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El funcionamiento de un STM puede resumirse en los siguientes puntos:
Se acerca una punta metálica afilada a una superficie y se aplica una tensión entre punta y
muestra
Se establece una corriente cuando la punta está a unas pocas distancias interatómicas de la
muestra. Esta corriente es debida a un efecto puramente cuántico, llamado tuneleo. La intensidad
de la corriente es extremadamente sensible a la distancia punta-muestra.
Se barre sobre la muestra con actuadores piezoeléctricos, cuyo movimiento vertical (z) es
manejado por un lazo de control electrónico
Las variaciones de corriente o de señal al piezoeléctrico z se asocian a la topografía y
densidad electrónica de la muestra (para muestra homogéneas esta señal tiene una buena
correspondencia con la topografía de la muestra)
Las muestras destinadas al SEM han de cumplir dos condiciones: deben estar secas y ser
conductoras. El proceso de secado ha de llevarse a cabo preservando al máximo la
estructura original de la muestra. Para ello tenemos dos alternativas: usar el método clásico
de fijación y deshidratación química que el usuario realiza en su laboratorio y que finaliza
con el secado por punto crítico en nuestras instalaciones, o utilizar el moderno método de
fijación física por criofijación que ya está acoplado a uno de los microscopios.
En ambos casos la muestra necesita recubrirse después con un material que la haga
conductora y permita su observación en el microscopio.
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Con este método se realizan dos tipos de recubrimientos: ³spputtering´ de oro para obtener
las mejores condiciones de imagen y, si se requiere microanálisis por rayor X, el
recubrimiento por hilo de carbono.
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Sus aplicaciones van más allá de la necesidad de obtener una muestra conductora para el
SEM. Consigue recubrimientos de grano mucho más fino y está preparado para realizar
³spputtering´ con distintos metales. También trabaja por el método de evaporación, con lo
que aumenta el rango de posibles elementos de recubrimiento. Utiliza electrodos de
carbono para evaporarlo y obtener ³films´ que recubren las rejillas destinadas al TEM.
El microscopio electrónico de barrido (SEM) puede dotarse de un sistema capaz de
observar la muestra a muy baja temperatura de forma que su preservación estructural es
máxima y la capacidad de trabajo del microscopio no se afecta en absoluto, pues ya no
tratamos con una muestra hidratada sino congelada.
El proceso se inicia fuera del microscopio, enfriando la muestra a la máxima velocidad
posible mediante nitrógeno nieve. A continuación ya pasa al sistema de criobservación,
donde se puede fracturar, sublimar el hielo superficial y recubrir con oro o carbono para su
observación y/o análisis. La ventaja de este sistema es que se puede observar cualquier
muestra biológica o hidratada con una preparación mínima y rápida con una buena
preservación estructural.
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