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II.4.

Paramètres de la sûreté de fonctionnement


II.4.1. Fiabilité
II.4.1.1. Définition
Aptitude d'un bien à accomplir une fonction requise dans des conditions données pendant un
temps donné (NF EN 13306) ou « caractéristique d'un bien exprimée par la probabilité qu'il
accomplisse une fonction requise dans des conditions données pendant un temps donné » (NF
X 60–500).
La notion de temps peut prendre la forme :
❑ De nombre de cycles effectués  machine automatique
❑ De distance parcourue  matériel roulant
❑ De tonnage produit  équipement de production
II.4.1.2. Commentaires
Un équipement est fiable s'il subit peu d'arrêts pour pannes. La notion de fiabilité s'applique :
❑ A du système réparable  équipement industriel ou domestique.
❑ A des systèmes non réparables  lampes, composants donc jetables
La fiabilité se caractérise par sa courbe R(t) appelée également « loi de survie » (R :
reliability) et son taux de défaillance λ(t).
La fiabilité d'un équipement dépend de nombreux facteurs :

CONCEPTION - RÉALISATION UTILISATION

Qualité des études Qualité des Qualité des FIABILITÉ DE


composants méthodes CONDUITE
Défaillances

Solutions retenues Tests de réception Montage

FIABILITÉ DE FIABILITÉ DES FIABILITÉ DE Interventions


CONCEPTION COMPOSANTS FABRICATION

FIABILITÉ
D'ENTRETIEN
FIABILITÉ
PRÉVISIONNELLE
FIABILITÉ
FIABILITÉ D'EXPLOITATION
OPÉRATIONNELLE
(Sur le terrain)
II.4.1.3. Le taux de défaillance
Pour un système réparable, le taux de défaillance se traduit souvent par une courbe mettant
en évidence 3 époques :
 Jeunesse (mortalité infantile, défaillance précoce) : en état de fonctionnement à
l’origine (mise en service), période de rodage (pré usure), présélection des
composants électroniques (déverminage).
 Maturité (période vie utile, de défaillances aléatoires) : période de rendement
optimal du matériel, taux de défaillance constant. Les défaillances apparaissent
sans dégradations préalables visibles, par des causes diverses.
 Obsolescence (vieillesse, usure). Un mode défaillance prédominant, généralement
visible, entraîne une dégradation accélérée, à taux de défaillance croissant (pour un
mécanisme). Souvent on trouve une usure mécanique, de la fatigue, une érosion ou
une corrosion. A un certain seuil de (t), le matériel est « mort ». Il est alors
déclassé, puis rebuté ou parfois reconstruit. La détermination de T (seuil de
réforme), est obtenue à partir de critères technico-économiques.
L’évolution de la durée de vie d’un équipement peut être tracée selon une courbe appelée
courbe en baignoire. Selon que l’équipement, soit de type électronique ou mécanique, les
allures du taux de défaillance sont différentes.

Zone B

Zone A Zone C

❑ Zone A  Epoque de jeunesse


❑ Zone B  Epoque de maturité, fonctionnement normal, défaillance aléatoire
indépendante du temps.
❑ Zone C  Epoque d’obsolescence, défaillances d'usure ou pannes de vieillesse.
Le taux de défaillance, noté (t), est un indicateur de la fiabilité. Il représente une
proportion de dispositifs survivants à un instant t.
nombre de défaillanc es
Sa forme générale est : . Le plus fréquemment, il s’exprime en
durée d' usage
« pannes / heure ».
II.4.1.4. Cas particulier de l’époque de maturité
Dans cette période, le taux de défaillance est sensiblement constant et est égal à l’unité
d’usage sur la MTBF. Les calculs qui suivent ne sont donc valables que pour cette période.
MTBF : Mean Time Between Failure : moyenne des temps de bon fonctionnement entre
défaillances consécutives. (Attention : voir remarques sur les indicateur FMD §V).
- Calcul de la MTBF : la moyenne du temps de bon fonctionnement est exprimée par :

Temps de bon fonctionnement


MTBF =
Nombre de périodes de bon fonctionnement
- Calcul du taux de défaillance λ : Le taux de défaillance est donné par :

1
=
MTBF
Exemple :
Dans cette partie, on s'intéresse aux temps de bon fonctionnement (TBF) d’une presse. A
chaque panne, on associe le nombre d’heures de bon fonctionnement ayant précédé de cette
panne.
Les observations se sont déroulées sur une période de 4 ans et ont donné les résultats
suivants :

Rang de la panne 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
TBF ayant précédé la panne (en jours) 55 26 13 80 14 21 124 35 18 26

 Calculer au jour près par défaut, le temps moyen de bon fonctionnement


entre deux pannes :
55+26+13+80+14+21+124+35+18+26 412
MTBF = = = 41,2  41 jours
10 10

II.4.1.5. Estimation de la fonction de répartition F(t)


On dispose pour les études de fiabilité d’un certain nombre de données expérimentales ou
réelles sur les TBF ; dont on veut étudier la fonction de répartition.
Ces données représentent un échantillon « n » de la population que l’on veut appréhender.
Elles doivent être classées par ordre croissant de durée (en heures, jours, etc.), suivant l’unité
la plus adaptée.
La fonction de répartition est donnée par la relation suivante :

𝑖
𝐹(𝑡𝑖) =
𝑛+1

II.4.1.5. Lois de composition en fiabilité : associations de matériels

Le problème qui se pose à la maintenance au niveau de la fiabilité est son amélioration


constante. Il peut pour cela intervenir sur la technologie du composant, agencer les
composants ou sous-systèmes de manière à les rendre plus fiables par l’utilisation de dont
on distingue 3 grandes catégories :
• Les redondances actives
• Les redondances passives ou « stand-by »
• Les redondances majoritaires
a – Redondance active
Une redondance active est réalisée par la mise en parallèle d’éléments assurant les mêmes
fonctions et travaillant en même temps.
On a donc à faire à un système appelé par les fiabilistes « système parallèle ».
Hypothèses de départ :
• Les défaillances sont indépendantes les unes des autres
• La fiabilité de chaque sous-système ou de chaque élément a été déterminée
Système série :
On dit qu’un système est un système série d’un point de vue fiabilité si le système tombe en
panne lorsqu’un seul de ses éléments est en panne.

E1 E2 Ei En

Rs = P (S ) = P (S1  S 2  ...  Si  ...Sn ) = P (S1).P (S 2)....P (Si )....P (Sn ) ➔


n
Rs =  Ri
i =1

Cette association est caractéristique des équipements en ligne de production.


Système // :
On dit qu’un système est un système // d’un point de vue fiabilité si, lorsqu’un ou plusieurs
de ses éléments tombent en panne, le système ne tombe pas en panne.

E1
Pour calculer la fonction fiabilité d’un système // à n éléments, ils est plus
aisé de passer par la fonction défaillance F.
E2 F = 1 − R = 1 − P (S ) = P (S )
F = P (S1).P (S 2)....P (Si )....P (Sn ) = F1.F 2....Fi....Fn
Ei F = (1 − R1).(1 − R 2)....(1 − Ri )....(1 − Rn )
Rs = 1 − (1 − R1).(1 − R 2)....(1 − Ri )....(1 − Rn )
En
n
Rs = 1 −  (1 − Ri )
i =1

Dans un système //, la fiabilité du système est plus grande que la plus grande des fiabilités
des éléments composant le système. On utilise ce fait pour améliorer la fiabilité ; cela réalise
une redondance active.
Si on désire effectuer un calcul en fonction du temps, on doit introduire la fonction R(t).
n
Si R(t ) = e − t , alors Rs = 1 −  (1 − e − t ) .
i =1

b– Redondance passive :
Dans ce cas, un seul élément fonctionne, les autres sont en attente.
Ceci a l’avantage de diminuer ou de supprimer le vieillissement des
éléments ne travaillant pas. En contrepartie, on a l’inconvénient
d’être obligé d’avoir un organe de détection des pannes et de
commutation d’un système sur un autre.
Le calcul d’un système à redondance passive ou « stand-by » se fait
en tenant compte de la variable temps. Il faut donc connaître au
préalable, pour chaque composant, son taux de défaillance λ(t) et sa
loi de fiabilité R(t).redondances
Calcul d’un système à redondance passive à 2 éléments en // :
E1 Hypothèse : le taux de défaillance des éléments E1 et E2 est constant et
est égal à e1 et e 2 .
DC
E2 Cette hypothèse a pour conséquence que les lois de fiabilité sont de type
exponentiel :

R e1(t ) = e − e1t et R e 2 (t ) = e − e 2t

On fait aussi l’hypothèse que la fiabilité de l’organe DC est égale à 1.


Il sera facile par la suite de la prendre en compte par la suite dans le calcul, cet organe étant
en série avec le système {E1, E2}.

Re1(t ) = e − e1t et R e 2 (t ) = e − e 2t
fe1(t ) = e1e − e1t et fe 2 (t ) = e 2e − e 2t

Le système fonctionnera avec E1 ou E2, ces événements étant mutuellement exclusifs (E1
sans E2 ou E2 sans E1, mais jamais les 2 en même temps).

R(S) = [Prob(S marche sachant que E1 marche) x Prob(E1 marche)]


+ [Prob(S marche sachant que E1 ne marche pas) x Prob(E1 ne marche pas)]
• Prob(E1 ne marche pas) ➔ probabilité que E1 soit défaillant
• Prob(S marche sachant que E1 marche) ➔ = 1 (tant que E1 marche, S fonctionnera
toujours)

• Prob(E1 marche) ➔ probabilité que E1 fonctionne ➔ R e1(t ) = e − e1t

• Probabilité que E1 tombe en panne sur l’intervalle [0, t] à l’instant T =


t t
f
0 e1
(t )dt =  e1e− e1T .dT
0

• Probabilité que S marche sachant que E1 ne marche plus à partir de T =


Re 2 (t  T ) = e − e 2 ( t −T )

Si on prend en compte l’élément de détection et de commutation DC, la fiabilité est donnée


par:
− DC .t e1.e −  .t − e 2 .e − 
e2 e 1t

Rs ( t ) = e .
e1 − e 2

Remarque : si on considère que tous les éléments ont le même taux de défaillance λ, on
obtient alors l’expression suivante : Rs(t ) = e−DC .t .e−.t .(1+ .t )

Pour n éléments de taux de défaillance identiques montés en //, on trouve :


 i =n −1 (.t )i 
Rs ( t ) = e−( DC + ).t .   
 i =0 i ! 

C – Redondance majoritaire :
La redondance majoritaire est telle que la fonction est assurée si au moins la majorité des
éléments est en état de fonctionnement.
Cette redondance concerne surtout des signaux de grande sécurité, et en particulier les
équipements électroniques. Le signal de sortie est celui de la majorité des composants. Le cas
le plus simple comporte 3 éléments.

E1 On considère que l’organe D de décision a une fiabilité égale à 1.


RS=probabilité d’avoir plus de 2 éléments en fonctionnement correct
E2 D
Si Re1=Re2=Re3=R
k =3
RS =  C3k .R k .(1 − R )3−k = 3R 2 − 2R 3
E3
k =2

Si on généralise à n (impair obligatoirement pour avoir une majorité)


éléments, on obtient :
k =n
n +1
RS =  Cnk .R k .(1 − R )n −k avec c =
k =c 2

La formule de calcul de « c » permet d’obtenir la majorité des éléments.


En tenant compte de la fiabilité du composant de décision :
k =n
n +1
RS = RD . Cnk .R k .(1 − R )n −k avec c =
k =c 2