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Departamento de Fı́sica
Interferómetro de Michelson:
princı́pios e aplicações
Margarida Facão
Março de 1999
Conteúdo
1 Introdução 3
2 Considerações teóricas 6
2.1 Interferência . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
2.2 Tipo de franjas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
2.2.1 Franjas produzidas por uma placa de faces paralelas . . . . . . . 8
2.2.2 Franjas produzidas por um filme fino . . . . . . . . . . . . . . . . 9
2.3 Coerência . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
2.3.1 Funções de correlação entre campos luminosos . . . . . . . . . . 13
2.4 Polarização . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15
2.5 Interferómetro de Michelson . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
2.6 Espectroscopia de Fourier . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
2.7 Velocimetria usando o efeito de Doppler . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
Apêndices 45
1
B Tabelas de resultados experimentais 60
Bibliografia 68
2
Capı́tulo 1
Introdução
A disciplina de Óptica Aplicada faz parte dos currı́culos dos cursos de Engenharia
Fı́sica, Ensino de Fı́sica e Quı́mica e Engenharia Electrónica e de Telecomunicações
como disciplina de opção. No curso de Engenharia Fı́sica ela aparece nos grupos da
Opção II e Opção VI que estão, respectivamente, no 3o e 4o anos, ambas no 1o semestre.
No curso de Ensino de Fı́sica e Quı́mica ela pertence ao grupo de disciplinas da Opção
I do 1o semestre do 4o ano. Finalmente, no curso de Engenharia Electrónica e de
Telecomunicações ela faz parte do grupo da Opções do 1o semestre do 5o ano.
Embora a disciplina seja apelidada de Aplicada, o seu programa (ver Apêndice
C) contempla tópicos de óptica fundamental como a óptica geométrica, interferência,
difracção ou mesmo teoria da coerência. Pressuponho que assim seja porque os conhec-
imentos de óptica dos alunos visados se resumem a um capı́tulo de óptica geométrica
na disciplina de Fı́sica I (integrada no ano comum) e a uma parte da disciplina de
Ondas, que lhes terá proporcionado os conceitos básicos de propagação de ondas elec-
tromagnéticas, reflexão, refracção, interferência e difracção.
Este texto propõe um módulo de trabalho experimental para a disciplina de Óptica
Aplicada. O trabalho baseia-se no fenómeno da interferência e é utilizado o inter-
ferómetro de Michelson. Com ele pretendemos que os alunos atinjam os seguintes
objectivos:
3
o avanço do processamento de sinais digitais e até o desenvolvimento da óptica não lin-
ear têm vindo a desenvolver e a criar novas aplicações nesta área.
O interferómetro de Michelson é um interferómetro simples, que pode apresentar-se
em diversas variantes, permitindo o estudo da interferência e a implementação de diver-
sas aplicações, sendo por isso interessante sob o ponto de vista pedagógico. Este inter-
ferómetro é o mais simples e mais conhecido dos interferómetros de divisão de amplitude
que usam espelhos e divisores de feixe. O uso destes componentes tem a vantagem de
os feixes sobrepostos estarem claramente separados antes da recombinação, pelo que
um deles pode sujeitar-se, isoladamente, a alterações ópticas controláveis. Uma das
variantes do interferómetro de Michelson é o interferómetro de Twyman-Green, onde
a diferença essencial relativamente ao primeiro é o facto dos feixes serem constituı́dos
por luz colimada. Este último é um instrumento muito importante no teste de sis-
temas ópticos. Introduzindo um segundo espelho poderemos obter o interferómetro
de Mach-Zehnder. Este interferómetro é de alinhamento mais complicado mas, em
contrapartida, apresenta maior versatilidade nas aplicações.
O importância do interferómetro de Michelson reside não só na sua simplicidade
como também na sua origem histórica. Ele recebeu o nome do seu autor, Albert
Abraham Michelson. Michelson nasceu em 1852 em Strzelmo na Prússia e emigrou
para os E.U.A. com os seus pais em 1856. A sua carreira começou na Academia Naval
e, depois de uma estadia em algumas Universidades europeias, foi professor de Fı́sica
na Escola de Ciência Aplicada de Case em Cleveland, na Universidade de Clark em
Worcester e finalmente na Universidade de Chicago (1892-1929). Michelson deu um
grande contributo à óptica, principalmente à interferometria, tendo recebido o prémio
Nobel da Fı́sica em 1907. Uma das suas mais conhecidas experiências, para a qual
projectou o interferómetro baptizado com o seu nome, é a experiência de Michelson-
Morley para a medição do deslocamento do éter (experiência que, aliás, conduziu à
rejeição da hipótese da existência de tal meio). O mesmo interferómetro foi por ele
usado no estudo da estrutura de linhas espectrais da luz de várias lâmpadas, usando
uma técnica semelhante à conhecida, actualmente, por espectroscopia de Fourier [1].
A propósito da importância do trabalho experimental no ensino da Fı́sica parece-me
interessante mencionar algumas ideias sobre o assunto apontadas num debate intitu-
lado Pelo ensino experimental das ciências, cuja realização se integrou na homenagem
nacional a Rómulo de Carvalho. Este debate foi reportado pela Gazeta de Fı́sica no seu
número de Janeiro/Março de 1997 [2]. Como foi referido neste debate, a articulação
da teoria e da experimentação iniciou-se no século XVIII com os filósofos naturais e
constitui a base da ciência da modernidade. Mais do que articulação a teoria deve
submeter-se à experimentação para conseguir a sua validação. Sendo assim, na apren-
dizagem da ciência é imperscendı́vel a aprendizagem de métodos de experimentação.
Além disso, segundo alguns autores, a ontogénese do conhecimento cientı́fico segue
a filogénese do mesmo, isto é, a construção pessoal do conhecimento é semelhante à
construção histórica desse mesmo conhecimento. Se a experimentação foi decisiva na
evolução histórica da ciência, também o será na aprendizagem da ciência feita por cada
indivı́duo. Então, o ensino experimental é de importância fundamental no ensino das
ciências, e particularmente da Fı́sica.
4
Outra vantagem do ensino experimental é a motivação para o estudo que ele pode
estimular no estudante. De facto, são muitos os estudantes que têm um especial fascı́nio
pela observação dos fenómenos, pelo manuseamento dos instrumentos e pela possibil-
idade de agir sobre os esquemas experimentais, mesmo que em alterações simples, na
perspectiva de ”saber o que acontece”. Sendo assim, o trabalho laboratorial pode
fomentar-lhes o gosto pela disciplina. Isto pode ser especialmente verdade na área
da óptica que actualmente é motivo de grande interesse em termos tecnológicos, com
aplicações em telecomunicações, sensores, processamento de sinal e imagem, instru-
mentação de diagnóstico médico, etc.
Apontemos os objectivos do trabalho experimental na disciplina de Óptica Aplicada.
Eles são: (i) verificação ou confirmação de fenómenos ou leis constantes do programa
teórico (objectivo que é comum a todas as outras disciplinas), (ii) desenvolvimento de
habilidade para trabalhar com componentes ópticos, fontes de luz, sistemas de detecção
de luz e sistemas de aquisição de dados, (iii) aprendizagem de técnicas experimentais em
óptica e (iv) iniciação aos métodos de investigação experimental em fı́sica, neste caso
na área da óptica (objectivo importante principalmente numa disciplina dos últimos
anos como é o caso). No caso particular do trabalho por nós proposto, o fenómeno
em destaque é a interferência e a técnica a interferometria. Este trabalho, como per-
mite aprofundar o fenómeno da interferência, também possibilita o aprofundamento de
outros conceitos como a coerência, tão intimamente ligada à interferência, e outros,
não tão relacionados, como a polarização, reflexão e refracção. Como aborda assun-
tos fundamentais da óptica, o trabalho pode ser adaptado, em parte, para disciplinas
de anos anteriores. Referimo-nos especialmente à disciplina de Ondas que, como foi
referido acima, introduz os conceitos fundamentais associados à propagação de ondas
electromagnéticas.
A carga horária de Óptica Aplicada compreende 2 horas semanais de trabalho ex-
perimental o que equivale a cerca de 24 horas em todo o semestre. Proponho que
este trabalho, de carácter mais fundamental, seja realizado na primeira metade do
semestre, restando meio semestre para a realização de um trabalho de ı́ndole mais apli-
cada. Talvez seja um pouco ambicioso querer cumprir o que aqui se propõe em 12 horas
de trabalho experimental, mas penso ser possı́vel se o professor intervier, especialmente
nos processos de montagem. Embora esta intervenção do professor possa limitar a cria-
tividade dos alunos, ela permite assegurar o cumprimento do que é proposto no tempo
previsto. De facto, alguns procedimentos práticos do alinhamento de componentes ou
da obtenção de franjas não se encontram em livros sobre o assunto e são essenciais no
decorrer do trabalho.
5
Capı́tulo 2
Considerações teóricas
2.1 Interferência
Se dois feixes de luz se sobrepõem numa determinada região do espaço e nessa região a
irradiância luminosa variar de ponto para ponto, entre máximos que excedem a soma
das irradiâncias dos dois feixes e mı́nimos que podem ser zero, estamos perante um
fenómeno denominado interferência.
Mas nem sempre a sobreposição de dois ou mais feixes de luz produzem fenómenos
de interferência. Quando não existe interferência diz-se que os feixes são incoerentes, e
quando existe interferência diz-se que os feixes são completa ou parcialmente coerentes.
Luz proveniente de fontes diferentes ou de pontos diferentes da mesma fonte extensa
são geralmente incoerentes, e luz que viajou percursos diferentes pode também ser
incoerente, dependendo da diferença de percursos e do grau de monocromaticidade da
luz. O problema da coerência está intimamente relacionado com a interferência e é
discutido na secção 2.3. Outra condição que tem que ser cumprida para que ocorra
interferência está relacionada com o estado de polarização dos feixes envolvidos. Este
problema será discutido na secção 2.4.
Por agora, vamos analisar a interferência de dois feixes monocromáticos, logo com-
pletamente coerentes, com vibrações no mesmo plano, logo no mesmo estado de polar-
ização. A irradiância da luz define-se como a média temporal da quantidade de energia
que atravessa, por unidade de tempo, a unidade de superfı́cie perpendicular à direcção
do fluxo de energia, ou seja a média temporal da grandeza do vector de Poynting S
6
Como compararemos irradiâncias no mesmo meio usaremos < E 2 > para representar
a irradiância.
Sejam duas ondas electromagnéticas descritas pelo seu campo eléctrico complexo
que varia entre os valores máximos de 4I1 e mı́nimos que são zero.
O fenómeno de interferência é mais complexo pela não monocromaticidade, pela
finitude das fontes e até pela existência de diferentes estados de polarização. No entanto,
esta análise é suficiente para iniciar a compreensão dos fenómenos de interferência e
pode ser alargada ao estudarmos situações reais.
Interferómetros são configurações que usam o fenómeno de interferência para de-
terminação de algumas grandezas fı́sicas. Existem dois tipos de interferómetros: in-
terferómetros de divisão de frente de onda, quando o feixe é dividido, ao passar por
diferentes aberturas colocadas lado a lado e interferómetros de divisão de amplitude,
quando o feixe é dividido em superfı́cies parcialmente reflectoras. Os primeiros uti-
lizam fontes pequenas, os segundos podem usar fontes extensas. Em ambos os casos
é possı́vel fazer uma outra classificação, que depende do número de feixes envolvidos:
interferência de dois feixes e interferência de feixes múltiplos.
O interferómetro de Michelson é um caso de interferómetro de divisão de amplitude.
Como exemplo de interferómetro de divisão de frente de onda, referimos a dupla fenda
de Young.
7
2.2 Tipo de franjas
Aos máximos e mı́nimos de irradiância observados no padrão de interferência dá-se o
nome de franjas brilhantes e escuras, respectivamente.
As franjas podem dividir-se em franjas localizadas e não localizadas. Elas são não
localizadas quando ocupam toda a região de sobreposição dos feixes intervenientes. A
sua visibilidade depende da irradiância das duas ondas. Este tipo de franjas obtem-se
sempre que usamos fontes pontuais. Por outro lado, as franjas localizadas encontram-se
em determinadas superfı́cies da região de sobreposição e são caracterı́sticas das fontes
extensas. De facto, uma fonte extensa pode ser descrita como um conjunto de fontes
pontuais incoerentes, cada uma das quais origina um padrão de interferência não lo-
calizado. Como as fontes são incoerentes, os padrões de interferência estão desloca-
dos uns relativamente aos outros e a visibilidade das franjas diminui. A visibilidade
pode reduzir-se a zero com o aumento da extensão da fonte, mas, em determinadas
superfı́cies, ela pode manter-se perto do valor que tinha com uma fonte pontual, oca-
sionando as tais franjas localizadas [3].
Outra classificação das franjas divide-as em reais e virtuais [4]. As franjas reais
podem ser observadas em ecrãs, sem necessidade de sistemas ópticos adicionais, porque
os raios convergem para o ponto de observação. Pelo contrário, para observarmos as
franjas virtuais necessitamos de um sistema formador de imagens, porque os raios não
convergem para o ponto de observação.
A interferência de dois feixes num interferómetro de divisão de amplitude origina
dois principais tipos de franjas: franjas de igual espessura e franjas de igual inclinação,
que se descrevem a seguir [3, 5, 4].
∆S = 2ABn0 − AN n
(2.11)
= 2hn0 /cosθ0 − 2hn tan θ0 sin θ
8
P
S S
n
N
θ
N A C
h θ'
n'
(a) (b)
Figura 2.1: Interferência produzida por uma placa de faces paralelas sendo a fonte (a)
pontual e (b) extensa.
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Figura 2.2: Interferência produzida por um filme fino. Feixes intervenientes na
produção das franjas (a) não localizadas e (b) localizadas.
Como na secção anterior, consideremos primeiro a iluminação por uma fonte pon-
tual, com a qual obtemos franjas não localizadas (ver figura 2.2(a)). Se o filme for
fino e o ângulo entre as faces for pequeno, isto é, faces quase paralelas, a diferença de
caminho óptico em P é, em primeira aproximação, semelhante à encontrada na secção
anterior [3]
∆S = 2n0 h cos θ0 (2.16)
com a diferença de, neste caso, determinarem ambos, h e θ0 , a diferença de caminho
num dado ponto de observação.
Para uma fonte extensa, e para determinado P , tanto h como θ0 variam com o
local da fonte da qual provêm os raios intervenientes, enfraquecendo a visibilidade
das franjas. Mais uma vez, conseguimos ter um padrão de interferência localizado,
neste caso localizado no próprio filme, única região onde os padrões de interferência
coincidem. A observação deverá ser feita com um microscópio ou com o olho focados
no filme (ver figura 2.2(b)). Neste caso, h é praticamente constante para os pares de
raios que chegam a P 0 , conjugado de P . As diferenças de fase devidas a cos θ0 podem
ser reduzidas se limitarmos a pupila de entrada (do olho ou do instrumento óptico), ou
fazendo observação em incidência normal. Assim, tendo em conta a diferença de fase de
π numa das reflexões, os máximos e mı́nimos de irradiância ocorrem, respectivamente,
em pontos P tais que
2n0 hcos θ0 ± λ0 /2 = mλ0
2n0 hcos θ0 ± λ0 /2 = (m + 1/2)λ0 m = 0, 1, 2 . . . (2.17)
onde cos θ0 é o valor médio de cos θ0 em P . Se cos θ0 for relativamente constante, o que
acontece nas condições descritas acima então a posição das franjas é determinada pelo
valor de n0 h, espessura óptica do filme em P e por isso se designam por franjas de igual
espessura.
Estas franjas podem observar-se num filme fino de ar entre duas superfı́cies reflec-
toras de duas placas transparentes. Próximo da incidência normal, cos θ0 = 1 então as
10
Figura 2.3: Esquema experimental para a formação de anéis de Newton.
2.3 Coerência
De duas perturbações luminosas pode dizer-se que são coerentes, incoerentes ou par-
cialmente coerentes. Coerentes, se a relação entre as suas fases é constante no tempo;
incoerentes se isto nunca acontece e parcialmente coerentes se, no intervalo de tempo
da observação, em parte do tempo as perturbações são coerentes.
Luz estritamente monocromática proveniente de uma fonte pontual é descrita por
uma função sinusoidal A sin(ωt − κx) infinita no espaço e no tempo. Quaisquer per-
turbações deste tipo, que se encontrem num ponto P , são coerentes, uma vez que a sua
11
relação de fase é bem definida. No entanto, luz proveniente de uma fonte real nunca é
estritamente monocromática e a fonte real nunca é pontual.
Cada átomo emissor produz, não uma onda infinita no espaço e no tempo, mas
uma sucessão de trens de ondas, que apresentam, entre si, variações de fase abruptas
e não previsı́veis. Assim duas ondas provenientes desse mesmo átomo, que tenham
percorrido caminhos diferentes, podem ou não ser coerentes, consoante a diferença
temporal seja menor ou maior que a duração média dos trens de ondas caracterı́sticos
dessa emissão. Esta caracterı́stica do processo de emissão provoca a perda da chamada
coerência temporal (ou longitudinal).
A outra perda de coerência deve-se à finitude das fontes, cada átomo emissor não
está em fase com os átomos emissores seus vizinhos. Assim, ondas luminosas prove-
nientes de pontos diferentes de uma fonte extensa podem ou não ser coerentes. Neste
caso referimo-nos á chamada coerência espacial (ou transversal).
A coerência pode ser medida numa experiência de interferência. Perturbações lu-
minosas coerentes interferem, e perturbações incoerentes não interferem. Se voltarmos
à expressão 2.6, verificamos que os termos de interferência hE1∗ E2 i e hE2 E1∗ i são médias
efectuadas durante o tempo de observação. Se E1 e E2 não tiverem uma relação de fase
fixa, essas médias tem valor nulo. Entre estes dois casos extremos, temos luz parcial-
mente coerente que interfere produzindo franjas não tão bem definidas. A qualidade
das franjas de interferência pode ser quantificada através do parâmetro visibilidade, V,
definido como
Imax − Imin
V= (2.19)
Imax + Imin
A luz coerente produz franjas de visibilidade máxima (que tem o valor um se os feixes
sobrepostos tiverem irradiâncias iguais), luz incoerente não interfere, ou seja, produz
franjas de visibilidade 0 e luz parcialmente coerente produz franjas de visibilidade
intermédia.
Uma experiência de interferência por divisão de frente de onda pode ser usada
para averiguar a coerência espacial, enquanto que uma experiência de interferência por
divisão de amplitude pode servir para averiguar a coerência temporal.
Pensemos no interferómetro de Michelson. Se a diferença de caminho entre os dois
feixes for tal que ∆l À c∆tc (sendo ∆tc a duração média dos trens de onda produzi-
dos pela fonte, designado por tempo de coerência), então, no ponto de observação,
combinam-se ondas sem relação de fase fixa e não existe interferência. Pelo contrário,
se ∆l ¿ c∆tc então os feixes interferem. À medida que ∆l aumenta, temos como
resultado a diminuição da visibilidade das franjas. Assim, como definimos tempo de
coerência, também podemos definir comprimento de coerência da forma ∆lc = c∆tc .
Numa outra abordagem, que justifica o carácter policromático de uma fonte real,
podemos pensar nos trens de ondas finitos como uma sobreposição de componentes
monocromáticas de uma dada gama de frequências. Esta abordagem é matematica-
mente correcta, como se pode verificar por análise de Fourier. Nesta perspectiva, a
ausência de franjas de interferência pode explicar-se devido à sobreposição dos vários
padrões que, por serem relativos a componentes monocromáticas diferentes, não coinci-
dem no espaço. Pode-se mostrar que quanto maior for a gama de frequências necessária
12
Figura 2.4: Interferência de dois feixes provenientes de uma fonte extensa e poli-
cromática.
para descrever o campo luminoso, isto é, quanto maior for a largura espectral ∆f , menor
é o tempo de duração dos trens de onda por que é composto, sendo esta relação tal [3]
1
∆tc ∆f ≥ (2.20)
4π
Em muitos casos de interesse prático esta desigualdade pode ser substituı́da por uma
relação de ordem de grandeza, ou seja, ∆tc ∼ 1/∆f . Se λ̄ for o comprimento de onda
médio da luz, o comprimento de coerência relaciona-se com ∆λ da forma
λ̄2
∆lc = (2.21)
∆λ
13
A irradiância em Q fica
K1 K2∗ hV1 (t − t1 )V2∗ (t − t2 )i+K2 K1∗ hV2 (t − t2 )V1∗ (t − t1 )i = 2Re [K1 K2∗ hV1 (t + τ )V2∗ (t)i]
(2.26)
onde τ = t2 − t1 . Podemos definir uma função de correlação
e
I (1) (Q) = |K1 |2 Γ11 (0) e I (2) (Q) = |K2 |2 Γ22 (0) (2.31)
então s
I (1) (Q)I (2) (Q)
|K1 K2 | = (2.32)
Γ11 (0)Γ22 (0)
Podemos ainda normalizar a função de coerência mútua
Γ12 (τ )
γ12 (τ ) = p (2.33)
Γ11 (0)Γ22 (0)
14
a que se dá o nome de grau de coerência complexo. A expressão 2.28 pode escrever-se
q
I(Q) = I (1) (Q) + I (2) (Q) + 2 I (1) (Q)I (2) (Q)Reγ12 (τ ) (2.34)
que traduz o princı́pio geral de interferência de luz parcialmente coerente para campos
estacionários.
O módulo do grau de coerência complexo |γ12 (τ )| tem valores entre 0 e 1 e, para
melhor nos apercebermos do seu significado, façamos
2.4 Polarização
A luz é um fenómeno ondulatório transversal, os campos eléctrico e magnético vibram
no plano perpendicular à direcção de propagação. Sendo transversais, podem apresentar
ou não assimetrias relativamente à direcção de propagação. Quando a luz apresenta tal
assimetria dizemos que ela é polarizada, em caso contrário diz-se não polarizada [7].
Esta assimetria que classifica a luz em polarizada e não polarizada pode ser ver-
ificada da seguinte forma. Na luz não polarizada a irradiância de qualquer das com-
ponentes no plano de vibração é igual. Este é o tipo de luz mais frequentemente
encontrada na natureza e por este motivo se denomina luz natural. Pelo contrário, tais
componentes na luz polarizada apresentam irradiâncias diferentes.
A polarização elı́ptica é a forma mais geral de polarização. Esta acontece quando
a extremidade dos vectores E ou B descrevem uma elipse ao longo do tempo. Casos
particulares da polarização elı́ptica são as polarizações circular e linear. No caso de
polarização circular a extremidade do vector descreve uma circunferência e no caso de
polarização linear um segmento de recta.
15
Podemos partir de luz não polarizada e obter luz polarizada assim como partir
de um determinado estado de polarização e obter outro diferente. Os métodos mais
comuns para o fazer agrupam-se segundo os fenómenos ópticos que os possibilitam,
os quais podem ser: (a) reflexão, (b) transmissão através de uma pilha de placas, (c)
dicroı́smo, (d) dupla refracção e (e) dispersão [7].
Entre os casos extremos de luz completamente não polarizada e de luz polarizada,
existe o caso, mais geral, de luz parcialmente polarizada. Geralmente, esta resulta de
luz não polarizada que sofreu reflexão ou dispersão [3]. Esta luz pode ser vista como a
mistura de luz polarizada com luz não polarizada.
Os estados de polarização condicionam a ocorrência de interferência da forma sumari-
ada nas leis de Fresnel e Arago. As experiências que Fresnel e Arago realizaram em
1816 e que conduziram a estas leis têm importância histórica particular uma vez que
revelaram a luz como uma perturbação ondulatória transversal. As leis são as seguintes
[8]:
2. Dois feixes de polarizações lineares paralelas interferem da mesma forma que a luz
natural, desde que derivem do mesmo feixe linearmente polarizado ou da mesma
componente linearmente polarizada de luz natural;
A soma de duas perturbações luminosas é uma uma onda vectorial uma vez que os
campos eléctrico e magnético que as compõem são quantidades vectoriais. É fácil com-
preender que a soma de dois campos perpendiculares (caso de dois feixes de polarização
linear perpendicular) nunca se anule, impossibilitando a existência de interferência de-
strutiva. Esta é a explicação para a primeira das leis enunciadas acima. Usando o
mesmo argumento pode explicar-se a segunda lei. A terceira lei diz-nos que as duas
componentes com polarizações lineares perpendiculares, em que se pode decompor a
luz natural são incoerentes, e assim permanecem ao fim de alterações de polarização.
Podemos dar uma razão de uma forma simples. Pensemos na luz natural como luz que,
instantaneamente, apresenta polarização elı́ptica, cujas forma e orientação da elipse
de polarização estão constantemente a ser modificadas. Assim, as componentes que
resultam da sua decomposição apresentam diferenças de fase não constantes no tempo.
Resumindo temos luz completamente não polarizada que pode ser decomposta em
componentes incoerentes de igual irradiância. Luz polarizada que pode ser decomposta
em componentes cujas irradiâncias e fases relativas são determinadas pelo estado de
polarização. No meio destes dois casos, temos luz parcialmente polarizada decomponı́vel
em componentes parcialmente coerentes.
16
Figura 2.5: Interferómetro de Michelson, onde M1 e M2 são os espelhos, D é o divisor
de feixe, C é a placa de compensação e τ é uma lente convergente.
17
placa de faces paralelas, se M1 e M20 estiverem exactamente paralelos; ou semelhante ao
padrão produzido por um filme fino, se M1 e M20 não estiverem exactamente paralelos.
No primeiro caso, as franjas são circulares e localizadas no infinito, franjas de igual
inclinação. Neste caso, as expressões para franjas brilhantes e escuras diferem ligeira-
mente das expressões 2.15, sendo dadas por
m0 = m1 + e (2.41)
onde m1 é a ordem inteira da franja brilhante mais central, e e um valor real menor
que 1, designado por ordem fraccional no centro. A franja brilhante n0 p a contar do
centro, corresponde à ordem mp = m1 − (p − 1) e à posição angular θp de forma que
18
2.6 Espectroscopia de Fourier
O uso do interferómetro de Michelson em espectroscopia teve inı́cio com os trabalhos
do próprio Michelson. A determinação espectroscópica mais rudimentar consiste na
determinação do comprimento de onda da luz de uma fonte monocromática e pode ser
realizada com bastante precisão com este interferómetro. Se o espelho móvel sofrer uma
translação de ∆d, o padrão de interferência será alterado, e um número N de franjas
passarão num ponto do alvo. O comprimento de onda facilmente se determina através
da relação λ = 2∆d/N .
Uma outra determinação espectroscópica simples é a resolução de um dupleto (de-
nominação dada à luz cujo espectro consiste em duas linhas muito próximas em com-
primento de onda). Supomos que o interferómetro é iluminado com uma fonte deste
tipo (de comprimentos de onda λ1 e λ2 ) e que partimos do contacto óptico dos espelhos.
À medida que um dos espelhos se move, a visibilidade das franjas diminui até que a
diferença de caminho 2d1 iguale n comprimentos de onda λ1 e n + 1/2 comprimentos
de onda λ2 . A partir deste ponto a visibilidade recomeça a aumentar até que o espelho
tenha percorrido o dobro do caminho anterior sendo a visibilidade, neste ponto, quase
tão elevada como no ponto de partida. Reciprocamente, se observássemos uma evolução
da visibilidade deste tipo poderı́amos concluir que a luz da fonte era um dupleto. O
fundamento da espectroscopia interferométrica está no facto da curva de visibilidade ter
uma estreita relação com a estrutura espectral (distribuição de irradiância em função
do comprimento de onda) da luz da fonte utilizada.
A expressão analı́tica que relaciona estas duas quantidades pode ser obtida da
mesma forma da utilizada por Michelson [9, 10]. A irradiância resultante da inter-
ferência de dois feixes de luz de igual comprimento de onda foi determinada na secção
2.1 e é da forma p
I = I1 + I2 + 2 I1 I2 cos(k∆S) (2.44)
onde k = 2π/λ é o número de onda e ∆S é a diferença de caminho óptico. No caso
particular de feixes com irradiâncias iguais a expressão reduz-se a
I = I0 [1 + cos(k∆S)] (2.45)
19
onde Z
P = i(k̄ + k 0 )dk 0 (2.48)
Z
C= i(k̄ + k 0 )cos(k 0 ∆S)dk 0 (2.49)
Z
S= i(k̄ + k 0 ) sin(k 0 ∆S)dk 0 (2.50)
Para luz de uma linha espectral, k 0 é pequeno e C e S podem ser considerados, aprox-
imadamente, constantes. Neste caso, as posições dos máximos e dos mı́nimos da ir-
radiância podem ser dados, aproximadamente, pela seguinte equação
dI
= −k̄[C sin(k̄∆S) + S cos(k̄∆S)] = 0 (2.51)
d∆S
que tem como resultado
S
tan(k̄∆S) = − (2.52)
C
Assim as irradiâncias extremas são dadas por
p
Iext = P ± C2 + S2 (2.53)
e a visibilidade por √
C2 + S2
V= (2.54)
P
No caso de distribuições simétricas, S = 0 e a visibilidade reduz-se a V = |C|/P , po-
dendo determinar-se C (a menos de uma constante) a partir da curva de visibilidade.
A densidade espectral i(k) obtem-se por transformação de Fourier de 2.49. Nos casos
de distribuição assimétrica, a análise é mais difı́cil, sendo, no entanto, possı́vel deter-
minar C e S a partir da curva de visibilidade e da posição do padrão de interferência
relativamente a uma fonte simétrica e homogénea de comprimento de onda semelhante
(esta última medida dá-nos a razão S/C pela equação 2.52).
A espectroscopia de Fourier que se efectua nos nossos dias, particularmente na
região do infravermelho, não se baseia na curva de visibilidade mas sim na curva de
irradiância, a qual é facilmente registada com a instrumentação moderna.
Considerando uma análise alternativa à anterior pode chegar-se a uma relação entre
o espectro e a irradiância de interferência em função da diferença de caminho [11, 12].
A irradiância 2.46 pode ser reescrita do modo
Z ∞ Z ∞
I(∆S) = i(k)dk + i(k) cos(k∆S)dk (2.55)
0 0
20
A segunda parcela tem um comportamento oscilatório e dá-se-lhe o nome de interfer-
ograma Z ∞
1
F (∆S) = I(∆S) − I(0) = i(k) cos(k∆S)dk (2.57)
2 0
Esta função é suficiente para determinar unicamente a distribuição espectral de ir-
radiância, i(k), através da seguinte transformação de Fourier
Z ∞
1
i(k) = F (∆S) cos(k∆S)d∆S (2.58)
π −∞
I(∆S)
= 1 + V(∆S) cos(φ + k̄∆S) (2.59)
P
onde φ = tan−1 (S/C). Esta última expressão mostra que a curva de visibilidade é
apenas a envolvente da curva de irradiância normalizada.
Como sabemos existe uma relação entre as caracterı́sticas espectrais da luz e a
sua coerência temporal. É possı́vel escrever a irradiância em função da diferença de
caminho dos dois feixes interferentes a partir da expressão 2.34 encontrada na secção
2.3. Se os feixes interferentes provierem da mesma região da fonte e tiverem a mesma
irradiância, a irradiância no ponto Q, na região de sobreposição fica
21
esta luz de frequência diferente se sobrepuser à luz de referência reflectida num ob-
jecto estacionário produz-se uma frequência de batimento, designada por frequência de
Doppler. Esta técnica pode aplicar-se usando um interferómetro de Michelson. Pode-
mos pensar no sinal luminoso que chega ao alvo como resultado da sobreposição de luz
proveniente da reflexão no espelho fixo, de frequência inalterada, com luz proveniente
do espelho móvel (a uma velocidade v), de frequência ligeiramente diferente devido ao
efeito de Doppler. Sendo este sinal a soma de dois campos luminosos com frequências
ligeiramente diferentes, apresenta uma frequência de batimento, ou seja, a irradiância
detectada num ponto da região de sobreposição apresenta uma oscilação harmónica de
frequência fD (frequência de Doppler).
M' M
F I' I
x0 -vt x0 -vt
x0 x0
Figura 2.6: Esquema que mostra as posições relativas da fonte (F), espelho móvel (M
e M’) e imagem da fonte (I e I’) num interferómetro de Michelson.
Como a luz viaja até ao espelho e volta para trás, viaja uma distância 2(x0 − vt)
que é igual à distância entre a fonte e a imagem, xF I 0 (ver figura 2.6). Assim na
nossa análise, podemos considerar a imagem (que actua como uma fonte virtual) a
deslocar-se no sentida da fonte real a uma velocidade vrel (relativamente ao referencial
do laboratório) dada por
dxF I 0
vrel = = −2v (2.62)
dt
Usando a expressão do efeito de Doppler [13]
p
∆f 1 − (vrel /c)2
= +1 (2.63)
f vrel /c − 1
na aproximação de primeira ordem em vrel /c, ou seja ∆f /f = −vrel /c, a frequência de
batimento de Doppler, que corresponde a ∆f , pode esrever-se da forma
fD = 2v/λ (2.64)
Então, o efeito do espelho em movimento é igual ao do movimento da imagem da
fonte à velocidade 2v, sendo v a velocidade do espelho relativamente à fonte. Assim,
a alteração de Doppler, neste caso, é duas vezes maior que a que se observa quando
existe a mesma velocidade relativa entre a fonte e o observador.
22
Capı́tulo 3
Realização experimental e
resultados
• O feixe do laser deverá manter-se paralelo à mesa, requisito que deverá ser ver-
ificado antes da introdução de qualquer um dos componentes ópticos e após a
introdução de cada um deles isoladamente;
23
Figura 3.1:
24
• Ambos os espelhos deverão estar montados em suportes posicionáveis através de
dois graus de liberdade, para possibilitar a colocação do espelho perpendicular ao
feixe de luz;
25
• Com a fonte laser, por ser uma fonte pontual, poderemos observar um padrão
de franjas não localizado. Ou seja, neste caso as franjas podem projectar-se
num alvo sem necessidade de qualquer sistema formador de imagem. As franjas
podem ser circulares (ver figura 3.2), para espelhos exactamente perpendiculares
ou aproximadamente rectilı́neas para espelhos não exactamente perpendiculares
(ver figura 3.3).
• Com a fonte laser, é necessário alargar o diâmetro do feixe podendo para isso
usar-se uma lente.
• Com a fonte laser, para melhor alinhar o interferómetro, deve-se primeiro ajustar
um dos espelhos antes de expandir o feixe. Deste modo poderemos fazer coincidir
no alvo os feixes provenientes dos dois braços. Depois do feixe expandido fazem-se
pequenos ajustes. Com as lâmpadas, o alinhamento é facilitado pela colocação
de um objecto escuro aguçado, por exemplo um lápis, entre a fonte e o divisor de
feixe. Assim, o processo de ajuste dos espelhos faz-se no sentido de fazer coincidir
as duas imagens desse objecto.
26
Figura 3.2:
Figura 3.3:
27
• As franjas rectilı́neas, tanto no caso da fonte laser como no caso da fonte extensa,
são as mais facilmente encontradas. Este facto explica-se facilmente se pensar-
mos que estas franjas existem no caso de espelhos não exactamente paralelos.
Observando estas últimas franjas e ajustando um dos espelhos no sentido de as
engrossar, obteremos as franjas circulares ou franjas de igual inclinação.
Nas figuras 3.2 e 3.3 mostramos algumas fotografias dos padrões de franjas obser-
vados.
28
por menos de 1/10 de mm (valor estimado na escala graduada em mm) até que as
franjas deixaram de se observar.
Como sabemos da secção 2.3, a coerência temporal de uma fonte de luz está rela-
cionada com a sua estrutura espectral. Na altura apresentámos uma expressão desta
relação na forma
λ̄2
∆λ = (3.1)
∆lc
Sabemos também, da discussão feita na secção 2.6, que a curva de visibilidade é uma
outra expressão desta relação. Sabe-se que a diferença de caminho para a qual a visibil-
idade é nula corresponde, pela expressão 3.1, à largura das riscas presentes no espectro.
Por outro lado, a diferença de caminho entre máximos de visibilidade relativos que
acontecem antes de atingirmos a visibilidade nula corresponde, pela mesma expressão,
à distância entre as riscas [3, 9].
Segundo o fabricante, o laser usado é do tipo multimodo sendo constituı́do por
modos de largura 1MHz (1.3 × 10−6 nm) separados por 687MHz (9.2 × 10−4 nm). A
diferença de caminho entre o primeiro e o segundo máximo de visibilidade de cerca de
40cm corresponde, pela expressão 3.1, a ∆λ = 1.0 × 10−3 . Como era esperado, pela
discussão feita acima, este valor é da mesma ordem de grandeza da separação entre
os modos dada pelo fabricante. A diferença de caminho máxima para a qual ainda
observámos franjas, 2.70m, corresponde a ∆λ = 1.5 × 10−4 , este valor é superior em
duas ordens de grandeza à largura tı́pica dos modos do laser. A perda de visibilidade
das franjas para esta distância não corresponde pois à largura dos modos mas ao facto
de as franjas se tornarem muitos estreitas para se distinguirem a ollho nu. De notar
que a largura do modo de 1.3 × 10−6 nm corresponde a uma diferença de caminho de
300m.
A luz da lâmpada espectral de He foi observada num espectrómetro após a passagem
por um prisma e encontraram-se quatro riscas: vermelha, amarela, verde e violeta. O
comprimento de coerência de 31mm corresponde a um ∆λ = 9.8 × 10−3 nm, que será
também, neste caso, relativo a uma largura média das riscas. A largura tı́pica de uma
risca espectral é de 10−3 − 10−2 nm [14], o que dá razoabilidade ao nosso resultado.
O espectro da luz da lâmpada de sódio consiste num dupleto na região do amarelo,
de comprimentos de onda 588.99 e 589.59nm [15]. O aumento de diferença de caminho
que faz a visibilidade passar de um máximo para o máximo consecutivo (0.55mm)
corresponde a ∆λ = 0.63nm que está de acordo com a separação das riscas do dupleto.
O comprimento de coerência relativo à visibilidade nula de 20mm corresponde a um
∆λ = 1.7×10−2 nm que estará ligado à largura das riscas individuais. Mais uma vez este
resultado se encontra próximo dos valores conhecidos para riscas espectrais, referidos
acima.
Finalmente, a luz branca apresenta um comprimento de coerência na ordem dos
submilı́metros. Este resultado era esperado devido à sua natureza de largo espectro.
29
Figura 3.4: Percurso do feixe numa placa transparente em rotação.
30
figura 3.4)
Si = 2l − 2t + 2nt (3.3)
onde l representa o comprimento do braço e n o ı́ndice de refracção do material da
placa. A placa sofre uma rotação de θ e o percurso óptico, neste braço, aumenta para
o valor
2t cos(θ − θr ) 2tn
Sf = 2l − + (3.4)
cos θr cos θr
A diferença de caminho óptico é dado pela diferença entre os dois percursos, ficando
· ¸
n cos(θ − θr )
∆S = Sf − Si = 2t −n− +1 (3.5)
cos θr cos θr
que, usando a lei de Snell, se pode escrever apenas em função do ângulo de rotação θ
µ q ¶
∆S = 2t 1 + n2 − sin2 θ − n − cos θ (3.6)
30
25
20
N 15
10
0
0 0.02 0.04 0.06 0.08 0.1
θ (rad)
31
O pormenor experimental mais importante é a colocação inicial da placa, exacta-
mente perpendicular ao feixe. Pequenos desvios da situação perpendicular produzem er-
ros no resultado final para o ı́ndice de refracção. A verificação da coincidência dos feixes
incidente e reflectido na placa pareceu-nos a melhor forma de conseguir tal situação ini-
cial.
Em apêndice apresentamos as tabelas de duas experiências (B.2 e B.3). Foi real-
izado um ajuste aos pontos experimentais usando a expressão 3.7, encontrando assim o
ı́ndice de refracção. O ajuste foi efectuado por um método numérico que minimizou os
quadrados dos desvios (Excel 97). Para cada um dos ajustes fizemos um teste de χ2 ,
cujos resultados também apresentamos juntamente com as tabelas. Os resultados do
teste correspondem a nı́veis de significância de 30 e 45%. Um dos gráficos dos pontos
experimentais e respectivo ajuste é mostrado na figura 3.5.
Estimámos o seguinte valor para o ı́ndice de refracção do material usado
n = 1.528 ± 0.034
que consiste na média dos dois valores encontrados ± o desvio em relação à média.
Este valor é aceitável atendendo a que a placa usada era de acrı́lico.
n2 − 1 (n + 1)
2
= (n − 1) 2 = const.ρ (3.9)
n +2 (n + 2)
32
30
25
20
15
N
10
-5
0 20 40 60 80
∆P (cmHg)
Figura 3.6: Gráfico do número de franjas que passam no centro do padrão versus
variação de pressão na célula de ar
onde a incerteza se deve à dispersão dos valores, contabilizada nas incertezas associadas
ao declive e à ordenada na origem, e à incerteza do comprimento da célula.
O valor tabelado para o ı́ndice de refracção do ar à pressão atmosférica e para um
comprimento de onda de λ = 630nm (devemos lembrar que usamos o laser de He-
Ne vermelho para realizar a experiência) é 1.0002760, a uma temperatura de 150 C, e
1.0002622, a uma temperatura de 300 C [15]. A temperatura na altura da experiência era
mais próxima dos 150 C, pelo que existe uma discrepância de 5% entre os valores. Uma
vez que a incerteza associada ao comprimento da célula já foi considerada, sugere-se
que esta discrepância se deva a uma deficiente calibração do manómetro.
33
por uma transformação de Fourier. Da equação 2.57 sabemos que o interferograma
F (∆S) se relaciona com a densidade espectral i(k) da seguinte forma
Z ∞
F (∆S) = i(k) cos(k∆S)dk (3.10)
0
34
A este fenómeno dá-se o nome de dobragem, sendo uma das desvantagens da espec-
troscopia de Fourier. Uma caracterı́stica espectral que aparece a uma frequência f1 ,
inferior a fN , aparece também a uma frequência superior f2 , tal que f2 = 2fN − f1 ,
e também a f3 = 2fN + f1 . Este facto não traz problemas se as frequências do inter-
valo 0 < f < fN são reflectidas para valores superiores a fN . No entanto, se existir
informação espectral acima de fN ela é reflectida para trás, sendo mal interpretada.
Ao chegar à expressão 3.13 assumimos um interferograma simétrico em torno de
∆S = 0. Assim, teremos que tomar o valor de F 0 (t) exactamente desde t = 0 (cor-
respondendo a ∆S = 0), caso contrário estaremos a adicionar componentes seno ao
interferograma, ocasionando erros no espectro obtido. Existem técnicas, denominadas
de correcção de fase, para retirarem estas componentes do interferograma ou removerem
os seus efeitos no espectro. Outra forma de resolver o problema é fazer a amostragem
em igual conjunto de pontos dos dois lados de t = 0, registando um interferograma de
banda dupla. Neste caso, ambas as transformadas de Fourier, co-seno e seno, devem
ser determinadas e a densidade espectral é dada por [18]
q
i0 (f ) = 2 (f ) + T 2 (f )
Tcos sin (3.16)
Este método apresenta, porém, a desvantagem do tempo de amostragem ter que ser o
dobro do tempo usado num método de banda única para a mesma resolução.
35
Neste trabalho queremos determinar as riscas de emissão de vários laser. Efectuámos
um registo preliminar do interferograma de laser de He-Ne vermelho e verificámos uma
frequência principal de cerca de 1000 Hz. Tomando o valor de comprimento de onda
λ = 632.8nm, obtemos para a velocidade do espelho v = λf /2 = 316.4µms−1 . Para
esta velocidade do espelho, a frequência máxima presente num interferograma de luz
visı́vel é fmax ∼ 1500Hz. Fazendo uma amostragem de 2048 pontos e considerando a
frequência de Nyquist fN = 1500Hz, o tempo máximo de amostragem é cerca de 0.65s.
O valor mais próximo, possı́vel no osciloscópio, é 0.5s.
3.8.4 Resultados
Foram efectuadas amostragens de 2048 pontos durante 0.5 s dos interferogramas dos
quatro lasers He-Ne. Depois de efectuada uma transformada de Fourier do tipo FFT,
obtivemos os resultados ilustrados nas figuras 3.7-3.10. Nestas figuras está representada
o valor absoluto da transformada de Fourier complexa.
140
105
Intensidade
70
35
0
0 500 1000 1500 2000
Frequência de modulação (Hz)
60
Intensidade
40
20
0
0 500 1000 1500 2000
Frequência de modulação (Hz)
A risca principal é larga e está ladeada por riscas secundárias, em alguns dos casos,
bastante significativas. A largura da risca principal deve-se principalmente a irregular-
idades na velocidade do espelho [21]. Em espectroscopia de Fourier, para ultrapassar
esta dificuldade, é usual fazer a amostragem em pontos igualmente espaçados em deslo-
camento de espelho e não em tempo. Esta técnica é realizável se, por exemplo, usarmos
36
140
105
Intensidade
70
35
0
0 500 1000 1500 2000
Frequência de modulação (Hz)
450
Intensidade
300
150
0
0 500 1000 1500 2000
Frequência de modulação (Hz)
um outro laser de referência e a amostragem for feita quando o seu interferograma tiver
um máximo [17]. Perturbações mecânicas, acústicas, ou mesmo o sinal eléctrico da
rede podem também explicar a largura da risca principal. Estas perturbações podem
explicar também o aparecimento das riscas secundárias que se distanciam da risca prin-
cipal por 80 a 100 Hz e se encontram em todos os espectros (ver trabalho de velocimetria
usando o efeito de Doppler apresentado na secção seguinte). De notar que, uma vez
que as riscas secundárias apareciam nos espectros quer o sistema anti-vibratório da
mesa óptica estivesse a funcionar quer não, as perturbações mecânicas não serão uma
explicação para tais efeitos.
Os espectros apresentados estão em função da chamada frequência de modulação
que, como já referimos, se relaciona com o comprimento de onda da forma f = 2v/λ,
sendo v a velocidade do espelho. Tomámos o laser He-Ne vermelho como referência para
determinar a velocidade do espelho e determinámos depois os comprimentos de onda
dos outros lasers. Os resultados apresentam-se na tabela 3.1. O erro da determinação
resulta de considerar uma incerteza para as frequências de modulação de 4Hz. Se
pensarmos que os interferogramas são do tipo de dupla banda, 0.5s de amostragem
corresponde a um Tmax , relativamente a t = 0, de 0.25s. Assim, aplicando a expressão
para a resolução 3.14 obtemos ∆f = 4Hz. À excepção do laser laranja, os comprimentos
de onda determinados estão de acordo com os esperados. A excepção do laser laranja
pode muito bem justificar-se pelo facto da incerteza de 4Hz não pesar a possibilidade
37
Comprimento Frequência de Velocidade Comprimento de
Laser de onda (nm) modulação do do espelho onda determinado
espectro (Hz) (µm/s) (nm)
Vermelho 632.8 970.9 307.2±1.3 _______
Laranja 612.0 993.3 618.5±5.0
Amarelo 594.1 1030.0 596.5±4.7
Verde 543.5 1129.7 543.8±4.1
fD = 2v/λ. (3.18)
38
Tendo presente a análise que já foi feita esperaremos, para o espectro do sinal
detectado, uma única risca. No entanto, irregularidades do movimento do espelho e
perturbações acústicas presentes no local produzirão frequências de Doppler ligeira-
mente diferentes, alargando a risca. O efeito do movimento do espelho e da presença
de uma onda acústica traduz-se numa modelação de fase do interferograma, da forma
[21]
v
F 0 (t) = i(λ)cos(4π t + φM cosΩt) (3.19)
λ
Partimos da equação 3.12 para o interferograma aplicada ao caso de luz monocromática
de comprimento de onda λ. Nesta expressão, a modulação de fase resultante da onda
acústica tem amplitude φM e frequência angular Ω. Esta expressão pode reescrever-se
noutra forma:
F 0 (t) = i(λ) cos(2πfD t) cos(φM cos Ωt) − i(λ) sin(2πfD t) sin(φM cos Ωt) (3.20)
Usando séries harmónicas de Bessel, podemos notar que esta última equação tem um
número infinito de componentes harmónicas de Ω. No caso de ondas acústicas com
amplitude pequenas, (φM << 1), a equação 3.20 pode aproximar-se por
1 1
F 0 (t) = i(λ) cos(2πfD )− i(λ)φM sin((2πfD +Ω)t)− i(λ)φM sin[(2πfD −Ω)t]+O(φ2M )
2 2
(3.21)
que apresenta uma componente maior a oscilar com a frequência de Doppler e outras
duas menores: uma de maior frequência, (fD + Ω/2π), e outra de menor frequência,
|fD − Ω/2π|.
Quanto à determinação da velocidade do espelho, esta técnica já foi utilizada no
trabalho anterior usando o laser vermelho. O controlador de velocidade do micrómetro
motorizado não está calibrado, assim, não podemos comparar o valor obtido, nessa
altura.
Os resultados novos que aqui se apresentam referem-se ao efeito criado no espec-
tro de frequências de Doppler quando, além do movimento do espelho, está também
presente uma perturbação acústica. Para isso, foi colocado um altifalante, alimentado
por um gerador de sinal, junto ao espelho fixo do interferómetro. Verificámos, por ob-
servação directa no osciloscópio, que uma frequência acústica de cerca de 80Hz produzia
um maior deslocamento das franjas. Este facto parece evidenciar que este espelho tem
uma frequência própria de 80Hz (ver referência [22]). Colocámos uma massa extra no
suporte do espelho e esta ressonância nos 80Hz deixou de verificar-se. Esta observação
ajuda a compreender as riscas secundárias presentes em todos os espectros do trabalho
anterior. De referir que existem outros componentes no interferómetro capazes de pro-
duzir resultados semelhantes e assim poder explicar-se que a distância entre a risca
principal e as riscas secundárias esteja entre 80 a 100Hz.
Excitámos o altifalante com uma frequência de 197Hz e obtivemos os espectros da
figura 3.11. O espectro (a) diz respeito à irradiância de interferência quando apenas
está presente a perturbação acústica. Este espectro contém duas riscas mais inten-
sas que correspondem à perturbação acústica (195.4Hz) e ao seu primeiro harmónico
39
(392.9Hz). O espectro (b) resulta do movimento do espelho na presença da mesma
onda sonora. A risca principal (964.8Hz) corresponde à frequência de Doppler pro-
duzida pelo movimento do espelho. As duas riscas secundárias que a ladeiam (769.4 e
1162.3Hz) concordam com o previsto para as frequências diferença e soma.
0RYLPHQWRGRHVSHOKRFRPSHUWXUEDomR
DF~VWLFDGH+]
6 8
195.4
964.8
Intensidade
Intensidade
4
392.9 4 1030.0
65.1
2
769.4 1162.3
0 0
0 1000 2000 0 500 1000 1500 2000
Frequência de Doppler (Hz)
Frequência de Doppler (Hz)
(a) (b)
1 1 1
F 0 (t) = i(λ) cos(2πfD )(1− φ2M )− i(λ)φM sin((2πfD +Ω)t)− i(λ)φM sin[(2πfD −Ω)t]
4 2 2
1 1
+ i(λ)φ2M cos((2πfD + 2Ω)t) + i(λ)φ2M cos[(2πfD − 2Ω)t] + O(φ3M ) (3.22)
8 8
Escrita nesta aproximação, a equação explica as quatro riscas uma vez que contém,
além das componentes soma e diferença já analisadas, outras duas componentes, cor-
respondendo à soma e à diferença da frequência de Doppler e do primeiro harmónico
da frequência acústica.
Finalmente a figura 3.13 contém o espectro do sinal obtido apenas com uma onda
sonora de 127Hz, gráfico (a), onde encontramos uma frequência próxima de 127Hz
(126.2Hz) e o seu harmónico (254.4Hz). O gráfico (b) mostra o espectro na presença
dos dois efeitos, onde as riscas referentes à soma e à diferença das frequências são 909.9
e 1023.9Hz.
É de notar a existência de uma frequência de cerca de 65Hz presente nos gráficos
respeitantes à ausência de movimento do espelho e das frequências soma e diferença,
(fD + 65) e (fD − 65), nos gráficos que mostram o efeito conjunto. Como foi referido
acima, o espelho fixo tinha uma frequência de ressonância por volta de 80Hz. Estas
últimas experiências foram efectuadas quando no suporte dos espelhos estavam massas
40
0RYLPHQWRGRHVSHOKRFRPSHUWXUEDomR
DF~VWLFDGH+]GHPDLRULQWHQVLGDGH
8
964.8
Intensidade 4
773.5 1166.3
572.0
1361.7
0
0 500 1000 1500 2000
Frequência de Doppler (Hz)
0RYLPHQWRGRHVSHOKRFRPSHUWXUEDomR
DF~VWLFDGH+]
6 8
964.8
126.2
Intensidade
254.4
Intensidade
4
836.6 1091.0
4
2 909.9 1023.9
65.1
0 0
0 1000 2000 0 500 1000 1500 2000
Frequência de Doppler (Hz)
Frequência de Doppler (Hz)
(a) (b)
adicionais. Nesta situação, aparece nos espectros uma frequência ∼65Hz, o que corrob-
ora uma nova frequência de ressonância, agora de menor valor uma vez que a massa do
sistema aumentou.
Desta última observação surge a sugestão de, em trabalhos futuros, baixar todos os
componentes do interferómetro para que se possa diminuir a ocorrência de oscilações
próprias e obter melhores resultados.
41
Capı́tulo 4
42
quais as técnicas conhecidas para a obtenção rápida dos vários tipos de franjas. Para
complementar este estudo da interferência, os alunos estudam a coerência temporal da
luz de fontes diferentes. Com esta tarefa pretendemos introduzir o conceito de coerência
e salientar a sua estreita relação com a interferência. E ainda, pretendemos relacionar,
de uma forma semi-quantitativa, a coerência temporal e a estrutura espectral da luz de
uma fonte.
Para a 3a aula propomos três medidas interferométricas, trabalho este que prevemos
poder prolongar-se pela 4a aula. As duas primeiras são: determinação do comprimento
de onda de uma fonte monocromática e do ı́ndice de refracção do material de uma
lâmina de material transparente. As técnicas usadas para estas determinações podem
servir para determinar outros parâmetros. Com a primeira técnica pode determinar-se
o deslocamento do espelho, sabido o comprimento de onda da luz utilizada. Com a
segunda técnica pode determinar-se a espessura da lâmina se conhecido o seu ı́ndice de
refracção. A última tarefa consiste no estudo da variação do ı́ndice de refracção de um
gás com a pressão.
Prevemos que a 4a aula seja, em parte, ocupada para acabar os últimos trabalhos.
No entanto, ainda restará tempo para que o trabalho de espectroscopia de Fourier seja
apresentado aos alunos. Assim, prentendemos, nesta aula, apresentar os instrumentos
novos: o fotodetector, o osciloscópio digital e o programa de computador que faz a inter-
face com o osciloscópio. Os alunos podem, ainda, analisar o problema da amostragem e
decidir alguns dos parâmetros da mesma, adequados ao sistema utilizado. Na 5a aula,
completam este trabalho, recolhendo os interferogramas e determinando os espectros.
Com este trabalho, os alunos têm a possibilidade de se aperceber dos fundamentos da
técnica e de determinarem o comprimento de onda da luz de quatro lasers He-Ne.
Finalmente, na 6a aula, é realizado o trabalho de velocimetria usando o efeito
de Doppler, que ilustra mais uma técnica interferométrica importante. Este trabalho
tem a vantagem da realização prática ser muito semelhante à do trabalho anterior,
aproveitando dele alguns dos seus resultados. Esta semelhança é ainda maior porque
no trabalho de espectroscopia de Fourier apenas se estudam fontes monocromáticas.
No entanto, neste caso os objectivos das medidas são outros e os fundamentos são
abordados de forma diferente.
O aluno é aconselhado a ler o guia e fazer alguma pesquisa bibliográfica sobre cada
um dos trabalhos com uma semana de antecedência. Assim, pode esclarecer alguma
dúvida com o professor no final da aula anterior à realização do trabalho em questão.
Estando ainda no laboratório, será mais fácil clarificar algumas ideias e aproveitar para
conhecer o esquema experimental. O aluno deve ter um caderno de apontamentos para
registar todo o trabalho de laboratório e nele fazer a análise e a discussão de resultados.
A avaliação dos alunos terá três componentes. Uma vez que se propõe que estas
aulas de laboratório tenham bastante acompanhamento por parte do professor e se prevê
um número relativamente pequeno de alunos por aula, propomos uma componente de
avaliação contı́nua. O caderno de laboratório que se referiu acima constituirá também
outra das fontes de avaliação no final da série de trabalhos. Finalmente, a outra com-
ponente da avaliação consiste num relatório sobre uma das medidas interferométricas
efectuadas nas últimas 4 aulas. O relatório deve obedecer à seguinte estrutura [23]:
43
• Resumo
Sı́ntese dos objectivos e dos resultados mais importantes.
• Introdução
Considerações gerais, descrição dos objectivos do trabalho, indicação do método
utilizado, referindo inovações relativamente a outros métodos.
• Fundamento teórico
Breve referência aos fundamentos teóricos.
• Realização experimental
Descrição do equipamento e da prática experimental e discussão de algumas difi-
culdades e opções de trabalho que pareçam importantes.
• Resultados
Valores obtidos, cálculos auxiliares e resultados finais que, quando possı́vel, devem
ser apresentados em tabelas e gráficos. Sempre que adequado deve referir-se os
erros experimentais.
• Discussão
Análise dos resultados na perspectiva da sua concordância com o que era esperado,
discussão das discordâncias, identificação das fontes de erro, proposta de formas
de minimizar esses erros, proposta de novas experiências para estudar o problema,
etc.
• Referências bibliográficas
44
Apêndice A
Objectivos
• Montagem do interferómetro de Michelson.
• Observação das franjas de interferência usando um laser de He-Ne.
Material
Laser He-Ne, espelhos, divisor de feixe, lentes, vários suportes, plataforma de
translação, parafuso micrométrico e mesa óptica anti-vibratória.
Execução
• Monte um interferómetro de Michelson segundo a figura A.1, onde M1 e M2 são os
espelhos, D é o divisor de feixe e C é a placa de compensação que deve dispensar
se o divisor de feixe for cúbico ou se a fonte for um laser.
45
• Faça os espelhos exactamente perpendiculares (de modo a obter franjas circulares)
e observe a aparência das franjas variando o comprimento do braço móvel.
Bibliografia
R. S. Longhurst, Geometrical and Physical Optics, capı́tulo 8
E. Hecht, Óptica, capı́tulo 9
46
A.2 Verificação das leis de Fresnel-Arago
Objectivos
Verificação das leis de Fresnel-Arago.
Introdução
Os estados de polarização condicionam a ocorrência de interferência da forma sumari-
ada nas leis de Fresnel e Arago. As experiências que Fresnel e Arago realizaram em
1816 e que conduziram a estas leis têm importância histórica particular uma vez que
revelaram a luz como uma perturbação ondulatória transversal. As leis são as seguintes:
2. Dois feixes de polarizações lineares paralelas interferem da mesma forma que a luz
natural, desde que derivem do mesmo feixe linearmente polarizado ou da mesma
componente linearmente polarizada de luz natural;
Material
Interferómetro de Michelson, lâmpada espectral, polarizadores, lâmina de atraso de
λ/2.
Execução
Usando uma lâmpada espectral como fonte não polarizada, polarize de forma con-
veniente os feixes de luz de cada um dos braços do interferómetro de forma a verificar
a existência ou não de interferência (verificando assim as leis de Fresnel-Arago).
Bibliografia
R. S. Longhurst, Geometrical and Physical Optics, capı́tulo 6
F. A. Jenkins e H. E. White Fundamentals of Optics, capı́tulo 27
47
A.3 Visualização dos vários tipos de franjas
Objectivos
Visualização e distinção de franjas localizadas e não localizadas e franjas de igual
inclinação e de igual espessura.
Introdução
O interferómetro de Michelson, à parte de ser ser um interferómetro em que os
feixes estão claramente separados antes da recombinação, pode ser analisado como
um interferómetro do tipo placa de faces paralelas ou do tipo filme fino. Assim, o
padrão de interferência obtido pode ser constituı́do por franjas circulares (franjas de
igual inclinação) se os espelhos estiverem exactamente perpendiculares, ou por franjas
aproximadamente rectilı́neas (franjas de igual espessura) se os espelhos se desviarem
ligeiramente da perpendicularidade. Ambos os tipos de franjas podem apresentar-se
como localizadas, no caso da fonte extensa, e não localizadas, caso a fonte seja pontual.
Material
Interferómetro de Michelson, laser de He-Ne, várias lâmpadas espectrais (Cd, He,
Ne), telescópio e lentes.
Execução
• Usando o Laser de He-Ne como fonte de luz pontual, obtenha um padrão não
localizado de franjas circulares e rectilı́neas.
Bibliografia
R. S. Longhurst, Geometrical and Physical Optics, capı́tulo 8
M. Born e E. Wolf, Principles of Optics, capı́tulo 7
E. Hecht, Óptica, capı́tulo 9
F. A. Jenkins e H. E. White Fundamentals of Optics, capı́tulo 13
48
A.4 Estudo da coerência da luz de algumas fontes
Objectivos
• Observação de franjas obtidas com luz de diferente coerência temporal.
Introdução
O interferómetro de Michelson pode averiguar a chamada coerência temporal (ou
longitudinal). Se a diferença de caminho entre os dois feixes for tal que ∆l À c∆tc
(sendo ∆tc a duração média dos trens de onda produzidos pela fonte, designado por
tempo de coerência), então, no ponto de observação, combinam-se ondas sem relação
de fase fixa e não existe interferência. Pelo contrário, se ∆l ¿ c∆tc então os feixes
interferem. À medida que ∆l aumenta, temos como resultado a diminuição da visibili-
dade das franjas. Assim, como definimos tempo de coerência, também podemos definir
comprimento de coerência da forma ∆lc = c∆tc
Numa outra abordagem, que justifica o carácter policromático de uma fonte real,
podemos pensar nos trens de ondas finitos como uma sobreposição de componentes
monocromáticas de uma dada gama de frequências. Esta abordagem é matematica-
mente correcta, como se pode verificar por análise de Fourier. Nesta perspectiva, a
ausência de franjas de interferência pode explicar-se devido à sobreposição dos vários
padrões que, por serem relativos a componentes monocromáticas diferentes, não co-
incidem no espaço. Pode-se mostrar que quanto maior for a gama de comprimentos
de onda necessária para descrever o campo luminoso, isto é, quanto maior a largura
espectral ∆λ, menor é o comprimento de coerência, sendo esta relação tal que
λ̄2
∆lc = (A.1)
∆λ
onde λ̄ é o comprimento de onda médio da luz.
Mais detalhadamente, pode mostrar-se que, para luz quase monocromática a curva
de visibilidade se relaciona com a estrutura espectral da luz através do teorema de
Fourier (ver bibliografia).
Material
Interferómetro de Michelson, laser de He-Ne, lâmpadas espectrais, lâmpada de sódio,
lâmpada branca, telescópio e lentes.
Execução
• Usando o laser de He-Ne como fonte de luz, obtenha um padrão de franjas circu-
lares.
49
• Varie consideravelmente o comprimento de um dos braços e determine a diferença
de caminho máxima para a qual se observam franjas.
• Use uma lâmpada de luz branca e tente encontrar franjas perto da posição de
contacto óptico.
Análise de dados
Relacione as diferenças de caminho máximas e a variação da visibilidade com a
diferença de caminho com a estrutura espectral das várias fontes.
Bibliografia
M. Born e E. Wolf, Principles of Optics, capı́tulo 7
R. Guenther, Modern Optics, capı́tulo 4
A. Michelson, Studies in Optics, capı́tulo 4
50
A.5 Determinação do comprimento de onda da luz do Laser
de He-Ne
Objectivos
Determinação do comprimento de onda de uma fonte monocromática usando o
interferómetro de Michelson.
Introdução
Uma das aplicações da interferometria é a análise do espectro da luz das fontes. A
medição mais simples deste tipo é a determinação do comprimento de onda, λ, de uma
fonte de luz monocromática. No interferómetro de Michelson uma alteração do caminho
óptico num dos seus braços de λ faz com que, no centro do padrão de interferência, uma
franja brilhante ou escura dê lugar à próxima franja semelhante. Assim, o movimento
de um dos espelhos de ∆d faz passar N = 2∆d/λ franjas brilhantes ou escuras no
centro do padrão.
Material
Interferómetro de Michelson, laser de He-Ne, micrómetro graduado.
Execução
• Utilizando o micrómetro mova o espelho móvel do interferómetro e conte as franjas
que passam num ponto do centro do padrão de interferência.
Bibliografia
E. Hecht, Óptica, capı́tulo 9
51
A.6 Determinação do ı́ndice de refracção de um material
Objectivos
Determinação do ı́ndice de refracção de um material por rotação de uma placa num
dos braços do interferómetro.
Introdução
Consideremos uma placa de material transparente de espessura t colocada num dos
braços do interferómetro. Se rodarmos a placa em torno de um eixo vertical o percurso
óptico do feixe, que viaja nesse braço, é alterado. Essa alteração de percurso óptico
desde a posição da placa exactamente perpendicular ao feixe até uma posição θ é dada
por µ q ¶
∆S = 2t 1 + n2 − sin2 θ − n − cos θ (A.2)
Sabendo que o número de franjas que passam num ponto do ecrã, N , se relaciona com
∆S da forma N = ∆S/λ0 , obtemos para o ı́ndice de refracção o seguinte resultado
µ ¶−1
N λ0
n= 1− (A.3)
tθ2
p
onde aproximámos n2 − sin2 θ e cos θ para θ pequeno.
Material
Interferómetro de Michelson, placa de material transparente e plataforma de rotação.
Execução
• Alinhe o interferómetro de modo a obter franjas.
• Coloque, num dos braços do interferómetro, a placa de material transparente que
possa ser posicionada através da plataforma de rotação.
• Coloque a placa exactamente perpendicular ao feixe (discuta a melhor forma de
o fazer).
• Rode a placa de alguns minutos de grau e observe no alvo o movimento das
franjas.
• Registe quantitativamente as observações do ponto anterior de forma a obter uma
estimativa do ı́ndice de refracção do material da placa.
Análise de dados
• Demonstre as expressões A.2 e A.3.
• Estime um valor para o ı́ndice de refracção do material da placa .
Bibliografia
Brandão Faria, Óptica: fundamentos e aplicações, capı́tulo 6
52
A.7 Estudo da variação do ı́ndice de refracção de um gás
com a pressão
Objectivos
• Estudar a variação do ı́ndice de refracção com a pressão pela introdução de um
célula de gás num dos braços do interferómetro.
Introdução
A variação do ı́ndice de refracção numa porção de um dos braços do interferómetro
altera o caminho óptico e desloca o padrão de franjas. Considere uma célula de com-
primento t com ar à qual se baixa a pressão e consequentemente se baixa o ı́ndice de
refracção de ∆n. O número de franjas brilhantes ou escuras que passam no centro do
padrão de interferência é
2t∆n
N= (A.4)
λ
onde λ é o comprimento de onda da fonte monocromática utilizada.
A relação entre a variação de pressão, ∆P , de um gás com a variação do seu ı́ndice
de refracção, ∆n, é aproximadamente linear para pressões baixas (consequência da lei
teórica de Lorenz-Lorentz).
Material
Interferómetro de Michelson, célula cilı́ndrica com ar, bomba de vácuo com manó-
metro.
Execução
• Coloque num dos braços do interferómetro a célula com ar, de forma que as suas
bases fiquem exactamente perpendiculares ao feixe.
• Faça vácuo na célula de uma forma gradual e observe o movimento das franjas
no alvo.
Análise de dados
• Sabendo que o número de franjas que passam num ponto do ecrã, N , devido
a uma diferença de caminho óptico, ∆S, é dado por N = ∆S/λ, demonstre a
relação A.4.
53
• Estime um valor para o ı́ndice de refracção do ar à pressão atmosférica.
Bibliografia
F. A. Jenkins e H. E. White Fundamentals of Optics, capı́tulo 13
54
A.8 Espectroscopia de Fourier
Objectivos
• Ilustração da técnica de espectroscopia de Fourier.
• Determinação do comprimento de onda de vários laser.
Introdução
A curva de irradiância num ponto do padrão de interferência em função da diferença
de caminho entre os feixes possibilita o conhecimento do espectro da luz utilizada.
Esta técnica é conhecida por espectroscopia de Fourier uma vez que as quantidades
acima referidas se relacionam por uma transformação de Fourier. Para uma fonte
policromática, a irradiância resultante da sobreposição de dois feixes provenientes da
mesma fonte com uma diferença de caminho óptico de ∆S é dada por
Z ∞ Z ∞
I(∆S) = i(k)dk + i(k) cos(k∆S)dk (A.5)
0 0
onde f = kv/π. A densidade espectral é, então, obtida efectuando uma transforma da
de Fourier do interferograma da forma
Z ∞
0 2
i (f ) = F 0 (t) cos(2πf t)dt (A.11)
π 0
55
onde assumimos que o interferograma é uma função simétrica relativamente a t = 0.
Teoricamente necessitarı́amos de medir o interferograma desde a distância 0 a +∞
digitalizado em pequenos intervalos infinitesimais. Na prática faz-se uma amostragem
do interferograma, medindo o seu valor em intervalos finitos até uma distância máxima
Dmax (no nosso caso, a essa distância máxima corresponde um tempo máximo Tmax ).
Este facto impõe o seguinte limite à resolução do espectro
1
∆f = (A.12)
Tmax
Por outro lado, o teorema da amostragem diz que a frequência de amostragem fa =
1/∆t (onde ∆t é o intervalo de tempo entre cada ponto da amostra) deve pelo menos
ser duas vezes maior que a frequência máxima, fmax contida no interferograma. Esta
exigência deve-se ao facto do espectro obtido exibir simetria de reflexão relativamente
a uma frequência, designada por frequência de Nyquist, dada por
1
fN = (A.13)
2∆t
A este fenómeno dá-se o nome de dobragem. Uma caracterı́stica espectral que aparece
a uma frequência f1 , inferior a fN , aparece também a uma frequência superior f2 , tal
que f2 = 2fN − f1 , e também a f3 = 2fN + f1 . Este facto não traz problemas se as
frequências do intervalo 0 < f < fN são reflectidas para valores superiores a fN . No
entanto, se existir informação espectral acima de fN ela é reflectida para trás, sendo
mal interpretada.
Material
Interferómetro de Michelson, micrómetro motorizado, lasers de He-Ne de várias
cores (vermelho, verde, laranja e amarelo), fotodetector, osciloscópio digital com memória,
computador com placa GPIB e Labview.
Execução
• Use um dos laser como fonte de luz, obtenha um padrão de franjas circulares e
coloque a zona sensı́vel do fotodetector no centro do padrão.
56
• Transfira os dados para o computador, usando o programa Labview e opere sobre
eles a transformada de Fourier adequada.
Análise de dados
• Discuta os espectros obtidos.
Bibliografia
Griffiths Chemical infrared Fourier Transform Spectroscopy, capı́tulos 1 e 2
P. Biggs, F. Holdsworth e R. Wayne, A low cost Fourier transform spectrometer
for the visible and near-infrared regions, Journ. Physics E: Sci. Instrum., 20, 1987, p.
1005
R. Guenther, Modern Optics, capı́tulo 4
57
A.9 Velocimetria usando o efeito de Doppler
Objectivos
• Determinação da velocidade do espelho móvel do interferómetro de Michelson por
velocimetria de efeito de Doppler.
Introdução
A velocimetria usando o efeito de Doppler é uma técnica que usa a luz laser para
medir velocidades de partı́culas e superfı́cies. O princı́pio fundamental desta técnica
consiste na alteração de frequência exibida pela luz reflectida de um objecto em movi-
mento. Se esta luz de frequência diferente se sobrepuser a luz de referência, reflec-
tida num objecto estacionário produz-se uma frequência de batimento, designada por
frequência de Doppler. Notemos que no trabalho anterior usámos o laser He-Ne ver-
melho para estimar a velocidade do espelho. Embora o objectivo do trabalho fosse
outro, estávamos a fazer essa determinação usando velocimetria de efeito de Doppler.
Podemos pensar no sinal luminoso que era detectado como resultado da sobreposição
de luz proveniente da reflexão no espelho fixo, de frequência inalterada, com luz prove-
niente do espelho móvel (a uma velocidade v), de frequência ligeiramente diferente
devido ao efeito de Doppler. Sendo este sinal a soma de dois campos luminosos com
frequências ligeiramente diferentes, apresenta uma frequência de batimento, ou seja,
a irradiância detectada num ponto da região de sobreposição apresenta uma oscilação
harmónica de frequência fD (frequência de Doppler). No último trabalho, relacionamos
esta frequência com o comprimento de onda da luz através da velocidade do espelho da
forma fD = 2v/λ. Esta expressão pode ser obtida de uma forma que mostra melhor o
efeito de Doppler (ver bibliografia).
Esperaremos uma única risca para o espectro do sinal detectado. No entanto,
irregularidades do movimento do espelho e perturbações acústicas presentes no local
produzirão frequências de Doppler ligeiramente diferentes alargando a risca. O efeito do
movimento do espelho e da presença de uma onda acústica traduz-se numa modelação
de fase do interferograma, que pode aproximar-se por
1 1
F 0 (t) = i(λ) cos(2πfD )− i(λ)φM sin((Ω+2πfD )t)+ i(λ)φM sin[(Ω−2πfD )t]+O(φ2M )
2 2
(A.14)
Este interferograma apresenta uma componente maior a oscilar com a frequência de
Doppler e outras duas menores: uma de maior frequência, (Ω/2π + fD ), e outra de
menor frequência, |Ω/2π − fD |.
58
Material
Interferómetro de Michelson, micrómetro motorizado, laser de He-Ne, gerador de
sinal, altifalante, fotodetector, osciloscópio digital com memória, computador com placa
GPIB e Labview.
Execução
• Coloque um altifalante ligado a um gerador de sinal junto ao espelho fixo do
interferómetro, de modo a que as ondas acústicas batam no espelho.
Bibliografia
R. Belansky e K. Wanser Laser Doppler velocimetry using a bulk optic Michelson
interferometer: A student laboratory experiment, American Journal of Physics, 61(11),
1993, p. 1014
59
Apêndice B
Tabelas de resultados
experimentais
60
de θ. θ(rad) é o valor de θ em radianos e N aj é o número de franjas da curva de
ajuste à expressão teórica. O valor encontrado para o ı́ndice de refracção é indicado
na segunda linha de cada uma das tabelas. As duas últimas colunas correspondem a
cálculos acessórios para o teste de χ2 . Este foi calculado da seguinte forma
X (Ni − N aji )2
χ2 = (B.1)
σi2
onde σi é o erro estatı́stico de cada medida Ni , o qual foi estimado por 1/3 de franja.
O número de graus de liberdade é igual ao número de medidas menos o número de
parâmetros que se ajustam [23]. Os χ2 para cada um dos ajustes são 26.2 e 25.0. No
primeiro caso corresponde a um nı́vel de significância de ∼ 30% e no segundo caso a
∼ 45%.
61
N θ θ (rad) Naj (N-Naj)^2 χ^2
n= 1.4939391
1 1 5/60 0.018908 1.1543606 0.02382718 0.2187987
2 1 30/60 0.02618 2.2130936 0.04540888 0.4169778
3 1 50/60 0.031998 3.3059793 0.09362335 0.8597186
4 2 5/60 0.036361 4.2690849 0.07240667 0.6648914
5 2 20/60 0.040724 5.3551401 0.12612448 1.1581678
6 2 30/60 0.043633 6.1474822 0.02175101 0.1997338
7 2 45/60 0.047997 7.4384535 0.19224147 1.7653028
8 2 55/60 0.050905 8.3674064 0.13498744 1.2395541
9 3 5/60 0.053814 9.3510035 0.12320348 1.1313451
10 3 15/60 0.056723 10.389245 0.15151165 1.3912916
11 3 25/60 0.059632 11.482131 0.23245002 2.1345272
12 3 30/60 0.061087 12.049065 0.00240739 0.0221064
13 3 40/60 0.063995 13.223917 0.05013897 0.460413
14 3 50/60 0.066904 14.453414 0.20558406 1.8878242
15 3 55/60 0.068359 15.088654 0.00785946 0.0721714
16 4 5/60 0.071268 16.400116 0.16009321 1.4700937
17 4 10/60 0.072722 17.07634 0.00582772 0.0535145
18 4 15/60 0.074176 17.766224 0.05465138 0.5018492
19 4 20/60 0.075631 18.469769 0.28114508 2.5816812
20 4 30/60 0.07854 19.917842 0.00674987 0.0619822
21 4 35/60 0.079994 20.662371 0.11399345 1.0467718
22 4 40/60 0.081449 21.42056 0.33575035 3.083107
23 4 50/60 0.084358 22.977922 0.00048742 0.0044758
24 4 55/60 0.085812 23.777095 0.04968656 0.4562586
25 5 0.087266 24.589929 0.16815828 1.5441532
26 5 10/60 0.090175 26.25658 0.06583313 0.6045283
Σ= 2.72590197 25.031239
62
N ∆P (cm Hg) Naj (N-Naj)^2 ∆P^2 χ^2
0 0 -0,61555519 0,3789082 0 2,368176
2 6 1,518957218 0,23140216 36 1,446263
3 10 2,941965493 0,003368 100 0,02105
4 12 3,653469631 0,1200833 144 0,750521
5 16 5,076477906 0,00584887 256 0,036555
6 18 5,787982043 0,04495161 324 0,280948
7 22 7,210990319 0,04451691 484 0,278231
8 25 8,278246525 0,07742113 625 0,483882
9 28 9,345502731 0,11937214 784 0,746076
10 31 10,41275894 0,17036994 961 1,064812
11 33 11,12426308 0,01544131 1089 0,096508
12 36 12,19151928 0,03667964 1296 0,229248
13 39 13,25877549 0,06696475 1521 0,41853
14 42 14,32603169 0,10629667 1764 0,664354
15 45 15,3932879 0,15467537 2025 0,966721
16 48 16,46054411 0,21210087 2304 1,32563
17 50 17,17204824 0,0296006 2500 0,185004
18 54 18,59505652 0,35409226 2916 2,213077
19 56 19,30656066 0,09397944 3136 0,587371
20 58 20,0180648 0,00032634 3364 0,00204
21 60 20,72956893 0,07313296 3600 0,457081
22 62 21,44107307 0,31239931 3844 1,952496
23 64 22,15257721 0,71812539 4096 4,488284
24 67 23,21983341 0,6086599 4489 3,804124
Σ= 299 882 3,97871708 41658 24,86698
Declive/erro Orden./erro n(Patm)/erro
0,35575207 -0,61555519 1,000261244
0,00405103 0,165365567 4,98819E-06
63
Apêndice C
64
o
65
o
66
o
67
Bibliografia
[2] Vários, “Pelo ensino experimental das ciências,” Gazeta de Fı́sica, vol. 20, no. 1,
p. 22, 1997.
[5] F. G. Smith and J. H. Thomson, Optics. London: Jonh Wiley & Sons Ltd., 1973.
[6] G. Fowles, Introduction to Modern Optics. New York: Dover Publications, Inc.,
1989.
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