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par
Mohamed BOUTAAYAMOU
Novembre 2008
Remerciements
Introduction 1
1 Définition du problème 5
1.1 Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
1.2 Modèles électromagnétiques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
1.2.1 Equations de Maxwell dans les milieux continus . . . . . . . . . . . . 5
1.2.2 Lois de comportement des matériaux . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
1.2.3 Forme intégrale . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
1.2.4 Conditions aux limites . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
1.2.4.1 Conditions homogènes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
1.2.4.2 Conditions de transmission . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
1.2.4.3 Conditions globales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
1.3 Modèle électrostatique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
1.3.1 Formulation en potentiel scalaire . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
1.3.2 Formulation faible . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
1.3.3 Conditions globales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
1.3.4 Discrétisation par la méthode des éléments finis . . . . . . . . . . . 12
1.3.5 Précision de l’approximation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
3 Couplage électromécanique 37
3.1 Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 37
3.2 Couplage dans les MEMS électrostatiques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 37
i
ii TABLE DES MATIÈRES
4 Méthode de perturbation 53
4.1 Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
4.2 Formulations continues . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
4.2.1 Problèmes non perturbé et de perturbation . . . . . . . . . . . . . . 55
4.2.2 Problème de perturbation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
4.3 Formulations faibles . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
4.3.1 Formulation en potentiel scalaire du problème non perturbé . . . . . 58
4.3.2 Projection de la solution source . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
4.3.3 Formulation en potentiel scalaire du problème de perturbation . . . 59
4.4 Calcul des solutions perturbées successives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
4.5 Calcul des charges électriques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
4.6 Calcul des forces électriques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
4.7 Accélération de la convergence . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
4.7.1 Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
4.7.2 Procédé ∆2 d’Aitken . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
4.7.3 Approximants de Padé . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
4.8 Prise en compte du mouvement . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66
4.9 Illustration et validation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 68
4.9.1 Cas test 1D . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 68
4.9.2 Cas test 2D . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
4.9.3 Modèle 2D d’un actionneur électrostatique de type peigne . . . . . . 75
4.9.4 Mouvement d’une sphère plongée dans un champs électrique extérieur 83
4.9.5 Modèle 3D d’un actionneur électrostatique de type peigne . . . . . . 87
4.10 Conclusion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
Conclusions 93
Bibliographie 97
Table des figures
2.1 Déplacement virtuel réparti sur une couche d’élément autour d’une région
mobile et le maillage du domaine contenant cette région. . . . . . . . . . . . 18
2.2 Calcul de la force électrique dans un problème de coin. . . . . . . . . . . . . 22
2.3 Exemples de maillages du domaine électrique. Σ est la surface utilisée dans
le modèle du tenseur de Maxwell (2.4) pour calculer la force électrique. Les
surfaces Γ2 et Σ délimitent la couche d’élément dans laquelle est intégrée la
force par la méthode des travaux virtuels. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
2.4 Evolution des composantes ex et ey du champ électrique suivant les coupes
[A1 A4 ] et [A2 A3 ] (100 éléments d’ordres 1 et 2 sont utilisés près du coin). . 24
2.5 Convergence de la force électrique apparaissant sur la surface Γ2 en fonc-
tion du raffinement du maillage (les fonctions d’interpolation utilisées sont
d’ordre 1 (à gauche) et d’ordre 2 (à droite). L’erreur relative est déterminée
par rapport à la solution analytique. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
2.6 Temps de calcul de la force électrique (station : Intel Pentium M 2 GHz –
RAM : 1 GB) en fonction du nombre des éléments au voisinage du coin (à
gauche) et de l’erreur relative par rapport à la valeur analytique de la force
globale (à droite). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
2.7 Géométrie de la micropoutre. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
2.8 Distribution du potentiel et force électriques dans un modèle 2D de la sec-
tion transversale des micropoutres (w = 5 µm (à gauche), w = 15 µm (à
droite), g = 2 µm et t = 2 µm). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
2.9 Distribution du potentiel et force électriques dans un modèle 2D de la sec-
tion longitudinale des micropoutres (L = 50 µm (en haut), L = 100 µm
(en bas), g = 2 µm et t = 2 µm). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
2.10 Erreur relative en fonction de lc , la taille des éléments finis au voisinage des
coins (avec L = 30 µm, w = 2 µm, t = 1 µm et g = 1 µm) . . . . . . . . . . 28
2.11 Facteur d’effet de bord de la force en fonction du w/g (L = 30 µm). . . . . 28
2.12 Facteur d’effet de bord de la force en fonction du w/t (L = 30 µm). . . . . 28
2.13 Facteur d’effet de bord de la force en fonction du L/g. . . . . . . . . . . . . 29
2.14 Facteur d’effet de bord de la force en fonction du L/t. . . . . . . . . . . . . 29
2.15 Facteur d’effet de bord de la capacité en fonction du w/g (L = 150 µm). . . 30
iii
iv TABLE DES FIGURES
4.20 Distribution des corrections v1,i et v2,i calculées dans la position initiale du
doigt (x = 0 µm), les solutions totales v1 et v2 des deux sous-problèmes et
la solution totale vp du problème complet. 8 itérations étaient nécessaires
pour la convergence (les résultats des itérations 4, . . . , 8 ne sont pas montrés). 79
4.21 Distribution des corrections v1,i et v2,i calculées au cours de la deuxième
position du doigt (x = 1 µm), les solutions totales v1 et v2 des deux sous-
problèmes et la solution totale vp du problème complet. 5 itérations étaient
nécessaires pour la convergence (les résultats des itérations 4 et 5 ne sont
pas montrés). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 80
4.22 Exploitation des calculs réalisés à la position x = 0 µm (x = 1 µm) pour
réduire le nombre d’itérations mises en œuvre dans la nouvelle position
x = 1 µm (x = 2 µm). Les résultats sont donnés ici en terme des charges
électriques apparaissant sur les surfaces de l’électrode fixe (en haut) et du
doigt mobile (en bas). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 81
4.23 Evolution des charges électriques en fonction du déplacement du doigt mo-
bile suivant l’axe x (à gauche) et erreur relative de ces charges par rapport
à celles calculée par la méthode classique des éléments finis (à droite). . . . 82
4.24 Evolution de la force électrique totale calculée sur une partie [A1 A2 ] de la
surface Γc,p du doigt mobile. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
4.25 Nombre d’itérations nécessaire pour atteindre la convergence du potentiel
électrique total pour chaque position du doigt mobile. . . . . . . . . . . . . 82
4.26 Sphère conductrice mobile suivant l’axe y (position initiale yc = 5 µm) et
une électrode fixe (son centre O coı̈ncide avec l’origine du repère du travail). 83
4.27 Exploitation des calculs réalisés à la position yc = 5 µm pour réduire le
nombre d’itérations mises en œuvre dans la nouvelle position yc = 4 µm
(les résultats sont donnés ici en terme des charges électriques apparaissant
sur la surface de l’électrode fixe). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 85
4.28 Erreur relative des charges électriques apparaissant sur les surfaces de l’élec-
trode fixe (à gauche) et de la sphère (à droite) en fonction du déplacement
de cette sphère et le nombre de points de Gauss pour l’intégration au sein
de la méthode de projection. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 86
4.29 Erreur relative de fy en fonction du déplacement de cette sphère et le
nombre de points de Gauss pour l’intégration au sein de la méthode de
projection. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 86
4.30 Evolution des charges électriques (à gauche) et de fy (à droite) en fonction
du déplacement de la sphère suivant l’axe y. 4 points de Gauss sont utilisés
dans l’intégration au sein de la méthode de projection. . . . . . . . . . . . . 87
4.31 Modèle 3D d’une cellule de peignes d’un actionneur électrostatique avec un
doigt pouvant se déplacer dans la direction x (ce doigt est ici à la position
x = 3 µm) (L = 10 µm, b = 1 µm, t = 2 µm, g = 1 µm, gz = 1 µm,
tz = 1 µm, Ls = 20 µm). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88
4.32 Maillage 3D de l’actionneur de type peigne pour la position x = 3 µm du
doigt mobile. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88
4.33 Evolution des charges électriques en fonction du déplacement du doigt sui-
vant l’axe x (à gauche) et erreur relative de ces charges par rapport à celles
calculée par la méthode conventionnelle des éléments finis (à droite). . . . . 90
TABLE DES FIGURES vii
3.1 Calcul des forces globales Fx et Fy agissant sur la surface du corps (C) en
fonction de l’ordre des éléments utilisés dans le problème électrique. . . . . 45
3.2 Le déplacement maximal au sommet de la structure en fonction de l’ordre
des éléments utilisés (l’erreur relative par rapport à la mesure est mise entre
parenthèses). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
3.3 Comparaison entre la tension de pull-in calculée par éléments finis et celle
déterminée par les modèles analytiques. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
ix
x LISTE DES TABLEAUX
Introduction
Les microsystèmes électromécaniques (MEMS) ont connu ces dernières années un grand
essor technologique. Leur taille et la possibilité de les fabriquer en lot minimisant le coût de
leur fabrication, les rendent de plus en plus attractifs pour de multiples applications indus-
trielles (par exemple dans les secteurs automobile, biomédical, aérospatiale, télécommu-
nications, etc.). Vu leur échelle micrométrique, leur fonctionnement est généralement régi
par un couplage entre champs physiques de différentes natures (mécanique, électrique, ma-
gnétique et thermique). Des méthodes numériques adaptées, rigoureuses et tenant compte
de ces phénomènes multiphysiques sont dès lors nécessaires afin de seconder la conception
et l’approche expérimentale, beaucoup plus onéreuse, de ces microdispositifs.
Par ailleurs, les microstructures à actionnement électrostatique sont les plus répandues
et constituent une branche importante dans la famille des MEMS. De façon générale,
leur modélisation revient à considérer des systèmes électrostatiques avec mouvement. Les
MEMS à actionnement électrostatique contiennent en effet des parties en déplacement
rigide ou/et élastique, leur comportement étant régi par un couplage électromécanique.
Plusieurs approches ont été déjà proposées dans la littérature pour modéliser les MEMS
électrostatiques. Par exemple, des modèles analytiques et des simulations se basant sur le
modèle de masse-ressort sont présentés dans [Legtenberg et al., 1997,Mukherjee et al., 2000,
Chan and Dutton, 2000,Ostergaard and Gyimesi, 2000,Nayfeh et al., 2005]. La méthode des
éléments finis est également appliquée pour résoudre le couplage électromécanique et traiter
le comportement non linéaire de ces microstructures [Artz and Cathey, 1992, Avdeev,
2003,Rochus, 2006]. Le modèle hybride éléments finis-éléments frontières (FEM-BEM) est
aussi utilisé pour modéliser les MEMS électrostatiques [Aluru and White, 1996,Farina and
Rozzi, 2001, Sabariego et al., 2003].
Dans le cadre de la modélisation purement éléments finis des conducteurs en mouve-
ment, il est connu [Perrin-Bit and Coulomb, 1997, Lai et al., 2004] qu’une telle simulation
nécessite généralement des calculs successifs et le remaillage de certaines régions. Une mo-
délisation 3D par les techniques classiques de géométries complexes nécessite dès lors de
gros efforts en terme de temps de calcul. Par ailleurs, un tel problème peut être résolu par
la méthode hybride FEM-BEM. La méthode des éléments frontières permet en effet de
prendre en compte le mouvement sans devoir manipuler le maillage. Le coût élevé de cette
technique hybride en terme de temps de calcul et des besoins en mémoire limite cependant
la taille du problème pouvant être traité. Pour surmonter cette limitation, une technique
d’accélération dite la méthode multipolaire rapide (Fast Multipole Method ou FMM) peut
être utilisée [Greengard and Rokhlin, 1987, Rokhlin, 1993, Sabariego et al., 2003].
Dans cette thèse, nous développons une méthode originale basée sur une approche par
sous-problèmes, appelée méthode de perturbation. Utilisant la méthode des éléments
finis, cette technique consiste à subdiviser un problème entier en sous-problèmes. La com-
1
2 INTRODUCTION
plexité du problème initial est par conséquent diminuée en ne se concentrant que sur les
zones les plus pertinentes. Appliquée aux systèmes en mouvement, cette technique per-
mettra d’exploiter les résolutions antérieures au lieu d’effectuer un nouveau calcul pour
chaque position. Il s’agira notamment de démontrer l’implication naturelle de la méthode
de perturbation pour des simulations plus efficaces en terme du temps du calcul et plus
précises des MEMS électrostatiques.
Nous commençons dans le chapitre 1 par rappeler les équations de Maxwell décrivant
les phénomènes électromagnétiques dont la caractérisation est nécessaire dans la modé-
lisation des systèmes électrotechniques. De ces équations, le modèle électrostatique est
extrait. Sa formulation en potentiel scalaire est ensuite définie et détaillée. Les conditions
aux limites associées, locales et globales, seront présentées. Après avoir établi la formula-
tion électrostatique sous sa forme forte, il s’agira par la suite de l’étudier sous sa forme
faible en considérant la discrétisation par la méthode des éléments finis.
Dans le chapitre 2, le calcul des forces électrostatiques est considéré. Les principes du
calcul par la méthode du tenseur de Maxwell et celle des travaux virtuels sont en outre
présentés. La dérivation locale de la matrice jacobienne intervenant dans le calcul local de
la force est notamment détaillée. Un cas test de coin dont la solution analytique est connue
sera ensuite considéré afin de comparer les résultats obtenus par les deux méthodes.
Une attention particulière est ensuite portée au calcul précis des forces locales au
voisinage des singularités géométriques que constituent les coins et les arêtes dans les
MEMS électrostatiques. L’objectif est de tenir compte des effets de bord et d’analyser
leur impact sur la précision du calcul des forces et capacités électriques. Des modèles
2D et 3D de MEMS électrostatiques seront ainsi développés dans ce chapitre. Les forces
électriques locales et globales ainsi que les capacités électriques seront calculées dans une
étude paramétrique par éléments finis prenant en compte les différentes dimensions de ces
dispositifs.
Les bases de la méthode de perturbation pour des résolutions originales et efficaces des
systèmes électrostatiques avec mouvement sont décrites dans le chapitre 4.
Dans un premier temps, les formulations continues et discrètes des sous-problèmes
considérés sont établies et détaillées. Une attention particulière est en outre portée à
la définition des conditions aux limites associées. Dans un second temps, le processus
itératif employé par la méthode de perturbation est décrit et analysé. Des techniques
d’accélération de la convergence de ce processus itératif seront également étudiées. Le calcul
des grandeurs électriques globales (les charges et forces électriques) est ensuite développé.
Dans un troisième temps, la méthode de perturbation est étendue pour la prise en compte
du mouvement. Enfin, des cas tests 1D, 2D et 3D de microstructures seront considérés
afin d’illustrer et de valider l’approche proposée. Les résultats obtenus sont comparés avec
des solutions de référence obtenues soit analytiquement, soit par la méthode classique des
éléments finis.
INTRODUCTION 3
Définition du problème
1.1 Introduction
Dans ce premier chapitre, nous rappelons les équations de Maxwell décrivant les phé-
nomènes électromagnétiques dont la caractérisation est nécessaire dans la modélisation
des systèmes électrotechniques. De ces équations, le modèle électrostatique est extrait en
vue de définir sa formulation mathématique. Celle-ci est par la suite discrétisée afin d’être
résolue numériquement.
rot h = j + ∂t d , (1.1)
rot e = −∂t b , (1.2)
div b = 0 , (1.3)
div d = ρ , (1.4)
où h est le champ magnétique (A/m), b est l’induction magnétique (T), e est le champ
électrique (V/m) et d est le champ de déplacement électrique (C/m2 ). Ces quatre champs
R R R
sont définis sur l’espace 3x × t à valeurs dans l’espace euclidien 3 et dépendent de la
densité de courant j (A/m2 ) et de la densité volumique de charge électrique ρ (C/m3 ). Ces
R R R
deux termes sources sont définis sur l’espace 3x × t , avec j(x, t) ∈ 3 et ρ(x, t) ∈ . R
Dans cette thèse, le système d’unité utilisé est le système international (S.I.) et les vecteurs
sont notés en caractères gras.
La loi d’Ampère (rot h = j) est généralisée par l’équation (1.1) grâce au terme ∂t d in-
troduit par Maxwell permettant de traduire l’influence des variations du champ électrique
sur le champ magnétique. L’équation (1.2) est la loi de Faraday qui démontre qu’un champ
magnétique variable crée un champ électrique. Une symétrie peut être ainsi constatée entre
les phénomènes magnétiques et électriques et serait parfaite si la densité de courant et de
charges électriques n’intervenaient pas dans les équations (1.1) et (1.4). La loi de Gauss
magnétique (1.3) explique l’expérience selon laquelle il n’existe pas de monopole magné-
5
6 CHAPITRE 1. DÉFINITION DU PROBLÈME
tique. L’équation (1.4) est la loi de Gauss électrique montrant que la densité de charge
électrique est une source pour le champ électrique.
La relation dite de conservation de charge électrique est obtenue en dérivant (1.4) par
rapport au temps t et par application de la divergence à (1.1), c.-à-d.
div j + ∂t ρ = 0 . (1.5)
Le champ électrique e est dû à une distribution des charges électriques, tandis que le
champ magnétique h est dû au déplacement de ces charges, ou à la présence d’un mo-
ment magnétique, tel que celui qui peut être crée par un aimant permanent. La dérivée
temporelle du champ de déplacement électrique d, décrivant en particulier les déplace-
ments des dipôles électriques dans les matériaux diélectriques, s’appelle aussi courant de
déplacement.
b = µh , (1.6)
d = εe , (1.7)
j = σe , (1.8)
I Z
(j + ∂t d) · n ds ,
h · dl = (1.9)
γ Γ
I Z
e · dl = − ∂t b · n ds , (1.10)
γ Γ
où n est le vecteur unitaire normal à la surface Γ et le contour γ est orienté positivement.
Sous cette forme, (1.9) et (1.10) sont dites loi d’Ampère et de Faraday, respectivement.
Notons qu’en particulier, la relation (1.10) lie la variation du flux d’induction magné-
tique à travers Γ à la circulation du champ électrique le long du bord γ, c’est-à-dire à la
force électromotrice dans ce circuit. C’est la traduction mathématique de l’expérience de
Faraday.
R
Considérons maintenant un volume Ω de 3 de frontière Γ. Le théorème de la diver-
gence appliqué aux équations (1.3) et (1.4) implique :
I
b · n ds = 0 , (1.11)
IΓ Z
d · n ds = ρ dv , (1.12)
Γ Ω
n ∧ h|Γh = 0 , (1.13)
n · b|Γb = 0 , (1.14)
n ∧ e|Γe = 0 , (1.15)
n · d|Γd = 0 , (1.16)
n · j|Γj = 0 . (1.17)
Pour les conditions homogènes associées aux grandeurs magnétiques (grandeurs élec-
triques) (1.13)–(1.14) ((1.15)–(1.17)), les frontières Γh et Γb (Γe , Γd et Γj ) sont considérées.
Ces conditions sont communément utilisées pour les raisons suivantes :
• Conditions à l’infini. Une condition de type (1.14) ou (1.15) est imposée sur la
frontière portée à l’infini du domaine étudié.
• Nature des matériaux des volumes étudiés. Par exemple, la composante tangentielle
de e est nulle sur la surface d’un conducteur électrique parfait (1.15).
8 CHAPITRE 1. DÉFINITION DU PROBLÈME
Ω2 Σ
n
Ω1
Z
d · n ds = Q , (1.25)
Γ
Z
j · dl = I , (1.26)
γ
où Φ est la force magnétomotrice, Ψ est le flux magnétique, V est la différence de potentiel,
Q est la charge électrique et I est l’intensité du courant. Les flux sont définis à travers la
surface Γ et les circulations, le long de la courbe γ. n est le vecteur unitaire normal à Γ et
orienté positivement.
n ∂Ωd
Ωd Γ = Γe ∪ Γd
Ω ε
∂Ωc
v, e, d
Ωc
Fig. 1.2 : Définition du problème électrostatique dans le domaine Ω contenant une région
conductrice Ωc et diélectrique Ωd .
R
Le domaine d’étude est un volume Ω de 3 de frontière Γ constituée de deux parties
complémentaires Γe et Γd . Ω contient un ensemble de conducteurs parfaits noté Ωc et de
diélectriques Ωd . Leurs frontières sont respectivement ∂Ωc et ∂Ωd . n est le vecteur unitaire
normal à Γ et dirigé vers l’extérieur de Ω.
Le modèle électrostatique est obtenu si b = 0, h = 0 et j = 0. Le champ électrique e est
ainsi découplé des effets magnétiques et indépendant du temps. Dans ce cas, les équations
de Maxwell, la loi de comportement et les conditions aux limites s’écrivent :
rot e = 0 , (1.27)
div d = ρ , (1.28)
d = εe , (1.29)
n ∧ e|Γe = 0 , (1.30)
n · d|Γd = 0 . (1.31)
Aux conditions aux limites locales, nous ajoutons des conditions aux limites globales
10 CHAPITRE 1. DÉFINITION DU PROBLÈME
e = −grad v . (1.32)
Cette équation est à résoudre dans tout le domaine Ω en tenant compte des conditions
aux limites. La condition (1.30) entraı̂ne une condition de Dirichlet sur v, à savoir :
avec :
• les notations (. , .)Ω et h. , .iΓ représentant l’intégrale volumique et surfacique, res-
pectivement, sont définies par :
Z Z
(a, b)Ω = a · b dv , ha, biΓ = a · b ds ,
Ω Γ
Rappelons que ces champs peuvent être définis dans les espace de Sobolev [Dautray
and Lions, 1987b], de champs scalaire et vectoriel, c.-à-d.
n o
H 1 (Ω) = a ∈ L2 (Ω) ; ∂x a, ∂y a, ∂z a ∈ L2 (Ω) ,
n o
H 1 (Ω) = a ∈ L2 (Ω) ; ∂x a, ∂y a, ∂z a ∈ L2 (Ω) .
• L’espace Fv0 (Ω) des fonctions-test v ′ est un sous-espace de dimension finie de H 1 (Ω),
c.-à-d. l’espace des champs scalaires, de carré sommable dans Ω et dont le gradient
est également de carré sommable au sens de la norme euclidienne dans Ω. Le gradient
de ces champs scalaires est à trace nulle sur les frontières de Dirichlet (1.30), où la
solution v est constante et fixée c.-à-d.
n o
Fv0 (Ω) = v ∈ H 1 (Ω) ; v|Γe = Cte .
Remarque : Ici, nous rappelons la formule de Green de type div − grad. Elle est établie
grâce à la relation d’analyse vectorielle suivante :
(b, grad a)Ω + (div b, a)Ω = ha, n · biΓ , ∀b ∈ H 1 (Ω) et ∀a ∈ H 1 (Ω) . (1.37)
Dans la formulation (1.36), l’intégrale sur la frontière Γ est nulle. Elle s’annule en
effet sur Γd en tenant compte de la condition (1.31). Elle s’annule également sur Γe en
choisissant les fonctions test v ′ définies dans un espace de type Fv0 (Ω) où v ′ |Γe = 0. Par
suite, on obtient la formulation faible de l’équation (1.28), c.-à-d.
Cette équation étant valable pour toute fonction test v ′ , nous choisissons en particulier
celles qui appartiennent à un espace de type Fv0 (Ω) et qui s’annulent sur Γ. Par conséquent,
l’équation (1.39) devient : (div d − ρ, v ′ )Ω = 0 et par suite div d − ρ = 0 dans Ω, d’où
l’équation (1.28). L’équation (1.39) est maintenant réduite à hn · d, v ′ iΓ = 0 , et valable
pour toute fonction test v ′ . En prenant cette fois-ci v ′ dans Fv0 (Ω) où v ′ |Γe = 0, on obtient
hn · d, v ′ iΓd = 0, ce qui implique la condition (1.31) au sens faible.
12 CHAPITRE 1. DÉFINITION DU PROBLÈME
Le problème électrostatique est ainsi entièrement défini au sens faible par cette formu-
lation. La détermination de la variable v entraı̂ne les champs e et d via les équations les
liant à v et qui sont restées sous leur forme forte.
Dans la formulation faible (1.40), la condition n · d|Γd = 0 est implicite. Elle est
ainsi appelée condition naturelle (condition de type Neumann). La condition reprise dans
l’espace fonctionnel où la variable v et la fonction test v ′ sont définies (ici, v ′ |Γe = Cte
dans Fv0 (Ω)) est appelée condition essentielle.
La formulation (1.40) peut être également étendue afin de tenir compte de la condition
Neumann non-homogène s’écrivant : n · d|Γd = n · ds , où ds est un terme source [Dular
et al., 2000]. Nous aborderons la notion de source plus loin (cf. chapitre de la méthode de
perturbation). Dans ce cas, (1.40) prend la forme générale suivante :
où la somme porte sur tous les éléments Ωe partitionnant le domaine d’étude Ω. Sous
forme matricielle, ce problème est celui d’un système linéaire de dimension N × N tel que :
A VN = Q , (1.46)
où A = ((ε grad si , grad sj )Ωe )(1≤i, j≤N ) , VN est le vecteur colonne contenant les valeurs
nodales vi de v dans la base (s1 , ..., sN ) de W 0 , et Q = ((ρ, sj )Ωe )(1≤i≤N ) , le vecteur colonne
des charges imposées. Par construction, la matrice A est symétrique et définie positive,
donc inversible.
Les champs e et d sont déduits de (1.44) tels que :
N
X N
X
e=− vi grad si et d = −ε vi grad si . (1.47)
i=1 i=1
Il est important de remarquer que c’est à cause de la dimension finie de l’espace de dis-
crétisation W 0 que la solution v a un caractère approché. Son approximation est d’autant
meilleure que la dimension de W 0 est grande.
• Les éléments associées à des fonctions de base hiérarchiques (où chaque espace de
fonctions de base est un sous-espace de l’espace de fonctions de base d’ordre supé-
rieur). Ces fonctions sont particulièrement utiles dans un maillage où des éléments de
différents ordres sont utilisés [Zienkiewicz and Taylor, 1988,Geuzaine, 2001]. Il est en
effet possible de connecter deux éléments d’ordres différents en imposant une valeur
nulle pour certains degrés de liberté. Les propriétés de continuité lors du passage
d’un élément à un autre sont ainsi conservées [Ren and Ida, 2000, Webb and For-
ghani, 1993]. Par exemple, l’interpolation d’ordre 2 par les éléments hiérarchiques du
potentiel électrique implique l’utilisation des fonctions de base associées aux nœuds
et aux arêtes.
Chapitre 2
2.1 Introduction
Les microsystèmes électromécaniques (MEMS) sont des dispositifs miniaturisés consti-
tués d’un ensemble de composants électriques associés à des éléments mécaniques, op-
tiques, thermiques, électromagnétiques ou fluidiques pouvant être intégrés sur une seule
puce électronique. Leur rôle consiste principalement à assurer la fonction de capteurs pou-
vant détecter différents paramètres physiques de leur environnement et/ou d’actionneurs
pouvant agir sur cet environnement [Mahalik et al., 2006, Fujita, 1996, Gardner et al.,
2001].
De nombreux avantages de cette technologie ont été cités dans la littérature [Pelz et al.,
1995, Koester et al., 1996, Vigna, 2006], à savoir :
(i) Les avantages dûs aux propriétés intrinsèques des MEMS :
• La miniaturisation. Grâce à leur taille micrométrique, les MEMS apportent un
gain en volume et en masse et permettent de réaliser plus de fonctions.
• Une faible consommation de l’énergie. En raison de leur masse réduite, voire de
nouveaux modes d’actionnement (l’électrostatique par exemple), les MEMS néces-
sitent peu d’énergie dans leur fonctionnement.
• La réduction du coût. La possibilité de les fabriquer en lot permet en effet de
réduire le coût.
(ii) Les apports des MEMS lorsqu’ils sont incorporés dans les macrosystèmes :
• Une nouvelle conception des systèmes. L’architecture des systèmes dans lesquels
les MEMS sont intégrés profite en effet des avantages mentionnés ci-dessus (dans
l’automobile et la microrobotique, par exemple).
• Une meilleure performance. Les techniques de la mesure et d’actionnement sont
améliorées grâce aux nouvelles caractéristiques apportées par les MEMS ayant une
taille réduite et utilisant des matériaux qui peuvent améliorer la performance de
ces techniques (dans l’électronique et les télécommunications, par exemple).
Grâce à tous ces avantages, les MEMS sont devenus attractifs dans de nombreuses
applications industrielles. Ils sont en effet impliqués dans le biomédical (pacemaker, pro-
thèses auditives, micropompe, microcapteurs de la force pour la chirurgie, etc.) [Roy et al.,
2007, Esashi, 2002], l’automobile (micro-accéléromètre pour airbag, microcapteurs, etc.)
15
16 CHAPITRE 2. CALCUL DES FORCES ÉLECTROSTATIQUES DANS LES MEMS
voisinage des singularités géométriques que constituent les coins et les arêtes dans les
MEMS électrostatiques. L’objectif est de tenir compte des effets de bord et d’analyser
leur impact sur la précision du calcul des forces et capacités électriques [Boutaayamou
et al., 2006,Boutaayamou et al., 2008f]. Dans la littérature, ces effets de bord sont en effet
souvent négligés dans la modélisation des MEMS électrostatiques [Artz and Cathey, 1992].
Par ailleurs, des modèles basés sur des formules analytiques tenant compte des effets de
bord ont été développés [Zhang and Zhao, 2003, Chowdhury et al., 2005]. Néanmoins, ces
modèles ne sont applicables que dans le cas de géométries simplifiés des MEMS.
Des modèles 2D et 3D de MEMS électrostatiques seront ainsi développés dans ce
chapitre. Les forces électriques locales et globales ainsi que les capacités électriques seront
calculées dans une étude paramétrique par éléments finis prenant en compte les différentes
dimensions de ces dispositifs.
Couche
d’éléments Nœuds mobiles
Région mobile
Nœuds fixes
Région fixe
Fig. 2.1 : Déplacement virtuel réparti sur une couche d’élément autour d’une région
mobile et le maillage du domaine contenant cette région.
avec st = (s1 ...si ...sn ) est la transposée du vecteur des fonctions de base du potentiel v
dans l’élément réel Ωe et vet = (v1 ...vi ...vn ) est la transposée du vecteur des degrés de liberté
de v. Etant dépendantes des coordonnées géométriques de l’élément Ωe , les fonctions de
base si varient lorsque le paramètre r varie tout en maintenant des valeurs nodales vi
constantes.
Par ailleurs, l’énergie électrique totale W du système discrétisé peut être écrite comme
la somme d’énergies élémentaires We associées aux éléments Ωe discrétisant le domaine
entier Ω. Pour un milieu homogène et linéaire, l’énergie We s’écrit :
ε
Z
We = grad (v)t · grad (v) dΩe , (2.8)
2 Ωe
ε ε
Z
We = vet grad (s) · grad (s)t ve dΩe = vet Ae ve , (2.9)
2 Ωe 2
∂aij ∂J −t
Z h
= grad (ŝi ) · J −1 grad (ŝj ) |J|
∂r Ω̂e ∂r
∂J −1
+grad (ŝi ) J −t · grad (ŝj ) |J|
∂r
20 CHAPITRE 2. CALCUL DES FORCES ÉLECTROSTATIQUES DANS LES MEMS
−t −1 ∂|J| i
+grad (ŝi ) J ·J grad (ŝj ) dΩ̂e . (2.13)
∂r
En dérivant la constante J −1 · J = I par rapport à r, on obtient :
∂J −1
∂r · J + J −1 · ∂J
∂r = 0. Il s’en suit :
∂J −1 ∂J
= − J −1 · · J −1 , (2.14)
∂r ∂r
∂J −t ∂J t
= − J −t · · J −t . (2.15)
∂r ∂r
En remplaçant (2.14) et (2.15) dans (2.13) et après une transformation inverse (élément
de référence transformé en élément réel), on obtient :
∂aij ∂|J| 1
Z
= grad (si ) J −t · J −1 grad (sj )
∂r Ωe ∂r |J|
− grad (si ) ( Gr,k + Gtr,k ) grad (sj ) dΩe , (2.16)
La relation qui lie les coordonnées x, y et z avec u, v et w s’écrit pour un élément iso-
paramétrique (les fonctions de base nodales – exprimées dans l’élément de référence Ω̂e
c.-à-d. ŝ1 , ..., ŝk , ..., ŝn – qui ont servi à interpoler le potentiel scalaire v sont les mêmes que
celles utilisées pour paramétrer l’élément réel Ωe ) :
x1 y1 z1
.. .. ..
. . .
x y z = ŝ1 . . . ŝk . . . ŝn xk yk zk
, (2.19)
.. .. ..
. . .
xn yn zn
2.3. MÉTHODE DES TRAVAUX VIRTUELS 21
région fixe, ∂x∂r = 0. Pour tout les autres nœuds k du domaine localisé entre ces deux
k
mobile considérée peut être réparti sur une seule couche d’éléments entourant la surface
cette région [Ren and Razek, 1995]. La dérivation locale de la matrice jacobienne dans
(2.16) est par conséquent effectuée seulement dans les éléments de cette couche. Nous ne
considérons ainsi que les types des nœuds mobiles et fixes. Dans ce cas, la dérivation de J
par rapport à r = x dans un nœud k mobile est donnée par :
0 0 0
∂ .. .. .. ∂ ŝk
∂u
. . .
∂u 0 0
∂J ∂
∂ ŝk 0 0 .
= ∂v ŝ1 . . . ŝk . . . ŝn 1 0 0 = ∂v
(2.21)
∂xk ∂ .. .. .. ∂ ŝk
∂w . . . ∂w 0 0
0 0 0
On en déduit :
b11 ∂∂u
ŝk
+ b12 ∂∂v
ŝk
+ b13 ∂∂w
ŝk
0 0
Gx,k = b21 ∂∂u
ŝk
+ b22 ∂∂v
ŝk
+ b23 ∂∂w
ŝk
0 0 . (2.22)
b31 ∂∂u
ŝk
+ b32 ∂∂v
ŝk
+ b33 ∂∂w
ŝk
0 0
où J −1 = (bij )(1≤i, j≤n). Le même raisonnement est valable pour la dérivation de J suivant
les directions y et z.
Dans (2.17), les éléments entourant un nœud sont les seuls à avoir une énergie électrique
modifiée par le déplacement virtuel de ce nœud. La force totale associée à un nœud est ainsi
obtenue en additionnant la contribution de toutes les forces calculées dans les éléments
auxquels appartient ce nœud. La force globale est obtenue en sommant les forces calculées
dans tous les nœuds de la surface de la région considérée.
22 CHAPITRE 2. CALCUL DES FORCES ÉLECTROSTATIQUES DANS LES MEMS
Γ1 2m
A1 A2
Air Γn2
ε0
1m
2m
Γ2
1m
Y
A4 X
A3
Γn1
Par ailleurs, l’expression de la force électrique peut être obtenue également en appli-
quant le principe variationnel à l’énergie électrique. Cette expression est ensuite discréisée
afin de calculer des forces électriques nodales [Rochus, 2006].
La méthodes de travaux virtuels est aussi bien adaptée pour le calcul des forces dans le
cas des solides en déformation [Ren and Razek, 1995] et des aimants permanents [De Me-
deiros et al., 1998, De Medeiros et al., 2000].
Γ2
Fig. 2.3 : Exemples de maillages du domaine électrique. Σ est la surface utilisée dans le
modèle du tenseur de Maxwell (2.4) pour calculer la force électrique. Les surfaces Γ2 et
Σ délimitent la couche d’élément dans laquelle est intégrée la force par la méthode des
travaux virtuels.
les éléments quadrilatéraux à 8 nœuds) (voir la section (1.3.5)) du potentiel est ensuite
considérée afin d’illustrer son impact dans un calcul précis de la force avec un maillage
moins fin au voisinage du coin. La force est intégrée dans une seule couche d’éléments
entourant la surface Γ2 , la surface Σ (2.4) étant celle qui délimite cette couche (voir la
figure (2.3)).
La solution analytique de la force globale qui s’applique sur Γ2 est donnée par [Hannot
et al., 2007] : Fanal = Fx + Fy avec ||Fx || = ||Fy || = 8.803 10−12 N.
La figure (2.4) montre la variation des composantes ex et ey du champ électrique le
long des coupes [A1 A4 ] et [A2 A3 ]. Notons la variation importante du champ électrique au
voisinage du coin. Le pic constaté est d’autant plus prononcé lorsque les éléments d’ordre
2 sont utilisés.
La figure (2.5) montre la convergence de la force globale en fonction du raffinement
du maillage, les fonctions d’interpolation utilisées étant d’ordre 1 et 2. Il est clair que le
modèle des travaux virtuels converge plus vite que celui du tenseur de Maxwell. Avec les
fonctions de base nodale (ordre 1), on remarque que le deuxième modèle nécessite 3 fois
plus d’éléments au voisinage du coin que le premier pour que l’erreur relative soit en dessous
de 1%. En utilisant les fonctions de base d’ordre 2, un maillage moins fin (35 éléments
24 CHAPITRE 2. CALCUL DES FORCES ÉLECTROSTATIQUES DANS LES MEMS
1 5
Ordre 1−Coupe suivant [A1A4] Ordre 1−Coupe suivant [A1A4]
Ordre 1−Coupe suivant [A2A3] Ordre 1−Coupe suivant [A2A3]
0 4
−1
3
ex (V/m)
ey (V/m)
−2
2
−3
1
−4
0
−5
0 0.5 1 1.5 2 0 0.5 1 1.5 2
Position suivant l’axe y (m) Position suivant l’axe y (m)
1 7
Ordre 2−Coupe suivant [A1A4] Ordre 2−Coupe suivant [A1A4]
Ordre 2−Coupe suivant [A2A3] Ordre 2−Coupe suivant [A2A3]
0 6
−1 5
−2 4
ex (V/m)
ey (V/m)
3
−3
2
−4
1
−5
0
−6
−1
0 0.5 1 1.5 2 0 0.5 1 1.5 2
Position suivant l’axe y (m) Position suivant l’axe y (m)
Fig. 2.4 : Evolution des composantes ex et ey du champ électrique suivant les coupes
[A1 A4 ] et [A2 A3 ] (100 éléments d’ordres 1 et 2 sont utilisés près du coin).
près du coin) est suffisant pour atteindre la même précision obtenue avec les éléments
d’ordre 1 (50 éléments près du coin). Cependant, le temps de calcul (les caractéristiques
de la station utilisée sont : Intel Pentium M 2 GHz – RAM : 1 GB) est considérable avec
les éléments d’ordre 2 (voir la figure (2.6)), le nombre d’inconnues étant plus élevé dans
ce type d’éléments. Dans ce problème étudié, l’utilisation des éléments d’ordre 2 paraı̂t
avantageux. Néanmoins, le choix entre les éléments d’ordre 1 et ceux d’ordre supérieur
passe, de façon générale, par un compromis.
8 8
Travaux virtuels−Ordre 1 Travaux virtuels−Ordre 2
7 Tenseur de Maxwell−Ordre 1 7 Tenseur de Maxwell−Ordre 2
6 6
Erreur relative (%)
4 4
3 3
2 2
1 1
0 0
0 20 40 60 80 100 120 140 160 180 200 0 20 40 60 80 100 120 140 160 180 200
Nombre d’éléments au voisinage du coin Nombre d’éléments au voisinage du coin
90 100
Ordre 1 Ordre 1
80 Ordre 2 Ordre 2
70 10
60
CPU (s)
CPU (s)
50
1
40
30
20 0.1
10
0 0.01
0 20 40 60 80 100 120 140 160 180 200 0.1 1 10
Nombre d’éléments au voisinge du coin Erreur relative (%)
Fig. 2.6 : Temps de calcul de la force électrique (station : Intel Pentium M 2 GHz –
RAM : 1 GB) en fonction du nombre des éléments au voisinage du coin (à gauche) et de
l’erreur relative par rapport à la valeur analytique de la force globale (à droite).
l’impact des effets de bord sur la précision du calcul des forces et capacités électriques
[Boutaayamou et al., 2006, Boutaayamou et al., 2008f].
2.5.1 Micropoutre
Le premier cas test est l’étude d’une micropoutre de type MEMS électrostatique (voir
la figure (2.7)). La formulation en potentiel scalaire électrique est utilisée. Les paramètres
géométriques considérés sont l’écart g entre la micropoutre et l’électrode fixe, la longueur
L, la largeur w et l’épaisseur t. Ces paramètres vont être variés afin de déterminer leur
impacts sur les effets de bord et le calcul précis des forces et capacités électriques. La
différence de potentiel électrique appliquée entre les deux conducteurs est fixée à 5 V.
Nous définissons à présent le facteur d’effet de bord de la force, comme la différence
relative entre la force électrique F f calculée par la méthode des travaux virtuels et F nf
(nf : “no fringing”) la force donnée par le modèle d’un condensateur à deux plaques
26 CHAPITRE 2. CALCUL DES FORCES ÉLECTROSTATIQUES DANS LES MEMS
L
w t
V Air
g ε0
parallèles, c.-à-d.
F f − F nf
facteur d’effet de bord de la force = . (2.23)
F nf
La force F f est obtenue en ajoutant toutes les forces calculées aux nœuds de la sur-
face de la microstructure (voir la section (2.3)). L’expression analytique de la force F nf
négligeant les effets de bord s’écrit :
1 V2
F nf = ε0 S 2 , (2.24)
2 g
où S est l’aire de la surface de la micropoutre faisant face à l’électrode fixe (c.-à-d. S = w L)
et V est la différence du potentiel appliquée.
De façon analogue à (2.23), nous définissons ensuite le facteur d’effet de bord de la
capacité comme :
C f − C nf
facteur d’effet de bord de la capacité = , (2.25)
C nf
où C nf est l’expression analytique de la capacité d’un condensateur à deux plaques paral-
lèles où les effets de bord sont négligés, c.-à-d.
S
C nf = ε0 . (2.26)
g
La précision du calcul de la force électrique agissant sur la micropoutre est tout d’abord
étudiée en fonction de la finesse du maillage (voir la figure (2.10)).
Les paramètres géométriques de la micropoutre considérée sont : L = 30 µm,
w = 2 µm, t = 1 µm et g = 1 µm. La finesse du maillage est paramétrée par la variable
lc définie comme la taille moyenne des éléments au voisinage des coins et arêtes de la mi-
cropoutre. L’erreur relative de la force dans les modèles 2D et 3D est évaluée par rapport
à une force totale calculée dans un maillage très fin (ici, lc = 0.01 µm). D’après la figure
(2.10), l’erreur relative de la force peut être réduite à quelques dixièmes de pourcent pour
des valeurs de lc inférieures à 0.1 µm.
Un premier modèle 2D de la section transversale de la micropoutre est tout à d’abord
considéré. Les effets de bord liés à une longueur finie sont ainsi négligés. La longueur
L = 30 µm est prise comme référence. Le facteur d’effet de bord de la force est montré dans
les figures (2.11) et (2.12) pour différentes valeurs des rapports w/g et w/t, respectivement.
Comme prévu, le facteur d’effet de bord de la force est plus important dans les modèles
3D. Pour une valeur donnée de L, ce facteur augmente lorsque les rapports w/g et w/t
diminuent, c.-à-d. les effets de bord sont nettement dominants pour des grandes valeurs
de g ou de t en maintenant une valeur fixe de w, ou pour des petites valeurs de w pour
des valeurs fixes de g et de t.
80
60
40
20
0.1
0.1 0.2 0.3 0.4
lc (µm)
Fig. 2.10 : Erreur relative en fonction de lc , la taille des éléments finis au voisinage des
coins (avec L = 30 µm, w = 2 µm, t = 1 µm et g = 1 µm) .
2D : t = 1 µm
Facteur d’effet de bord de la force (%)
10 3D : t = 1 µm
2D : t = 0.2 µm
8 3D : t = 0.2 µm
2
1
0
1 2 4 8 16 20 30
w/g
2D : g = 1 µm
Facteur d’effet de bord de la force (%)
3D : g = 1 µm
15 2D : g = 2 µm
3D : g = 2 µm
10
8
6
4
2
1
0
1 2 4 8 16 20 30
w/t
Dans l’analyse des résultats précédents, nous avons vu que les modèles 3D sont les
mieux adaptés pour un calcul précis des forces électriques sur la surface d’une micro-
poutre. Néanmoins, les modèles 2D peuvent donner des résultats similaires pourvu que
2.5. ILLUSTRATION ET VALIDATION - MEMS ÉLECTROSTATIQUES 29
2D : t = 1 µm
Facteur d’effet de bord de la force (%)
25
3D : t = 1 µm, w = 2 µm
3D : t = 1 µm, w = 30 µm
20
2D : t = 0.2 µm
3D : t = 0.2 µm, w = 2 µm
15
3D : t = 0.2 µm, w = 30 µm
10
5
2
0
1 2 4 8 16 20 30
L/g
2D : g = 1 µm
Facteur d’effet de bord de la force (%)
25 3D : g = 1 µm, w = 2 µm
3D : g = 1 µm, w = 30 µm
20 2D : g = 2 µm
3D : g = 2 µm, w = 2 µm
15 3D : g = 2 µm, w = 30 µm
10
5
2
0
1 2 4 8 16 20 30
L/t
100
50
0 5 10 15 20 25 30
w/g
Fig. 2.15 : Facteur d’effet de bord de la capacité en fonction du w/g (L = 150 µm).
Substrat
Doigts
mobiles
Doigts
fixes
Fig. 2.16 : Exemple d’un actionneur électrostatique de type peigne interdigité (comb-
drive).
La modélisation d’une telle structure peut être limitée à la moitié d’un doigt mobile et
d’un doigt fixe tirant profit de la symétrie et de la propriété de périodicité du système. Les
2.5. ILLUSTRATION ET VALIDATION - MEMS ÉLECTROSTATIQUES 31
plans de symétrie définissent des frontières Γd où le champ électrique est tangent, et par
conséquent une condition de type n · ds |Γd = 0 est utilisée dans (1.41). La structure étudiée
est représentée à la figure (2.17) où L, b et t sont la longueur, la largeur et l’épaisseur d’un
doigt, respectivement, g est l’écart entre les deux doigts, gz est la distance (suivant l’axe
z) entre ces deux doigts et le substrat, et L − d est la distance d’engagement d’un doigt
mobile à l’intérieur d’une cellule de deux doigts fixes. La différence de potentiel électrique
appliquée est fixée à 5 V (le doigt mobile est au même potentiel que le substrat fixé à 0 V,
le doigt fixe à 5 V).
Les figures (2.18) et (2.19) montrent des exemples de maillages utilisés dans la résolu-
tion du problème électrostatique en 2D et 3D, respectivement. Remarquons que le maillage
est raffiné au voisinage des coins et arêtes pour tenir compte des effets de bord.
La distribution du potentiel et de la force électriques est montrée à la figure (2.20).
Comme pour le cas de la micropoutre, des forces électriques importantes apparaissent aux
coins et arêtes de la structure.
t/2 d
b/2
Air ε0 g
Y
X
Z
d L
Substrat
Z
gz
X
Fig. 2.17 : Géométrie de la moitié d’une cellule de peignes d’un actionneur électrostatique
de type peigne interdigité (combdrive) (la moitié des deux doigts en haut et le substrat
(en bas)).
Les expressions analytiques utilisées pour estimer les composantes de la force suivant
les axes x et y sont telles que [Hirano et al., 1992] :
1 ntV 2 1 btV 2
Fxnf = ε0 + ε0 , (2.27)
2 g 2 d2
1 V2
Fynf = ε0 S 2 , (2.28)
2 g
où n est le nombre des doigts considérés (ici n = 2), V est la tension électrique appliquée
et S est l’aire de la partie du doigt mobile engagée à l’intérieur d’une cellule de deux
doigts fixes, c.-à-d. S = (L − d) t. Il est important de remarquer que le second terme
de la formule (2.27) tient compte de la force électrique s’appliquant sur la face du doigt
située à la distance d de l’autre doigt (voir la figure (2.17)). Ce terme est souvent négligé
dans la littérature (par exemple dans [Tang et al., 1990, Hirano et al., 1992]). Or, pour de
32 CHAPITRE 2. CALCUL DES FORCES ÉLECTROSTATIQUES DANS LES MEMS
petite valeur de d, il devient non négligeable et doit être par conséquent pris en compte
dans l’expression totale de la force d’attraction suivant l’axe x. Par analogie à l’expression
(2.23), nous définissons le facteur d’effet de bord de la force suivant les axes x et y.
Z
Y
X
Z
Y
Z
X Y
X
Fig. 2.19 : Maillage 3D de l’actionneur de type peigne (les deux doigts et le substrat (en
haut), un doigt et le substrat (en bas, à gauche) et un agrandissement au voisinage des
coins et arêtes d’un doigt (en bas, à droite)) (L = 10 µm, d = 7 µm, b = 3 µm, t = 2 µm,
g = 3 µm, gz = 1 µm).
Dans la figure (2.21), le facteur d’effet de bord de la force longitudinale (suivant l’axe
x) devient significatif lorsque b augmente ou lorsque t diminue dans les modèles 2D et 3D.
La différence entre les deux courbes (voir la figure (2.21), (en haut)) est principalement
liée au paramètre t, celui-ci n’intervenant que dans le modèle 3D.
2.5. ILLUSTRATION ET VALIDATION - MEMS ÉLECTROSTATIQUES 33
Un autre paramètre qui n’est pas pris en compte dans le modèle 2D est gz , la distance
entre les deux doigts et le substrat selon l’axe z. Son influence sur le facteur d’effet de
bord est montrée dans la figure (2.22). L’augmentation de gz entraı̂ne en effet un facteur
important. Notons qu’il n’est pas nécessaire que gz prenne de grandes valeurs pour obtenir
un facteur significatif. A partir de gz = 2 µm (avec L = 10 µm, d = 5 µm, b = 2 µm,
t = 2 µm, g = 1 µm), le facteur dépasse déjà les 15 %.
La figure (2.23) montre également la variation du facteur d’effet de bord en fonction
de d dans les modèle 2D et 3D. Une diminution de celui-ci (c.-à-d. lorsque un doigt mobile
s’approche d’un doigt fixe) entraı̂ne un facteur important illustrant le couplage électrique
significatif constaté dans le cas des positions relatives proches entre les deux doigts.
3D
14 2D
Facteur d’effet de bord de fx (%)
12
10
2
1 2 3 4 5
b (µm)
20
3D
18
Facteur d’effet de bord de fx (%)
16
14
12
10
8
6
4
2
0
0.5 1 2 3 4 5
t (µm)
Fig. 2.21 : Facteur d’effet de bord de la force longitudinale (suivant l’axe x) en fonction
de b (en haut) et de t (en bas) (L = 10 µm, d = 5 µm, t = 2 µm, g = 1 µm, gz = 1 µm).
34 CHAPITRE 2. CALCUL DES FORCES ÉLECTROSTATIQUES DANS LES MEMS
35
3D
25
20
15
10
0
1 2 3 4 5
gz (µm)
Fig. 2.22 : Facteur d’effet de bord de la force longitudinale (suivant l’axe x) en fonction
de gz (L = 10 µm, d = 5 µm, b = 2 µm, t = 2 µm, g = 1 µm).
60
3D
2D
Facteur d’effet de bord de fx (%)
30
10
3
2
1
1 2 3 4 5
d (µm)
Fig. 2.23 : Facteur d’effet de bord de la force longitudinale (suivant l’axe x) en fonction
de d (L = 10 µm, b = 1 µm, t = 2 µm, g = 1 µm, gz = 1 µm).
2.6 Conclusion
Le calcul des forces électrostatiques locales et globales par le modèle du tenseur de
Maxwell et celui des travaux virtuels, a été présenté dans ce chapitre. La force électro-
statique totale obtenue par la méthode des travaux virtuels converge plus vite que celle
déterminée par le tenseur de Maxwell. La précision du calcul de la force peut être améliorée
en raffinant le maillage. Pour la même précision, l’utilisation des fonctions d’interpolation
d’ordre supérieur permet de travailler avec un maillage moins fin. Néanmoins, le temps de
calcul augmente considérablement avec ce type de fonctions. De façon générale, le choix
entre les types d’éléments de différents ordres passe par un compromis.
La méthode des travaux virtuels a été choisie et implémentée pour estimer les forces
électrostatiques locales et globales. Un calcul précis et rigoureux de ces forces est en effet
important dans la résolution d’un problème électromécanique. Il a notamment permis
de mettre en exergue les effets de bord constatés au voisinage des coins et arêtes des
MEMS électrostatiques. Des modélisations 2D et 3D par éléments finis des cas tests de
type micropoutre et actionneur à peigne (combdrive) ont été analysées et comparées.
2.6. CONCLUSION 35
Couplage électromécanique
3.1 Introduction
Dans le chapitre précédent, le calcul de la force électrique dans le contexte de la modé-
lisation par éléments finis a été détaillé et validé. Dans ce chapitre, il est question d’utiliser
le résultat de ce calcul dans la simulation du problème du couplage électromécanique. La
résolution de ce couplage physique suit le schéma d’un couplage numérique faible. Celui-
ci est présenté et illustré par des exemples d’application. Plus particulièrement, l’analyse
des MEMS électrostatiques en régime statique est traité. Les grandeurs caractéristiques
associées sont calculées par cette approche et sont comparées à des valeurs analytiques.
37
38 CHAPITRE 3. COUPLAGE ÉLECTROMÉCANIQUE
Etat initial
Problème électrique
Détermination des forces
Mise à jour
Problème mécanique des coordonnées
Détermination du déplacement du maillage
du domaine électrique
Non
Convergence ?
Oui
Fin
Fig. 3.1 : Résolution d’un problème électromécanique par un couplage numérique faible.
Dans cette thèse, le couplage numérique faible est utilisé dans la simulation du couplage
électromécanique en régime statique des systèmes étudiés.
Dans les deux premiers chapitres, nous avons abordé la résolution du problème élec-
trique. Dans la section suivante, nous décrivons le problème mécanique.
t Ω
Γu
Γt f
n
x3
x2
x1
Fig. 3.2 : Problème d’élasticité linéaire défini pour un corps élastique, isotrope et homo-
gène occupant un domain Ω ∈ 3 . R
L’objectif est de déterminer le champ des déplacements u = (u1 , u2 , u3 ) dans le domaine
Ω ainsi que le tenseur symétrique des contraintes σ = (σij ), i, j = 1, 2, 3 qui apparaissent
dans Ω suite à l’application des forces f et t. Les contraintes σii sont dites contraintes
normales, et σij , i 6= j, contraintes de cisaillements. Dans le cadre de l’hypothèse des
petits déplacements, l’état de déformation est représenté par le tenseur des déformations
linéarisé ǫ = (ǫij ) défini par :
1 ∂ui ∂uj
ǫij = + , i, j = 1, 2, 3 . (3.1)
2 ∂xj ∂xi
Dans un milieu élastique linéaire et isotrope, la loi de comportement, ou loi de Hooke,
associe les contraintes aux déformations via la relation :
σij = µ div u δij + λ ǫij , i, j = 1, 2, 3 , (3.2)
où δij = 1 si i = j ou 0 si i 6= j, µ et λ sont les constantes de Lamé. Dans le cas d’un maté-
riau élastique, ces constantes s’expriment en fonction du module d’Young et du coefficient
E Eν
de Poisson telles que : µ = 1+ν et λ = (1+ν)(1−2ν) .
L’équilibre en régime statique se traduit par l’équation suivante :
3
X ∂σij
− = fi dans Ω , i = 1, 2, 3 , (3.3)
∂xj
j=1
40 CHAPITRE 3. COUPLAGE ÉLECTROMÉCANIQUE
u|Γu = ū , (3.4)
3
X
− σij nj |Γt = ti , i = 1, 2, 3 , (3.5)
j=1
où n = (n1 , n2 , n3 ) est le vecteur unitaire normal à Γ. En remplaçant (3.1) dans (3.2)
et en combinant avec (3.3), on obtient l’équation de l’équilibre en terme de la variable
u = (u1 , u2 , u3 ) [Pelesko and Bernstein, 2003] :
3 3
X ∂ 2 ui 1 X ∂ui ∂uj
−µ δij + λ + = fi , i = 1, 2, 3 . (3.6)
∂xi xj 2 ∂xj ∂xi
j=1 j=1
′ ∂σij
Z Z Z
′
ǫij (u ) σij dΩ = − ui dΩ + u′i σij nj dΓ , ∀u′ ∈ F0u (Ω) , (3.7)
Ω Ω ∂xj Γ
où F0u (Ω) est l’espace des fonctions test u’ qui s’annulent sur la frontière Γu c.-à-d.
F0u (Ω) = u′ = (u′1 , u′2 , u′3 ) ∈ [H 1 (Ω)]3 ; u′ |Γu = 0 .
En multipliant les membres de (3.3) par les composantes u′i de la fonction test u′ et en
combinant avec l’équation (3.7), on obtient :
′ ∂σij
Z Z Z Z
′
ui fi dΩ = − ui dΩ = ǫij (u ) σij dΩ − u′i σij nj dΓ , ∀u′ ∈ Fu0 . (3.8)
′
Ω Ω ∂x j Ω Γ
3.3.3 Discrétisation
Le domaine Ω est maillé au sens des éléments finis. Chaque composante du déplace-
ment u = (u1 , u2 , u3 ) peut être approximée par une combinaison linéaire des fonctions de
base nodales si , i = 1, ..., N (N étant le nombre des nœuds de l’élément Ωe considéré)
définies dans le paragraphe (1.3.4). Rappelons que (s
1 , ..., sN ) forme une base de l’espace
des champs scalaires Fu0i = ui ∈ H 1 (Ω) ; ui |Γu = 0 , i = 1, 2, 3. Sous forme matricielle,
où [Un ] (de dimension 3N × 1) est le vecteur des déplacements nodaux dans l’élément Ωe ,
[S] (dimension 3 × 3N ) est la matrice d’interpolation des déplacements dans l’élément.
L’équation (3.10) est particularisée pour l’élément Ωe et mise en forme matricielle telle
que :
Z Z Z
′ t
[Un ] t
[B] [C] [B] dΩe [Un ]− t
[S] f dΩ− [S]t t dΓ = 0 , ∀u′ ∈ F0u (Ωe ) , (3.11)
Ωe Ωe Γt,e
où [B] = [D][S] est la matrice d’interpolation des déformations dans l’élément Ωe (dimen-
sion 6 × 3N ), Γt,e est le bord d’élément Ωe où s’applique la force surfacique t. Les matrices
[C] et [D] sont définies en mettant les équations (3.1) et (3.2) sous sous la forme matricielle
suivante :
∂u1 ∂
ǫ11 ∂x1 ∂x1 0 0
∂u2 0 ∂
ǫ22 ∂x2 ∂x2 0
u1
∂u3 0 ∂
ǫ33 ∂x3 0 ∂x3 u = [D]u ,
[ǫ(u)] =
2ǫ23 =
∂u3 = (3.12)
∂u2 ∂ ∂ 2
∂x3 + ∂x2 0 ∂x3 ∂x2 u
3
2ǫ13 ∂u1 + ∂u3 ∂ 0 ∂
∂x3 ∂x1 ∂x3 ∂x1
2ǫ12 ∂u1 ∂u2 ∂ ∂
0
∂x2 + ∂x1 ∂x2 ∂x1
σ11 2µ + λ λ λ 0 0 0 ǫ11
σ22
λ 2µ + λ λ 0 0 0
ǫ22
σ33 λ λ 2µ + λ 0 0 0 ǫ33
[σ] = = = [C][D]u . (3.13)
σ23
0 0 0 µ 0 0
2ǫ23
σ13 0 0 0 0 µ 0 2ǫ13
σ12 0 0 0 0 0 µ 2ǫ12
42 CHAPITRE 3. COUPLAGE ÉLECTROMÉCANIQUE
La relation (3.11) étant vérifiée pour toute fonction test u′ , on déduit le système linéaire
suivant, dont les inconnues sont les déplacements nodaux [Un ] :
où [Ke ] est la matrice de rigidité de l’élément Ωe et [fn,e ] est le vecteur des forces nodales
associée à l’élément Ωe .
Le problème complet est obtenu en assemblant les systèmes d’équations (3.14) associés
aux éléments de Ω, chaque nœud du maillage pouvant appartenir à plusieurs éléments. Le
système à résoudre est de type :
[K][Un ] = [fn ] , (3.15)
[K] est la matrice rigidité structurale, [Un ] est le vecteur des degrés de liberté du domaine
Ω et [fn ] est le vecteur des forces nodales.
1 (A)
Air
15
ε0
10
(C)
15 E ν εr
35
30
y
10 (B)
1 x
10 40
Fig. 3.3 : Géométrie d’un corps diélectrique (C) soumis à un champ électrique extérieur
crée entre deux plaques conductrices (A) et (B) (l’unité des dimensions géométriques est
en mm).
Le système étudié est représenté à la figure (3.3). Il s’agit d’un corps diélectrique (C)
dont le matériau est considéré comme isotrope. Ce corps est caractérisé par la permittivité
relative εr = 78.5, le module d’Young E = 6 MPa et le coefficient de Poisson ν = 0.5. Une
différence de potentiel électrique V = 11 kV est appliquée entre deux plaques conductrices
(A) et (B). Dans cette configuration, la structure de test (C) est soumise à un champ
électrique extérieur et des forces électriques apparaissent sur sa surface. Sous l’effet de
celles-ci, elle se déforme et se déplace vers le conducteur (A). La mesure du déplacement
maximal (au sommet de la structure) donne 0.15 mm. L’erreur relative est calculée par
rapport à cette mesure. Par ailleurs, la simulation du couplage électromécanique réalisée
dans [Barré and Brochet] avec le logiciel ANSYS estime ce déplacement à 0.1425 mm.
Connaissant la distribution du champ électrique, la force électrique locale est calculée par
la formulation suivante :
h 1 1 ε0 i
Fn = (1 − )d2n + (1 − εr )e2t n . (3.17)
2ε0 εr 2
Le maillage 2D des domaines mécanique et électrique est montré dans la figure (3.4).
Notons que le choix d’un maillage plus fin n’est pas nécessaire ici, la géométrie du corps
(C) ne présentant pas de singularités géométriques. La finesse de ce maillage est en outre
la même que celle choisie dans [Barré and Brochet]. Dans le calcul des forces électriques
locales, 47 nœuds discrétisant la surface du corps (C) sont considérés.
44 CHAPITRE 3. COUPLAGE ÉLECTROMÉCANIQUE
y(m)
0.3
0.15
-0.15
x(m)
-0.3
-0.3 -0.15 0 0.15 0.3
Le problème électrique est résolu par la méthodes des éléments finis avec la formulation
en potentiel scalaire électrique. Vu la géométrie simple du corps (C) (c.-à-d., absence de
singularités géométriques), les effets de bord n’interviennent pas dans ce cas test.
La figure (3.5) (à gauche) montre la distribution du potentiel et les force électriques
locales correspondantes sur la surface de la structure. Le problème d’élasticité avec l’hypo-
thèse des petites déformations utilise ces forces comme charges extérieures. Un déplacement
maximal apparaı̂t au sommet de la structure (3.5) (à droite).
umax
umax
Y
Y
Z X
Z X
Fig. 3.5 : Distribution du potentiel électrique et des forces locales correspondantes sur la
surface du corps (C) (à gauche) et le déplacement maximal au sommet de la structure (à
droite).
Tab. 3.1 : Calcul des forces globales Fx et Fy agissant sur la surface du corps (C) en
fonction de l’ordre des éléments utilisés dans le problème électrique.
Le tableau (3.2) récapitule également les résultats obtenus en fonction de l’ordre des
éléments utilisés dans chaque problème, les éléments d’ordre 2 étant de type éléments hié-
rarchiques. L’erreur relative est calculée par rapport à la mesure. Les résultats trouvés ici
sont en accord avec la mesure et la valeur numérique donnée dans [Barré and Brochet]. Le
calcul est également amélioré lorsque des éléments d’ordre 2 (notamment dans le problème
mécanique) sont utilisés.
46 CHAPITRE 3. COUPLAGE ÉLECTROMÉCANIQUE
3.6.2 Micropoutres
Nous abordons à présent la modélisation du couplage électromécanique des poutres
de type MEMS électrostatiques. Le but est d’illustrer la méthodologie de simulation dé-
crite jusqu’à maintenant appliquée à des microstructures en déformation élastique sous
l’effet des forces électrostatiques. Des résultats analytiques seront également présentés et
comparés avec les résultats des simulations.
L
p E ν t V Y
r g Air ε0 X
L′
Fig. 3.6 : Géométrie de la micropoutre (encastrée-libre).
Une étude paramétrique a été proposée dans [Lishchynska et al., 2004] illustrant l’im-
pact de la géométrie de l’encastrement (en fonction de la variable r) sur la réponse méca-
nique (la déflexion maximale de la micropoutre). Cette étude s’est basée sur des modèles
analytiques pour de simples structures de type poutres en flexion. La formule analytique
de la flèche donnée dans ce travail s’exprime par :
L − r α1
α2
F F L
umax = 1.7143 (L − r) + 10.014 g , (3.18)
Eef f t Eef f t
E
où : Eef f = 1−ν 2 est le module d’Young effectif. α1 et α2 sont deux constantes dont
les valeurs sont approchées analytiquement. Elles valent 2.9747 et 2.8797, respectivement.
L’erreur relative de la flèche sera calculée par rapport à cette valeur analytique.
3.6. ILLUSTRATION ET VALIDATION 47
Fig. 3.7 : Maillage 2D des domaines électrique et mécanique (en haut), avec un agrandisse-
ment de l’encastrement (au milieu à gauche) et du voisinage des coins de la micropoutre (en
bas et au milieu à droite) (L = 175 µm, t = 2 µm, L′ = 168 µm, g = 2 µm et r = 2 µm).
Fig. 3.8 : Distribution du potentiel électrique et des forces locales correspondantes sur la
surface de la micropoutre (r = 2 µm, V = 10 V).
de bord dans l’expression de la densité de force électrique et ne tient en compte que d’un
modèle mécanique simplifié.
0.132
MEF : 3
0.13 Analytique :
Erreur relative de la flèche (%)
0.128 2.5
umax (× 10-1µm)
0.126
2
0.124
0.122
1.5
0.12
0.118 1
1.5 2 3 4 5 6 7 1.5 2 3 4 5 6 7
r (µm) r (µm)
Fig. 3.9 : Variation du déplacement maximale (la flèche) de la mircopoutre et son erreur
relative en fonction de r (V = 10 V).
D’autres analyses statiques du couplage ont été menées afin de déterminer la valeur
de la tension de pull-in Vpi . Pour une configuration d’encastrement définie par r = 2 µm,
3.6. ILLUSTRATION ET VALIDATION 49
nous avons trouvé Vpi = 17.75 V. Le déplacement mécanique maximal correspondant est
upi = 0.78 µm. Pour cette tension, la figure (3.10) montre la convergence de la densité de
force électrique (sa composante suivant l’axe y) apparaissant sur la surface de la micro-
poutre et de son déplacement mécanique. 10 itérations étaient nécessaires pour obtenir
une erreur relative en terme de déplacement mécanique inférieure à 2 %.
0
200
−0.1
0 −0.2
−200 −0.3
fy (N/m)
uy (µm)
−0.4
−400 it1
it1 it2
−0.5 it4
−600 it2
it4 it6
−0.6 it8
it6
−800 it8 it9
it10 −0.7 it10
−1000 −0.8
0 20 40 60 80 100 120 140 160 180 0 20 40 60 80 100 120 140 160 180
x (µm) x (µm)
L
V E ν t
Air ε0 g
L′
Fig. 3.11 : Géométrie de la micropoutre bi-encastrée.
densité minimale du maillage impliquant la précision voulue dans le calcul de solution. Les
domaines mécanique et électrique sont maillés par des éléments quadrangulaires uniformes
et triangulaires, respectivement. Les fonctions d’interpolation d’ordre 1 et 2 sont utilisées
dans la résolution des problèmes électrique et mécanique, respectivement. La résolution
du couplage électromécanique suit le schéma (3.1). Afin de comparer avec la valeur ana-
lytique (3.19), les résultats obtenus au cours de la première itération sont considérés. La
figure (3.12) montre que le déplacement maximal converge vers sa valeur analytique. Cette
convergence est illustrée en fonction du raffinement du maillage de la structure mécanique.
0.023
MEF :
0.022
Analytique :
0.021
10
0.019
0.018
0.017 1
0.016
0.015
0.014
0.1
0.013
200 400 600 800 1000 1200 200 400 600 800 1000 1200 1400
Nombre d’inconnues du problème mécanique Nombre d’inconnues du problème mécanique
Tab. 3.3 : Comparaison entre la tension de pull-in calculée par éléments finis et celle
déterminée par les modèles analytiques.
0
0
-0.1
−2
-0.2
−4 -0.3
fy (× 103 N/m)
uy (µm)
−6 -0.4
it1
-0.5 it2
−8 it1 it4
it2 -0.6 it6
−10 it4 it8
it6 -0.7 it9
it8 it10
−12 it9 -0.8
it10
−14 -0.9
−100 −80 −60 −40 −20 0 20 40 60 80 100 -100 -80 -60 -40 -20 0 20 40 60 80 100
x (µm) x (µm)
3.7 Conclusion
La résolution du problème du couplage électromécanique en régime statique a été
réalisée dans ce chapitre. L’interaction entre le système électrostatique et mécanique a été
notamment analysée. La prise en compte de cette interaction suit un schéma de couplage
numérique faible. Les deux problèmes sont ainsi traités séparément et résolus d’une façon
itérative. En effet, lors de chaque pas du processus itératif, le problème électrostatique
est résolu et les forces électrostatiques locales sont calculées. Celles-ci étant la source
du problème mécanique, la déformation de la structure mécanique est calculée. Cette
déformation modifie le champ électrostatique qui doit être recalculé après avoir déformé
le maillage du domaine électrique.
Cette approche a été validée en premier lieu sur un cas test dont l’une des grandeurs
caractéristiques a été mesurée. Un accord entre la valeur mesurée et la valeur calculée a
été constaté (2.6 % comme erreur relative). La convergence de cette méthode est ensuite
démontrée dans l’analyse en statique des poutres de type MEMS électrostatiques. La
tension de pull-in de chaque microstructure considérée a été déterminée et comparée à des
modèles analytiques. Un accord raisonnable entre les valeurs calculées et les valeurs de
référence a été également constaté (l’erreur relative ne dépasse pas 4 %).
52 CHAPITRE 3. COUPLAGE ÉLECTROMÉCANIQUE
Chapitre 4
Méthode de perturbation
4.1 Introduction
Le chapitre précédent a eu pour objet la présentation du problème du couplage élec-
tromécanique rencontré dans la modélisation des MEMS électrostatiques. La résolution de
ce problème s’est basée sur un couplage numérique faible. Cette approche a été illustrée
et validée avec succès sur des cas tests avec l’hypothèse de petits déplacements. Dans ces
exemples, un problème avec un maillage dit “élastique” a été considéré pour la prise en
compte de la déformation de la région d’air en fonction de la position de la structure mé-
canique. Néanmoins, dans le cas où la partie mobile d’un MEMS électrostatique effectue
un mouvement d’amplitude plus importante, la technique précédente conduit rapidement
à des maillages du domaine électrique ayant des éléments très distordus voire dégénérés.
Plusieurs méthodes ont été proposées dans la littérature pour traiter ce problème de
déformation critique du maillage. Par exemple, des techniques du remaillage permettent
de gérer la déformation du maillage de l’air suite à un déplacement de la structure mé-
canique. Afin d’obtenir des maillages homogènes et de qualité optimale, des algorithmes
fiables et automatisant ce remaillage sont nécessaires [Perrin-Bit and Coulomb, 1997]. Or
pour des modèles 3D de géométrie complexe, ces techniques peuvent exiger un temps de
calcul important. Une autre stratégie possible est d’utiliser une méthode hybride qui couple
des éléments frontières avec la méthode des éléments finis [Aluru and White, 1996, Farina
and Rozzi, 2001, Sabariego et al., 2003]. Le problème életrique est résolu d’une part par
la méthode des éléments frontières. Le problème mécanique est traité d’autre part par la
méthode des éléments finis. Dans cette configuration, l’interface air-structure est discré-
tisée par les éléments frontières, la discrétisation en volume de la région de l’air n’étant
plus indispensable. Le remaillage de cette région est ainsi évité. Néanmoins, la méthode
des éléments frontières implique un block plein dans la matrice du système total. La réso-
lution d’un tel système devient donc coûteuse au niveau du temps de calcul et des besoins
en mémoire, surtout lorsqu’il s’agit de traiter des modèles 3D de géométrie complexe.
Pour surmonter cette limitation, une technique d’accélération dite la méthode multipo-
laire rapide (Fast Multipole Method ou FMM) peut être utilisée [Greengard and Rokhlin,
1987, Rokhlin, 1993, Sabariego et al., 2003].
Dans ce chapitre, nous introduisons les étapes fondamentales d’une méthode originale
qui aura pour but de gérer, dans le cadre de la modélisation par éléments finis, le problème
du mouvement. Dans le cas particulier de la modélisation des MEMS électrostatiques, une
53
54 CHAPITRE 4. MÉTHODE DE PERTURBATION
La méthode originale proposée ici est une approche par sous-problèmes, appelée
méthode de perturbation. Elle consiste à subdiviser un problème entier en sous-
problèmes dont les solutions sont dites perturbations [Badics et al., 1997, Suhs et al.,
2002, Sabariego and Dular, 2007b, Dular and Sabariego, 2007, Boutaayamou et al.,
2007, Boutaayamou et al., 2008e]. La complexité du problème initial est ainsi diminuée
en ne se concentrant que sur les zones les plus pertinentes.
Dans le cadre du calcul d’un champ électrique avec des méthodes similaires à celle qui
est proposée ici, on peut citer l’approche de décomposition de domaine présentée dans
[Sebestyen, 2002]. Avec cette méthode, un problème global est résolu en premier lieu et sa
solution est utilisée ensuite dans un problème local. Le transfert de cette solution d’un pro-
blème à l’autre nécessite néanmoins des maillages conformes. Le maillage du domaine local
est en effet inclu dans le domaine global, tandis que la méthode de perturbation, traitée
ici, a pour objet de considérer des sous-problèmes employant des maillages complètement
indépendants entre eux.
Un premier problème, dit non perturbé, est tout d’abord considéré dans le domaine
entier en l’absence de certaines régions conductrices et donc de toute finesse de maillage
qui pourrait y être associée. La taille de ce domaine peut également bénéficier d’une éven-
tuelle réduction par symétrie. Sa solution est déterminée soit par une méthode numérique
classique (par exemple, la méthode des éléments finis), soit analytiquement.
Cette première solution est ensuite utilisée comme source agissant sur le prochain
sous-problème, dit de perturbation, lorsque la région perturbatrice, au départ exclue du
domaine initial, y est ajoutée. Le sous-domaine, où cette région est définie, peut bénéficier
d’une taille réduite par rapport au domaine principal. Dans ce cas, une transformation
géométrique pour approximer la surface à l’infini de ce sous-domaine [Imhoff et al., 1990,
Henrotte et al., 1999] peut être utilisée. Le nombre d’inconnues correspondant au problème
de perturbation est ainsi minimisé. La région conductrice considérée peut être à potentiel
électrique flottant ou fixé. Notons que le résultat de l’addition des solutions respectives
des sous-problèmes, non perturbé et de perturbation, est, en fait, la solution du problème
complet, que l’on peut aussi appeler problème perturbé.
Par ailleurs, les maillages associés aux problèmes non perturbé et de perturbation sont
non seulement indépendants l’un de l’autre, mais ils sont adaptés, un maillage plus fin
étant, par exemple, utilisé aux voisinages des singularités géométriques propres à chaque
problème.
4.2. FORMULATIONS CONTINUES 55
La solution source est connue et discrétisée dans le maillage initial, c.-à-d. le support
du problème non perturbé. Sa prise en compte dans le sous-problème de perturbation
est effectuée par une méthode de projection de Galerkin [Jonhson, 1987, Geuzaine et al.,
1999]. De façon générale, cette méthode de projection permet d’interpoler une grandeur
locale, initialement discrétisée dans un maillage “source”, dans un autre maillage différent
du premier, dit “cible”.
Pour des positions relatives proches entre les régions source et perturbatrice, le cou-
plage électrique entre ces régions peut être significatif. Afin de calculer la solution totale,
une résolution itérative est mise en œuvre [Boutaayamou et al., 2008c,Boutaayamou et al.,
2008d]. Dans ce cas, les solutions des problèmes, non perturbé et de perturbation, sont
transférées tour à tour d’un maillage à l’autre pour tenir compte des corrections adé-
quates apportées par chaque sous-problème. Une succession de solutions perturbées est
ainsi calculée. La somme de ces résultats partiaux donne la solution totale lorsque la
convergence du processus itératif est atteinte. Dans le même contexte, deux techniques, le
procédé ∆2 d’Aitken [Weniger, 2000,Hautot, 2002a] et les approximants de Padé [Hautot,
2002a, Hautot, 2002b], sont considérées pour accélérer cette convergence.
La méthode de perturbation itérative est ensuite considérée pour une résolution plus
efficace et originale des systèmes électrostatiques en mouvement. L’objectif ici est d’ex-
ploiter les résolutions antérieures plutôt que d’entamer un nouveau calcul pour chaque
nouvelle position d’une région perturbatrice mobile. Pour ce faire, la source du problème
de perturbation associé à cette région lors de sa position courante, est calculée non seule-
ment en fonction de la solution du problème source mais aussi en tirant profit de toutes les
corrections déjà calculées dans la position précédente de cette région mobile [Boutaayamou
et al., 2008a].
Toutes les régions mobiles considérées dans cette thèse, sont supposées se déplacer avec
des faibles vitesses en l’absence de tout champ magnétique. L’hypothèse d’un problème
électrostatique est ainsi conservée.
Un premier problème électrostatique, dit non perturbé, est tout d’abord défini dans Ω
excluant la région conductrice Ωc,p. Utilisant la solution du problème non perturbé comme
source du problème de perturbation, celui-ci est résolu dans un domaine Ωp de frontière
Γp = Γe,p ∪ Γd,p incluant la région Ωc,p , dite perturbatrice. L’introduction du domaine Ωc,p
dans la configuration initiale perturbe en effet le champ électrique extérieur. La figure 4.2.1
montre, de façon schématique, les sous-problèmes considérés au sein de la méthode de
perturbation.
Γ = Γe ∪ Γd
Γp = Γe,p ∪ Γd,p
n
n Ωp
Ω
Γc,p
εu Ωc,p
εp
Γc v, e, d
vu , e u , d u
Ωc
n
Ω
Γc,p
Ωc,p
Γc
vp , e p , d p
Ωc
Fig. 4.2 : Définition des sous-problèmes non perturbé dans Ω (en l’absence de la région
perturbatrice Ωc,p ) et de perturbation dans Ωp . Les régions source Ωc et perturbatrice Ωc,p
appartiennent aux sous-domaines Ω et Ωp , respectivement. Le résultat de l’addition des
solutions respectives des sous-problèmes, non perturbé et de perturbation, est la solution
du problème complet (c.-à-d. le problème perturbé).
D’un point de vue discretisation, des maillages différents sont utilisés. Le domaine
source Ω est discrétisé tout à fait indépendamment de la région perturbatrice Ωp . Chaque
problème, non perturbé et de perturbation, bénéficie ainsi des maillages adaptés et donc
d’une réduction de la taille de ces maillages par comparaison à celle qu’aurait le problème
complet résolu avec les techniques classiques (par exemple, la méthode des éléments finis).
Les équations (4.1b) et (4.2b) supposent qu’il n’y a pas de densité de charges électriques
dans les domaines considérés. La soustraction du système (4.1) de celui de (4.2) implique
les relations suivantes :
es = eu , ds = du . (4.4a-b)
Afin que le problème de perturbation soit entièrement défini, des conditions aux limites
doivent être ajoutées au système (4.3). Pour ce faire, il suffit de considérer uniquement la
composante tangentielle de es et la composante normale de ds . Les conditions aux limites
locales du système (4.3) sont ensuite obtenues par l’opposé des termes sources précédents,
telles que :
n ∧ e |Γe,p = −n ∧ es , n · d |Γd,p = −n · ds . (4.5a-b)
Sur la surface extérieure délimitant le domaine Ωp , les conditions aux limites (4.5a-b)
sont homogènes, c.-à-d. n ∧ es = 0 et n · ds = 0. Pour une région Ωc,p ayant les propriétés
d’un conducteur parfait, une condition aux limites du type Dirichlet non-homogène (4.5a)
est appliquée sur sa frontière Γc,p afin de tenir compte de la solution du problème non
perturbé, c.-à-d.
n ∧ es |Γc,p = n ∧ eu . (4.6)
Cette condition implique une condition de Dirichlet non-homogène sur le potentiel de
perturbation v. Celle-ci s’exprime en fonction du terme source vs telle que :
Dans les régions où εp 6= εu , une source supplémentaire venant du problème non
perturbé, (εp − εu ) eu , doit être prise en compte dans (4.3c).
Dans le cas où la région Ωc,p est un conducteur parfait et les domaines Ω et Ωp ont
les mêmes permittivités électriques, εp et εu sont égales et seront notées ε. En combinant
(4.4b) et (4.5b), nous obtenons dans ce cas :
n · d |Γd,p = −n · du . (4.8)
Remarque :
Pour comprendre pourquoi le signe (−) est utilisé dans la relation (4.7), nous considé-
rons la relation qui permet de calculer le potentiel perturbé, c.-à-d. vp = vu + v.
Sur la surface Γc,p , cette relation s’écrit : vp |Γc,p = vu |Γc,p +v |Γc,p . Or, d’après (4.7),
nous obtenons :
vp |Γc,p = vu |Γc,p +v |Γc,p
= vu |Γc,p −vu |Γc,p +Cte
58 CHAPITRE 4. MÉTHODE DE PERTURBATION
= Cte ,
où vp |Γc,p = Cte, est le potentiel fixé sur la surface Γc,p (condition de type Dirichlet
homogène). On voit clairement que le signe (−) permet de compenser le potentiel vu |Γc,p
lorsqu’on s’intéresse à calculer vp |Γc,p .
avec Fv0 (Ω) est l’espace des fonctions-test v ′ (voir la section (1.3.2)). Le terme d’intégrale
de surface dans (4.9) peut être associé à une contrainte globale en terme de la charge
électrique ou utilisé pour fixer une contrainte naturelle sur une partie Γd de la frontière Γ.
Par ailleurs, la projection de vu doit être étendue à tout le volume de Ωc,p dans le cas
d’une région perturbatrice ayant les propriétés d’un diélectrique. Notons également que
l’on considère directement la projection de grad vu afin d’assurer un meilleur comporte-
ment numérique. L’opérateur agissant sur les inconnues dans les équations caractérisant
le système, est en effet un gradient.
Il est important de noter que la projection (4.10) est effectuée sans fixer de conditions
particulières sur les propriétés de la source vu . Sa forme discrétisée générale est considérée.
Sa discrétisation peut être notamment réalisée avec des éléments d’ordres supérieurs.
4.4. CALCUL DES SOLUTIONS PERTURBÉES SUCCESSIVES 59
Ωl,p
Ωc,p
Fig. 4.3 : Couche d’éléments finis qui touchent Γc,p dans Ωp \Ωc,p .
projection peut être limitée à une seule couche d’éléments finis, notée Ωl , entourant Γc
dans Ω\Ωc , c.-à-d.
(grad vs1,i+1 , grad v ′ )Ωl − (grad v2,i , grad v ′ )Ωl = 0 , ∀v ′ ∈ Fv0 (Ωl ) . (4.12)
avec les conditions aux limites non-homogènes de types Dirichlet v1,i+1 = −vs1,i+1 |Γc , et
Neumann n · d1,i+1 = −n · d2,i |Γd . Notons que cette dernière condition n’est pas connue
sous une forme forte.
Par ailleurs, l’intégrale de surface de l’équation (4.13) peut être calculée grâce à la
formulation faible du problème {2, i} défini dans ce cas dans Ωl , tel que :
vp = v1 + v2
N
X N
X
= v1,i + v2,i . (4.15)
i=1 i=1
+ v1,1 + v2,1
+ v1,2 + v2,2
+ v1,3 + v2,3
+ v1,4 + v2,4
Convergence
vp = v1 + v2
N
X N
X
= v1,i + v2,i
i=1 i=1
Fig. 4.4 : Distribution des corrections v1,i et v2,i calculées dans chaque sous-problème et
la solution totale vp du problème complet (après convergence). Le sous-problème d’indice
{1} est ici choisi comme le problème de référence (ou le problème source).
62 CHAPITRE 4. MÉTHODE DE PERTURBATION
Ω\Ωc,p Ωp
le champ électrique perturbé ep peut être déterminé dans la couche de transition Ωl,p
entourant Γc,p dans Ωp \Ωc,p . La connaissance de ce champ dans une seule couche d’éléments
finis permet de calculer la force. Nous rappelons ci-après la contribution d’un élément Ωe
dans l’estimation de la force électrique locale dans la direction d’un déplacement virtuel
r, c.-à-d.
ε ∂J ∂|J|
Z
Fr = (−2 ep J −1 ep + ep ep ) dΩe . (4.20)
Ωe 2 ∂u ∂u
Dans le cas d’un processus itératif, la force électrique totale ne peut pas se calculer
par simple sommation de forces élémentaires déterminées à chaque itération i, comme
c’est le cas pour la charge électrique totale. La force dépend en effet du carré de ep . Cette
dépendance est donc non linéaire. Il est donc nécessaire de calculer tout d’abord un champ
électrique total avant de pouvoir appliquer (4.20). A l’itération i, ce champ correspond à
la somme partielle suivante :
i
X i
X
ep,i = e1,i + e2,i , i = 1, 2 . . . , N. (4.21)
j=1 j=1
Lorsque ep,i est remplacé dans (4.20), on obtient la force électrique locale Fr,i évaluée
aux nœuds de la surface Γc,p à l’itération i. La force globale est obtenue en sommant les
forces calculées dans tous les nœuds de Γc,p.
où : si = v1,i + v2,i (i = 1, 2, . . . , n). Et si l’on s’intéresse à calculer la charge électrique sur
la surface de Ωc,p, il s’agit de déterminer la limite de la série précédente avec si = Q1,i +Q2,i
(i = 1, 2, . . . , n). Une relation équivalente peut être définie pour le champ électrique.
Considérons dans ce paragraphe cette série (Sn )n∈N0 représentative de l’ensemble des
solutions locales et globales du problème électrique considéré. On suppose ici qu’elle est
convergente et sa limite est notée S (c.-à-d. vp , Qp ou ep ). Comme nous l’avons mentionné
précédemment, plusieurs itérations sont parfois nécessaires pour obtenir une solution suffi-
samment précise (voire correcte) lorsque la région perturbée est proche de la région source.
Une procédure d’accélération de convergence est alors considérée. Une telle technique se
base sur l’idée d’une procédure d’extrapolation en définissant une transformation de suites.
Elle consiste en pratique à transformer la série (Sn )n∈N0 en une nouvelle suite (An )n∈N0
qui converge plus rapidement vers la même limite S. Parmi les transformations traitées
ici, le procédé ∆2 d’Aitken et les approximants de Padé.
64 CHAPITRE 4. MÉTHODE DE PERTURBATION
Ce procédé conserve la limite de la série de départ. Par ailleurs, une des classes de
séries présentant des propriétés favorables pour être accélérées par la technique d’Aitken,
appartient au noyau de transformation suivant :
Sn = S + c λn , c 6= 0 , |λ| =
6 0, ∀n ∈ N0 . (4.24)
Dans le cas où l’on considère que (Sn )n∈N0 est convergente, |λ| doit être inférieur à 1.
Dans (4.24), le procédé ∆2 d’Aitken se présente comme une méthode d’extrapolation par
une exponentielle. Il considère les trois termes consécutifs Sn , Sn+1 et Sn+2 et calcule leur
meilleur ajustage par (4.23).
f (x) = a0 + a1 x + a2 x2 + a3 x3 + . . . (4.25)
Le problème posé par Padé est de trouver une approximation de f sous forme de
fractions rationnelles dépendant de la variable x. Un tel approximant, noté [l/m], peut
s’écrire comme suit [Hautot, 2002a] :
b0 + b1 x + · · · + bl x l
[l/m] = , (4.26)
c0 + c1 x + · · · + cm xm
avec bl 6= 0 et cm 6= 0. Les coefficients bi et ci sont tels que le développement de
[l/m] en série de Maclaurin coı̈ncide avec celui de f (x). Cette propriété se traduit par
[l/m] − f (x) = O(z l+m+1 ) et implique le système suivant :
X m
ak−i ci = −bk si k = 0, . . . , l,
i=0
X m (4.27)
ak−i ci = 0 si k = l + 1, . . . , l + m.
i=0
l\m 0 1 2 3 4
0 [0/0] [1/0] [2/0] [3/0] [4/0]
1 [0/1] [1/1] [2/1] [3/1] ...
2 [0/2] [1/2] [2/2] ... ...
3 [0/3] [1/3] ... ... ...
4 [0/4] ... ... ... ...
convergence. Pour ce faire, on considère tout d’abord une suite (un )n∈N [Rhoades-Brown
et al., 1980] définie par :
u0 = S0 ,
ui = Si − Si−1 , i = 1, 2, . . . , n. (4.28)
Utilisant les termes de la suite (un )n∈N , une série (Pn (x))n∈N est construite telle que :
n
X
Pn (x) = ui xi . (4.29)
i=0
Par construction, la somme partielle Sn est obtenue en additionnant les n+1 termes de
la série (Pn (x))n∈N évaluée en x = 1, c.-à-d. Sn = Pn (1). L’accélération de la convergence
de la (Sn )n∈N revient donc à considérer les approximants de Padé du polynôme Pn (x),
d’ordre n, évalué en x = 1.
Remarques :
• Il est intéressant de remarquer que la première ligne de la table des approximants
de Padé (c.-à-d. [l/1]) peut être obtenue par application du procédé ∆2 d’Aitken à
la suite [l/0]. On démontre en effet que [Hautot, 2002a] :
(n) (n+1) (n+1) (n)
ek = ek−1 + qk
− qk , k = 0, 1, . . . ; n = 0, 1, . . .
(n+1)
(n) ek (n+1) (4.33)
qk+1 =
(n)
ek
qk , k = 0, 1, . . . ; n = 0, 1, . . .
Démonstration
Les exposants t0 et t1 font référence dans la suite aux potentiels calculés lors des
positions initiale et courante, respectivement.
Afin de démontrer (4.35), nous considérons la solution perturbée vpt1 dans le domaine
Ω à l’itération i = 2. D’après (4.15), nous avons :
t0
Or, vpt1 |Γc et v1,1 |Γc font référence au même potentiel qui a été imposé sur la surface
Γc comme condition de type Dirichlet homogène. Ces deux potentiels sont donc égaux sur
Γc . La relation (4.37) devient :
N
X
t1 t1 t0
v1,2 |Γc = −v2,1 |Γc − v1,i |Γc . (4.39)
i=2
Dans les prochaines itérations i ≥ 2, les problèmes de perturbation considérés sont ré-
solus de façon analogue. Le procédé itératif est réitéré jusqu’à l’obtention de la convergence
pour une tolérance donnée.
Ces étapes de la résolution restent les mêmes pour les prochaines positions de la région
mobile Ωc,p (c.-à-d. les prochains pas de temps).
68 CHAPITRE 4. MÉTHODE DE PERTURBATION
Vc = 0V
∞ d ∞
Air ε
d1
0
V0′ = −1V
Fig. 4.6 : Conducteur à potentiel fixé (région de perturbation) entre deux électrodes d’un
condensateur (régions source).
Le système étudié est représenté à la figure (4.6). Il s’agit de deux électrodes infinies
parallèles séparées d’une distance d et fixées à une différence de potentiel ∆V = 2V (l’une à
V0 = 1V et l’autre à V0′ = −1V). Entre les deux plaques, un conducteur long, à potentiel
fixé à Vc = 0V , est placé à une distance d1 de l’électrode fixée à V0′ . Cet exemple se ra-
mène à un problème unidimensionnel dans l’intervalle x ∈ [0, d]. Les grandeurs électriques
considérées sont ainsi calculées selon la direction x.
Pour appliquer la méthode de perturbation, on décompose le problème total en deux
sous-problèmes. Le premier est défini dans un système composé des deux plaques seules en
l’absence du conducteur. C’est le problème non perturbé. Le deuxième est défini dans un
sous-domaine comportant la région perturbatrice, le conducteur soumis au potentiel Vc .
C’est le problème de perturbation. L’objectif est de déterminer la répartition du potentiel
et champ électriques perturbés pour tout x dans [d1 , d]. Les mêmes démarches de résolution
sont appliquées pour trouver les solutions perturbées dans l’intervalle [0, d1 ].
La distribution du potentiel non perturbé est tout d’abord calculée entre les deux
électrodes pour tout x dans [0, d], c.-à-d. le conducteur perturbateur est exclu. Cette
solution est ensuite évaluée à la position x = d1 (c.-à-d. la position qu’occuperait le
conducteur si le problème complet était considéré) et permet d’obtenir la source pour le
problème de perturbation. Celui-ci n’est qu’un problème d’électrostatique défini dans un
sous-domaine qui entoure le conducteur. Dans ce problème, nous considérons que la surface
à l’infini est fixée à un potentiel nul. Par ailleurs, la précédente source (au signe près) est
appliquée comme condition aux limites de type Dirichlet non-homogène sur la surface du
conducteur perturbateur. Une fois calculée, le potentiel de perturbation, est évaluée à la
distance x = d (la position de l’électrode au potentiel V0 ) corrigeant ainsi la configuration
initiale. Ce schéma itératif de résolution est illustré dans le diagramme (4.7).
4.9. ILLUSTRATION ET VALIDATION 69
x
Γc,1
V0
Γc,p
Vc = 0 V
d
d1
0
V′ 0
d1
v1,2 |Γc,1 = −vs1,2 = d V0
Fig. 4.7 : Calcul des solutions perturbées successives pour un problème électrostatique
unidimensionnel ( x ∈ [d1 , d]).
avec r = dd1 . Notons que c’est une série géométrique de raison r. Puisque r = dd1 6 1, la
convergence est assurée. Remarquons également que sa limite, v(x) = x−d d−d1 V0 , coı̈ncide
1
avec la solution analytique (4.40). Pour la suite, l’erreur relative est calculée par rapport
à la solution analytique (4.40).
0.8
0.6
V (V)
Electrode (région source)
0.4 Conducteur (d1 = 0.1 d)
0.2
0
1 2 3 4 5 6 7
Itérations
1
0.8
0.6
V (V)
0.2
0
1 3 5 7 9 11
Itérations
0.8
0.6
V (V)
0.2
0
1 10 20 30 40 50 60
Itérations
10
d1 = 0.1 d
ex (V/m)
d1 = 0.5 d
d1 = 0.9 d
1.11
1
1 10 100
Itérations
100
d1 = 0.1 d
d1 = 0.5 d
Erreur relative de ex (%)
d1 = 0.9 d
10
0.1
1 10 100
Itérations
La série (4.41) est donc de type (4.24) et se prête bien pour être accélérée par le procédé
∆2 d’Aitken. L’application de cette technique a permis par exemple d’obtenir une erreur
relative inférieure à 1% de la solution dès la 3ième itération au lieu de 43 pour d1 = 0.9 d.
V = 1V
d
A1 M1 A2
M2
X
A4 A3
Vc = 0.7 V
Air
ε0
V = 0V
Fig. 4.10 : Conducteur à potentiel fixé (région de perturbation) entre deux électrodes
d’un condensateur (régions source).
Z X
des effets de bords par la méthode proposée. En outre, ce conducteur est fixé au potentiel
0.7 V.
La figure (4.11) montre des exemples de maillages des problèmes non perturbé et de
perturbation. La finesse de chaque maillage est adaptée au problème associé. Par exemple,
un maillage plus fin au voisinage des coins du conducteur perturbateur est utilisé afin de
tenir compte correctement des effets de bords. Notons également que toute intersection
entre les frontières de chaque sous-problème est autorisée, leurs maillages associés étant
générés complètement indépendamment l’un de l’autre.
La figure (4.12) montre la suite des solutions mises en jeu dans la méthode de pertur-
bation appliquée à un problème électrostatique, à savoir : les champs non perturbés vu (a)
et eu (c), les champs de perturbation v (b1 ) et e (d1 ), et les champs perturbés vp (b2 ) et
ep (d2 ).
4.9. ILLUSTRATION ET VALIDATION 73
(b1 ) (b2 )
(a)
(d1 ) (d2 )
(c)
Fig. 4.12 : Champs non perturbés vu (a) et eu (c) ; champs de perturbation v (b1 ) et e
(d1 ) ; champs perturbés vp (b2 ) et ep (d2 ).
10 it = 01
it = 05
Erreur relative de vp (%) 5 it = 07
it = 08
0.1
-40 -20 0 20 40
Position selon x (µm) (coupe suivant la ligne passant par [A1A2])
50
Erreur relative de ep,y (%)
it = 01
it = 08
it = 11
5 it = 12
0.5
0.3
−40 −20 0 20 40
Position selon x (µm) (coupe suivant la ligne passant par [A1A2])
Fig. 4.13 : Erreur relative de vp (en haut) et de la composante y de ep (en bas) calculée
lors des itérations i.
5
1 Aitken−it = 3
Aitken−it = 4
1e−5
−40 −20 0 20 40
Position selon x (µm) (coupe suivant la ligne passant par [A1A2])
6
Erreur relative de ep,y (%)
0.1
Aitken-it = 3
Aitken-it = 4
5e-3
-40 -20 0 20 40
Position selon x (µm) (coupe suivant la ligne passant par [A1A2])
10
5
1
1e−4
[0/0]−it = 1 [1/1]−it = 3
[0/1]−it = 1 [1/2]−it = 4
−40 −20 0 20 40
Position selon x (µm) (coupe suivant la ligne passant par [A1A2])
50
10
Erreur relative de ep,y (%)
0.1
0.01
0.001
[0/0]-it = 1 [1/1]-it = 3
[0/1]-it = 1 [1/2]-it = 4
-40 -20 0 20 40
Position selon x (µm) (coupe suivant la ligne passant par [A1A2])
Qp
70 Qp−Aitken
Fp
Fp−Aitken
Erreur reative (%)
10
0.1
0.02
1 3 5 7 9 11 13
Itérations
10
0.01
0.001
[1/2]-it = 4 [1/1]-it = 3
Aitken-it = 4 Aitken-it = 3
-40 -20 0 20 40
Position selon x (µm) (coupe suivant la ligne passant par [A1A2])
Fig. 4.17 : Comparaison entre les résultats obtenus avec l’approximant [1/2] et le procédé
∆2 d’Aiken à l’itération 4.
Y Electrode fixe
Doigt mobile g
A1
b 0 X
L A2 L
Air ε0 b
Fig. 4.18 : Modèle 2D d’une cellule de peignes d’un actionneur électrostatique avec un
doigt pouvant se déplacer dans la direction x.
Le problème de référence est défini dans le domaine Ω contenant l’électrode fixe (c.-
à-d., Ωc ). Un deuxième problème est ensuite considéré dans le domaine Ωp contenant le
doigt mobile (c.-à-d., Ωc,p ). Des exemples de leurs maillages associés sont montrés dans la
figure (4.19). Notons que ces maillages sont raffinés au voisinage des coins afin d’améliorer
la précision du calcul de la force électrique. Ils sont également indépendants l’un de l’autre.
L’intersection entre leurs frontières est donc autorisée. Les distorsions des éléments discré-
tisant Ωp sont par conséquent évitées dans le cas des déplacements critiques de Ωc,p . Par
ailleurs, les effets de bords sont pris en compte dans la résolution par l’approche proposée
vu la géométrie de ces conducteurs.
Dans la suite, l’erreur relative des résultats obtenus avec la méthode proposée est cal-
culée par rapport à ceux déterminés par la modélisation classique par éléments finis du
problème complet (où il est question de remailler le domaine électrique entier pour chaque
déplacement du doigt). Nous considérons également que la convergence du processus ité-
ratif est atteinte lorsque l’erreur relative du potentiel électrique (4.17) est inférieure à
1 %.
Les figures (4.20) et (4.21) montrent les résultats de l’application de l’approche propo-
sée pour deux positions successives du doigt, x = 0 µm (c.-à-d., à l’instant t0 ) et x = 1 µm
78 CHAPITRE 4. MÉTHODE DE PERTURBATION
Y
Z X
Fig. 4.19 : Maillages adaptés pour Ω (à droite) et Ωp (à gauche) avec une transformation
géométrique pour approximer la surface à l’infini [Imhoff et al., 1990,Henrotte et al., 1999].
Les charges électriques sont tout d’abord calculées sur les surfaces des deux conducteurs
(c.-à-d., Γc et Γc,p ) et sur la surface extérieure du Ω (la surface approximant la surface à
l’infini du problème de référence).
Nous considérons les charges calculées lors de trois instants successifs t0 (x = 0 µm),
t1 (x = 1 µm) et t2 (x = 2 µm) sur les surfaces Γc (voir la figure (4.22) (en haut)) et Γc,p
(voir la figure (4.22) (en bas)). On voit clairement que les calculs réalisés à t0 (à t1 ) sont
exploités à t1 (à t2 ).
Les charges sont ensuite calculées dans chacune des positions, x = 1, 2, . . . , 8, 9 µm
(voir la figure (4.23) (à gauche)). Un accord par rapport aux résultats obtenus par la
méthode des éléments finis classique est constaté (l’erreur relative ne dépasse pas 3% ;
voir la figure (4.23) (à droite)). La conservation de la charge pour le système total est
également assurée.
Les forces électriques apparaissant sur la surface du doigt mobile sont ensuite calculées.
Afin de valider ces résultats, nous considérons la force totale fx obtenue par la somme des
forces calculées aux nœuds sur une partie [A1 A2 ] de la surface Γc,p (voir la figure (4.18)).
Dans chaque position de Ωc,p, la valeur de cette force est similaire à celle déterminée par
la méthode des éléments finis classique (l’erreur relative est inférieure à 3%).
4.9. ILLUSTRATION ET VALIDATION 79
YZ YZ
0 1.25 2.5 X -4.72 -2.36 0 X
+ v1,1 + v2,1
YZ YZ
-0.0013 1.62 3.24 X -2.57 -1.28 0 X
+ v1,2 + v2,2
YZ YZ
-0.000656 0.859 1.72 X -1.36 -0.679 0 X
+ v1,3 + v2,3
(0.5) (0.5)
YZ YZ
-0.00264 4.64 9.29 X -10.1 -5.05 0 X
= v1 + v2
v
YZ
-2.5 0 2.5 X
= v1 + v2
Fig. 4.20 : Distribution des corrections v1,i et v2,i calculées dans la position initiale du
doigt (x = 0 µm), les solutions totales v1 et v2 des deux sous-problèmes et la solution
totale vp du problème complet. 8 itérations étaient nécessaires pour la convergence (les
résultats des itérations 4, . . . , 8 ne sont pas montrés).
80 CHAPITRE 4. MÉTHODE DE PERTURBATION
YZ YZ
-0.00264 4.64 9.29 X -10.2 -5.1 0 X
+ v1,1 + v2,1
YZ YZ
-0.264 0.283 0.829 X -0.639 -0.32 0 X
+ v1,2 + v2,2
YZ YZ
-0.000189 0.192 0.384 X -0.319 -0.159 0 X
+ v1,3 + v2,3
(1) (1)
YZ YZ
-0.00416 5.29 10.6 X -11.4 -5.72 0 X
= v1 + v2
v
YZ
-2.5 0 2.5 X
= v1 + v2
Fig. 4.21 : Distribution des corrections v1,i et v2,i calculées au cours de la deuxième
position du doigt (x = 1 µm), les solutions totales v1 et v2 des deux sous-problèmes et la
solution totale vp du problème complet. 5 itérations étaient nécessaires pour la convergence
(les résultats des itérations 4 et 5 ne sont pas montrés).
4.9. ILLUSTRATION ET VALIDATION 81
x=0 µm
x=1 µm−Sans exploitation des calculs précédents
5 x=1 µm−Exploitation des calculs précédents
2
1 3 5 7 9 11 13 15 17
Nombre d’itérations
−1
x=0 µm
−1.2 x=1 µm−Sans exploitation des calculs précédents
x=1 µm−Exploitation des calculs précédents
−1.4 x=2 µm−Sans exploitation des calculs précédents
Charges (× 10−10 C)−Doigt mobile