Contenu de la matière:
Cours I :exemples pratiques
I- Méthodes d’échantillonnage et de préparation des
échantillons pour l’analyse géochimique.
Cours -II- Analyses par diffractométrie des rayons X :
2-principe de la méthode, interaction RX – matière, loi de
Bragg, méthode des poudres. Notions sur l’appareillage
(visite sur site), description des diffractogrammes , fiches
ASTM.
• Exposés (aux étudiants) sous forme de ppt
(20 Diapo max)
• Rappel2
• Analyse quantitative: dosage, rendement, % relatif.
• Analyse quantitative : caractérisation, détection,
identification.
• On distingue deux méthodes d’analyse
• Méthodes physiques : basées sur les propriétés
physiques ( Teb, viscosité, indice de réfraction
• Méthodes Spectroscopiques: basées sur l’interaction
matière /lumière.
Les principales techniques utilisant l'interaction rayonnement-
matière sont :
• Le microscopie :
• Microscope optique : la simple et traditionnelle observation à
l'échelle microscopique ;
• RX : diffraction des rayons X, fluorescence X, radiographie ;
• Rayon de neutrons : diffraction de neutrons,
neutronographie et activation neutronique.
• Microscopie Electronique à Balayage (MEB) : elle est une
technique de microscopie électronique basée sur le principe
des interactions électrons-matière,
• Microscopie Electronique en Transmission (MET) : on
bombarde d'un faisceau d'électrons un échantillon mince
principalement pour en obtenir la figure de diffraction,
• En ce qui concerne les techniques faisant
appel à la thermodynamique, l’analyse
thermique, on retrouve la calorimétrie
différentielle à balayage (DSC) et l'analyse
thermogravimétrique (ATG). Et l’Analyse
thermomécanique (TMA) .
Définition de la DRX:
• La diffraction des rayons X (DRX) est une
technique d'analyse qui permet d’étudier les
différentes phases de matières et matériaux
cristallins. Elle permet d’accéder à de
nombreuses informations contenues dans
l’arrangement même des éléments au sein d’un
matériau.
• L’analyse qualitative permet ainsi d’identifier
le/ou les composés cristallisés présents dans un
matériau ainsi que leurs formes
cristallographiques.
• Cette méthode consiste à appliquer un
rayonnement de la longueur d’onde des
rayons X (0.1 < l < 10 nm) sur un échantillon
orienté ou non.
• Le rayonnement pénètre le cristal, avec
absorption d’une partie de l’énergie et
excitation des atomes avec émission de
radiations dans toutes les directions.
Diffusion des rayons X et phénomène de diffraction
diffraction des rayons X
Tout atome de matière atteint par une onde X voit ses
électrons entrer en vibration à la même fréquence que
l'onde
• La Diffraction est une propriété des ondes qui
se manifeste par un changement des
directions de propagation de l’onde, lorsque
celle-ci rencontre une ouverture ou un
obstacle, sans changement de la valeur de la
longueur d’onde λ .
En 1912 le physicien Von Laüe détermine grâce à
un réseau cristallin la longueur d'onde de rayons
X.
Tableau Longueurs d’ondes (Å) des raies Kα des principaux métaux utilisés
comme anode
Figure 5 : Schéma simplifié d’un diffractomètre à compteur
Figure 4 : Schéma d’un diffractomètre à compteur
• L’enregistrement réalisé représente la courbe
de l’intensité des rayons X diffractés en
fonction des angles de diffraction. Cet
enregistrement est appelé : diffractogramme.
On obtient une succession de « pics »
correspondant à des angles précis : chacun de
ces pics correspond à une distance réticulaire
• Les angles 2θ pour chaque pic de diffraction
peuvent alors être converti en distances entre plans
réticulaires d, en utilisant la formule de Bragg.
• La position des pics de diffraction permet
l’identification des structures ou phases cristallines
présentes et donc la détermination de la
composition cristallographique de l’échantillon
analysé. On peut associer à chaque pic de diffraction
un plan réticulaire avec les indices de Miller qui lui
correspondent.
• Le traitement des diffractogrammes ou spectres
s’effectue à l’aide d’un logiciel basé sur les
données des fiches ASTM (American Society for
Testing and Materials), faisant correspondre les
distances interréticulaires « d » aux angles 2θ
enregistrés.