2003 831 01 - Fiber Optic Attenuator

정보통신단체표준 제정일 : 2003년 6월
광 감쇠기 특성 및 신뢰성 시험절차서

(Characteristics & Reliability Test Procedure
for Fiber Optic Attenuators)
한국정보통신기술협회
서 문
1. 표준의 목적
광 파워의 세기를 조절하기 위해 사용되는 광 감쇠기는 광 통신 시스템 구축에 필요한 핵심 부
품으로, 시스템에 요구되는 특성 뿐아니라 신뢰성이 보장되어야 한다. 이에 본 문서는
국제 및 국내 표준서를 바탕으로 국내 광 감쇠기의 특성 및 신뢰성 시험에 적합하도록 개발되었
다.
2. 참조권고 및 표준
2.1 국제표준(권고)
가. Telcordia
(1) Telcordia GR-910-CORE Generic Requirements for Fiber Optic Attenuators
(2) Telcordia GR-1209-CORE : Generic Requirements for Passive Optical
Components
(3) Telcordia GR-1221-CORE Generic Reliability Assurance Requirements for
Passive Optical Components
나. EIA/TIA
(1) EIA/TIA-455-20A(FOTP-20A) Measurement of Change in Optical
Transmittance
(2) EIA/TIA-455-107A(FOTP-107) Determination of Component Reflectance or
Link/System Return Loss Using a Loss Test Set
(3) EIA/TIA-455-122A(FOTP-122) Polarization-Mode Dispersion Measurement
for Single-mode Fibers by Stokes Parameter evaluaion
(4) EIA/TIA-455-124(FOTP-124) Polarization-Mode Dispersion Measurement
for single-mode Optical Fibers by Interferometric Method
for Single-mode fibers by Stokes Parameter evaluaion
(6) EIA/TIA-455-8(FOTP-8) Measurement of Splice or Connector Loss and
Refletance Using an OTDR
(7) EIA/TIA-455-180A : Measurement of the Optical Transfer Coefficients of a
Passive Branching Device (Coupler)
(8) EIA/TIA-455-157 : Measurement of Polarization Dependent Loss (PDL) of
Single-Mode Fiber Optic Components
(9) EIA/TIA-455-B Standard Test Procedure for Fiber Optic Fibers, Cables,
Transducers, Sensors, Connecting and Terminating Devicesm and Other
fiber Optic Components
2
(10) EIA/TIA-455-2C Impact Test Measurements for Fiber Optic Devices
(11) EIA/TIA-455-3A Procedure to Measure Temperature Cycling Effects
on Optical Fibers, Optical Cable, and Other Passive Fiber Optiec
Components
(12) EIA/TIA-455-4B Fiber Optic Component Temperature Life Test
(13) EIA/TIA-455-5B Humidity Test Procedure for Fiber Optic Components
(14) EIA/TIA-455-11B Vibration Test Procedure for Fiber Optic
Components and Cable
(15) EIA/TIA-455-13A Visual and mechanical inspection of fiber, cable,
connectors, and/or other fiber optic devices
(16) EIA/TIA-455-71A Procedure to Measure Temperature-Shock Effects
on Fiber Optic Components
다. MIL
(1) MIL-STD-883E Method 2002.3 Mechanical Shock
(2) MIL-STD-883E Method 2007.2 Vibration, Variable Frequency
(3) MIL-STD-883E Method 1011.9 Thermal Shock
(4) MIL-STD-883E Method 1005.8 Steady-State Life
(5) MIL-STD-883E Method 1010.7 Temperature Cycling
(6) MIL-STD-883E Method 1004.7 Moisture Resistance
(7) MIL-M-38510J General Specification for Microcircuits (LTPD)
라. IEC
(1) IEC 1300-3-14 Fibre Optic Inerconnecting Devices and Passive
Components-Basic test and measureent procedures-Examination and
measurements-Accuracy and repeatability of the attenuation settings of a
variable attenuator
(2) IEC 1300-2-12 Fibre Optic Interconnecting Devices and Passive
Components-Basic Test and Measurement Procedures-Tests-Impact
(3) IEC 60068-2-6 Environmental Testing-Tests-Test Fc: Vibration
(sinusoidal)
(4) IEC 60068-2-2 Basic Environmental Testing Procedures-Tests-Tests B :
Dry Heat
(5) IEC 60068-2-3 Basic Environmental Testing Procedures-Tests-Tests Ca :
Damp Heat, steady state
(6) IEC 60068-2-38 Basic Environmental Testing Procedures-Tests-Test
Z/AD : Composite Temperature/Humidity Cyclic Test
(7) IEC 60068-2-47 Test Methods-Mounting of Components, Equipment and
3
Other Articles for Vibration, Impact and Similar Dynamic Tests
2.2 국내표준
2.3 기타
가.KRISS-99-070-SP 측정불확도 표현지침(한국표준과학연구원)
나.KASTO03-25-2030-295 광감쇠기 표준교정절차서(한국계량측정협회)
3. 국제표준(권고)과의 비교
3.1 국제 표준(권고)과의 관련성
본 표준은 Telcordia GR-910-CORE Issure 2, 1998 와 GR-1209-CORE Issue 3,
2001, GR-1221-CORE Issure 2, 1999 를 기본으로 작성하였으며, 시험절차는 EIA/TIA-455
와 MIL-883E 와 IEC 1300, IEC 60068등을 참조하여 작성하였다.
3.2 상기 국제표준(권고)등에 대한 추가사항 등
3.3 참조한 국제표준(권고)과 장 구성이 상이함을 표로 나타낸다.
4. 지적재산권 관련사항
5. 적합인증 관련사항
6. 표준의 이력
4
PREFACE
1. Purpose of standard
A fiber optic attenuator is a passive optical component that is intended to reduce the
optical power propagating in the fiber, and needs the reliable optical performance. This
standard based on international and domestic standards covers the optical performance
and reliability test for fiber optic attenuators.
2. Reference Recommendation and Standard

2.1 International Standard (Recommendation)
A. Telcordia
(1) Telcordia GR-910-CORE Generic Requirements for Fiber Optic Attenuators
(2) Telcordia GR-1209-CORE : Generic Requirements for Passive Optical
Components
(3) Telcordia GR-1221-CORE Generic Reliability Assurance Requirements for
Passive Optical Components
B. EIA/TIA
(1) EIA/TIA-455-20A(FOTP-20A) Measurement of Change in Optical
Transmittance
(2) EIA/TIA-455-107A(FOTP-107) Determination of Component Reflectance or
Link/System Return Loss Using a Loss Test Set
(3) EIA/TIA-455-122A(FOTP-122) Polarization-Mode Dispersion Measurement
for Single-mode Fibers by Stokes Parameter evaluaion
for single-mode Optical Fibers by Interferometric Method
for Single-mode fibers by Stokes Parameter evaluaion
(6) EIA/TIA-455-8(FOTP-8) Measurement of Splice or Connector Loss and
Refletance Using an OTDR
(7) EIA/TIA-455-180A : Measurement of the Optical Transfer Coefficients of a
Passive Branching Device (Coupler)
(8) EIA/TIA-455-157 : Measurement of Polarization Dependent Loss (PDL) of
Single-Mode Fiber Optic Components
(9) EIA/TIA-455-B Standard Test Procedure for Fiber Optic Fibers, Cables,
Transducers, Sensors, Connecting and Terminating Devicesm and Other
fiber Optic Components
5
(10) EIA/TIA-455-2C Impact Test Measurements for Fiber Optic Devices
(11) EIA/TIA-455-3A Procedure to Measure Temperature Cycling Effects
on Optical Fibers, Optical Cable, and Other Passive Fiber Optiec
Components
(12) EIA/TIA-455-4B Fiber Optic Component Temperature Life Test
(13) EIA/TIA-455-5B Humidity Test Procedure for Fiber Optic Components
(14) EIA/TIA-455-11B Vibration Test Procedure for Fiber Optic
Components and Cable
(15) EIA/TIA-455-13A Visual and mechanical inspection of fiber, cable,
connectors, and/or other fiber optic devices
(16) EIA/TIA-455-71A Procedure to Measure Temperature-Shock Effects
on Fiber Optic Components
C. MIL
(1) MIL-STD-883E Method 2002.3 Mechanical Shock
(2) MIL-STD-883E Method 2007.2 Vibration, Variable Frequency
(3) MIL-STD-883E Method 1011.9 Thermal Shock
(4) MIL-STD-883E Method 1005.8 Steady-State Life
(5) MIL-STD-883E Method 1010.7 Temperature Cycling
(6) MIL-STD-883E Method 1004.7 Moisture Resistance
(7) MIL-M-38510J General Specification for Microcircuits (LTPD)
D. IEC
(1) IEC 1300-3-14 Fibre Optic Inerconnecting Devices and Passive
Components-Basic test and measureent procedures-Examination and
measurements-Accuracy and repeatability of the attenuation settings of a
variable attenuator
(2) IEC 1300-2-12 Fibre Optic Interconnecting Devices and Passive
Components-Basic Test and Measurement Procedures-Tests-Impact
(3) IEC 60068-2-6 Environmental Testing-Tests-Test Fc: Vibration
(sinusoidal)
(4) IEC 60068-2-2 Basic Environmental Testing Procedures-Tests-Tests B :
Dry Heat
(5) IEC 60068-2-3 Basic Environmental Testing Procedures-Tests-Tests Ca :
Damp Heat, steady state
(6) IEC 60068-2-38 Basic Environmental Testing Procedures-Tests-Test
Z/AD : Composite Temperature/Humidity Cyclic Test
(7) IEC 60068-2-47 Test Methods-Mounting of Components, Equipment and
6
Other Articles for Vibration, Impact and Similar Dynamic Tests
2.2 Domestic Standard
2.3 The others

가. KRISS-99-070-SP KRISS Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement
나. KASTO03-25-2030-295 Standard Comparison Calibration Procedure of Optical
Attenuators
3. Compare with International Standard (Recommendation)

3.1 Relation to International Standard (Recommendation)
This Standard is based on Telcordia GR-910-CORE Issure2, 1998, GR-1209-CORE
Issure3, 2001 and GR-1221-CORE Issure2, 1999. The test procedure refers to
EIA/TIA-455, MIL-883E, IEC 1300 and IEC 60068, etc.
목 차
7
1. 개요 ...........................................................................................................10
2. 표준의 구성 및 적용범위 ............................................................................10
3. 특성 시험
3.1 특성 시험 항목......................................................................................10
3.2 특성 시험 필요 장비..............................................................................10
3.3 특성 시험 절차 .....................................................................................11
3.4 데이터의 처리 ......................................................................................17
4. 신뢰성 시험
4.1 신뢰성 시험 항목...................................................................................19
4.2 신뢰성 시험 필요 장비...........................................................................20
4.3 신뢰성 시험 절차 ..................................................................................21
5. 시험성적서 ................................................................................................36
부록 Ⅰ. 측정 불확도 .....................................................................................38
부록 Ⅱ. LTPD ..............................................................................................42
부록 Ⅲ. 물리적 상태 검사 ..............................................................................43
부록 Ⅳ. 시험성적서 작성 예시 .......................................................................44
부록 Ⅴ. 용어정리 ..........................................................................................50
Contents
8
1. Introduction ..............................................................................................10
2. Composition and Scope of Standard .......................................................10
3. Performance Test
3.1 Performance Test Items.....................................................................10
3.2. Performanc Test Apparatus .............................................................10
3.3 Performance Test Procedure............................................................11
3.4 Data Expression ................................................................................17
4.Reliability Test
4.1 Performance Test Items ....................................................................19
4.2 Reliability Test Apparatus .................................................................20
4.3 Reliability Test Procedure .................................................................21
5. Test Result Report ..................................................................................36
Appendix Ⅰ. Uncertanity in Measurement .................................................38
Appendix Ⅱ. LTPD ......................................................................................42
Appendix Ⅲ. Visual Inspection ...................................................................43
Appendix Ⅳ. Example of Test Result Report ............................................44
Appendix Ⅴ. Glossary .................................................................................50

1. 개요
광감쇠기는 광섬유 내에서 진행하는 광파워를 줄이기 위한 광수동 소자이며 고정 및 가변 감
쇠기가 있다. 광파워를 광수신기의 작동 범위 내로 감소시키기 위해 광감쇠기가 광통신 시스템
9
에서 이용된다. 이 문서는 국제 및 국내 표준서를 바탕으로 국내 광감쇠기의 특성 및 신뢰성 시
험에 적합하도록 개발되었으며, 광감쇠기의 구입자 및 공급자의 부품 특성 및 신뢰성에 대한 시
험 지침 및 이해를 목적으로 한다.
2. 표준의 구성 및 적용 범위
본 국내 표준안은 광 감쇠기의 특성 및 신뢰성 시험 항목, 시험 방법 및 절차와 시험 성적서로
구성되어 있다. 광 감쇠기의 특성 평가를 위해 불확도를 통해 신뢰성 있는 측정 결과의 표현 지
침을 보이고, 감쇠기 성능이 다양한 환경 조건에 적합한지를 판단하기 위한 신뢰성 시험의 기준
및 이해를 목적으로 하였다. 본 표준안은 크게 감쇠기의 특성 시험 및 신뢰성 시험으로 구분된
다. 따라서 사용자의 편의를 위해 3.특성 시험, 4. 신뢰성 시험 으로 구분하였다.
3. 특성 시험
3.1 특성 시험 항목
측정 항목은 구매자 등의 별도의 요구에 따라 그 항목이 추가될 수 있으며 본 표준안에서는

광 감쇠기 특성에 기본적으로 요구되는 항목을 제시하였다. 이는 Telcordia GR-910-CORE 및
국제 규격에 근거하였다.
3.3.1 광 대역 통과 (Optical Bandpass)
3.3.2 삽입 손실 (Insertion Loss)
3.3.3 반사율(Reflectance)
3.3.4 편광 의존 손실 (PDL:Polarization Dependent Loss)
3.3.5 편광 모드 분산 (PMD:Polarization Mode Dispersion)
삽입 손실은 감쇠기 측정 항목 중 감쇠값 변화(Change in Attenuation), 감쇠 허용 범위
(Attenuation Tolerance), 감쇠값의 증가량 및 범위 (Attenuation Increments and Range) 시
험시 요구되는 항목으로 측정 방법은 모두 동일하다.
3.2 특성 시험 필요 장비
광 감쇠기 시험에 기본적으로 광원과 광 검출기가 사용된다. 그 외에 일반적으로
DUT(Device Under Test) 시험을 위한 임의의 연결 및 참조 광섬유 등에 대해 요구되는
사항을 명시하였으며, CEI IEC 1300-3-14 및 Telcordia GR-910-CORE 를 근거로 하였
다.
가. 광원 (Optical Source)
광원은 시험 샘플을 측정하는 동안 안정적인 성능을 보여야 한다. 성능이 광원의 스펙트럼 특
성에 의해 영향을 받으므로 광원의 파장이나 대역폭의 요구사항, 간섭성(coherence) 및 편광특
성이 구체적으로 명시되어야 한다.
10
나. 광 검출기 (Optical detector)
어떤 검출기의 비선형성도 직접적으로 측정 오차에 영향을 주게된다. 그러므로 검출기 및 이
와 연관된 증폭기 회로가 전 측정 범위에 대해 충분히 좋은 선형성을 보이는지를 확인하여야 한
다. 광 검출기의 포화 수준은 검출기 작동 범위보다 최소 10dB 큰 값을 가져야 한다.
다. 임의의 연결점 (TJ:Temporary joint)
임의의 연결점에서의 삽입 손실은 측정을 수행하기 위해 요구되는 시간에 대해 충분히 안정
적이어야 한다. 열융착이 권장된다.
라. 참조 광섬유 (Reference fiber)
시험 중 이용되는 한 개의 참조 광섬유 혹은 두개의 참조 접속용 광섬유의 규격이 명시되어야
한다.
3.3 특성 시험 절차
3.3.1 광 대역 통과(Optical Bandpass)

광 대역통과란 광학적 요구가 만족되는 파장영역을 의미한다. 감쇠기는 광의 상온 및 최소,
최대 작동 온도에서 광 전송 양쪽 방향에서 측정되어야 한다.
(1) 참조 광 스펙트럼의 측정
광원을 광 스펙트럼 분석기(OSA-Optical Spectrum Analyzer) 에 연결하여 참조 스펙
트럼을 측정한다. 이 때 사용되는 스펙트럼 분석기는 일반적으로1nm의 해상도
(resolution), 10nm/분할 폭(division span), 요구하는 대역 통과의 양 끝보다 조금 큰 지
점이 파장 영역 시작과 끝이 되도록 할 때 가장 좋은 결과를 얻는다. 스펙트럼 분석기의 해
상도는 시험 광원의 스펙트럼 선 폭 보다 좋아야 한다.
(2) 감쇠 광 파워의 측정
시험하고자 하는 감쇠기가 접속용 광섬유와 연결 되어 있다면 점퍼 케이블 대신에 이 감
쇠기를 연결시키고, 그렇지 않다면 점퍼 한 쪽을 반으로 자른 뒤 감쇠기에 열 융착시킨다.
광원과 스펙트럼 분석기 사이에 감쇠기를 연결한다.
(3) 파장 교차점 찾기
각 요구되는 대역 통과 영역에 대해 두 파장의 교차점을 찾는다. 감쇠기에 나타난 값에
레벨 마커(level marker) 를 위치시킨다. 다른 광 관련 요구사항 또한 이 파장에 의해 규정
된 대역 통과에 대해 만족되어야 한다.
(4) 대역 통과을 기준과 비교
대역 통과의 요구 사항과 비교한다.
3.3.2 삽입 손실
광이 감쇠기를 지나면서 삽입 손실이 발생하게 된다. 감쇠기의 신뢰성 시험을 위해 요구되는
광학 특성 시험 항목에 감쇠값 변화(Change in Attenuation), 감쇠 허용범위(Attenuation
11
Tolerance), 감쇠값의 증가량 및 범위(Attenuaion Increments and Range) 항목이 있는데 모
두 이러한 손실과 관련된 항목이다.
가. 감쇠값 변화:환경, 역학적 압력 전, 동안, 후에 있어 감쇠값의 변화량을 측정하기 위함. 가변
감쇠기의 경우엔 그 감쇠값의 최소부터 최대에 이르는 범위에 걸쳐 그 응용에 따라 감쇠 증가값
이 3dB 나 혹은 5dB 보다 크게 설정되어야 한다.
나. 감쇠 허용범위 : 고정 혹은 가변 감쇠기의 명시된 감쇠값 V와 측정된 감쇠값의 차이. 이 항
목은 감쇠값에 변화가 생겼을 때 손실의 불확실성을 제한하기 위한 항목이다.
다. 감쇠값의 증가량 및 범위 : 감쇠값 증가량이란 dB 로 표현되는 최소 감쇠 폭을, 감쇠 범위란
가변 감쇠기가 설정될 수 있는 최대 그리고 최소 감쇠값을 의미한다. 이 시험 항목은 감쇠기가
광통신 전송 시스템의 동작 범위를 커버하는 데 필요로 하는 값 및 범위를 보장할 수 있는지를
보이기 위한 항목이다.
광원은 요구되는 광 대역폭안에 있어야 하고, 접속이나 커넥터에 기인한 삽입 손실은 배제되
어야 한다.
(1) 광섬유 단면 준비
감쇠기 끝단이 플러그 등이 없는 경우에 그 종단면은 깨끗하고 매끄럽게 절단되어야 하며,
프러그나 접속 소켓 등이 연결되어 있는 광섬유의 경우엔 입사(launch) 조건을 저해하지 않
기 위해 잘 접합되어야 한다.
(2) 입사 광 파워 Pi 의 측정
시험하려는 감쇠기의 파장 범위 내에 중심 파장을 가지는 안정적인 광원을 이용한다. 시험
하려는 감쇠기의 커넥터 와 같은 커넥터를 갖는 점퍼 케이블을 이용하여 광원과 광 검출기
를 연결한다. 점퍼 케이블의 길이는 2 미터 길이 내에서 2번 이상 360도의 루프를 형성시
키면 모드 필터로 충분하다. 광 검출기 를 이용하여 광 파워를 측정, 참조를 위한 입력 파워
값 Pi 값을 얻는다.
(3) 감쇠 값 결정
시험하려는 감쇠기가 플러그나 접속 소켓에 연결되어 있다면 광 검출기에 연결되어 있는
점퍼 케이블에 연결시키고 그렇지 않다면 광 검출기에 연결된 점퍼 케이블을 반으로 잘라
양쪽으로 감쇠기를 접속 손실이 0.02dB 이하가 되게 연결 시킨다. 광 검출기로 나오는 광
파워 P0를 측정한다.
A  10 log10  Pi / P0 
(4) 최종 감쇠값 결정
최종 감쇠를 결정하기 위해 (3) 을 반복, 빛의 전파의 양쪽 방향에 대해서 감쇠값을 얻는
다.
(5) 요구 조건과 시험 결과의 비교
시험 결과를 위에 기술한 요구조건과 비교한다.
fusion splice Pi
12
source Detector
L1
(a) 참조 광 파워의 측정
P0
MF MF
DUT
source Detector
L2 L2
(b) 감쇠기의 삽입 손실 측정
(그림 3-1) 삽입 손실의 측정
3.3.3 반사 특성
반사율은 입력 광 파워 Pi 와 반사되는 광 파워 Pr 의 비로 나타낸다.
R ( dB )  10 log( Pr / Pi ) ------------------ (식 3-1)
감쇠기에 있어 광 파워는 양쪽 방향으로 전파할 수도 있다. 측정에는 감쇠기가 접속용 광섬유
와 연결되어 있는 경우가 아니라면 커넥터에 의한 반사율은 포함시키지 않는다. 반사율은 각 파
장 영역의 규격 파장(nominal wavelength) 에서 가장 안 좋은 값으로 정하며, 이상적으로 모든
규격은 전체 대역 통과에서 만족되어야 한다.
광섬유가 시험 중 절단될 때는 단면이 매끄럽고 광섬유 축에 대해 90 도로 잘려지도록 해야 한
다. 또한 시험 결과에 영향을 미치지 않도록 작은 손실값을 갖도록 해야 하므로 이에 적합한 인
라인 어댑터와 굴절률 정합액(Index-matching material) 이 사용되어야 한다. 광원과 광 검출
기는 명시된 명세내에서 사용한다.
FOTO-107 에서 제시하는 측정 방법에는 두 가지가 있다.
가. Method A. :두 개의 광검출기를 이용한 반사율 결정
(1) 반사율 측정시 같은 파장에서 FOTP-180을 따르는 커플러를 준비한다. 세개의 포트
를 갖는 (12) 커플러가 권장된다. 커플러는 측정 동안 안정적이어야 하고 편광에 민감하
지 않아야 한다.
(2) 커플러의 포트 1과 광원을 광섬유로 연결한다. 커플러의 포트2와 광 검출기를 광섬유로
연결하고 커플러의 포트 3 과 또 다른 광 검출기를 광섬유를 연결한다. 커플러의 포트 2,
포트 3에 연결된 광 검출기로부터 반사된 광 파워는 받아들여질 수 있는 정도로 작아야
한다.
(3) 모든 TJ 가 안정적이고 재현성이 있도록 한다. 커플러의 포트 3과 연결된 광검출기에서
의 광 파워 값 P0와 커플러 포트 2에서의 에 연결된 광검출기에서의 광파워 P1 값을 측정,
기록하여라.
(4) 커플러의 Port 3에 연결된 광검출기의 연결을 끊고 커플러 포트 3과 광 검출기 사이에 광
감쇠기를 연결시킨다. 이러한 연결 시 TJ 에 의한 반사를 방지하기 위한 DUT 와 광 검출
기간 의 연결에 의한 반사값이 작도록 한다. 커플러의 포트 2 가 연결된 광 검출기에서의
13
광파워 P2를 측정, 기록한다.
Source
Port 1 Port 3
Coupler Detector
P1 P0
Port 2
Detector (a) P0, P1 의 측정
Source
Port 1 Port 3
Coupler DUT Detector
P2
Port 2
Detector
(b) P2 의 측정
(그림 3-2) 측정방법 A 를 이용한 반사율 측정
나. Method B.: 한 개의 광 검출기를 이용한 반사율 결정

(1) 반사율 측정시 같은 파장에서 FOTP-180을 따르는 커플러를 준비한다.
(2) 커플러의 포트 1 과 광원을 광섬유로 연결하고 커플러의 포트 3과 광 검출기를 광섬유
로 연결한다. (그림 3-3) 에 보여진 것처럼 커플러의 포트 2에서 나오는 광섬유를 굴
절률 정합액 등에 넣는 등 반사가 없도록 만든다.
(3) 모든 TJ 가 안정적이고 재현성이 있도록 한다. 커플러의 포트 3 과 연결되어 있는 광검
출기에서의 광 파워 값 P0 를 측정, 기록한다.
(4) 커플러의 포트 3 과 연결되어 있는 검출기를 커플러의 포트2 로 연결하고 커플러의 포
트 3 에서 나오는 광섬유는 반사가 없도록 장치한다.
(5) 모든 TJ 가 안정적이고 재현성이 있도록 한다. 커플러의 포트 2와 연결되어 있는 광검
출기에서의 광 파워 값 P1 을 측정, 기록한다.
(6) 커플러의 포트 3 과 종단(Terminaition) 사이에 DUT 를 연결한다.
(7) 모든 TJ 가 안정적이고 재현성이 있도록 하고 커플러의 포트 2 와 연결되어 있는 광검
출기에서의 광 파워 값 P2 를 측정, 기록한다.
Source
Port 1 P0
Port 3
Coupler Detector
Port 2
14
Termination
(a) P0 의 측정
Source
Port 1 Port 3
Termination
Coupler Terminati
P1
Port 2 on
Detector
(b) P1 의 측정
Source
Port 1 Port 3
DUT Termination
Coupler
P2
Port 2
Detector
(c) P2 의 측정
(그림 3-3) 측정방법 B를 이용한 반사율 측정
위의 측정 방법에 따라 반사율은 다음과 같이 계산할 수 있다.
 P  P1 
LR  10 log  2   Lc -------------------- (식 3-2)
 P0 
여기에서,
LR = 반사율
Lc = 커플러의 삽입 손실
이와 같은 파괴 검사 외에 TJ 대신 케이블 어셈블리를 이용한 비 파괴 검사도 가능하다.
또한 상용화된 반사율 측정 장비를 이용할 수동 있다.
3.3.4 편광 의존 손실 (PDL-Polarization Dependent Loss )
편광 상태의 변화에 따른 삽입 손실의 변화를 의미하며, 모든 광학적 요구 사항들이 입사광의 모든
편광 상태에 대해 만족하여야 한다.
(1) 광원 준비
1310nm 와 1550 nm 각각에서 최소 하나의 파장에 대해 측정하고 시간에 대해 안정적이며, 스
15
펙트럼 폭은 10nm 보다 작고 소광비(extinction ratio) 는 20dB 보다 큰 광원이 단일모드 광섬
유에 입사되어야 한다.
(2) 소자 배치
시험중 편광상태가 변하지 않도록 접속용 광섬유는 곧게 배치되어야 한다. 배치는 그림과 같이 광
원에서 나오는 빔이 편광 제어기(PC:Polarization Controller) 를 지나면서 다양한 편광 상태의
빔이 DUT 에 입사되도록 한다.
(3) 편광 의존 손실 값 결정
다양한 상태의 편광된 빔에 대해 DUT 를 지나 출력되는 광파워의 손실이 가장 큰 경우의 파워
를 편광 의존 손실로 정한다.
Source Polarization
Controller DUT Detector
(그림 3-4) 편광 의존 손실의 측정 장치
GR-910-CORE 혹은 FOTP-157 와 같이 편광 제어기는 선형 편광기와 1/4 파판, 1/2 파판 을 이

용하여 편광상태를 조절할 수도 있고 상용화된 제품을 사용할 수도 있다.
3.3.5 편광 모드 분산 (PMD-Polarization-Mode Dispersion )

편광 모드 분산은 광섬유를 지나는 펄스의 도착 시간 차이라고 할 수 있다. 광섬유 케이블에서 편광
모드 분산은 시간, 파장, 온도, 진동에 따라 변화한다. 광소자에서의 편광 모드 분산값이 안정적이고
그 평균값에 대한 표준편차가 작더라도 광 전송 시스템에 영향을 미칠 수 있다. 편광 모드 분산을 측
정하는 방법에는 FOTP-113 에 규정된 fixed analyzer method, FOTP-122 에 규정괸 Jones
matrix analysis, FOTP-124 에 규정된 interferometric method 등이 있다. 상품화 되어 있는
장비를 이용할 수도 있다.
3.4 데이터의 처리
본 문서에서는 한국표준과학연구원(KRISS) 측정불확도 표현지침 KRISS-98-096-SP 에 따라

불확도에 근거하여 데이터를 처리하는 것을 권장한다. 이하의 감쇠기에 대한 데이터 처리 및 분석 모
델은 한국계량측정협회의 광감쇠기 표준교정절차서 KASTO03-25-2030-295 를 따른다.
16
3.4.1 데이터 분석의 수학적 모델
Ax=f(As, Asu, Acp,Alu,Ali,Asr)
=As+Asu-Acp+Alu-Ali+Asr
여기에서,
Ax : 추정값
As : 지시 표준값이 갖는 측정오차값
Asu : 표준값이 갖는 불확도
Acp : Connector 사용에 따른 측정 재현상의 불안전요소를 적용
Alu : STD. Source Uncertainty
Ali : D.U.T Linearity (Level 변환에 따른 Drift)=Ael(D.U.T 실제값)-Asl(Setting 한
Nominal 값)
Asr : STD. 유한 분해능에 의한 불확도
감도계수 : cAs=Ax/As=1 cAsu=Ax/Asu=1 cAcp=Ax/Acp=-1
cAlu=Ax/Alu=1 cAli=Ax/Ali=-1 cAsr=Ax/Asr=1
3.4.2 불확도의 평가
측정결과의 신뢰성을 나타내기 위하여 사용되어 온 여러가지 중에서 표현방법의 통일을 위해
1993년 국제표준화기구(ISO) 에서 발행된 측정 불확도 표현 지침서에 따라 한국표준과학연구원
(KRISS) 에서 측정량의 합리적인 추정값이 이루는 분포의 대부분을 포함할 것으로 기대되는 측정결
과 주위의 어떤 구간을 제공해 주자는 목적에서 도입었되고 권장하고 있는 확장 불확도를 사용하기
로 한다. 이하 데이터 처리 및 시험 성적서에 있어서도 확장 불확도를 이용한다.
감쇠기 측정 데이터의 불확도는 약 95% 의 신뢰수준을 주는 포함인자 k=2 를 곱한 표준불확도를
근거로 한다. 이 방법은 한국계량측정협회의 광감쇠기 표준교정절차서 KASTO03-25-2030-295
를 참고로 하였다. 광 감쇠기에 대한 불확도 평가 방법은 다음과 같으며 그 이하 시험 결과표에 측정
불확도 계산값을 넣어 신뢰도 95% 에 해당하는 측정 값의 신뢰 구간을 정해주는 것을 권장한다.
가. A형 불확도 : A형 불확도를 구하기 위해서는 반복 측정한 데이터가 필요하다.
반복 측정값의 개수는 4부터 10 사이의 개수로 한다. 여러 번 반복 측정하여 얻은 값에 대해 평균값
및 추정 표준편차 s 를 계산한다. 데이터 x 에 대해 산술평균값을 x 로 둘 경우 표준편차는 다음과
같이 구해진다.
 (x i  x)2
------------- (식 3-3)
s i 1
(n  1)
이들 평균치의 추정 불확도 u는
s
u ------------- (식 3-4)
n
17
나. B형 불확도 : B형 평가에 자주 있는, 정보가 적은 경우 측정 불확도의 상한과 하한 밖에 추정할
수 없을 수 있다. 이 경우 구하는 값이 같은 정도의 확률로 그 사이 어딘가에 들어가게 되는데 즉, 사
각형 분포에 들어간다고 가정할 수있다. 직사각형 분포에 대한 표준불확도는 a 를 상한과 하한의 사
이의 반범위 값이라 둘 경우 다음과 같이 구한다.
a
-------------- (식 3-5)
3
다. 합성표준불확도
위에서 구해진 표준불확도는 제곱합이 제곱근법(root sum square method) 에 따라 유효하게 합
성할 수 있다.
라.확장불확도
포함인자 k=2 를 사용하여 95% 의 신뢰수준에서의 확장 불확도 값 U를 얻는다.
U  ku c --------------- (식 3-6)
이상의 데이터 처리에 대한 예는 부록 Ⅰ을 참고할 수 있다.
4. 신뢰성 시험
4.1 신뢰성 시험 항목
신뢰성 시험 항목은 상황에 따라 그 항목이 추가될 수 있으며, 본 표준안에서는 광 감쇠기의 신뢰성

시험에 기본적으로 요구되는 항목을 제시하였다. 이는 Telcordia GR-910-CORE, Telcordia
GR-1221-CORE 및 국제 규격에 근거하였다.
18
<표 4-1>#/<Telcordia GR-910-CORE> 광 감쇠기 신뢰성 시험 항목
샘플링
시험종류 참고규격 시험조건 기준*
[LTPD**]
EIA/TIA-455-2C 1.8meter, 5cycles
기계적 충격 20% R
MIL-STD-883E Mothod 2002 500G, 1ms
EIA/TIA-455-11B 20G, 10-2,000Hz
진동 20% R
MIL-STD-883E Mothod 2007 20G, 20-2,000Hz
EIA/TIA-455-71A T=100C,20cycles
열 충격*** 20% R
MIL-STD-883E Mothod 1011 T=100C,15cycles
85C, <40%RH,
고온저장 EIA/TIA-455-4B 5000 hrs-qualif. 10% R
10000 hrs-info.
75C, 90%RH,
고온다습저장 EIA/TIA-455-5B 2000 hrs-qualif. 10% R
5000 hrs-info.
-40C,
저온저장 EIA/TIA-455-4B 2500 hrs-qualif. 20% CR
5000 hrs-info.
-40C to 75C
EIA/TIA-455-3A,
온도순환 500 cycles-qualif. 20% R
MIL-STD-883E, Method 1010
1000 cycles-info.
IEC 68-2-38, -40C to 75C
온도습도순환 20% CR
MIL-STD-883E, Method 1004 5 cycles
* : R은 Requirement로 수행하여야 하는 시험, CR은 Conditional Requirement로, 제품이 비제어 환경에서 사용될
경우에 수행하는 시험을 나타낸다.
** : 시료를 샘플링하는 방법으로 ‘부록I LTPD’를 참조한다.
*** : Non-Hermetic Package인 경우에는 열충격시험을 수행하지 않고, 고온다습저장시험을 2000시간이 아닌 5000
시간을 수행한다.
4.2 신뢰성 시험 필요 장비
가. 기계적충격시험 장비
충격 펄스가 half-sine 파형이고, 시료에 1ms 동안 500G의 충격을 줄 수 있는 장비이거
나 (그림 4-1)에서 보는바와 같이 충돌표면에서 0.6m높이에 위치한 견고한 구조물에 2m
Cable의 한쪽 끝을 고정시키고 다른 한쪽에 시료를 고정시킬 수 있고 시료가 충돌하는 충
돌 표면을 100mm이상의 두께를 가진 콘크리트나 25mm이상의 두께를 가진 강철판으로
19
구성한 장비이다
나. 진동시험 장비
sine파형으로 진폭이 1.52 mm (0.06 inch) 이상이고 시료 장착 후 20G (peak) 이상의
성능이 가능하며, 주파수를 10 ~ 2000 Hz 또는 20 ~ 2000 Hz 까지 지수적으로 증가시
킬수 있는 장비이다.
다. 열충격시험 장비
두개의 챔버를 가지거나 시험조건에 따라 한 개의 챔버를 가질 수도 있다. 온도범위는 시험
을 수행하고자 하는 범위 이상이어야 하며, 온도 변화 시간은 시험 조건에 따라 2분 이하이
거나 10초이하인 장비이다.
라. 고온및저온저장시험 장비
고온시험을 위해 온도가 85C 이상이고 상대 습도가 40%RH이하인 상태로 10000시간이
상 동안 제어할 수 있는 장비이고, 저온시험을 위해 온도가 -40C 이상이고 상대 습도가
제어되지 않는 상태로 5000시간이상 동안 제어할 수 있는 장비이다.
마. 고온다습저장시험 장비
고온다습한 환경, 즉 온도가 75C 이고 상대습도가 90% 이거나, 온도가 85C 이고 상대습
도가 85% 인 상태로 5000시간이상 제어될 수 있는 장비이다.
바. 온도순환시험 장비
온도를 -40C에서 75C사이에서 순환할 수 있는 장치로 온도를 점차적으로 올리거나 내
릴 수 있어야 하며, 극온에서 15분이상을 유지할 수 있어야 한다. 또한 이러한 순환을 안정
적으로 1000번 이상 수행할 수 있는 장비이다.
사. 온도습도순환시험 장비
온도를 -40C에서 75C사이를 순환하는 동안에 습도를 제어할 수 있는 장비로 상대습도
를 75C 에서 85~95%를 유지하고, 극온에서 3시간 이상을 유지 할 수 있는 장비이다. 또
한 온도와 습도변환이 시험을 설계한 대로 이루어질 수 있는 장비이다.
아. 시료의 물리적 상태 검사 장비
외관 검사를 위한 장비는 3X이하의 확대경이고, Case, lead, seal등의 검사를 위한 장비는
10X~20X사이의 확대경이고, 시험 후 손상이나 위치변경등의 내부검사를 위한 장비는
30X의 확대경이다.
자. 시료의 성능 측정 장비
성능을 측정하기 위한 측정장비는 “광통신 감쇠기 측정절차서”를 참조한다.
4.3 신뢰성 시험 절차
4.3.1 기계적 충격 시험
이 시험은 광부품의 신뢰성을 보여주기 위하여 시료(Specimen)에 충돌 충격을 준 후에 시료의 광
특성과 기계적특성의 변화에 미치는 효과를 측정하는 것이다.
20
이 시험의 결과로 나타날 수 있는 고장으로는 연결부위의 물리적 손상, 부분적 파손, 밀봉한 부분의
손상, 전송 특성의 변화등으로 나타날 수 있다.
가. 시험 방법 및 절차
(1) 시료 준비
(가) 시험을 수행하기 위해 필요한 부가장비(Connector, Optical fiber 등)를 준비하고, 시
험에 적당한 Fixtures를 준비한다.
(나)시료 및 상기 장비의 규격을 명시한다.
(다)시험 수행을 위한 광섬유나 케이블의 길이는 최소가 되게 한다.
(2)시험 전 외관 검사
시험을 하기 전에 시료가 손상이 없는 것을 확인하기 위해 물리적 상태를 시각적으로 검사
한다.
(3)시험 전 시료 안정화
시료를 온도 23  2 C, 상대습도 50  5 %의 환경에서 24시간 이상 동안 유지한다.
(4)시험 전 성능 측정
시험을 수행하기 전에 표준 상온 상태에서 시료의 성능을 측정한다.
(5)시험 수행
(가)시험 조건 1
1) 충격 수 : 6방향에 대해 한 방향당 5번 (총 30번)
2) 충격 레벨 : 500G
3) 기간 : 1ms (허용오차  30 %)
기간은 Shock pulse가 올라갈 때 최대치의 10% 가 된 지점부터 shock pulse
가 내려갈 때 최대치의 10%가 된 지점까지의 시간이다.
4) 충격 펄스 : half-sine 파형 (왜곡은 최대치의  20 %이하)
(나)시험 조건 2
21
(그림 4-1)/(EIA/TIA-455-2) 충돌 충격 시험 장치
1) Drop 높이 : 1.8m  6mm

2) 각 축(3축)에 대한 Drop의 수 : 8
3) 충돌 충격 시험의 반복 횟수 : 5
4) 위 (그림 4-1)에서 보는바와 같이 충돌표면에서 0.6m높이에 위치한 견고한 구조물
에 2m Cable의 한쪽 끝을 고정시키고 다른 한쪽에 시험대상장비를 고정시킨다.
5) 시험대상장비가 충돌하는 충돌 표면은 100mm이상의 두께를 가진 콘크리트이거나
25mm이상의 두께를 가진 강철판이다.
6) 충돌 충격 시험시 시험대상장비가 충돌 표면에 부딪치고 뛰어오르지 않아야 한다.
그래서 시험대상장비를 넣은 용기를 모래나 작은 유리구슬 같은 견고한 포장 매
체로 채워넣어 뛰어오르지 않게 한다.
(6) 시험 후 시료 안정화
시험을 수행한 후 시료가 초기 측정상태와 같은 안정된 상태가 되기 위한 시간이 필요하다.
(7)시험 후 성능 측정
시험을 수행한 후에 시료의 성능을 측정하여 시험 전과 시험 후의 성능 변화를 비교한다.
(8)시험 후 외관 검사
시험을 수행한 후에 시료의 물리적 상태를 시각적으로 검사하여 시험 전과 시험 후의 외관
변화를 비교한다.
나. 시험결과 포함 항목
시험 결과에 포함되어야 하는 정보는 아래와 같다.
22
(1) 필수항목
(가) 시험제목
(나) 시험에 사용된 광부품
(다)시험 수행 방법
(라)시험 전, 후 외관 검사 결과
(마)시험 전, 후 성능 측정 결과
(바)시험수행날짜
(2)선택항목
(가)성능 측정을 위한 절차
(나)시험에 사용된 장비 및 가장 최근에 교정된 날짜
(다)시험에 사용된 Fixture
(라)시험 수행자
4.3.2 진동 시험
이 시험은 광부품의 신뢰성을 보여주기 위하여 시료에 진동을 준 후에 시료의 광특성과 기계적특
성의 변화에 미치는 효과를 측정하는 것으로 이 시험은 Sinusoidal 진동 환경에서 수행한다.
이 시험의 결과로 나타날 수 있는 고장으로는 연결부위의 물리적 손상, 부분적 파손, 밀봉한 부분의
손상, 전송 특성의 변화등으로 나타날 수 있다. 시험에 사용되는 G의 정의는 아래와 같다.
G = 0.0512f2DA
f : 진동주파수(Hz), DA : 최대 진폭 (inches)
(1)시료 준비
(가)시험을 수행하기 위해 필요한 부가장비( Connector, Optical fiber 등)를 준비하고, 시
험 측정에 적당한 Fixtures를 준비한다.
한다.
(5)시험 수행
(가)시료가 장착될 Fixture의 공진점을 확인한다.
(나)시료는 진동 상태가 잘 전달될 수 있도록 Fixture에 고정되어야 하며, 진동의 크기는
23
모니터되어야 한다.
(다)시험수행중에 공진이 발생하는지를 모니터하고, 필요시 진동시험을 수행하는 동안에도
시료의 성능을 측정하여 주파수에 따른 성능의 변화를 확인한다.
(라)시험 조건 1
1) 가속(진폭)
진폭 (peak to peak) : 1.52 mm (0.06 inch) (허용오차 :  10% )
가속 : 20G (peak) (허용오차 : + 20%, -0%)
2) 주파수 범위
10 ~ 2000 Hz (지수적으로 증가)
3) Sweep 시간
20분 안에 10~2000Hz의 주파수를 Sweep하고 다시 10Hz로 돌아온다.
4) 반복 회수
위의 Cycle을 각축(3축) 방향으로 12번 수행함. (총 36번 수행)
(마)시험 조건 2
1) 가속(진폭)
진폭 (peak to peak) : 1.52 mm (0.06 inch) (허용오차  10%)
가속 : 20G (peak) (허용오차 : + 20%, -0%)
2) 주파수 범위
20 ~ 2000 Hz (지수적으로 증가)
3) Sweep 시간
4분 이상에 20~2000Hz의 주파수를 Sweep하고 다시 20Hz로 돌아온다.
4) 반복 회수
위의 Cycle을 각축(3축) 방향으로 4번 수행함. (총 12번 수행)
(6)시험 후 시료 안정화
진동 시험 수행 후 시료가 초기 측정상태와 같은 안정된 상태가 되기 위한 시간이 필요하다.
진동시험을 수행한 후에 시료의 성능을 측정하여 시험 전, 시험 동안(필요시), 시험 후의 성
능 변화를 비교한다.
(1)필수항목
(가)시험제목
(나)시험에 사용된 광부품
24
(마)시험 전, 동안(필요시), 후 성능 측정 결과
(2)선택항목
(라)시험 수행자
4.3.3 열 충격 시험
이 시험은 광부품의 신뢰성을 보여주기 위하여 시료에 온도 충격을 준 후에 시료의 광특성과 기계
적특성의 변화에 미치는 효과를 측정하는 것이다. 시험 전과 시험 후의 특성변화를 비교하며, 시험수
행 도중의 특성변화를 측정할 필요는 없다. 시험을 수행하기 위해 2개의 챔버를 사용하거나, 1개의
챔버를 사용할 수 있다.
이 시험의 결과로 나타날 수 있는 고장으로는 물리적 손상(기포, 깨짐등), 탈착부분의 파손, 밀봉한
부분의 손상, 전송 특성의 변화등으로 나타날 수 있다.
(1)시료 준비
한다.
(5)시험 수행
(가)시료 장착
1)시료가 적절히 시험될 수 있게 챔버안에 설치하여, 각각의 시료가 같은 온도에 노출
될 수 있게 위치시킨다.
2)시료를 챔버안에 놓을 때에는 구부림이나 뒤틀림이 발생하기 않도록 주의한다.
25
(나)시험을 수행하기 전에 최소 15분동안 온도 충격 상태에서 챔버를 안정화 시킨다.
(다)온도 충격을 주는 방법으로 상온고온저온상온으로 수행하거나, 상온저온고
온상온으로 수행한다.
(라)시험조건 1
1) 온도 범위 : 100C (동작온도 범위)
2) 온도 유지 시간 : 30분 이상
3) 온도 변화 시간 : 2분 이하
4) 반복 횟수 : 20번
(마)시험조건 2
1) 온도 범위 : 100C (0C ~ 100C )
2) 온도 유지 시간 : 5분 이상
3) 온도 변화 시간 : 10초 이하
4) 반복 횟수 : 15번
시료를 온도 23  2 C, 상대습도 50  5 %의 환경에서 1~2시간 동안 유지한다.
시험을 수행한 후에 시료의 성능을 측정하여 시험 전과 시험 후의 성능 변화를 비교한다.
(1)필수항목
(가)시험제목
(마)시험 전, 후 성능 측정 결과
(2)선택항목
(라)온도 측정 장치가 놓인 위치
(마)시험 수행자
26
4.3.4 고온저장 시험
이 시험은 광부품의 신뢰성을 보여주기 위하여 일정한 시간동안 높은 온도에 노출시킨 후에 광특
성과 기계적특성의 변화를 측정하는 것이다.
이 시험의 결과로 나타날 수 있는 고장으로는 물리적 강도 손상, 중요한 기계적 특성의 변화 및 전송
특성의 변화등으로 나타날 수 있다.
(1)시료 준비
(가) 시험을 수행하기 위해 필요한 부가장비( Connector, Optical fiber 등)를 준비하고,
시험 측정에 적당한 Fixtures를 준비한다.
한다.
(5)시험 수행
(가)시료 장착
1)시료가 적절히 시험될 수 있게 챔버안에 설치하여, 각각의 시료가 같은 온도에 노출
3)시료의 광 연결을 위해 사용되는 스플라이스와 컨넥터는 시험 챔버의 바깥에 위치시
킨다.
(나)상온에서 온도를 점차적으로 올린다. (1C/분 이하)
(다)시험 수행중에도 시료의 성능을 측정한다. (100, 168, 500, 1000, 2000, 5000 및
10000시간에서 측정한다)
(라)시험 기간이 끝나면 온도를 상온으로 점차적으로 내린다. (1C/분 이하)
(마)시험 조건
1) 온도 : 85C (2C)
2) 습도 : < 40%RH
3) 기간 (온도가 고온에서 안정된 이후의 기간)
- 5000 시간 for qualification
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- 10000 시간 for information
시험을 수행한 후에 시료의 성능을 측정하여 시험 전, 시험 동안, 시험 후의 성능 변화를 비
교한다.
(1)필수항목
(가)시험제목
(마)시험 전, 동안, 후의 성능 측정 결과
(2)선택항목
4.3.5 고온다습저장 시험
이 시험은 광부품의 신뢰성을 보여주기 위하여 일정한 시간동안 높은 온도와 습도에 노출시킨 후
에 광특성과 기계적특성의 변화를 측정하는 것이다.
이 시험의 결과로 나타날 수 있는 고장으로는 광섬유의 물리적 손상, 관련 소자의 고장, 전송 특성의
변화등으로 나타날 수 있다. 시험 수행중 시료에 물방울이 떨어지지 않도록 주의해야 한다.
(1)시료 준비
28
한다.
시료를 온도 50  5 C, 상대습도 33% 이하의 환경에서 24시간 이상 동안 유지하고, 온도
23  2 C, 상대습도 50  5 % 환경이 되도록 한다.
(5)시험 수행
(가)시료 장착
1) 시료가 적절히 시험될 수 있게 챔버안에 설치하여, 각각의 시료가 같은 습도와 온도
에 노출될 수 있게 위치시킨다.
2) 시료를 챔버안에 놓을 때에는 구부림이나 뒤틀림이 발생하기 않도록 주의한다.
3) 시료의 광 연결을 위해 사용되는 스플라이스와 컨넥터는 시험 챔버의 바깥에 위치
시킨다.
(나)상온, 습도 비제어 상태에서 고온 다습한 상태로 올린다.
(다)시험 수행중에도 시료의 성능을 측정한다. (100, 168, 500, 1000, 2000 및 5000시
간에서 측정한다)
(라)시험 기간이 끝나면, 챔버를 표준 상온과 비제어 습도 상태로 되돌린다.
(마)시험 조건
1) 온도/습도 조건 1 : 75C (2C) / 90% (5%)RH
2) 온도/습도 조건 2 : 85C (2C) / 85% (5%)RH
3) 기간
교한다.
29
(1)필수항목
(가)시험제목
(2)선택항목
4.3.6 저온저장 시험
이 시험은 광부품의 신뢰성을 보여주기 위하여 일정한 시간동안 저온에 노출시킨 후에 광특성과
기계적특성의 변화를 측정하는 것이다.
이 시험의 결과로 나타날 수 있는 고장으로는 물리적 강도 손상, 중요한 기계적 특성의 변화 및 전송
특성의 변화등으로 나타날 수 있다.
(1)시료 준비
한다.
30
(5)시험 수행
(가)시료 장착
1) 시료가 적절히 시험될 수 있게 챔버안에 설치하여, 각각의 시료가 같은 온도에 노출
시킨다.
(나)상온에서 온도를 점차적으로 내린다. (1C/분 이하)
(다)시험 수행중에도 시료의 성능을 측정한다. (100, 168, 500, 1000, 2500 및 5000 시
간에서 측정한다)
(라)시험 기간이 끝나면 온도를 상온으로 점차적으로 올린다. (1C/분 이하)
(마)시험 조건
1) 온도 : -40C (2C)
2) 습도 : 제어하지 않음
3) 기간 (온도가 저온에서 안정된 이후의 기간)
교한다.
(1) 필수항목
(가)시험제목
31
(2) 선택항목
(가) 성능 측정을 위한 절차
(나) 시험에 사용된 장비 및 가장 최근에 교정된 날짜
(다) 시험에 사용된 Fixture
(라) 온도 측정 장치가 놓인 위치
(마) 시험 수행자
4.3.7 온도순환 시험
이 시험은 광부품의 신뢰성을 보여주기 위하여 온도 변화를 준 후에 광특성과 기계적특성의 변화
를 측정하는 것이다. 특정 온도에서의 허용오차는 2C 를 만족해야 한다. Fixture는 ‘heat sink’효
과가 최소한으로 발생하도록 가능한 가볍게 제작한다.
이 시험의 결과로 나타날 수 있는 고장으로는 물리적 손상, 중요한 기계적 특성의 변화 및 전송 특성
의 변화등으로 나타날 수 있다.
(1) 시료 준비
한다.
(5)시험 수행
(가)시료 장착
1) 시료가 적절히 시험될 수 있게 챔버안에 설치하여, 각각의 시료가 같은 온도에 노출
3)시료의 광 연결을 위해 사용되는 스플라이스와 컨넥터는 시험 챔버의 바깥에 위치시
킨다.
(나)온도 순환을 위해 온도를 점차적으로 올리거나 내린다.
(다)시험 수행중에도 시료의 성능을 측정한다. (극온에서 노출시간이 끝나는 시점에서 측정
32
한다)
(라)마지막 온도 순환을 끝낸 후 시료를 온도 23  2 C 로 되돌리고 시료의 성능을 측정한
다.
(마)시험 조건
1) 온도 : -40 ~ 75C (2C)
2) 극온에서의 시간 : 15 분
3) 순환 횟수
- 500번 for qualification
- 1000번 for information
교한다.
(1)필수항목
(가) 시험제목
(나) 시험에 사용된 광부품
(다) 시험 수행 방법
(라) 시험 전, 후 외관 검사 결과
(마) 시험 전, 동안, 후의 성능 측정 결과
(바) 시험수행날짜
(2)선택항목
(가) 성능 측정을 위한 절차
(나) 시험에 사용된 장비 및 가장 최근에 교정된 날짜
(다) 시험에 사용된 Fixture
4.3.8 온도습도순환 시험
이 시험은 광부품의 신뢰성을 보여주기 위하여 온도와 습도 변화를 준 후에 광특성과 기계적특성
의 변화를 측정하는 것이다.
33
이 시험의 결과로 나타날 수 있는 고장으로는 부식을 포함한 물리적 손상, 중요한 기계적 특성의 변
화 및 전송 특성의 변화등으로 나타날 수 있다.
(1)시료 준비
(나)상기의 장비의 규격을 명시한다.
(다)시험 수행을 위한 fiber나 cable의 길이는 최소가 되게 한다.
시험을 하기 전에 시료가 손상이 없는 것을 확인하기 위해 시각적이고 물리적인 검사를 수
행한다.
첫 순환 시험을 수행하기 전에 시료를 상대 습도가 20%이하이고, 온도가 55  2C인 상태
로 24시간 동안 유지하고, 온도 23  2 C, 상대습도 50  5 % 환경이 되도록 한다.
(5)시험 수행
(가)시료 장착
1) 시료가 적절히 시험될 수 있게 챔버안에 설치하여, 각각의 시료가 같은 습도와 온도
에 노출될 수 있게 위치시킨다.
시킨다.
(나)온도습도 순환을 위해 온도와 습도를 점차적으로 올리거나 내린다.
(다)시험 수행중에도 시료의 성능을 측정한다. (극온에서 노출시간이 끝나는 시점에서 측정
한다)
(라)마지막 온도습도 순환을 끝낸 후 시료의 성능을 측정한다.
(바)시험 조건
1) 온도 : -40 ~ 75C (2C)
2) 습도 : 85~95% @ 75C, 비제어 @ 25C & 40C
3) 극온에서의 노출시간 : 3 (~16) 시간
4) 온도 변환 시간 : 2.5 시간
5) 반복회수 : 5번 (5번의 서브사이클을 수행하는 것이 1번임)
34
(가)시험을 수행한 후에 시료의 성능을 측정한다.
(나)시험이 끝난 후 24시간 후에 시료의 성능을 측정하여 시험 전, 시험 동안, 시험 후의 성
능 변화를 비교한다.
(8) 시험 후 외관 검사
(1)필수항목
(가)시험 제목
(2)선택항목
5. 시험성적서
5.1 광감쇠기의 성능 시험 성적서에 포함되어야 할 내용은 다음과 같다.
가. 시험 제목
나. 시험성적서 발급번호, 발급기관 및 발급날짜
다. 시험의뢰자
(1) 기관명 및 대표이사
(2) 주소 및 전화번호
라. 시험 종류
마. 시험 목적
바. 관련 표준
사. 시험 환경
35
아. 시험 장비
(1) 장비명
(2) 장비제조업체, 모델명 및 기기번호
(3) 장비주요 스펙 (불확도 명시)
(4) 장비구입날짜 및 교정날짜(교정기관)
자. 시험 결과
(1) 광학적 성능 측정 값
(3) 데이터 분석 결과(신뢰수준 95%, k=2)
차. 시험 수행일
카. 시험 수행자 (시험 담당자)
타. 결과 확인자 및 확인 날짜
5.2 광감쇠기의 신뢰성 시험 성적서에 포함되어야 할 내용은 다음과 같다.
가. 시험 제목
나. 시험성적서 발급번호, 발급기관 및 발급날짜
다. 시험의뢰자
(1) 기관명 및 대표이사
(2) 주소 및 전화번호
라. 시험 종류
마. 시험 목적
바. 관련 표준
사. 시험의뢰 광부품
(1) 품명
(2) 관련 스펙 (형태, 길이, 재질, 용도, 개수 등)
(3) 성능 Pass/Fail 기준
(4) 제작일자
아. 시험장비
(1) 장비명
(2) 장비제조업체 및 모델명
(3) 장비주요 스펙 (필요시)
(4) 장비구입날짜 및 교정날짜(교정기관)
자. 시험 수행 방법
36
(1) 신뢰성 시험 조건
(2) 신뢰성 시험 구성 (온도관련 시험시, 온도 측정 장치가 놓인 위치)
(1) 시험에 사용된 Fixture (재질, 크기, 형태 등)
(2) 외관 검사 항목 및 검사 방법
(3) 성능 측정 항목 및 측정 방법
차. 시험 결과
(1) 시험 전, 후 외관 검사 결과
(1) 시험 전, 동안(필요시), 후의 성능 측정 결과
(2) 신뢰성 시험 통과 여부 및 종합평가
카. 시험 수행일
타. 시험 수행자 (시험 담당자)
파. 결과 확인자 및 확인 날짜
37
부록 Ⅰ 측정 불확도
성능 시험 측정 결과 데이터 분석 예는 아래와 같다.
Ⅰ.1.측정 데이터
<표 Ⅰ-1> 광 감쇠기 신뢰성 시험 항목 D.U.T 감쇠값 (파장 1310 nm)
설정레벨
측정횟수 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 Unit
5.000 5.037 5.034 5.035 5.036 5.035 5.037 5.035 5.033 5.033 5.033 dB
10.000 10.027 10.031 10.029 10.026 10.028 10.029 10.029 10.025 10.029 10.026 dB
15.000 15.038 15.042 15.041 15.041 15.041 15.039 15.039 15.041 15.036 15.037 dB
20.000 20.009 20.010 20.009 20.009 20.011 20.007 20.007 20.007 20.009 20.006 dB
25.000 24.989 24.992 24.991 24.991 24.988 24.991 24.991 24.989 24.987 24.990 dB
30.000 29.974 29.978 29.979 29.977 29.976 29.978 29.976 29.973 29.976 29.976 dB
35.000 34.964 34.964 34.963 34.964 24.962 34.963 34.963 34.961 34.961 34.964 dB
40.000 39.957 39.957 39.957 39.957 39.958 39.957 39.958 39.957 39.957 39.956 dB
45.000 44.959 44.959 44.956 44.958 44.960 44.957 44.956 44.957 44.954 44.956 dB
50.000 49.949 49.952 49.952 49.948 49.950 49.950 49.951 49.945 49.949 49.948 dB
55.000 54.942 54.949 54.945 54.947 54.948 54.943 54.946 54.940 54.945 54.942 dB
60.000 59.944 59.941 59.944 59.938 59.941 59.939 59.947 59.941 59.936 59.939 dB
<표 Ⅰ-2> 선형성 (Linearity)

파장 선형성(Ael(D.U.T 실제값)-Asl(Setting 한 공칭값)) 단위
1310nm 0.000 dB
0.035 dB
0.028 dB
0.039 dB
0.008 dB
-0.010 dB
-0.024 dB
-0.037 dB
-0.043 dB
-0.043 dB
-0.051 dB
-0.055 dB
38
-0.059 dB
Ⅰ.2 불확도 계산
Ⅰ.2 .1 A 형 불확도
위의 반복 측정(10 회) 데이터로부터 얻을 수 있다.
<표 Ⅰ-3> A 형 불확도 계산 결과
Wavelength 설정 레벨 측정평균 실험표준편차 A 형 불확도 Unit
1310nm 0.0 (Ref) 0.000 0.000 0.000 dB
5.000 5.035 0.0015 0.002 dB
10.000 10.028 0.0019 0.002 dB
15.000 15.040 0.0020 0.002 dB
20.000 20.008 0.0016 0.002 dB
25.000 24.990 0.0016 0.002 dB
30.000 29.976 0.0018 0.002 dB
35.000 34.963 0.0012 0.001 dB
40.000 39.957 0.0006 0.001 dB
45.000 44.957 0.0018 0.002 dB
50.000 49.949 0.0021 0.002 dB
55.000 54.945 0.0029 0.003 dB
60.000 59.941 0.0033 0.003 dB
가. 설정 레벨 : 목적하는 수치
나. 측정 평균 : 위의 경우는 m=10 회의 반복 측정을 하였으므로 그 10 회의 산술평균값이다.
예) 설정 레벨 5.000 dB 의 경우
5.037  5.034  5.035  5.036  5.035  5.037  5.035  5.033  5.033  5.033
 5.035
10
다. 실험 표준 편차
측정값이 어느정도 넓게 흩어져 있는지에 대한 데이터이다. 표준편차에 대한 ‘참값’ 은 상당히 큰 개
수(무한대)에서 구하는 것만 가능합니다. 개수가 적으면, 표준편차의 추정값 밖에 구할 수 없다.
0.002 2  0.0012  0.000 2  0.0012  0.000 2  0.002 2  0.000 2  0.002 2  0.002 2  0.002 2
 0.0015
9
라. A형 불확도
39
0.005
 0.00158  0.002
10
이와 같은 방법으로 위 표를 작성할 수 있다.
이로부터 A형 불확도 합성값을 다음과 같이 구할 수 있다.
0.0022  0.0022  0.0022  0.0022  0.002 2  0.0022  0.0012  0.0012  0.0022  0.0022  0.0032  0.0032
 0.00721 0.007
Ⅰ.2.2 B 형 불확도
장비 불확도나 커넥터 손실등 기존의 정보 또는 문헌, 측정에 관한 과거의 경험으로부터 얻는다. 이
경우 표준값이 갖는 불확도(Asu), 커넥터 사용에 따른 측정 재현상의 불안전 요소 (Acp), 광원의
불확도 (Alu), D.U.T 의 선형성(Ali), 유한 분해능에 의한 불확도(Asr) 가 고려된다.
<표 Ⅰ-4> B형 불확도 계산 결과
요인 표준불확도
Asu 0.39% 0.008dB
Acp 0.1% 0.002dB
Alu 0.019dB 0.010dB
Ali 0.098dB 0.057dB
Asr 0.001 0.0003dB
u ( Asu ) 0.39%
u ( Asu )    0.008dB
k 2
u ( Acp ) 0.1%
u ( Acp )    0.002dB
3 3
u ( Alu ) 0.019
u ( Alu )    0.010dB
3 3
u ( Ali ) 0.098
u ( Ali )    0.057dB
3 3
u ( Asr ) 0.001
u ( Asr )    0.0003dB
2 3 2 3
Ⅰ.2.3 합성표준불확도
u c2 ( y )  0.007 2  0.0082  0.002 2  0.0102  0.057 2  0.00032  0.0589  0.059
Ⅰ.2.4 U 확장불확도
U= uck(포함인자)
40
=uc2=0.117dB
<표 Ⅰ-5> 불확도 총괄표
No 성분 추정값 표준불확도 확률분포 감도계수 불확도기여분
1 As 5.035dB 0.007dB 정규분포 1 0.007dB
2 Asu 0.000dB 0.008dB 정규분포 1 0.008dB
3 Acp 0.000dB 0.002dB 직각분포 -1 -0.002dB
4 Alu 0.000dB 0.010dB 직각분포 1 0.010dB
5 Ali 0.000dB 0.057dB 직각분포 -1 -0.057dB
6 Asr 0.000dB 0.0003dB 직각분포 1 0.0003dB
7 Ax 5.035dB - - - 0.059dB
Ⅰ.2.5 측정불확도 보고
U=0.117dB, k=2(신뢰수준 95%)
*
출처:KASTO03-25-2030-295 광감쇠기 표준교정절차서(한국계량측정협회)
41
부록 Ⅱ
Lot Tolerance Percent Defective (LTPD)
<표 Ⅱ-1>/<MIL-M-38510J> LTPD 샘플링 계획*

LTPD[%] 50 30 20 15 10 7 5 3 2 1.5
Acceptance
Number(c) 최소 샘플 수
0 5 8 11 15 22 32 45 76 116 153
1 8 13 18 25 38 55 77 129 195 258
2 11 18 25 34 52 75 105 176 266 354
3 13 22 32 43 65 94 132 221 333 444
4 16 27 38 52 78 113 158 265 398 531
5 19 31 45 60 91 131 184 308 462 617
6 21 35 51 68 104 149 209 349 528 700
7 24 39 57 77 116 166 234 390 598 783
8 26 43 63 85 126 184 258 431 648 864
9 28 47 69 93 140 201 282 471 709 945
10 31 51 75 100 152 218 306 511 770 1025
*
출처 : Military Specification MIL-M-38510J (November 1991)
42
부록 Ⅲ
물리적 상태 검사
미세한 결점을 발견하기 위한 방법이 아닌 거시적인 결점을 발견하기 위해서 사용하는 방법으로
외관 검사를 위한 도구는 3X이하의 확대경으로 보고, Case, lead, seal등의 검사는 10X~20X사이
의 확대경을 이용하고, 시험 후 손상이나 위치변경등의 내부검사는 30X의 확대경을 이용한다.
II.1 시각적 검사
적당한 광학 확대경을 사용하여 아래항목등을 시각적으로 검사한다. 아래 항목 중 가. 와 나. 는
시험전에만 수행하면 되고, 시험 후에는 검사할 필요가 없다.
가. 사용된 재료가 알맞은지 여부
나. 디자인에 맞게 제작되었는 여부
다. 기하학적인 특징이 알맞은지 여부
라. 하드웨어 유형과 스타일이 알맞은지 여부
마. 제작 솜씨가 좋은지 여부
바. 표면 상태가 알맞은지 여부
사. 마킹 상태가 알맞은지 여부
아. 손상이 있는지 여부
자. 빠진 부품이 있는지 여부
II.2 기계적 검사
시료의 치수를 측정한다.
가. 단위 : SI 단위를 사용하며, 괄호안에 U.S. Customary 단위를 사용한다.
예) 25.40mm(1.000 in)
나. 높이(H), 넓이(W)와 깊이(D) 또는 길이(L)를 나타내며, 정확도는 0.02mm(0.001 in)이하
로 한다.
II.3 신뢰성 시험 후 검사시 유의해야 할 항목

가. Dimension이 기준치 이상으로 변화했는지의 여부
나. 유전체 물질이 기준치 이상으로 굳어지거나 연해졌는지의 여부
다. 봉인한 부분이 떨어졌는지의 여부
라. 깨지거나 금이 가거나 박판이 떨어졌는지의 여부
마. 녹아 융합 되었는지의 여부
바. 누출되는 곳이 있는지의 여부
43
부록 Ⅳ
시험 성적서 작성 예시
Ⅳ.1 성능 시험
Ⅳ.1.1 표지
03-01-03-001 (발급번호-년도, 부품종류, 시험종류, 일련번호)
광 감쇠기 성능 시험 결과보고서
( 시험 제목 )
2003.00.00 (발급날짜)
광통신부품연구센터 (발급기관)
한국전자통신연구원
44
Ⅳ.1.2 내용
1. 시험의뢰자
가. 기관명 (대표이사) : OOO 주식회사 (홍길동)
나. 주소 : 시 구 동 번지 (Tel : 000-000-0000)
2. 시험 종류 : 삽입 손실, 반사 손실, 편광 의존 손실, 편광 모드 분산
3. 시험 목적 : 가변 감쇠기의 광학적 특성 시험
4. 관련 표준
가. Telcordia GR-910-CORE ~~~~~
다. IEC 1300-3-14 ~~~~~~~
라. EIA/TIA-455-107A(FOTP-107) ~~~
마. EIA/TIA-455-157 ~~~
바.
5. 시험의뢰 광부품(시료)
가. 품명 : 가변 광감쇠기
나. 스펙
(1) 감쇠 유형 : 고정, 가변
(2) Plug Type : SC
(3) 파장 : 1550nm
다. 제작일자 : 2003.06.15
6. 시험 환경
가. 온도 : 23℃ 습도 : 42% R.H.
나. 시험장소 : 고정표준 이동시설 현장
다. 시험 표준 장비 명세 (이하)
사용장비명 제작사 형식 및 기 교정기관 차기교정일

기번호
광원 Agilet 81662A NIST 2004-03-02
광 검출기 Agilent 81637 B NIST 2004-03-02
반사 손실 측정기 Agilent 8504B NIST 2004-03-02
45
7. 시험수행방법
강섬유의 경우 GR-765-CORE 에 따라 splicing 되어야 하고 단일 모드 광섬유 및 감쇠기 의 커넥터 등
은 GR-326-CORE 를 만족해야 한다. Splice 와 DUT 간의 모드 필터는 2m 길이의 GR-409-CORE 를
만족하는 광섬유를 2번 360 도 회전시키면 된다.
7. 시험 결과
장비성능 Source description 1550.12nm DFB +Agilent 81662A

및 환경 Detector descrption 1250nm-1640nm + Agilent 81637B
Reference fibre Cut-back
Reference connector set None
Temporary joint 열 융착
Fibre lengths
Attenuation settings 0dB,10dB,20dB
to be measured
Number of measurement m=5
at each setting m
특성시험 Optical Bandpass [nm] 1530->1570
Attenuatin setting value 0dB 10dB 20dB
삽입 손실[dB] 1.0dB0.2dB
반사 손실[dB]
편광 의존 손실 [dB] 0.5dB0.05dB
편광 모드 분산 [ps] 0.2ps0.05ps
* 특성시험 결과는 포함인자 k=2 를 사용하여 95% 의 신뢰수준에서의 확장 불확도 값 U를 얻는다.
9. 시험 수행일 : 2003.05.10 ~ 2003.06.30
10. 시험 수행자 (시험 담당자) : 임꺽정
11. 결과 확인자 및 확인 날짜 : 허 균 (인) (2003.07.05)
46
Ⅳ.2 신뢰성 시험
Ⅳ.2.1 표지
03-01-03-001 (발급번호-년도, 부품종류, 시험종류, 일련번호)
광 감쇠기 온도순환 시험 결과보고서

( 시험 제목 )
2003.00.00 (발급날짜)
광통신부품연구센터 (발급기관)
한국전자통신연구원
47
Ⅳ.2.2 내용
1. 시험의뢰자
가. 기관명 (대표이사) : OOO 주식회사 (홍길동)
나. 주소 : 시 구 동 번지 (Tel : 000-000-0000)
2. 시험 종류 : 온도순환시험
3. 시험 목적 : 신뢰성 여부 판단
4. 관련 표준
가. Telcordia GR-910-CORE ~~~~~
나. IEC 60068-2-3 ~~~~~~~
5. 시험의뢰 광부품(시료)
가. 품명 : 가변 광감쇠기
나. 스펙
(4) 형태 : SC
(5) 용도 : 1550nm
(6) 개수 : 11개
다. 성능 Pass/Fail 기준
(1) 시험 후의 성능값 :  0.00dB 이내
(2) 시험 전과 시험 후의 성능변화량 : 0.00dB 이내
(3) 시험 수행도중의 성능 변화량 : 0.00dB 이내
라. 제작일자 : 2003.06.15
6. 시험장비
가. Tunable Laser Source
(1) 제조업체 및 모델명 : Agilent, HP64000
(2) 장비 스펙 : 1480nm ~ 1650nm, …
(3) 구입일 / 최근 교정일(교정기관) : 2001.05.30 / 2003.05.30(Agilent)
나. ~~~
48
49
7. 시험수행방법
가. 신뢰성 시험 조건 : 상세히 기술
나. 신뢰성 시험 구성 : 구성도 이용하여 설명
가. 시험에 사용된 Fixture : 재질, 크기, 형태 등을 설명
나. 외관 검사 항목 및 검사 방법
다. 성능 측정 항목 및 측정 방법
8. 시험 결과
가. 시험 전, 후 외관 검사 결과
가. 시험 전, 동안, 후의 성능 측정 결과
나. 신뢰성 시험 통과 여부 및 종합평가
9. 시험 수행일 : 2003.05.10 ~ 2003.06.30
10. 시험 수행자 (시험 담당자) : 임꺽정
11. 결과 확인자 및 확인 날짜 : 허 균 (인) (2003.07.05)
50
부록 Ⅴ
용어정의
1. 광감쇠기 : 광통신 시스템에서 광파워를 줄이기 위해 이용되는 광통신용 부품

2. 모드필터(MF-Mode Filter) : 단일 모드 시험에 있어 단일 모드 외에 여기되는 고차 모드를 제거
하기 위해 사용. 일반적으로 광섬유를 2m 길이 정도에서 360도로 2회 회전시키면 모드 필터로 충
분
3. 피시험 장치(DUT-Device Under Test) : 시험하고자 하는 소자. 이 경우엔 광 감쇠기에 해당함
4. (측정)불확도 : 측정결과에 관련하여, 측정량을 합리적으로 추정한 값의 분산 특성을 나타내는 파
라미터
5. A형 불확도 : 일련의 관측값을 통계적으로 분석하여 불확도를 구하는 방법. 즉, 반복 측정값의 빈
도분포에 근거한 확률 밀도 함수에서 구한다.
6. B형 불확도 : 일련의 관측값의 통계적인 분석이 아닌, 기존의 정보 또는 문헌을 통해 측정값이 가
질 수 있는 확률 밀도 함수를 가정하여 구한다.
7. 합성표준불확도 : 측정결과가 여러 개의 다른 입력량으로부터 구해질 때 이 측정결과의 표준불확
도
8. 확장불확도 : 측정량의 합리적인 추정값이 이루는 분포의 대부분을 포함할 것으로 기대되는 측정
결과 주위의 어떤 구간을 정의하는 양
9. 신뢰성 : 시스템, 기기 및 부품 등이 정해진 사용조건하에서 의도하는 기간동안 만족하게 동작하는
성질
51

2003 831 01 - Fiber Optic Attenuator

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정보통신단체표준 제정일 : 2003년 6월

광 감쇠기 특성 및 신뢰성 시험절차서

3.2 상기 국제표준(권고)등에 대한 추가사항 등

3.3 참조한 국제표준(권고)과 장 구성이 상이함을 표로 나타낸다.

2. Reference Recommendation and Standard

2.3 The others

3. Compare with International Standard (Recommendation)

2. 표준의 구성 및 적용범위 ............................................................................10

3.4 데이터의 처리 ......................................................................................17

4.1 신뢰성 시험 항목...................................................................................19

4.2 신뢰성 시험 필요 장비...........................................................................20

4.3 신뢰성 시험 절차 ..................................................................................21

2. Composition and Scope of Standard .......................................................10

3.1 Performance Test Items.....................................................................10

3.2. Performanc Test Apparatus .............................................................10

3.3 Performance Test Procedure............................................................11

3.4 Data Expression ................................................................................17

4.1 Performance Test Items ....................................................................19

4.2 Reliability Test Apparatus .................................................................20

4.3 Reliability Test Procedure .................................................................21

5. Test Result Report ..................................................................................36

Appendix Ⅰ. Uncertanity in Measurement .................................................38

Appendix Ⅱ. LTPD ......................................................................................42

Appendix Ⅲ. Visual Inspection ...................................................................43

Appendix Ⅳ. Example of Test Result Report ............................................44

Appendix Ⅴ. Glossary .................................................................................50

측정 항목은 구매자 등의 별도의 요구에 따라 그 항목이 추가될 수 있으며 본 표준안에서는

3.3.1 광 대역 통과(Optical Bandpass)

(그림 3-2) 측정방법 A 를 이용한 반사율 측정

나. Method B.: 한 개의 광 검출기를 이용한 반사율 결정

(그림 3-3) 측정방법 B를 이용한 반사율 측정

위의 측정 방법에 따라 반사율은 다음과 같이 계산할 수 있다.

(그림 3-4) 편광 의존 손실의 측정 장치

GR-910-CORE 혹은 FOTP-157 와 같이 편광 제어기는 선형 편광기와 1/4 파판, 1/2 파판 을 이

3.3.5 편광 모드 분산 (PMD-Polarization-Mode Dispersion )

본 문서에서는 한국표준과학연구원(KRISS) 측정불확도 표현지침 KRISS-98-096-SP 에 따라

이상의 데이터 처리에 대한 예는 부록 Ⅰ을 참고할 수 있다.

신뢰성 시험 항목은 상황에 따라 그 항목이 추가될 수 있으며, 본 표준안에서는 광 감쇠기의 신뢰성

경우에 수행하는 시험을 나타낸다.

** : 시료를 샘플링하는 방법으로 ‘부록I LTPD’를 참조한다.

1) Drop 높이 : 1.8m  6mm

5.2 광감쇠기의 신뢰성 시험 성적서에 포함되어야 할 내용은 다음과 같다.

성능 시험 측정 결과 데이터 분석 예는 아래와 같다.

<표 Ⅰ-2> 선형성 (Linearity)

u c2 ( y )  0.007 2  0.0082  0.002 2  0.0102  0.057 2  0.00032  0.0589  0.059

<표 Ⅱ-1>/<MIL-M-38510J> LTPD 샘플링 계획*

II.3 신뢰성 시험 후 검사시 유의해야 할 항목

03-01-03-001 (발급번호-년도, 부품종류, 시험종류, 일련번호)

2. 시험 종류 : 삽입 손실, 반사 손실, 편광 의존 손실, 편광 모드 분산

사용장비명 제작사 형식 및 기 교정기관 차기교정일

장비성능 Source description 1550.12nm DFB +Agilent 81662A

9. 시험 수행일 : 2003.05.10 ~ 2003.06.30

10. 시험 수행자 (시험 담당자) : 임꺽정

11. 결과 확인자 및 확인 날짜 : 허 균 (인) (2003.07.05)

03-01-03-001 (발급번호-년도, 부품종류, 시험종류, 일련번호)

광 감쇠기 온도순환 시험 결과보고서

9. 시험 수행일 : 2003.05.10 ~ 2003.06.30

10. 시험 수행자 (시험 담당자) : 임꺽정

11. 결과 확인자 및 확인 날짜 : 허 균 (인) (2003.07.05)

1. 광감쇠기 : 광통신 시스템에서 광파워를 줄이기 위해 이용되는 광통신용 부품

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