Vous êtes sur la page 1sur 34

TODF-T

Time of Flight Diffraction Technique

Généralités

HISTORIQUE
• La technique TOFD a été mise au point en 1974 par Maurice SILK du National NDT
Center à Harwell (Angleterre)
• La 1ère publication est datée de Juin 1975 (M. SILK – The Potential of scattered or
diffracted ultrasound in the determination of the crack depht)

PRINCIPE TECHNIQUE
• Le principe général d’un examen TOFD consiste à éclairer le volume contrôlé à
l’aide d’un couple de traducteurs fortement divergents constitué d’un émetteur et
d’un récepteur montés face à face
• Le principe de détection consiste à visualiser sur une représentation graphique de
type BScan les échos de diffraction générés en extrémités de défauts plans
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

Champ Acoustique

TOFD OL 55° – 7.5 Mhz – Pastille 8x4 mm – Modélisation CIVA


TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

TOFD – Chaine d’Acquisition


TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

Matériel d’acquisition – METALSCAN Miniscan ®

Miniscan

Codeur à
Fil

Couple
TOFD
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

Visualisation AScan
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

Construction d’une image BScan TOFD


AScan BScan
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

Visualisation BScan
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

Comparatif BScan TOFD – Radiographie X


TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

Calcul de l’Ecartement des Points d’Emergence

EPE1 EPE EPE2


ZZ

EPE1 = Z Tan(a1) EPE2 = Z Tan(a2)

EPE = EPE1 + EPE2


si a1 = a2 alors a1 =a2 = a et
EPE = 2Z Tan(a)
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

Calcul de la profondeur d’un réflecteur

Z
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

Correction BScan

Surface

Centre

Fond

Soudure Bout à Bout – Epaisseur 120 mm – TOFD 55° 4 MHz


BScan Classique – Non linéaire en Z
TOFD
Time of Flight Diffraction Technique

Correction BScan

Surface

Centre

Fond

Soudure Bout à Bout – Epaisseur 120 mm – TOFD 55° 4 MHz


BScan Corrigé – Linéaire en Z
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

Généralités

AVANTAGES
Par rapport à un examen ultrasonore conventionnel, le contrôle par méthode TOFD
présente un certains nombre d’avantages non négligeables :
•Grande sensibilité de détection
•Faible sensibilité à l’orientation des réflecteurs
•Moindre sensibilité à la qualité de l’état de surface du matériau
•Facilité de mise en œuvre
•Rapidité d’exécution (Balayage de type translation par opposition au balayage de type
créneau d’un examen ultrasonore conventionnel)
•Rapidité d’analyse (Visualisation BScan)
•Grande précision de dimensionnement (Longueur, Hauteur, Profondeur)
•Imagerie numérique (Suivi en service - Alternative au procédé d’imagerie radiographique
)
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

Rapidité d’Exécution
Examen
Examen Ultrasonore
Ultrasonore TOFD
Conventionnel
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

Généralités

INCONVENIENTS
Par rapport à un examen ultrasonore conventionnel, le contrôle par méthode TOFD
présente un certains nombre d’inconvénients :
• Normalisation fragmentaire
British Standard - BS 7706
ASME VIII - Code Case 2235-9
European TOFD standard draft - ENV 583-6
European – EN 15617 (Essais non destructif des assemblages soudés)
Comite Européen de Normalisation - XP CEN/TS 14751
• Grande sensibilité de détection
• Mise en œuvre limitée aux matériaux à structure fine
• Mise en œuvre limitée aux tôles et aux assemblages soudés bout à bout
• Zones aveugles à proximité de la surface de sondage
• Zones aveugles à proximité de l’écho de fond
• Problèmes de localisation en Y des réflecteurs
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

Configuration d’assemblages
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

Correction BScan

Surface

Centre

Fond

Soudure Bout à Bout – Epaisseur 120 mm – TOFD 55° 4 MHz


BScan Corrigé – Linéaire en Z – Détection automatique de défauts
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

Limites de détectabilité

EE0.5
EE0.5 EE1
EE1 EE2
EE2 EE3
EE3 EE5
EE5
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

Limites de détectabilité – Plage d’Utilisation PU

PU
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

BScan TOFD – Bloc AL2

PASSAGE COTE GAUCHE

Surface 2 5 7
1 4 6
3

4.3 3.9
3.0 3.3
1.9
Fond

PEF2 PEF6 Bourrelet

Soudure Bout à Bout – Epaisseur 20 mm – TOFD 55° 7.5 MHz


BScan Classique – Non linéaire en Z
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

BScan TOFD – Bloc AL2

PASSAGE CENTRAL

Surface 2 5 7
1 4 6
3

3.7 4.4
3.7 3.0
2.5
1.6 0.8 à 0
Fond 0.5

PEF1 Bourrelet
PEF4
7

Soudure Bout à Bout – Epaisseur 20 mm – TOFD 55° 7.5 MHz


BScan Classique – Non linéaire en Z
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

BScan TOFD – Bloc AL2

PASSAGE COTE DROIT

Surface 2 5 7
1 4 6
3

3.6 4.3
3.0
2.0 1.0 à 0.5
Fond
PEF1 PEF7 Bourrelet
1 7

Soudure Bout à Bout – Epaisseur 20 mm – TOFD 55° 7.5 MHz


BScan Classique – Non linéaire en Z
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

BScan TOFD – Composant PSA Air Liquide

PASSAGE CENTRAL

Surface

Fond
Bourrelet

Soudure Bout à Bout – Epaisseur 15 mm – TOFD 55° 7.5 MHz


BScan Classique – Non linéaire en Z
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

BScan TOFD – Composant PSA Air Liquide


Analyse de l’image BScan TOFD

• Réflecteurs 1, 2 et 3 
Signaux simples isolés sans rupture de l’écho de fond
Suspicion de défauts volumiques de type inclusions ponctuelles
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

BScan TOFD – Composant PSA Air Liquide


Analyse de l’image BScan TOFD

• Réflecteurs 5 et 6
Présence de composantes supérieure et inférieure compatible avec l’hypothèse d’échos de
diffraction en sommet et pied de défaut
Suspicion de manque de fusion non débouchant en paroi interne
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

BScan TOFD – Composant PSA Air Liquide


Analyse de l’image BScan TOFD

• Réflecteurs 5 et 6
Rupture de l’écho de fond
Réflecteurs débouchant ou proches de la paroi interne
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

BScan TOFD – Composant PSA Air Liquide


Analyse de l’image BScan TOFD

• Réflecteurs 4, 7, 8 et 9
Réflecteurs proches de la paroi interne sans rupture de l’écho de fond
Suspicion de défauts de type inclusions ponctuelles proches de la paroi interne ou de
manques de fusions débouchant ou subsurfaciques désaxés par rapport à l’axe du couple
TOFD
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

BScan TOFD – Composant PSA Air Liquide


Analyse de l’image BScan TOFD

• Remarque
Mise en évidence de l’arasage du cordon de soudure interne entre les cotes 636 et 780
Suspicion de réparation interne
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

BScan TOFD

Structure
cristalline Echo d’interface
grossière

Affouillement en barquette - Réparé par rechargement manuel


Echo de fond
Non perturbé
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

BScan TOFD

Structure
cristalline Echo d’interface
grossière

Fissure
Echo deinter-granulaire
fond débouchant en paroi interne
Perturbé
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

Analyse Fréquentielle d’un réflecteur

Violon Contrebass
e

Harmoniques Harmoniques
Hautes Fréquences Basses Fréquences
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

Analyse Fréquentielle d’un réflecteur NV


TOFD 7.5 MHz

6.5 MHz
TODF-T
Time of Flight Diffraction Technique

Analyse Fréquentielle d’un réflecteur V


TOFD 7.5 MHz

4.5 MHz