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Este es el plan por atributos que hemos descrito antes, es decir, consiste en un
tamaño de muestra, n, y un número de aceptación, c, ambos fijado de antemano.
Si en la muestra se encuentra "c" o menos unidades defectuosas, el lote es
aceptado. Por el contrario, si hay más de "c" artículos defectuosos, el lote es
rechazado.
El error de tipo I se refiere al riesgo del productor debido a que éste produce un
buen lote que aun así es rechazado.
Ejemplo.
Es un sistema en el cual se toma una primera muestra que es menor que la podría
ser tomada para un muestreo sencillo.
Se usa el mismo principio que en muestreo doble excepto que pueden necesitarse
más de dos muestras
Simplicidad
Tamaño promedio de muestra
Variabilidad en el tamaño de la muestra.
Facilidad de extraer unidades de muestra
Duración de la prueba
• El nivel LTPD: está definido como grado de material que se considera malo.
• Se espera que lotes con este porcentaje de piezas defectuosas tengan una
probabilidad de aceptación baja.
Hay dos juegos de tablas NCL: uno para el muestreo sencillo y otro para el
muestreo doble. Cada juego tiene tablas para valores de NCL de 0.5, 1.0, 2.0,
3.0, 4.0, 5.0, 7.0 Y 10.0%, con un total de 16 tablas. Para propósitos de
explicación, se muestra la tabla 9-6 para muestreo sencillo, empleando NCL =
1.0%. No se publican las tablas de los demás valores de NCL.
Para usar las tablas, antes hay que tomar una decisión acerca de si se va a utilizar
el muestreo sencillo o el muestreo doble. Además, el NCL tiene que calcularse, lo
que se puede hacer de manera semejante al caso de NCA. El tipo de muestro
(sencillo o doble) y el NCL determinarán qué tabla hay que utilizar.
Una vez que se sabe cuál es el tamaño del lote y el promedio del proceso, es fácil
obtener el plan de muestreo de aceptación.