Se quiere investigar para ciertas resistencias eléctricas sobrecargadas la manera como puede influir su resistencia (en ohms) so

Para ello se obtienen datos para 24 resistencias que se muestran en la siguiente tabla.

RESISTENCIA TIEMPO DE FALLA (MIN) A) Realiza un diagrama de dispersión indicando el valor del índice de
43 32 B) ¿Se puede decir que las variables tienen relación?
29 20
44 45
33 35
33 22
47 46
34 28
31 26
48 37
34 33
46 47
37 30
36 36
39 33
36 21
47 44
28 26
40 45
42 39
33 25
46 36
28 25
48 45
45 36
 su resistencia (en ohms) sobre el tiempo de falla de estos dispositivos.

cando el valor del índice de correlación

en relación?
Uno de los principales problemas en la manufactura de tarjetas electrónicas es la cantidad de cortos de soldadura que se gene
de encontrar las variables de entrada del proceso que influyen en esta problemática se investiga si hay alguna relación entre la
de soldado y la cantidad de cortos. Los datos obtenidos se muestran a continuación. Realiza un diagrama de dispersión para lo
¿Cuáles son tus conclusiones?

FLUX CORTOS
23 6
23.5 5
24 5
25 5
26 7
26 5
26 5
28 4
28 3
28 4
30 4
30.1 2
30.8 4
32 1
32.2 3
32.5 3
34 3
34.8 2
34.8 1
35.2 0
35.7 2
36 2
38 1
38.5 1
38.9 1
39 0
39.5 0
cortos de soldadura que se generan en el proceso de soldado de ola. Para tratar
ga si hay alguna relación entre la cantidad de flux (mm) que se aplica en el proceso
n diagrama de dispersión para los datos y calcula el coeficiente de correlación.
Como parte del análisis del problema de ausentismo se decide investigar la relación entre edad del empleado y los días que fal
año se muestran a continuación:

EMPLEADO EDAD FALTAS

1 29 6 A) Mediante un diagrama de dispersión analiza la relación entre las dos va
2 33 5 B) ¿Qué tipo de relación observas y cuáles son algunos hechos especiales?
3 40 0 C) Calcula el coeficiente de correlación en interprétalo.
4 23 8
5 31 6
6 20 9
7 30 5
8 38 5
9 23 8
10 25 6
11 26 7
12 30 5
13 42 2
14 34 5
15 31 6
16 18 11
17 33 6
18 33 4
19 33 5
20 32 5
21 25 7
22 38 3
23 22 0
24 30 4
25 24 7
26 39 10
27 35 5
28 20 1
29 32 5
30 25 5
31 36 5
32 30 5
33 20 10
34 38 4
35 39 4
36 34 4
37 35 6
38 27 7
39 40 3
40 30 6
ad del empleado y los días que faltó a laborar en el año. Los datos del último

analiza la relación entre las dos variables.

es son algunos hechos especiales?
n interprétalo.
En un proceso de manufactura de tarjetas electrónicas se quiere investigar la relación entre X: rendimiento de pruebas (yield)
y la variable Y: desperdicio (scrap). Los datos obtenidos son los siguientes:

YIELD (X) SCRAP (Y) A) ¿Qué tipo de relación existe entre las variables?
89.1 2116 B) Calcula el coeficiente de correlación y emite una conclusión.
92 1531 C) Calcula el tiempo de falla esperado para una resistencia de 36, 41 y 52 ohms
90.1 2717
89.5 2004
88.5 3477
87.9 3860
91.7 1947
91.8 1594
91.5 2059
88.9 2880
89.8 2984
91.5 1380
91 2545
91.8 1611
86.7 4814
89.9 1827
90.3 3071
88 4015
91.1 1975
90.8 2352
: rendimiento de pruebas (yield)

ncia de 36, 41 y 52 ohms