ESTUDIOS COMPARATIVOS DE CARACTERIZACIÓN DE

ALEACIONES METALICAS CON TIERRAS RARAS

Instituto Tecnológico Superior de Calkiní en el Estado de Campeche

Junio de 2019
CONTENIDO

TÉCNICAS DE CARACTERIZACIÓN DE ALEACIONES METALICAS CON TIERRAS RARAS Y SU

APLICACIÓN EN EXPLORACIÓN Y EXPLOTACIÓN MINERALERROR! BOOKMARK NOT
DEFINED.
INTRODUCCIÓN. .............................................................................................. 4
APLICACIONES. ................................................................................................ 4
METODOLOGIA ............................................................................................... 5
1. DIFRACCIÓN DE POLVO DE RAYOS X Y DIFRACCIÓN CUANTITATIVA DE
RAYOS X (DRX) ..................................................................................... 4
2. MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO CON ANALIZADOR DE
ENERGÍAS (SEM-EDS)............................................................................ 4
3. CATODOLUMINISCENCIA (CL) ............................................................... 4
4. MICROANÁLISIS MEDIANTE MICROSONDA ELECTRÓNICA (EMPA) ........ 4
5. PARTICLE INDUCED X-RAY EMISSION (MICRO-PIXE) ............................. 4
6. SECONDARY-ION MASS SPECTROMETRY (SIMS).................................... 4
7. LASER ABLATION MICROPROBE + INDUCTIVELY COUPLED PLASMA-MASS
SPECTROMETRY (LA-ICP-MS) ................................................................ 4
8. MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE TRANSMISIÓN (TEM).......................... 4
9. ANÁLISIS TÉRMICO DIFERENCIAL DTA-TGA ........................................... 4
10. ANÁLISIS TÉRMICO DIFERENCIAL DE BARRIDO DSC-TGA ....................... 4
11. MEDIDAS DE ÁREA SUPERFICIAL ........................................................... 4
12. MEDIDAS DE FLUORESCENCIA .............................................................. 4
CONCLUSIONES ............................................................................................. 22
OBSERVACIONES .......................................... ERROR! BOOKMARK NOT DEFINED.
REFERENCIAS ............................................... ERROR! BOOKMARK NOT DEFINED.

Página |2
Página |3
TÉCNICAS DE CARACTERIZACIÓN DE ALEACIONES METALICAS CON TIERRAS
RARAS.
INTRODUCCIÓN.

El presente estudio fue realizado por xxxxx a petición del Instituto Superior de Calkini con
la finalidad de presentar un comparativo de la síntesis de las técnicas analíticas más
utilizadas en la caracterización de aleaciones metálicas con tierras raras.
Es preciso describir las condiciones experimentales a emplear y los equipos que pueden ser
utilizados. Para ello se enumeran las distintas técnicas de caracterización empleadas, así
como también las condiciones de medida empleadas.

APLICACIONES.

Con frecuencia, el estudio que se realiza para la valoración de un depósito mineral implica
tan sólo el estudio genérico de las leyes de los elementos que se espera pueda ser
interesantes en el tipo de depósito, obviando el estudio mineralógico detallado de las
asociaciones minerales. No obstante, un estudio detallado de la mineralogía no tiene tan
sólo connotaciones académicas como a veces se cree, sino que puede ayudar a incrementar
el valor añadido de la explotación, e incluso por sí sólo puede ayudar a descartar o confirmar
el interés del yacimiento. Teniendo en cuenta el bajo costo de los análisis mineralógicos,
cuando se comparan con otros métodos.
El contar con un marco comparativo permite valorar las técnicas de caracterización mineral
a desarrollar y optimizar las condiciones experimentales para la obtención los materiales,
así como la incidencia de los estudios mineralógicos en la exploración, valoración y
explotación de yacimientos minerales.
OBJETIVO

El objetivo de este trabajo es ofrecer una revisión de las técnicas de caracterización mineral
más usuales, así como valorar la incidencia de los estudios mineralógicos en la exploración,
valoración y explotación de yacimientos minerales de aleaciones metálicas con tierras raras.
Las técnicas han sido clasificadas en 3 grupos. El primer grupo incluye a las técnicas de
mayor uso, de un coste económico relativamente bajo, las cuales podemos denominar
“técnicas convencionales”, y el tercer grupo, integran a las técnicas de caracterizaciones
antes mencionadas.
Las técnicas han sido clasificadas en 3 grupos. El primer grupo incluye a las técnicas de
mayor uso (“técnicas convencionales”):
1. Difracción de polvo de rayos X y difracción cuantitativa de rayos X (DRX),
2. Microscopio electrónico de barrido con analizador de energías (SEM-EDS),
3. Catodoluminiscencia (CL)

Página |4
 4. Microsonda electrónica (EMPA)

El segundo grupo abarca un grupo de técnicas menos accesible, y mucho más caras,
(“técnicas no convencionales”):
5. Particle Induced X-Ray Emission (Micro-PIXE),
6. Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
7. Laser-Ablation-Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry (LA-ICP-MS)
El tercer grupo son adicionales, cuando de aleaciones metálicas con tierras raras
involucra:
8. Microscopía electrónica de transmisión (TEM)
9. Análisis térmico diferencial DTA-TGA
10. Análisis térmico diferencial de barrido DSC-TGA
11. Medidas de área superficial
12. Medidas de fluorescencia

METODOLOGIA

TECNICAS DE CARACTERIZACIÓN
I. Difracción de polvo de rayos X y difracción cuantitativa de rayos X (DRX)

a) Fundamentos del método: La difracción de polvo es un método de análisis

estructural, que permite identificar los minerales por su estructura cristalina. Las
medidas de difracción de rayos X se emplean para la caracterización estructural y el
cálculo del dominio cristalino (TDC) de las muestras a estudiar. El método de polvo
cristalino permite obtener una lista de espaciados e intensidades (en adelante datos
de difracción) de la forma más rápida y sencilla.

b) Preparación de muestras: La muestra de mineral o de roca a identificar se pulveriza

cuidadosamente, y el polvo se dispone en un porta muestras (Figura 1). En general,
algunos mm3 son suficientes. El resultado de la pulverización es la obtención de un
número muy elevado de pequeños cristalitos, por ejemplo 109 cristalitos. Cada
cristalito puede reflejar los rayos X si está en la orientación adecuada respecto del
haz de rayos X. El número tan elevado de cristalitos en la muestra garantiza que
todos los planos reticulares tendrán ocasión de producir reflexiones de Bragg,
porque, para cada plano reticular dhkl siempre habrá un cierto número de cristalitos
en la orientación adecuada respecto del haz de rayos X. Típicamente, el polvo puede
disponerse formando una superficie plana de 1-2 cm2, o alternativamente, llenando
un capilar de vidrio no absorbente, con un diámetro interior de unos 0.5 mm.

Página |5
 Figura 1. Portamuestras para polvo en difracción de rayos X, con y sin polvo cristalino.

c) Difractómetro a utilizar: El instrumento para la medida del difractograma es el

difractómetro de polvo. Consiste en una fuente productora de rayos X, un porta
muestras montado sobre un goniómetro giratorio y un detector (Figura 1). El
difractograma es un gráfico que en abscisas indica el ángulo de difracción y en
ordenadas la intensidad correspondiente. Los máximos o picos de intensidad
corresponden a reflexiones de Bragg.

Figura 2. Difracción de polvo de rayos X. a) Geometría del difractómetro de polvo; b) detalle del difractómetro de polvo, que
lleva acoplada una cámara de temperatura que permite realizar mediciones sobre la muestra expuesta a diferentes
temperaturas, comparar con la imagen anterior; c) vista general del difractómetro de polvo Siemens D-500.

Página |6
 d) Refinamientos estructurales. Método Rietveld: Este método consiste en el ajuste
teórico de los parámetros estructurales, los deslizamientos atómicos, anisotropía,
tensiones de red, etc., así como los valores experimentales y el perfil completo del
difractograma, considerándolo como la suma de un número de reflexiones de Bragg
centradas en las posiciones angulares correspondientes.

Una vez hecho esto, el refinamiento prosigue mediante procesos iterativos hasta
alcanzar la convergencia entre los valores experimentales y los teóricos. A lo largo
de todo el proceso, se han de considerar aquellos fenómenos que afectan a la
intensidad de los máximos de difracción apreciados, como pueden ser los factores
de dispersión atómica, el factor de estructura (K), la polarización, la multiplicidad, la
intensidad del haz de rayos X empleado, la eficiencia del difractómetro, así como el
área de los picos, el método de obtención del fondo, los picos correspondientes a la
propia radiación empleada (Kα1 y Kα2 en caso de que no se use una radiación
monocromática) y el método de suavizado empleado.

En este método se emplea el perfil experimental obtenido para la muestra

comparándolo con el propuesto, considerando todos los parámetros antes
indicados, mediante el método de mínimos cuadrados extendido a todo el
difractograma.

La eficacia del ajuste se pone de manifiesto con los valores que el propio programa
proporciona después de cada ciclo iterativo, siendo estos Rp (índice del perfil), Rwp
(índice del perfil ponderado), RE (valor esperado para Rwp), el índice de bondad del
ajuste (χ2) y RB (índice de Bragg), obteniéndose todos estos parámetros a través de
la intensidad observada (Yobs) y la calculada (Ycal) para cada 2Ө.

El programa prosigue con las iteraciones hasta que se alcance un ajuste óptimo para
los valores experimentales y teóricos, lo cual va a ser función del tipo y la calidad del
modelo estructural que se considere como punto de partida.

II. Microscopio electrónico de barrido con analizador de energías (SEM-EDS)

a) Fundamentos del método: Esta técnica se ha utilizado tanto para la caracterización

morfológica como composicional de las muestras obtenidas. El uso de electrones
secundarios, producidos por la interacción entre el haz incidente y la muestra,
permite obtener información sobre la topografía de los sistemas estudiados.
Por su parte, el uso de los electrones retrodisperados, permite el estudio
composicional de las muestras, dado que, en función del peso atómico de los
elementos constituyentes, los ángulos de desviación permiten la digitalización de

Página |7
una imagen en distintos contrastes en tonos grises, los cuales están relacionados
con el número atómico de cada elemento.
El SEM se compone de varios elementos básicos: un cañón de electrones con un
filamento emisor de electrones, lentes magnéticas que dirigen y focalizan el haz de
electrones sobre la muestra, sistema de barrido, porta muestras móvil y con giro
universal, sistemas de obtención de la imagen y de análisis (Figura 3). Para analizar
una muestra en el SEM se requieren generalmente condiciones estrictas de vacío en
el interior del microscopio, ya que de lo contrario los electrones pueden ser
dispersados por las moléculas de aire. Además, los mejores resultados se obtienen
con muestras conductoras o convertidas en conductoras mediante un recubrimiento
pelicular con un material conductor (generalmente, grafito; pueden emplearse
también oro o aluminio). No obstante, actualmente existen microscopios
electrónicos que no precisan ni recubrimiento de la muestra ni alto vacío en la
cámara. Son los denominados microscopios electrónicos ambientales
(Environmental Scanning Electron Microscope, ESEM).
Por otro lado, como consecuencia intrínseca de la técnica, se genera la emisión de
fluorescencia de rayos X al colisionar un electrón incidente con alguno de los que
forman la capa más interna de átomos. Fruto de este choque el átomo queda en un
estado excitado que desencadena un movimiento electrónico en las capas más
externas para ocupar la vacante generada. Esta reordenación de electrones se ve
acompañada de la emisión de un fotón de rayos X con una longitud de onda
característica para cada elemento, recibiendo cada radiación emitida su nombre en
función de la capa atómica de la que proceda el fotón y el rango de intensidad que
produce. Es decir, una radiación Kα se origina en la capa K y es la más intensa de
todas las producidas.

Página |8
 Figura 3. a) Estructura interna del SEM-EDS. b) Fotografía general del SEM (ESEM Quanta 200 FEI, XTE 325/D8395). C) Detalle
de la introducción de una lámina delgada en el porta muestras.

En base a esta técnica denominada espectrometría por energía dispersiva de rayos

X (EDS), se pueden llevar a cabo estudios composicionales en condiciones
cuantitativas o semicuantitativas de la composición química de las muestras
estudiadas tanto en una región de área conocida como a nivel puntual.
Para poder obtener mediante EDS información representativa de las muestras, se
debe establecer un protocolo de trabajo, basado en la selección 50 puntos al azar
en la imagen deseada, calculándose a continuación la media de los valores
obtenidos.
b) Microscopio a utilizar: Las fotografías tomadas en SEM se recomienda ser llevadas
a cabo con un microscopio electrónico de barrido (por ejemplo, Philips XL30) con
filamento de wolframio, operando entre 15 y 20 kV, dotado con detectores de
imagen por electrones secundarios y retro dispersados, así como un detector de
energía dispersiva de rayos X EDS (por ejemplo, Analizador EDAX Dx4).

c) Preparación de muestras: Las muestras se suspenden en acetona y dispersadas

mediante ultrasonidos. Una vez hecho esto se depositan varias alícuotas de la
suspensión resultante sobre un porta muestras de aluminio (previamente lavado
con etanol) y una vez que el disolvente se evapora se procede a su recubrimiento
mediante una delgada capa de Au en el sputtering Polaron SC 7610 (ejemplo).

Página |9
 d) Condiciones de trabajo: Trabajando con los detectores de electrones secundarios y
retro dispersados (SE y BSE, respectivamente), se permite estudiar la superficie de
las muestras obtenidas. Mediante SE se estudia la topografía de la muestra,
mientras que de manera cualitativa se estudia la homogeneidad de las mismas con
BSE. Por su parte, los análisis químicos cuantitativos se llevan a cabo utilizando la
sonda EDS con la que cuenta el dispositivo empleado, efectuando los análisis
composicionales sobre elementos pesados como por ejemplo el Gd, Y, Ag y Eu dado
que otros elementos más ligeros (C, N, H y O) presentan señales demasiado débiles
y se ven acompañadas de un amplio margen de error.

III. Catodoluminiscencia (CL)

Aunque la catodoluminiscencia es una herramienta muchísimo más utilizada en
exploración de cuencas petrolífera su potencial en la exploración minera es
importante y no debe ser pasado por alto.
a) Fundamentos del método: La catodoluminiscencia es un caso particular de
luminiscencia en que la fuente de excitación son electrones. La catodoluminiscencia
se produce sólo en el caso de que la estructura cristalina afectada presente algún
tipo de defecto, entre los que cabe citar alguno de los siguientes: a) no-
estequiometría, b) imperfecciones estructurales (desorden, destrucción por
radiación, destrucción por impacto), c) impurezas sustitucionales o intersticiales que
distorsionen la red cristalina. Es común que los cristales naturales presenten
defectos, que actuarán como zonas en que se absorbe de forma preferente la
energía del haz de electrones. De este modo, los dominios de imperfección se
convierten en centros de luminiscencia. La intensidad de la catodoluminiscencia es
función de la densidad de corriente sobre la muestra y el voltaje (potencial de
aceleración) de la corriente de sonda aplicada. Coy-YII (1970) demostró que la
intensidad de la catodoluminiscencia varía en función de la corriente electrónica
aplicada y del mineral: a) la catodoluminiscencia aumenta de forma no lineal con la
intensidad de corriente, pero cuando se alcanza una determinada intensidad de
corriente electrónica (nivel de saturación), típica de cada mineral, deja de
incrementar la intensidad de la catodoluminiscencia; b) el aumento de la intensidad
por encima de este nivel conlleva la disminución de la catodoluminiscencia (fase de
inhibición).

b) Microscopio a utilizar: El equipo de catodoluminiscencia (Figura 4) puede ser

montado en un microscopio electrónico o en un microscopio óptico. En este caso,
se pueden complementar los datos texturales obtenidos con microscopía óptica de
luz transmitida y/o reflejada con los de catodoluminiscencia.

P á g i n a | 10
 Figura 4. Funcionamiento de la catodoluminiscencia. A) Planta (arriba) y sección de un equipo de catodoluminiscencia. B)
Equipo instalado sobre la platina de un microscopio; se observa también la bomba de vacío y los controles. C) Imagen de una
muestra de calcita rica en manganeso en catodoluminiscencia. Se aprecian diferentes generaciones y las bandas de
crecimiento. Estas imágenes son imprescindibles a la hora de plantear un estudio de inclusiones fluidas, isótopos o
geoquímica.

c) Preparación de muestras: Hay dos tipos de equipo de catodoluminiscencia: de

cátodo “frío” (10-20 keV) y de cátodo “caliente” (25-30 keV). Las
catodoluminiscencias trabajan normalmente a 10-20 keV y a 1-5 mA de corriente.
No obstante, la catodoluminiscencia de algunos minerales significativos, como el
cuarzo, sólo es apreciable con cátodo “caliente”. Es preciso respetar las normas de
trabajo para cada equipo, pues se corre el riesgo de que en condiciones extremas se
generen rayos-X que pueden ser peligrosos para la salud de los investigadores.
Como en todos estos casos, se trabaja con láminas no cubiertas. Es preciso evitar los
cementos tipo bálsamo del Canadá y Lakeside, que pueden evaporar y, por tanto,
romper la muestra y contaminar el equipo de vacío. Algunas resinas epoxi dan
catodoluminiscencia amarillenta. Aunque no es un requisito pulir la muestra, se
obtienen mejores resultados con muestras pulidas.
En el caso de que el equipo trabaje con cátodo frío no se requiere ningún
tratamiento previo de la muestra, aunque en caso de que se estudien carbonatos
Ebers y Kopp (1979) proponen teñir primero la muestra con solución de ferrocianuro
potásico. La catodoluminiscencia caliente, en cambio, precisa recubrimiento de la
muestra. La muestra puede ser estudiada en una lámina delgada pulida.

P á g i n a | 11
 d) Aplicaciones: La catodoluminiscencia tiene sus principales aplicaciones en el estudio
textural de la lámina, y puede reforzar las observaciones realizadas con microscopía
óptica convencional. Los casos más típicos son los siguientes (Marshall, 1988):
i. Distribución de minerales en una muestra, en base a que cada mineral
presenta una catodoluminiscencia diferente. El caso más utilizado es la
discriminación de carbonatos, pero puede ser aplicado a la discriminación
de otros minerales, entre ellos, los ricos en tierras raras.
ii. Apoyo para reconocer volúmenes pequeños de una fase mineral, como por
ejemplo vetas finas, inclusiones, películas, etc. Este aspecto es muy
importante a la hora de estudiar las propiedades mecánicas de una roca o
agregado.
iii. Si existe en un mismo grano mineral una variación química en el elemento
activador a lo largo del proceso de cristalización se pueden producir
importantes variaciones en la catodoluminiscencia que ayudan a remarcar
inhomogeneidades en el grano: zonaciones, sobrecrecimientos,
reemplazamientos, exsoluciones, etc. Este aspecto es crítico para mostrar
cambios en el ambiente deposicional del mineral, con todo lo que ello
implica para la modelación del depósito. Por consiguiente, la
catodoluminiscencia debería realizarse anteriormente a cualquier estudio
geoquímico de detalle.
iv. El color de la catodoluminiscencia da una idea de la composición química
del mineral. Aunque este aspecto no es cuantitativo, el elemento presente
puede ser un indicador de un determinado proceso mineral y, por
consiguiente, una guía para la exploración minera.
v. En agregados minerales, la existencia de diferentes generaciones de un
mismo mineral puede ser diferenciada con ayuda de la catodoluminiscencia.
Este aspecto es importantísimo para diferenciar diferentes generaciones de
carbonatos, un trabajo crítico en la exploración petrolera. Este aspecto
puede ser también interesante en la modelación de procesos genéticos de
gangas o menas de yacimientos minerales, en particular, en el estudio
geoquímico.

IV. Microanálisis mediante microsonda electrónica (EMPA)

a) Fundamentos del método: La microsonda electrónica (electron-microprobe

analyzer, EMPA) se puede considerar como un microscopio electrónico de barrido
que incluye unas unidades analizadoras adicionales, los espectrómetros dispersivos
en longitud de onda (WDS, wavelength-dispersive spectrometer; Figura 5). La
principal diferencia es que la EMPA está especialmente diseñada para el análisis

P á g i n a | 12
 cuantitativo, mientras que el SEM está diseñado para obtener imágenes de la
muestra. Los espectrómetros WDS separan las radiaciones X características por su
longitud de onda. Para ello, se utilizan cristales analizadores para separar las
radiaciones X por medio de la ley de Bragg, detectores de radiación para medir los
rayos X dispersados por los cristales, y se comparan las intensidades de rayos X
emitidas por la muestra con las de patrones de composición conocida.

b) Preparación de muestras: la muestra que se va a analizar (probeta o lámina delgada,

que debe estar muy bien pulida y extremadamente limpia y seca) es previamente
convertida en eléctricamente conductora, mediante un recubrimiento fino de algún
material conductor. El material conductor es mayoritariamente grafito, pero
también puede ser aluminio u oro. La muestra eléctricamente conductora es
introducida en la cámara mediante un porta muestras, al vacío, y se busca la zona
que se quiere analizar con la ayuda del microscopio óptico y de las imágenes de
electrones secundarios y retro dispersados. Para ahorrar tiempo y dinero, las zonas
en que se quiere obtener análisis cuantitativo deben estar adecuadamente
marcadas y fotografiadas (a fin de localizar rápidamente los puntos deseados) y
analizadas cualitativamente (a fin de programar la microsonda directamente para
analizar los elementos necesarios).
Mientras dura el impacto electrónico, la muestra emite continuamente diversas
radiaciones X en todas las direcciones, cada una de las cuales tiene una energía (y
por tanto una longitud de onda) característica de un elemento por lo que se requiere
separar las radiaciones de cada uno de los elementos de manera secuencial. Esta
separación se realiza por medio de los cristales analizadores.

Figura 5. Ejemplos de equipos de microsonda electrónica. A) Diseño del

equipo CAMECA SX 100. b) Equipo CAMECA SX50 instalado en los Serveis
Científico-Tècnics de la Universitat de Barcelona, equipado con 4
espectrómetros WDS, 12 cristales y un EDS. A la izquierda, comandos y
pantallas de control.

P á g i n a | 13
c) Espectrómetro a utilizar: Los espectrómetros WDS se acoplan alrededor de la
cámara. La microsonda puede contar con diversos espectrómetros, entre 1 y 5. El
espectrómetro consta de:
I. Una ventana estrecha que permite el paso al interior del
espectrómetro de las radiaciones X que tienen el mismo ángulo de
salida (take-off); por tanto, las radiaciones X de todos los elementos
que están presentes en la muestra entran en el espectrómetro
siguiendo todas ellas la misma trayectoria, pero cada una de ellas con
su propia energía (o longitud de onda).
II. Uno o diversos cristales analizadores giratorios situados en la
trayectoria de las radiaciones X y que utilizaremos para la separación
de las radiaciones; de este cristal conocemos su estructura.
III. Uno o diversos contadores proporcionales que analizan y realizan el
conteo de cada una de las radiaciones separadas por los cristales.

d) Aplicaciones: La posibilidad de obtener análisis químicos cuantitativos de minerales

permite el estudio de muchos problemas geológicos. Por ejemplo, establecer las
condiciones de temperatura y presión de los minerales, o de las rocas en que ellos
se encuentran. Las principales aplicaciones de EMPA a las ciencias geológicas son:

I. Análisis químico cuantitativo puntual de elementos mayores.

II. Determinación de elementos trazas
III. Mapas de distribución de elementos
IV. Perfiles de distribución de elementos

e) Limitaciones: El pulido de la muestra es crítico, y los mejores resultados se obtienen

en muestras muy bien pulidas. Las muestras con relieve y los bordes de granos
pueden dar resultados muy bajos o muy altos. Esto es debido a que el algoritmo de
corrección ZAF asume que el haz incide perpendicularmente a la superficie de la
muestra y que ésta es perfectamente plana.

Es un método relativamente lento, ya que muchas veces se requieren análisis

cualitativos previos para conocer cuáles son las longitudes de onda que tenemos
que discriminar. Evidentemente, los mejores resultados analíticos se obtienen
generalmente en muestras de las que ya conocemos el grupo mineral al que
pertenecen. Otro problema es que el haz electrónico tiene una cierta penetración.
Por tanto, existe la posibilidad de que una parte de haz atraviese el cristal y excite el
mineral subyacente, y en este caso el resultado sería la suma de las radiaciones
emitidas por el cristal superior y el inferior y el análisis puede dar un valor muy

P á g i n a | 14
 superior a 100. Esto conlleva a una meticulosa selección previa de los puntos de
análisis mediante métodos ópticos.

V. Particle Induced X-Ray Emission (Micro-PIXE)

a) Fundamentos del método: El micro-PIXE es una microsonda protónica. Se analizan

los rayos X producidos al bombardear una muestra mediante un haz de protones
que puede ser focalizado a escala micrométrica La técnica consiste básicamente en
un acelerador que produce un haz de protones con una energía de 3 MeV (aunque
puede ser variable) y un sistema de focalización magnético que direcciona el haz a
través de un tubo horizontal hasta la cámara donde se encuentra la muestra que va
ser analizada. Unas estrictas condiciones de vacío son necesarias para evitar
desenfoque del haz de protones.

b) Preparación de muestras: Las muestras se preparan en forma de probetas pulidas

con un diámetro de 2,5 cm, deben tener un espesor mínimo de 50 μm y estar
metalizadas (generalmente con grafito). El equipo cuenta con un microscopio óptico
convencional y con una cámara CCTV integrada que permite la orientación y
selección de los granos que se deben analizar. El haz incide sobre la muestra con un
ángulo de 45º, tiene un tamaño de 3x6 μm, profundiza hasta aproximadamente 20
μm y el tiempo de medida está generalmente comprendido entre 120 y 190
segundos.

VI. Secondary-ion mass spectrometry (SIMS)

a) Fundamentos del método: La técnica se basa en bombardear la muestra con un haz

de partículas cargadas (iones primarios); los iones arrancados de la muestra (iones
secundarios) son analizados mediante un espectrómetro de masas. El método
permite enfocar el haz hasta unas 10 micras de diámetro, por lo que es usado para
analizar elementos traza o isótopos en minerales zonados, granos individuales de
pequeño tamaño, etc.

VII. Laser ablation microprobe + inductively coupled plasma-mass spectrometry (LA-

ICP-MS)

a) Fundamentos del método: Se basa en usar un láser para arrancar por ablación
(sublimación) los elementos de la muestra. El haz puede ser diafragmado hasta
excitar superficies muy pequeñas (del orden de pocas decenas de micras, ~ 10 μm).
El plasma así obtenido es analizado en un ICP, que disocia e ioniza el material
arrancado de la muestra y transportado por una corriente de Ar, y un espectrómetro

P á g i n a | 15
 de masas (MS), que analiza las diferencias de masas de los iones producidos (Figura
6).

b) Aplicaciones: El microanálisis láser-ICP-MS tiene un enorme potencial

principalmente para la determinación de elementos trazas en minerales. Desde el
punto de vista de la exploración o explotación minera, esta técnica puede aplicarse
fácilmente en tres grandes campos: a) análisis a microescala de elementos preciosos
presentes como trazas en la estructura del mineral (oro invisible en la estructura de
pirita o arsenopirita; EGP en arseniuros, etc.); b) análisis a microescala de elementos
significativos en minerales indicadores (por ejemplo, análisis de Ni en granate de
procedencia kimberlítica, para conocer la temperatura del manto subyacente, etc.),
c) análisis de la distribución a microescala de elementos traza que pueden ser
penalizantes desde el punto de vista metalúrgico o medioambiental.

c) Limitaciones: Las limitaciones que pueden apuntarse son escasas, pero deben
tenerse en cuenta. En primer lugar, la resolución lateral del haz de láser en la mayor
parte de equipos no baja de las 10 μm. En segundo lugar, se debe tener calibrado el
equipo para los elementos deseados (lo cual no está siempre disponible de forma
universal) y, en tercer lugar, hace falta disponer de por lo menos análisis de
microsonda electrónica de uno o dos elementos presentes en el mineral.

Figura 6. Equipo de LA-ICP-MS instalado en McGill University, Montreal (Québec, Canadá). A) Detalle del equipo, en el que se
aprecia el espectrómetro de masas que está conectado con el microscopio. B) Detalle del microscopio óptico que lleva

P á g i n a | 16
 acoplado una cámara de video para disponer en todo momento de una imagen de la zona de análisis; el microscopio tiene
acoplado un sistema de láser. C) Marcas de ablación producidas por la acción del láser sobre un cristal de granate. La forma
elongada del láser se debe al desplazamiento del haz a través del cristal. Campo, 5 mm.
VIII. Microscopía electrónica de transmisión (TEM)

a) Fundamentos del método: En este tipo de microscopía, la información sobre la

muestra viene proporcionada por los electrones capaces de atravesarla. Como
consecuencia de esto, las distintas densidades electrónicas conducen al
establecimiento de un potencial, mediante el cual se obtienen imágenes de
interferencia capaces de revelar las características morfológicas y estructurales del
sólido objeto de estudio, denominándose estas condiciones de trabajo TEM en
campo claro. A diferencia de aquellas en las que se emplea un obturador de
difracción y un detector anular, en cuyo caso se trataría de las medidas denominadas
ABF Anular.
Otra herramienta que presenta esta técnica y que permite obtener mayor
información sobre el material estudiado, la constituye la posibilidad de cuantificar
la difracción que sufren los electrones incidentes. De hecho, la difracción de
electrones constituye una de las mejores técnicas para la caracterización
cristalográfica de los materiales. Su fundamento reside en que los electrones
desviados de manera elástica pueden ser enfocados por una lente objetiva,
generando en el plano focal de ésta, en forma de puntos, un patrón de difracción
que posteriormente es amplificado por otras lentes generándose así el patrón de
difracción que se muestra en la pantalla.
Por último, esta técnica presenta también la posibilidad de efectuar análisis
composicionales mediante la espectrometría por energía dispersiva de rayos X
(EDS).

b) Microscopio a utilizar: Las imágenes de TEM tanto en campo claro como en alta
resolución (HRTEM) son tomadas con dos microscopios distintos. El primero es un
microscopio electrónico de barrido con filamento de emisión de campo (ejemplo,
Tecnai F 20 con una resolución de 2,0Å) equipado con un detector de energía
dispersiva de rayos X EDS (ejemplo, analizador EDAX TEM Quant) sistema de
revelado digital de negativos procesado mediante el software (Ditabis). La elección
del microscopio reside en que permita la elaboración de análisis composicionales en
forma de mapping sobre la muestra estudiada. El segundo, es un microscopio
electrónico (ejemplo, Jeol JEM 2100) dotado con un cañón de aceleración de 200 kV
y una resolución entre puntos de 0,25 nm, una unidad STEM incorporada con
detector de campo claro y un sistema de microanálisis EDS.

P á g i n a | 17
 c) Preparación de muestras: Las muestras se preparan partiendo de disoluciones
diluidas en acetona de las muestras dispersadas en baño de ultrasonidos durante 15
minutos, depositándose a continuación una gota de las suspensiones resultantes
sobre una rejilla de cobre recubierta por una mezcla de butirato de celulosa y una
delgada capa de carbono.

d) Condiciones de trabajo: Las imágenes tomadas por TEM se han empleado para
completar la información morfológica de las muestras estudiadas por SEM y
efectuar a su vez análisis composicionales sobre las mismas.

Se han obtenido imágenes de campo claro a bajos aumentos, empleando para ello
aperturas de objetivo para mejorar su contraste, compaginándose esta técnica con
la difracción de electrones. Gracias a esto se ha podido hacer una estadística del
tamaño de las partículas obtenidas y de esta manera llevar a cabo estudios
estadísticos acerca del tamaño de las muestras y obtener detalles relacionados con
su evolución en función de los tratamientos térmicos efectuados. Por otro lado, cabe
señalar que las imágenes tomadas por TEM a alta resolución (HRTEM) contribuyen
a la caracterización estructural de las muestras estudiadas al permitir obtener
imágenes de alto detalle en la cual se pueden identificar las partículas primarias, así
como la presencia de defectos en las mismas. No obstante, dados los grandes
aumentos a los que opera esta técnica, resulta altamente sensible a cambios en el
foco de la lente objetivo y el espesor de la muestra. Para poder interpretar las
imágenes obtenidas por HRTEM se hizo uso del paquete de software gratuito imageJ
TM el cual permite la obtención de transformadas de Fourier (FTT) de las imágenes
y la eliminación del ruido de fondo, facilitando la selección de los máximos de
difracción obtenidos por la FFT.

IX. Análisis térmico diferencial DTA-TGA

a) Fundamentos del método: El uso de esta técnica combinada se basa en el estudio

simultáneo de la variación de la masa de la muestra objeto de estudio (TG) mientras
se van registrando las variaciones térmicas que ésta experimenta en comparación
con un patrón de referencia que, en el rango de temperaturas estudiados, ha de
permanecer inerte tanto desde el punto de vista físico como del químico.

La versatilidad de esta técnica radica en que se puede controlar la atmósfera en la

que se lleva a cabo el estudio pudiéndose de esta manera evaluar además el
comportamiento de las muestras en función del medio colindante, esto es,
atmósfera inerte u oxidante. Como resultado de estas medidas se obtiene una

P á g i n a | 18
 gráfica combinada en la cual se pueden apreciar las pérdidas de masa junto a los
picos de diferencia térmica a la cual tienen lugar, permitiéndose la identificación de
procesos endotérmicos (ΔT<0) o exotérmicos (ΔT>0).

e) Dispositivo utilizado y condiciones de trabajo:

Las medidas comúnmente se llevan a cabo con un TGA-DTA (Setsys Evolution 16/18)
de alta temperatura con una rampa de calentamiento de 10º/minuto y una rampa
de enfriamiento idéntica, operando en atmósfera de argón, siendo el rango de
temperaturas estudiado estaba comprendido entre 250-1200ºC.

X. Análisis térmico diferencial de barrido DSC-TGA

a) Fundamentos del método: En el caso del DSC-TG el fundamento en el cual se basa

la técnica varía levemente en comparación a la anterior, dado que en el DTA el
patrón de referencia y la muestra son sometidas a la misma rampa de
calentamiento; mientras que en el caso del DSC el calentamiento se lleva a cabo de
manera separada e individual, registrándose el flujo de calor (dQ/dt) frente al
tiempo o la temperatura. De esta manera, cualquier fenómeno térmico originará un
pico (de temperatura conocida) en función del tiempo al mismo tiempo que la curva
TG aportará la información complementaria correspondiente a las variaciones que
experimenta la masa en dicho proceso. De esta manera, cualquier fenómeno
térmico originará un pico (de temperatura conocida) en función del tiempo al mismo
tiempo que la curva TG aportará la información complementaria correspondiente a
las variaciones que experimenta la masa en dicho proceso.

b) Dispositivo utilizado y condiciones de trabajo: Los análisis diferenciales de barrido

se llevan a cabo en un DSC-TGA (ejemplo, modelo STA 6000 de Perkin Elmer) con un
ciclo térmico comprendido entre 50-900ºC, en atmósfera de aire. Empleándose una
rampa térmica de 10ºC/minuto.

XI. Medidas de área superficial

a) Fundamentos del método: El fundamento de esta técnica consiste en el estudio de
la interfase sólido-gas, y en concreto en la cantidad de este último que queda retenido
en la superficie del sólido mediante procesos de adsorción, lo cual, desde un punto de
vista experimental permite calcular el área superficial de las partículas estudiadas.
b) Dispositivo utilizado: El equipo a emplear es el Equipo de Análisis Superficial
(ejemplo, Micromeritics Geminy VII) el cual opera a temperatura de nitrógeno
líquido saturando las muestras con un caudal preestablecido por el cociente P/P0 de

P á g i n a | 19
 He. Una vez que el gas comienza a condensar, el equipo va bajando la presión para
así obtener el ciclo de absorción-desorción de la muestra estudiada. A partir de la
isoterma de adsorción, mediante la representación gráfica de la isoterma BET es
posible calcular el grado de saturación de la muestra estudiada y el área superficial
de la misma.
c) Preparación de muestras: El protocolo establecido en la preparación de las
muestras estudiadas fue el siguiente:
 Eliminación de la humedad presente en los tubos de vidrio en los que se va a
introducir la muestra, para lo cual estos fueron calefactados a 60ºC durante 30
minutos bajo una leve corriente de nitrógeno.
 La cantidad de muestra necesaria para poder llevar a cabo los ensayos ha de ser
250 mg.
 Desgasificación de la muestra usando una corriente portadora de nitrógeno en
dos etapas. Una de 90ºC durante una hora para eliminar el agua que pudiera
estar adsorbida en la muestra y una de dos horas a 275ºC para eliminar cualquier
tipo de impureza que pudiera estar presente en la muestra.
 En el caso de muestras que pudieran descomponerse térmicamente a la
temperatura del segundo tratamiento, el proceso consistía en un primer
calentamiento a 70ºC durante hora y media, seguido de una segunda etapa a
mayor temperatura inferior a la de descomposición de la muestra.
 Una vez hecho esto, simplemente había que mantener el tubo con el que se haya
trabajado tapado hasta que alcanzara la temperatura ambiente, momento en el
cual se podía llevar a cabo la medida.

d) Condiciones de trabajo: En los estudios de áreas superficiales que se lleven a cabo

las variables con las que se trabaja son:
 Condiciones de desgasificado.
 Presión relativa (P/P0).
 Velocidad de evacuación.
 Tiempo de evacuación.
Un ejemplo de los valores de estas magnitudes se muestra en la Tabla I.

Tabla I: Ejemplo de condiciones experimentales en las medidas de área

superficial.

P á g i n a | 20
XII. Medidas de fluorescencia:

a) Fundamentos del método: La emisión de fluorescencia por parte de un cromóforo

se ve condicionada por su entorno, o lo que es lo mismo, la caracterización de las
muestras obtenidas mediante esta técnica va a permitir obtener información sobre
la eficiencia del dopado de las estructuras anfitrión (ejemplo, Eu+3), así como conocer
también la posición cristalográfica que éste ocupa. Los elementos de los que se
compone un medidor de fluorescencias son esencialmente los mismos que los
usados en un espectrofotómetro: una fuente da radiación electromagnética
ultravioleta-visible. un sistema óptico colimador y monocromador. y un detector.

La diferencia fundamental entre los dos tipos de equipos, reside en que, mientras
en espectrofotometría las mediciones se efectúan relativas e la intensidad de la
fuente, en un medidor de fluorescencias se mide la intensidad fluorescente absoluta
que llega al detector. Esto impone ciertas condiciones algo especiales a un medidor
de fluorescencias.

Los espectros obtenidos con cualquiera de estos instrumentos son, sin embargo,
aparentes, ya que dependen de la distribución de la potencia de la fuente en función
de la longitud de onda, así como también del espectro de sensibilidad del detector.
En los últimos años se han construido equipos que corrigen los resultados teniendo
en cuenta los espectros de le fuente y del detector. permitiendo de esta manera
obtener los espectros verdaderos de la sustancia estudiada. Sin embargo. estos
aparatos no son, hasta este momento, de uso corriente en los laboratorios. En
aquellos equipos que sólo suministran los espectros aparentes. su corrección no es
de utilidad en Química Analítica, sino que, se deben utilizar las longitudes de onda
óptimas aparentes para la elaboración. puesta a punto o aplicación de un método
fluorescimétrico.

La estructura electrónica particular de los iones de tierras raras con electrones de la

capa 4f, relativamente protegido del medio que los rodea, es la causa fundamental
de que estos iones presenten espectros de absorción prácticamente de líneas.

c) Dispositivo utilizado y condiciones de trabajo: El equipo a utilizar es un fluorímetro,

si tomamos como referencia el ejemplo del Eu+3, las medidas de fluorescencia en
estado estacionario se pueden llevar a cabo en disolución (por ejemplo 10-6 M),
empleando para ello un fluorímetro Edinburg Instruments Co., empleándose una
cubeta de cuarzo con un paso óptico de un centrímetro. La excitación de los
cromóforos se lleva a cabo con una lámpara de xenon (λexc.=235 nm), con las

P á g i n a | 21
 rendijas de excitación y emisión abiertas a 5 mm y un tiempo de adquisición (duel
time) de 0.2 s.

Los espectros de emisión de fluorescencia en estado estacionario (ejemplo, Eu+3) se

llegan a registrar en el intervalo comprendido entre 550-660 nm, y registrándose
tres espectros por muestra a temperatura ambiente. Mientras que los espectros de
absorción se llevaron en las mismas condiciones que los de emisión si bien el
intervalo espectral fue 350-500 nm con una longitud de onda de emisión de 612 nm.

RESULTADOS

A continuación (Tabla 2), se presenta un cuadro comparativo de las técnicas evaluadas para
la caracterización de aleaciones metálicas con tierras raras.

Limitaciones
Técnica de caracterización Alcance Aplicaciones
conocidas
Difracción de polvo de rayos X y Comprobar la pureza Detectar minerales Una mezcla
difracción cuantitativa de rayos X de las muestras y la con menos de 1% en compleja de
(DRX) existencia de una peso, pero en muchos minerales,
sola fase cristalina, algunos casos el difractograma
permite la especiales que presentará
determinación de permiten una complejidad
los parámetros de separación grande.
malla. (minerales densos,
minerales
magnéticos) el
límite de detección
sobre
la mezcla original
(antes de proceder a
la separación)
puede ser mucho
menor (por
ejemplo 0.01%).

P á g i n a | 22
 Caracterización
de fases en mezclas
criptocristalinas
Microscopio electrónico de barrido Caracterizar de Estudio de detalle **Es altamente
con analizador de energías (SEM-EDS), manera morfológica de la morfología de eficiente.
como composicional granos de arena en
de las muestras un
obtenidas. concentrado de
batea o el de
microcristales en
suelos o zonas de
alteración, y en el de
minerales de las
arcillas.
Catodoluminiscencia (CL) Identificar si la Estudio textural de **
estructura cristalina la lámina. Reforzar
de la muestra las observaciones
obtenida presenta realizadas con
algún tipo de microscopía óptica
defecto. convencional
Microsonda electrónica (EMPA) Realizar un análisis Análisis químico Es un método
cuantitativo de la cuantitativo puntual relativamente lento,
muestra obtenida. de elementos se requieren análisis
mayores, cualitativos previos
determinación de para conocer cuáles
elementos trazas, son las longitudes
mapas de de onda que
distribución de tenemos que
elementos, perfiles discriminar, pulido
de distribución de de la muestra es
elementos. crítico resultados
muy bajos o muy
altos.
Particle Induced X-Ray Emission Analizar los rayos X Estudio de menas Cuidado especial en
(Micro-PIXE) producidos al metálicas en la
bombardear una contrapartida selección de los
muestra mediante puntos, mayor que
un haz de protones. en el caso de la
microsonda, pues el
haz es más grueso
y se produce una
mayor penetración.
Secondary Ion Mass Spectrometry Análisis sensible de Mide niveles de A corriente alta el
(SIMS) elementos traza o trazas de todos los haz primario de
isótopos en elementos de la iones de alta
minerales zonados, tabla periódica. energía aumenta y
granos individuales Provee la profundidad de
de pequeño tamaño, microanálisis de penetración y el
etc. todos los elementos volumen de cascada
de la muestra. también, causa
daño inducido,
perturbación.
Laser-Ablation-Inductively Coupled Analizar las Determinación de Escasas, resolución
Plasma-Mass Spectrometry (LA-ICP- diferencias de masas elementos trazas en lateral del haz de
MS) de los iones minerales. láser solo puede ser
producidos por igual o mayor a 10

P á g i n a | 23
 ablación los Técnica de muy alta μm. Calibrar
elementos de la precisión, bajos previamente del
muestra. límites de equipo para
detección (nivel de elementos
ppb) y sobre todo de deseados. falta
un coste económico disponer de por lo
relativamente bajo. menos análisis de
microsonda
electrónica de uno o
dos elementos
presentes en el
mineral.
Microscopía electrónica de Obtener imágenes Cuantificar la Altamente sensible
transmisión (TEM) de interferencia difracción que a cambios en el foco
capaces de revelar sufren los de la lente objetivo
las características electrones y el espesor de la
morfológicas y incidentes efectuar muestra.
estructurales del análisis
sólido objeto de composicionales
estudio. mediante la
espectrometría por
energía dispersiva
de rayos X (EDS).
Análisis térmico diferencial DTA-TGA Identificar los Determinación de **
procesos propiedades fisco
endotérmicos químicos como:
(ΔT<0) o calores específicos,
exotérmicos (ΔT>0) así como puntos de
de la muestra. ebullición, fusión y
cristalización,
pureza de
compuestos
cristalinos, entalpías
de reacción y
determinación de
otras
transiciones de
primer y segundo
orden
Análisis térmico diferencial de barrido Medir las Caracterizar **
DSC-TGA transiciones productos químicos
endotérmicas y orgánicos e
exotérmicas en inorgánicos.
función de la
temperatura.
Medidas de área superficial Calcular el área * **
superficial de las
partículas
estudiadas.
Medidas de fluorescencia Obtener * **
información sobre la
eficiencia del
dopado de las
estructuras
anfitrión, conocer la
posición

P á g i n a | 24
 cristalográfica que
éste ocupa.
Tabla 2. Comparativo de las técnicas evaluadas para la caracterización de aleaciones metálicas con tierras raras

* No se indican por ser una técnica adicional para integración de los dos primeros grupos (¨técnicas convencionales¨ y ¨no
convencionales¨).

** No hay información suficiente para su determinación

OBSERVACIONES

El estudio de las asociaciones minerales mediante técnicas cuantitativas aporta elementos

valiosos para la valorización de los depósitos minerales, desde la fase de exploración a la de
estudio de viabilidad del depósito.
En la fase de prospección estratégica (a nivel regional) las técnicas que pueden ser más
útiles dependen del tipo de depósito. No obstante, como norma general, para la
identificación de minerales en concentrados de batea puede ser muy útil la microscopía
electrónica de barrido, especialmente en el modo de electrones retro dispersados y
acompañada de microanálisis por dispersión de energías. Este método permitirá la
localización e identificación rápida de partículas de minerales pesados en el concentrado.
En este estadio la microsonda electrónica u otras técnicas de microanálisis cuantitativo (LA-
ICP-MS, SIMS, Micro-PIXE u otras) sólo pueden ser viables en el caso de que el tipo de
depósito que se trata de localizar presente un fuerte valor añadido, como es en la
exploración de depósitos de diamante a partir de la composición de minerales indicadores.
Por lo común, el estudio del depósito en la fase táctica (ya a nivel local o del depósito)
precisará de herramientas aplicadas a un espacio mucho más concreto y, por tanto, que
deben ser precisas. En este estadio la difracción de polvo de rayos X cuantitativa puede ser
una alternativa o un complemento a otros métodos (PIMA, p. ej.) enfocados a caracterizar
la distribución de las zonas de alteración hidrotermal o meteórica, o a caracterizar la
mineralogía de suelos. Nuevamente la microscopía electrónica de barrido puede ser un
complemento eficaz para identificar los minerales de interés económico.

P á g i n a | 25
En la fase de valoración del depósito pueden emplearse las dos técnicas citadas, pero en
este estadio puede ser ya imperativo trabajar con técnicas cuantitativas más detalladas,
incluyendo las microsondas electrónicas, iónicas o protónicas, así como la LA-ICP-MS.
Debido a su elevado coste, es posible que las tres últimas técnicas sólo sean rentables en el
caso de que el mineral explotable tenga un alto valor añadido. En el caso de la exploración
de diamante, no obstante, estas técnicas son esenciales para poder definir el potencial
diamantífero de una kimberlita.
Las técnicas mineralógicas reseñadas pueden ser, finalmente, aplicadas al diseño de la
explotación del depósito, e incluso al control de seguimiento del mismo. En particular, el
estudio de la textura de las menas (especialmente, el tamaño de grano y los tipos de
intercrecimientos) es esencial en el diseño de la trituración de las mismas. Este aspecto
puede ser estudiado con mucho provecho en microscopía electrónica de barrido con
análisis de energías.
A efectos también de mecanismos de beneficio, así como de control del posible impacto
medioambiental, el tipo de mena y su distribución han de ser caracterizados de manera
segura y detallada, aspecto que puede ser realizado con ayuda del conjunto de las técnicas
citadas. Así, la difracción de polvo cuantitativa puede ser una herramienta poderosa para
controlar la distribución del mineral en el depósito. Ello implica, indirectamente, conocer la
distribución de los elementos químicos mayores. Esta técnica no aporta el mismo tipo de
datos que el que ofrece un típico análisis geoquímico como los comúnmente usados por las
empresas para la determinación de la ley de un elemento en el depósito (fluorescencia de
rayos X, activación neutrónica, ICP-MS, etc.), pero presenta la ventaja de ofrecer en su lugar
la ley de mineral en el mismo depósito. Ello tiene algunas ventajas importantes, pues un
cierto elemento puede estar distribuido entre diversos minerales y si en alguno de los
minerales no fuera económica la extracción del elemento el análisis químico clásico
falsearía el planteamiento de las técnicas mineralotécnicas y metalúrgicas que deben ser
empleadas, e incluso la viabilidad de la explotación. El mismo razonamiento puede ser
aplicado para demostrar la validez de aplicar el SEM-EDS al diseño de la planta de beneficio
de un depósito. En particular, los elementos preciosos y otros con alto valor añadido (U, Nb,
Ta) pueden ser explotables a leyes muy bajas, pero siempre que las menas tengan unas
características mineralógicas favorables. En particular, debe conocerse con precisión cuál
es la distribución del elemento o elementos beneficiales entre las diferentes especies
minerales del depósito. Para ello pueden ser imprescindibles análisis con microsonda
electrónica e incluso micro-PIXE, SIMS o LA-ICP-MS.
Para el diseño de los mecanismos de control medioambiental deben tenerse también en
cuenta las características químicas y físicas de las menas, en particular, aquéllas que puedan
favorecer su alterabilidad. Además, es importante conocer la distribución de algunos
elementos traza tóxicos (Cd, Cr, Bi, Se, Tl, etc.) entre los diferentes minerales del depósito,
no en el conjunto del depósito (con los métodos químicos tradicionales). Nuevamente,
también en este caso las técnicas de microanálisis puntual mineralógico (EMP, micro-PIXE,
SIMS, LA-ICP-MS) pueden ser extremadamente seguras y eficaces.

P á g i n a | 26
En cuanto al grupo de técnicas complementarias, la técnica de medidas de fluorescencia es
recomendada para la determinación de europio y terbio en presencia de itrio, gadolinio y
lutecio acompañado de aleaciones metálicas. Indistintamente del método de síntesis
llevado a cabo, en todos los casos es de importancia estudiar la respuesta luminiscente de
las muestras obtenidas, así como una caracterización basada en técnicas de difracción de
rayos X y microscopía electrónica de barrido (SEM-EDS).
Considerando el estudio morfológico y composicional de los minerales es recomendable
realizar técnicas complementarias, las cuales comprenden medidas de área superficial y
microscopía electrónica de transmisión.
Los efectos del calor pueden producir diversos cambios en las propiedades de los materiales
a estudio por lo que el análisis térmico es una técnica viable para el estudio de la variación
de alguna propiedad física en función del tiempo y temperatura a la que se somete la
muestra, algunos de propiedades físico químicas que permite conocer el análisis térmico
diferencial DGA- TGA, DSC-TGA son, calores específicos, así como puntos de ebullición,
fusión y cristalización, pureza de compuestos cristalinos, entalpías de reacción y
determinación de otras transiciones de primer y segundo orden.

P á g i n a | 27