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SISTEMAS DIGITALES DE
INSTRUMENTACIÓN Y CONTROL
TEMA 2
Arquitectura de los sistemas
basados en dispositivos
lógicos programables
Indice
2.1. Bloques básicos de un sistema digital avanzado para aplicaciones
industriales
2.1.1. Entradas-salidas analógicas. Acondicionadores de señal
2.1.2. Entradas-salidas digitales
2.1.3. Sistema de configuración y test
2.1.4. Sistema de alimentación
2.2. Consideraciones eléctricas
2.2.1. Propagación de señales
2.2.2. Técnicas de diseño de PCB
1
2.1 Bloques básicos de un sistema digital
avanzado para aplicaciones industriales
Sensores
analógicos
Entradas Salidas
digitales digitales
2
2.1.1 Entradas-Salidas analógicas
Acondicionadores de señal
Entradas-Salidas analógicas
3
2.1.1.1 Acondicionadores de señal
4
Ejemplos de ajuste de rangos dinámicos
Amplificadores/acondicionadores de señal
Sensores Amplificador
operacional Amplificador de
analógicos
instrumentación
Amplificador
diferencial Señal de medida
acondicionada
Amplificador
de aislamiento
4-20 mA
5
Amplificadores operacionales con entrada bipolar
• Para aplicaciones donde se requiere baja tensión de offset y baja deriva con la
temperatura
• Ejemplo: termoacopladores, RTDs y puentes de Wheatstone
• Poseen una muy baja corriente de polarización de entrada (Input Bias Current)
• Ideales en aplicaciones del tipo Integrador o amplificador de transimpedancia
donde la principal fuente de error es la corriente de polarización de entrada
6
Amplificador Diferencial (AD)
Sensado de corriente
7
Amplificador de Instrumentación (AI)
Lazo 4-20 mA
8
2.1.1.2 Selección del amplificador
17
Amplificadores y ADC
Los amplificadores operacionales pueden realizar todas las tareas propias del
acondicionador de señal:
• Amplificación/atenuación: escalado de la señal de entrada para cumplir el
margen dinámico del ADC
• Tensión de offset: desplazar el nivel DC de la señal de entrada para
ajustarlo al rango de operación del ADC
• Filtrado: eliminación de las componentes frecuenciales indeseables de la
señal de entrada para ajustar su ancho de banda al del ADC
Tema 2: Arquitectura de los sistemas basados en dispositivos digitales programables 18
9
Ancho de banda
• El ancho de banda es el primer requisito a tener en cuenta al elegir un ADC
• Criterio de Nyquist: la frecuencia de muestreo debe cumplir fs>2fa donde fa
es la frecuencia máxima de la señal de medida
• Conocido fS la pregunta es: ¿Cuánto ancho de banda necesito en los Op-
Amp que intervienen en el acondicionador de señal?
Ancho de banda del Op-Amp en lazo abierto
Ganancia a baja
frecuencia
-20dB/dec
Frecuencia para ganancia unidad
(UGB Unity Gain Bandwidth)
10
Ancho de banda en lazo cerrado
del amplificador no inversor
Si A↑↑
A
100000 AOL = Ganancia del Op-Amp en lazo abierto y baja frecuencia
10000 GBP=1,000,000
1000 X GBP=1,000,000
ACL GBP = BW · Ganancia
100 X -20dB/dec
10
Si A↑↑
11
Margen de ganancia (I)
• Para reducir el error de ganancia debe existir 40dB mínimo de margen entre
la ganancia en lazo abierto del Op-Amp y la ganancia en lazo cerrado
• A igual margen de ganancia, la configuración no inversora dá menor error
• Si la precisión es más importante que el ruido es mejor varios Op-Amp con
baja ganancia que 1 con alta
A 10 Hz el margen de ganancia es de 70 dB
A 80 kHz el margen
de ganancia es 0 dB
12
Variación GBP vs. VDD
La tensión de alimentación del Op-Amp puede afectar al valor del GBP
400 kHz
13
Slew Rate y ancho de banda en gran señal (II)
Ejemplo: En una señal senoidal el valor máximo de SR ocurre cuando pasa por
cero:
vo = Vsin(2π f t )
dvo
= 2π f Vsin(2π f t )
dt
dvo
= 2π f V para t = 0
dt máx
SR señal − máx = 2π f V ≤ SR Op − Amp
SR
Bandwidth =
2π ∗ Amplitude
+
X Y
-
Slew Limited
14
Ruido y Bits
15
Especificación mediante nV/√Hz ó µV/√Hz
En este caso solo se proporciona el valor de la componente de ruido blanco
(por encima de la región donde predomina el ruido 1/f)
A partir de este parámetro se puede calcular el ruido total introducido por el
Op-Amp
Ejemplo: Un Op-Amp con ruido 1/f hasta los 10 Hz, y una especificación de ruido
de 8nV/√Hz se utiliza en una aplicación con ancho de banda de 20 Hz ÷ 20 kHz.
Solución: dado que la región 1/f está por debajo de la menor frecuencia de interés
se puede considerar que el ruido es constante en todo el ancho de banda:
• Raíz cuadrada del ancho de banda de interés:√(20000 Hz-20Hz)=141.35 √Hz
• Ruido equivalente a la entrada (EIN) en la banda de interés:
8nV/ √Hz · 141.35 √Hz =1.131µV
El ruido de salida es el ruido de entrada multiplicado por la ganancia
A·G
+
Armónicos
A X G Y
-
f
f Ruido del fi 2fi 3fi 4fi
fi Op-Amp
Tema 2: Arquitectura de los sistemas basados en dispositivos digitales programables 32
16
Ruido total
17
SIgnal to Noise And Distorsion (SINAD)
El ADC tiene otros errores que afectan a su precisión:
• No linealidad diferencial
• Error de ganancia
• Error de offset
• Fuentes de ruido internas
Por este motivo la SNR real del ADC es menor que la ideal
El parámetro SINAD incluye además de la potencia de ruido los armónicos de
la señal útil:
SINAD =
(∑ Totas las componentes frecuenciales )
∑ (Totas las componentes frecuenciales − componente fundamental )
Señal + THD + N
SINAD =
THD + N
• Los errores inherentes del ADC degradan sus prestaciones de forma que el
número efectivo de Bits es menor que el real:
SINADdB − 1.76
ENOB =
6.02
18
Selección de la resolución del ADC
según el rango dinámico de la señal útil
El rango dinámico de la señal útil que se debe muestrear condiciona el
número de bits del ADC
2.1.1.3 Convertidores
Analógico-Digitales (ADC)
38
19
Lazo de control y medida
n
bits
ANALOG A-D
MUX SIGNAL CONVERTER
PROCESSOR
¿Qué es un ADC?
ENTRADA DE
REFERENCIA RESOLUCION SALIDA
DIGITAL
ENTRADA N BITS
ANALOGICA
Entrada Analógica
CODIGO DE SALIDA DIGITAL = x (2N - 1)
Entrada de referencia
20
Tipos de entradas analógicas
MSB
Vi≥0
MSB=0 para Vi≥0
0 0 0
ALL ALL
"1"s "1"s
1 AND ALL "0"S
21
Convertidores ADC
• Para elegir el ADC más adecuado se debe conocer los parámetros básicos del
convertidor así como las limitaciones de cada arquitectura.
• En general los parámetros a tener en cuenta en la elección son:
• Resolución ó nº de bits
• Tiempo de conversión
• Nº de canales analógicos de entrada
• Prestaciones estáticas
• Prestaciones dinámicas
• Consumo de potencia
• Tamaño
• Precio
22
Convertidor Flash o paralelo
STROBE
23
ADC Pipelined
24
ADC de aproximaciones sucesivas (SAR) (I)
• Arquitectura idónea para resoluciones medias-altas y frecuencia de
muestreo menor de 5 MS/s
• Resolución de 8 a 16 bits
• Bajo consumo
ANALOG EOC OR
COMPARATOR
INPUT DRDY
SHA +
-
SAR*
START
CONVERT
DAC
*SUCCESSIVE
APPROXIMATION
REGISTER
DIGITAL
OUTPUT
Tema 2: Arquitectura de los sistemas basados en dispositivos digitales programables 49
25
ADC de simple rampa
26
ADC Sigma-Delta (Σ∆)
Funcionamiento ADC Σ∆
Relación SNR en un ADC
27
Funcionamiento ADC Σ∆
Sobremuestreo
• Si se aumenta por un factor k la velocidad de muestreo (k·Fs) se obtiene la
misma relación SNR
• Al estar la energía del ruido distribuida en un ancho de banda mayor el
nivel medio de ruido es menor
Espectro de una señal senoidal muestreada con una frecuencia k·Fs
Funcionamiento ADC Σ∆
Filtrado
28
Funcionamiento ADC Σ∆
Modulador
Funcionamiento ADC Σ∆
Modulador + Filtro
29
Resumen comparativo
FLASH: Muy alta velocidad de conversión con gran consumo y baja resolución
(≤8bits)
SAR: Resolución media-alta (de 8 a 16 bits), velocidad por debajo de los 5MS/s,
bajo consumo
Rampa: muy baja velocidad de conversión (monitorización de señales DC), bajo
consumo, muy alta resolución (hasta 24 bits), requiere componentes externos,
buenas prestaciones en rechazo de ruido de red.
Pipeline: alta velocidad (de pocos MS/s hasta 100MS/s), resolución media-alta
(de 8 a 16 bits), menor consumo que Flash, latencia.
Sigma-Delta: Alta resolución (de 16 a 24 bits), velocidad baja-media, rechazo de
ruido de red, no requiere componentes externos ni filtro antialiasing. Hasta 12
bits es mas barato un ADC rampa, a partir de 16 bits Sigma-Delta tiene menor
coste.
Tema 2: Arquitectura de los sistemas basados en dispositivos digitales programables 59
30
Tabla resumen prestaciones ADC’s (II)
Aplicaciones de automoción
31
Aplicaciones de audio
Condicionantes:
• Resolución elevada (≥ 16 bits)
• Bajo consumo ⇒ alimentación con baterías
• Bajo coste
• Ancho de banda bajo (< 20 kHz)
Condicionantes:
• Resolución elevada (hasta 24 bits)
• Rechazo ruido de 50 o 60 Hz
• Bajo consumo ⇒ para instrumentos portátiles
• Bajo coste
• Ancho de banda bajo (DC- 100 Hz)
32
Aplicaciones de sonar
Condicionantes:
• Elevada resolución,
• Rango de frecuencia 10Hz – 8000 Hz ⇒ 20-50 kS/s
• Consumo reducido
Σ∆ ADC
ADC aproximaciones sucesivas
Aplicaciones médicas
Condicionantes:
• Precisión
• Consumo reducido para instrumentos portátiles
33
Aplicaciones de Radar
Condicionantes:
• Señales de alta frecuencia
• No importa el coste
ADC Flash
2.1.1.4 Convertidores
Digitales-Analógicos (DAC)
68
34
Convertidores Digitales Analógicos (DAC)
n
bits
ANALOG A-D
MUX SIGNAL CONVERTER
PROCESSOR
¿Qué es un DAC?
ENTRADA DE
REFERENCIA RESOLUCION
RESOLUCION SALIDA
==NNBITS ANALOGICA
ENTRADA BITS
DIGITAL
Entrada digital
Salida analógica = x Entrada de referencia
(2N - 1)
z Produce una salida analógica (tensión o corriente) en respuesta a un
código binario de entrada
z La entrada de referencia (tensión o corriente) se divide adecuadamente
para obtener la señal de salida.
z La salida solo puede tomar finitos valores discretos: 2N, se genera un
error de cuantificación
Tema 2: Arquitectura de los sistemas basados en dispositivos digitales programables 70
35
Resolución de los convertidores DAC
2R
S2 -
4R VOUT= -IRF
S3 +
36
Convertidor R-2R
37
2.1.2 Entrada-Salidas digitales
75
Introducción
38
Bloque de entrada/salida familia Spartan II/IIE
Esquema IOB Standards soportados
39
2.1.3 Sistema de configuración y test
79
40
2.1.3.1 Modos y opciones de
programación de los PLDs de Xilinx
81
FPGAs:
• Son dispositivos basados en tecnología SRAM, su configuración se pierde
cuando se suprime la tensión de alimentación.
• Las FPGAs utilizan una memoria externa PROM para almacenar la
configuración o bien se programan usando un cable de programación.
CPLDs:
• Dispositivos no volátiles basados en tecnología EEPROM o FLASH.
• No requiere memoria externa para almacenar la configuración.
PROMs:
• Dispositivos no volátiles utilizados para almacenar la configuración de la FPGA
• Dos tipos de memorias:
• OTP (One-Time Programmable) PROMs
• ISP (In-System Programmable) reprogramables PROMs
Tema 2: Arquitectura de los sistemas basados en dispositivos digitales programables 82
41
Proceso de programación o configuración
Proceso de diseño y configuración/programación
42
Modos de configuración y programación (II)
JTAG o Boundary Scan Mode:
• Es un standard industrial de programación serie (IEEE 1149.1 o 1532)
• El interface se compone de cuatro pines: TDI, TMS, TDO y TCK.
• Permite programar PROMs, FPGAs y CPLDs.
SelectMAP/Slave-Parallel Modes:
• SelectMAP está soportado por la familia Virtex y el modo Slave-Parallel por la
familia Spartan II
• Permite la programación paralelo: un byte por cada CCLK
• Se utiliza cuando se requiere una velocidad de configuración elevada
Master-Serial Mode:
• Método de configuración serie exclusivo de las FPGAs
• La FPGA carga los datos de configuración desde una memoria PROM serie
• La propia FPGA genera las señales de control y de reloj que controlan la
descarga de los datos de configuración
Tema 2: Arquitectura de los sistemas basados en dispositivos digitales programables 85
Slave-Serial Mode:
• Método de configuración serie exclusivo de las FPGAs
• Permite utilizar configuraciones tipo daisy-chain con múltiples dispositivos
conectados en cadena.
• Requiere un reloj externo (generado mediante un cable de programación, un µP
u otra FPGA) para controlar la carga de datos de configuración
Standalone Programmer Mode:
• Programadores de memorias y dispositivos programables de carácter genérico
como el programador HW-130 ó el cable de programación MultiPRO de Xilinx
43
Secuencia de configuración Spartan II
Existen diversas
opciones para cargar el
fichero jedec dentro de
la CPLD
44
Opciones de configuración de las FPGAs
La compilación del diseño FPGA genera un fichero de configuración *.bit que
permite configurar la FPGA
Si la programación se
realiza a través de una
memoria PROM se debe
generar un fichero *.tek,
*.mcs o *.exo
45
2.1.3.2 Cables de programación
91
Cables de programación
46
Parallel Cable III
Soporta el modo JTAG y el Slave-Serial
47
Conexión cable paralelo- placa de desarrollo
con interface JTAG
48
Conexión cable paralelo con la
FPGA en modo Slave Serial
49
Parallel Cable IV
Cable MultiLINX
50
Configuración Slave Serial del cable MultiLINX
Señales involucradas:
• PROG, CCLK, DONE, DIN,
• INIT: el dispositivo pone este pin a cero para indicar
que se está borrando la memoria de configuración
• Este pin pasa a nivel alto cuando ya está borrada la
memoria de configuración
• El usuario puede retrasar el proceso de programación
manteniendo este pin a cero
51
Configuración Boundary Scan
Señales involucradas:
• Las propias del protocolo JTAG: TDO, TDI, TMS,
TCK
• Para la familia XC4000 y Spartan XL: PROG,
INIT
Cable MultiPRO
Conector SelectMAP
52
Adaptador para programación de dispositivos
106
53
Pines dedicados a la configuración
Señales de configuración
del modo Slave-Parallel
54
Fichero de configuración
• En los diseños definitivos la configuración de la FPGA se almacena
normalmente en una memoria externa PROM
• En la selección de la memoria se debe tener en cuenta el tamaño del fichero
de configuración
55
Configuración Slave Paralelo
• La velocidad de configuración se aumenta por 8
• Un sistema externo controla la carga de las configuraciones en cada FPGA
56
Combinación de familias Virtex y Spartan
Lo habitual en una aplicación es poder combinar diferentes dispositivos y
modos de configuración como Master Serial, Slave Serial y Boundary Scan
114
57
CPLDs Daisy Chain con Interface JTAG
• El interface JTAG es el procedimiento más común para programar las CPLDs
• Requiere solo cuatro pines JTAG para programar y testear la cadena
• Permite incluir distintas familias de CPLDs: XC9500/XL/XV, XPLA3,
CoolRunner-II
Daisy Chain con interface JTAG
58
2.1.4 Sistema de Alimentación
117
Tiempo de power-on:
• El tiempo, TCCPO, que tarda la tensión de alimentación del núcleo, VCCINT,
en alcanzar el valor final debe estar dentro de un cierto rango
• Si se supera el tiempo especificado es posible que se produzca un
calentamiento excesivo de la FPGA debido a un exceso de consumo de
corriente
59
Requisitos de alimentación (II)
Secuencia de power-on: (orden en que se activan las diferentes tensiones de
alimentación de la FPGA)
• Familias Virtex II y Virtex-II Pro: no es necesario seguir una secuencia de
activación, aunque se recomienda que se activen todas las tensiones de
alimentación simultáneamente (VCCINT, VCCO, VCCAUX), en caso contrario se
puede producir un consumo excesivo de corriente durante el power-on.
• Familia Spartan IIE: es importante aplicar al mismo tiempo la tensión al
núcleo y a los bloques de I/O
• Familia Spartan II: el orden de power-on de las tensiones de alimentación es
indiferente
Regla general: en aquellos casos que sea posible es preferible alimentar en primer
lugar el núcleo y a continuación los bloques de I/O
Rizado de la tensión de alimentación: no debe superar el 5% del valor nominal, es
necesario utilizar fuentes de alimentación con bajo dropout
Cuando la tensión
VCCINT es estable se
Se coloca por razones activa la salida /PG
de estabilidad del (Power Good) que
regulador habilita el regulador de
la tensión VCCO
60
Reguladores dual de tensión con bajo dropout
Serie TPS70402 de Texas: 3A, 3.3V, 2.5V, 1.8V, 1.5V y ajustable de 1.22 a 5.0V
Secuencia de encendido: primero VCCINT y a continuación VCCO
Bibliografía (I)
www.motorola.com
www.analogdevices.com
61
Bibliografía (II)
Burr-Brown www.ti.com
• SLOA035B: “Amplifiers and Bits: An Introduction to Selecting Amplifiers for
Data Converts”
• SLVA043A: “Noise Analysis in Operational Amplifier Circuits”
• SLAA013: “Understanding Data Converters”, 1995.
• SBAA046: “What Designers Should Know About Data Converter Drift”
• SBAA004: “Selecting an A/D Converter”
• Ron Mancini, “Op Amps For Everyone. Design Reference”, Texas Instruments,
August 2002.
• SLUA277: TI Power Solutions Power-Up Xilinx FPGAs
• “Texas Instruments Power Management Reference Guide for Xilinx FPGAs”,
Real World Signal Processing, 1Q 2004.
Bibliografía (III)
www.maxim-ic.com
62
Bibliografía (IV)
www.xilinx.com
126
63
2.2.1 Propagación de señales
127
Propagación de señales
64
2.2.1.1 Características de las líneas de
transmisión
129
65
Modelo equivalente de una
línea de transmisión (LT)
Para analizar los efectos de la LT sobre las señales digitales es necesario obtener
su modelo equivalente
Parámetros característicos de la LT
ZO y TDP de LT típicas
66
Microstrip
Ejemplo:
t = 0.0015 in, h = 0.062 in (para G-10 glass epoxy), w = 0.015 in con ER = 4.7
ZO = 116.6 Ω
TDP = 1.73 ns/ft = 0.144 ns/in
Stripline
Ejemplo:
t = 0.0015 in, b = 0.062 in (para G-10 glass epoxy), w = 0.015 in con ER = 4.7
ZO = 60 Ω
TDP = 2.20 ns/ft = 0.183 ns/in
Tema 2: Arquitectura de los sistemas basados en dispositivos digitales programables 134
67
LT cargada
ZO y TDP de LT cargada
68
2.2.1.2 Análisis del efecto de la LT en las
señales digitales
137
69
Tensión y corriente en una LT (II)
i = i+ + i− =
1
ZO
(
V + −V − )
L
ZO =
C
v( z , t )
i+ i−
+
z z
v+ t − v− t +
c c
+ V+ V−
i = i− = −
ZO ZO
Tema 2: Arquitectura de los sistemas basados en dispositivos digitales programables 140
70
Análisis de la LT (I)
t=0 En t = 0 se cierra el interruptor
ZS Is IL
T = TDP ⋅ L
Vo Vs ZO, TDP VL ZL
z=0 z=L
ZL
En régimen permanente t = ∞: Vs = VL = Vo ⋅
ZL + ZS
+ + V1+
Para t = 0+: Vs = V1 + 0, Is = I1 + 0 con Z O =
I1+
ZS ZO
Además se debe cumplir: Vo - Is·ZS= Vs Vo − V1+ = V1+ V1+ = ⋅ VO
ZO ZO + Z S
Tema 2: Arquitectura de los sistemas basados en dispositivos digitales programables 141
Análisis de la LT (II)
Vo ZO, TDP ZL
71
Análisis de la LT (III)
Para t = T la onda V1+ llega al final de la LT y aparece la onda reflejada V1-
VL V1+ + V1− V1+ + V1− Z L − ZO +
Para t = T+: Z L = = + = Z O + V1− = V1
IL I1 + I1− V1 − V1− Z L + ZO
Análisis de la LT (IV)
Para t = 2T la onda V1- llega al principio de la LT y aparece la onda V2+
VO − Z S ⋅
ZO
1
( )
V1+ − V1− + V2+ = V1+ − V1− + V2+
ZS ⋅
1
ZO
−
( + −
)+
V1 − V2 = V1 + V2 ,
V2+ Z S − Z O
=
V1− Z S + Z O
=ρ S
72
Análisis de la LT (V) Lattice Diagram
z=0 z=L
Tema 2: Arquitectura de los sistemas basados en dispositivos digitales programables 145
Análisis de la LT (VI)
ZO 1 ρL
VO + + ..... =
Z S + ZO 1 − ρ L ⋅ ρ S 1 − ρ L ⋅ ρ S
Z L − ZO
1+
ZO Z L + ZO ZL
VO ⋅ = VO
Z S + ZO Z − ZO Z S − ZO ZS + ZL
1− L ⋅
Z L + ZO Z S + ZO
Tema 2: Arquitectura de los sistemas basados en dispositivos digitales programables 146
73
Caso 1: ZL = ZO
La carga es igual a la impedancia característica de la LT y el coeficiente de
reflexión de la carga es cero:
• No hay onda reflejada
Z L − ZO 0 • La carga absorbe toda la potencia incidente
ρ L= = =0
Z L + Z O 2Z O • El circuito alcanza el régimen permanente
inmediatamente
Transitorio en la fuente V(z=0) Transitorio en la carga V(z=L)
V V
t t
0 T 2T 3T 4T 5T 0 T 2T 3T 4T 5T
ZO ZL
V = V1+ = ⋅ VO = ⋅VO
Z D + ZO ZD + ZL
Tema 2: Arquitectura de los sistemas basados en dispositivos digitales programables 147
Caso 2: ZS = ZO, ZL ≠ ZO
La impedancia de la fuente es igual a la impedancia característica de la LT y
el coeficiente de reflexión de la fuente es cero:
• La fuente absorbe toda la potencia de la
Z S − ZO onda reflejada
ρS = = 0 ; ρ L≠ 0
Z S + ZO • El circuito alcanza el régimen
permanente para t = 2T
Transitorio en la fuente V(z=0) Transitorio en la carga V(z=L)
V1+ + V1- V1+ + V1-
V V1 + V
t t
0 T 2T 3T 4T 5T 0 T 2T 3T 4T 5T
ZO ZL Z − ZO
V (t = ∞ ) = V1+ + V1− = ⋅ VO ⋅ (1 + ρ L ) = ⋅ VO , con ρ L = L
Z S + ZO Z L + ZO Z L + ZO
Tema 2: Arquitectura de los sistemas basados en dispositivos digitales programables 148
74
Caso general: ZS ≠ ZO, ZL ≠ ZO (I)
La impedancia de la fuente y la carga son distintas a la impedancia
característica de la LT y los coeficientes de reflexión de la fuente y carga son
diferentes de cero
• Se produce múltiples reflexiones en la carga y
ρS ≠ 0; ρL ≠ 0 en la fuente
• La duración del transitorio depende del
desequilibrio de impedancias de fuente y carga
75
2.2.1.3 Técnicas de compensación de los
efectos de la LT
151
76
Adaptación de impedancias de la LT (II)
(3) ZS << ZO , ZL = ZO (Terminación paralelo)
• Ausencia de reflexiones en la carga y fuente
• Mínima duración de transitorio
• Excelente fidelidad en la señal transmitida por la LT
• La amplitud de la señal en la carga es mayor pero también se consume más
potencia que otros casos
(4) ZS << ZO , ZL >> ZO
• Reflexiones en la carga y fuente
• Elevada duración del transitorio
• La señal posee un significativo rizado que puede provocar errores en las cargas
Para adaptar las impedancias de la carga y/o fuente se pueden usar varias técnicas:
• Terminación resistencia Serie y Paralelo
• Terminación red Thevenin
• Terminación red RC
• Red de diodos
Tema 2: Arquitectura de los sistemas basados en dispositivos digitales programables 153
Terminación serie
• Se coloca una resistencia en serie con la fuente de valor: RS = ZO - ZS
• Se adapta la impedancia de la fuente pero no la de la carga
• Se utiliza cuando la carga/s está ubicada al final de la LT
• El valor de ZS < ZO
• Inconvenientes:
• La ZS varia con el valor lógico de la salida, no existe un solo valor de RS
• Las cargas que no están colocadas al final de la línea pueden funcionar
erróneamente durante el transitorio
77
Terminación paralelo
Terminación RC
• Similar a la terminación paralelo pero se coloca una capacidad en serie con la R
• El valor de la resistencia es tal que: R // ZL = ZO
• El condensador evita que en régimen permanente se consuma potencia en R,
mientras que se comporta como un cortocircuito durante las transiciones de la
señal.
• Esta solución requiere mucha menos potencia que la terminación paralelo
• El valor de C1 depende de T, ZO y Cd . La constante de tiempo RC debe
cumplir: RC = 3·T con C = C1 // Cd
78
Terminación Thevenin
79
Resumen terminaciones
2.2.1.4 Ejemplos
160
80
Ejemplo 1: LT stripline desadaptada
ZL= 100kΩ
20Ω para VOL = 0.25V
ZS
120Ω para VOH = 4.75V
ZO = 90Ω
8-in
ZO’ = 41.6 Ω
CD = (4 puertas x (15 pF/puerta))/8 in pista = 7.5 pF/in
TPD’ = 4.76 ns/ft
CO = TDP/ZO =2.04 pF/in
81
Ejemplo 1: Condiciones iniciales para VO = VOH
Coeficientes de reflexión en la fuente y carga
V(z,t<0)
VINICIAL = VOH = 4.75V
z
ZS z=0 z = 8 in
ZS V1+
VOH
t=0 ZO’ = 41.6 Ω
TPD’ = 4.76 ns/ft ZL
∆VO
z=0 z = 8 in
Z O'
Se genera una onda progresiva debida a ∆VO: V1+ = ∆VO ⋅ = −3.04 V
Z O' + Z S
82
Ejemplo 1: Transitorio en la LT
V(z)
t<0 VINICIAL = 4.75V
4.75V
z Z O'
V1+ = ∆VO ⋅ = −3.04 V
0≤t≤T VINI. Z O' + Z S
V1++ VINI.
1.71V
z V1+ + VINI . = 1.71 V
V1++ VINI.
T ≤ t ≤ 2T
z V1+ + V1− + VINI . = −1.33 V
V1 ++ V1 -+ VINI.
-1.33V
2T ≤ t ≤ 3T + − +
z V1 + V1 + V2 + VINI . = −0.261 V
-0.261V
V1++V1- +V2++VINI. V1++ V1- + VINI.
Tema 2: Arquitectura de los sistemas basados en dispositivos digitales programables 165
83
Ejemplo 1: Representación gráfica V(z,t) en la LT
V(z = 0) V(z = L)
5 5
4 4
3 3
0.251V 0.251V
2 2
1 1
0 0
-1 -1
-2 -2
0 T 2T 3T 4T 5T 6T 7T 0 T 2T 3T 4T 5T 6T 7T
84
Ejemplo 1: Transición de salida de VOL a VOH
VINICIAL=VOL= 0.25V
∆VO= VFINAL-VINICIAL= VOH-VOL = 4.75V - 0.25V = 4.5V
VFINAL= VOH = 4.75V
ZS V1+
VOL
t=0 ZO’ = 41.6 Ω
TPD’ = 4.76 ns/ft ZL
∆VO
z=0 z = 8 in
+ Z O'
Se genera una onda progresiva debida a ∆VO: V1 = ∆VO ⋅ = 1.16 V
Z O' + Z S
Ejemplo 1: Transitorio en la LT
V(z)
t<0 VINICIAL = 0.25V
0.25V
z Z O'
0≤t≤T V1+ = ∆VO ⋅ = 1.16 V
V1++ VINI. Z O' + Z S
1.41V VINI.
z V1+ + VINI . = 1.41 V
T ≤ t ≤ 2T V1++ V1- + VINI.
2.57V V ++ V
1 INI. V1+ + V1− + VINI . = 2.57 V
z
2T ≤ t ≤ 3T
V ++V1- +V2++VINI.
3.13V 1 V1++ V1- + VINI. V1+ + V1− + V2+ + VINI . = 3.13 V
z
Tema 2: Arquitectura de los sistemas basados en dispositivos digitales programables 170
85
Ejemplo 1: Evolución temporal de la tensión
Z O'
V1+ = ∆VO ⋅ = 1.16 V
Z O' + Z S
V (t < 0 ) = VINICIAL = 0.25 V
V (z = 0, t = 0) = V1+ + VINI . = 1.41 V
V (z = L, t = T ) = V1+ + V1− + VINI . = V1+ ⋅ (1 + ρ L ) + VINI . = 2.57 V
V ( z = 0, t = 2T ) = V1+ + V1− + V2+ + VINI . = V1+ ⋅ (1 + ρ L + ρ L ρ S ) + VINI . = 3.13 V
( )
V ( z = L, t = 3T ) = V1+ + V1− + V2+ + V2− + VINI . = V1+ ⋅ 1 + ρ L + ρ L ρ S + ρ L2 ρ S + VINI . = 3.69 V
( )
V ( z = 0, t = 4T ) = V ( z = L, t = 3T ) + V3+ = V1+ ⋅ 1 + ρ L + ρ L ρ S + ρ L2 ρ S + ρ L2 ρ S2 + VINI . = 3.96 V
V ( z = L, t = 5T ) = V ( z = 0, t = 4T ) + V3− =
( )
= V1+ ⋅ 1 + ρ L + ρ L ρ S + ρ L2 ρ S + ρ L2 ρ S2 + ρ L3 ρ S2 + VINI . = 4.23 V
ZL 100kΩ
VFINAL (t = ∞ ) = ∆VO ⋅ + VINICIAL = 4.5V ⋅ + 0.25V = 4.75 V
ZL + ZS 100kΩ + 145Ω
Tema 2: Arquitectura de los sistemas basados en dispositivos digitales programables 171
86
Ejemplo 2: LT stripline adaptada
con terminación serie
Para reducir la oscilación que se produce en la transición H → L se introduce
una resistencia serie de 25 Ω a la salida del driver
20Ω para VOL = 0.25V
ZS ZL= 100kΩ
120Ω para VOH = 4.75V
ZS’
RS=25Ω ZO = 90Ω
8-in
Resistencia de terminación serie Cd =15pF
87
Ejemplo 2: Transición de salida de VOH a VOL
VINICIAL= VOH = 4.75V
∆VO= VFINAL-VINICIAL= VOL-VOH = 0.25V- 4.75V = - 4.5V
VFINAL= VOL= 0.25V
ZS’ V1+
VOH
t=0 ZO’ = 41.6 Ω
TPD’ = 4.76 ns/ft ZL
∆VO
z=0 z = 8 in
+ Z O'
Se genera una onda progresiva debida a ∆VO: V1 = ∆VO ⋅ = −2.16 V
Z O' + Z S'
88
Ejemplo 2: Representación gráfica V(z,t) en la LT
89
Ejemplo 2: Transición de salida de VOL a VOH
VINICIAL=VOL= 0.25V
∆VO= VFINAL-VINICIAL= VOH-VOL = 4.75V - 0.25V = 4.5V
VFINAL= VOH = 4.75V
ZS’ V1+
VOL
t=0 ZO’ = 41.6 Ω
TPD’ = 4.76 ns/ft ZL
∆VO
z=0 z = 8 in
+ Z O'
Se genera una onda progresiva debida a ∆VO: V1 = ∆VO ⋅ = 1.00 V
Z O' + Z S'
90
Ejemplo 2: Representación gráfica V(z,t) en la LT
Bibliografía (I)
www.motorola.com
www.national.com
AN-108: Transmission Line Characteristics
AN-903: A Comparison of Differential Termination Techniques
AN-806: Data Transmission Lines and Their Characteristics
AN-807: Reflections: Computations and Waveforms
AN-808: Long Transmission Lines and Data Signal Quality
91
Bibliografía (II)
www.xilinx.com
www.philips.com
www.fairchild.com
Bibliografía (III)
• Matrick, R. F., “Transmission Linies for Digital and Communications
Networks”, Ed. McGraw-Hill, New York, 1970
92
2.2.2 Técnicas de diseño para conseguir
compatibilidad electromagnética y
reducción de EMI
185
93
2.2.2.1 Introducción a la Interferencia
Electromagnética (EMI) y a la
Compatibilidad Electromagnética (EMC)
187
94
Modelo de EMI
Fuentes de EMI
• Microprocesadores, microcontroladores
• Descargas electrostáticas
• Transmisores
• Transitorios de componentes de potencia
• Fuentes de alimentación conmutadas
• Relés electromecánicos
• Motores DC
• Sistemas de alumbrado (fluorescentes)
En los sistemas digitales los elementos más vulnerables a las EMI son las
señales de reset, líneas de interrupción y de control
Tema 2: Arquitectura de los sistemas basados en dispositivos digitales programables 190
95
EMI Conducida (I)
El ruido se transmite a
todos los elementos
conectados a la línea de
alimentación
Ruido
96
EMI Conducida (III)
Ejemplo 3: Un súbito cambio en la corriente consumida por el circuito 1
provoca una caída de tensión en la línea de alimentación que afectará al
circuito 2 debido a impedancia común Z1 de la línea de alimentación y a la
impedancia de la fuente
Z1
EMI radiada
97
Tipos de EMI radiada (I)
• Ocurre cuando una corriente alterna circula por un pequeño lazo (espira).
• Campo eléctrico generado: E= 265·10e-16·A·If·f2/d [Voltios/metro] con:
A: área en m2
f: frecuencia en Hz
d: distancia al centro del lazo en metros
If: corriente en el cable de frecuencia “f”
98
Receptores de EMI
En circuitos digitales las señales más críticas son las más vulnerables a EMI:
• Señal de reset
• Líneas de interrupción
• Señales de control
198
99
Encapsulado de componentes
Se debe escoger tipos de encapsulados que tengan el menor efecto
parásito (inductivo y capacitivo):
• Componentes con terminales: 1nH/mm por terminal y 4pF
• Montaje superficial: 0.5nH y 0.3pF
100
Resistencias (I)
Modelo equivalente de alta frecuencia de una resistencia
Resistencias (II)
Diseño de amplificadores de alta frecuencia:
• Se debe elegir adecuadamente el tipo de resistencia porque el valor de la
impedancia se incrementa por el efecto de la inductancia parásita de la
resistencia
• La resistencia que fija el valor de la ganancia se debe colocar lo más
próximo posible al circuito amplificador para minimizar la inductancia de
las conexiones
Resistencias de pull-up y pull-down:
• Se deben colocar lo más cerca posible de los elementos activos y de la masa
o alimentación local para reducir al mínimo la inductancia de las
conexiones
Filtros RC:
• Se debe tener en cuenta la inductancia parásita de las resistencias ya que
pueden originar oscilaciones indeseadas
Tema 2: Arquitectura de los sistemas basados en dispositivos digitales programables 202
101
Condensadores. Modelo equivalente
El condensador es el componente que más ayuda a resolver problemas de EMC
Modelo equivalente de alta frecuencia de un condensador
Tántalo
Cerámico
102
Condensadores. Tecnología de fabricación
Condensador de Bypass
(Bulk Decoupling Capacitor)
Función: Reduce el ruido de baja-media frecuencia en la alimentación y los
transitorios devidos a variaciones en el consumo de corriente
Tipo: mejor electrolítico de tántalo que de aluminio (tiene menor ESL)
Capacidad: entre 10 y 470 µF según el valor del transitorio de corriente.
Ubicación: lo más cerca posible de los terminales de alimentación del PCB.
Consideraciones: Se coloca en paralelo un condensador cerámico de 10nF
para desacoplar el ruido de alta frecuencia
103
Necesidad del condensador de desacoplo
La conmutación de las puertas lógicas provoca transitorios de corriente en la
línea de alimentación.
di 4 mA − 0.6 mA
V = L⋅ = 450nH ⋅ = 0.383Vpico
dt 4 ns
104
Elección del Condensador de desacoplo
Frecuencia de resonancia (I)
El valor de la capacidad del condensador de desacoplo se puede escoger a
partir de su frecuencia de resonancia.
La frecuencia del ruido a eliminar debe estar por debajo de la frecuencia de
resonancia del condensador, en caso contrario el comportamiento del
condensador es inductivo y empeora el problema.
Frecuencia resonancia condensador cerámico
Inductancia
conexión: 3.75nH 1nH
Tema 2: Arquitectura de los sistemas basados en dispositivos digitales programables 209
•Z5U (barium titanate ceramic): posee una constante dieléctrica grande con
frecuencia de resonancia de 1 a 20 MHz
105
Condensador de desacoplo en paralelo
Ejemplo de diseño
Es habitual poner condensadores en paralelo de diferentes valores para
aumentar el ancho de banda de supresión de ruido
Ejemplo: Condensadores de desacoplo para alimentar una FPGA Virtex II con
48 entradas de alimentación de 1.5V
Respuesta frecuencial conjunta Condensadores de desacoplo utilizados
Inductores. Clasificación
Lazo abierto
• El campo magnético se propaga en parte a través del
aire lo que produce radiación y problemas de EMI
• Son más económicos
Lazo cerrrado
• El campo magnético está confinado en el núcleo de
la bobina
• Es ideal para EMC pero es más caro
106
Inductores de lazo abierto
Reguladores de tensión
107
2.2.2.3 Técnicas de diseño de PCB
para EMC
215
108
Normas generales en el diseño del PCB
109
Ubicación de componentes (II)
110
Reducción de lazos de corriente (II)
La línea de señal y el retorno de masa deben estar lo mas cerca posible para
minimizar el lazo de corriente
Trazado de esquinas
Las esquinas en ángulo recto radian más que las de ángulo de 45º ó las curvas
111
Distribución de señales críticas
112
Distribución de señales de alimentación y masa
Las señales críticas se ubican cerca del plano de masa y las señales no
críticas cerca del plano de alimentación
• PCB multicapas: cada capa de alimentación debe estar separada por una
capa de masa
• PCB una o dos caras: se traza pistas de masa para cada tensión de
alimentación de forma separada del resto de alimentaciones para
disminuir el acoplamiento de ruido entre fuentes de alimentación
113
Bibliografía (I)
www.motorola.com
Bibliografía (II)
www.maxim-ic.com
www.ti.com
114
Bibliografía (III)
www.xilinx.com
www.national.com
AN-643: EMI/RFI Board Design
Bibliografía (IV)
• Howard Johnson, Martin Graham “High-Speed Digital Design: a
Handbook of Black Magic”, Ed. Prentice Hall, ISBN: 0133957241
• Martin O’Hara “EMC at component & PCB Level”, Ed. Butterworth-
Heinemann, ISBN: 0750633557
• Mark I. Montrose “Printed Circuit Board Design Techniques for EMC
Compliance”, Ed. Wiley-IEEE Press, ISBN: 0780353765
• “Noise Reduction Techniques in Electronics Systems”, Ed. John Wiley &
Sons, 1988
115