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SONELGAZ CREDEG

FD X07-014
novembre 2006

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IA
v e
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Ce document est à usage exclusif et non collectif des clients AFNOR ADN.
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Pr

ADN

Pour : IANOR

le 4/3/2009 - 9:31
ADN pour : IANOR le 4/3/2009 - 9:31
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FA102449 ISSN 0335-3931

FD X 07-014
Novembre 2006

Indice de classement : X 07-014

ICS : 17.020

Métrologie
Optimisation des intervalles
de confirmation métrologique
des équipements de mesure
E : Metrology — Optimisation of measuring equipment calibration
frequencies (metrological confirmation)

R
D : Messtechnik — Optimierung der Zeitabstände für messtechnische
Bestätigung der Messgeräte

O
N
© AFNOR 2006 — Tous droits réservés

IA
Fascicule de documentation
publié par AFNOR en novembre 2006.
v e
si

Correspondance À la date de publication du présent document, il n’existe pas de travaux


u

internationaux ou européens traitant du même sujet.


cl
ex

Analyse Le présent document propose une méthode d’optimisation et de justification des


intervalles de confirmation métrologique des équipements de mesure couramment

utilisés dans l’entreprise. Cette méthode tient compte des exigences de besoins
préalablement définies (coût, risque, etc.).
rié

Le présent document prend en compte les recommandations de la norme


op

NF EN ISO 10012 dont le domaine d'application couvre à la fois la confirmation


métrologique des équipements de mesure et la mise en œuvre des processus de
mesure.
Pr

Le présent document peut également être utile à l'application de la norme


NF EN ISO/CEI 17025 relative à la compétence des laboratoires, qui traite aussi de
métrologie dans son article 5 «Prescriptions techniques».

Descripteurs Thésaurus International Technique : métrologie, instrument de mesurage,


mesurage, processus, qualité, contrôle métrologique, étalonnage, incertitude,
vérification périodique, erreur, intervalle de temps.

Modifications

Corrections
Éditée et diffusée par l’Association Française de Normalisation (AFNOR) — 11, rue Francis de Pressensé — 93571 La Plaine Saint-Denis Cedex
Tél. : + 33 (0)1 41 62 80 00 — Fax : + 33 (0)1 49 17 90 00 — www.afnor.org

© AFNOR 2006 AFNOR 2006 1er tirage 2006-11-F


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Métrologie dans l'entreprise AFNOR X07B

Membres de la commission de normalisation


Président : M PRIEL
Secrétariat : M CLOAREC — AFNOR

M ALLIOUZ ESSO SAF


M ANTOINE SCHNEIDER ELECTRIC INDUSTRIES SAS
MME BAVELARD CERIB
M BERTHON CENTRE SCIENTIFIQUE ET TECHNIQUE DU BATIMENT (CSTB)
MME BERTRAND SYNDICAT DE LA MESURE
M BERVAS RENAULT SAS
M BONNIER CONSERVATOIRE NATIONAL DES ARTS ET METIERS (CNAM)
M BRESSOT INERIS
MME BUIL SOFIMAE SA
M BUSUTTIL GAZ DE FRANCE — RESEAU TRANSPORT
M CATHERINE UNION TECHNIQUE DE L’ÉLECTRICITÉ (UTE)

R
MLLE CHAMBON LABORATOIRE NATIONAL DE METROLOGIE ET D’ESSAIS (LNE)
M CHARLET LABORATOIRE NATIONAL DE METROLOGIE ET D’ESSAIS (LNE)

O
M CHAZAL SNCF
M CHEIKH CETIM

N
MME CHEVALLIER ECM CONSULTANTS
M CLAUDEL CETIAT

IA
M COLLAY
M CRETINON CETIAT
M DAUBENFELD PEUGEOT CITROEN AUTOMOBILES
MME DE LUZE UNION DE NORMALISATION DE LA MECANIQUE (UNM)
e
M GELY A+ METROLOGIE
v
M KRYNICKI AGILENT TECHNOLOGIES FRANCE
M LAMY ETABLISSEMENT FRANÇAIS DU SANG (EFS)
si

MME LANDA-POTEAU INERIS


M LARQUIER BEA METROLOGIE
u

M LAUDREL EXACTYS
cl

MME LENAN-MELAERTS E2M


M MARDELLE THALES SYSTEMES AEROPORTES
ex

M MARTINEZ CIM CONSULTANTS


M MAUCLERC EUROCOPTER SAS
M MAYER DASSAULT AVIATION
M MONAT CENTRE TECHNIQUE INDUSTRIEL DE LA FONDERIE (CTIF)

M ODRU UNPP
M OLIVIER VEOLIA EAU
M PENIN CAST SA INSA CAST
rié

M PERETTI LABORATOIRES POURQUERY SAS


M PERRUCHET UTAC SAS
M PETIT CENTRE SCIENTIFIQUE ET TECHNIQUE DU BATIMENT (CSTB)
op

M POU DELTA MU CONSEIL


M PRIEL LABORATOIRE NATIONAL DE METROLOGIE ET D’ESSAIS (LNE)
M PRIN MINISTERE DE LA DEFENSE — DGA DET CELAR
Pr

MME RENAOT CONSERVATOIRE NATIONAL DES ARTS ET METIERS (CNAM)


MME RENARD MINISTERE DE L’INDUSTRIE – DGE – DARQSI — SDSIM
M REPOSEUR COMITE FRANÇAIS D’ACCRÉDITATION (COFRAC)
M RICHARD TIS METROLOGIE
M RICHON BUREAU DE NORMALISATION DE L’AERONAUTIQUE
ET DE L’ESPACE (BNAE)
M SALES SANOFI AVENTIS RECH & DEVELOPPEMENT
M SALIN CEA DAM VALDUC
M SENELAER ECOLE SUPERIEURE DE METROLOGIE (ESM)
M SOUCEK AOIP SAS
MLLE TAFFOREAU SOPEMEA
M TRONC GAZ DE FRANCE
M TURPAIN COFIP
M VANHALWYN ROHDE ET SCHWARZ France SAS

Groupe de travail «Intervalles de confirmation métrologique»


Animateur : M LARQUIER — BEA METROLOGIE
M CLAUDEL CETIAT
M KRYNICKI AGILENT TECHNOLOGIES FRANCE
M LARQUIER BEA METROLOGIE
M NAUDOT TRESCAL
M POU DELTA MU CONSEIL
M SOUCEK AOIP SAS
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Sommaire
Page

Introduction ......................................................................................................................................................... 4

1 Domaine d'application ....................................................................................................................... 5

2 Références normatives ..................................................................................................................... 5

3 Termes et définitions ......................................................................................................................... 5

R
4 Principes ............................................................................................................................................. 7

O
5 Méthode .............................................................................................................................................. 7

N
5.1 La périodicité d’étalonnage ou de vérification ...................................................................................... 9

IA
5.2 La surveillance des équipements ...................................................................................................... 14

6 Prise en compte de critères qualitatifs .......................................................................................... 15


v e
Annexe A (informative) Exemple de calculs pour les cas où l’incertitude d’étalonnage
si

permet d’observer les dérives .................................................................................................... 16


u

Annexe B (informative) Exemple de calculs pour le cas où l’incertitude d’étalonnage ne permet


cl

pas d’observer les dérives .......................................................................................................... 18


ex

Annexe C (informative) Exemple de calculs pour le cas où la dérive n’est pas modélisable .................. 20

Annexe D (informative) Méthode OPPERET ................................................................................................. 22


Bibliographie ..................................................................................................................................................... 30
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Introduction
La confirmation métrologique des équipements de mesure doit permettre aux utilisateurs de maîtriser le risque
d’effectuer des mesures à l’aide d’un équipement non conforme aux spécifications qui lui sont attribuées.
La détermination des intervalles de confirmation doit prendre en compte les conséquences économiques pouvant
résulter de mesures effectuées en utilisant un équipement hors de ses spécifications.
Pour optimiser et justifier les intervalles de confirmation métrologique des équipements de mesure, il est important
de prendre en compte l’évolution d’une (ou plusieurs) caractéristique(s) de l’équipement en laboratoire, mais aussi
et surtout la contribution de l’équipement dans l’évaluation de l’incertitude sur les mesures effectuées dans les
conditions réelles d’utilisation.
Il est recommandé que toute intervention affectant les caractéristiques métrologiques d’un équipement de mesure
soit suivie d’un nouvel étalonnage ou d’une vérification.
Le présent fascicule prend en compte les recommandations de la norme NF EN ISO 10012 «Systèmes de
management de la mesure — Exigences pour les processus et les équipements de mesure».
La place du présent fascicule de documentation dans la maîtrise de la conformité du produit est représentée par
la Figure 1 ci-dessous.

R
O
N
IA
v e
u si

Figure 1 — Place du présent fascicule de documentation


dans la maîtrise de la conformité du produit
cl

De manière plus détaillée, la Figure 2 ci-dessous situe la détermination des intervalles de confirmation
ex

métrologique par rapport à la maîtrise du processus de mesure.



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Pr

Figure 2 — Situation de la détermination des intervalles de confirmation métrologique


par rapport à la maîtrise du processus de mesure
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1 Domaine d'application
Le présent fascicule a pour objet de proposer une méthode d’optimisation et de justification des intervalles de
confirmation métrologique des équipements de mesure couramment utilisés dans l’entreprise. Cette méthode
suppose que les exigences des besoins ont été bien définies au préalable.
Elle est fondée sur la prise en compte des éléments suivants :
— le rapport entre le coût de la confirmation et l’incidence économique résultant de l’utilisation d’un équipement
de mesure hors spécification entre deux dates de confirmation (coût généré par le rappel de produits,
dégradation de l’image de la marque, etc.) ;
— la contribution de l’équipement dans l’évaluation de l’incertitude sur les mesures effectuées dans les conditions
réelles d’utilisation ;
— l’utilisation d’une théorie élémentaire strictement nécessaire à l’application de la méthode (le lecteur pourra
consulter les différentes références normatives et bibliographiques pour des explications complémentaires sur
les méthodes de calcul).
Par ailleurs, il est important de noter que les opérateurs doivent être sensibilisés dans la démarche d’optimisation
des intervalles de confirmation par la mise en place d’un processus de surveillance métrologique.

R
La méthode décrite ci-dessous s’applique de préférence lorsque le parc comprend un nombre important

O
d’équipements de mesure de nature homogène.

N
IA
2 Références normatives
Les documents de référence suivants sont indispensables pour l'application du présent document. Pour les
e
références datées, seule l'édition citée s'applique. Pour les références non datées, la dernière édition du
v
document de référence (y compris les éventuels amendements) s'applique.
u si

NF X 07-001:1994, Normes fondamentales — Vocabulaire international des termes fondamentaux et généraux


cl

de métrologie (VIM).
ex

FD X 07-007:2005, Métrologie — Guide d’application de la norme NF EN ISO 10012 «Systèmes de management


de la mesure — Exigences pour les processus et les équipements de mesure» — Conception, développement,
maîtrise et amélioration des processus de mesure ou d’essai.

NF ENV 13005:1999, Guide pour l’expression de l’incertitude de mesure (GUM) (indice de classement : X 07-020).
rié

NF EN ISO 9000:2005, Systèmes de management de la qualité — Principes essentiels et vocabulaire (indice de


op

classement : X 50-130).

NF EN ISO 10012:2003, Systèmes de management de la mesure — Exigences pour les processus et les
Pr

équipements de mesure (indice de classement : X 07-009).

NF EN ISO 14253-1:1999, Spécification géométrique des produits (GPS) — Vérification par la mesure des pièces
et équipements de mesure — Partie 1 : Règles de décision pour prouver la conformité ou la non-conformité à la
spécification (indice de classement : E 10-201-1).

NF EN ISO/CEI 17025:2005, Exigences générales concernant la compétence des laboratoires d’étalonnages et


d’essais (indice de classement : X 50-061).

3 Termes et définitions
Pour les besoins de ce fascicule de documentation, les termes et les définitions ci-dessous, ainsi que les
termes et définitions pertinents donnés dans les normes NF X 07-001, NF ENV 13005, NF EN ISO 10012,
NF EN ISO/CEI 17000, NF EN ISO/CEI 17025 et NF EN ISO 9000 s'appliquent.

3.1
aptitude d’un instrument de mesure (RM Aéro 800 25)
notion caractérisant la capacité de l’instrument à effectuer des mesures correspondant à des exigences
métrologiques
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3.2
confirmation métrologique (NF EN ISO 10012 § 3.5)
ensemble d'opérations nécessaires pour assurer qu'un équipement de mesure répond aux exigences
correspondant à l'utilisation prévue
NOTE 1 La confirmation métrologique comprend généralement l'étalonnage et la vérification, tout réglage nécessaire ou
la réparation et le ré-étalonnage, la comparaison avec les exigences métrologiques pour l'utilisation prévue de l'équipement
de mesure, ainsi que tout verrouillage et étiquetage requis.
NOTE 2 La confirmation métrologique n’est considérée achevée qu’à partir du moment où l’aptitude de l’équipement de
mesure pour l’utilisation prévue est démontrée et documentée.
NOTE 3 Les exigences pour l’utilisation attendue comprennent des considérations telles que l’étendue de mesure, la
résolution et les erreurs maximales tolérées.
NOTE 4 Normalement, les exigences métrologiques sont distinctes des exigences pour le produit et ne sont pas
spécifiées dans le cadre de ces dernières.
La confirmation métrologique de l’équipement de mesure permet son utilisation dans un processus de mesure ou
d’essai déterminé.

3.3

R
dérive (NF X 07-001 § 5.16)

O
variation lente d’une caractéristique métrologique d’un instrument de mesure

N
3.4

IA
intervalle de confirmation métrologique («Périodicité») (RM Aéro 800)
intervalle de temps entre deux opérations consécutives de confirmation métrologique
e
3.5
v
erreurs maximales tolérées (E.M.T.) (NF X 07-001 § 5.21)
si

valeurs extrêmes d’une erreur tolérées par les spécifications, règlements, etc., pour un instrument de mesure
donné
u
cl

NOTE (hors définition) Les erreurs maximales tolérées doivent être fixées par l’utilisateur en fonction de ses besoins.
ex

3.6
vérification (NF EN ISO 9000 § 3.8.4)
confirmation par des preuves tangibles que les exigences spécifiées ont été satisfaites

La vérification métrologique utilise les résultats d’un étalonnage, elle complète la prestation technique
rié

d’étalonnage par un constat de conformité ou de non-conformité de l’équipement de mesure vis-à-vis de ses


erreurs maximales tolérées, définies par une norme, une réglementation, une prescription propre à l’entreprise
op

pour répondre à ses besoins.

3.7
Pr

processus de mesure (NF EN ISO 9000 § 3.10.2)


ensemble d’opérations permettant de déterminer la valeur d’une grandeur

3.8
surveillance
action qui consiste à enregistrer les écarts entre des valeurs d’indication du processus et un étalon puis à suivre
la dérive éventuelle du processus

3.9
tolérance (NF EN ISO 14253-1)
différence entre les limites supérieure et inférieure de tolérance
NOTE 1 La tolérance est une valeur absolue non affectée de signe.
NOTE 2 Une tolérance peut être bilatérale ou unilatérale (valeur limite admissible d’un côté, l’autre valeur limite étant
zéro) mais la zone de tolérance n’inclut pas nécessairement la valeur nominale.

3.10
limites de tolérance (NF EN ISO 14253-1)
valeurs spécifiées de la caractéristique donnant les bornes supérieure et/ou inférieure de la tolérance admissible
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3.11
optimisation d’un intervalle de confirmation métrologique
détermination de l’intervalle de confirmation métrologique le mieux adapté à un équipement de mesure utilisé
dans un processus de mesure mis en application pour un besoin donné

4 Principes
L’optimisation du rapport coût/efficacité des opérations de confirmation métrologique d’un équipement de mesure,
repose essentiellement sur la maîtrise du besoin ainsi que sur la connaissance de l’équipement considéré dans
ses conditions d’utilisation.
La maîtrise de la qualité des mesures faites par l’équipement considéré implique non seulement d’effectuer,
suivant des périodicités déterminées, une confirmation de ses caractéristiques métrologiques, mais aussi de
procéder à un suivi de ses performances adapté au besoin.
Dès la mise en service de l’équipement de mesure considéré, la démarche proposée nécessite de mener
en parallèle :
— l’analyse de l’aptitude du processus de mesure dans les conditions où il est mis en œuvre ;

R
— l’acquisition d’une bonne connaissance des principes de fonctionnement et de la technologie de cet

O
équipement ;

N
— le suivi des performances de l’équipement et le maintien de ce suivi tout au long de sa période d’utilisation ;

IA
— l’analyse du comportement d’équipements de même famille déjà utilisés dans des conditions similaires.
NOTE La méthode utilise un certain nombre d’outils statistiques simples (moyenne, écart-type, loi de distribution, etc.).
e
Le problème de l’échantillonnage est posé. Dans le cas des faibles populations, les outils statistiques traditionnels
s’appliqueront (test d’hypothèse, facteurs de correction, X2, Student, etc.). Pour de plus amples informations sur les outils
v
statistiques, il est conseillé de consulter les ouvrages et les normes spécialisés, le présent document n’ayant pas pour
si

vocation de les développer, mais de simplement les appliquer.


u
cl

5 Méthode
ex

Les conditions d’utilisation de la méthode sont représentées par la Figure 3 ci-dessous.



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op
Pr

Figure 3 — Conditions d’utilisation de la méthode


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Il est sous-entendu, dans ce qui suit, que les erreurs maximales tolérées (E.M.T) ont été correctement définies en
fonction du besoin et du processus de mesure et que l’équipement choisi est conforme aux spécifications (E.M.T).
Les besoins en matière de caractéristiques métrologiques de l’équipement de mesure étant définis, la méthode
consiste à réaliser une confirmation métrologique adaptée en :
— définissant une périodicité d’étalonnage ou de vérification adaptée en fonction des informations dont on
dispose et des risques d’erreurs jugées acceptables dans les conditions d’utilisation ;
— surveillant l’évolution de l’équipement considéré, par des étalonnages et/ou par des opérations de surveillance ;
— ajustant la valeur des intervalles d’étalonnage, de vérification et de surveillance afin de tenir compte de
l’évolution du processus de mesure.
NOTE 1 L’optimisation des intervalles de confirmation métrologique nécessite la connaissance des erreurs déterminées
lors de l'étalonnage et dans certains cas, des résultats d'étalonnages successifs de l'équipement (historique métrologique).
La seule connaissance de résultats de vérification (conforme — non conforme) ne permet pas d’appliquer la méthode qui
suit. Néanmoins, si la vérification permet de connaître plus finement l’état de l’appareil en précisant notamment des valeurs
chiffrées, ces résultats peuvent être exploités.

Dans le cas où, historiquement, les erreurs maximales tolérées utilisées seraient très inférieures au besoin réel,

R
la méthode qui suit peut être appliquée (5.1.2) en considérant que l’erreur de l’équipement est l’EMT. C’est le cas,
par exemple, dans le domaine de la vérification électrique, où des classes d’exactitude sont parfois divisées en

O
sous-classes («tolérances optimales» quand les erreurs constatées sont faibles, «dans les tolérances», et

N
«aux limites de tolérances» quand les erreurs constatées sont proches des limites acceptables). Pour un
équipement se situant dans la sous-classe «tolérances optimales», la méthode pourra alors être employée.

IA
NOTE 2 Périodicité initiale : Lors de l'application de la démarche d'optimisation, la détermination de la périodicité initiale
est fondée sur la connaissance du besoin en mesurage et du processus de mesure dans lequel intervient l'équipement
e
considéré.
v
Il est donc recommandé de commencer par rassembler toutes les informations nécessaires, par exemple :
si

— les résultats de la confirmation métrologique initiale de l’équipement de mesure ;


u
cl

— l’expression précise du besoin de l’utilisateur de l’équipement de mesure considéré : erreurs maximales


tolérées (EMT) pour les points de mesure en fonction de l’utilisation envisagée ;
ex

— les résultats de l’analyse des conditions dans lesquelles l’équipement de mesure considéré est ou sera
réellement utilisé (conditions d’ambiance, taux d’utilisation, etc.) ;

— les caractéristiques de l’équipement :


rié

- principe et technologie de l’équipement ;


op

- notice du constructeur ;
- documentation dédiée à l'utilisateur ;
Pr

— les informations issues de l’expérience des opérateurs ayant reçu une formation spécifique sur l’équipement
considéré ;
— les informations relatives à l’utilisation d’équipement similaire et aux périodicités fixées pour ces équipements ;
— les préconisations normatives ;
— les us et coutumes (par exemple, informations relatives à l’utilisation d’équipements similaires dans
l’entreprise).
La périodicité initiale est déterminée à partir de ces éléments.
Il est entendu dans l’approche qui suit, que la nécessité de déterminer la dérive de l'équipement exclut toute action
d’ajustage lors des confirmations métrologiques.
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5.1 La périodicité d’étalonnage ou de vérification


Les stratégies de calcul présentées ci-après ne s’appliquent pas aux équipements neufs. En effet, de multiples
facteurs («rodage» des composants, oxydation d’une masse, etc.) peuvent, sans être facilement détectables,
avoir un rôle inattendu dans la dégradation des caractéristiques des équipements. De ce fait, il convient
d’appliquer à ces équipements une périodicité initiale plus petite que celle qu’il est possible de déterminer pour
des équipements plus anciens, périodicité déterminée à l'aide des éléments précédemment listés.
Deux cas principaux sont rencontrés :
— l’incertitude obtenue lors des opérations d’étalonnage ou de vérification est faible devant les erreurs
déterminées. Ainsi, il est possible d’observer les dérives des caractéristiques concernées. Ce cas se retrouve
par exemple pour les étalons matérialisés (§ 5.1.1) ;
— l’incertitude obtenue lors des opérations d’étalonnage ou de vérification est importante devant les erreurs
déterminées et ne permet pas d’observer la dérive ou de la modéliser. Ce cas s’applique par exemple aux
équipements mesureurs (multimètre, pied à coulisse, micromètre d’extérieur à vis, thermocouple, etc.)
(§ 5.1.2).

R
5.1.1 L’incertitude d’étalonnage permet d’observer les dérives

O
Du fait de l'impossibilité de déterminer la dérive «réelle» d'un équipement de mesure (car leurs conditions

N
respectives d’utilisation peuvent varier de manière importante entre deux interventions sans pour autant être
observables par le responsable de la fonction Métrologie), la méthode propose de déterminer la dérive maximale

IA
à laquelle chaque équipement risque d’être soumis. Elle s’appuie sur l’analyse des résultats obtenus lors des
opérations d’étalonnage ou de vérification des équipements de mesure dans l’entreprise.
e
Si de telles informations ne sont pas disponibles (pas de traçabilité des résultats de mesure, cas des vérifications
v
sans relevés de mesure, mise en place de la gestion du parc d’équipement, etc.), on peut :
si

— s’appuyer sur les spécifications du constructeur ;


u
cl

— commencer à constituer un historique métrologique des équipements de mesure. Rappelons que toute
intervention réalisée sur un équipement de mesure (ajustage, réparation) rend caduque l’exploitation de ces
ex

données.
NOTE Dans ce dernier cas, il est possible d’étudier l’évolution d’un échantillon d’équipements (et non la totalité de la

famille d’équipements considérée), échantillon choisi de telle manière qu’il contienne les équipements pour lesquels les
risques d’atteindre rapidement les limites d’usure déterminées sont jugés les plus importants : conditions d’utilisation
rié

intenses, équipements proches de leur limite d’usure, etc.


op

5.1.1.1 Détermination de la dérive maximale (d)


La première étape consiste à modéliser suivant la méthode des moindres carrés, la dérive observée pour chaque
Pr

équipement. Cette modélisation peut conduire à une représentation graphique identique à celle présentée par
la Figure 4 ci-dessous.

Figure 4 — Modélisation de la dérive observée

La période d’observation ci-dessus s’échelonne sur six ans, mais ce pourrait être plus court, par exemple
six observations avec des intervalles de temps plus courts.
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La droite des moindres carrés s’écrit sous la forme :


Valeur mesurée = d × Durée + Valeur à l’origine
Avec Durée = le temps écoulé depuis la première valeur mesurée (valeur à l’origine).
NOTE 1 L’unité de temps (jours, semaines, etc.) peut être remplacée par une autre unité liée à l’utilisation de
l’équipement de mesure.
Avec aussi, d le coefficient directeur de la droite, qui représente la dérive de l’équipement étudié sur la période
d’observation («d» s’exprime en unité de la valeur mesurée / unité de temps).
L’étude de tous les équipements conduit à autant de dérives que d’individus.
La seconde étape consiste à regrouper tous les équipements appartenant à la même famille (toutes les
résistances, toutes les masses, tous les tampons filetés, etc.). Si la population ne possède pas un effectif d’au
moins 10 individus, des valeurs corrigées des écarts-types doivent être utilisées.
NOTE 2 Il est conseillé, lorsque le nombre d’équipements le permet, d’identifier des sous-regroupements sur la base de
critères supplémentaires pouvant avoir une influence sur la dérive : conditions d’utilisation, constructeur, matière, etc.
L’observation de la distribution des dérives obtenues pour chacun des individus des regroupements ou
sous-regroupements permet de déterminer, de façon statistique, la dérive maximale la plus probable qu’il est possible de

R
rencontrer pour le regroupement ou sous-regroupement étudié, comme représenté par exemple par la Figure 5 ci-dessous.

O
N
IA
v e
u si
cl
ex

Figure 5 — Exemple de distribution des dérives


rié

NOTE 3 On peut réaliser un test pour vérifier la normalité (ou la non normalité) de la distribution. Dans le cas d’une
distribution normale, on peut aisément déterminer la probabilité de dérive déterminée ci-après. Dans le cas contraire, on
op

doit s’assurer que la dérive maximale calculée est cohérente devant les observations réalisées.
À partir de la moyenne «dMoyen» et de l’écart-type expérimental «s» de la distribution obtenue, nous pouvons
Pr

calculer la dérive maximale par une des formules applicables exprimées ci-dessous correspondant à trois cas
identifiables :
— Premier cas : Les équipements dérivent suivant une pente théorique négative, dans ce cas :
dMax = dMoyen – k’.s
NOTE 4 Si «dMoyen» est expérimentalement positive, remplacer, dans la formule précédente, «dMoyen» par zéro.
— Deuxième cas : Les équipements dérivent suivant une pente théorique positive, dans ce cas :
dMax = dMoyen + k’.s
NOTE 5 Si «dMoyen» est expérimentalement négative, remplacer, dans la formule précédente, «dMoyen» par zéro.
— Troisième cas : Aucune hypothèse n’est possible sur le sens de la dérive, dans ce cas :
Si «dMoyen» > 0 : dMax = dMoyen + k’.s
Si «dMoyen» < 0 : dMax = dMoyen – k’.s
NOTE 6 Dans le cas d’une distribution normale, le facteur k’ permet d’obtenir un niveau de confiance donné sur le
terme «dMax». En choisissant par exemple k’ = 2, il existe une probabilité d’environ 2,5 % pour que la dérive réelle de
l’équipement étudié soit supérieure à la dérive calculée pour le regroupement ou le sous-regroupement.
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5.1.1.2 Détermination de la périodicité optimale


La périodicité optimale pour chacun des équipements de la famille considérée se calcule à partir des données
suivantes :
— la dérive maximale «dMax» déterminée ci-dessus (exprimée en unité de la valeur mesurée / unité de temps) ;
— la valeur mesurée «Vmes» de la caractéristique étudiée (exprimée dans l’unité choisie et utilisée pour la
détermination de la dérive maximale) ;
— les erreurs maximales tolérées (composées de deux bornes notées «LimiteSup» pour la limite la plus grande
en valeur algébrique et «LimiteInf» pour la plus petite) de la caractéristique étudiée (exprimées dans l’unité de
la valeur mesurée) ;
— l’incertitude d’étalonnage «Uétalonnage» (exprimée dans l’unité de la valeur mesurée).
La formule générale suivante s'applique :
— si dMax > 0 :
LimiteSup – ( Vmes + Uétalonnage )
Périodicité = ---------------------------------------------------------------------------------------------
dMax

R
NOTE 1 Si (Vmes + Uétalonnage) est supérieur à LimiteSup, le calcul donne une périodicité négative car il est possible,

O
compte tenu de l’incertitude d’étalonnage, que la caractéristique étudiée soit déjà hors tolérances.

N
— si dMax < 0 :

IA
( Vmes – Uétalonnage ) – LimiteInf
Périodicité = ----------------------------------------------------------------------------------------
dMax
e
NOTE 2 Si (Vmes – Uétalonnage) est inférieur à LimiteInf, le calcul donne une périodicité négative car il est possible,
v
compte tenu de l’incertitude d’étalonnage, que la caractéristique étudiée soit déjà hors tolérances.
si

La périodicité est exprimée dans l’unité de temps choisie lors de la détermination de la dérive maximale.
u

Sa détermination peut être représentée par la Figure 6 ci-dessous.


cl

NOTE 3 Il est possible de déterminer la périodicité optimale sans tenir compte de l’incertitude d’étalonnage (Périodicité
élargie). En effet, la méthode de calcul de la dérive, considérée en valeur maximale statistique, peut permettre de
ex

s’affranchir de l’incertitude d’étalonnage.


Dans tous les cas, et compte tenu des coûts induits par un équipement déclaré non conforme lors d’une

vérification, il est préférable de ne pas attendre l’échéance ainsi calculée. En fonction de la gravité des
conséquences d'un mesurage erroné, on peut appliquer comme périodicité d'étalonnage un pourcentage de la
rié

périodicité précédemment calculée.


op
Pr

Figure 6 — Détermination de la périodicité


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Par exemple, dans le domaine dimensionnel, dans le cas d’un calibre ENTRE, on peut raisonner en demi-vie
(50 % de la périodicité calculée) compte tenu du caractère critique de sa fonction, un calibre N’ENTRE PAS
pouvant, quant à lui, se voir attribué une périodicité égale à 80 % de la périodicité initialement calculée.
Il est alors possible de dresser une carte de suivi des équipements permettant de vérifier simplement le bien-fondé
des calculs réalisés. À chaque nouvel étalonnage, on calcule la périodicité limitée ou élargie et la périodicité
effectivement appliquée. On détermine ainsi la date théorique du prochain étalonnage. En portant ces différentes
informations sur un graphe tel que la Figure 7 ci-dessous, on vérifie après chaque étalonnage que la valeur
mesurée de la caractéristique n’a pas atteint la valeur limite tolérée.

R
O
N
IA
v e
si

Figure 7 — Calcul de la date théorique du prochain étalonnage


u

NOTE 4 Lorsque l’équipement possède plusieurs caractéristiques dont les périodicités optimales peuvent être évaluées
cl

par cette méthode, on retient comme périodicité optimale de l’équipement la plus petite périodicité obtenue.
ex

À chaque nouvel étalonnage, il est nécessaire de recalculer la droite des moindres carrés et de remplacer la
valeur «dMax» (coefficient directeur de la droite) par sa nouvelle valeur.

rié

5.1.2 L’incertitude d’étalonnage ne permet pas d’observer les dérives ou de modéliser les dérives
Dans ce cas, la dérive de chaque équipement est masquée par l’incertitude d’étalonnage et ne peut être évaluée.
op

Pour réduire le risque de faire une mesure erronée, l'une des pistes d'étude possible est la réduction de
l'incertitude associée au mesurage. L'analyse du processus de mesure peut permettre de mettre en évidence des
Pr

composantes contribuant majoritairement à l'incertitude et susceptible d'être réduite par une modification du
processus (modification de la périodicité d'étalonnage, modification du matériel de mesure utilisé, changement de
laboratoire d'étalonnage, etc.). On peut alors appliquer la méthode suivante.
Celle-ci consiste à évaluer le poids des contributions propres à l’équipement étudié dans l’incertitude de mesure
du (ou des) processus dans lequel (lesquels) il intervient.
En effet, plus la contribution de l’équipement dans l’incertitude de mesure est faible, plus la périodicité
d’étalonnage peut être importante. À l’inverse, plus la contribution est importante, plus la périodicité doit
être petite.
Une fois le bilan d’incertitude du processus effectué, la méthode consiste à déterminer le rapport de périodicité,
c'est-à-dire le rapport de la variance liée à la caractéristique étalonnée de l’équipement de mesure étudié
(un équipement, tel un multimètre, peut avoir plusieurs caractéristiques) sur la variance du processus :
Rpériodicité = (Somme des Variances dues à l’équipement) / (Sommes des Variances)
La Figure 8 ci-dessous représente l’évolution de l’incertitude totale (U Totale) en fonction de l’évolution de l’erreur
de l’équipement (Part Inst). L’axe des ordonnés montre l’évolution du rapport de périodicité (Rpériodicité) exprimé
en %. L’étude graphique indique qu’en dessous de 50 % de participation en variance de l’équipement dans le
processus global, l’incidence des erreurs propres à l’équipement est faible. Au-delà, la moindre dérive de
l’équipement induit une dérive du même ordre pour le processus.
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Figure 8 — Représentation de l’évolution de l’incertitude totale

R
Dans l’absolu, la périodicité pourrait être infinie si le rapport de périodicité était égal à zéro. Elle devrait être égale

O
à zéro (étalonnage permanent) si le rapport était égal à 100 %.

N
Afin de déterminer une périodicité à partir du rapport de périodicité, la méthode prévoit de considérer trois points

IA
particuliers :
Rapport = 0 % : Valeur de périodicité à paramétrer
e
Rapport = 100 % Périodicité = 0
v
Rapport = 50 % Valeur de périodicité à paramétrer
si

À partir de ces points, une modélisation par la méthode des moindres carrés de la périodicité en fonction de la
u

valeur du rapport de périodicité est possible. On préfère un modèle basé sur une fonction «exponentielle
cl

décroissante» caractéristique des phénomènes physiques de dérive temporelle.


ex

Voici, tel que représenté en Figure 9 ci-dessous, un exemple de modélisation établi à partir des paramétrages
suivant :

Rapport = 0 % pour une périodicité de 10 ans,


rié

Rapport = 50 % pour une périodicité de 1 an,


Rapport = 100 % pour une périodicité nulle.
op

Périodicité = 10.e –(Rpériodicité / 21,715) (en année)


Pr

Figure 9 — Courbe représentative d’un exemple de modélisation

La périodicité d’étalonnage doit être déterminée pour chaque processus dans lequel intervient l’équipement
étudié, sa participation en variance pouvant être différente dans chacun des cas. On retient la plus petite des
périodicités obtenues.
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5.2 La surveillance des équipements


Quelle que soit la méthode retenue pour la détermination de la périodicité optimale, il est nécessaire de surveiller
périodiquement l’équipement.
Cette surveillance peut être mise en œuvre par les utilisateurs et peut, dans certains cas, se limiter à un
examen visuel.
Dans le cas où la seconde méthode de calcul des périodicités optimales est utilisée, la surveillance est réalisée
en vérifiant que l’incertitude de mesure du processus dans lequel intervient l’équipement étudié n’évolue pas ou
peu. Périodiquement, il suffit de mesurer une pièce type ou un étalon de valeur connue avec une faible incertitude
devant l’incertitude du processus à surveiller et de réaliser une série de mesures. L'écart-type (ou l'écart maximal
constaté) des mesurages et leur valeur moyenne permettent de dresser deux cartes de contrôle, la première
(voir la Figure 10 ci-dessous) permettant de vérifier que l’écart entre la valeur moyenne et la valeur connue de la
pièce est inférieur à l’incertitude du processus, la seconde (voir la Figure 11 ci-dessous) vérifiant que la dispersion
des valeurs est inférieure à la valeur de la répétabilité (ou l'écart maximal toléré) pré-établie du processus.
NOTE Il est possible de travailler en étendue totale plutôt qu’en écart-type pour la carte surveillant la caractéristique
aléatoire du processus.

R
À chaque étalonnage de l’équipement, l’incertitude du (ou des) processus est réévaluée ce qui peut conduire à
une modification des limites de surveillance de la carte moyenne.

O
Lorsqu'un point est situé en dehors des limites établies, l’ensemble du processus de mesure doit être expertisé

N
de façon à déterminer l'origine de cet écart.

IA
v e
u si
cl
ex

rié
op
Pr

Écart = Valeur moyenne mesurée – Valeur conventionnellement vraie de l’étalon

Figure 10 — Carte des moyennes


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Figure 11 — Carte des écarts-types (ou étendues)

Le calcul de l’écart normalisé En :


X mes – X réf
E n = --------------------------------------------
-
2 2

R
u c.mes + u c.réf

O
devrait permettre de détecter toute anomalie du processus de mesure pour la carte des moyennes.

N
6 Prise en compte de critères qualitatifs
IA
e
La méthode proposée n’intègre pas de critères qualitatifs de type redondance, taux de panne, coût d’une
v
mauvaise mesure, polyvalence de l’équipement.
si

Une méthode prenant en compte ces différents critères a été développée sous le nom d’OPPERET. Elle est
u

présentée dans l’Annexe D (informative) au travers d’un condensé, complété d’un exemple.
cl
ex

rié
op
Pr
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Annexe A
(informative)
Exemple de calculs pour les cas où l’incertitude
d’étalonnage permet d’observer les dérives
Init numérotation des tableaux d’annexe [A]!!!
Init numérotation des figures d’annexe [A]!!!
Init numérotation des équations d’annexe [A]!!!

A.1 Étude des dérives individuelles par la méthode des moindres carrés
Cas d’un parc composé de 50 bagues filetées ENTRE ayant chacune été étalonnée au moins trois fois.
L’étude des droites des moindres carrés de chacun des 50 bagues conduit à 50 équations, donc à 50 dérives
individuelles (dérive exprimée en µm/an), telles que représentées par le Tableau A.1 ci-dessous.

R
Tableau A.1 — Dérives individuelles

O
Bague N° Dérive Bague N° Dérive Bague N° Dérive Bague N° Dérive Bague N° Dérive

N
1 2,4 11 2,0 21 2,0 31 3,5 41 2,4

2 2,1 12 2,5 22 2,5


IA
32 0,7 42 2,1
e
3 2,5 13 2,3 23 2,3 33 1,5 43 2,5
v
si

4 3,0 14 3,1 24 3,1 34 2,8 44 3,0


u

5 3,2 15 3,2 25 3,2 35 2,8 45 3,2


cl
ex

6 1,8 16 1,8 26 1,8 36 2,8 46 1,8

7 2,5 17 0,9 27 0,9 37 3,9 47 2,5


8 2,6 18 2,9 28 2,9 38 2,5 48 2,6


rié

9 2,5 19 2,6 29 2,6 39 2,6 49 2,5


op

10 3,2 20 3,2 30 3,2 40 3,2 50 3,2


Pr

A.2 Détermination de la dérive maximale


Sur la base des informations du Tableau A.1 ci-dessus, on calcule la dérive moyenne :
dMoyen = 2,538 µm/an
Sur la base des informations du Tableau A.1 ci-dessus, on calcule l’écart-type de la distribution :
s = 0,661 µm/an
En prenant comme hypothèse que les dérives élémentaires sont distribuées suivant une loi normale, on détermine
à l’aide de ces deux valeurs, la dérive maximale de la population au niveau de confiance de 99,86 %, soit :
dMAX = 2,538 + 3 × 0,661 = 4,52 µm/an
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A.3 Détermination des périodicités individuelles


La bague filetée N° 1 est une bague filetée ENTRE de désignation M 10 × 1,50 – 6 g. Ses limites de spécification
sont les suivantes :
Diamètre sur flancs MINI : 8,9767 mm (LimiteInf)
Diamètre sur flancs USURE : 9,0067 mm (LimiteSup)
La bague filetée a été étalonnée le 14 mars 2000. Son diamètre sur flancs, à cette date, est égal à 8,9846 mm
avec une incertitude de mesure égale à 0,0025 mm.

A.4 Calcul de la périodicité élargie (sans considérer l’incertitude d’étalonnage)


dMax > 0 donc : Périodicité = (LimiteSup – Vmes) / dMax,
soit : Périodicité élargie = (9,0067 – 8,9846) / 0,00452 = 4,89 années

R
O
A.5 Calcul de la périodicité limitée (en considérant l’incertitude d’étalonnage)

N
dMax > 0 donc : Périodicité = (LimiteSup – (Vmes + Uétalonnage)) / dMax,

IA
soit : Périodicité limitée = (9,0067 – (8,9846 + 0,0025)) / 0,00452 = 4,34 années
En considérant la périodicité limitée et un pourcentage de 50 % puisque le calibre est un calibre ENTRE, on obtient
e
une périodicité, en mois, de :
v
Périodicité = 50 / 100 × 4,89 × 12 = 29 mois.
u si
cl
ex

rié
op
Pr
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Annexe B
(informative)
Exemple de calculs pour le cas où l’incertitude d’étalonnage
ne permet pas d’observer les dérives
Init numérotation des tableaux d’annexe [B]!!!
Init numérotation des figures d’annexe [B]!!!
Init numérotation des équations d’annexe [B]!!!

B.1 Bilan des causes d’incertitude de mesure


Le bilan des causes d’incertitude de mesure servant de base à cet exemple est extrait de la norme
NF ENV ISO 14253-2, Tableau B.2, il est représenté par le Tableau B.1 ci-dessous.

Tableau B.1 — Dérives individuelles

R
Limite Facteur Écart-type
Nom de la composante
de variation de distribution correspondant

O
Micromètre — Erreur d’indication 3,0 0,6 1,80

N
Micromètre — Planéité 1 1,0 0,5 0,5

Micromètre — Planéité 2 1,0 0,5


IA 0,5
e
Micromètre — Parallélisme 2,0 0,5 1,0
v
si

Répétabilité 1,2
u

Variation du point 0 1,0


cl

Différence de température 2,8 0,7 1,96


ex

Température 0,4 0,7 0,28


Erreur de forme de la pièce 3,0 0,6 1,8


rié
op

B.2 Détermination de la variance globale


Pr

Variance globale = 1,82 + 0,52 + 0,52 + 12 + 1,22 + 12 + 1,962 + 0,282 + 1,82, soit,
Variance globale = 14,34

B.3 Détermination de la variance due à l’équipement


Variance équipement = 1,82 + 0,52 + 0,52 + 12, soit,
Variance équipement = 4,74

B.4 Détermination du rapport de périodicité


Rpériodicité = (Σ Variance due à l’équipement) / (Σ Variance) = 4,74 / 14,34, soit,
Rpériodicité = 33,05 %
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B.5 Détermination de la périodicité


Périodicité = 10.e(– Rpériodicité / 21,715), soit,
Périodicité = 10.e(– 33,05 / 21,715), en final :
Périodicité = 2,18 années, soit 26 mois

R
O
N
IA
v e
u si
cl
ex

rié
op
Pr
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Annexe C
(informative)
Exemple de calculs pour le cas où la dérive n’est pas modélisable

Init numérotation des tableaux d’annexe [C]!!!


Init numérotation des figures d’annexe [C]!!!
Init numérotation des équations d’annexe [C]!!!

L’exemple consiste en la détermination de la périodicité de confirmation métrologique d’un compteur de


combustible gazeux dans un processus de détermination du rendement d’une chaudière.
Le processus étudié est la mesure du rendement énergétique d’une chaudière. Le rendement est défini comme
le rapport entre l’énergie récupérée sur l’eau et l’énergie fournie à la chaudière. Il est obtenu par la combinaison
de différentes grandeurs mesurées.
Le compteur de combustible gazeux permet de déterminer la consommation de gaz de la chaudière pendant la
durée de l’essai.

R
La Figure C.1 ci-dessous présente le banc d’essais et l’instrumentation associée.

O
N
IA
ve
u si
cl
ex

rié
op
Pr

Figure C.1 — Représentation du banc d’essais

La variance du processus est déterminée selon la méthode de la norme NF ENV 13005 «Guide pour l’expression
de l’incertitude de mesure» (GUM).
Cette analyse conduit aux résultats suivants :
— variance sur la mesure du débit de gaz (voir le détail dans le Tableau C.1 ci-dessous) : 2,39.10-5 (m3/h)2 ;
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Tableau C.1 — Calcul de la variance sur la mesure du débit de gaz

Coefficient Étendue Incertitude-


Composante Étendue Loi de distribution Variance
K absolue type
Étalonnage 0,6 Normale 2,00 0,01 0,01 4,60E-05
Dérive 0,4 Rectangulaire 1,73 0,01 0,01 2,73E-05
Modélisation étalonnage 0,6 Rectangulaire 1,73 0,01 0,01 6,13E-05
Résolution 0,01 Rectangulaire 1,73 0,00 0,00 1,70E-05
Stabilité 0,0033 Écart-type sur moy. 13,42 0,00 0,00 6,05E-05

Source
Mesure Incertitude relative

Grandeur Sommes des variances 1,35E-04

R
Débit gaz

O
Incertitude-type 0,01 m3/h

N
Unité

IA
m3/h Incertitude élargie (k = 2)
e 0,02 m3/h

Valeur Coefficient de sensibilité 4,42E-01


v
si

2,2604
u

— variance sur la mesure du rendement : 5,38.10-5 ;


cl

— détermination du rapport de périodicité : Rpériodicité = 2,39/5,38 = 44,38 % ;


ex

— détermination de la périodicité : périodicité = 10.e(-Rpériodicité/21,715) = 10.e(-44,38/21,715) = 1,3


Soit, en final, Périodicité = 1,3 années.

Par expérience et analyse des dérives des compteurs de gaz combustible, la détermination du débit de gaz est
rié

considérée comme très critique dans le processus de mesure du rendement. Pour réduire le risque de mesures
non conformes, il est retenu, dans ce cas, une périodicité fondée sur la demi-vie soit :
op

Périodicité de confirmation choisie = 0,65 année soit environ tous les 8 mois.
Pr
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Annexe D
(informative)
Méthode OPPERET
Init numérotation des tableaux d’annexe [D]!!!
Init numérotation des figures d’annexe [D]!!!
Init numérotation des équations d’annexe [D]!!!

D.1 Principes de la méthode


OPPERET, (OPtimisation des PÉRiodicités d’Étalonnage), est une méthode d'aide au choix des périodicités
d'étalonnage et de vérification des équipements de mesure, basée sur la prise en compte des facteurs influents
sur la qualité des mesurages réalisés.
Il peut s'agir de facteurs aggravant le risque de réaliser un mesurage erroné, comme l’utilisation intensive de
l’équipement, des manutentions nombreuses, etc. ou de facteurs dits d’évitement (réduire le risque en diminuant
la probabilité d'une mesure incorrecte) comme la redondance des mesures, le suivi statistique de l’équipement, etc.
Par exemple, si un micromètre est utilisé par un seul technicien expérimenté dans un laboratoire, il aura plus de

R
chance de donner une «bonne» mesure que s’il passe entre les mains de plusieurs opérateurs peu attentionnés
dans l’environnement poussiéreux de l’atelier.

O
D’autres contraintes peuvent être également prises en compte :

N
— les contraintes économiques: le prix de l’étalonnage d’un pied à coulisse n’est pas le même que celui d’une

IA
machine à mesurer tridimensionnelle ;
— les contraintes d’organisation, comme la polyvalence des équipements, les créneaux de maintenance imposés
e
ou le regroupement des étalonnages d’une même famille d'équipements, etc. peuvent constituer un frein au
v
développement d’une périodicité adaptée à chaque équipement.
si

La méthode OPPERET suggère neuf items, c'est-à-dire neuf thèmes de réflexion. Certains de ces items sont
d’ordre quantitatif, d’autres sont d'ordre qualitatif.
u
cl

Des critères qui en découleront, tous n’ont pas la même importance. On imagine aisément que, dans de nombreux
cas, les critères traitant du risque de réaliser un mesurage erroné doivent peser d’avantage que ceux traitant de
ex

«l’organisation» des opérations d'étalonnage et de vérification. L’industriel doit donc choisir, pour chaque critère,
un coefficient de pondération.

Le choix de la méthode OPPERET impose de réunir un groupe de réflexion composé de différentes compétences.
Il peut être constitué des interlocuteurs suivants :
rié

— le responsable de la fonction Métrologie ;


op

— un responsable de la fonction Qualité ;


— un représentant de la production ;
Pr

— un représentant du service «Recherche et développement» ;


— un représentant du service «Achats», etc.
La multitude des compétences représentées dans ce groupe de réflexion est une garantie de la pertinence des
résultats obtenus, mais aussi de l’acceptation par tous des valeurs de périodicité proposées par la
méthode OPPERET.

D.1.1 Le périmètre de l’étude


La méthode OPPERET fait appel à des notions statistiques en positionnant chaque équipement par rapport à la
famille à laquelle il appartient (voir les rappels de statistiques). Il convient donc de définir cette famille en
déterminant son «périmètre». Il suffit en général de regrouper des équipements pour lesquels des facteurs
influents identiques peuvent être considérés lors de l'application de la méthode.
Par exemple, le type de stérilisation à laquelle sont soumis les capteurs de température est un facteur à considérer
pour la détermination de la périodicité. Ce critère, par lui-même, conduit à vouloir regrouper tous les capteurs de
température dans le même périmètre et à en exclure les tampons filetés qui ne sont pas concernés. Par extension,
on peut également considérer, dans ce périmètre, tous les équipements intervenant dans le domaine de la
température.
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De même, les appareils de mesure électrique sont sensibles aux nombres de cycle «Marche-Arrêt» qu’ils
subissent et à leur age. Ainsi, il est sûrement judicieux de les regrouper dans un même périmètre, différent des
mesureurs de température.
Les périmètres peuvent être aussi définis en fonction de l’utilisation des équipements. Certains équipements
surveillent le processus de fabrication, d’autres mesurent les objets réalisés, d’autres encore interviennent au
niveau de la maintenance ou du réglage du processus. Ces différences peuvent être le point de départ de la
définition des périmètres.
Dans les parcs composés de peu d’équipements, il peut être nécessaire de prendre en compte tous les
équipements dans un même périmètre. Les critères retenus peuvent tenir compte de la disparité des équipements
en choisissant, par exemple, un critère concernant le domaine de mesure de l'équipement ou bien son principe
de fonctionnement ou la famille de l’équipement.

D.2 Les items et les critères


Une fois les périmètres définis, il convient de déterminer pour chacun, les critères qu’il est nécessaire de retenir

R
pour optimiser les périodicités. Le choix de ces critères se fait sous la forme de «remue-méninges»
(«brainstorming») réunissant le groupe de réflexion. Les critères sont classés suivant les neuf items proposés

O
dans le Tableau D.1.

N
Par exemple, pour revenir sur les capteurs de température, le groupe a considéré que le type de stérilisation

IA
auquel sont soumis les capteurs de température est un facteur aggravant. De même, il a défini que la capabilité
des équipements de mesure dans le domaine électrique est un facteur à considérer.
e
Le groupe doit réfléchir autour de chacun des items proposés mais peut décider de ne pas tenir compte de
v
certains d’entre eux. Par exemple, si la capabilité est inconnue, il peut décider de ne pas tenir compte de ce
si

paramètre. Néanmoins, pour que la méthode fonctionne bien, il faut qu’au minimum cinq critères soient retenus
après avoir parcouru tous les items proposés.
u

La liste des items proposée dans le Tableau D.1 ci-dessous n'est pas limitative et des items supplémentaires
cl

pourront être définis par le groupe de réflexion, si besoin.


ex

Tableau D.1 — Items pouvant être retenus pour optimiser les périodicités

N° Items Signification
rié

Gravité des conséquences Il s’agit de prendre la mesure des conséquences liées à des problèmes sur les
1
op

d’une mesure erronée mesures. Cet item peut être considéré directement comme un critère.

La capabilité des processus de mesure se définit comme le rapport entre l’incertitude


Pr

Capabilité associée au processus de mesure dans lequel intervient l'équipement par rapport à la
2
du processus tolérance à vérifier. A priori, plus le coefficient de capabilité est petit, plus le risque de
se tromper en déclarant la conformité est grand.

Il s’agit du «poids» de l’équipement de mesure dans le processus dans lequel il


intervient. Ce poids peut être déterminé en calculant le rapport de la variance
Capabilité associée à l'équipement de mesure sur la variance associée au processus de mesure
3
de l'équipement défini lors de l’évaluation de l’incertitude de mesure en comparant la variance due à
l’équipement à la somme des variances qui composent le processus. Il peut être
également estimé en comparant l’E.M.T à l’incertitude du processus de mesure.

La dérive représente l’évolution de l’équipement dans le temps. Il convient de


comparer cette dérive à l’E.M.T de l’équipement. Il convient également de considérer
4 Dérive de l’équipement la position de l’équipement par rapport à son E.M.T. Un équipement qui dérive et qui
est proche de sa limite (son E.M.T) est plus à risque qu’un équipement qui dérive de
la même façon mais qui est éloigné de son E.M.T.

(à suivre)
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FD X 07-014 — 24 —

Tableau D.1 — Items pouvant être retenus pour optimiser les périodicités (fin)

N° Items Signification

Cette information est souvent disponible sur la fiche de vie des équipements. Depuis
Intervention
5 qu’il est suivi, l’équipement a-t-il fait l’objet d’opérations d’ajustage ou de réparation ?
sur l’équipement
Le constructeur peut également donner des informations sur ce sujet.

Certains facteurs permettent de détecter une éventuelle anomalie de fonctionnement


Facteurs permettant
6 d’un équipement. Lorsque les processus industriels sont sous contrôle, une valeur
de déceler les anomalies
inattendue sera rapidement détectée et la cause déterminée.

Les facteurs aggravants sont multiples. La fréquence d’utilisation, le nombre


7 Facteurs aggravants d’utilisateurs potentiels, etc. Dans nos exemples, le nombre de cycle «Marche /
Arrêt», le type de stérilisation.

8 Contraintes de coûts Étalonnage, immobilisation, arrêt de lignes, etc.

La question des contraintes opérationnelles permet d’aborder les problèmes liés à

R
Contraintes
9 l’organisation de la fonction Métrologie et de ses interactions avec les autres fonctions
opérationnelles

O
de l'entreprise.

N
D.3 La notation des équipements
IA
e
Une fois les critères définis, le groupe doit attribuer à chacun des équipements de mesure du périmètre et pour
v
chacun des critères, une note entière comprise entre -2 et +2. Par convention, il est décidé qu’une note de -2 tend
si

à faire diminuer la périodicité, une note de +2 tend, au contraire, à la faire augmenter.


u

Dans le cas des facteurs quantitatifs, la notation peut être faite de la façon suivante :
cl

— Capabilité (Rapport T/U) > 10 : +2


ex

— Capabilité (Rapport T/U) entre 10 et 6 : +1


— Capabilité (Rapport T/U) entre 6 et 4 : 0

— Capabilité (Rapport T/U) entre 4 et 2 : –1


rié

— Capabilité (Rapport T/U) < 2 : –2


Il convient de choisir les limites de la valeur du critère de façon cohérente avec les valeurs de chaque équipement
op

dans le périmètre. Dans le cas de la capabilité, si tous les processus ont des valeurs comprises entre 4 et 1, voire
moins, les trois premiers cas ne servent à rien et il aurait mieux valu prévoir la notation de la façon suivante :
Pr

— Capabilité (Rapport T/U) > 3 : +2


— Capabilité (Rapport T/U) entre 3 et 2 : +1
— Capabilité (Rapport T/U) entre 2 et 1 : –1
— Capabilité (Rapport T/U) < 1 : –2
NOTE 1 Dans ce cas, la notation s’effectue sur quatre valeurs (au lieu de cinq) et la note 0 n’existe pas.

Pour les facteurs quantitatifs, il convient de bien identifier chaque cas possible. Pour la stérilisation de l’exemple
pris, imaginons qu’il en existe deux types et que, dans le périmètre, certains équipements ne soient pas soumis
à une telle action aggravante :
— Aucune stérilisation : +2
— Stérilisation de type 1 : 0
— Stérilisation de type 2 : –2
NOTE 2 Dans ce cas, la notation s’effectue sur trois valeurs (au lieu de cinq) et les notes + 1 et – 1 ne sont pas
disponibles.
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— 25 — FD X 07-014

D.4 La pondération des critères


Une fois les critères et leur notation définis, il convient d’affecter une pondération à chacun d'eux. Il est évident
que tous les critères, dans le contexte considéré, n’ont pas la même importance. Le coût est important pour tout
le monde, mais lorsqu’on fabrique des avions, on comprend aisément qu’il est moins important que le risque lié à
un éventuel accident ayant pour cause une mesure erronée.
Si l'on a défini une série de n critères, alors les facteurs de pondération peuvent être régulièrement répartis entre 1
et n, 1 étant la pondération affectée au critère le moins critique dans l'estimation des périodicités et n étant la
pondération affectée au critère le plus critique. Dans le cas où la distinction entre deux critères ne pourrait être
clairement établie, un même facteur de pondération peut être choisi pour les deux critères, la valeur maximale des
facteurs de pondération devenant alors n-1, et ainsi de suite, si le phénomène se reproduit.

D.5 Rappels statistiques : l’écart normalisé


L’article suivant présentant l'application de la méthode fait appel à la notion d’écart normalisé. Cet outil statistique
permet de positionner une valeur par rapport à la moyenne des valeurs pour une même famille. Il se définit

R
comme suit.

O
L’écart normalisé (EN) est le rapport entre, d’une part, la différence entre une valeur étudiée et la moyenne des

N
valeurs obtenues, et d’autre part, l’écart-type des valeurs.

IA
EN = (xi – xmoy) / s
où :
e
xi représente la valeur étudiée ;
v
xmoy représente la moyenne des valeurs obtenues pour le critère par tous les équipements de la famille ;
si

s représente l’écart-type des valeurs obtenues par tous les équipements de la famille pour le critère étudié.
u
cl
ex

D.6 Exemple

Pour appliquer cette méthode, nous avons vu qu’il est nécessaire de définir les différents critères qui interviennent
dans le choix de la périodicité. Ensuite, chacun des critères définis, notés C1, C2, …, Cn est affecté d’un coefficient
rié

de pondération qui peut varier d’une famille d’équipements à l’autre.


Une fois définis, pour chaque famille d’équipements, les critères et leurs coefficients de pondération, on affecte,
op

pour chaque équipement de la famille et à chacun des critères, une note (entière) comprise entre – 2 et 2.
Pr

Par exemple, on définit les critères suivants dans le cas des équipements appartenant à la famille «Électricité» :
— C1 : Possibilité de détecter une dérive éventuelle (redondance des mesures) ;
— C2 : Conditions d’utilisation ;
— C3 : Taux de problèmes rencontrés avec l’équipement ;
— C4 : Gravité des mesures réalisées avec le moyen ;
— C5 : Coût d’étalonnage.
On définit ensuite les pondérations associées à chacun des critères :
— C1 : Coefficient 2 ;
— C2 : Coefficient 1 ;
— C3 : Coefficient 2 ;
— C4 : Coefficient 3 ;
— C5 : Coefficient 1.
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Pour chaque équipement de la famille «Électricité», on affecte une note comprise entre – 2 et 2 à chaque critère,
comme indiqué par exemple dans le Tableau D.2 ci-dessous pour l’équipement MULTI 001 :

Tableau D.2 — Note affectée à chaque critère


pour l’équipement MULTI 001

MULTI 001

Critère Pondération Note Écart Normalisé

C1 2 2

C2 1 0

C3 2 –2

C4 3 1

R
C5 1 –1

O
Une fois que tous les équipements de la famille ont été notés sur chacun des critères, on calcule pour un

N
équipement particulier i «l’écart normalisé» de sa note pour chaque critère.

IA
Par exemple, la famille «Électricité» comporte 30 équipements différents (de MULTI001 à MULTI030). Sur le
critère C1, les 30 équipements concernés ont obtenu les notes indiquées dans le Tableau D.3 ci-dessous :
v e
Tableau D.3 — Note affectée à chaque équipement pour le critère C1
u si

Identification Note Identification Note Identification Note


cl

MULTI 001 2 MULTI 011 0 MULTI 021 2


ex

MULTI 002 1 MULTI 012 0 MULTI 022 2


MULTI 003 1 MULTI 013 1 MULTI 023 0


rié

MULTI 004 2 MULTI 014 2 MULTI 024 0


op

MULTI 005 –2 MULTI 015 –2 MULTI 025 0

MULTI 006 –2 MULTI 016 –1 MULTI 026 –1


Pr

MULTI 007 1 MULTI 017 –1 MULTI 027 –2

MULTI 008 0 MULTI 018 1 MULTI 028 0

MULTI 009 0 MULTI 019 2 MULTI 029 –1

MULTI 010 1 MULTI 020 0 MULTI 030 –2

La moyenne des notes est égale à : 0,13.


L’écart-type des notes est égal à : 1,36.
L’écart normalisé de l’équipement MULTI 001 selon le critère C1 est égal à :
ENC1 = (2 – 0,13) / 1,36 = 1,37
En répétant cette opération sur chacun des critères C1 à C5, on obtient, pour chaque équipement un tableau
comme le Tableau D.4 ci-dessous, correspondant à l’équipement MULTI 001.
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— 27 — FD X 07-014

Tableau D.4 — Écart normalisé pour chaque critère


de l’équipement MULTI 001

MULTI 001

Critère Pondération Note Écart Normalisé

C1 2 2 1,37

C2 1 0 – 0,67

C3 2 –2 – 2,34

C4 3 1 0,12

C5 1 –1 – 0,89

Une fois les écarts normalisés déterminés, on calcule la note globale de l’équipement suivant la formule :
NGMULTI XXX = Σ PCi × ENCi

R
où :

O
PCi représente le coefficient de pondération du critère Ci ;

N
ENCi représente l’écart normalisé pour le critère Ci.

IA
Ainsi, pour l’équipement MULTI 001, la note globale vaut :
NGMULTI 001 = 2 × 1,37 + 1 × – 0,67 + 2 × – 2,34 + 3 × 0,12 + 1 × – 0,89 = – 3,14
e
Chaque équipement de la famille se voit alors affecté d’une note globale, comme mentionné dans le Tableau D.5
v
ci-dessous, en reprenant l’exemple de la famille «Électricité» ci-dessus.
u si

Tableau D.5 — Note globale affectée à chaque équipement de la famille


cl

Identification Note Globale Identification Note Globale Identification Note Globale


ex

MULTI 001 – 3,14 MULTI 011 9,87 MULTI 021 3,45

MULTI 002 12,34 MULTI 012 3,45 MULTI 022 – 4,56


MULTI 003 – 7,67 MULTI 013 – 5,68 MULTI 023 0,56


rié

MULTI 004 5,76 MULTI 014 3,87 MULTI 024 – 1,23


op

MULTI 005 – 5,89 MULTI 015 – 7,89 MULTI 025 5,45

MULTI 006 – 11,23 MULTI 016 8,78 MULTI 026 3,02


Pr

MULTI 007 5,63 MULTI 017 9,03 MULTI 027 – 6,89

MULTI 008 6,78 MULTI 018 – 5,67 MULTI 028 – 7,05

MULTI 009 6,78 MULTI 019 12,67 MULTI 029 2,34

MULTI 010 – 3,45 MULTI 020 1,23 MULTI 030 3,45

Il convient ensuite de calculer l’écart normalisé de chacun des équipements pour situer chaque équipement dans
la population totale :
La moyenne des notes globales est égale à : 1,14.
L’écart-type des notes globales est égal à : 6,62.
L’écart normalisé de la note globale de l’équipement MULTI 001 est égal à :
ENNGMULTI 001 = (– 3,14 – 1,14) / 6,62 = – 0,65
Deux cas peuvent ensuite se présenter, selon que la famille considérée fait l’objet d’une périodicité d’étalonnage
arbitraire ou selon qu’elle fait l’objet d’une étude de périodicité individuelle suivant la méthode décrite dans le
présent fascicule de documentation.
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D.6.1 Cas 1 : La famille considérée fait l’objet d’une périodicité d’étalonnage arbitraire
On suppose que, s’il était possible de connaître la périodicité optimale de chaque équipement d’une famille, la
distribution de ces périodicités serait de type gaussienne (cf. le Théorème Central Limite valable à la condition
que toutes les variances des périodicités optimales soient faibles devant la variance de la distribution des
périodicités optimales).
Supposons que la périodicité actuelle d'une même famille d'équipements ait été arbitrairement choisie et qu'elle
prenne une valeur identique pour tous les membres de la famille. Si le taux d'équipements de mesure «non
conformes» de cette famille est de 2 % à 3 %, on suppose que la périodicité fixée arbitrairement correspond à une
valeur située environ à deux écarts-types de la périodicité moyenne optimale, comme cela est représenté par
la Figure D.1 ci-dessous.
De même, il est possible de fixer une périodicité maximale acceptable, pour la famille considérée compte tenu de
l’utilisation envisagée. On peut estimer que cette valeur maximale convient à plus de 99 % de la famille et est donc
située à trois écarts-types de la périodicité optimale moyenne (voir à nouveau la Figure D.1 ci-dessous).

R
O
N
IA
v e
si

Figure D.1 — Représentation de la périodicité moyenne optimale


et de la périodicité maximale par rapport à la périodicité actuelle
u
cl

La périodicité maximale peut, par exemple, être l’âge moyen du parc n’ayant pas fait l’objet d’opération d’ajustage
ou de réparation.
ex

On calcule ensuite la valeur de l’écart-type s de la distribution des périodicités optimales :


s = (Périodicité maximale – Périodicité actuelle) / 5


La périodicité moyenne optimale s'écrit alors :
rié

Périodicité moyenne optimale = Périodicité actuelle + 2 × s


op

En estimant que la distribution des périodicités optimales et la distribution des notes pondérées globales
sont «superposables», il est possible de déterminer une correction de périodicité de chaque équipement, suivant
Pr

la formule :
Correcteur OPPERET = (Périodicité optimale Moyenne + ENNG × s) – Périodicité actuelle
La périodicité optimale est alors égale à :
Périodicité optimale = Périodicité actuelle + Correcteur OPPERET
NOTE 1 Le correcteur porte le nom de «OPPERET» du nom du projet qui a mis au point cette méthode.
NOTE 2 Le correcteur OPPERET peut être négatif et conduire à des valeurs de périodicité optimale inférieures aux
valeurs actuelles.
Dans le cas de l’exemple précédent, et pour les paramètres suivants :
— Périodicité actuelle : 12 mois ;
— Périodicité maximale admissible : 60 mois,
le correcteur OPPERET se calcule de la façon suivante :
— s = (60 – 12) / 5 = 9,6 mois ;
— Périodicité moyenne = 12 + 2 × 9,6 = 31,2 mois ;
— Correcteur OPPERET = (31,2 – 0,65 × 9,6) – 12 = + 13 mois
La périodicité optimale est donc de 12 + 13 = 25 mois.
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— 29 — FD X 07-014

D.6.2 Cas 2 : La famille considérée a fait l’objet d’une étude de périodicité individuelle suivant
la méthode décrite par le présent fascicule de documentation
Dans ce cas, il n’est pas nécessaire d’estimer la distribution que pourraient suivre les périodicités individuelles des
équipements de la famille concernée, celles-ci ayant été évaluées par des méthodes mathématiques.
Néanmoins, les méthodes de calculs proposées par le présent fascicule de documentation ne tiennent pas
compte de la notion de risque lié à un mesurage erroné, cette notion pouvant apporter des compléments
d’informations pour statuer sur la périodicité à appliquer.
Dans ce cas, il convient alors de comparer la distribution des notes pondérées globales et la distribution des
périodicités estimées par la méthode décrite dans le présent fascicule de documentation.
Si la note pondérée globale obtenue par un équipement est élevée et que sa périodicité est grande, il y a
cohérence, la périodicité proposée est le reflet des différents éléments pris en compte dans le calcul de la note
pondérée globale. Si la note pondérée globale est faible et que la périodicité est grande, il y a incohérence ; la
périodicité proposée ne reflète pas les différents éléments pris en compte dans le calcul de la note pondérée
globale.
Le correcteur OPPERET se calcule dans ce cas avec les éléments suivants, en fonction des distributions

R
représentées par la Figure D.2 ci-dessous :

O
— ENNGi l’écart normalisé de la note pondérée globale de l’équipement identifié i ;

N
— ENPERi l’écart normalisé de la périodicité calculée de l’équipement identifié i ;

IA
— s l’écart-type des périodicités calculées,
soit : Correcteur OPPERET = (ENNGi + ENPERi) × s / 2.
v e
u si
cl
ex

rié
op
Pr

Figure D.2 — Représentation des distributions


et des éléments du calcul du Correcteur OPPERET
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Bibliographie

[1] NF EN ISO/CEI 17000:2005, Évaluation de la conformité — Vocabulaire et principes généraux (indice de


classement : X 50-087).
[2] NF ENV ISO 14253-2:2002, Spécification géométrique des produits (GPS) — Vérification par la mesure des
pièces et équipements de mesure — Partie 2 : Guide pour l'estimation de l'incertitude de mesure
dans l'étalonnage des équipements de mesure et dans la vérification des produits (indice de classement :
E 10-201-2).
[3] RM Aéro 800 25:1996, Guide pour l’optimisation des intervalles de confirmation métrologique d’un
instrument de mesure.

R
O
N
IA
e
v
u si
cl
ex

rié
op
Pr

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