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3.1 Generalidades.
La radiación IR fue descubierta por William Herschel a comienzos del siglo XIX. Las
dificultades en construir un detector IR adecuado impidieron cualquier aplicación. Los
primeros experimentos que permitieron medir espectros IR de varios compuestos
orgánicos fueron realizados por Coblentz a principios del siglo XX. El potencial de la
espectroscopia IR en el campo de la química fue reconocido ya en los años 30 del siglo
XX cuando se construyeron los primeros equipos IR. Las necesidades analíticas
asociadas con la producción comercial de goma sintética estimularon el desarrollo
comercial de la espectrometría IR y estudios básicos en este campo. Hasta los años 60
se utilizaron equipos dispersivos que utilizaban monocromadores de prisma o red. Un
avance considerable se alcanzó con la introducción de la técnica de transformada de
Fourier (FT-IR). Este procedimiento está basado en el interferómetro de Michelson
(desarrollado inicialmente para determinar con exactitud la velocidad de la luz) y en el
método del matemático francés Fourier que permite convertir la información obtenida
(interferograma) en un espectro. El método de la transformada de Fourier fue utilizado
en un principio por los astrónomos (década del 50) para aislar señales débiles,
procedentes de estrellas distantes, del ruido de fondo ambiental. El rápido desarrollo de
las tecnologías de los láseres y la computación son responsables del predominio actual
de los equipos FT-IR, rápidos y sensibles, especialmente exitosos en su combinación
con las técnicas cromatográficas. Los primeros micro-espectrómetros IR, para el análisis
de áreas muy pequeñas mediante el acoplamiento de un microscopio al espectrómetro,
fueron producidos también en la década del 50 pero la sensibilidad alcanzada entonces
era muy baja, obteniéndose espectros de pobre calidad. La micro-espectroscopia IR
resurge con fuerza mediante la tecnología FT-IR a partir de 1983, convirtiéndose en un
procedimiento eficaz en varios campos de la química incluyendo el forense y el análisis
de obras de arte y arqueológicas.
La región infrarroja del espectro electromagnético se extiende entre la zona del visible y
la de las microondas, tal como se muestra en la Figura 3.1
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3.- Fotómetro.
Los haces de referencia y de la muestra son reflejados mediante espejos planos hasta el
espejo rotatorio de sectores E7 que alternativamente transmite hacia el monocromador
a uno u otro (frecuencia: 8-13 Hz). El fotómetro no hace mas que combinar los dos
haces provenientes del área de las muestras en un solo haz, de segmentos procedentes
alternativamente del blanco (referencia) y de la muestra.
4.-Monocromador.
El haz combinado procedente del fotómetro entra a través de una rendija o slit hasta el
elemento dispersivo principal, que puede ser una red de difracción o un prisma, al igual
que en los espectrofotómetros UV. Mediante un sistema óptico y en dependencia de la
posición del elemento dispersivo se enfoca hacia la salida del monocromador el haz
alterno que ahora sólo contiene radiaciones en un intervalo estrecho de números de
onda. La rotación del elemento dispersivo garantiza la selección de radiación
monocromática en todo el intervalo de interés. Con redes de difracción se hace
necesario el uso de filtros para eliminar la radiación no deseada proveniente de
espectros de diferentes órdenes generados en las redes.
La máxima resolución puede lograrse utilizando redes de difracción de alta dispersión,
la que depende para cada rango espectral del número de ranuras por unidad de longitud.
Los equipos usualmente cuentan con varias redes para lograr la máxima dispersión en
los diferentes intervalos de trabajo, las que se intercambian automáticamente al barrer
el espectro. La resolución puede aumentarse también reduciendo el ancho de rendija,
esto compromete sin embargo la sensibilidad y genera mayor nivel de ruido por la
disminución de intensidad del haz de medición. Los equipos poseen programación de la
anchura de rendija para el barrido del espectro, de acuerdo a la variación del poder
emisor de la fuente con el número de onda. Esto hace que la resolución espectral
dependa del número de onda. La baja sensibilidad de los equipos dispersivos constituye,
sin dudas, una de sus limitaciones esenciales.
Como elementos dispersivos se han utilizado también prismas, los que sin embargo
tienen desventajas considerables respecto a las redes. Los materiales presentan la
máxima capacidad dispersiva en las zonas inmediatamente vecinas a las de absorción.
En el IR medio no pueden emplearse ni el vidrio ni el cuarzo, pues estos materiales
absorben fuertemente, debiendo utilizarse prismas construidos de haluros de metales
alcalinos y alcalino-térreos (NaCl, KBr, CsI, CaF2) en general frágiles, higroscópicos y
de costosa fabricación. En la Tabla 3.1 se muestran los materiales utilizados como
material óptico en IR (prismas o ventanas).
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5.- Detector.
El haz monocromático alterno que sale del monocromador es enfocado sobre el
detector. El detector IR es un aditamento que mide la energía de la fuente que logra
llegar hasta él o el cociente de energía correspondientes a los haces de la muestra y la
referencia.. Esta energía radiante es invariablemente convertida en energía eléctrica,
que es procesada entonces para generar el espectro. El detector recibe alternativamente
los haces monocromáticos de referencia y de la muestra de frecuencia dada por la
posición del elemento dispersivo en el monocromador. Cualquier cambio en la
intensidad de la radiación entre los componentes alternos del haz debido a la absorción
de la muestra, se detecta como una señal. Ésta se envía al atenuador óptico At de forma
tal que el mismo se mueva hasta una posición que lleve a los haces de referencia y de la
muestra a alcanzar igual intensidad. La cantidad de atenuación requerida es una medida
directa de la absorción por parte de la muestra. El movimiento del atenuador se acopla
al de la pluma del registrador, obteniéndose el espectro IR al barrer todo el rango
espectral.
Hay dos tipos básicos de detectores IR: los detectores térmicos que hacen uso del
calentamiento producido en el material irradiado, efecto que depende muy poco de la
naturaleza de la radiación y los detectores selectivos cuya respuesta depende de la
frecuencia de la radiación.
Dentro de los detectores térmicos tenemos a los termopares, los bolómetros y los
detectores piroeléctricos.
Un termopar es en esencia una unión de dos metales diferentes. En esta unión se
generan diferencias de potencial eléctrico que dependen de la temperatura. Teniendo un
termopar a una temperatura de referencia (en la sombra) unido a otro sometido a
irradiación se generará una señal eléctrica proporcional a la intensidad de irradiación
En el bolómetro se hace uso de la dependencia de la resistencia eléctrica de un
material con la temperatura. El cambio en la resistencia genera una señal por desbalance
en el circuito eléctrico donde se encuentra el bolómetro.
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La radiación total que entra al beam splitter procedente de los dos espejos es constante,
independientemente del retardo, lo que significa que la radiación total que se dirige de
regreso a la fuente y al detector es constante.
Si la fuente de radiación láser monocromática es sustituida por otra de diferente
longitud de onda y de intensidad diferente, el interferograma sigue siendo una función
coseno pero con diferente magnitud de los máximos a diferente longitudes de retardo. Si
la radiación de ambos láseres entra al interferómetro, el interferograma será la suma de
las dos ondas coseno anteriores. El caso de un haz compuesto de 3 radiaciones
diferentes se ilustra en la Figura 3.5.
Una fuente policromática puede ser considerada como una multitud de fuentes
monocromáticas tipo láser muy próximas que cubren todo el rango de emisión de dicha
fuente. El interferograma de una fuente policromática puede considerarse como la suma
de las ondas coseno de los componentes monocromáticos:
I ( p ) = ∫ I (ν )(1 + 2 cos 2πpν )dν [3.2]
∞
0
El problema consiste en encontrar como varía la intensidad con el número de onda, o
sea el espectro I (ν ) , a partir del interferograma. Esto se resuelve haciendo uso de la
técnica estándar de las matemáticas conocida como transformación de Fourier, de la que
esta forma de espectroscopia toma su nombre. Así:
I (ν ) = 4 ∫ [ I ( p ) − 1 I (0 )] cos( 2πpν )dp [3.3]
∞
0 2
El interferograma policromático tendrá un fuerte máximo a retardo nulo, donde todas
las componentes coseno están en fase, debilitándose rápidamente y extendiéndose en
principio hasta retardo infinito.
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3.2.2.Preparación de muestras
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Figura 3.8. Zonas de baja trasmisión para una serie de solventes (paso óptico 0.2 mm) y
agentes dispersivos comunes en IR.
Figura 3.9. Espectros IR del medio dispersivo Nujol y una pastilla de bromuro de
potasio. Obsérvese la excelente trasmisión de este último. Sólo es significativa aquí la
presencia de las bandas del agua absorbida cerca de 3450 y 1640 cm-1. La absorción del
Nujol es relativamente débil, pero sus bandas interfieren con las de la muestra en 3000-
2800, 1450 y 1375 cm-1.
Películas: se utiliza esta técnica cuando el material puede ser depositado de sus
soluciones en un solvente volátil o a partir de un fundido en forma de microcristales o
en capa vítrea. Las películas cristalinas muestran gran dispersión de radiación. Esta
técnica es muy útil en el campo de las resinas y los plásticos.
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λ1
d= 1
[3.4]
2
2π senθ1 − n
2
2
n1
donde:
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1.-Si sen θ1< n2/n1 se producirá alguna reflexión, pero la mayor parte del haz será
refractado, siendo el ángulo de refracción θ2>θ1.
2.-Si sen θ1= n2/n1 el ángulo de refracción θ2=900 y la radiación se desplazará a lo largo
de la interfase. En este caso θ1 se denomina ángulo crítico θc.
3.-Si sen θ1> n2/n1 el ángulo de refracción θ2 es imaginario y la radiación se refleja
hacia el medio más denso. Esta situación corresponde a la reflexión total interna.
En los más modernos accesorios de ángulo fijo, el ángulo de incidencia es alrededor de
450 y la profundidad de penetración una fracción de la longitud de onda de la radiación
incidente, aunque esto depende de los índices de refracción de la muestra y el plato
reflector.
A partir de fundamentos teóricos y de la experiencia práctica, se ha establecido que en
la reflexión interna total hay una onda evanescente de igual frecuencia que la de la
radiación reflejada, cuya amplitud decrece de forma logarítmica dentro del material
menos denso más allá de la interfase. Esa onda evanescente es capaz de interactuar con
el medio absorbente en la zona posterior a la interfase, originando una reducción o
atenuación de la radiación reflejada total.
En esta técnica la muestra es presionada contra un prisma o placa de material óptico
denso que trasmite la radiación IR, tal como se muestra en la Fig. 3.10c. La penetración
controlada de la onda evanescente en la muestra hace que la radiación IR pueda ser
selectivamente absorbida en la superficie de la muestra en contacto con el prisma o
placa. El espectro de la radiación reflejada internamente es similar al espectro IR de
absorción convencional de la muestra.
Para que ocurra un efecto ATR tiene que existir una gran diferencia entre los índices de
refracción de la muestra y el medio. Dado que el índice de refracción de la mayoría de
las sustancias orgánicas se encuentra entre 1 y 2, el del medio debe ser superior a 2. Un
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Reflexión especular.
La reflexión especular es la más simple de las técnicas basadas en la reflexión. En este
caso se produce una reflexión directa de la radiación de la fuente que incide sobre la
superficie de la muestra o de algún sustrato reflector, según se ilustra en la Figura 3.13.
Dado que en esta técnica la radiación pasa a través de dos capas de muestra, un ancho
de capa de ésta de alrededor de 10 micrómetros es suficiente para obtener un espectro
de buena calidad. No obstante, para algunas aplicaciones, el grueso de la capa puede
resultar muy pequeño y la intensidad muy baja. En esos casos se utiliza un accesorio de
reflexión múltiple, como el descrito para la técnica ATR.
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ser utilizados para calcular el grosor de una capa de muestra de forma análoga a como
los patrones de interferencia obtenidos al registrar el espectro IR de una celda vacía son
utilizados para calcular su paso óptico. Una frecuente aplicación de esta posibilidad
experimental que brinda la técnica de reflexión especular es la determinación del grosor
de películas de silicio epitaxial utilizadas en la elaboración de materiales
semiconductores. Probablemente la mayor aplicación de la reflexión especular con
accesorio de ángulo fijo es el registro de espectros de las capas existentes sobre
sustratos de aluminio o acero. Este tipo de determinación es muy importante para
determinar la capa de resina inerte que poseen los recipientes utilizados para el
empaquetamiento de alimentos.
Por su parte, los accesorios con ángulo de incidencia variable tienen un sistema óptico
más complicado que les permite registrar espectros utilizando ángulos de incidencia
entre 150 y 650. Este tipo de accesorio permite obtener los espectros de capas metálicas
a diferentes ángulos de incidencia y además pueden ser utilizados para el estudio de
películas estables libres, lo cual hace posible el cálculo del grosor de las películas y de
los índices de refracción a partir de los patrones de interferencia generados en el registro
de los espectros.
Reflexión difusa.
Cuando la radiación electromagnética incide sobre la superficie de un material, puede
ser absorbida, reflejada directamente por la vía de la reflexión especular o dispersada
difusamente sobre un área amplia, tal y como se muestra en la Figura 3.14; siendo esta
última la que se detecta y mide en la espectroscopia de reflexión difusa. Si el medio
dispersante absorbe selectivamente a algunas frecuencias de la radiación incidente, éstas
estarán atenuadas o no se encontrarán en la radiación dispersada. Registrando la
radiación dispersada se obtiene un espectro similar al de transmisión. La técnica de
reflexión difusa es una combinación de absorción y reflexión difusa.
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