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Fiabilité dans le temps des équipements

I- 1 DEFINITION

La fiabilité est la caractéristique d’un dispositif exprimée par la probabilité que ce
dispositif accomplisse une fonction requise dans des conditions d’utilisation et
pour une période de temps déterminés.
Dans cette définition, nous retenons les concepts de :

 Probabilité associée à une date

 Fonction requise dont la définition implique un seuil d’admissibilité en deçà


duquel, la fonction n’est plus remplie.

 Condition d’utilisation c'est-à-dire l’environnement et ses variations, les


contraintes mécaniques, chimiques, physiques…

 Période de temps qui définit la durée de la mission en unités d’usage.


• On notera R(t) = P (probabilité d’accomplir une mission).

• Le symbole est R traduction du mot anglais « Reliability ».

• Une caractéristique de la fiabilité est la MTBF (Mean Time Between Failure », ou


« Moyenne des Temps de Bon Fonctionnement).

• La MTBF correspond à l’espérance mathématique de la variable aléatoire T, date


d’apparition d’une panne.
I-2 Les concepts de fiabilité, maintenabilité et disponibilité

• Ces trois concepts notés respectivement : R(t), M(t) et D(t) sont des fonctions du
temps.

• Ils sont envisagés soit de façon prévisionnelle (avant usage) soit de façon
opérationnelle (pendant ou après usage).
• De même, la maintenabilité, qui est la probabilité que le dispositif après
défaillance, soit remis en état de fonctionnement donné et dans un état donné

• Elle est caractérisée par la MMTTR (Mean Time To Repair ou encore Moyenne
Technique des Temps de Réparation).
I-3 Vie d’un matériel

Elle comprend une alternance d’arrêts et de « bon fonctionnement », pendant sa


durée potentielle d’utilisation (t0 = temps requis, t1 = TO)

TBF1 TA1 TBF2 TA2 TBF3 TA3 TBF4

t0 t1
• Ces durées peuvent être observées ou estimées.
• Une partie variable des TA est constituée des TTR (temps technique de
réparation).
Indicateur de disponibilité : D(t) = (TO - TA)/TO
I-4 MTBF et MTTR

• La moyenne des temps de bon fonctionnement, la MTBF, est la valeur moyenne


entre défaillances consécutives, pour une période donnée de la vie d’un dispositif :
𝑛 𝑇𝐵𝐹
0 𝑖
MTBF =
𝑛
• De manière similaire, nous avons la MTTR (moyenne des temps techniques de
réparation) :
𝑛 𝑇𝑇𝑅
0 𝑖
MTTR =
𝑛

• Ces valeurs sont calculées (après observation), estimées, prédites ou extrapolées.


Vie d’un matériel

Maintenabilité M(t)
R(t), fiabilité, probabilité de
Probabilité de durée de
bon fonctionnement
réparation

MTBF MTTR
Moyenne des temps de Moyenne techniques
bon fonctionnement des temps de réparation

Disponibilité D(t)
Probabilité d’assurer un service requis
D(t)  MTBF/(MTBF + MTTR)
II- La durée de vie d’un équipement comporte trois grandes phases :

Phase1: Jeunesse (défaillances précoces)

• - en état de fonctionnement à l’origine

• - période de rodage

• - présélection des composants électroniques


Phase2: Maturité (période de vie utile, défaillances aléatoires)

• - période de rendement optimal du matériel

• - taux de défaillance constant

• - les défaillances apparaissent sans dégradations préalables visibles, par


des causes diverses, suivant un processus poissonnien (défaillance
aléatoires).
Phase 3 : Obsolescence (vieillesse, usure)

 A un certain seuil du taux de défaillance, le matériel est « mort ». Il est alors


déclassé, puis rebuté ou parfois reconstruit. La détermination de T, seuil de
réforme, est obtenue à partir de critères technico-économiques.

 Un mode de défaillance généralement visible, entraîne une dégradation


accélérée, à taux de défaillance croissant (pour un mécanisme). Souvent on
trouve une usure mécanique, de la fatigue, une érosion ou une corrosion.
la courbe en baignoire d'un équipement
• Elle caractérise l'évolution du taux de défaillance pendant la durée de vie de
l'équipement.
III- Fiabilité opérationnelle et fiabilité prévisionnelle

• La fiabilité opérationnelle est obtenue après une suite de défaillances potentielles :

Défaillances de Défaillances de Défaillances


Fiabilité idéale = 1
conception composants de fabrication

Fiabilité Défaillances dues à Défaillances


opérationnelle l’utilisation de montage
IV- Estimateurs de la fiabilité d’un dispositif

• Dans tout ce paragraphe, nous nous intéressons à un dispositif choisi au hasard


dans une population constituée des dispositifs de même type.

• On désigne par T la variable aléatoire qui, a tout dispositif choisi au hasard dans
la population, associe son temps de bon fonctionnement ou sa durée de vie avant
défaillance.

• Pour simplifier, l’origine des temps t = 0 est choisie lorsque le dispositif est mis en
marche pour la première fois.

• Notre variable T est donc une variable aléatoire continue à valeurs dans [0; + [.

• Nous noterons f la densité de probabilité de la variable T.


IV-1 Fonction défaillance : Fonction fiabilité
• On appelle fonction de défaillance la fonction F définie pour tout t 0 par:
F(t) = P(Tt)
Le nombre F(t) représente la probabilité qu’un dispositif choisi au hasard dans la
population ait une défaillance avant l’instant t.
• Cette fonction nous amène naturellement une fonction associée :
• la fonction fiabilité R définie pour tout t 0 par :
R(t) = 1 - F(t)
Le nombre R(t) représente la probabilité qu’un dispositif choisi au hasard dans la
population n’ait pas de défaillance avant l’instant t.
Probabilités complémentaires

R(t) = 1 - F(t)  F(t) + R(t) = 1

𝑡 ∞

𝑓 𝑡 𝑑𝑡 + 𝑓 𝑡 𝑑𝑡 = 1
0 𝑡
On note que : f(t) la fonction de répartition ou densité de probabilité
IV-2 Taux de défaillance instantané noté (t)

• Sur la courbe représentative de la fonction de défaillance F, on s’intéresse à la pente


de la tangente pour un instant t donné.
• (Cette pente est égale à F’(t))
• On appelle taux de défaillance instantané à l’instant t ce nombre, et on le note λ(t).
• Pour tout t0 , on a :
𝑓 𝑡
(t) =
𝑅(𝑡)
𝑡
Puisque F(t) = 0
𝑓 𝑥 𝑑𝑥  F’(t) = f(t)
𝐹 ′ (𝑡)
Alors (t) =
𝑅(𝑡)
𝑅 ′ (𝑡)
Comme R(t) = 1 – F(t), on a également : (t) = −
𝑅(𝑡)
 Le taux de défaillance par analogie avec la « vitesse », représente la vitesse d’arrivée des
pannes.
 Le taux de défaillance, noté (t) , est un estimateur de fiabilité.
 Il représente une proportion de dispositifs survivants à un instant t.
 Sa forme générale est Nombre de défaillance/durée d’usage.
 Il s’exprimera en « pannes/heures ».
Remarque :
• En fiabilité, le taux de défaillance devra exclure les défaillances extrinsèques à l’ensemble
analysé, telles que les pannes dues à une faute de humaine ou à une influence
accidentelle du milieu extérieur.

• Nous définissons un taux moyen de défaillance pendant un intervalle (t, t+Δt), puis un
taux instantané (t) lorsque Δt→0.
IV-3 Densité de probabilité conditionnelle de défaillance

• Statistiquement, (t)dt est une densité de probabilité conditionnelle de défaillance


qui caractérise la probabilité de défaillance, dans l’intervalle dt, de dispositifs ayant
survécu à l’instant t.
IV-4 Taux de défaillance moyen
Cas 1 : les éléments défaillants sont remplacés dans l’intervalle Δt
Soit : N0 : le nombre initial de dispositif et Ns(t) : le nombre de survivant à l’instant t,
Dans ce cas (éléments défaillants remplacés) le lot de dispositifs est constant, donc
Ns(t)=N0
o Ns(t+Δt) : le nombre de survivant à l’instant t+Δt
o C(Δt) = Ns(t) - Ns(t+Δt) : le nombre de défaillants pendant Δt

𝐶(∆𝑡)
Le taux de défaillance moyen sur l’intervalle Δt est : (t) =
𝑁0 ∆𝑡
Cas 2 : les éléments défaillants ne sont pas remplacés (ou non réparés).

• Dans ce cas Ns(t)≠No, la fonction Ns(t) étant décroissante, le taux de défaillance


moyen sur l’intervalle Δt est :

𝑁𝑠 𝑡 −𝑁𝑠 (𝑡+∆𝑡)
(t) = avec (t)≥0
𝑁𝑠 (𝑡)∆𝑡
IV-5 Fréquence cumulée de défaillances

• C’est la probabilité de défaillance à l’instant t

𝑛(𝑡) 𝑛(𝑡+𝑑𝑡)
F(t) = et F(t+dt) =
𝑁0 𝑁0
IV-6 fréquence instantanée de défaillance par f(i)

Nous définissons la fréquence instantanée de défaillance par f(i) :

𝑛𝑖 𝑁𝑠 𝑡 −𝑁𝑠 (𝑡+𝑑𝑡)
f(i) = =
𝑁0 𝑁0 𝑡 𝑑𝑡

𝑛𝑖 est le nombre de défaillance par dt


IV-7 Expression du taux de défaillance instantané en fonction des survivants N(t)

Il s’applique aux seuls survivants à l’instant t et caractérise leur probabilité


conditionnelle de défaillance dans l’intervalle t+dt :

𝑑𝑁 𝑑𝑁
(t) = − ou (t) 𝑑𝑡 = −
𝑁 𝑡 𝑑𝑡 𝑁 𝑡

Remarque, le signe – s’explique par la décroissance de N(t)


 Soit N0 le nombre de dispositifs fonctionnant à l’instant t=0,

 N(t) le nombre de dispositifs fonctionnant à l’instant t,

 N(t+Δt) le nombre de dispositifs fonctionnant à l’instant t+ Δt

𝑁(𝑡)
est un estimateur de fiabilité de R(t) ;
𝑁0

N(t)- N(t+ Δt) = ΔN > 0 et N(t+ Δt) – N(t) = - ΔN

 Si Δt tend vers 0, l’estimateur tend vers une limite qui est le taux de défaillance
𝑑𝑁
instantané : (𝑡)𝑑𝑡 = −
𝑁(𝑡)

𝑓(𝑡)
 Si f(t) est la densité de probabilité, nous aurons : (𝑡)𝑑𝑡 =
𝑅(𝑡)
V- Fiabilité

𝑑𝑁
• On intègre l’équation (𝑡)𝑑𝑡 = − entre 0 et 𝑡,
𝑁(𝑡)

𝑡

𝑡
(𝑡)𝑑𝑡 =
𝑡 𝑑𝑁
= 𝐿𝑛 𝑁 𝑡 + 𝑐𝑡𝑒  𝑁 𝑡 =k 𝑒− 0 (𝑡)𝑑𝑡
0 0 𝑁(𝑡)

Pour t=0 , 𝑁(𝑡) = 𝑁0 d’où k = 𝑁0

𝑡 𝑡 𝑡
𝑁 𝑡 = 𝑁0 𝑒 − 0 (𝑡)𝑑𝑡 
𝑁(𝑡)
= 𝑒− 0 (𝑡)𝑑𝑡  R(𝑡) = 𝑒− 0 (𝑡)𝑑𝑡
𝑁0

Cette relation est fondamentale car,  la loi de fiabilité, elle permet un tracé
expérimental de fiabilité en fonction du temps, l’évolution du taux de défaillance
étant connu.
VI – MTTF (Mean Time To Failure) ou MTBF

Moyenne des temps de bon fonctionnement entre deux défaillances ou le temps


moyen entre défaillances.

Elle correspond à l’espérance mathématique de la variable aléatoire T, elle a pour



expression : MTBF = E(T) = 0
𝑅 𝑡 𝑑𝑡

𝑆𝑜𝑚𝑚𝑒 𝑑𝑒𝑠 𝑡𝑒𝑚𝑝𝑠 𝑑𝑒 𝑏𝑜𝑛 𝑓𝑜𝑛𝑐𝑡𝑖𝑜𝑛𝑛𝑒𝑚𝑒𝑛𝑡 𝑒𝑛𝑡𝑟𝑒 𝑛 𝑑é𝑓𝑎𝑖𝑙𝑙𝑎𝑛𝑐𝑒𝑠


MTBF =
𝑁𝑜𝑚𝑏𝑟𝑒 𝑑𝑒𝑠 𝑡𝑒𝑚𝑝𝑠 𝑑𝑒 𝑏𝑜𝑛 𝑓𝑜𝑛𝑡𝑖𝑜𝑛𝑛𝑒𝑚𝑒𝑛𝑡

On admettra que, pour la loi exponentielle de paramètre , on a


1
E(T) = = MTBF

VII- Différentes lois de survie
• Trois lois statistiques sont utilisées pour les fiabilistes pour ajuster les phénomènes
d’apparition des défaillances:
 La loi « normale » de Gauss, la distribution des défaillances apparaît centrée autour
d’une valeur moyenne.
• La loi exponentielle, elle correspond à un taux de défaillance qui apparaissent suivant un
processus « poissonnien », c'est-à-dire avec des causes indépendantes entre elles et
indépendantes du temps.
R(t) = exp(- (t))
 La loi de Weibull, c’est une loi à trois paramètres permettant d’ajuster des taux de
défaillances croissant ou décroissant.
−(
t −  )
R(t) = 𝑒 
Suivant les valeurs du paramètre de forme ß, on retrouve les lois précédentes :
• 3 < ß < 4 loi normale de Gauss
• ß = 1 loi exponentielle
Durée de vie associé à un seuil de fiabilité

Il s’agit de déterminer à quel instant ti, la fiabilité atteindra le seuil Ri.


On tire t de la loi R(t) (relation réciproque) puis ti, valeur particulière associée à Ri.

Exemple de la loi de Weibull :

t − )
−(  1 𝛽1
R(t) = 𝑒  t =  + (𝐿𝑛 )
R(t)
VIII- Association de matériel

Modélisation « série-parallèle »
• Considérons un système S constitué de N éléments (chaîne cinématique en
mécanique, carte électronique, circuit pneumatique…)
 Si la défaillance d’un élément entraîne celle de S et si les défaillances sont
indépendantes, l’ensemble est dit en « série ».
 S’il suffit que l’un des éléments fonctionne pour que S fonctionne, alors
l’ensemble est dit en « parallèle ».
• En cas de systèmes complexes, ou en cas de dépendance des défaillances, il
existe des méthodes de combinaison de défaillances qui permettent d’analyser
des répercussions des pannes sur S.
VIII-1 Matériels en série

• Soit n équipements en série.

• La fiabilité résultante est donnée par


R(t) = R1(t)xR2(t)xR3(t)x...xRn(t)
R(t) = 𝑛1 𝑅𝑖 (𝑡)
VIII-2 Matériels en parallèle

• Soit n équipements en parallèle :

La fiabilité résultante est donnée par :


F(t) = F1(t)xF2(t)xF3(t)x...xFn(t)

ou
1 - R(t) = (1 - R1(t)) x (1 – R2(t)) x (1 – R3(t)) x....x (1 - Rn(t))

𝑛
R(t) = 1 - 1 (1 − 𝑅𝑖 (𝑡))

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