión con una forma de onda rectificada; También se
utilizan pantallas RF no rectificadas. La barra roja en la pantalla es una
puerta que selecciona una parte del tren de ondas para el análisis,
generalmente la medición de la amplitud y / o la profundidad del eco.
Figure 3-1 A-scan data
3.2 B-scans de valor único

Otra forma de presentar los datos de A-scan es como un
solo valor de B-scan. Este formato se usa comúnmente con
detectores de defectos convencionales y medidores de espesor
de corrosión para trazar la profundidad de los reflectores
con respecto a su posición lineal. El grosor se grafica en
función del tiempo o la posición, mientras que el
transductor se escanea a lo largo de la parte para
proporcionar su perfil de profundidad. La correlación de los
datos ultrasónicos con la posición real del transductor
permite trazar una vista proporcional y permite la capacidad
de correlacionar y rastrear datos a áreas específicas de la
parte que se está inspeccionando. Este seguimiento de
posición se realiza normalmente mediante el uso de
dispositivos electromecánicos conocidos como codificadores.
Estos codificadores se usan en dispositivos que se escanean
manualmente o en sistemas automatizados que mueven el
transductor mediante un escáner programable controlado por
motor.

En cualquier caso, el codificador registra la ubicación de cada
adquisición de datos con respecto a un patrón de escaneo y resolución
de índice deseados definidos por el usuario.
En el caso que se muestra en la Figura 3-2, la exploración B muestra

dos reflectores profundos y un reflector más plano, correspondientes a
las posiciones de los orificios perforados en el bloque de prueba.
Figure 3-2 B-scan data
3.3 B-scans de sección transversal

Un escaneo B de sección transversal proporciona una vista
detallada del extremo de una pieza de prueba a lo largo de un
solo eje. Esto proporciona más información que el valor B-scan
presentado anteriormente. En lugar de trazar un solo valor medido
desde una región cerrada, la forma de onda de la exploración A
se digitaliza en cada ubicación del transductor. Las exploraciones
A sucesivas se trazan sobre el tiempo transcurrido o las posiciones
reales del transductor codificado para dibujar secciones
transversales de la línea escaneada.
Esto permite al usuario visualizar los reflectores de superficie cercana
y lejana dentro de la muestra. Con esta técnica, los datos completos de
la forma de onda a menudo se almacenan en cada ubicación y se
pueden recuperar de la imagen para una evaluación o verificación
adicional.
Para lograr esto, cada punto digitalizado de la forma de onda se traza
de manera que el color que representa la amplitud de la señal
aparezca a la profundidad adecuada.
Las exploraciones A sucesivas se digitalizan, se relacionan con el color
y se "apilan" en intervalos definidos por el usuario (tiempo
transcurrido o posición) para formar una verdadera imagen de
sección transversal (consulte la Figura 3-3).
Figura 3-3 Escaneo B de corte transversal

3.4 Linear Scans (Exploraciones lineales)
Un sistema de matrices en fase utiliza el escaneo electrónico a lo largo
de una sonda de matrices lineales para crear un perfil de sección
transversal sin mover la sonda. A medida que se secuencia cada ley
focal, el escaneo A asociado se digitaliza y se grafica. Las aperturas
sucesivas se "apilan" creando una vista en vivo de corte transversal.
En la práctica, este barrido electrónico se realiza en tiempo real para
que se pueda ver continuamente una sección transversal en vivo a
medida que la sonda se mueve físicamente. La Figura 3-4 es una
imagen realizada con una sonda de matriz de fase lineal de 64
elementos. En este ejemplo, el usuario programó la ley focal para usar
16 elementos para formar una abertura y secuenció los incrementos
del elemento inicial en uno. Esto dio lugar a 49 formas de onda
individuales que se apilaron para crear una vista en sección
transversal en tiempo real a través de la longitud de 1.5 pulgadas de la
sonda.
Figura 3-4 Exploración lineal de haz normal
También es posible escanear en un ángulo fijo a través de los
elementos (consulte la Figura 3-5). Como se discutió en la sección 5.3,
en la página 69, esto es muy útil para las inspecciones automáticas de
soldadura. Al utilizar una sonda de matriz de fase lineal de 64
elementos con cuña, se pueden generar ondas de corte en un ángulo
definido por el usuario (a menudo 45, 60 o 70 grados). Con la
secuencia de apertura a lo largo de la longitud de la sonda, se pueden
recopilar datos de soldadura volumétricos completos sin aumentar
físicamente la distancia a la línea central de la soldadura mientras se
escanea. Esto proporciona una inspección de un solo paso a lo largo
de la longitud de la soldadura.
Figura 3-5 Exploración lineal del haz de ángulo
3.5 C-Scans
Otra opción de presentación es un C-scan. Un C-scan es una
presentación bidimensional de los datos que se muestran como una
vista superior o plana de una pieza de prueba. Es similar en su
perspectiva gráfica a una imagen de rayos X, donde el color
representa la amplitud o profundidad de la señal activada en cada
punto de la pieza de prueba asignada a su posición. Las imágenes
planas se pueden generar en partes planas al rastrear datos a la
posición X-Y, o en partes cilíndricas al rastrear posiciones axiales y
angulares.

Para la ecografía convencional, se utiliza un escáner mecánico con
codificadores para rastrear las coordenadas del transductor a la
resolución de índice deseada.
Un C-scan de un sistema de matriz en fase es muy similar a uno de

una sonda convencional. Sin embargo, con los sistemas de matrices en
fase, la sonda generalmente se mueve físicamente a lo largo de un eje,
mientras que el haz escanea electrónicamente a lo largo del otro, de
acuerdo con la secuencia de la ley focal. Los datos de amplitud o
profundidad de la señal se recopilan dentro de la región cerrada de
interés, al igual que en las exploraciones C convencionales. En el caso
de matrices en fase, los datos se trazan con cada progresión de ley
focal, utilizando la apertura de haz programada.
La Figura 3-6 es un escaneo C de un bloque de prueba utilizando una
sonda de matriz lineal de 64 elementos y 5 MHz con una cuña de
grado cero. Cada ley focal usa 16 elementos para formar la apertura, y
en cada pulsación los incrementos del elemento de inicio en uno. Esto
da como resultado cuarenta y nueve puntos de datos que se trazan
(horizontalmente en la imagen de la Figura 3-6) a lo largo de los 37
mm (1.5 in.) De longitud de la sonda. A medida que la sonda avanza
en línea recta, aparece una vista de exploración C plana. Los
codificadores se usan normalmente siempre que se debe mantener
una correspondencia geométrica precisa de la imagen escaneada a la
parte, aunque las exploraciones manuales no codificadas también
pueden proporcionar información útil en muchos casos.
Perfil de haz generalizado y Imagen de escaneo C de matriz en fase

dirección de movimiento. que muestra la posición del orificio
Figura 3-6 Datos de C-scan utilizando una sonda de matriz de fase lineal de 64 elementos
Si bien la resolución gráfica puede no ser totalmente equivalente a
un C-scan convencional debido al mayor tamaño efectivo del haz,
existen otras consideraciones. El sistema de matriz en fase es portátil
en el campo, que no lo es el sistema convencional, y cuesta
aproximadamente un tercio del precio. Además, una imagen de
matriz en fase a menudo se puede hacer en unos pocos segundos,
mientras que una exploración de inmersión convencional
generalmente toma varios minutos.
Las sondas matriciales de fase lineal también se usan comúnmente
para realizar inspecciones de ondas de corte refractadas a lo largo de
la longitud de las soldaduras. La Figura 3-7 muestra una sonda de
matriz en fase de 64 elementos de 2.25 MHz montada en una cuña en
ángulo para crear ondas de corte en un ángulo definido por el usuario,
típicamente 45, 60 o 70 grados. Con la sonda colocada perpendicular a
la soldadura, la abertura se puede secuenciar a lo largo de la longitud
de la sonda. Esto permite efectivamente que la onda de corte
refractada se mueva a través del volumen de la soldadura sin
movimiento mecánico de la sonda desde la línea central de la
soldadura. Se pueden presentar datos volumétricos completos
deslizando la sonda paralelamente a la línea de soldadura. Usando un
codificador, los datos se pueden trazar en un formato similar a la
exploración C, donde la amplitud del reflector se traza en función de
la posición de apertura (eje Y) y la distancia recorrida a lo largo de la
soldadura (eje X). Este formato de escaneo a menudo se denomina
"escaneo de una línea". Para obtener resultados repetibles, se sugiere
un escáner mecánico. En la Figura 3-7, una reflexión desde el fondo de
la soldadura sin tierra se traza a lo largo de toda la longitud de la
soldadura en la parte superior de la imagen. La exploración A y los
cursores marcan una gran indicación de un área de la soldadura con
falta de fusión de la pared lateral.
Figura 3-7 Exploración de una línea para la inspección de soldaduras utilizando

una sonda codificada de 2.25 MHz de 64 elementos dirigida a 60 grados

3.6 S-Scans
De todos los modos de imagen analizados hasta ahora, el S-scan es
exclusivo del equipo de matriz en fase. En una exploración lineal,
todas las leyes focales emplean un ángulo fijo con aperturas de
secuencia. Las exploraciones S, por otro lado, utilizan aberturas fijas y
se dirigen a través de una secuencia de ángulos.
Normalmente se utilizan dos formas principales. El más familiar, muy
común en imágenes médicas, utiliza una cuña de interfaz de grado
cero para dirigir las ondas longitudinales, creando una imagen en
forma de pastel que muestra defectos laminares y ligeramente
angulosos (consulte la Figura 3-8).
Figure 3-8 –30° to +30° S-scan
El segundo formato emplea una cuña de plástico para aumentar el

ángulo del haz incidente para generar ondas de corte, más
comúnmente en el rango de ángulo refractado de 30 a 70 grados.
Esta técnica es similar a una inspección de haz de ángulo
convencional, excepto que el haz se desplaza a través de un rango de
ángulos en lugar de un solo ángulo fijo determinado por una cuña. Al
igual que con la exploración sectorial lineal, la presentación de la
imagen es una imagen en sección transversal del área inspeccionada
de la pieza de prueba (consulte la Figura 3-9).
Figure 3-9 +35° to +70° S-scan

La generación de imagen real funciona según el mismo principio de
A-scan apilado que se trató en el contexto de los scanners lineales
presentados en la sección anterior. El usuario define la resolución de
inicio, fin y paso del ángulo para generar la imagen de S-scan.
Observe que la apertura permanece constante, cada ángulo definido
genera un haz correspondiente con características definidas por
apertura, frecuencia, amortiguación y similares. La respuesta de la
forma de onda de cada ángulo (ley focal) se digitaliza, se codifica con
colores y se traza en el ángulo correspondiente, construyendo una
imagen de sección transversal.
En realidad, la S-scan se produce en tiempo real para ofrecer
continuamente imágenes dinámicas con movimiento de sonda. Esto
es muy útil para la visualización de defectos y aumenta la
probabilidad de detección, especialmente con respecto a los defectos
orientados al azar, ya que se pueden usar muchos ángulos de
inspección al mismo tiempo.

3.7 Formatos de imagen combinados
Las imágenes de matriz en fase son poderosas en su capacidad para
proporcionar visualización en tiempo real de datos volumétricos. A
través del proceso de escaneo electrónico, las imágenes realmente se
convierten en tiempo real y se usan en sistemas manuales y
automatizados para aumentar la probabilidad de detección.
Especialmente en los instrumentos de matriz en fase automatizados y
con mayor capacidad, la capacidad de mostrar múltiples tipos de
imágenes y almacenar información completa de forma de onda sin
procesar para la inspección completa, permite el análisis posterior a la
exploración de los resultados de la inspección. Debido a que todos los
datos de la forma de onda ultrasónica se recopilan, este análisis
posterior permite la reconstrucción de exploraciones sectoriales,
exploraciones C y / o exploraciones B con la información de
exploración A correspondiente en cualquier ubicación de inspección.
Por ejemplo, la pantalla de la Figura 3-10 muestra simultáneamente la
forma de onda de escaneo A rectificada, un escaneo sectorial y una
imagen de escaneo C planar del perfil de soldadura.
Figura 3-10 Visualización de múltiples tipos de imágenes
3.8 Velocidad de escaneo y adquisición de datos

Al generar exploraciones B o exploraciones C, una sonda de
matriz en fase se puede mover a mano o mediante un
dispositivo de exploración automatizada. En cualquier caso, la
adquisición de datos puede ejecutarse libremente basándose
únicamente en la tasa de actualización del instrumento, o
correlacionarse con la posición de la sonda mediante el uso
de codificadores electromecánicos. Como se indicó
anteriormente, la correlación de los datos ultrasónicos con la
posición real de la sonda permite trazar una vista
proporcional y los datos se pueden ajustar a áreas específicas
de la parte que se está inspeccionando. El codificador registra
la ubicación de cada adquisición de datos con respecto a un
patrón de escaneo y resolución de índice deseados definidos
por el usuario.
Para evitar brechas en la adquisición de datos, es importante
considerar la velocidad a la que se mueve la sonda y la resolución de
la distancia del codificador. En resumen, la velocidad de adquisición
de datos del instrumento debe ser mayor que la velocidad de
exploración, dividida por la resolución del codificador. La tasa de
adquisición está determinada por el diseño y la configuración del
instrumento, lo más importante por la frecuencia de repetición del
pulso (PRF) y por el número de leyes focales que se generan para cada
adquisición, ambas de las cuales son variables de configuración. La
PRF dividida por el número de leyes focales representa la tasa de
adquisición más rápida posible para un sistema de matriz en fase. Sin
embargo, ese número puede ajustarse aún más por factores como el
promedio, la tasa de muestreo digital y el tiempo de procesamiento.
Consulte al fabricante del instrumento para más detalles.
Una vez que se ha establecido la velocidad de adquisición, la
velocidad de escaneo máxima se puede calcular en función de la
resolución del codificador deseada, o viceversa. El efecto de una
velocidad de escaneo excesiva para una resolución de codificador
dada se puede ver en las imágenes de escaneo en la Figura 3-11.
IMPORTANT
Scanning speed
1. Tasa de adquisición > -----------------------------------------------
-
Resolución del eje de escaneo
2. Si se establece el mismo PRF para todas las exploraciones A,

entonces:
Recurrence
Tasa de adquisición < ----------------------------------------------------
Número de leyes focales
velocidad de escaneo
Tasa de adquisición >
resoluciones del codificador
20 mm/s 10 mm/s
Figura 3-11 Ejemplo de la influencia de la velocidad de escaneo en la tasa de

adquisición

4. Instrumentación Phased Array
Existe una amplia variedad de sondas de matriz en fase disponibles

comercialmente. Si bien la sonda de matriz lineal es sin duda la
configuración más utilizada, también están disponibles las sondas
personalizadas con altos recuentos de elementos y ubicaciones de
elementos variables. A menudo están diseñados para satisfacer las
exigentes necesidades de las aplicaciones que requieren alta
velocidad, cobertura volumétrica completa y / o dirección de haz
complejo. Para satisfacer estas necesidades, existen diversos niveles de
instrumentación de matrices en fase disponibles en el mercado en tres
clasificaciones generales: manual portátil de campo, automatizado
portátil de campo e instrumentos de rack para inspección en línea.
4.1 Especificaciones importantes

Al evaluar los detectores de fallas convencionales, a menudo se
especifican una serie de características funcionales. Estas
características son generalmente compartidas con instrumentos de
matriz en fase. No todos los artículos enumerados a continuación
están disponibles en todos los instrumentos.
Pulsador y receptor
Parámetros que definen en gran medida el rango de operación de los
transductores que se pueden usar con el instrumento
Pulsador Receptor
Pico pulser disponible Ancho de banda total
Pulsador de onda cuadrada disponible Filtros de banda estrecha disponibles
Frecuencia de repetición del pulsador Ganancia de tiempo variado
Rango dinámico general
Medición y visualización.
Parámetros que definen los modos generales de medición y
visualización de un instrumento:
• Número de puertas de alarma / medición
Olympus Phased Array Instrumentation 51

• Modos de visualización de escaneo A: rectificación (RF, onda
completa, media onda), máximo, compuesto, promediado, hueco,
lleno y memoria de pico
• Range
• Resolución de la medida
• Tipos de medición (es decir, trayectoria del sonido, profundidad,
distancia desde el frente de la sonda, dB, dB a la curva, etc.)
• Modo de escaneo B de valor único (no disponible en la mayoría de los
detectores de fallas)
Opciones de tamaño
Se han desarrollado una variedad de estándares y códigos de
detección de fallas, que se encuentran en la práctica para dimensionar
una variedad de defectos utilizando ultrasonidos convencionales.
Estos se aplican a la inspección de soldaduras, así como a una variedad
de estructuras metálicas y compuestas. Ciertas inspecciones requieren
que se siga un código específico. Como resultado, ahora hay
disponible una amplia variedad de herramientas en los detectores de
fallas digitales convencionales para automatizar la adquisición de
datos y registrar los resultados de las pruebas según lo exigen los
códigos.
Entradas y salidas
Las entradas y salidas generalmente definen cómo se puede usar el
instrumento con dispositivos externos y / o software:
• Número y tipo de salidas de alarma.

• USB para imprimir, guardar o transferir datos
• Disponibilidad de entradas de encoder para vincular datos a posición
• Entrada de activación para el control externo del ciclo de encendido
y adquisición de pulsadores
Especificaciones adicionales de matrices en fase

Debido a la naturaleza multielemento de los instrumentos de matriz
en fase, existen especificaciones clave adicionales que requieren
mayor consideración y revisión.
Número de pulsadores. Define el número máximo de elementos que
se pueden agrupar para formar una apertura activa o apertura de
sonda virtual.
Número de canales. Define el número total de canales que se pueden
usar para secuenciar aberturas que conducen al aumento potencial en
la cobertura desde una única huella de la sonda.
XX: YY. Se utilizó la convención de nomenclatura, donde XX =
número de pulsadores e YY = número total de canales disponibles. El
número de canales es siempre mayor o igual al número de
pulsadores. Los instrumentos de 16:16 a 32: 128 están disponibles en
empaques portátiles de campo. Las combinaciones más altas de
pulsadores y receptores están disponibles para inspecciones en línea
y / o sistemas que utilizan sondas de mayor número de elementos.
Leyes focales. El número de leyes focales que se pueden combinar
para formar una imagen a menudo se especifica.
En general, las configuraciones superiores XX: YY pueden admitir más
leyes focales, ya que admiten aperturas de elementos mayores y / o
más pasos de apertura en el escaneo lineal. Tenga en cuenta que más
leyes focales no siempre significa más funcionalidad. Tome el
siguiente ejemplo: una sonda de 64 elementos que realiza una
exploración sectorial de 40 a 70 grados de tres orificios perforados en
los lados, comparando la dirección con pasos de 1 grado (31 leyes), 2
grados (16 leyes) y 4 grados (8 leyes) sobre una trayectoria de metal de
2 pulg. (50 mm) (consulte la Figura 4-1, la Figura 4-2 y la Figura 4-3).
Si bien la imagen está ligeramente mejor definida con incrementos de
ángulo más finos, la detección con una resolución más basta es
adecuada. A menos que el diámetro del haz se reduzca drásticamente
con el enfoque, el tamaño de las imágenes tampoco cambia
dramáticamente.
Figura 4-1 40 a 70 grados S-scan: Dirección con pasos de 1 grado (31 leyes).

Figura 4-2 40 a 70 grados S-scan: Dirección con pasos de 2 grados (16 leyes).
Figura 4-3 40 a 70 grados S-scan: Dirección con pasos de 4 grados (8 leyes).
La Tabla 4-1 muestra ejemplos de la cantidad de leyes focales
requeridas para realizar exploraciones lineales con combinaciones
variables de aperturas de sondas virtuales y conteos totales de
elementos.
Tabla 4-1 Número de elementos y leyes focales requeridas para las exploraciones
lineales
Escaneo lineal
Abertura Elementos totales Paso del elemento Numero de
leyes
4 16 1 13
8 16 1 9
4 32 1 29
8 32 1 25
16 32 1 17
4 64 1 61
8 64 1 57
16 64 1 49
8 128 1 121
16 128 1 113
8 256 1 249
16 256 1 241
Se puede ver que a medida que la apertura se hace más pequeña, o el

número de elementos aumenta, aumenta el número de leyes focales
requeridas por exploración. Esto tendrá un efecto en la tasa de
actualización de la pantalla como se calcula a continuación.
PRF / Mostrar tasa de actualización. Los instrumentos pueden variar

mucho en la actualización de la pantalla en varios modos de imagen.
Para los modos de imágenes de matrices en fase:
Velocidad máxima de visualización de imágenes = -------------------------PRF--------------------------

Número de leyes focales
En la Figura 4-4 se muestra un ejemplo de una secuencia de
exploración lineal reducida de ley focal con una actualización de
visualización de imagen de 60 Hz, para la conceptualización.

Ley focal 1 Ley focal 2 Ley focal 3 Ley focal 4 Ley focal 1
150 ns 150 ns 150 ns 150 ns 150 ns
4.15 ms 8.30 ms 12.45 ms 16.6 ms
PRF = 240 Hz PRF = 240 Hz PRF = 240 Hz PRF = 240 Hz
Actualización de visualización de imagen= 60 Hz

Figura 4-4 Ejemplo de una secuencia de exploración lineal reducida de cuatro leyes focales
La velocidad de visualización de la imagen real puede verse afectada
por otros parámetros. La frecuencia de actualización de A-scan de
una ley focal única varía entre los instrumentos. En algunos
instrumentos, la frecuencia de PRF del escaneo A está limitada por la
actualización máxima de visualización de la imagen, ya sea que se
muestre con la imagen de la matriz en fase o incluso cuando se
maximiza a un escaneo A completo. Por esta razón, en algunas
aplicaciones puede ser importante verificar el PRF de escaneo A
cuando se deriva de una secuencia de ley focal en varios modos de
visualización de imágenes.
Reconocimiento de la sonda. La capacidad de reconocer sondas
matriciales en fase reduce el tiempo de configuración del operador y
los posibles errores al configurar automáticamente la configuración de
un instrumento con el número adecuado de elementos y la geometría
de la sonda.
Tipos de imágenes. Las exploraciones sectoriales y lineales suelen
estar disponibles en instrumentos de matriz en fase. La capacidad de
apilar estos modos de imagen para crear exploraciones C de amplitud
y profundidad, permite que se formen imágenes planas y proporciona
medios expandidos para dimensionar defectos.
Almacenamiento de forma de onda. La capacidad de almacenar
formas de onda de RF sin procesar permite que los datos se revisen
fuera de línea. Esto es particularmente útil cuando se recopilan datos
en un área grande.
Soporte multigrupo. Los instrumentos de matriz en fase más
capacitados permiten la secuenciación de múltiples grupos de leyes
focales en una o más sondas conectadas. Esto es especialmente útil en
los casos en los que es importante recopilar datos volumétricos que
deben analizarse fuera de línea. Por ejemplo, una sonda de 5 MHz y
64 elementos puede programarse para usar los elementos 1–16 para
una exploración S de 40 a 70 grados, mientras que un segundo grupo
puede usarse para realizar una exploración lineal de 60 grados con
una apertura de 16 elementos , pasando por un elemento sobre la
longitud total de 64 elementos.
Codificación. Hay dos clases de instrumentos generalmente
disponibles: manual y codificado.
Un instrumento de matriz de fase manual funciona de manera muy
similar a un detector de fallas convencional, ya que proporciona datos
en tiempo real. Junto con un A-scan, el instrumento también muestra
imágenes de S-scan o de escaneo lineal en tiempo real, que pueden
ayudar en la detección y análisis de discontinuidad. La capacidad de
usar y visualizar más de un ángulo o posición a la vez en una prueba
es la razón principal para usar este tipo de instrumento. En algunos
casos, como el tamaño de la grieta, la imagen se puede usar como una
herramienta para ayudar a medir la profundidad de la grieta.
Un instrumento de matriz en fase con una interfaz de codificador
combina los datos posicionales de la sonda, la geometría de la sonda y
las secuencias programadas de ley focal para permitir imágenes de la
muestra de prueba en la parte superior, final y lateral. En los
instrumentos que también almacenan datos completos de forma de
onda, las imágenes se pueden reconstruir para proporcionar vistas en
sección transversal a lo largo de la exploración o regenerar
exploraciones C planas en varios niveles. Estas imágenes codificadas
permiten el dimensionamiento plano de defectos.
Cursores de referencia. Los instrumentos proporcionan varios
cursores que se pueden usar en una imagen como ayuda para la
interpretación, el tamaño y la medición de profundidad. En un S-scan,
es posible usar cursores para medir la altura de la grieta. Se puede
medir un tamaño de defecto aproximado utilizando conjuntos de
datos codificados. Las imágenes que siguen muestran algunos
ejemplos de cursores disponibles.
En la pantalla más simple a continuación (Figura 4-5), el cursor azul
muestra el componente angular de la exploración S que está
representada por la exploración A, las líneas rojas horizontales marcan
el comienzo y el final de la puerta de datos utilizada para la medición,
y la línea verde vertical marca la posición en la imagen que
corresponde a la parte frontal de la cuña. Este último se usa
comúnmente como punto de referencia para calcular la ubicación del
reflector, teniendo en cuenta que los reflectores cercanos a la
superficie podrían ubicarse debajo de la cuña, ya que el punto de
índice de haz exacto (BIP) para una sonda de matriz en fase varía con
el ángulo y / o el grupo de apertura.

Figura 4-5 Cursor angular
La imagen S-scan en la Figura 4-6 incluye cursores horizontales que

representan el final de las rutas de sonido del primer y segundo tramo
en el material de prueba. También muestra los cursores angulares que
marcan los tres ángulos de prueba más comunes de 45, 60 y 70
grados. Además, el escaneo A está marcado con un cursor vertical en
el punto de amplitud del 80% que se usa comúnmente como nivel de
referencia.
Figura 4-6 Cursores angulares y horizontales
El software interpretativo avanzado mejora aún más la visualización y

el análisis. La pantalla de la Figura 4-7 muestra un escaneo A de
ángulo único, un escaneo S, un diagrama de trazado de rayos con una
superposición de soldadura que muestra la posición de los reflectores
dentro de una soldadura, y un cuadro de resumen que muestra la
posición calculada y la medida Amplitud de cada indicación.
Figura 4-7 Formatos de visualización múltiple
4.2 Métodos de calibración y normalización.

Calibración cero. Debido a que el retardo de cuña varía con el ángulo
en un sistema de matriz en fase, es necesario variar el desplazamiento
del cero de la sonda a través de los ángulos. Por lo general, los perfiles
de cero predeterminados basados en la geometría de cuña se
programan en el software del instrumento, pero estos perfiles
predeterminados pueden ajustarse para una mayor precisión a través
de un procedimiento de calibración al barrer el haz a través de un
reflector de referencia a una profundidad o distancia fijas.
Gana la normalización. Debido a que la formación del haz se basa en
diversos retrasos y grupos de elementos, es importante normalizar la
respuesta de amplitud de cada ley focal para compensar las
variaciones de sensibilidad tanto de elemento a elemento en la sonda
de matriz como para la atenuación variable de la cuña y la eficiencia
de transferencia de energía a diferentes refractados anglos. La
calibración del retardo de cuña y la sensibilidad en toda la secuencia
de inspección no solo proporciona una visualización más clara de la
imagen, sino que también permite la medición y el tamaño desde
cualquier ley focal. Los instrumentos de prueba no destructivos de
Olympus ofrecen una calibración completa, mientras que muchos
otros instrumentos en la industria solo pueden calibrar una ley focal a
la vez. Los instrumentos Olympus proporcionan una Ganancia de
Corrección de Ángulo (ACG) completa y una Ganancia de Corrección
de Tiempo (TCG), según lo requiere la Sección V de ASME.
En el ejemplo de la Figura 4-8, antes de ganar la normalización, la
respuesta de un reflector de referencia a 65 grados, es
significativamente más baja que desde el mismo reflector a 45 grados.

Figura 4-8 Respuesta antes de ganar la normalización
Después de la normalización, el instrumento ajusta la ganancia de

referencia para igualar la respuesta del orificio de referencia en todos
los ángulos, como se muestra en la Figura 4-9.
Figura 4-9 Respuesta siguiendo la normalización de ganancia
TVG / DAC para matrices en fase. Para defectos de tamaño, son

comunes las técnicas de amplitud de exploración A que utilizan
curvas DAC o ganancia corregida en el tiempo. Estos métodos
explican los efectos de atenuación del material y la propagación
del haz al compensar los niveles de ganancia (TVG / TCG) o al
dibujar una curva DAC de referencia basada en la respuesta del
reflector del mismo tamaño en función de la distancia.

Al igual que en las calibraciones de sensibilidad UT convencionales,
algunos instrumentos de matriz en fase permiten que se construya
una curva TVG en múltiples puntos sobre todas las leyes focales
definidas. En estos instrumentos, la vista se puede cambiar de TVG a
DAC en cualquier momento. Esto permite el uso de curvas de tamaño
en diferentes ángulos en el caso de las exploraciones S o en cualquier
apertura virtual en exploraciones lineales. Con TCG / TVG aplicado, la
detección y visualización de defectos en todo el volumen de la pieza
se mejora considerablemente.
5. Configuración de prueba de matriz
de fase y formato de pantalla
Este capítulo proporciona información adicional sobre cómo se

construyen las imágenes de matriz en fase. En particular, explica con
más detalle las entradas requeridas y las relaciones de los distintos
tipos de pantallas de arreglo en fase con respecto al conjunto de sonda
real y la parte que se inspecciona. El capítulo también explica las
vistas de A-scan típicamente disponibles asociadas con la imagen de
matriz en fase.
5.1 Consideraciones de configuración del

instrumento
Figura 5-1 Inspección típica de matrices en fase mediante OmniScan
Como se mencionó anteriormente, hay muchos factores que deben

identificarse para realizar correctamente cualquier inspección
ultrasónica. En resumen, hay características específicas del material y
características del transductor necesarias para calibrar el instrumento
para una inspección adecuada.
Olympus Phased Array Test Setup and Display Format 63

Material
1. La velocidad del material que se está inspeccionando debe
establecerse para medir correctamente la profundidad. Se debe
tener cuidado para seleccionar el modo de velocidad adecuado
(longitudinal o cortante). Las pruebas de haz recto compresivo
generalmente usan ondas longitudinales, mientras que las
inspecciones de haz de ángulo con mayor frecuencia usan
propagación de onda cortante.
2. La información del grosor de la pieza se suele introducir. Esto es
particularmente útil en las inspecciones de haz de ángulo. Permite
la medición de profundidad adecuada en relación con el número de
pata en aplicaciones de haz de ángulo. Esto también permite
marcadores de posición correcta en S-scans.
3. Se debe considerar el radio de curvatura al inspeccionar partes no
planas. Esta curvatura puede explicarse algorítmicamente para
realizar mediciones de profundidad más precisas.
Sonda
1. Se debe conocer la frecuencia para permitir los parámetros de
pulsador y la configuración del filtro del receptor adecuados.
2. La compensación de cero debe establecerse para compensar los
retrasos eléctricos y mecánicos resultantes del acoplamiento, la
capa de adaptación, el cableado y los retrasos inducidos por
medios electrónicos para obtener lecturas de grosor adecuadas.
3. La respuesta de amplitud de los reflectores conocidos debe
configurarse y estar disponible como referencia para utilizar
técnicas comunes de dimensionamiento de amplitud.
4. Ángulo de entrada del haz de sonido en el material a inspeccionar.
5. Para las sondas matriciales por fases, es necesario conocer la
cantidad de elementos y el tono.
Cuña
1. Velocidad de propagación del sonido a través de la cuña.
2. Angulo incidente de la cuña.
3. Punto de índice de haz o frente de referencia de la sonda.
4. Desplazamiento de la altura del primer elemento para la matriz en fase.
En las pruebas ultrasónicas convencionales, todos los pasos anteriores

se deben tomar antes de la inspección para lograr los resultados
adecuados. Debido a que una sonda de un solo elemento tiene una
apertura fija, la selección del ángulo de entrada, el desplazamiento
cero y la calibración de amplitud son específicos de un solo
transductor o combinación de transductor / cuña. Cada vez que se
cambia un transductor o su cuña, se debe realizar una nueva
calibración.
Usando sondas matriciales en fase, el usuario debe seguir estos
mismos principios. La principal ventaja de las pruebas de matrices
en fase es la capacidad de cambiar la apertura, el enfoque y / o el
ángulo dinámicamente, permitiendo esencialmente el uso de varias
sondas a la vez. Esto imparte el requisito adicional de extender los
requisitos de calibración y configuración a cada estado de sonda de
matriz en fase (comúnmente denominada ley focal).
Esto no solo permite mediciones precisas de amplitud y profundidad
en toda la secuencia focal programada, sino que también proporciona
una visualización precisa y mejorada a través de las imágenes que
producen los instrumentos de matriz en fase.
Una de las principales diferencias entre las inspecciones de matrices
convencionales y por fases, se produce en las inspecciones de haz
angular. Con la UT convencional, la entrada de un ángulo de cuña o
velocidad de material inadecuados causará errores en la localización
del defecto, pero la propagación de la onda básica (y, por lo tanto, la
exploración A resultante) no se ve afectada, ya que se basa únicamente
en la refracción mecánica. Sin embargo, para el conjunto de fases, se
requieren velocidades adecuadas de material y cuña, junto con
entradas de parámetros de sonda y cuña, para llegar a las leyes focales
adecuadas para dirigir electrónicamente a través de los ángulos
refractados deseados y para crear imágenes sensibles. En instrumentos
más capaces, las utilidades de reconocimiento de la sonda transfieren
automáticamente información crítica de la sonda de matriz en fase y
utilizan bibliotecas de configuración bien organizadas para
administrar la selección del usuario de los parámetros de cuña
correctos.
Normalmente, se deben ingresar los siguientes valores para

programar un análisis de matriz en fases:
Parámetros de la sonda
• Frecuencia
• Ancho de banda
• tamaño
• Numero de elementos
• Paso del elemento
Parámetros de cuña
• Angulo de incidencia de la cuña.
• Velocidad nominal de la cuña.
• Desplazamiento Z = altura al centro del primer elemento
• Índice de desplazamiento X = distancia desde el frente de la cuña
al primer elemento
• Escanear desplazamiento Y = distancia desde el lado de la cuña al
centro de los elementos
offset x
offset y
velocity
offset z
angle
Figure 5-2 Wedge parameters

Configuración de la ley focal
El instrumento debe tener la configuración básica de la sonda y la
cuña introducidas, ya sea manualmente o mediante el reconocimiento
automático de la sonda. Junto con las configuraciones típicas de UT
para la configuración de pulsador, receptor y compuerta de medición,
el usuario también debe configurar el haz de la sonda y los valores de
la dirección electrónica (ley focal).
Required user inputs
• Velocidad del material
• Cantidad de elementos (el número de elementos utilizados para
formar la abertura de la sonda)
• Selección del número total de elementos que se utilizarán para
configurar la apertura de la sonda
• Paso del elemento (define cómo se mueve la abertura definida a
través de la sonda) para exploraciones lineales
• Profundidad de enfoque deseada, que debe establecerse menos que la
longitud del campo cercano (N) para crear efectivamente un enfoque
• Ángulo (s) de inspección
Para S-scans, este parámetro se expande en tres configuraciones:
– El primer ángulo del escaneo.
– El último ángulo de la exploración.
– El incremento en el cual los ángulos deben ser escalonados.
5.2 Escaneo lineal de haz normal

Los escaneos lineales de haz normal son generalmente fáciles de
conceptualizar en una pantalla porque la imagen de escaneo
típicamente representa una simple vista en sección transversal de la
pieza de prueba. Como se describe en el capítulo 3, un sistema
matricial en fase utiliza el escaneo electrónico a lo largo de una sonda
de matriz lineal para crear un perfil de sección transversal sin mover
la sonda. A medida que se secuencia cada ley focal, el escaneo A
asociado se digitaliza y se grafica. Las aperturas sucesivas se "apilan",
lo que crea una vista en vivo de la sección transversal. El efecto es
similar a una presentación de B-scan creada al mover un transductor
convencional de un solo elemento a través de una pieza de prueba y
almacenar datos a intervalos seleccionados. Para obtener todas las
ventajas de la exploración de matrices lineales, normalmente se utiliza
un mínimo de 32 elementos. Incluso es más común utilizar 64
elementos. Más elementos permiten que se abran grandes aberturas a
través de la sonda, lo que brinda mayor sensibilidad, mayor
capacidad de enfoque y un área de inspección más amplia.
En la práctica, este barrido electrónico se realiza en tiempo real, por
lo que se puede ver continuamente una sección transversal en vivo
mientras se mueve físicamente la sonda. La sección transversal real
representa la verdadera profundidad de los reflectores en el
material, así como la posición real, típicamente relacionada con la
parte frontal del conjunto de la sonda. La Figura 5-3 es una imagen
de orificios en un bloque de prueba hecho con una sonda de matriz
en fase lineal de 5L64-A2, 64 elementos, 5 MHz. La sonda tiene un
paso de 0,6 mm.
En este ejemplo, el usuario programó la ley focal para usar 16
elementos para formar una abertura y secuenció los incrementos del
elemento inicial en uno. Por lo tanto, la apertura 1 consta de los
elementos 1 a 16, la apertura 2 consta de los elementos 2 a 17, la
apertura 3 consta de los elementos 3 a 18 y así sucesivamente. Esto da
como resultado 49 formas de onda individuales que se apilan para
crear una vista de corte transversal en tiempo real a lo largo de la
longitud de la sonda.
Figura 5-3 Escaneo lineal de haz normal
El resultado es una imagen que muestra claramente la posición

relativa de los tres orificios dentro del área de escaneo (consulte la
Figura 5-4). La imagen se muestra junto con la forma de onda de
escaneo A desde una única apertura seleccionada, en este caso, la
apertura número 30 de 49, formada por los elementos 30–46, marcada
por el cursor azul controlado por el usuario. Este es el punto donde la
viga se cruza con el segundo agujero.

Figura 5-4 Exploración lineal de haz normal
La escala vertical en el borde izquierdo de la pantalla indica la

profundidad o la distancia al reflector representado por un pico
determinado en el A-scan. La escala horizontal de la exploración A indica
la amplitud de eco relativa. La escala horizontal debajo de la imagen de
exploración lineal muestra la posición del reflector con respecto al borde
anterior de la sonda, mientras que la escala de color en el borde derecho
de la pantalla relaciona el color de la imagen con la amplitud de la señal.
Alternativamente, el instrumento puede configurarse para mostrar
una exploración A de “todas las leyes”, que es una imagen compuesta
de las formas de onda de todas las aberturas. En este caso, la
exploración A incluye las indicaciones de los cuatro orificios dentro de
la región cerrada. Este es un modo particularmente útil en
inspecciones de grado cero, aunque también puede ser confuso
cuando se trabaja con geometrías complejas que producen numerosos
ecos. En el ejemplo de la Figura 5-5, la pantalla muestra una
exploración A de “todas las leyes” en la que se suman las señales de
todas las aberturas, lo que muestra las tres indicaciones de los orificios
simultáneamente.
Figura 5-5 Imagen de exploración lineal de haz normal con todas las leyes A-scan
Otro modo de fuente de A-scan en algunos instrumentos más
avanzados permite que el A-scan se obtenga de la primera o máxima
señal dentro de la región cerrada.
5.3 Escáneres lineales de vigas angulares

Un escaneo lineal también se puede programar en un ángulo fijo,
como el haz de un transductor de haz de ángulo simple de un
elemento. Este haz de un solo ángulo explora la longitud de la sonda,
lo que permite al usuario probar un mayor volumen de material sin
mover la sonda (Figura 5-6). Esto puede reducir el tiempo de
inspección, especialmente en aplicaciones de escaneo de soldaduras,
donde se puede probar todo el volumen de la soldadura con una
sonda a una distancia de separación fija.
Active group
16
1 128
Scanning direction
Figura 5-6 Escaneo de haz de ángulo único a lo largo de la sonda
En el ejemplo de la Figura 5-7, la viga está barriendo la pieza de

prueba en un ángulo de 45 grados, interceptando cada uno de los tres
orificios a medida que se mueve (arriba). El punto de índice del haz
(BIP), el punto en el que la energía del sonido sale de la cuña, también
se mueve de izquierda a derecha en cada secuencia de exploración. La
pantalla A-scan, en cualquier momento dado, representa el patrón de
eco de una apertura dada, mientras que la S-scan muestra la vista
sumada de todas las posiciones del haz (parte inferior).

Figura 5-7 Escaneo lineal de haz angular (arriba), con escaneo A y pantalla
de escaneo lineal (abajo)
En cualquier escaneo de ángulo que no involucre materiales muy

gruesos, también es necesario considerar la posición real de los
reflectores que caen más allá de la primera pata, el punto en el cual el
haz se refleja primero desde la parte inferior de la pieza de prueba.
Esto suele ser un factor en las pruebas que involucran tuberías o
placas típicas. En el caso de la Figura 5-8, a medida que la viga se
escanea de izquierda a derecha, el componente de la viga desde el
centro de la sonda se refleja en la parte inferior de la placa de acero y
golpea el orificio de referencia en la segunda pata.
Figura 5-8 Medición al reflector de la segunda pierna
La visualización de la pantalla se ha configurado para mostrar,

mediante los cursores horizontales de puntos, las posiciones del final
del primer tramo y el final del segundo tramo en la imagen. Por lo
tanto, esta indicación de orificio, que cae entre los dos cursores
horizontales, se identifica como si estuviera en la segunda pata de
viga. Tenga en cuenta que la escala de profundidad en el borde
izquierdo de la pantalla es precisa solo para el primer tramo. Para
usar la escala más allá de eso, sería necesario restar el grosor de la
pieza de prueba (en este caso, 25 mm) para determinar la profundidad
de los indicadores de la segunda pata, o el doble del grosor de la pieza
de prueba para los indicadores de la tercera pata. La mayoría de los
instrumentos pueden hacer esto automáticamente y mostrar el
resultado, como se indica en el capítulo 4.

5.4 Ejemplos de pantalla S-Scan
En el caso de las exploraciones S, la interpretación puede ser más
compleja debido a la posibilidad de múltiples señales de pierna que se
han reflejado en la parte inferior y superior de la pieza de prueba. En
la primera pata (la parte de la ruta del sonido entre el punto de
entrada y el primer rebote en la parte inferior de la parte), la pantalla
es una simple vista en sección transversal de un segmento en forma de
cuña de la pieza de prueba. Sin embargo, más allá de la primera etapa,
la pantalla requiere una interpretación más cuidadosa, como también
lo hace cuando se usa un detector de fallas convencional.
Un detector de fallas convencional, usado con conjuntos de haz de
ángulo común, muestra una exploración A de ángulo único. Los
instrumentos digitales modernos utilizan el cálculo trigonométrico
basado en las longitudes de trayectoria de sonido medidas y los
espesores de piezas programados para calcular la profundidad del
reflector y la distancia de la superficie. La geometría de la pieza puede
crear indicaciones simultáneas de ida y vuelta en la pantalla, como se
ve aquí en la Figura 5-9 con un transductor de 5 MHz y una cuña de
45 grados. En este caso, una parte de la viga se refleja en la muesca en
la parte inferior de la parte y una parte se refleja hacia arriba y desde
la esquina superior izquierda del bloque. Los indicadores de la pierna
y las calculadoras de distancia pueden utilizarse para confirmar la
posición de un reflector (consulte la Figura 5-10).
Figura 5-9 Prueba de haz de ángulo convencional
La indicación de la primera etapa es un gran reflejo de la muesca en la

parte inferior del bloque de prueba. En la Figura 5-10, el indicador de
profundidad (esquina superior izquierda de la imagen de la pantalla)
muestra un valor correspondiente a la parte inferior de un bloque de
25 mm de espesor, y el indicador de pierna (esquina inferior derecha
de la imagen de la pantalla) muestra que esto es un Señal de ida.
Figura 5-10 Indicación de ida
La indicación de la segunda etapa es un pequeño reflejo de la esquina
superior del bloque. En la Figura 5-11, el indicador de profundidad
muestra un valor correspondiente a la parte superior de un bloque de
25 mm de grosor, y el indicador de pata muestra que se trata de una
señal de segunda pata. (La ligera variación en las mediciones de
profundidad y distancia de la superficie respecto a los valores
nominales esperados de 0 mm y 50 mm respectivamente, se debe a los
efectos de propagación del haz).
Figura 5-11 Indicación de la segunda etapa
Cuando se realiza la misma prueba con un conjunto de sondas de

matriz en fase de 5 MHz que escanea de 40 a 70 grados, la pantalla
muestra una exploración S que se traza desde el rango de ángulos,
mientras que la exploración A adjunta típicamente representa una
componente angular seleccionada de el escaneo

El cálculo trigonométrico utiliza la longitud de la trayectoria del
sonido medida y el grosor de la parte programada para calcular la
profundidad del reflector y la distancia de la superficie en cada
ángulo. En este tipo de prueba, la geometría de la pieza puede crear
en la pantalla indicaciones simultáneas para la primera y la segunda,
así como múltiples reflectores desde un solo ángulo. Los indicadores
de patas en forma de líneas horizontales superpuestas en la forma de
onda y la imagen segmentan la pantalla en las regiones del primer,
segundo y tercer tramo, mientras que las calculadoras de distancia
ayudan a confirmar la posición de un reflector.
En la Figura 5-12, la Figura 5-13 y la Figura 5-14 en los ejemplos de S-

scan, vemos tres indicaciones desde una única posición de la sonda a
medida que el haz barre a través de un escaneo de 40 a 70 grados. El
componente de haz de 58 grados crea un reflejo desde la muesca en la
parte inferior del bloque de prueba y una indicación de primera etapa.
El componente de 69 grados se refleja desde la esquina inferior del
bloque, creando otra indicación de primera fila. Mientras tanto, el
componente de 42 grados rebota en las superficies inferior y superior
del bloque y crea otro reflejo desde la esquina inferior, siendo este el
tercer tramo.
Figura 5-12 El componente del haz de 58 °

5.5 Interpretación del posicionamiento del reflector

Los instrumentos de matriz en fase, como los detectores de defectos
por ultrasonidos convencionales de calidad, ofrecen herramientas de
software para identificar la posición de los defectos y otros reflectores.
Típicamente, estos instrumentos ubican: (1) un reflector en términos
de su posición horizontal con respecto a la sonda; (2) su profundidad
con respecto a la superficie del material; y (3) la distancia de la
trayectoria del sonido entre el punto de índice del haz y el reflector.
Además, cuando se emplean rutas de salto, el instrumento debe
identificar la pata de salto en la que se produce el reflector.
Primero, es importante recordar que el punto de índice del haz (el
punto en el cual el centro del haz de sonido sale de la cuña) es una
ubicación fija para una cuña convencional (Figura 5-15a), y un punto
en movimiento para las cuñas de arreglo en fase (Figura 5-15b). En el
caso de las exploraciones lineales, el punto de índice del haz se mueve
progresivamente a lo largo de la longitud de la sonda a medida que
avanza la exploración. En el caso de las exploraciones S, diferentes
componentes angulares salen de la cuña en diferentes puntos.
a b
Figura 5-15 Puntos de índice de haz en una cuña convencional (a) y cuña de
matriz en fases (b)
Los detectores de fallas convencionales normalmente usan el punto de
índice de haz único de la cuña como la referencia a partir de la cual se
calculan las profundidades y las distancias. Debido a que el punto de
índice de haz de una sonda de matriz en fase es variable, una forma
común de hacer referencia a una posición defectuosa es en relación
con el borde frontal de la cuña en lugar del BIP. Las dimensiones que
se muestran en la Figura 5-16 se pueden calcular a partir de la
información del haz:
RA
PA
DA
SA
Figura 5-16 Dimensiones para hacer referencia a una posición de defecto

DA = profundidad del reflector enGate A
PA = Posición delantera del reflector con respecto a la punta de
la cuña.
RA = Distancia horizontal entre el punto de referencia de la
cuña y el reflector.
SA = Longitud de la trayectoria del sonido al reflector.
En este formato de visualización, la transición entre la primera y
la segunda pata y las regiones de la segunda y la tercera pata de
la pantalla está marcada por líneas horizontales punteadas. En el
ejemplo a continuación, el reflector de la esquina inferior se
produce en la transición entre las zonas de la primera y la
segunda pata (Figura 5-17), y el reflector de la esquina superior
se encuentra en la transición entre la segunda y la tercera pata
(Figura 5-18) . Además, las lecturas de posición en la parte
superior de la pantalla muestran la ubicación del reflector.

Figura 5-17 Reflector de esquina inferior
Figura 5-18 Reflector de esquina superior
En cierto sentido, la imagen de la pantalla proyecta el segundo tramo

como una continuación de la viga en una dirección recta. Mientras que
el haz se refleja realmente hacia arriba desde la parte inferior de la
pieza de prueba, la imagen de la pantalla lo muestra como si el haz
continuara a lo largo del mismo eje (consulte la Figura 5-19).
Top
B0 Bottom
45°
T1 Top
Figura 5-19 Visualización de la segunda etapa en comparación con la trayectoria

en la pieza de prueba

Appendix A: Constants and Useful
Formula Tables
Table A-1 Main ultrasonic parameters and their definition or relationship
Parameter Definition / formula / units / remarks
E(1 – μ) 0.5
v L = ------------------------------------------ [m/s; mm/s; in./s]
ρ ( 1 + μ ) ( 1 – 2μ )
where:
Longitudinal E = modulus of elasticity (Young’s modulus)
(compression)
[N/m2]
velocity
(Table A-2) ρ = mass density [kg/m3]
( E – 2G )
μ = Poisson’s ratio; μ = ----------------------
2G
G = shear modulus [N/m2]
Transverse E 0.5
(shear) velocity v T = ------------------------ [m/s; mm/s; in./s]
2ρ ( 1 + μ )
(Table A-2)
Rayleigh ( 0.87 + 1.12μ )

v R = ------------------------------------ v T [m/s; mm/s; in./s]
velocity (1 + μ)
n
f = --- ; number of oscillations in a specific time
t
Frequency 10 6
interval; MHz = 10 6 Hz = -------- ;
s
c
also: f = ---
λ
v PL
λ = -- ; also: λ = -------- [mm/in.]
f CN
Wavelength
(Table A-3) PL = pulse length ( v • Δτ –20 dB ) [mm/in.]
CN = cycle number
Olympus Constants and Useful Formula Tables 81

Table A-1 Main ultrasonic parameters and their definition or relationship (continued)
( D2 – λ2 ) D2 f
Near-field N 0 = ------------------------ ; N 0 = --------- [mm/in.] for
4λ 4v
length
(circular) D
---- > 10
[see Table A-4] λ
D = active crystal diameter [mm/in.]
Near-field k L2 f
length N rectangular = ---------------- [mm/in.]
(rectangular) 4v
[see Table A-5]
D2 f cos β 2
N eff =  ---------- •  -------------- [mm/in.]
 4v   cos α 
for disc-shaped crystal;
L probe cos β 2
k   ----------------------------- f L
cos α wedge v wedge
N eff  = ------------------------------------------------ – ----------------------------------
4v test piece v test piece
for rectangular probe on wedge;
Near-field D = active crystal diameter [mm/in.]
length α = incident (wedge) angle [°]
(effective)
β = refracted angle in test piece [°]
L = crystal length [mm/in.]
Lwedge = UT path in wedge [mm/in.]
vwedge = velocity in the wedge [m/s; mm/µs;
in./µs]
vtestpiece = velocity in the test piece [m/s;
mm/µs; in./µs]
k = near-field correction factor
2k free-field λz
Φ – ΔdB = -------------------------------- [1] [mm/in.]
D
Beam diameter
(circular) z = UT path [mm/in.];
λz
Φ (–6 dB) PE = ------
D
2k free-field λz
Beam width Φ ( – ΔdB )W = -------------------------------- [mm/in.]
(rectangular) W
W = crystal width [mm/in.]
82 Appendix A Olympus
Table A-1 Main ultrasonic parameters and their definition or relationship (continued)
Beam length 2k free-field λz

(rectangular) Φ ( – ΔdB )L = -------------------------------- [mm/in.]
L
k – Δ dB λ
γ – ΔdB = asin  ------------------- [rad/°];
 D 
Half-angle
beam 0.5λ
γ (–3 dB) free field = γ (–6 dB) pulse-echo ≈ -----------
divergence D
(circular) [rad / °]
k−ΔdB = half-angle beam divergence
constant[1]
Half-angle γ (–6 dB)L = asin ( 0.44λ ⁄ L ) [rad/°]
beam
divergence γ (–6 dB)W = asin ( 0.44λ ⁄ W ) [rad/°]
(rectangular)
Z = v • ρ [kg/m2 s = Rayl]
Acoustic
impedance (generally 106 [MRayl])
[see Table A-2]
Reflection ( Z2 – Z1 )
R = ------------------------
coefficient ( Z1 + Z2 )
Transmission 2Z2
T = ------------------------
coefficient ( Z1 + Z2 )
Transmission 4Z 1 Z 2
ΔG transmission = – 10 log 10 --------------------------- [dB]
loss ( Z1 + Z2 )2
sin α v
Snell’s law ----------- = ----1-
sin β v2

Table A-2 Acoustic properties of materials
Longitudinal Acoustic
Shear velocity
MATERIAL velocity impedance
in./µs m/s in./µs m/s kg/m2s × 106
Acrylic resin
0.107 2,730 0.056 1,430 3.22
(Perspex)
Aluminum 0.249 6,320 0.123 3,130 17.06
Beryllium 0.508 12,900 0.350 8,880 23.50
Brass, naval 0.174 4,430 0.083 2,120 37.30
Copper 0.183 4,660 0.089 2,260 41.61
Diamond 0.709 18,000 0.485 12,320 63.35
Glycerin 0.076 1,920 ------ ------ 2.42
Inconel 0.229 5,820 0.119 3,020 49.47
Iron, cast
0.138 3,500 0.087 2,200 25.00
(slow/soft)
Iron, cast
0.220 5,600 0.126 3,200 40.00
(fast/hard)
Iron oxide
0.232 5,890 0.128 3,250 30.70
(magnetite)
Lead 0.085 2,160 0.028 700 24.29
Lucite 0.106 2,680 0.050 1,260 3.16
Molybdenum 0.246 6,250 0.132 3,350 63.75
Motor oil
0.069 1,740 ------ ------ 1.51
(SAE 20 / 30)
Nickel, pure 0.222 5,630 0.117 2,960 49.99
Polyamide (slow) 0.087 2,200 0.043 1,100 2.40
Polyamide
0.102 2,600 0.047 1,200 3.10
(nylon, fast)
Polyethylene, high
0.097 2,460 0.051 1,295 2.36
density (HDPE)
Polyethylene, low
0.082 2,080 0.025 645 1.91
density (LDPE)
Polystyrene 0.092 2,340 0.046 1,160 2.47
Polyvinylchloride
0.094 2,395 0.042 1,060 3.35
(PVC, hard)
Rexolite 0.092 2,330 0.045 1,155 2.47
Rubber
0.063 1,610 ------ ------ 2.43
(polybutadiene)
Silicon 0.379 9,620 0.206 5,230 22.50
Silicone 0.058 1,485 ------ ------ 1.56
Steel, 1020 0.232 5,890 0.128 3,240 45.41
Steel, 4340 0.230 5,850 0.128 3,240 45.63
Steel, 302
0.223 5,660 0.123 3,120 45.45
austenitic stainless
Steel, 347
0.226 5,740 0.122 3,090 45.40
austenitic stainless
Tin 0.131 3,320 0.066 1,670 24.20
Titanium, Ti 150A 0.240 6,100 0.123 3,120 27.69
Tungsten 0.204 5,180 0.113 2,870 99.72
Water (20 °C) 0.058 1,480 ------ ------ 1.48
Zinc 0.164 4,170 0.095 2,410 29.61
Zirconium 0.183 4,650 0.089 2,250 30.13
Table A-3 Wavelength for the most commonly used and tested materials in industrial
UT inspection
Wavelength
Frequency
L-waves S-waves
[MHz]
[mm] [in.] [mm] [in.]
Water [couplant]
1 1.5 0.059 - -
2 0.75 0.030 - -
4 0.4 0.016 - -
5 0.3 0.012 - -
10 0.15 0.006 - -
Glycerin (Hamikleer) [couplant]
1 1.9 0.075 - -
2 0.95 0.037 - -
4 0.48 0.019 - -
5 0.38 0.015 - -
10 0.19 0.008 - -
Plexiglas [wedge]
1 2.7 0.106 - -
2 1.35 0.053 - -
4 0.75 0.030 - -
5 0.54 0.021 - -
10 0.27 0.011 - -
Rexolite [wedge]
1 2.3 0.091 - -
2 1.15 0.045 - -
4 0.58 0.023 - -
5 0.46 0.018 - -
10 0.23 0.009 - -
Steel [test piece]
1 5.9 0.232 3.2 0.126
2 3 0.118 1.6 0.063
4 1.5 0.059 0.8 0.032
5 1.2 0.047 0.6 0.024
10 0.6 0.024 0.3 0.012
Aluminum [test piece]
1 6.1 0.240 3 0.118
2 3 0.118 1.5 0.059
4 1.5 0.059 0.8 0.032
5 1.2 0.047 0.6 0.024
10 0.6 0.024 0.3 0.012

Table A-4 Near-field length for circular crystal (in millimeters)
Frequency
Crystal diameter [mm]
[MHz]
5 6 10 12 20 24
Water; LW; v = 1.5 mm/s
1 4.2 6 17 24 68 96
2 8.4 12 34 48 136 192
4 17 24 68 96 272 384
5 21 30 85 120 340 480
10 42 60 170 240 680 920
Steel; LW; v = 5.9 mm/s
1 1 1.5 4 6 16 24
2 2 3 8 12 32 48
4 4 6 16 24 64 96
5 5 7. 20 30 80 120
10 10 15 40 60 160 240
Steel; SW; v = 3.2 mm/ s
1 2 3 8 12 32 48
2 4 6 16 24 64 96
4 8 12 32 48 128 192
5 10 15 40 60 160 240
10 20 30 80 120 320 480
Copper; LW; v = 4.7 mm/s
1 1.3 2 5 8 20 32
2 2.6 4 10 16 40 64
4 5 8 20 32 80 128
5 6.5 10 26 40 104 160
10 13 20 52 80 208 320
Aluminum; LW; v = 6.3 mm/s
1 1 1.4 4 6 16 24
2 2 3 8 12 32 48
4 4 6 16 24 64 96
5 5 7 20 30 80 120
10 10 14 40 60 160 240
Table A-5 Near-field length (mm × mm) and half-angle divergence beam at –6 dB [°]
of rectangular crystals — shear waves in steel (v = 3,250 m/s)
Frequency 6×6 8×9 16 × 16 20 × 22

[MHz] N0 γ N0 γ N0 γ N0 γ
1 N/A N/A 8 10 32 5 45 4
2 9 6 15 5 64 2.5 90 2
4 N/A N/A 30 2.5 128 1.2 180 1
5 20 2.5 40 2 160 1 225 0.8
Appendix B: Unit Conversion
This appendix provides the metric–US-customary conversions for

units used in this guide.
Table B-1 Conversion from metric to US customary units
Measure Metric unit US customary unit
= 39.37 mils
1 mm
= 0.03937 in.
Length 1 cm = 0.3937 in.
= 39.37 in.
1m
= 3.28 ft
1 cm2 = 0.155 in.2

Area
1 m2 = 10.7639 ft2
1 mm/µs = 0.03937 in./µs

Velocity = 3.28 ft/s
1 m/s
= 196.85 ft/min
1g = 0.03527 oz
Mass = 35.2739 oz
1 kg
= 2.20462 lb
Mass density 1 kg/m3 = 0.062428 lb/ft3
Acoustic = 0.001423 lb/in.2s

impedance 1 kg/m2s
= 0.204816 lb/ft2s
°C = (5/9) × (°F – 32)

Temperature
(°C × 1.8) + 32 = °F
Olympus Unit Conversion 87

88 Appendix B Olympus
Appendix C: Support and Training
Support
Olympus ofrece la oportunidad de participar en un foro de discusión
alojado en la Web. Los expertos que contribuyeron a Phased Array
Testing: Teoría básica para aplicaciones industriales están en línea
para responder sus preguntas y publicar información adicional sobre
la tecnología de conjuntos en fase y sus aplicaciones prácticas.
Siéntase libre de navegar por esta vasta fuente de información,

publicar sus propias preguntas y contribuir a este proyecto colectivo.
Encontrará el enlace al foro del sitio web en la siguiente dirección:
www.olympus-ims.com/en/forum/
Training
El sitio de Olympus en www.olympus-ims.com contiene una gran
variedad de información diseñada para ayudar a los usuarios de
productos de matriz en fase y otros instrumentos de inspección y
mantenimiento de Olympus.
Los socios de capacitación de Olympus ofrecen información sobre las
clases de entrenamiento de introducción en fases avanzadas y
introductorias en lugares de todo el mundo. Estas clases ofrecen
capacitación práctica y casos específicos de resolución de problemas,
además de una revisión de la teoría básica. Los detalles se pueden
encontrar en:
Página de inicio> Apoyo> Training Academy
También ofrecemos un tutorial interactivo de autoaprendizaje que

cubre la teoría básica de matrices en fase, que se encuentra en:
Página de inicio> Conocimiento> Phased Array> Tutorial Phased

Array
Los webinars que cubren varios temas técnicos relacionados se
pueden ver en:
Página de inicio> Conocimiento> Phased Array> Webinars
La sección de Notas de la aplicación del sitio de Olympus incluye una

serie de documentos que describen aplicaciones de prueba de matrices
en fase específicas. Estos se pueden ver en:
Olympus Support and Training 89

Página de inicio> Aplicaciones
Finalmente, puede obtener más información sobre el equipo de

pruebas no destructivas, publicaciones, aplicaciones y soporte técnico
de Olympus al completar el formulario de soporte de aplicaciones que
se encuentra en:
Página de inicio> Aplicaciones> Aplicaciones Soporte
90 Appendix C Olympus
Appendix D: Types of Equipment
Available
Al igual que con otras categorías de equipos de prueba ultrasónicos,

los sistemas de matriz en fase están disponibles en una variedad de
modelos con diversos grados de complejidad y capacidad. La gama de
instrumentos abarca desde modelos básicos que realizan
exploraciones lineales y de sector simples con sondas de 16 elementos
hasta sistemas avanzados que ofrecen capacidad de múltiples canales
y software de interpretación avanzado con sondas de hasta 256
elementos.
Olympus tiene una completa cartera de END. Para más información,
consulte el sitio web en la siguiente dirección:
www.olympus-ims.com
Este apéndice presenta una visión general de los siguientes equipos:
• EPOCH 1000 Series — Advanced Ultrasonic Flaw Detectors with

Phased Array Imaging
• OmniScan Series — Advanced Flaw Detectors with UT and PA
Technologies
• TomoScan FOCUS LT — Powerful, Flexible, and Compact UT Data
Acquisition System
• TomoView — UT Data Acquisition and Analysis Software
• NDT SetupBuilder — Inspection Setup and Beam Visualization
Simulation Software
• OmniPC — UT and PA Data Analysis and Reporting Software
Olympus Types of Equipment Available 91

D.1 EPOCH 1000 Series — Advanced Ultrasonic
Flaw Detectors with Phased Array Imaging
Los detectores de fallas EPOCH ™ 1000 combinan el más alto nivel de
rendimiento para la detección de fallas portátil convencional con el
poder de la formación de imágenes de matrices en fase. Los modelos
EPOCH 1000, 1000iR y 1000i presentan un estilo de caja horizontal con
pantalla VGA completa, mando y flechas de navegación para el ajuste
de parámetros y el cumplimiento completo de EN12668-1. La
funcionalidad ultrasónica convencional avanzada de la serie EPOCH
1000 se incrementa en el EPOCH 1000i (consulte la figura a
continuación) con capacidades de formación de imágenes de matriz
en fase.
Key Features
• Available with Phased Array Imaging package
• EN12668-1 compliant
• 37 digital receiver filter selections
• 6 kHz pulse-repetition rate for high-speed scanning
• Automatic phased array probe recognition
• Intuitive wedge delay and sensitivity calibration for all focal laws
• Programmable analog/alarm outputs
• IP66 environmental rating for harsh environments
• Horizontal design with navigation panel and knob parameter
adjustment
• Digital high dynamic range receiver
• Full VGA sunlight readable display
• ClearWave™ Visual Enhancement package for conventional A-scan
interpretation
• Sureview™ visualization feature
• Reference and measurement cursors
• Standard dynamic DAC/TVG
• Standard onboard DGS/AVG
92 Appendix D Olympus
D.2 OmniScan Series — Advanced Flaw
Detectors with UT and PA Technologies
Con miles de unidades que se utilizan en todo el mundo, la serie
OmniScan® es la familia de instrumentos de prueba de matrices en
fase con más éxito y probada en el campo de Olympus.
La serie OmniScan incluye el innovador MX2 modular y el SX

asequible no modular; ambas unidades de adquisición ofrecen la
misma interfaz, rendimiento y rango de características excepcionales.
D.2.1 OmniScan MX2

Un instrumento de segunda generación, el OmniScan® MX2 aumenta
la eficiencia de las pruebas y garantiza un rendimiento superior
avanzado de AUT al proporcionar configuraciones y ciclos de prueba
más rápidos, y un informe más sencillo. También ofrece
compatibilidad universal con más de 10 matrices en fase y módulos
ultrasónicos.
Key Features
• Rugged, portable, and battery operated
• Compact and lightweight (only 5 kg / 11 lb)
• 10.4 inch touch screen
• Phased array module and software: 16:64, 16:64M, 16:128, 32:32,
32:128, and 32:128PR phased array modules
• Full-featured A-scan, B-scan, C-scan, and sector scan

D.2.2 OmniScan SX
OmniScan® SX, un instrumento de un solo grupo y no modular, es
fácil de operar y rentable para aplicaciones menos exigentes. Es ideal
para la inspección lineal de cero grados, como el mapeo de corrosión
y la inspección de compuestos, así como para la inspección de
soldaduras utilizando un grupo de matrices en fase o un canal TOFD.
Key Features
• Rugged, portable, and battery operated
• Compact and lightweight (only 3.4 kg / 7.5 lb)
• Bright 8.4 in. (21.3 cm) touch screen
• SX PA: 16:64 phased array configuration and one UT channel for
P/E, P/C, or TOFD inspection
• SX UT: one UT channel for P/E, P/C, or TOFD inspection
• Two-axis encoding and data archiving capacity
• One-step, preconfigured application Wizard
• Weld Overlay and RayTracing simulation
• Full-screen mode for better visualization of defects
• Synchronization and measurements can be processed using
different gate combinations
• Data, reference, and measurement cursors for defect sizing
• Extensive readings database and predefined lists for trigonometry,
flaw statistics on axes, volumetric position information, code-based
acceptance criteria, corrosion mapping statistics, and more
• Linked views for interactive analysis
D.3 TomoScan FOCUS LT — Powerful, Flexible,
and Compact UT Data Acquisition System
El TomoScan FOCUS LT ™ (consulte la figura a continuación) está
diseñado para sus necesidades de inspección de UT automatizadas
más exigentes. Este nuevo punto de referencia de los instrumentos de
matriz en fase de ultrasonido ofrece un rendimiento excepcional para
la matriz en fase de ultrasonido y UT convencional con múltiples
configuraciones de sonda.
TomoScan FOCUS LT ofrece una solución más liviana, más compacta
y aún más confiable para sus requisitos de inspección más avanzados.
El TomoScan FOCUS LT también está disponible en una versión de
montaje en rack de 3U.
Key Features
• Full-featured PC-based software for data acquisition and analysis
(TomoView™)
• Multiple channels or phased array probe configuration
• Combined phased array and conventional UT configuration
(TOFD + P/E)
• File size of up to 1 GB
• Fast 100Base-T data transfer (4 MB/s)
• Configuration of up to 64:128
• Pulse repetition rate (PRF) up to 20 kHz
• Real-time data compression and signal averaging
• Interface to external motor controller and scanners

D.4 TomoView — UT Data Acquisition and
Analysis Software
TomoView™ is a is PC-based software used for design, data
acquisition, and visualization of ultrasonic signals. Configuration of
the software’s ultrasonic parameters is highly flexible, and the data
display can be customized to match your application requirements.
This adaptability enables TomoView to be used for a large variety of
applications, from industrial to research.
TomoView has advanced simultaneous multitechnology capabilities,

giving you the power to perform conventional UT, phased array
(pulse-echo, pitch-and-catch, and through transmission), and TOFD
acquisitions. When you use TomoView for your ultrasound inspection
applications, you have the power to build your application your way.
The key TomoView advantages are:
• High performance acquisition features

• Scalability for increased performance and coverage
• Advanced analysis tools
• Customizable displays
• Customizable features and interface with the TomoView SDK
TomoView supports Windows XP, Vista, 7, and 8 operating systems.
TomoView runs efficiently on standard laptop computers as well as
on high-end desktop workstations, and it is capable of handling data
files as large as 2 GB. You can also use TomoView to perform
advanced PC-based analysis on OmniScan data files.
The free TomoVIEWER software, which allows you to load TomoView

and OmniScan data files, is also available for download from the
Olympus website.
D.5 NDT SetupBuilder — Inspection Setup and
Beam Visualization Simulation Software
NDT SetupBuilder™ is a PC-based software that enables users to
create inspection setup and visualize beam simulations. This software
comprises multiple features for easy, fast, and comprehensive
inspection strategy elaboration that can directly be imported into the
OmniScan® MX2 and SX.
• Complete Olympus part database for easy probe and wedge

selection
• Instantaneous simulation of the beam’s trajectory in the material
• Visualization and adjustment of the part, probe, weld, and beams
available in different views, including: side, end, top, and 3D
• Represents most commonly inspected materials and parts such as
plates, and circumferential or axial welded pipes
• Copy and flip function for existing groups for quick multiple probe
configurations

D.6 OmniPC — UT and PA Data Analysis and
Reporting Software
OmniPC™ is a software program that benefits from the same user
interface and analysis and reporting features as the OmniScan® series,
though with the added ability and flexibility of being run on a
personal computer.
With OmniPC, the OmniScan instrument can be reserved strictly for

scanning while analysis is simultaneously performed on a personal
computer. The OmniPC software can also be used in conjunction with
extra-large screens to provide increased visibility and with keyboard
shortcuts to accelerate analysis and reporting operations.
Data Analysis
• Data, reference, and measurement cursors for defect sizing
• Extensive readings database and predefined lists for trigonometry,
flaw statistics on axes, volumetric position information, code-based
acceptance criteria, corrosion mapping statistics, etc.
• Linked views for interactive analysis
• Automatic update of views when performing off-line gate
repositioning
• Optimized preconfigured layouts for quick and simple length,
depth, and height sizing of flaws
Reporting
The OmniScan MX2 and SX instruments and the OmniPC software
can be used to generate reports that contain an indication table listing
up to eight readings, including amplitude, position, and size of the
defects. RayTracing tools allow the indication positions to be
represented on the weld profile. High-resolution images can be
inserted along with all relevant inspection parameters.
Phased Array Glossary
A-scan
Una forma de onda ultrasónica trazada como amplitud con
respecto al tiempo. Puede ser rectificado o no rectificado (RF).
Angle-corrected gain (ACG) (Ganancia de ángulo corregido)
Esta es la compensación de ganancia aplicada a un S-scan para
normalizar la respuesta reflejada de un objetivo específico en cada
ángulo que comprende el S-scan.
Apodization (Apodización)
Una función controlada por computadora que aplica un voltaje de
excitación más bajo a los elementos externos de una matriz para
reducir la amplitud de los lóbulos laterales no deseados.
Aperture (Abertura)
En las pruebas de matrices en fase, el ancho del elemento o grupo
de elementos pulsaba simultáneamente.
Azimuthal scan (Exploración azimutal)
Un término alternativo para S-scan. Es una vista bidimensional de
todos los datos de amplitud y tiempo o profundidad de todas las
leyes focales de una sonda de matriz en fase, corregida por retraso
y ángulo refractado. Además, una exploración S también se refiere
a la acción de barrer el haz a través de un rango de ángulos.
B-scan
Una imagen bidimensional de datos ultrasónicos representada
como profundidad o distancia del reflector con respecto a la
posición del haz. Las exploraciones B pueden ser de un solo valor o
de una sección transversal.
B-scan, cross-sectional (B-scan, sección transversal)
Una imagen bidimensional de datos ultrasónicos basada en el
almacenamiento de forma de onda completa en cada punto de
datos, que se puede trazar para mostrar todos los reflectores en una
sección transversal en lugar de solo el primero o el más grande.
Esto permite la visualización de los reflectores de superficie
cercana y lejana dentro de la muestra.
B-scan, single value (B-scan, valor único)
Una imagen bidimensional basada en el trazado del primer
reflector o el más grande dentro de una puerta. Este formato se usa
comúnmente en detectores de fallas ultrasónicas y medidores de
espesor avanzado, y muestra un reflector en cada punto de datos.
Olympus Phased Array Glossary 99

Bandwidth (Ancho de banda)
La porción de la respuesta de frecuencia que cae dentro de los
límites de amplitud especificados. En este contexto, se debe tener
en cuenta que los transductores NDT típicos no generan ondas de
sonido en una sola frecuencia pura, sino más bien en un rango de
frecuencias centradas en la designación de frecuencia nominal. El
estándar de la industria es especificar este ancho de banda en el
punto de –6 dB (o media amplitud). Como regla general, un ancho
de banda más amplio da como resultado una mejor resolución
axial y cercana a la superficie, mientras que un ancho de banda
estrecho produce una mayor salida de energía y, por lo tanto, una
mayor sensibilidad.
Beam forming (Formando haz)
En las pruebas de matriz en fases, la generación de un haz de
sonido en una posición, ángulo y / o enfoque particular a través de
pulsos secuenciales de los elementos de una sonda de matriz.
Beam spread angle (Ángulo de propagación del haz)
El ángulo de divergencia desde la línea central de un haz de sonido
en su campo lejano.
Beam steering (Dirección de la viga)
La capacidad de modificar el ángulo refractado del haz de sonido
generado por una sonda de matriz en fase.
Calibration, sensitivity (Calibración, sensibilidad)
Un procedimiento que iguala electrónicamente la respuesta de
amplitud en todos los componentes del haz en un escaneo de
matriz en fase. Esto típicamente compensa las variaciones de
sensibilidad de elemento a elemento y la transferencia de energía
variable a diferentes ángulos refractados.
Calibration, wedge delay (Calibración, retardo de cuña)
Un procedimiento que compensa electrónicamente las diferentes
rutas de sonido tomadas por diferentes componentes de haz en
una cuña, que se utiliza para normalizar la longitud de la ruta de
medición a un reflector.
C-scan
Una vista bidimensional de la amplitud ultrasónica o los datos de
tiempo / profundidad mostrados como una vista superior de la
pieza de prueba.
E-scan
También denominado escaneo electrónico, punto de índice de
barrido o escaneo ráster electrónico. En algunas industrias, una
exploración electrónica se conoce como una "exploración lineal" o
"exploración electrónica lineal". La capacidad de mover el haz
acústico a lo largo de la matriz sin ningún movimiento mecánico.
La ley focal equivalente se multiplexa en un grupo de elementos
activos; Las exploraciones electrónicas se realizan en un ángulo
constante ya lo largo de la longitud de la sonda de matriz en fase.
Para las exploraciones de haz de ángulo, las leyes focales
normalmente compensan el cambio en el grosor de la cuña.
100 Phased Array Glossary Olympus

Far field (Campo lejano)
La porción de un haz de sonido más allá del último máximo de
presión en el eje. La propagación del haz se produce en el campo
lejano.
Focal laws (Leyes focales)
El patrón programado de los retardos de tiempo aplicados a la
pulsación y recepción de los elementos individuales de una sonda
de matriz para dirigir y / o enfocar el rayo de sonido y la respuesta
de eco resultantes.
Focus (Atención)
En ultrasonidos, el punto en el que un haz de sonido converge al
diámetro mínimo y la presión de sonido máxima, y más allá del
cual el haz se desvía.
Grating lobes (Lóbulos de rejilla)
Componentes espurios de un haz de sonido que se desvían hacia
los lados del centro de la energía, causados por un muestreo
uniforme a través de los elementos de la sonda. Los lóbulos de la
rejilla se producen solo con sondas matriciales en fase y son
causados por componentes de rayos asociados con el espaciado
regular y periódico de los elementos individuales pequeños. Ver
también "Lóbulos laterales".
Huygens’ principle (Principio de Huygens)
Un modelo matemático de comportamiento de onda que establece
que cada punto en un frente de onda en avance puede considerarse
como una fuente de puntos que lanza una nueva onda esférica, y
que el frente de onda unificado resultante es la suma de esas ondas
esféricas individuales.
Linear scan (Escaneo lineal)
La capacidad de mover el haz acústico a lo largo del eje mayor de
la matriz sin ningún movimiento mecánico. La ley focal
equivalente se multiplexa en un grupo de elementos activos; las
exploraciones lineales se realizan en un ángulo constante y a lo
largo de la longitud de la sonda de matriz en fase. Para las
exploraciones de haz de ángulo, las leyes focales normalmente
compensan el cambio en el grosor de la cuña. En algunas
industrias, este término se usa para describir un escaneo de una
línea.
Near field (Campo cercano)
La porción de un haz de sonido entre el transductor y el último
pico de presión de sonido en el eje. Los transductores solo se
pueden enfocar en el campo cercano.
One-line scan (Escaneo de una linea)
Una exploración mecánica de un solo paso de una sonda de matriz
en fase paralela a una soldadura o región a inspeccionar.
Normalmente se realiza con una sonda de matriz lineal para crear
una imagen similar a una exploración C de datos de amplitud o
profundidad en función de las posiciones de apertura electrónica
en comparación con las posiciones mecánicas.
Phased array (Matriz en fase)
Una sonda ultrasónica multielemento (típicamente con 16, 32 o 64
elementos) utilizada para generar haces dirigidos por pulsos y
receptores en fase.

Phasing (Ajuste de fase)
La interacción de dos o más ondas de la misma frecuencia pero con
diferentes retardos de tiempo, lo que podría resultar en una
interferencia constructiva o destructiva.
Pitch (Tono)
La separación entre elementos individuales en una sonda de matriz
en fase.
Plane, active (Plano, activo)
La orientación paralela al eje de la sonda de matriz en fase consiste
en múltiples elementos.
Plane, passive (Plano, pasivo)
La orientación paralela a la longitud del elemento individual o
ancho de la sonda.
Plane, steering (Plano, direccion)
La orientación en la que se varía la dirección del haz para una
sonda de matriz en fase.
Pulse duration (Duración del pulso)
El intervalo de tiempo entre el punto en el que el borde anterior de
una forma de onda alcanza una amplitud especificada
(generalmente –20 dB con respecto al pico) hasta el punto en el que
el borde posterior de la forma de onda alcanza la misma amplitud.
Un ancho de banda más amplio generalmente reduce la duración
del pulso, mientras que un ancho de banda más estrecho lo
aumenta. La duración del pulso depende en gran medida de la
configuración del pulsador.
Resolution, angular (Resolución angular)
En los sistemas de matrices escalonadas, la resolución angular es el
valor angular mínimo entre dos exploraciones A en las que los
defectos adyacentes ubicados en la misma profundidad se pueden
resolver individualmente.
Resolution, axial (Resolucion axial)
La separación de profundidad mínima entre dos reflectores
especificados que permite la identificación discreta de cada uno.
Una frecuencia más alta y / o un ancho de banda mayor
generalmente aumenta la separación axial.
Resolution, far-surface (Resolución, superficie lejana)
La distancia mínima desde la superficie de la pared posterior a la
que un reflector específico tiene una amplitud de eco al menos 6 dB
mayor que el borde anterior del eco de la pared posterior. Más
generalmente, la distancia más cercana a la superficie de la pared
posterior en la que se puede identificar un reflector.
Resolution, lateral (Resolución lateral)
En los sistemas de matrices en fase, la separación lateral mínima
entre dos reflectores especificados que permite la identificación
discreta de cada uno. Esto está relacionado tanto con el diseño de
la sonda de matriz como con la programación de la ley focal
seleccionada.

Resolution, near-surface (Resolución, cerca de la superficie.)
La distancia mínima desde la superficie de entrada de sonido a la
que un reflector especificado tiene una amplitud de eco al menos 6
dB mayor que los bordes de salida del pulso de excitación, la línea
de retardo o el eco de cuña. Más generalmente, la distancia más
cercana a la superficie de entrada de sonido en la que se puede
identificar un reflector. El área sobre este punto se conoce como la
zona muerta y generalmente aumenta a medida que aumenta la
ganancia.
S-scan
También se denomina exploración sectorial, exploración con
ángulo de barrido, exploración electrónica angular o exploración
azimutal. Una vista bidimensional de todos los datos de amplitud y
tiempo o profundidad de todas las leyes focales de una sonda de
matriz en fase corregida por el retardo y el ángulo refractado.
Además, una exploración S también se refiere a la acción de barrer
el haz a través de un rango de ángulos.
Side lobes (Lóbulos laterales)
Componentes espurios de un haz de sonido que se desvía hacia los
lados del centro de la energía, producidos por la presión acústica
que se filtra desde los elementos de la sonda en diferentes ángulos
desde el lóbulo principal. Los lóbulos laterales son generados por
todos los tipos de transductores ultrasónicos. Ver también
"Lóbulos de rejilla".
Virtual aperture (Apertura virtual)
El ancho combinado de un grupo de elementos de matriz en fase
que se pulsan simultáneamente.

Index
Numerics apodization, definition 99

2D matrix 7 appendixes
constants and useful formula
A tables 81
ACG (angle-corrected gain) 59 support and training 89
definition 99 types of equipment 91
acoustic impedance 83, 84 unit conversion 87
acoustic properties of materials applications 89
84 crack detection 10
acquisition, data 48 weld inspection 10
active plane, definition 102 Applications Support 90
advanced instruments 95 array 21
advantages of phased arrays 10 circular ~ 7
amplitude response 64 A-scans 38
angle beam inspection 64 data 38, 39 (Fig. 3-1)
angle beam linear scans 43 definition 99
(Fig. 3-5), 69 ASME Section V 59
image 70 (Fig. 5-7) aspect ratio constant 14
angle beam test, conventional attenuation 17
72 (Fig. 5-9) coefficient 17
angle of sound beam entry 64 averaging 49
angle, beam spread axial resolution, definition 102
definition 100 azimuthal scans 3, 103
angle, incident 64 definition 99
angle-corrected gain (ACG) 59
B
definition 99
angled beam 9 (Fig. 1-5) bandwidth
angled waveform 26 (Fig. 2-22) definition 100
angular and horizontal cursors transducer ~ 12
58 (Fig. 4-6) basics of phased array imaging
angular cursor 58 (Fig. 4-5) 37
angular electronic scanning 103 beam
angular resolution, definition diameter 82
102 divergence, half-angle beam
annular array 7 83
aperture 28 focused sound beam 31
definition 99 (Fig. 2-26)
effective ~ 29, 29 (Fig. 2-24) length 83
virtual ~ 28 width 82
definition 103 beam component
Olympus Index 105

42° ~ 76 (Fig. 5-14) definition 99
58° ~ 74 (Fig. 5-12)
C
69° ~ 75 (Fig. 5-13)
beam focusing 31 calculator, focal law 8, 27
with different aperture sizes calibration
33 (Fig. 2-27) methods 59
beam forming sensitivity ~ 100
definition 100 wedge delay ~ 100
electronic ~ 22 zero ~ 59
beam index point (BIP) 57, 64, channel specifications 52
69, 76, 77 (Fig. 5-15) characteristics, probe 21
beam linear scanning, normal Christiaan Huygens (physicist)
67 (Fig. 5-3) 14
beam linear scans, angle 69 circular array 7
image 70 (Fig. 5-7) circular crystal, near-field
beam linear scans, normal 66 length for 86
image 68 (Fig. 5-4) circular matrix 7
beam profiles 12 (Fig. 2-2) CN (cycle number) 81
areas of energy 13 (Fig. 2-3) coefficient, attenuation 17
transducer beam profile 12 coefficient, reflection 18
with different number of ele- combined image formats 48
ments 34 (Fig. 2-28) composite probes 22
beam scanning, single-angle 69 compressional straight beam
beam shaping and steering 27 testing 64
element size 28 constants 81
frequency 27 aspect ratio constant 14
number of elements 28 conversion, mode 19 (Fig. 2-10),
pitch and aperture 28 20
beam spread 15 (Fig. 2-5) conversion, unit 87
angle 15 (Fig. 2-5) crack detection 10
definition 100 cross-sectional B-scans 40, 41
beam spreading 14 (Fig. 3-3)
2.25 MHz element 16 definition 99
(Fig. 2-8) crystal 11
3 mm element 16 (Fig. 2-6) near-field length for circular
10 MHz element 17 (Fig. 2-9) ~ 86
13 mm element 16 (Fig. 2-7) crystals, rectangular
beam steering 10 divergence beam 86
definition 100 near-field length 86
limits 30 (Fig. 2-25) C-scans 3, 43
BIP (beam index point) 57, 64, data 44 (Fig. 3-6)
69, 76, 77 (Fig. 5-15) definition 100
bottom corner reflector 78 images 10
(Fig. 5-17) cursors
B-scans angular 58 (Fig. 4-5)
cross-sectional ~ 40, 41 angular and horizontal 58
(Fig. 3-3) (Fig. 4-6)
definition 99 reference 57
data 40 (Fig. 3-2) curvature, radius of 64
definition 99 cycle number (CN) 81
single value ~ 39
106 Index Olympus

D inspection setup and beam
DAC 61 visualisation simula-
See also TVG tion software 97
data acquisition 48 UT and PA data analysis and
data acquisition and analysis reporting software 98
software 96 E-scan 3
data, A-scan 38 definition 100
density, mass (ρ) 81 F
diameter, beam 82
far field 13
digital sampling rate 49
definition 101
dimensional parameters of a
far-surface resolution, defini-
phased array probe 23
tion 102
(Fig. 2-18)
field, far 13
dimensions for referencing a
definition 101
flaw position 77
field, near 13
(Fig. 5-16)
definition 101
disadvantages of phased arrays
first element height offset 64
10
first-leg indication 73 (Fig. 5-10)
display format 63
flaw position, referencing 77
display specifications 51
(Fig. 5-16)
display, S-scan 72
focal laws 64
divergence beam, rectangular
calculator 8, 27
crystal 86
definition 101
divergence, half-angle beam 83
number required for linear
duration, pulse
scans 55
definition 102
sequences 29 (Fig. 2-23)
E setup 66
E (modulus of elasticity) 81 specifications 52
effective aperture 29, 29 FOCUS LT, TomoScan 95
(Fig. 2-24) key features 95
elasticity (E), modulus of 81 focus, definition 101
electronic beam forming 22 focused angle beam linear scan
electronic raster scanning 100 9 (Fig. 1-6)
electronic-scan focused sound beam 31
definition 100 (Fig. 2-26)
element size 28 focusing, beam 31
elements, number of 28 with different aperture sizes
encoded linear scans 3 33 (Fig. 2-27)
encoders 39, 48 forming, beam
encoding 57 definition 100
EPOCH 1000 series 92 formulas 81
key features 92 See also specific formula entries
equipment types 91 ultrasonic parameters 81
advanced instruments 95 forum, Web site 89
data acquisition and analysis frequency 27, 64, 81
software 96 probe ~ 23
entry-level portable instru- transducer ~ 12
ments 92 transducer ~ range 7
general purpose portable G
instruments 93
G (shear modulus) 81
Olympus Index 107

gain normalization 59 L
response following ~ 61 lateral resolution, definition 102
(Fig. 4-9) law, Snell’s 18, 26, 83
response prior to ~ 60 laws, focal 64
(Fig. 4-8) calculator 8, 27
gaps in data acquisition 49 definition 101
gate 38 sequences 29 (Fig. 2-23)
glossary, phased array 99 setup 66
grating lobes 33 specifications 52
definition 101 leg
H display of the second leg 79
(Fig. 5-19)
half-angle beam divergence 83
first-leg indication 73
height offset, first element 64
(Fig. 5-10)
horizontal and angular cursors
second-leg indication 73
58 (Fig. 4-6)
(Fig. 5-11)
Huygens, Christiaan (physicist)
length, beam 83
14
length, near-field 82
Huygens’ principle 14, 26
circular crystal 86
definition 101
rectangular crystal 86
I linear array 7
image formats, combined 48 linear scanning, normal beam
image types 56 67 (Fig. 5-3)
imaging, basics of phased array linear scans 3, 42
37 angle beam ~ 43 (Fig. 3-5), 69
impedance, acoustic 83, 84 image 70 (Fig. 5-7)
incident angle 64 definition 101
indication normal beam 66
first-leg ~ 73 (Fig. 5-10) image 68 (Fig. 5-4)
second-leg ~ 73 (Fig. 5-11) normal beam ~ 42 (Fig. 3-4)
inputs and outputs specifica- number of focal laws 55
tions 52 sequence 56 (Fig. 4-4)
inspection setup and beam lobes, grating 33
visualisation simulation definition 101
software 97 lobes, side 33
instrument setup 63 definition 103
material 64 longitudinal velocity 81, 84
probe 64 longitudinal waves 64
wedge 64 M
instrumentation, phased array
μ (Poisson’s ratio) 81
51
mass density (ρ) 81
calibration and normaliza-
material 64
tion methods 59
materials, acoustic properties of
important specifications 51
84
interference effects 26 (Fig. 2-21)
matrix, 2D 7
interference pattern 6 (Fig. 1-1)
matrix, circular 7
interpreting reflector position-
measurement specifications 51
ing 76
measurement to second leg
introduction to phased array
reflector 71 (Fig. 5-8)
testing 5
mode conversion 19 (Fig. 2-10),
108 Index Olympus

20 OmniScan series 93
at non-perpendicular bound- MX2 key features 93
aries 18 SX key features 94
modulus (E), Young’s 81 one-line scans 3, 45, 101
modulus (G), shear 81 definition 101
modulus of elasticity (E) 81 for weld inspection 45
multielement construction 8 (Fig. 3-7)
(Fig. 1-4)
P
multigroup support 56
multiple display formats 59 parameters
(Fig. 4-7) dimensional ~ of a phased
multiple image types display 48 array probe 23
(Fig. 3-10) (Fig. 2-18)
MX2 key features 93 probe 65
ultrasonic ~ 81
N wedge 65, 65 (Fig. 5-2)
naming convention 52 part thickness 64
NDT (nondestructive testing) 5 passive plane, definition 102
NDT SetupBuilder software 97 phase shifting 6
near field 13 phased array
definition 101 definition 101
near-field length display format 63
circular 82 glossary 99
circular crystal 86 test setup 63
effective 82 phased array imaging, basics of
rectangular 82 37
rectangular crystal 86 phased array instrumentation
near-surface resolution, defini- 51
tion 103 calibration and normaliza-
nondestructive testing (NDT) 5 tion methods 59
normal beam linear scan image important specifications 51
with all laws A-scan 68 phased array probes 7, 11, 21
(Fig. 5-5) (Fig. 2-15), 22 (Fig. 2-16)
normal beam linear scanning 67 assemblies 8 (Fig. 1-3)
(Fig. 5-3) cross-section 22 (Fig. 2-17)
normal beam linear scans 42 dimensional parameters 23
(Fig. 3-4), 66 (Fig. 2-18)
image 68 (Fig. 5-4) selection 34
normalization methods 59 ultrasonic beam characteris-
normalization, gain 59 tics 11
response following ~ 61 wedges 24 (Fig. 2-19)
(Fig. 4-9) phased array specifications 52
response prior to ~ 60 channels 52
(Fig. 4-8) encoding 57
note on terminology 3 focal laws 52
number of elements 23, 28, 64 image types 56
multigroup support 56
O
naming convention 52
offset, first element height 64 PRF/Display update rate 55
Offset, Zero 64 probe recognition 56
Olympus 2 pulsers 52
OmniPC software 98 reference cursors 57
Olympus Index 109

waveform storage 56 type 23
phased array system 7 probes, phased array 7, 11, 22
phased array testing (Fig. 2-16)
advantages of phased arrays assemblies 8 (Fig. 1-3)
10 cross-section 22 (Fig. 2-17)
disadvantages of phased dimensional parameters 23
arrays 10 (Fig. 2-18)
general introduction 5 selection 34
system 7 ultrasonic beam characteris-
types of equipment 91 tics 11
ultrasonic phasing 8 wedges 24 (Fig. 2-19)
phased array wedges 24 processing time 49
phased arrays, used for medical profiles, beam 12 (Fig. 2-2)
diagnostic 6 (Fig. 1-2) areas of energy 13 (Fig. 2-3)
phased pulsing 25 transducer beam profile 12
phasing 6 with different number of ele-
definition 102 ments 34 (Fig. 2-28)
effects 25 (Fig. 2-21) properties of materials, acous-
ultrasonic ~ 8 tic 84
piezoceramic probes 22 properties of sound waves See
piezocomposite 22 sound wave properties
piezoelectric transducer ele- properties, transducer 12
ment 11 pulse duration, definition 102
principle 11 (Fig. 2-1) pulse length (PL) 81
pitch 28, 64 pulse repetition frequency
definition 102 (PRF) 49
PL (pulse length) 81 pulser specifications 51, 52
plane pulsing, phased 25
active ~, definition 102
R
passive ~, definition 102
steering ~, definition 102 ρ (mass density) 81
Poisson’s ratio (μ) 81 radius of curvature 64
portable instruments rate, digital sampling 49
entry-level 92 rate, PRF/Display update 55
general purpose 93 rate, scan 48
PRF (pulse repetition fre- ratio constant, aspect 14
quency) 49 ratio, Poisson’s (μ) 81
PRF/Display update rate 55 ratio, signal-to-noise 10, 27
principle, Huygens’ 14, 26 Rayleigh velocity 81
definition 101 receiver specifications 51
probe 5 recognition, probe 56
See also transducer rectangular crystals
characteristics 21 divergence beam 86
composite 22 near-field length 86
frequency 23 rectangular elements 15
instrument setup 64 reference cursors 57
number of elements 23 referencing a flaw position 77
parameters 65 (Fig. 5-16)
piezoceramic 22 reflection at a perpendicular
recognition 56 plane boundary 17
size of elements 23 reflection coefficient 18, 83
reflector positioning, interpret-
110 Index Olympus

ing 76 S-scans See S-scans
reflectors swept angle 3, 103
bottom corner 78 (Fig. 5-17) second leg
top corner 78 (Fig. 5-18) display 79 (Fig. 5-19)
refracted wave indication 73 (Fig. 5-11)
10° incident angle 20 sector scans 3
(Fig. 2-12) See also S-scans
30° incident angle 20 sectorial scanning 10
(Fig. 2-13) sectorial scans 3, 103
65° incident angle 21 See also S-scans
(Fig. 2-14) selection, phased array probe 34
refraction at non-perpendicular sensitivity calibration 100
boundaries 18 sensitivity, transducer 12
refraction, sound wave 19 sequences, focal law 29
(Fig. 2-10) (Fig. 2-23)
relative amplitude of wave setup, focal law 66
modes 19 (Fig. 2-11) setup, instrument 63
resolution material 64
angular ~, definition 102 probe 64
axial ~, definition 102 wedge 64
far-surface ~, definition 102 setup, test 63
lateral ~, definition 102 shaping, beam 27
near-surface ~, definition 103 element size 28
response, amplitude 64 frequency 27
ring 7 number of elements 28
pitch and aperture 28
S
shear modulus (G) 81
sampling rate, digital 49 shear velocity 84
scan rate 48 shear waves 64
scanning speed influence on shifting, phase 6
acquisition rate 49 side lobes 33
(Fig. 3-11) definition 103
scanning, angular electronic 103 side-drilled holes 40
scanning, normal beam linear signal-to-noise ratio 10, 27
67 (Fig. 5-3) single value B-scans 39
scanning, sectorial 10 definition 99
scans single-angle beam scanning 69
angle beam linear 69 size of elements, probe 23
image 70 (Fig. 5-7) size, transducer 12
azimuthal 3, 103 sizing 10
definition 99 sizing options 52
encoded linear 3 Snell’s law 18, 26, 83
linear 3, 42 software
definition 101 data acquisition and analysis
normal beam linear 66 96
image 68 (Fig. 5-4) inspection setup and beam
one-line 3, 45, 101 visualisation simula-
definition 101 tion 97
sector 3 NDT SetupBuilder 97
See also S-scans OmniPC 98
sectorial 3, 103 TomoView 96
See also S-scans
Olympus Index 111

key features 96 frequency 27
TomoVIEWER 96 number of elements 28
UT and PA data analysis and pitch and aperture 28
reporting 98 storage, waveform 56
sound attenuation 17 strip 7
sound beam, focused 31 subdicing 34
(Fig. 2-26) support and training 89
sound field, transducer 13 swept angle scans 3, 103
(Fig. 2-4) swept index point 100
sound wave SX key features 94
properties 14 system, phased array 7
refraction 19 (Fig. 2-10)
T
specifications, phased array 52
encoding 57 tables 81
focal laws 52 acoustic properties of materi-
image types 56 als 84
multigroup support 56 main ultrasonic parameters
naming convention 52 81
number of channels 52 near-field length
number of pulsers 52 circular crystal 86
PRF/Display update rate 55 rectangular crystal 86
probe recognition 56 summary of Nuclear and
reference cursors 57 ASME terminology 3
waveform storage 56 unit conversion 87
specifications, phased array wavelength 85
instrumentation 51 TCG (time-corrected gain) 3, 59,
inputs and outputs 52 61
measurement and display 51 terminology, note on 3
pulser and receiver 51 test setup 63
sizing options 52 testing, phased array See
spread angle, beam phased array testing
definition 100 thickness, part 64
spreading, beam 14 Thomas Young (scientist) 5
S-scanning 10 time-corrected gain (TCG) 3, 59,
S-scans 3, 46 61
–30° to +30° 46 (Fig. 3-8) time-varied gain (TVG) 3
–35° to +70° 47 (Fig. 3-9) TomoScan FOCUS LT 95
definition 103 key features 95
display 72 TomoView software 96
steering with 1 degree steps key features 96
53 (Fig. 4-1) TomoVIEWER software 96
steering with 2 degree steps top corner reflector 78
54 (Fig. 4-2) (Fig. 5-18)
steering with 4 degree steps training 89
54 (Fig. 4-3) Training Academy 89
steering limits, beam 30 transducer 5, 7, 11
(Fig. 2-25) See also probe
steering plane, definition 102 bandwidth 12
steering, beam 10, 27 beam profile 12
definition 100 beam spread angle 15
element size 28 (Fig. 2-5)
frequency 12
112 Index Olympus

frequency range 7 V
interference effects 26 velocity 64
(Fig. 2-21) longitudinal 81, 84
principle of the piezoelectric material 64
~ element 11 (Fig. 2-1) mode 64
properties 12 Rayleigh 81
sensitivity 12 shear 84
size 12 transverse 81
sound field 13 (Fig. 2-4) virtual aperture 28
type 12 definition 103
waveform duration 12 volumetric inspections 10
transmission at a perpendicular
plane boundary 17 W
transmission coefficient 83 waveform
transmission loss 83 angled ~ 26 (Fig. 2-22)
transverse velocity 81 display (A-scan) 38
tutorial 89 storage 56
TVG (time-varied gain) 3 transducer ~ duration 12
TVG/DAC 61 wavefront 14
type, probe 23 formation 14
type, transducer 12 wavelength 81, 85
types of equipment 91 webinars 89
advanced instruments 95 website 2, 89, 91
data acquisition and analysis forum 89
software 96 wedge 64
entry-level portable instru- ~ delay calibration 100
ments 92 parameters 65, 65 (Fig. 5-2)
general purpose portable phased array 24
instruments 93 phased array probe 24
inspection setup and beam (Fig. 2-19)
visualisation simula- zero-degree 24
tion software 97 weld inspection 10
UT and PA data analysis and width, beam 82
reporting software 98
Y
U Young, Thomas (scientist) 5
ultrasonic beam characteristics Young’s modulus (E) 81
11
Z
ultrasonic parameters 81
ultrasonic phasing 8 zero calibration 59
unit conversion 87 Zero Offset 64
UT and PA data analysis and zero-degree wedge 24
reporting software 98
Olympus Index 113

114 Index Olympus
Phased Array Testing: Basic Theory for Industrial Applications
Third edition, August 2014
Published by: Olympus Scientific Solutions Americas, 48 Woerd Avenue,

Waltham, MA 02453, USA.

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Phased Array Testing

Teoría básica para

NDT Field Guides

DMTA-20003-01EN_rev_C-Covers_201407.indd 1 2014-08-19 09:18

NDT Field Guides

2. Phased Array Probes ...................................................... 11

3. Basics of Phased Array Imaging ................................... 37

4. Phased Array Instrumentation ..................................... 51

5. Phased Array Test Setup and Display Format ........... 63

Appendix A: Constants and Useful Formula Tables ......... 81

Appendix B: Unit Conversion ............................................... 87

Appendix C: Support and Training ...................................... 89

Appendix D: Types of Equipment Available ...................... 91

Phased Array Glossary ............................................................ 99

Index ......................................................................................... 105

A medida que las pruebas ultrasónicas industriales se trasladaron al

Capítulo 1, “Introducción”. Este capítulo proporciona una breve

Apéndices Estas secciones incluyen una variedad de información de

“Glosario de matrices en fase”. Esta sección final presenta una lista

Olympus es un fabricante líder mundial de instrumentos innovadores

Activity Nuclear ASME

En esta guía, usaremos S-scan para "barrido de ángulo barrido",

1.1 Introducción general a Phased

1. Como compañía global, Olympus ha optado por utilizar los términos

El cambio de fase, o cambio de fase, es a su vez una forma de

Figura 1-2 Arreglos en fase utilizados para diagnósticos médicos

A principios de la década de 2000, aparecieron instrumentos portátiles

1.2 ¿Qué es un sistema de matriz en fase?

Figura 1-4 Construcción típica multielemento.

1.3 ¿Cómo funciona el phasing ultrasónico?

Delay (retrazo) (ns)

Incidente frente de onda

Figura 1-6 Ejemplo de escaneo lineal de haz de ángulo enfocado

Los sistemas de conjuntos de fases por ultrasonidos pueden emplearse

Los beneficios de la tecnología de matriz en fase sobre la UT

Las desventajas potenciales de los sistemas de arreglo en fase son un

2.1 Características del haz ultrasónico

Figura 2-1 Principio del elemento transductor piezoeléctrico

Olympus Phased Array Probes 11

Perfil de la viga. Como una aproximación de trabajo, el haz de un

Figura 2-2 Perfil del haz

De hecho, el perfil real del haz es complejo, con gradientes de presión

El campo de sonido de un transductor se divide en dos zonas: el

Figura 2-4 El campo de sonido de un transductor

El campo lejano es la región más allá de N donde la presión del

λ = longitud de onda = c--

Olympus Phased Array Probes 13

Tabla 2-1 Constante de relación de aspecto

Ratio corto / largo k

En el caso de elementos circulares, k no se usa y el diámetro del

Debido a las variaciones de la presión del sonido dentro del campo

2.2 Propiedades fundamentales de las

Formación de frente de onda. Si bien se puede pensar en un

Figura 2-5 Difusión del haz

El ángulo de dispersión del haz de un transductor circular

D = diámetro del elemento o apertura

De esta ecuación se ve que el ángulo de dispersión del haz aumenta

Olympus Phased Array Probes 15

Velocidad: 5850 m / s (0.230 in./µs) Diámetro: 3 mm (0.125

Figura 2-6 Difusión del haz con un elemento de 3 mm.

Velocidad: 5850 m / s (0.230 in./µs) Diámetro: 13 mm (0.5

Figura 2-7 Difusión del haz con un elemento de 13 mm.

If the transducer diameter is constant, then beam spreading decreases