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MAÎTRISE STATISTIQUE DES

PROCESSUS
CHAPITRE 3

Cours élaboré par I. Chaieb,


ENICarthage
Département Génie Industriel
PLAN DU COURS
 La MSP, un outil, une technique, une culture
 Notion de base de la MSP
 Les études de capabilité
 Les indicateurs de capabilité
 Le calcul des capabilités
 Calcul des capabilités sur un lot
 Calcul des capabilités à partir d’une carte de contrôle
 Interprétation et suivi de la chute des capabilités
 Rendement de Stabilité RS
 Rendement de Réglage Rr
 La chute des capabilités
 L’indicateur Z de Six Sigma
 Les Cartes de contrôle
 Le Contrôle à la réception
LES ÉTUDES DE CAPABILITÉ
- Les indicateurs de capabilité (Norme QS 9000)
- Le calcul des capabilités
- Calcul des capabilités sur un lot
- Calcul des capabilités à partir d’une carte de
contrôle
- Interprétation et suivi de la chute des capabilités
- Rendement de Stabilité RS
- Rendement de réglage Rr
- La chute des capabilités
- L’indicateur z de Six Sigma
LES INDICATEURS DE CAPABILITÉ (NORME QS
9000)
 Rappel : on dissocie deux types de capabilités :
 la capabilité court terme (capabilité procédé) : indicateurs
Cp, Cpk et Cpm,
 la capabilité long terme (performance du procédé) :
indicateurs Pp et Ppk.

 Les indicateurs Pp et Ppk sont les plus importants


car ils reflètent la qualité des pièces livrées chez le
client.

 Cp = Pp si le procédé est stabilisé.

 Les indicateurs de capabilité liés à la perte en argent


(temps, rebuts…) pour la société sont Cpm (court terme)
et Ppm (long terme).

 Ppm n’apparaît pas dans les documents QS 9000.


 Tableau récapitulatif :

Tableau III.1 Les différents indicateurs

Intérêt Symboles

Capabilité long terme Pp


Traduit la qualité des pièces
Performance du Pk
livrées au client
procédé Ppm
Traduit la capabilité Cp
Capabilité court terme intrinsèque du moyen de Cpk
Capabilité du procédé production dans les conditions
de gamme Cpm
LE CALCUL DES CAPABILITÉS
 Rappel :

 Capabilité d’un moyen de production =


performance demandée/performance réelle
- performance réelle = dispersion obtenue sur la
production
- performance demandée = intervalle de tolérance

 Il existe deux types de dispersions :


- Long terme : intéresse le client
- Court terme : intéresse le bureau des méthodes
TI Long terme
TS

σLT

TI TS

Court terme

σCT

-6 -4 -2 0 2 4 6

Figure III.1 Evolution d’un processus au cours du temps


 La dispersion court terme (instantanée) DCT :
 observée pendant un temps très court,
 traduit la variabilité intrinsèque du processus,
 provient de l’ensemble des 5M du processus mais plus
particulièrement du moyen de production.

 La dispersion long terme (globale) DLT :


 observée pendant un temps suffisant pour que les 5M du
procédé aient eu une influence,
 comme DCT, DLT provient de l’ensemble des 5M,
 DLT = DCT + variations de la position moyenne du processus
 DLT > DCT

Cp = IT/DCT = IT/6 σCT , Pp = IT/DLT = IT/6 σLT

Cp et Pp : sont des capabilités potentielles qui ne


tiennent pas compte du décentrage.
 Les indicateurs qui tiennent compte du décentrage sont :
voir Fig.III.2
 Cpk : pour rendre compte du pourcentage hors tolérances :
voir Table II.2 en annexes.
 Cpm : pour rendre compte de la perte, au sens de Taguchi,
générée par la production.

Cpk = distance minimale(Moyenne à la tolérance) / 3σ


= kσ / 3σ

Cpm = Tolérance
6  2  ( X  Cible)2
TI TS

TS – μ = kσ
Cible μ

Cpkl=(μ-TI)/3σ Cpku=(TS-μ)/3σ


Dispersion=6σ
Figure III.2 Les indicateurs Cpk et Cpm

 Les formules restent les mêmes pour Ppk et Ppm à condition


que le  représente LT .
CALCUL DES CAPABILITÉS SUR UN LOT
 Soit une machine qui produit 50 pièces/mn :
 Si on mesure un lot de 50 pièces réalisées consécutivement :
il faut 1 minute, alors Dispersion mesurée = Dispersion
court terme.
 Si on prélève aléatoirement un lot de 50 pièces représentatifs
de la production d’une semaine alors Dispersion mesurée =
Dispersion long terme.

 Calcul de Pp, Ppk et Ppm :


 Un cas classique d’application de ce calcul est le
contrôle réception. Exemple : on veut calculer sur un lot
en réception, la capabilité d’un fournisseur sur une
caractéristique. Il est souvent difficile de mettre en place
une carte de contrôle chez le fournisseur !!  On utilise
donc le calcul sur un lot.
 Méthode :

 Mesurer les (50) pièces de l’échantillon.


 Représenter les mesures sous forme d’histogramme.
 Vérifier la normalité (outils : droite de Henry, Test de 2).
 Vérifier qu’il n’y a pas de points aberrants (situés à l’extérieur de
8σ).
 Estimer σLT à partir de l’échantillon :
σLT est estimé par S = σn-1 =  ( Xi  X )
2
n = nombre de valeurs
n 1

 Calculer Pp, Ppk et Ppm :


TS  X X  TI
Pp=Tolérance/6σLT Ppk=Min ( , )
3 LT 3 LT
Tolérance
Ppm=
6  LT
2
 ( X  cible) 2
 Précautions à prendre pour les calculs :
 si on trouve des points aberrants : il faut identifier
leurs origines et puis les éliminer de l’étude,
 si la loi n’est pas normale : il faut déterminer l’origine
de cet écart par rapport à la normalité.

 Exemple : voir Exercice 1 du TD3.


 Calcul de Cp, Cpk et Cpm :

 DCT < DLT  Cp > Pp

 Cp = Limite supérieure de ce que l’on peut obtenir


pour Pp.

 Pp = Cp si on est capable de maîtriser complètement


les instabilités occasionnées par les 5M.

 Cp = ce que le procédé est capable de faire pendant


un temps très court, c'est-à-dire lorsque les variations
de consigne dues au {Milieu (température,
vibrations…), Main d’œuvre, Matière (changement de
lots…), Méthode} sont minimisées ou éliminées.
 L’estimation de σCT doit être effectuée à partir
d’un échantillon lui-même fabriqué pendant un
temps très court !!

 Or : si le processus est à cadence élevée (exemple :


1produit/seconde)
 alors un échantillon de 60 pièces est obtenu au bout d’une
minute ;

 Mais : si le processus est à cadence faible (exemple :


1produit/5minutes)
alors un échantillon de 60 pièces est obtenu au bout de 5h
(60x5=300 minutes) !!
 on n’a plus le droit de dire que la dispersion observée est
une DCT !

 Il faut donc dissocier dans le calcul de DCT les


deux cas : productions rapides, productions
lentes.
 Cas des productions rapides
 Méthode de calcul :

 Prélever un échantillon de 50 pièces consécutives.

 Vérifier la normalité de la population pour vérifier l’absence de


causes spéciales.

 Estimer σCT à partir de l’échantillon : σCT est estimé par


S = σn-1 =  ( Xi  X ) 2 n=nombre de valeurs dans l’échantillon
n 1
 Calculer Cp, Cpk et Cpm :
TS  X X  TI Tolérance
Cp=Tolérance/6σCT Cpk=Min ( , ) Cpm=
3 CT 3 CT 6  CT
2
 ( X  cible) 2
 Règles à respecter pour le calcul des capabilités : une étude de
capabilité doit s’effectuer sur un processus stabilisé c'est-à-dire :
 la machine est en état de bon fonctionnement,
 la gamme de fabrication est figée,
 le matériau doit être homogène et conforme à la
définition,
 la cadence de la production doit être la cadence de la
série,
 les outils employés sont ceux retenus pour la fabrication,
 le fonctionnement de la machine doit être stabilisé.

 Le plus simple pour respecter l’ensemble de ces règles est de prélever


un lot en cours de journée, lorsque le processus est stabilisé
 Cas des productions lentes : (exemple : plus de 1mn de
production par pièce)
 Il n’est plus possible de prélever 50 pièces consécutives sans
observer des variations de consigne sur le procédé  il faut
trouver une procédure qui élimine les fluctuations de la
consigne.

 Méthode de calcul :
 Prélever plusieurs petits échantillons (échantillon de 2 pièces par
exemple ; 1pièce/2mn donnerait 4mn pour les deux pièces) pour avoir
un nombre de mesures significatif (au moins 100, ce qui correspond à
50 échantillons),

 Estimer DCT à partir de la moyenne des dispersions observées à


l’intérieur des échantillons,

 Calculer Cp, Cpk et Cpm (mêmes formules que dans le cas de


productions rapides),
 Remarques :
1- une méthode très pratique consiste à calculer σCT à partir de la
moyenne des étendues glissantes sur deux valeurs consécutives en
utilisant la relation CT  E d avec E la moyenne des étendues
2

glissantes, et d2 : un coefficient qui dépend de la taille des


échantillons (d2=1,128 pour des étendues calculées sur 2 valeurs).

 Exemple : suivi d’une résistance électrique d’un circuit


après ajustement (laser)

 L’application concerne un processus qui doit ajuster six


résistances (X1..X6) par carte électronique, sur une valeur
cible.

 Les données relevées sont sous forme de tableau :


Tableau III.2 Données de suivi des résistances
E
Carte X1 X2 X3 X4 X5 X6 Moyenne E
glissant

1 2.44 2.42 2.50 2.45


2.49 2.42

2 2.29 2.24 2.24 2.20 2.33


2.42

3 2.28 2.27 2.29 2.30 2.40


2.30

4 2.35 2.29 2.30 2.20 2.32


2.33

5 2.26 2.31 2.24 2.20 2.31


2.27

6 2.32 2.27 2.22 2.26 2.19


2.19

7 2.19 2.26 2.32 2.21 2.32


2.30

8 2.31 2.32 2.32 2.20 2.33


2.20

9 2.29 2.21 2.27 2.29 2.24


2.33

10 2.46 2.43 2.57 2.42 2.46


2.47

11 2.35 2.26 2.25 2.27 2.36


2.36

12 2.26 2.19 2.32 2.34 2.25


2.33

13 2.45 2.49 2.33 2.38 2.52


2.46

...
Moyennes
 Pour chaque carte électronique mesurée,
calculer :
 La moyenne des (6) résistances,
 L’étendue sur les (6) résistances de la carte
électronique,
 L’étendue glissante sur deux moyennes consécutives.
E
Carte X1 X2 X3 X4 X5 X6 Moyenne E
glissant

1 2.49 2.42 2.44 2.42 2.50 2.45 2.45 0.08

2 2.42 2.29 2.24 2.24 2.20 2.33 2.29 0.22 0.167

3 2.30 2.28 2.27 2.29 2.30 2.40 2.31 0.13 0.020

4 2.33 2.35 2.29 2.30 2.20 2.32 2.30 0.15 0.008

5 2.27 2.26 2.31 2.24 2.20 2.31 2.27 0.11 0.033

6 2.19 2.32 2.27 2.22 2.26 2.19 2.24 0.13 0.023

7 2.30 2.19 2.26 2.32 2.21 2.32 2.27 0.13 0.025

8 2.20 2.31 2.32 2.32 2.20 2.33 2.28 0.13 0.013

9 2.33 2.29 2.21 2.27 2.29 2.24 2.27 0.12 0.008

10 2.47 2.46 2.43 2.57 2.42 2.46 2.47 0.15 0.197

11 2.36 2.35 2.26 2.25 2.27 2.36 2.31 0.11 0.160

12 2.33 2.26 2.19 2.32 2.34 2.25 2.28 0.15 0.027

13 2.46 2.45 2.49 2.33 2.38 2.52 2.44 0.19 0.157

...
Moyennes 0.1381 0.1075
2- Lorsque le cycle de production est
particulièrement long (exemple : 15mn), le calcul de
Cp n’a plus vraiment de signification !

  Solution : réaliser des pièces spéciales avec un


temps de cycle plus court  solution coûteuse et
nécessite un suivi difficile !

  On préfère de loin les calculs de Cp effectués


directement à partir des informations recueillies en
auto contrôle et donc à partir des cartes de contrôle.
CALCUL DES CAPABILITÉS À PARTIR D’UNE
CARTE DE CONTRÔLE

 Les données d’une carte de contrôle contiennent à


la fois la DCT et la DLT, on peut donc calculer : Cp,
Cpk et Cpm ; Pp, Ppk et Ppm.

 Dans une carte de contrôle, la dispersion des mesures


dans un échantillon représente la DCT  on utilisera
la moyenne des dispersions de la carte de contrôle
pour calculer la DCT.

 Dans une carte de contrôle, les prélèvements sont


réguliers tout au long de la production. Ainsi,
l’échantillon construit à partir de l’ensemble des
valeurs individuelles de la carte est bien
représentatif de l’ensemble de la production  on
utilisera donc ces valeurs pour calculer la DLT.
 Calcul de σCT (et donc de Cp, Cpk et Cpm) :

à partir de : σCT =

S / c 4 avec S = moyenne des Si= S i


1- la moyenne des estimateurs S nombre d ' échantillons

(qui est = à σn-1) de chacun des


et Si  (X j  X )2
n=taille de l’échantillon
échantillons n 1

E / d2
2- la carte X /E
avec 𝐸 = moyenne des Ei

 Si
2
avec k = nombre d’échantillons
3- des variances
k
 Les coefficients d2 et c4 sont fonction de la taille des
échantillons (n). Leurs valeurs sont données à la
Table II.1 en Annexes.
 Calcul de σLT (et donc de Pp, Ppk et Ppm) :

  LT   i
( X  X ) 2
,
(k .n)  1
 n 
k   X ij 
  i 1
j 1 
n

 n : taille des échantillons et
 
X    k : nombre d’échantillons
k

 Exemple : voir Exercice 2 du TD3.


INTERPRÉTATION ET SUIVI DE LA CHUTE
DES CAPABILITÉS

 L’exploitation des capabilités doit commencer par la


parfaite connaissance dans toute l’entreprise du schéma
de chute des capabilités : voir Figure III.3
Processus de contrôle
Cpc > 4

Dispersion court
terme Capabilité
Cp

Rs%
Stabilité du procédé Performance
Pp

Condition
d’acceptation

Rr%
Centrage du procédé
Centrage
Ppk > 1.33
Ou
Ppm > 1.33

Perte de
capabilité
Figure III.3 Les chutes de capabilité
 Après avoir « facilement » calculé les capabilités court et
long terme à partir des cartes de contrôle, il faut
recalculer régulièrement ces indicateurs afin de les suivre
sur un graphique tel que celui donné par la Figure III.4 :

Capabilité

Cp

1.67

1.33 Pp

1.00

Ppk

Dates

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Figure III.4 Suivi des indicateurs de capabilité


  Ce type de graphique permet de faire directement
l’interprétation des chutes de capabilités. Il permet en outre,
de visualiser la progression.

 Remarque : Le Cpc (Capabilité


du moyen de contrôle) est le
tracteur des capabilités !

  c'est-à-dire si le processus de
mesure n’est pas capable, il est
inutile de vouloir évaluer le
procédé avec ce processus !

 La validation d’un Cpc > à 4 est


donc un préalable indispensable !
RENDEMENT DE STABILITÉ RS
 Définition : l’observation d’un processus de production
au cours du temps a permis de définir deux types de
dispersions : DCT et DLT. Un écart important entre DCT et
DLT indique que : la machine n’est pas stable et nous ne
sommes pas capables de maintenir la consigne sur la
valeur cible.

 Comme Cp=IT/DCT et Pp=IT/DLT, la chute de capabilité


entre Cp et Pp est imputable à la stabilité du procédé.

 Pour refléter cette chute, on définit un rendement de


stabilité du procédé RS. RS(en%)=(Pp/Cp)x100
 Interprétation du RS :
 Un procédé sous contrôle a un RS > 75%.

 RS dépend de la complexité du procédé :


 si le procédé est simple (exemple : un usinage mécanique d’une seule
caractéristique) alors on peut avoir un RS de 75%,
 un procédé complexe comportant de nombreuses caractéristiques
aura du mal à satisfaire un RS de 60%.

 Exemple : Cp=2.5 et Pp=2  RS =2/2.5 x 100=80%


Cp=2.5 et Pp=1  RS =1/2.5 x 100=40%

 Un RS < à 70% est révélateur de l’existence de grandes


variations sur la moyenne du procédé qui ne sont pas
corrigées par l’opérateur.
 Analyse d’un mauvais RS : pour analyser une chute de
capabilité, il faut :
 créer un groupe de travail,
 balayer les 5M (diagramme d’Ishikawa) afin de déterminer
les causes les plus probables,
 vérifier ces causes à partir d’essais (outils : Les tests de
comparaison, de moyenne et de variance : test t, test F et
analyse de la variance. Les plans d’expériences).

Exemple : analyse des 5M sur la chute de capabilités entre le Cp


et le Pp sur une machine mécanique : voir Figure III.5
Matière Milieu Main d’œuvre
Influence de l’opération
amont Température extérieure
Différence de réglage entre
les deux équipes
Variation de la dureté
Variation de la pression
dans le réseau
Différence entre fournisseurs
Rendement de stabilité
insuffisant

Flexion des butées franche


Différence entre les 5 postes Prise pièce non adaptée
Dispersion de positionnement
sur les posages Choix des paramètres
de coupe non robuste
Vibration machine
Affûtage des outils

Moyen
Méthodes

Figure III.5 Diagramme causes/effet sur le RS


RENDEMENT DE RÉGLAGE Rr

 Permet d’établir un lien entre l’indicateur Pp et


l’indicateur Ppk.

 Exprime la perte de capabilité suite au déréglage.


Rr(en%) = (Ppk/Pp) x 100

 Interprétation :
 procédé parfaitement centré  Ppk=Pp  Rr(en%)=100%
 procédé largement décentré  Ppk<<Pp  Rr est faible (de
l’ordre de 40%).
 Les causes d’un mauvais Rr : d’une façon générale, la chute entre le
Pp et le Ppk provient principalement de :

 L’acceptation de la part de l’opérateur d’une situation décentrée


(problème de culture). C’est le cas des entreprises qui n’ont pas la
culture de l’objectif cible et qui se contentent de « mettre les pièces dans
la tolérance ». Il a la possibilité de se centrer mais n’en ressent pas le
besoin.

 L’acceptation de la part de l’opérateur du fait d’un compromis entre


deux critères. Exemple : le même outil réalise deux cotes, et le
recentrage d’une cote dérègle la seconde.

 L’impossibilité pour l’opérateur de détecter cette situation. Cela


provient principalement d’une fréquence de contrôle ou d’une taille
d’échantillon, mal adaptée. C’est également le cas lorsqu’on travaille en
contrôlant des caractéristiques mesurables par des contrôles par attribut
(bon/mauvais).

 L’impossibilité pour l’opérateur de remédier à une situation détectée


(réglage difficile ou impossible).
Remarques :

1- En principe, le réglage est de la responsabilité des opérateurs.


Cependant, un mauvais Rr ne provient pas uniquement des
opérateurs. Pour pouvoir assurer un bon centrage : il faut que
les opérateurs disposent des moyens de régler !

2- Il est très important de parfaitement déterminer l’origine d’un


mauvais Rr afin d’apporter les actions correctives et de satisfaire
le centrage sur la cible.
LA CHUTE DES CAPABILITÉS
 Pour récapituler :

Cp Pp Ppk
On part d’un procédé avec On arrive à un produit livré au
un potentiel de capabilité Cp client avec une capabilité Ppk.
Il faut que Ppk soit > 1.33

La chute de capabilité entre La chute de capabilité


Cp et Pp traduit la stabilité du procédé. RS est due au déréglage. Rr

 Objectifs de la maîtrise des procédés :


 {Disposer au départ d’une capabilité procédé suffisante} +
{Tout mettre en œuvre pour conserver des rendements RS et
Rr > au minimum exigé (en fonction du procédé)}

 Si RS% = Rr% = 82%  Cpminimum = 1.33 / 0.822 = 2.0

 Remarque : Un Cp de 2 est le minimum exigé dans le


cas de l’approche Six Sigma.
L’INDICATEUR Z DE SIX SIGMA
 L’approche Six Sigma utilise largement les indicateurs
de capabilité Cp, Pp et Ppk ainsi que l’interprétation de la
chute des capabilités. Or ces indicateurs sont trop
complexes comme outil de communication. Pour pouvoir
communiquer sur la qualité d’un processus, il faut un
seul indicateur global, le z du processus :

 (pour remplacer Pp>1.33 et Ppk>1.33, on dira que : ) plus


le z augmente, moins le processus génèrera
d’insatisfaction chez les clients. Voir Figure III.6.
Spécification

z.σ

Figure III.6 L’indicateur de capabilité z

 L’indicateur de capabilité représente la distance entre la


spécification et la moyenne de la production, exprimée
en nombre de σ. Plus cette distance est grande, moins
il y aura de produits non conformes.
 Capabilité du procédé z = (spécification-moyenne)/ σ
 L’objectif d’une démarche Six Sigma est d’obtenir un
Z=6, ce qui donne, pour une production centrée sur la
cible, 0.001 pièces par million (ppm) hors tolérance !!
Voir Figure III.7 .

Z = 6.σ
0.001ppm

Cible
Figure III.7 Objectif Six Sigma
Remarque : Le calcul de z ne s’effectue qu’à partir de la
dispersion court terme.

 Relation entre z et la proportion de défauts :


Z=6  0.001 ppm dans le cas d’une distribution centrée sur
la cible.

Or si on veut pouvoir piloter un processus à partir de tailles


d’échantillons raisonnables (<8), on ne peut pas facilement
détecter des décentrages inférieurs à 1.5σ (donc on suppose
qu’ils existent toujours ces décentrages).

 Pour calculer le % de produits non conformes, on se placera


dans cette situation particulière de 1.5 σ : voir Figure III.8
6 sigma Cp=2
Cpk=1.5
Cpm=1.1
4.5 sigma Décentrage de 1.5 σ

σ
P = 3.4ppm

Cible
Figure III.8 Objectif Six Sigma dans le cas bilatéral

 Cp = Tolérance/6σ = 2.z.σ / 6 σ = z / 3
 Objectif Six Sigma : z=6  Cp=2
 Si décentrage =1,5 σ  Cpk=4,5 σ / 3 σ = 1,5

 Le tableau ci-dessous ci dessous donne pour différents


z, le pourcentage de défauts en considérant un
décentrage de 1,5 σ :
Niveau de ppm ppm
Cp Cpk
qualité centré dans avec un
équivalent équivalent
zσ les tolérances décalage de 1.5
1 317310.52 697672 0.33 -0.17

1.5 133614.46 501350 0.50 0.00


2 45500.12 308770 0.67 0.17
2.5 12419.36 158687 0.83 0.33
3 2699.93 66811 1.00 0.50
3.5 465.35 22750 1.17 0.67
4 63.37 6210 1.33 0.83
4.5 6.80 1350 1.50 1.00
5 0.574 233 1.67 1.17
5.5 0.03807 32 1.83 1.33
6 0.00198 3.4 2.00 1.50
6.5 0.00008 0.29 2.17 1.67
7 0.00000 0.019 2.33 1.83
7.5 0.00000 0.0010 2.50 2.00
8 0.00000 0.000040 2.67 2.17
Exemple : Un processus génère 2327 ppm de produits non
conformes.
Déterminer son z :
 1- À partir du Tableau III.3.
 2- À l’aide de la fonction de distribution de la loi normale.

Solution :
 1- On regarde la colonne : ppm avec un décalage de 1.5
2327  [1350 ; 6210]  z  [4 ; 4,5]
 2- Dans le cas d’une loi normale, on trouve dans la table de
Gauss que 2327ppm (c’est à dire 0,00233) correspond à un
zéquivalent de 2.83
Donc, pour trouver le z du processus, il faut ajouter le
décentrage de 1,5  zprocessus=2,83+1,5=4,33

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