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OBJETIVOS
1.1 OBJETIVOS GENERALES
Evaluar la calidad del lote de 3000 vasos de vidrio de la empresa Copo Americano
mediante la inspección de muestreo doble utilizando el estándar Military Standard
105E.
1.2 OBJETIVOS ESPECÍFICOS
2. FUNDAMENTO TEORICO.
2.1. MUESTREO POR ATRIBUTOS.
El muestreo por atributos se puede aplicar a lotes aislados o series homogéneas de lotes. En
el primer caso la población es finita y se rige por la distribución hipergeométrica (muestreo
de tipo A), aunque para lotes grandes se puede aproximar por la binomial. En el segundo
caso se supone la población compuesta de infinitos elementos y por tanto se rige por la
distribución binomial (muestreo de tipo B). En el caso que el muestreo sea por número de
defectos, la función a aplicar es la de Poisson, independientemente que se trate de un lote
aislado o una serie de lotes.
El muestro por atributos consiste en extrae aleatoriamente una muestra de un lote y cada
pieza de la muestra es clasificada de acuerdo con ciertos atributos como aceptable o
defectuosa.
Los planes por atributos son los más utilizados a pesar de que con los planes por variables se
requiere un menor tamaño de muestra para lograr los mismos niveles de seguridad. Ello se
debe a que en los planes por atributos se pueden combinar varias características de calidad
en un solo plan. En los planes por variables hay que diseñar un plan para cada característica
de calidad. Entre los planes por atributos se tienen: (a) simple (b) doble (c) múltiple.
2.2. CURVA OC
Un plan de muestreo se caracteriza por su CURVA DE OPERACIÓ. En el eje de abscisas
OX se representa la fracción defectuosa p del lote a inspeccionar (o el número de defectos
medio m en el caso de contabilizar defectos). En el eje de ordenadas OY se representan las
probabilidades de aceptación de los lotes de esas características. Evidentemente P(0) = 1 y
P(1) = 0.
FIGURA 2: Curva de operación de un plan de muestreo.
𝑁 = 𝑡𝑎𝑚𝑎ñ𝑜 𝑑𝑒 𝑙𝑜𝑡𝑒.
La idea de este muestreo es tomar una primera muestra de tamaño pequeño para detectar los
lotes muy buenos o los muy malos, y si en la primera muestra no se puede decidir si aceptar
o rechazar porque la cantidad de unidades defectuosas ni es muy pequeña ni es muy grande,
entonces se toma una segunda muestra, para decidir si aceptar o rechazar tomando en cuenta
las unidades defectuosas encontradas en las dos muestras. El número de unidades de la
muestra que se inspecciona debe ser igual al primer tamaño de muestra dado por el plan.
Cuando el número de defectivos que se encuentran en la primera muestra sea igual o menor
que el primer número de aceptación, se considerara aceptable el lote o la producción unitaria.
Si el número de defectivos en la primera muestra es igual o mayor que el primer número de
rechazo, se debe de rechazar el lote o la producción.
Si el número de defectivos en la primera muestra queda entre los primeros números de
aceptación y de rechazo se toma UNA SEGUNDA MUESTRA, del tamaño dado por el plan
y se inspecciona; el número de la primera y la segunda muestra se suman; si la suma es igual
o menor que el segundo número de aceptación, se ACEPTA EL LOTE o PRODUCCIÓN. Si
la suma de defectivos es mayor o igual que el segundo número de rechazo, el LOTE O
PRODUCCIÓN SE RECHAZA
Probabilidad de aceptación:
𝑃𝑎 = 𝑃𝛼 𝐼 + 𝑃𝛼 𝐼𝐼
𝑐1
𝜆1 𝑑 𝑒 −𝜆1
𝑃𝛼 𝐼 = 𝑃(𝑑1 ≤ 𝑐1 ) = ∑
𝑑!
𝑑=0
𝑐2
𝑑1 −𝜆1
𝐼𝐼 𝜆1 𝑒 𝜆2 𝑑2 𝑒 −𝜆2
𝑃𝛼 = 𝑃(𝑑1 + 𝑑2 ≤ 𝑐2 ) = ( )∗∑
𝑑1 ! 𝑑2 !
𝑑2 =0
𝑝[𝑃𝛼 𝐼 (𝑁 − 𝑛1 ) + 𝑃𝛼 𝐼𝐼 (𝑁 − 𝑛1 − 𝑛2 )]
𝐴𝑂𝑄 =
𝑁
Otro parámetro importante a la hora de decidir cuál es el plan de muestreo más apropiado es
el TAMAÑO DE MUESTRA MEDIO, en inglés Average Sample Number (ASN).
Evidentemente en planes simples, el ASN coincide con la muestra del lote, pero para planes
dobles o múltiples este valor varía con la calidad de los lotes inspeccionados. Si ésta es muy
buena o muy mala, los lotes
se aceptarán / rechazarán generalmente sin necesidad de coger una segunda muestra y el ASN
será pequeño. Si los lotes tienen una calidad intermedia, entonces frecuentemente se cogerá
una segunda muestra y el ASN será grande.
El NCA se define como el peor promedio tolerable del proceso cuando se remiten series
continuas de lotes para el muestreo de aceptación. Se establece claramente que el NCA no es
un nivel deseable, pues la ISO 2859 estimula a los proveedores a tener promedios del proceso
mejores consistentemente que el NCA. El NCA no implica que el proveedor suministre
conscientemente unidades no conformes. La no conformidad se define como el
incumplimiento de un requisito específico. Se clasifican de acuerdo a su severidad. A las
inconformidades más severas se le asignan NCA muy pequeños mientras que a las menos
severas se le asignan NCA mayores. El NCA no debe ser mayor al 10%.
Este plan de muestreo es posiblemente el que ha tenido mayor difusión. Ha sido adoptado
con pequeñas variaciones por casi todos los cuerpos de normas importantes (ANSI, ISO, BS,
JIS, UNE, etc.). La revisión anterior (MIL-STD- 105D) estuvo en vigor más de 25 años y la
primera revisión data de 1950. La revisión actual no incluye ningún cambio en los
fundamentos estadísticos, pero si actualiza su aplicación contractual.
El contenido de la norma es el siguiente:
Los planes de muestreo de MIL-STD-105E se basan en el NCA, que deberá fijarse
entre cliente y proveedor. En principio estos planes están pensados para inspección
lote a lote aunque también se puede utilizar para el caso de lotes aislados; en este caso
es necesario especificar cuál es la CL máxima que se admite.
Existen tres niveles ordinarios de inspección, niveles I, II, y III, y otros cuatro
especiales, niveles S-1, S-2, S-3 y S-4, que se utilizan en caso de ensayos destructivos
o de inspecciones muy costosas. Estos niveles van en función de la complejidad y la
responsabilidad del producto. Cuanto más alto es el nivel, mayor es el tamaño de la
muestra y aumenta la discriminación del plan de muestreo. Si no se indica otra cosa
se toma el nivel II.
¨Existen tres tipos de planes: simples, dobles y múltiples, cuya elección queda a cargo
del inspector que aplica la norma.
Como se ha dicho anteriormente, esta norma está diseñada para series de lotes.
Existen por tanto tres niveles de muestreo distintos según haya sido la historia de los
lotes anteriores:
Inspección Rigurosa.
Inspección Normal.
Inspección Reducida.
La inspección normal se aplica generalmente al inicio del proceso y cuando la calidad del
proveedor es del mismo orden de la que precisa el proceso de fabricación. La rigurosa se
aplica cuando el historial de la calidad se ha deteriorado (calidad < necesaria).
En la norma se incluyen las CO para los distintos niveles de inspección. Se establecen niveles
y tipos de inspección.
El nivel III requiere aproximadamente el doble de inspección del nivel II y deberá usarse
cuando se necesita más discriminación.
FIGURA 10. Tabla para inspección reducida. Muestreo simple (MIL STD 105E).
3. PROCEDIMIENTO
Haciendo uso de
Medición de la las Tablas
calidad de un lote de Military Standar
Inspección 105E
3.000 vasos de vidrio
Para
El criterio de El criterio de
Aceptación Ac Rechazo Re
Si Llevar registro
Comprobar el
Estableciendo en una tabla
cumplimiento de las
el número de confeccionada
especificaciones de
unidades para ese
diseño del producto
defectuosas propósito
4. PROCESAMIENTO DE DATOS
4.1 TRATAMIENTO DE DATOS
Con estos datos obtendremos los planes de muestreo por atributos. Utilizando las tablas
MILITARY ESTÁNDAR 105E hayamos dichos planes:
TABLA-1
TABLA DE LETRA CODIGO
TABLA-2
TABLA DE INSPECCIÓN NORMAL SIMPLE
GRÁFICO-1
CURVA OC PARA UN MUESTREO SIMPLE
N° p Pa
1 0,01 0,9617
2 0,02 0,7576
3 0,03 0,4838
4 0,04 0,265
5 0,05 0,1303
6 0,06 0,0591
7 0,07 0,0253
8 0,08 0,0103
9 0,09 0,0041
10 0,1 0,0016
TABLA-6
TABLA DE PROBABILIDADES PARA INSPECCIÓN NORMAL DOBLE
1ra
2da Muestra L
Muestra
N° P 𝑃𝑎𝐼 P(X1=2)*P(X2<2) P(X1=3)*P(X2<1) 𝑃𝑎𝐼𝐼 𝑃𝑎𝑇
0 0 1 0 1 0 1 0 1
𝑝 = 0,0125 → %𝑝 = 1,25%
𝑐 1
𝑒 −𝑛𝑝 ∗ (𝑛𝑝)𝑥 𝑒 −80∗0,0125 ∗ (80 ∗ 0,0125) 𝑥
𝑃𝑎 = 𝑝(𝑑 ≤ 1) = ∑ =∑
𝑥! 𝑥!
𝑥=0 𝑥=0
5. RESULTADOS.