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I E C 60 8 1 1 -2 0 2

®
Edition 1 .1 201 7-07

C ON S OLI D ATE D

VE RS I ON

VE RS I ON

C ON S OLI D É E
colour
i n sid e

E l ectri c an d opti cal fi bre cabl es – Tes t m eth od s for n on -m etal l i c m ateri al s –

P art 2 0 2 : G e n eral te sts – M eas u rem e n t of th i ckn ess of n on -m e tal l i c s h eath

C âbl e s él ectri q u es e t à fi bre s opti q u es – M éth od es d ’ es s ai pou r l e s m atéri au x

n on -m é tal l i q u es –

P arti e 2 0 2 : E s sai s g én érau x – M es u re d e l 'épai ss eu r d e s g ai n e s n on m étal l i q u es


IEC 6081 1 -202:201 2-03+AMD1 :201 7-07 CSV(en-fr)
T H I S P U B L I C AT I O N I S C O P YRI G H T P RO T E C T E D

C o p yri g h t © 2 0 1 7 I E C , G e n e v a , S wi tz e rl a n d

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Ab o u t I E C p u b l i ca ti o n s

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committee,…). It also gives information on projects, replaced IEC publications issued since 2002. Some entries have been
and withdrawn publications. collected from earlier publications of IEC TC 37, 77, 86 and
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documents de l'IEC. Disponible pour PC, Mac OS, tablettes langues additionnelles. Egalement appelé Vocabulaire
Android et iPad. Electrotechnique International (IEV) en ligne.
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comité d’études,…). Elle donne aussi des informations sur les publications IEC parues depuis 2002. Plus certaines entrées
projets et les publications remplacées ou retirées. antérieures extraites des publications des CE 37, 77, 86 et
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C ON S OLI D ATE D

VE RS I ON

VE RS I ON

C ON S OLI D É E
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n on -m étal l i q u e s –

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INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION

COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
INTERNATIONALE

ICS 29.035.01 ; 29.060.20 ISBN 978-2-8322-4650-4

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Marque déposée de la Commission Electrotechnique Internationale
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CONTENTS

FOREWORD ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... 3
I NTRODUCTI ON .. ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... .. ... ... ... ... . 5
1 Scope . ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... 6
2 Normative references ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . 6
3 Terms and definitions ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . 6
4 Test method . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... . 6
4. 1 General .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . .. ... ... ... ... ... ... . 6
4. 2 Measuring equipment .. ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 6
4. 3 Sample and test piece preparation ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... ... 7
4. 3. 1 Sheaths applied over longitudinall y regular surfaces ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... 7
4. 3. 2 Sheaths applied over longitudinall y irregular surfaces ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... 7
4. 3. 3 Sheath applied over corrugated m etallic sheaths . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... .. 7
4. 4 Measuring procedure ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... . .. . 7
4. 5 Evaluation of the m easurem ent results .. ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 8
5 Test report.. ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... . 8
Bibliograph y . ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... . 1 3

Figure 1 – Measurem ent of sheath thickness (circular inner profile) ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... .. 9
Figure 2 – Measurem ent of sheath thickness (irregular circular inner profile) .. ... ... ... ... ... ... .. ... . 9
Figure 3 – Measurem ent of sheath thickness (non-circular inner profile) . ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . 1 0
Figure 4 – Measurem ent of sheath thickness (irregular outer surface) .. ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... 1 0
Figure 5 – Measurem ent of sheath thickness (twin sheathed flat cable) .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . 1 1
Figure 6 – Measurem ent of sheath thickness (flat cable with single cores) . .. ... ... ... ... ... ... ... ... . 1 2
I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 :201 7 CSV –3–
 I EC 201 7
INTERNATI ONAL ELECTROTECHNI CAL COMMISSI ON
____________
E L E C T RI C AN D O P T I C AL F I B RE C AB L E S –

T E S T M E T H O D S F O R N O N -M E T AL L I C M AT E RI AL S –

P a rt 2 0 2 : G e n e ra l te s ts –

M e a s u re m e n t o f t h i c k n e s s o f n o n - m e ta l l i c s h e a t h

FOREWORD
1 ) The I nternati on al Electrotech ni cal Comm ission (I EC) is a worl d wid e organization for stand ardization com prisin g
all nati on al el ectrotechnical comm ittees (I EC Nation al Comm ittees). The object of I EC is to prom ote
internati onal co-operation on all qu estions concerni ng standardi zati on in the electrical and electronic fields. To
this en d and in ad dition to other activities, I EC pu blish es I nternational Stan dards, Techn ical Specificati ons,
Technical Reports, Publicly Avail abl e Specificati ons (PAS) an d Gui des (hereafter referred to as “I EC
Publication(s)”). Th eir preparation is entrusted to technical comm ittees; any I EC N ation al Comm ittee interested
in the subj ect dealt with m ay participate i n this preparatory work. I nternational, governm ental and non-
governm ental org ani zations li aising with the I EC also partici pate i n this preparati on. I EC col laborates cl osel y
with the I ntern ational Organization for Stand ardization (I SO) in accordance with con ditions determ ined by
agreem ent between th e two organi zati ons.
2) The form al decisions or ag reem ents of I EC on tech nical m atters express, as nearly as possi ble, an international
consensus of opin ion on the rel evant subjects since each technical com m ittee has representati on from all
interested I EC N ational Com m ittees.
3) I EC Publicati ons have the form of recom m endations for i nternational use an d are accepted by I EC N ational
Com m ittees in that sense. While all reasonable efforts are m ade to ensure that the tech nical content of I EC
Publications is accurate, I EC cann ot be held responsibl e for the way in which they are used or for an y
m isinterpretation by an y en d u ser.
4) I n ord er to prom ote internati onal u niform ity, I EC Nation al Com m ittees undertake to apply I EC Publ ications
transparentl y to th e m axim um extent possibl e in thei r n ational an d regi onal pu blicati ons. Any di vergence
between an y I EC Publ ication and the correspondi ng n ational or regi on al pu blicati on shall be clearl y in dicated in
the latter.
5) I EC itself d oes n ot provid e an y attestati on of conform ity. I ndepend ent certificati on bod ies provi de conform ity
assessm ent services an d, in som e areas, access to I EC m arks of conform ity. I EC is not responsi ble for an y
services carri ed out by ind ependent certification bodi es.
6) All users shou ld ensure that th ey h ave the l atest editi on of thi s publicati on.
7) No liability shall attach to I EC or its directors, em ployees, servants or ag ents includ ing i n divi du al experts and
m em bers of its tech nical com m ittees and I EC Nati onal Com m ittees for an y person al i nju ry, property dam ag e or
other dam age of an y nature whatsoever, wheth er di rect or indirect, or for costs (includi ng leg al fees) and
expenses arisi ng out of th e publ ication, use of, or rel ian ce upon, this I EC Publicati on or an y other I EC
Publications.
8) Attention is drawn to the Norm ative references cited i n this publ ication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct appl icati on of this publication.
9) Attention is drawn to th e possibility that som e of the elem ents of this I EC Publication m ay be the subject of
patent rig hts. I EC shall not be held responsibl e for identifyi ng any or all such patent ri ghts.

D I S C L AI M E R

Th i s C o n s o l i d a te d v e rs i o n is n ot an o ffi c i a l IEC S t a n d a rd an d h as been p re p a re d fo r

u s er con ven i en ce . On l y th e c u rre n t v e rs i o n s of th e s t a n d a rd and i ts am e n d m e n t( s )

a re t o b e c o n s i d e re d t h e o ffi c i a l d o cu m e n ts .

Th i s C o n so l i d ated v e rs i o n of I EC 60 8 1 1 -2 02 b e a rs th e ed i ti on n umber 1 . 1 . I t c o n s i s ts of

th e fi rs t ed i ti on ( 2 0 1 2 -0 3 ) [d ocu m en ts 2 0 /1 2 8 1 /F D I S an d 2 0 / 1 3 3 0 /R VD ] an d i ts

am en d m e n t 1 ( 2 01 7-0 7) [d o cu m e n ts 2 0 / 1 7 3 2 /F D I S an d 2 0 / 1 7 4 3 / R VD ] . Th e tech n i cal

co n te n t i s i d e n ti c a l to t h e b a s e e d i ti o n an d i ts am e n d m e n t.
–4– I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 : 201 7 CSV
 I EC 201 7
In th i s Red l i n e v e rs i o n , a v e rt i c a l line in th e m a rg i n s h o ws w h e re th e te c h n i c a l con ten t

is m o d i fi e d b y am en d m en t 1 . Ad d i t i o n s a re in g re e n te xt, d e l e ti o n s a re in s t ri k e t h ro u g h

re d t e xt . A s e p a ra t e Fi n al v e rs i o n wi th al l ch an g e s a c ce p te d is avai l ab l e in th i s

pu bl i cati on .

I nternational Standard I EC 6081 1 -202 has been prepared by I EC technical com m ittee 20:
Electric cables.

There are no specific technical changes with respect to the previous edition, but see the
Foreword to I EC 6081 1 -1 00: 201 2.

This publication has been drafted in accordance with the I SO/I EC Directives, Part 2.

This part of I EC 6081 1 shall be read in conj unction with I EC 6081 1 -1 00.

A list of all the parts in the I EC 6081 1 series, published under the general title Electric and
optical fibre cables – Test methods for non-metallic materials , can be found on the I EC
website.

The com mittee has decided that the contents of the base publication and its amendm ent will
rem ain unchanged until the stability date indicated on the I EC web site under
"http: //webstore. iec. ch" in the data related to the specific publication. At this date, the
publication will be
• reconfirmed,
• withdrawn,
• replaced by a revised edition, or
• am ended.

I M P O R T AN T – Th e ' co l ou r in si de' l ogo on th e cover p ag e of th i s p u b l i cati on i n d i c a te s

th at it co n ta i n s c o l o u rs wh i ch a re c o n s i d e re d to be u s e fu l fo r th e c o rre c t

u n d e rs t a n d i n g of i ts c o n te n ts . U s e rs sh ou l d t h e re fo re p ri n t th i s d ocu m en t u si n g a

c o l o u r p ri n t e r.
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 I EC 201 7
I NTRODUCTI ON
The I EC 6081 1 series specifies the test m ethods to be used for testing non -m etallic materials
of all types of cables. These test m ethods are intended to be referenced in standards for
cable construction and for cable materials.

NOTE 1 Non-m etallic m aterials are typicall y used for i nsul ati ng, sheathin g, beddi ng, filli ng or taping withi n cabl es.
NOTE 2 These test m ethods are accepted as basic and fund am ental and h ave been d eveloped and used over
m any years princi pal l y for the m aterials in all energ y cables. They have al so been widel y accepted and used for
other cabl es, in particular optical fibre cabl es, comm unication and control cabl es and cabl es for ships an d offshore
appl ications.
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P a rt 2 0 2 : G e n e ra l te s ts –

M e a s u re m e n t o f t h i c k n e s s o f n o n - m e ta l l i c s h e a t h

1 S cop e

This Part 202 of I EC 6081 1 gives the m ethods for m easuring thicknesses of non -metallic
sheath which appl y to the most common types of sheathing com pounds (cross-linked, PVC,
PE, PP, etc. ).

2 N o rm a t i ve re fe re n c e s

The following documents, in whole or in part, are norm ativel y referenced in this docum ent and
are indispensable for its application. For dated references, onl y the edition cited applies. For
undated references, the latest edition of the referenced document (including an y
amendm ents) applies.

I EC 6081 1 -1 00: 201 2, Electric and optical fibre cables – Test methods for non-metallic
materials - Part 100: General

3 T e rm s a n d d e fi n i t i o n s

For the purposes of this document, the terms and definitions given in I EC 6081 1 -1 00 appl y.

4 Te s t m e th o d

4. 1 G e n e ra l

This part of I EC 6081 1 shall be used in conj unction with I EC 6081 1 -1 00.

Unless otherwise specified, tests shall be carried out at room temperature.

The m easurement of sheath thickness m ay be required as an individual test, or as a step in


the procedure for carrying out other tests, such as the m easurem ent of m echanical properties.
The test method applies to the measurem ent of all sheaths for which thickness lim its are
specified, for exam ple separation sheaths, as well as external sheaths.

I n each case, the method of selecting samples shall be in accordance with the relevant cable
standard.

4. 2 M e a s u ri n g eq u i pm en t

A measuring m icroscope or a profile projector of at least 1 0 x m agnification or an optical


digital image analyser shall be used. All These types of equipment shall allow a reading of
0, 01 mm and an estimated reading to three decim al places when m easuring insulation with a
specified thickness less than 0,5 mm.

For sheaths applied over longitudinall y irregular surfaces such as corrugated metallic
sheaths, a m icrometer having a ball nose radius of 1 mm and allowing a reading of 0, 01 mm
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 I EC 201 7
may be used. This method is suitable onl y for corrugations having a radius greater than
1 mm .

In case of doubt, the m easuring m icroscope shall be taken as the reference m ethod.

4. 3 S am p l e an d te s t pi e ce prep arati on

4. 3. 1 S h e ath s app l i ed ove r l o n g i tu d i n al l y reg u l a r s u rface s

After all materials, if an y, inside and outside the sheath have been rem oved, each test piece
shall be prepared by cutting a thin slice along a plane perpendicular to the longitudinal axis of
the cable, using a suitable device.

If the sheath carries an indenting marking, thus giving rise to a local reduction in thickness,
the test piece shall include such marking.

4. 3. 2 S h e ath s app l i ed ove r l o n g i tu d i n al l y i rreg u l ar s u rface s

Cut a short piece of sheath, perpendicular to the longitudinal axis of the cable, including at
least one complete pitch or helix formed by the underlying tape.

If using a ball nose micrometer, the sam ple m ay be left whole. I f using a microscope or profile
proj ector, the test piece shall be prepared by cutting six thin longitudinal slices (parallel to the
cable axis), using a suitable device.

4. 3 . 3 Sh e ath ap pl i ed ove r co rru g ated m etal l i c s h eath s

A sam ple of complete cable shall be taken, 500 m m from the end of the drum and of sufficient
length to include two peaks and two troughs. A reference line shall be drawn on the outer
surface of the over sheath, parallel to the axis of the cable. The position of the m inim um
thickness shall be determ ined on an annular ring taken from the end of the sam ple. A strip
shall then be cut at this minimum point parallel to the axis of the cable (the previousl y drawn
reference line shall be used to locate this position).

4. 4 M eas u ri n g p roced u re

The test piece shall be placed under the measurin g equipment with the plane of the cut
perpendicular to the optical axis.
a) When the inner profile of the test piece is of circular form, six m easurements shall be
made radiall y, each approxim atel y 60°, as shown in Figure 1 .
b) I f the substantiall y circul ar inner surface is not regular or sm ooth, six m easurem ents shall
be made radiall y at the positions where the sheath is thinnest, as shown in Figure 2.
c) When the inner profile exhibits deep grooves caused by the cores, radial m easurem ents
shall be taken at the bottom of each groove, as shown in Figure 3.
When the num ber of grooves exceeds six, item b) applies.
d) I n order to eliminate the influence of an y irregularities on the outer surface, which m ay be
due to the presence of a proofed tape or a ribbed sheath finish, the m easurem ents shall
be made as shown in Figure 4.
e) I n the case of sheathed flat cables, measurements shall be taken on lines approxim ately
parallel to the minor axis and on the major axis of the cross-section, at the position of
each core, one of the m easurem ents being, however, m ade at the thinnest place, as
shown in Figure 5.
f) For sheathed flat cables composed of up to and including six single cores, m easurem ent
shall be taken as shown in Figure 6:
– on both rounded off sides, along the major axis of the cross-section;
–8– I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 : 201 7 CSV
 I EC 201 7
– on both flat sides, on the first and last core, and at the thinnest place (plus opposite
sheath thickness), if this does not coincide with any of the other measurements.
For cables com posed of more than six cores, the above applies but m easurem ents shall
also be taken on the m iddle core, or on one of the two m iddle cores in the case of an even
num ber of cores.
g) For cables with a sheath applied over longitudinally irregular surfaces, the piece of sheath
prepared in accordance with 4. 3. 2 shall be m easured using a ball nose micrometer, to
determ ine the minim um thickness. Alternativel y, the six thin longitudinal slices prepared in
accordance with 4. 3. 2 shall be measured opticall y to determ ine the minimum thickness.
h) For cables with a sheath applied over a corrugated metal sheath, four m easurements shall
be taken on the longitudinal strip prepared in accordance with 4. 3. 3 at, respectivel y, two
peaks and two troughs of the corrugation.
I f the sheath carries an indented m arking, this shall not be included in the m easurements
made for the calculation of m ean thickness. I n such cases, another slice shall be taken and
measurem ents made on areas not affected by the indented m arking.

The readings shall be m ade in millimetres to two decimal places.

I n all cases, the thickness at the position of the indented marking shall compl y with the
minimum requirem ent specified in the relevant standard.

4.5 Evaluation of the measurement results


The results shall be evaluated as specified in the test requirements of the relevant cable
standard.

5 Test report
The test report shall be in accordance with that given in I EC 6081 1 -1 00.
I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 :201 7 CSV –9–
 I EC 201 7

IEC 245/12
Ke y

tm m inim um thickness

F i g u re 1 – M e as u rem en t o f s h e ath th i ckn es s (ci rcu l ar i n n e r p rofi l e )

IEC 251/12
Ke y

tm m inim um thickness

F i g u re 2 – M e as u rem en t of s h e ath th i ckn es s (i rre g u l ar ci rcu l a r i n n e r p rofi l e)


– 10 – I EC 6081 1 -202: 201 2+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7

IEC 252/12
Ke y

tm m inim um thickness

F i g u re 3 – M e a s u re m e n t o f s h e a th th i c kn e s s ( n o n -c i rcu l a r i n n e r p ro fi l e )

IEC 253/12
Ke y

tm m inim um thickness

F i g u re 4 – M e a s u re m e n t o f s h e a th th i c kn e s s ( i rre g u l a r o u te r s u rfa c e )
I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 :201 7 CSV – 11 –
 I EC 201 7

IEC 254/12

tm

IEC

Ke y

tm m inim um thickness

F i g u re 5 – M e a s u re m e n t o f s h e a t h th i c kn e s s ( t w i n s h e ath e d fl a t c a b l e )
– 12 – I EC 6081 1 -202: 201 2+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7

Ke y IEC 255/12

tm m inim um thickness

Fi gu re 6 – M easu rem en t of sh eath th i ckn ess (fl at cabl e wi th sin g l e cores)


I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 :201 7 CSV – 13 –
 I EC 201 7
Bibliography
I EC 6081 1 -1 -1 : 1 993, Co m m o n te st m e th o ds for in sula tin g a n d sh e a th in g m a te ria ls o f e le ctric

ca b le s – Pa rt 1 : Me th o ds fo r ge n e ra l a p p lica tio n – Se ctio n 1 : Me a sure m e n t of th ickn e ss a n d

ove ra ll dim e n sion s – Te sts for de te rm in in g th e m e ch a n ica l p ro p e rtie s

(withdrawn)

____________
– 14 – I EC 6081 1 -202: 201 2+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
SOMMAIRE

AVANT-PROPOS . ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... .. 1 5
I NTRODUCTI ON .. ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... .. ... ... ... .. 1 7
1 Domaine d'application .. ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 1 8
2 Références normatives . ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... . 1 8
3 Termes et définitions . ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... . 1 8
4 Méthode d’essai ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... 1 8
4. 1 Généralités... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. 1 8
4. 2 Matériel de mesure . ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 1 8
4. 3 Préparation des échantillons et des éprouvettes . ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... . 1 9
4. 3. 1 Gaines appliquées sur des surfaces longitudinalem ent régulières.. ... ... ... ... 1 9
4. 3. 2 Gaines appliquées sur des surfaces longitudinalem ent irrégulières . ... ... ... . 1 9
4. 3. 3 Gaine appliquée sur les gaines m étalliques ondulées . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 1 9
4. 4 Méthode de m esure ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 1 9
4. 5 Evaluation des résultats de mesure .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... ... ... . 20
5 Rapport d'essai .. ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... . .. ... ... 20
Bibliographie ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... . 25

Figure 1 – Mesure de l'épaisseur d'une gaine (profil intérieur circulaire) . ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . 21
Figure 2 – Mesure de l'épaisseur d'une gaine (profil intérieur circulaire irrégulier) .. ... ... .. ... ... 21
Figure 3 – Mesure de l'épaisseur d'une gaine (profil intérieur non circulaire) .. ... ... ... ... ... ... .. .. 22
Figure 4 – Mesure de l'épaisseur d'une gaine (su rface extérieure irrégulière) ... ... ... ... ... ... ... .. 22
Figure 5 – Mesure de l'épaisseur d'une gaine (câble m éplat sous gaine à deux
conducteurs) ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... 23
Figure 6 – Mesure de l'épaisseur d'une gaine (câble m éplat composé de
monoconducteurs) .. ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . .. ... ... .. 24
I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 :201 7 CSV – 15 –
 I EC 201 7
COMMI SSION ÉLECTROTECHNIQUE I NTERNATIONALE
____________
C ÂB L E S É L E C T RI Q U E S E T À F I B RE S O P T I Q U E S –

M É T H O D E S D ’ E S S AI P O U R L E S M AT É R I AU X N O N -M É T AL L I Q U E S –

P a rti e 2 0 2 : E s s a i s g é n é ra u x –

M e s u re d e l ' é p a i s s e u r d e s g a i n e s n o n m é ta l l i q u e s

AVANT-PROPOS
1 ) La Com m ission Electrotechni que I ntern ational e (I EC) est une organisation m ondial e de norm alisation
com posée de l'ensem ble des com ités électrotechni ques n ati onaux (Com ités nationau x de l ’I EC). L’I EC a pour
objet de favoriser l a coopérati on i nternati onale pour toutes l es questi ons d e n orm al isation dans l es dom ain es
de l'él ectricité et de l'électroniq ue. A cet effet, l’I EC – entre autres activités – publi e des Norm es
internati onales, d es Spécifications tech niq ues, d es Rapports techniq ues, d es Spécificati ons accessibles au
publ ic (PAS) et des Gui des (ci -après d énom m és "Publication (s) de l’I EC"). Leu r élaboration est confiée à des
com ités d'études, au x travau x desquels tout Com ité nation al intéressé par le suj et traité peut participer. Les
org anisati ons intern ation ales, gou vern em entales et non gou vernem entales, en liaison avec l ’I EC, participent
égal em ent au x travau x. L’I EC collabore étroitem ent avec l'Organisati on I ntern ation ale de N orm alisation (I SO),
selon d es conditi ons fi xées par accord entre l es deu x organisations.
2) Les décisions ou accords officiels d e l’I EC concern ant l es q uestions techni ques représentent, d ans l a m esure
du possibl e, u n accord intern ation al su r l es suj ets étu diés, étant d onn é qu e les Com ités nati onau x d e l ’I EC
intéressés sont représentés d ans chaqu e com ité d’étud es.
3) Les Publicati ons de l’I EC se présentent sous la form e de recomm andations internati onal es et sont agréées
comm e telles par les Com ités nation au x de l’I EC. Tous les efforts raisonn abl es sont entrepris afin que l’I EC
s'assure de l'exactitude du con tenu techni qu e de ses publications; l’I EC n e peut pas être tenue responsabl e de
l'éventu elle m auvaise utilisation ou i nterprétation qu i en est faite par u n qu elcon qu e utilisateur fi nal.
4) Dans l e but d'encou rager l'u ni form ité internati on ale, l es Com ités nationau x de l ’I EC s'en g agent, dans toute la
m esure possibl e, à appl iquer d e façon transparente l es Publi cations d e l’I EC dans leu rs pu blications nati on ales
et régional es. Toutes divergences entre toutes Publ ication s de l’I EC et toutes publicati ons nati on ales ou
rég ion ales correspon dantes doivent être ind iqu ées en term es clairs dans ces dernières.
5) L’I EC elle-m êm e ne fou rn it aucune attestati on de conform ité. Des organism es de certifi cation i nd épend ants
fournissent d es services d 'évaluati on de conform ité et, dans certai ns secteu rs, accèdent au x m arq ues d e
conform ité de l’I EC. L’I EC n'est responsabl e d'aucu n des services effectués par les org anism es de certification
indépendants.
6) Tous l es utilisateurs d oi vent s'assurer qu'ils sont en possession d e la d ernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne d oit être im putée à l ’I EC, à ses adm inistrateurs, em ployés, au xi liai res ou
m andataires, y com pris ses experts particuli ers et les m em bres de ses com ités d'études et des Com ités
nationau x d e l’I EC, pour tout préjudice causé en cas d e domm ages corporels et m atériel s, ou de tout autre
dom m age de quel que n atu re q ue ce soit, directe ou i ndi recte, ou pou r supporter les coûts (y com pris les frais
de justice) et les dépenses d écoulant de l a publicati on ou d e l'utilisati on de cette Pu blication d e l’I EC ou d e
toute autre Publicati on d e l’I EC, ou au crédit q ui lui est accord é.
8) L'attenti on est attirée sur les références norm atives citées dans cette publicati on. L'utilisation de publications
référencées est obl igatoire pour un e applicati on correcte de la présente publicati on.
9) L’attention est atti rée sur l e fait q ue certai ns des él ém ents de la présente Pu blication de l’I EC peu vent faire
l’obj et de d roits de brevet. L’I EC ne sau rait être ten ue pour responsable d e ne pas avoir id entifié d e tels droits
de brevets et de ne pas avoi r signalé leur existence.

D É G AG E M E N T D E R E S P O N S AB I L I T É

C e tte v e rs i o n con sol i d ée n ’ est pas une N o rm e I EC o ffi c i e l l e , el l e a é té p ré p a ré e par

co m m od i té pou r l ’ u t i l i s a t e u r. S eu l es les v e rs i o n s c o u ra n t e s de c e tte n o rm e et de

son (ses) a m e n d e m e n t ( s ) d o i v e n t ê t re c o n s i d é ré e s c o m m e l e s d o c u m e n t s o ffi c i e l s .

C e tte v e rs i o n con so l i d ée de l’IEC 60 8 1 1 -2 0 2 p o rt e le n u m é ro d ' é d i ti o n 1 .1 . El le

c o m p re n d la p re m i è re é d i ti o n ( 2 0 1 2 -0 3 ) [d o c u m e n ts 2 0 /1 2 8 1 /F D I S et 2 0 / 1 3 3 0 /R V D ] et

son am en d em en t 1 ( 2 0 1 7 -0 7 ) [d ocu m e n ts 2 0 /1 7 3 2 /F D I S et 2 0 /1 7 4 3 / R V D ] . Le con ten u

tech n i q u e es t i d e n ti q u e à ce l u i d e l ' éd i ti on d e base et à son am en d em en t.


– 16 – I EC 6081 1 -202: 201 2+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
Dan s c e tte v e rs i o n Re d l i n e , une ligne v e rt i c a l e dans la m a rg e indique où le con ten u

te c h n i q u e est m o d i fi é par l ’ am en d em en t 1 . Les aj ou ts son t en v e rt , les s u p p re s s i o n s

son t en ro u g e , b a rré e s . Une v e rs i o n Fi n al e ave c to u t e s l es m o d i fi c a t i o n s a c ce p té e s est

d i s p o n i b l e d an s ce tte p u b l i c ati o n .

La N orme internationale I EC 6081 1 -202 a été établie par le comité d’études 20 de l’I EC:
Câbles électriques.

Aucune modification technique n’a été effectuée par rapport à l’édition précédente; voir
cependant l’avant-propos de l’I EC 6081 1 -1 00: 201 2.

Cette publication a été rédigée selon les Directives I SO/I EC, Partie 2.

La présente partie de l’I EC 6081 1 doit être utilisée conjointem ent avec l’I EC 6081 1 -1 00.

Une liste de toutes les parties de la série I EC 6081 1 , publiées sous le titre général Câ b le s

é le ctrique s e t à fib re s o p tique s – Mé th o de s d’e ss a i p o ur le s m a té ria ux n o n - m é ta llique s , peut


être consultée sur le site web de l’I EC.

Le com ité a décidé que le contenu de la publication de base et de son amendem ent ne sera
pas m odifié avant la date de stabilité indiquée sur le site web d e l’I EC sous
"http://webstore. iec.ch" dans les données relatives à la publication recherchée. A cette date,
la publication sera
• reconduite,
• supprimée,
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.

I M P O RT AN T – L e l o g o "colour inside" qui s e t ro u v e s u r l a p a g e d e c o u v e rt u re d e cette

pu bl i cati on i n d i q u e q u ' e l l e c o n t i e n t d e s c o u l e u rs q u i s o n t c o n s i d é ré e s c o m m e u t i l e s à

u n e b o n n e c o m p ré h e n s i o n d e son co n te n u . L e s u t i l i s a t e u rs d e v ra i e n t , p a r con s éq u en t,

i m p ri m e r c e t t e p u b l i c a t i o n en u t i l i s a n t u n e i m p ri m a n t e c o u l e u r.
I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 :201 7 CSV – 17 –
 I EC 201 7
I NTRODUCTI ON
La série I EC 6081 1 précise les méthodes à employer pour les essais des m atériaux non-
métalliques sur tous les types de câbles. Ces méthodes d’essai seront citées en référence
dans les norm es relatives à la construction des câbles et aux m atériaux des câbles.

NOTE 1 Les m atéri au x non-m étalli ques sont généralem ent utilisés pou r l’isol ation, le gain age, le m atelassag e, le
rem plissage ou le ruban age des câbles.
NOTE 2 Ces m éthodes d’essai sont reconn ues com m e fondam ental es; ell es ont été d éveloppées et utilisées
durant de nom breuses années, pri ncipal em ent pour les m atériau x dans tous l es câbl es de distribution d’ énerg ie.
Elles ont aussi été larg em ent reconn ues et utilisées pour d’ autres types de câbles, en parti culier les câbles à fibres
optiq ues, les câbles d e communication et de comm ande, ai nsi que l es câbles utilisés à bord des navi res et dans
les appl ications offshore.
– 18 – I EC 6081 1 -202: 201 2+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
C ÂB L E S É L E C T RI Q U E S E T À F I B RE S O P T I Q U E S –

M É T H O D E S D ’ E S S AI P O U R L E S M AT É R I AU X N O N -M É T AL L I Q U E S –

P a rti e 2 0 2 : E s s a i s g é n é ra u x –

M e s u re d e l ' é p a i s s e u r d e s g a i n e s n o n m é ta l l i q u e s

1 D o m a i n e d ' a p p l i ca ti o n

La présente Partie 202 de l’I EC 6081 1 décrit les méthodes pour la m esure des épaisseurs
des gaines non-m étalliques, qui s’appliquent aux types les plus courants des mélanges
utilisés pour les gaines (réticulés, PVC, PE, PP, etc.).

2 Ré fé re n c e s n o rm a t i ve s

Les documents suivants sont cités en référence de m anière normative, en intégralité ou en


partie, dans le présent docum ent et sont indispensables pour son application. Pour les
références datées, seule l’édition citée s’applique. Pour les références non datées, la
dernière édition du docum ent de référence s’applique (y compris les éventuels
amendem ents).

I EC 6081 1 -1 00: 201 2, Câ b le s é le ctriq ue s et à fib re s o p tique s – Mé th o de s d'e ssa i p o ur le s

m a té ria ux n o n -m é ta lliq ue s – Pa rtie 1 00: G é n é ra lité s

3 T e rm e s e t d é fi n i t i o n s

Pour les besoins du présent docum ent, les termes et définitions donnés dans l’I EC 6081 1 -1 00
s’appliquent.

4 M éth od e d ’ e s s ai

4. 1 G é n é ra l i t é s

La présente partie de l’I EC 6081 1 doit être utilisée conjointement avec l’I EC 6081 1 -1 00.

Les essais doivent être effectués à la tem pérature ambiante, sauf spécification contraire.

La m esure de l'épaisseur de la gaine peut être exigée à titre d'essai individuel ou comm e une
opération dans la procédure d'exécution d'autres essais, comme la détermination des
propriétés mécaniques. La m éthode d'essai s'applique à la mesure de toutes les gaines pour
lesquelles des limites d’épaisseur sont spécifiées, par exemple les gaines de séparation aussi
bien que les gaines externes.

Dans chaque cas, les échantillons doivent être prélevés en utilisant les méthodes indiquées
dans la norme applicable au type de câble considéré.

4. 2 M a t é ri e l d e m e s u re

On doit utiliser un microscope de mesure ou un proj ecteur de profil perm ettant un


grossissement d'au moins 1 0 fois ou bien un analyseur d’im age num érique optique. Tous les
Ces types d’instruments doivent perm ettre de lire avec précision le centièm e de millim ètre
(0, 01 m m) et d'estimer la troisièm e décim ale lorsqu'on mesure des enveloppes isolantes
d’épaisseurs spécifiées inférieures à 0, 5 mm.
I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 :201 7 CSV – 19 –
 I EC 201 7
Pour les gaines appliquées sur des surfaces longitudinalement irrégulières comme dans le
cas des gaines m étalliques ondulées, il est perm is d’utiliser un m icrom ètre ayant un e
extrém ité sphérique de 1 m m de rayon et perm ettant de lire avec précision le centièm e de
millim ètre (0,01 mm). Cette m éthode est adaptée uniquement pour les ondulations dont le
rayon est supérieur à 1 mm .

En cas de doute, la mesure au microscope doit être prise comme méthode de référence.

4. 3 P ré p arati on d e s é ch an ti l l on s et d es ép rou vette s

4. 3. 1 G ai n e s ap pl i q u ée s s u r d e s s u rface s l on g i tu d i n al em en t rég u l i è res

Après avoir retiré, le cas échéant, tous les m atériaux à l'intérieur et à l'extérieur du tronçon de
gaine, on doit préparer chaque éprouvette en coupant avec un appareil approprié une tranche
mince suivant un plan perpendiculaire à l'axe longitudinal du câble.

Si la gaine porte un m arquage en creux, ayan t ainsi localem ent une épaisseur réduite, on doit
prélever l'éprouvette de manière à inclure un tel m arquage.

4. 3. 2 G ai n e s ap pl i q u ée s s u r d e s s u rface s l on g i tu d i n al em en t i rré g u l i ère s

Couper un m orceau de gaine de faible longueur, perpendiculairement à l’axe longitudinal du


câble, incluant au moins un pas com plet ou une hélice complète form é par le ruban sous-
jacent.

Si un m icrom ètre ayant une extrémité sphérique est utilisé, l’échantillon peut être laissé
complet. Si un microscope ou un proj ecteur de profil est utilisé, l’éprouvette doit être préparée
en coupant six tranches longitudinales fines (parallèlement à l’axe du câble), en utilisant un
appareil approprié.

4. 3 . 3 G ai n e appl i q u é e s u r l es g a i n e s m étal l i q u e s on d u l é e s

Un échantillon de câble com plet doit être prélevé à 500 m m de l’extrémité du touret et il doit
être d’une longueur suffisante pour inclure deux crêtes et deux creux. U n trait de référence
doit être tracé sur la surface extérieure de la gaine externe, parallèlem ent à l’axe du câble. La
position de l’épaisseur minimale doit être déterminée sur un e ondulation à partir de
l’extrém ité de l’échantillon. U ne bande doit ensuite être coupée au niveau de ce point
minimum parallèlement à l’axe du câble (le trait de référence tracé précédem ment doit être
utilisé pour situer cette position).

4. 4 M éth od e d e m e s u re

L'éprouvette doit être placée sous l'appareil de mesure, le plan de coupe étant
perpendiculaire à l'axe optique.
a) Si le profil intérieur de l'éprouvette est circulaire, on procède à six m esures radiales,
chacune à approxim ativement 60°, comme indiqué à la Figure 1 .
b) Si la surface intérieure pratiquem ent circulaire n'est ni régulière ni lisse, on doit procéder
à six m esures radiales dans les positions où la gaine est la plus m ince, comm e indiqué à
la Figure 2.
c) Si le profil intérieur n'est pas circulaire à cause des empreintes des conducteurs, on doit
effectuer un nom bre approprié de mesures radiales au fond des empreintes form ées par
les conducteurs, comme indiqué la Figure 3.
S’il y a plus de six empreintes, les m odalités du point b) s’appliquent.
d) En vue d'élim iner l'influence d'éventuelles irrégularités sur la surface externe, qui peuvent
être dues à la présence d'un ruban ou de stries sur la gaine, les m esures doivent être
faites comm e indiqué à la Figure 4.
– 20 – I EC 6081 1 -202: 201 2+AM D1 : 201 7 CSV
© I EC 201 7
e) Dans l e cas d e câbl es m épl ats sous g ai ne, les m esures doi vent être faites su i vant d es
d irections sensiblem en t paral l èl es au petit axe et sur l e grand axe d e l a secti on du câbl e,
au n i veau d e ch acun d es cond ucteurs, un e d es m esures étan t faite tou tefois à l'end roi t où
l'épaisseur est l a pl us fai ble, com m e in d iq u é à l a Fi gu re 5.
f) Pour les câbles m éplats sous g ain e com posés d e six cond ucteurs au plu s, les m esures
doi vent être faites com me i nd i q ué à la Fi gure 6:
– sur ch acu n d es bords arron d is su ivan t l e gran d axe d e l a secti on du câbl e;
– sur chacu ne d es parti es pl an es au ni veau d u prem ier et d u d erni er con ducteur, et à
l'en droit où l a gai ne est l a pl us m ince (on m esure égal em en t l 'épaisseur opposée) si
cela n e coïnci d e pas avec u n e des au tres m esures.
Pour les câbl es com portan t pl us d e six con ducteurs, on procède com m e ci-dessus, m ais
des m esures d oi vent être faites égalem ent au n i veau du cond ucteur m éd ian, ou d e l'u n
des deux cond ucteurs m éd i ans dans l e cas d 'u n n om bre pair d e con d ucteu rs.
g) Pour les câbles ayan t un e gain e appl iq u ée sur d es surfaces longi tu d i nal em ent
irrég u l ières, l e m orceau de g ain e préparé conform ém ent à 4. 3. 2 d oit être m esuré en
util isan t u n m icrom ètre ayan t un e extrém ité sph éri qu e, pour détermi ner l’épaisseur
m inim al e. Comm e al tern ati ve, l es six tran ches l on gitu d in ales fi nes préparées
conform ém ent à 4. 3. 2 d oivent être m esurées opti qu em en t pou r d éterm i ner l ’épaisseur
m inim al e.
h) Pour l es câbl es ayan t un e g ai n e appl iq u ée su r u ne gain e m étal li q ue on d u lée, q u atre
m esures doiven t être pri ses sur la ban de l ong itu d in ale préparée conform ém ent à 4. 3. 3
respectivem en t au n i veau d e deux crêtes et d e d eux creux d ’ ond ul ati on .
Si l a g ai n e porte u n m arqu age en creux, celu i-ci n e d oi t pas être incl us d ans les m esures
m esurages uti l isées pou r l e calcu l d e l'épaisseur m oyen ne. Dans d e tels cas, u ne n ou vel le
découpe doi t être réal isée et d es m esurages d oivent être effectués su r des zon es n on
affectées par l e m arq uage en creux.

Les lectures d oi ven t être effectuées en m il lim ètres à la d euxièm e d écim ale.

Dans tous l es cas, l'épaisseur à l'endroi t d u m arqu age en creux d oit répon dre à l’ exi gence
d'épaisseur m in im ale spécifiée dans l a n orm e appl icabl e au type d e câbl e consi d éré.

4. 5 Evalu ati on d es résu l tats d e m esu re

Les résu ltats d oi vent être évalués su i van t l es exigences d ’essai d e la n orm e applicabl e au
câbl e consid éré.

5 Rapport d'essai

Le rapport d ’essai doi t être conform e à celu i fi guran t d ans l ’I EC 6081 1 -1 00.
I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 :201 7 CSV – 21 –
 I EC 201 7

IEC 245/12
Lé g en d e

tm épaisseur m inim ale

F i g u re 1 – M e s u re d e l ' é p ai s s e u r d ' u n e g ai n e (p ro fi l i n té ri eu r ci rcu l ai re )

IEC 251/12
Lé g en d e

tm épaisseur m inim ale

F i g u re 2 – M e s u re d e l ' é pai s s e u r d ' u n e g ai n e (p rofi l i n té ri eu r ci rcu l ai re i rrég u l i e r)


– 22 – I EC 6081 1 -202: 201 2+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7

IEC 252/12
Légende

tm épaisseur m inim ale

Figu re 3 – M esu re de l'épaisseur d'un e gaine (profil intéri eu r non ci rcul ai re)

IEC 253/12
Légende

tm épaisseur m inim ale

Figu re 4 – M esu re d e l'épai sseur d'un e gai ne (surface extérieu re i rrégu li ère)
I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 :201 7 CSV – 23 –
 I EC 201 7

IEC 254/12

tm

IEC

Légende

tm épaisseur m inim ale

Figu re 5 – M esu re de l'épai sseur d'un e g aine


(câbl e méplat sous gain e à deux condu cteu rs)
– 24 – I EC 6081 1 -202: 201 2+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7

Lég en d e
IEC 255/12

tm épaisseur m inim ale

Figu re 6 – M esu re d e l'épai sseu r d'u n e g ai n e


(câbl e mépl at composé de mon ocon du cteu rs)
I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 :201 7 CSV – 25 –
 I EC 201 7
Bibliographie
I EC 6081 1 -1 -1 : 1 993, Mé th o de s d'e ss a is co m m un e s p o ur le s m a té ria ux d'is o la tion et de

ga in a ge de s câ b le s é le ctriq ue s – Pa rtie 1: Mé th o de s d'a p p lica tio n gé n é ra le – Se ctio n 1:

Me sure de s é p a iss e urs et de s dim e n s ion s e xté rie ure s – Dé te rm in a tion de s p ro p rié té s

mé ca n iq ue s

(retirée)

____________
I E C 60 8 1 1 -2 0 2
®
Edition 1 .1 201 7-07

F I N AL VE RS I ON

VE RS I ON F I N ALE

E l ectri c an d opti cal fi bre cabl es – Tes t m eth od s for n on -m etal l i c m ateri al s –

P art 2 0 2 : G e n eral te sts – M eas u rem e n t of th i ckn ess of n on -m e tal l i c s h eath

C âbl e s él ectri q u es e t à fi bre s opti q u es – M éth od es d ’ es s ai pou r l e s m atéri au x

n on -m é tal l i q u es –

P arti e 2 0 2 : E s sai s g én érau x – M es u re d e l 'épai ss eu r d e s g ai n e s n on m étal l i q u es


IEC 6081 1 -202:201 2-03+AMD1 :201 7-07 CSV(en-fr)
–2– I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 : 201 7 CSV
 I EC 201 7
CONTENTS

FOREWORD ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... 3
I NTRODUCTI ON .. ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... .. ... ... ... ... . 5
1 Scope . ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... 6
2 Normative references ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . 6
3 Terms and definitions ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . 6
4 Test method . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... . 6
4. 1 General .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . .. ... ... ... ... ... ... . 6
4. 2 Measuring equipment .. ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 6
4. 3 Sample and test piece preparation ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... ... 7
4. 3. 1 Sheaths applied over longitudinall y regular surfaces ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... 7
4. 3. 2 Sheaths applied over longitudinall y irregular surfaces ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... 7
4. 3. 3 Sheath applied over corrugated m etallic sheaths . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... .. 7
4. 4 Measuring procedure ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... . .. . 7
4. 5 Evaluation of the m easurem ent results .. ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 8
5 Test report.. ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... . 8
Bibliograph y . ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... . 1 2

Figure 1 – Measurem ent of sheath thickness (circular inner profile) ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... .. 9
Figure 2 – Measurem ent of sheath thickness (irregular circular inner profile) .. ... ... ... ... ... ... .. ... . 9
Figure 3 – Measurem ent of sheath thickness (non-circular inner profile) . ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . 1 0
Figure 4 – Measurem ent of sheath thickness (irregular outer surface) .. ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... 1 0
Figure 5 – Measurem ent of sheath thickness (twin sheathed flat cable) .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . 1 1
Figure 6 – Measurem ent of sheath thickness (flat cable with single cores) . .. ... ... ... ... ... ... ... ... . 1 1
I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 :201 7 CSV –3–
 I EC 201 7
INTERNATI ONAL ELECTROTECHNI CAL COMMISSI ON
____________
E L E C T RI C AN D O P T I C AL F I B RE C AB L E S –

T E S T M E T H O D S F O R N O N -M E T AL L I C M AT E RI AL S –

P a rt 2 0 2 : G e n e ra l te s ts –

M e a s u re m e n t o f t h i c k n e s s o f n o n - m e ta l l i c s h e a t h

FOREWORD
1 ) The I nternati on al Electrotech ni cal Comm ission (I EC) is a worl d wid e organization for stand ardization com prisin g
all nati on al el ectrotechnical comm ittees (I EC Nation al Comm ittees). The object of I EC is to prom ote
internati onal co-operation on all qu estions concerni ng standardi zati on in the electrical and electronic fields. To
this en d and in ad dition to other activities, I EC pu blish es I nternational Stan dards, Techn ical Specificati ons,
Technical Reports, Publicly Avail abl e Specificati ons (PAS) an d Gui des (hereafter referred to as “I EC
Publication(s)”). Th eir preparation is entrusted to technical comm ittees; any I EC N ation al Comm ittee interested
in the subj ect dealt with m ay participate i n this preparatory work. I nternational, governm ental and non-
governm ental org ani zations li aising with the I EC also partici pate i n this preparati on. I EC col laborates cl osel y
with the I ntern ational Organization for Stand ardization (I SO) in accordance with con ditions determ ined by
agreem ent between th e two organi zati ons.
2) The form al decisions or ag reem ents of I EC on tech nical m atters express, as nearly as possi ble, an international
consensus of opin ion on the rel evant subjects since each technical com m ittee has representati on from all
interested I EC N ational Com m ittees.
3) I EC Publicati ons have the form of recom m endations for i nternational use an d are accepted by I EC N ational
Com m ittees in that sense. While all reasonable efforts are m ade to ensure that the tech nical content of I EC
Publications is accurate, I EC cann ot be held responsibl e for the way in which they are used or for an y
m isinterpretation by an y en d u ser.
4) I n ord er to prom ote internati onal u niform ity, I EC Nation al Com m ittees undertake to apply I EC Publ ications
transparentl y to th e m axim um extent possibl e in thei r n ational an d regi onal pu blicati ons. Any di vergence
between an y I EC Publ ication and the correspondi ng n ational or regi on al pu blicati on shall be clearl y in dicated in
the latter.
5) I EC itself d oes n ot provid e an y attestati on of conform ity. I ndepend ent certificati on bod ies provi de conform ity
assessm ent services an d, in som e areas, access to I EC m arks of conform ity. I EC is not responsi ble for an y
services carri ed out by ind ependent certification bodi es.
6) All users shou ld ensure that th ey h ave the l atest editi on of thi s publicati on.
7) No liability shall attach to I EC or its directors, em ployees, servants or ag ents includ ing i n divi du al experts and
m em bers of its tech nical com m ittees and I EC Nati onal Com m ittees for an y person al i nju ry, property dam ag e or
other dam age of an y nature whatsoever, wheth er di rect or indirect, or for costs (includi ng leg al fees) and
expenses arisi ng out of th e publ ication, use of, or rel ian ce upon, this I EC Publicati on or an y other I EC
Publications.
8) Attention is drawn to the Norm ative references cited i n this publ ication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct appl icati on of this publication.
9) Attention is drawn to th e possibility that som e of the elem ents of this I EC Publication m ay be the subject of
patent rig hts. I EC shall not be held responsibl e for identifyi ng any or all such patent ri ghts.

D I S C L AI M E R

Th i s C o n s o l i d a te d v e rs i o n is n ot an o ffi c i a l IEC S t a n d a rd an d h as been p re p a re d fo r

u s er con ven i en ce . On l y th e c u rre n t v e rs i o n s of th e s t a n d a rd and i ts am e n d m e n t( s )

a re t o b e c o n s i d e re d t h e o ffi c i a l d o cu m e n ts .

Th i s C o n so l i d ated v e rs i o n of I EC 60 8 1 1 -2 02 b e a rs th e ed i ti on n umber 1 . 1 . I t c o n s i s ts of

th e fi rs t ed i ti on ( 2 0 1 2 -0 3 ) [d ocu m en ts 2 0 /1 2 8 1 /F D I S an d 2 0 / 1 3 3 0 /R VD ] an d i ts

am en d m e n t 1 ( 2 01 7-0 7) [d o cu m e n ts 2 0 / 1 7 3 2 /F D I S an d 2 0 / 1 7 4 3 / R VD ] . Th e tech n i cal

co n te n t i s i d e n ti c a l to t h e b a s e e d i ti o n an d i ts am e n d m e n t.

Th i s Fi n al v e rs i o n d oes n ot sh ow w h e re th e tech n i cal co n te n t is m o d i fi e d by

am en d m e n t 1 . A s e p a ra t e Red l i n e v e rs i o n wi th al l ch an g es h i g h l i g h ted is avai l abl e in

th i s p u b l i c a ti o n .
–4– I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 : 201 7 CSV
 I EC 201 7
I nternational Standard I EC 6081 1 -202 has been prepared by I EC technical comm ittee 20:
Electric cables.

There are no specific technical changes with respect to the previous edition, but see the
Foreword to I EC 6081 1 -1 00: 201 2.

This publication has been drafted in accordance with the I SO/I EC Directives, Part 2.

This part of I EC 6081 1 shall be read in conj unction with I EC 6081 1 -1 00.

A list of all the parts in the I EC 6081 1 series, published under the general title Electric and
optical fibre cables – Test methods for non-metallic materials , can be found on the I EC
website.

The comm ittee has decided that the contents of the base publication and its amendment will
rem ain unchanged until the stability date indicated on the I EC web site under
"http://webstore. iec. ch" in the data related to the specific publication. At this date, the
publication will be
• reconfirmed,
• withdrawn,
• replaced by a revised edition, or
• amended.
I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 :201 7 CSV –5–
 I EC 201 7
I NTRODUCTI ON
The I EC 6081 1 series specifies the test m ethods to be used for testing non -m etallic materials
of all types of cables. These test m ethods are intended to be referenced in standards for
cable construction and for cable materials.

NOTE 1 Non-m etallic m aterials are typicall y used for i nsul ati ng, sheathin g, beddi ng, filli ng or taping withi n cabl es.
NOTE 2 These test m ethods are accepted as basic and fund am ental and h ave been d eveloped and used over
m any years princi pall y for the m aterials in all energ y cables. They have also been widel y accepted and used for
other cabl es, in particular optical fibre cabl es, comm unication and control cables and cabl es for ships an d offshore
appl ications.
–6– I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 : 201 7 CSV
 I EC 201 7
E L E C T RI C AN D O P T I C AL F I B RE C AB L E S –

T E S T M E T H O D S F O R N O N -M E T AL L I C M AT E RI AL S –

P a rt 2 0 2 : G e n e ra l te s ts –

M e a s u re m e n t o f t h i c k n e s s o f n o n - m e ta l l i c s h e a t h

1 S cop e

This Part 202 of I EC 6081 1 gives the m ethods for m easuring thicknesses of non -metallic
sheath which appl y to the most common types of sheathing com pounds (cross-linked, PVC,
PE, PP, etc. ).

2 N o rm a t i ve re fe re n c e s

The following documents, in whole or in part, are normatively referenced in this document and
are indispensable for its application. For dated references, onl y the edition cited applies. For
undated references, the latest edition of the referenced document (including an y
amendm ents) applies.

I EC 6081 1 -1 00: 201 2, Electric and optical fibre cables – Test methods for non-metallic
materials - Part 100: General

3 T e rm s a n d d e fi n i t i o n s

For the purposes of this document, the terms and definitions given in I EC 6081 1 -1 00 appl y.

4 Te s t m e th o d

4. 1 G e n e ra l

This part of I EC 6081 1 shall be used in conj unction with I EC 6081 1 -1 00.

The measurement of sheath thickness may be required as an individual test, or as a step in


the procedure for carrying out other tests, such as the measurement of mechanical properties.
The test m ethod applies to the m easurement of all sheaths for which thickness limits are
specified, for exam ple separation sheaths, as well as external sheaths.

In each case, the m ethod of selecting sam ples shall be in accordance with the relevant cable
standard.

4. 2 M e a s u ri n g eq u i pm en t

A m easuring microscope or a profile projector of at least 1 0 x magnification or an optical


digital image anal yser shall be used. These types of equipm ent shall allow a reading of
0, 01 mm and an estimated reading to three decimal places when m easuring insulation with a
specified thickness less than 0,5 mm.

For sheaths applied over longitudinall y irregular surfaces such as corrugated m etallic
sheaths, a m icrom eter having a ball nose radius of 1 mm and allowing a reading of 0, 01 mm
may be used. This m ethod is suitable onl y for corrugations having a radius greater than
1 mm.
I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 :201 7 CSV –7–
 I EC 201 7
I n case of doubt, the measuring m icroscope shall be taken as the reference m ethod.

4. 3 S am p l e an d te s t pi e ce p rep arati on

4. 3. 1 S h e ath s app l i ed o ve r l o n g i tu d i n al l y reg u l ar s u rface s

After all materials, if an y, inside and outside the sheath have been rem oved, each test piece
shall be prepared by cutting a thin slice along a plane perpendicular to the longitudinal axis of
the cable, using a suitable device.

If the sheath carries an indenting marking, thus giving rise to a local reduction in thickness,
the test piece shall include such marking.

4. 3. 2 S h e ath s app l i ed o ve r l o n g i tu d i n al l y i rreg u l a r s u rface s

Cut a short piece of sheath, perpendicular to the longitudinal axis of the cable, including at
least one complete pitch or helix formed by the underlying tape.

If using a ball nose micrometer, the sam ple m ay be left whole. I f using a mi croscope or profile
proj ector, the test piece shall be prepared by cutting six thin longitudinal slices (parallel to the
cable axis), using a suitable device.

4. 3 . 3 Sh e ath ap pl i ed ove r co rru g ated m etal l i c s h eath s

A sam ple of complete cable shall be taken, 500 m m from the end of the drum and of sufficient
length to include two peaks and two troughs. A reference line shall be drawn on the outer
surface of the over sheath, parallel to the axis of the cable. The position of the m inimum
thickness shall be determ ined on an annular ring taken from the end of the sam ple. A strip
shall then be cut at this minim um point parallel to the axis of the cable (the previousl y drawn
reference line shall be used to locate this position).

4. 4 M eas u ri n g pro ced u re

The test piece shall be placed under the measuring equipm ent with the plane of the cut
perpendicular to the optical axis.
a) When the inner profile of the test piece is of circular form , six m easurements shall be
made radiall y, each approxim atel y 60°, as shown in Figure 1 .
b) I f the substantiall y circular inner surface is not regular or smooth, six measurements shall
be made radiall y at the positions where the sheath is thinnest, as shown in Figure 2.
c) When the inner profile exhibits deep grooves caused by the cores, radial measurements
shall be taken at the bottom of each groove, as shown in Figure 3.
When the num ber of grooves exceeds six, item b) applies.
d) I n order to eliminate the influence of an y irregularities on the outer surface, which m ay be
due to the presence of a proofed tape or a ribbed sheath finish, the measurements shall
be made as shown in Figure 4.
e) I n the case of sheathed flat cables, measurements shall be taken on lines approxim ately
parallel to the minor axis and on the major axis of the cross-section, at the position of
each core, one of the m easurem ents being, however, m ade at the thinnest place, as
shown in Figure 5.
f) For sheathed flat cables composed of up to and including six single cores, m easurem ent
shall be taken as shown in Figure 6:
– on both rounded off sides, along the m ajor axis of the cross-section;
– on both flat sides, on the first and last core, and at the thinnest place (plus opposite
sheath thickness), if this does not coincide with any of the other measurements.
–8– I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 : 201 7 CSV
 I EC 201 7
For cables com posed of m ore than six cores, the above applies but m easurem ents shall
also be taken on the middle core, or on one of the two middle cores in the case of an even
number of cores.
g) For cables with a sheath applied over longitudinally irregular surfaces, the piece of sheath
prepared in accordance with 4. 3. 2 shall be m easured using a ball nose micrometer, to
determine the minimum thickness. Alternativel y, the six thin longitudinal slices prepared in
accordance with 4. 3. 2 shall be measured opticall y to determine the minimum thickness.
h) For cables with a sheath applied over a corrugated m etal sheath, four measurem ents shall
be taken on the longitudinal strip prepared in accordance with 4. 3. 3 at, respectively, two
peaks and two troughs of the corrugation.
I f the sheath carries an indented m arking, this shall not be included in the m easurements
made for the calculation of mean thickness. I n such cases, another slice shall be taken and
measurements made on areas not affected by the indented marking.

The readings shall be made in m illimetres to two decim al places.

I n all cases, the thickness at the position of the indented marking shall com pl y with the
minim um requirement specified in the relevant standard.

4.5 Evaluation of the measurement results


The results shall be evaluated as specified in the test requirem ents of the relevant cable
standard.

5 Test report
The test report shall be in accordance with that given in I EC 6081 1 -1 00.
I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 :201 7 CSV –9–
 I EC 201 7

IEC 245/12
Ke y

tm m inim um thickness

F i g u re 1 – M e as u rem en t o f s h e ath th i ckn es s (ci rcu l ar i n n e r p rofi l e )

IEC 251/12
Ke y

tm m inim um thickness

F i g u re 2 – M e as u rem en t of s h e ath th i ckn es s (i rre g u l ar ci rcu l a r i n n e r p rofi l e)


– 10 – I EC 6081 1 -202: 201 2+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7

IEC 252/12
Ke y

tm m inim um thickness

F i g u re 3 – M e a s u re m e n t o f s h e a th th i c kn e s s ( n o n -c i rcu l a r i n n e r p ro fi l e )

IEC 253/12
Ke y

tm m inim um thickness

F i g u re 4 – M e a s u re m e n t o f s h e a th th i c kn e s s ( i rre g u l a r o u te r s u rfa c e )
I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 :201 7 CSV – 11 –
 I EC 201 7

tm

IEC
Ke y
tm m inim um thickness

Figu re 5 – M easu rem en t of sh eath th i ckn ess (twin sh eath ed fl at cabl e)

Ke y IEC 255/12

tm m inim um thickness

Fi gu re 6 – M easu rem en t of sh eath th i ckn ess (fl at cabl e with si n gl e cores)


– 12 – I EC 6081 1 -202: 201 2+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
Bibliography
I EC 6081 1 -1 -1 : 1 993, Co m m o n te st m e th o ds for in sula tin g a n d sh e a th in g m a te ria ls o f e le ctric

ca b le s – Pa rt 1 : Me th o ds fo r ge n e ra l a p p lica tio n – Se ctio n 1 : Me a sure m e n t of th ickn e ss a n d

ove ra ll dim e n sion s – Te sts for de te rm in in g th e m e ch a n ica l p ro p e rtie s

(withdrawn)

____________
– 14 – I EC 6081 1 -202: 201 2+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
SOMMAIRE

AVANT-PROPOS . ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... .. 1 5
I NTRODUCTI ON .. ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... .. ... ... ... .. 1 7
1 Domaine d'application .. ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 1 8
2 Références normatives . ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... . 1 8
3 Termes et définitions . ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... . 1 8
4 Méthode d’essai ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... 1 8
4. 1 Généralités... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. 1 8
4. 2 Matériel de mesure . ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 1 8
4. 3 Préparation des échantillons et des éprouvettes . ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... . 1 9
4. 3. 1 Gaines appliquées sur des surfaces longitudinalem ent régulières.. ... ... ... ... 1 9
4. 3. 2 Gaines appliquées sur des surfaces longitudinalem ent irrégulières . ... ... ... . 1 9
4. 3. 3 Gaine appliquée sur les gaines m étalliques ondulées . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 1 9
4. 4 Méthode de m esure ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 1 9
4. 5 Evaluation des résultats de mesure .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... ... ... . 20
5 Rapport d'essai .. ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... . .. ... ... 20
Bibliographie ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... . 24

Figure 1 – Mesure de l'épaisseur d'une gaine (profil intérieur circulaire) . ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . 21
Figure 2 – Mesure de l'épaisseur d'une gaine (profil intérieur circulaire irrégulier) .. ... ... .. ... ... 21
Figure 3 – Mesure de l'épaisseur d'une gaine (profil intérieur non circulaire) .. ... ... ... ... ... ... .. .. 22
Figure 4 – Mesure de l'épaisseur d'une gaine (su rface extérieure irrégulière) ... ... ... ... ... ... ... .. 22
Figure 5 – Mesure de l'épaisseur d'une gaine (câble m éplat sous gaine à deux
conducteurs) ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... 23
Figure 6 – Mesure de l'épaisseur d'une gaine (câble m éplat composé de
monoconducteurs) .. ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . .. ... ... .. 23
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 I EC 201 7
COMMI SSION ÉLECTROTECHNIQUE I NTERNATIONALE
____________
C ÂB L E S É L E C T RI Q U E S E T À F I B RE S O P T I Q U E S –

M É T H O D E S D ’ E S S AI P O U R L E S M AT É R I AU X N O N -M É T AL L I Q U E S –

P a rti e 2 0 2 : E s s a i s g é n é ra u x –

M e s u re d e l ' é p a i s s e u r d e s g a i n e s n o n m é ta l l i q u e s

AVANT-PROPOS
1 ) La Com m ission Electrotechni que I ntern ational e (I EC) est une organisation m ondial e de norm alisation
com posée de l'ensem ble des com ités électrotechni ques n ati onaux (Com ités nationau x de l ’I EC). L’I EC a pour
objet de favoriser l a coopérati on i nternati onale pour toutes l es questi ons d e n orm al isation dans l es dom ain es
de l'él ectricité et de l'électroniq ue. A cet effet, l’I EC – entre autres activités – publi e des Norm es
internati onales, d es Spécifications tech niq ues, d es Rapports techniq ues, d es Spécificati ons accessibles au
publ ic (PAS) et des Gui des (ci -après d énom m és "Publication (s) de l’I EC"). Leu r élaboration est confiée à des
com ités d'études, au x travau x desquels tout Com ité nation al intéressé par le suj et traité peut participer. Les
org anisati ons intern ation ales, gou vern em entales et non gou vernem entales, en liaison avec l ’I EC, participent
égal em ent au x travau x. L’I EC collabore étroitem ent avec l'Organisati on I ntern ation ale de N orm alisation (I SO),
selon d es conditi ons fi xées par accord entre l es deu x organisations.
2) Les décisions ou accords officiels d e l’I EC concern ant l es q uestions techni ques représentent, d ans l a m esure
du possibl e, u n accord intern ation al su r l es suj ets étu diés, étant d onn é qu e les Com ités nati onau x d e l ’I EC
intéressés sont représentés d ans chaqu e com ité d’étud es.
3) Les Publicati ons de l’I EC se présentent sous la form e de recomm andations internati onal es et sont agréées
comm e telles par les Com ités nation au x de l’I EC. Tous les efforts raisonn abl es sont entrepris afin que l’I EC
s'assure de l'exactitude du con tenu techni qu e de ses publications; l’I EC n e peut pas être tenue responsabl e de
l'éventu elle m auvaise utilisation ou i nterprétation qu i en est faite par u n qu elcon qu e utilisateur fi nal.
4) Dans l e but d'encou rager l'u ni form ité internati on ale, l es Com ités nationau x de l ’I EC s'en g agent, dans toute la
m esure possibl e, à appl iquer d e façon transparente l es Publi cations d e l’I EC dans leu rs pu blications nati on ales
et régional es. Toutes divergences entre toutes Publ ication s de l’I EC et toutes publicati ons nati on ales ou
rég ion ales correspon dantes doivent être ind iqu ées en term es clairs dans ces dernières.
5) L’I EC elle-m êm e ne fou rn it aucune attestati on de conform ité. Des organism es de certifi cation i nd épend ants
fournissent d es services d 'évaluati on de conform ité et, dans certai ns secteu rs, accèdent au x m arq ues d e
conform ité de l’I EC. L’I EC n'est responsabl e d'aucu n des services effectués par les org anism es de certification
indépendants.
6) Tous l es utilisateurs d oi vent s'assurer qu'ils sont en possession d e la d ernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne d oit être im putée à l ’I EC, à ses adm inistrateurs, em ployés, au xi liai res ou
m andataires, y com pris ses experts particuli ers et les m em bres de ses com ités d'études et des Com ités
nationau x d e l’I EC, pour tout préjudice causé en cas d e domm ages corporels et m atériel s, ou de tout autre
dom m age de quel que n atu re q ue ce soit, directe ou i ndi recte, ou pou r supporter les coûts (y com pris les frais
de justice) et les dépenses d écoulant de l a publicati on ou d e l'utilisati on de cette Pu blication d e l’I EC ou d e
toute autre Publicati on d e l’I EC, ou au crédit q ui lui est accord é.
8) L'attenti on est attirée sur les références norm atives citées dans cette publicati on. L'utilisation de publications
référencées est obl igatoire pour un e applicati on correcte de la présente publicati on.
9) L’attention est atti rée sur l e fait q ue certai ns des él ém ents de la présente Pu blication de l’I EC peu vent faire
l’obj et de d roits de brevet. L’I EC ne sau rait être ten ue pour responsable d e ne pas avoir id entifié d e tels droits
de brevets et de ne pas avoi r signalé leur existence.

D É G AG E M E N T D E R E S P O N S AB I L I T É

C e tte v e rs i o n con sol i d ée n ’ est pas une N o rm e I EC o ffi c i e l l e , el l e a é té p ré p a ré e par

co m m od i té pou r l ’ u t i l i s a t e u r. S eu l es les v e rs i o n s c o u ra n t e s de c e tte n o rm e et de

son (ses) a m e n d e m e n t ( s ) d o i v e n t ê t re c o n s i d é ré e s c o m m e l e s d o c u m e n t s o ffi c i e l s .

C e tte v e rs i o n con so l i d ée de l’IEC 60 8 1 1 -2 0 2 p o rt e le n u m é ro d ' é d i ti o n 1 .1 . El le

c o m p re n d la p re m i è re é d i ti o n ( 2 0 1 2 -0 3 ) [d o c u m e n ts 2 0 /1 2 8 1 /F D I S et 2 0 / 1 3 3 0 /R V D ] et

son am en d em en t 1 ( 2 0 1 7 -0 7 ) [d ocu m e n ts 2 0 /1 7 3 2 /F D I S et 2 0 /1 7 4 3 / R V D ] . Le con ten u

tech n i q u e es t i d e n ti q u e à ce l u i d e l ' éd i ti on d e base et à son am en d em en t.


– 16 – I EC 6081 1 -202: 201 2+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
Cette version Finale ne montre pas les modifications apportées au contenu technique
par l’amendement 1 . Une version Redline montrant toutes les modifications est
disponible dans cette publication.
La N orme internationale I EC 6081 1 -202 a été établie par le com ité d’études 20 de l’I EC:
Câbles électriques.

Aucune modification technique n’a été effectuée par rapport à l’édition précédente; voir
cependant l’avant-propos de l’I EC 6081 1 -1 00: 201 2.

Cette publication a été rédigée selon les Directives I SO/I EC, Partie 2.

La présente partie de l’I EC 6081 1 doit être utilisée conjointem ent avec l’I EC 6081 1 -1 00.

Une liste de toutes les parties de la série I EC 6081 1 , publiées sous le titre général Câ b le s

é le ctrique s e t à fib re s o p tique s – Mé th o de s d’e ss a i p o ur le s m a té ria ux n o n - m é ta llique s , peut


être consultée sur le site web de l’I EC.

Le com ité a décidé que le contenu de la publication de base et de son amendem ent ne sera
pas m odifié avant la date de stabilité indiquée sur le site web d e l’I EC sous
"http://webstore. iec.ch" d ans les données relatives à la publication recherchée. A cette date,
la publication sera
• reconduite,
• supprimée,
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 :201 7 CSV – 17 –
 I EC 201 7
I NTRODUCTI ON
La série I EC 6081 1 précise les méthodes à employer pour les essais des m atériaux non-
métalliques sur tous les types de câbles. Ces méthodes d’essai seront citées en référence
dans les norm es relatives à la construction des câbles et aux m atériaux des câbles.

NOTE 1 Les m atéri au x non-m étalli ques sont généralem ent utilisés pou r l’isol ation, le gain age, le m atelassag e, le
rem plissage ou le ruban age des câbles.
NOTE 2 Ces m éthodes d’essai sont reconn ues com m e fondam ental es; ell es ont été d éveloppées et utilisées
durant de nom breuses années, pri ncipal em ent pour les m atériau x dans tous l es câbl es de distribution d’ énerg ie.
Elles ont aussi été larg em ent reconn ues et utilisées pour d’ autres types de câbles, en parti culier les câbles à fibres
optiq ues, les câbles d e communication et de comm ande, ai nsi que l es câbles utilisés à bord des navi res et dans
les appl ications offshore.
– 18 – I EC 6081 1 -202: 201 2+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
C ÂB L E S É L E C T RI Q U E S E T À F I B RE S O P T I Q U E S –

M É T H O D E S D ’ E S S AI P O U R L E S M AT É R I AU X N O N -M É T AL L I Q U E S –

P a rti e 2 0 2 : E s s a i s g é n é ra u x –

M e s u re d e l ' é p a i s s e u r d e s g a i n e s n o n m é ta l l i q u e s

1 D o m a i n e d ' a p p l i ca ti o n

La présente Partie 202 de l’I EC 6081 1 décrit les méthodes pour la mesure des épaisseurs
des gaines non-métalliques, qui s’appliquent aux types les plus courants des mélanges
utilisés pour les gaines (réticulés, PVC, PE, PP, etc.).

2 Ré fé re n c e s n o rm a t i ve s

Les documents suivants sont cités en référence de m anière normative, en intégralité ou en


partie, dans le présent document et sont indispensables pour son application. Pour les
références datées, seule l’édition citée s’applique. Pour les références non datées, la
dernière édition du docum ent de référence s’applique (y com pris les éventuels
amendem ents).

I EC 6081 1 -1 00: 201 2, Câ b le s é le ctriq ue s et à fib re s o p tique s – Mé th o de s d'e ssa i p o ur le s

m a té ria ux n o n -m é ta lliq ue s – Pa rtie 1 00: G é n é ra lité s

3 T e rm e s e t d é fi n i t i o n s

Pour les besoins du présent docum ent, les termes et définitions donnés dans l’I EC 6081 1 -1 00
s’appliquent.

4 M éth od e d ’ e s s ai

4. 1 G é n é ra l i t é s

La présente partie de l’I EC 6081 1 doit être utilisée conjointement avec l’I EC 6081 1 -1 00.

La m esure de l'épaisseur de la gaine peut être exigée à titre d'essai individuel ou com me une
opération dans la procédure d'exécution d'autres essais, comm e la déterm ination des
propriétés mécaniques. La m éthode d'essai s'applique à la mesure de toutes les gaines pour
lesquelles des lim ites d’épaisseur sont spécifiées, par exem ple les gaines de séparation aussi
bien que les gaines externes.

Dans chaque cas, les échantillons doivent être prélevés en utilisant les méthodes indiquées
dans la norm e applicable au type de câble considéré.

4. 2 M a t é ri e l d e m e s u re

On doit utiliser un m icroscope de mesure ou un proj ecteur de profil perm ettant un


grossissem ent d'au moins 1 0 fois ou bien un analyseur d’image num érique optique. Ces types
d’instrum ents doivent permettre de lire avec précision le centièm e de millim ètre
(0, 01 m m) et d'estimer la troisièm e décim ale lorsqu'on mesure des enveloppes isolantes
d’épaisseurs spécifiées inférieures à 0, 5 mm.
I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 :201 7 CSV – 19 –
 I EC 201 7
Pour les gaines appliquées sur des surfaces longitudinalement irrégulières comme dans le
cas des gaines m étalliques ondu lées, il est perm is d’utiliser un m icrom ètre ayant un e
extrém ité sphérique de 1 m m de rayon et perm ettant de lire avec précision le centièm e de
millim ètre (0,01 mm). Cette m éthode est adaptée uniquement pour les ondulations dont le
rayon est supérieur à 1 mm .

En cas de doute, la mesure au microscope doit être prise comme méthode de référence.

4. 3 P ré p arati on d e s é ch an ti l l on s et d es ép rou vette s

4. 3. 1 G ai n e s ap pl i q u ée s s u r d e s s u rface s l on g i tu d i n al em en t rég u l i è res

Après avoir retiré, le cas échéant, tous les m atériaux à l'intérieur et à l'extérieur du tronçon de
gaine, on doit préparer chaque éprouvette en coupant avec un appareil approprié une tranche
mince suivant un plan perpendiculaire à l'axe longitudinal du câble.

Si la gaine porte un m arquage en creux, ayant ainsi localem ent une épaisseur réduite, on doit
prélever l'éprouvette de manière à inclure un tel m arquage.

4. 3. 2 G ai n e s ap pl i q u ée s s u r d e s s u rface s l on g i tu d i n al em en t i rré g u l i ère s

Couper un m orceau de gaine de faible longueur, perpendiculairement à l’axe longitud inal du


câble, incluant au moins un pas com plet ou une hélice complète form é par le ruban sous-
jacent.

Si un m icrom ètre ayant une extrémité sphérique est utilisé, l’échantillon peut être laissé
complet. Si un microscope ou un proj ecteur de profil est utilisé, l’éprouvette doit être préparée
en coupant six tranches longitudinales fines (parallèlement à l’axe du câble), en utilisant un
appareil approprié.

4. 3 . 3 G ai n e appl i q u é e s u r l es g a i n e s m étal l i q u e s on d u l é e s

Un échantillon de câble com plet doit être prélevé à 500 m m de l’extrémité du touret et il doit
être d’une longueur suffisante pour inclure deux crêtes et deux creux. U n trait de référence
doit être tracé sur la surface extérieure de la gaine externe, parallèlem ent à l’axe du câble. La
position de l’épaisseur m inim ale doit être déterminée sur un e ondulation à partir de
l’extrém ité de l’échantillon. U ne bande doit ensuite être coupée au niveau de ce point
minimum parallèlement à l’axe du câble (le trait de référence tracé précédem ment doit être
utilisé pour situer cette position).

4. 4 M éth od e d e m e s u re

L'éprouvette doit être placée sous l'appareil de mesure, le plan de coupe étant
perpendiculaire à l'axe optique.
a) Si le profil intérieur de l'éprouvette est circulaire, on procède à six mesures radiales,
chacune à approxim ativement 60°, comme indiqué à la Figure 1 .
b) Si la surface intérieure pratiquem ent circulaire n'est ni régulière ni lisse, on doit procéder
à six m esures radiales dans les positions où la gaine est la plus m ince, comm e indiqué à
la Figure 2.
c) Si le profil intérieur n'est pas circulaire à cause des empreintes des conducteurs, on doit
effectuer un nom bre approprié de mesures radiales au fond des empreintes form ées par
les conducteurs, comme indiqué la Figure 3.
S’il y a plus de six empreintes, les m odalités du point b) s’appliquent.
d) En vue d'élim iner l'influence d'éventuelles irrégularités sur la surface externe, qui peuvent
être dues à la présence d'un ruban ou de stries sur la gaine, les m esures doivent être
faites comm e indiqué à la Figure 4.
– 20 – I EC 6081 1 -202: 201 2+AM D1 : 201 7 CSV
© I EC 201 7
e) Dans l e cas d e câbl es m épl ats sous g ai ne, les m esures doi vent être faites su i vant d es
d irections sensiblem en t paral l èl es au petit axe et sur l e grand axe d e l a secti on du câbl e,
au n i veau d e ch acun d es cond ucteurs, un e d es m esures étan t faite tou tefois à l'end roi t où
l'épaisseur est l a pl us fai ble, com m e in d iq u é à l a Fi gu re 5.
f) Pour les câbles m éplats sous g ain e com posés d e six cond ucteurs au plu s, les m esures
doi vent être faites com me i nd i q ué à la Fi gure 6:
– sur ch acu n d es bords arron d is su ivan t l e gran d axe d e l a secti on du câbl e;
– sur chacu ne d es parti es pl an es au ni veau d u prem ier et d u d erni er con ducteur, et à
l'en droit où l a gai ne est l a pl us m ince (on m esure égal em en t l 'épaisseur opposée) si
cela n e coïnci d e pas avec u n e des au tres m esures.
Pour les câbl es com portan t pl us d e six con ducteurs, on procède com m e ci-dessus, m ais
des m esures d oi vent être faites égalem ent au n i veau du cond ucteur m éd ian, ou d e l'u n
des deux cond ucteurs m éd i ans dans l e cas d 'u n n om bre pair d e con d ucteu rs.
g) Pour les câbles ayan t un e gain e appl iq u ée sur d es surfaces longi tu d i nal em ent
irrég u l ières, l e m orceau de g ain e préparé conform ém ent à 4. 3. 2 d oit être m esuré en
util isan t u n m icrom ètre ayan t un e extrém ité sph éri qu e, pour détermi ner l’épaisseur
m inim al e. Comm e al tern ati ve, l es six tran ches l on gitu d in ales fi nes préparées
conform ém ent à 4. 3. 2 d oivent être m esurées opti qu em en t pou r d éterm i ner l ’épaisseur
m inim al e.
h) Pour l es câbl es ayan t un e g ai n e appl iq u ée su r u ne gain e m étal li q ue on d u lée, q u atre
m esures doiven t être pri ses sur la ban de l ong itu d in ale préparée conform ém ent à 4. 3. 3
respectivem en t au n i veau d e deux crêtes et d e d eux creux d ’ ond ul ati on .
Si l a gai ne porte u n m arqu age en creux, cel u i-ci ne d oit pas être i nclus d ans l es m esurages
uti l isés pour l e calcu l d e l'épaisseur m oyen ne. Dans d e tels cas, u n e nou vel l e d écou pe d oit
être réal isée et d es m esurages d oi vent être effectu és sur d es zones n on affectées par l e
m arqu age en creux.

Les lectures d oi ven t être effectuées en m il lim ètres à la d euxièm e d écim ale.

Dans tous l es cas, l'épaisseur à l'endroi t d u m arqu age en creux d oit répon dre à l’ exi gence
d'épaisseur m in im ale spécifiée dans l a n orm e appl icabl e.

4. 5 Evalu ati on d es résu l tats d e m esu re

Les résu ltats d oi vent être évalués su i van t l es exigences d ’essai d e la n orm e applicabl e au
câbl e consid éré.

5 Rapport d'essai

Le rapport d ’essai doi t être conform e à celu i fi guran t d ans l ’I EC 6081 1 -1 00.
I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 :201 7 CSV – 21 –
 I EC 201 7

IEC 245/12
Lé g en d e

tm épaisseur m inim ale

F i g u re 1 – M e s u re d e l ' é p ai s s e u r d ' u n e g ai n e (p ro fi l i n té ri eu r ci rcu l ai re )

IEC 251/12
Lé g en d e

tm épaisseur m inim ale

F i g u re 2 – M e s u re d e l ' é pai s s e u r d ' u n e g ai n e (p rofi l i n té ri eu r ci rcu l ai re i rrég u l i e r)


– 22 – I EC 6081 1 -202: 201 2+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7

IEC 252/12
Légende

tm épaisseur m inim ale

Figu re 3 – M esu re de l'épaisseur d'un e gaine (profil intéri eu r non ci rcul ai re)

IEC 253/12
Légende

tm épaisseur m inim ale

Figu re 4 – M esu re d e l'épai sseur d'un e gai ne (surface extéri eu re i rrégu lière)
I EC 6081 1 -202: 201 2+AMD1 :201 7 CSV – 23 –
 I EC 201 7

tm

IEC
Lég en d e

tm épaisseur m inim ale

Figu re 5 – M esu re d e l'épai sseu r d'u n e g ai n e


(câbl e mépl at sou s g ain e à deu x con d u cteu rs)

Lég en d e
IEC 255/12

tm épaisseur m inim ale

Figu re 6 – M esu re d e l'épai sseu r d'u n e g ai n e


(câbl e mépl at composé de mon ocon du cteu rs)
– 24 – I EC 6081 1 -202: 201 2+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
Bibliographie
I EC 6081 1 -1 -1 : 1 993, Mé th o de s d'e ss a is co m m un e s p o ur le s m a té ria ux d'is o la tion et de

ga in a ge de s câ b le s é le ctriq ue s – Pa rtie 1: Mé th o de s d'a p p lica tio n gé n é ra le – Se ctio n 1:

Me sure de s é p a iss e urs et de s dim e n s ion s e xté rie ure s – Dé te rm in a tio n de s p ro p rié té s

mé ca n ique s

(retirée)

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INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
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