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(6) Difraccin de Rayos Lser

Gonzales Lorenzo Carlos David


Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniera
E-mail: lorentz19_3abn@hotmail.com
La difraccin es un fenmeno de tipo interferencial y como tal requiere de la superposicin de ondas que
tengan un desfasaje constante. Una fuente de rayos lser es un instrumento que produce un haz de luz
monocromtica de alta coherencia, y por lo tanto puede ser utilizado para producir difraccin al ser colocado
una distancia adecuada de un obstculo. En este caso los obstculos sern rejillas con distintas forma de
abertura, con esto se tendrn distintos patrones de difraccin la cual analizaremos para determinar el tipo de
rejilla que se esta usando y con el uso de las ecuaciones de difraccin determinar el parmetro de red.
Palabras Claves: Difraccin, rejillas, rayos lser.
The diffraction is guy's phenomenon interferential and as such requires of the overlap of waves that they
have a constant phase shift. A source of rays the laser is an instrument that produces a bundle of
monochromatic light of high coherence, and therefore a distance made suitable of an obstacle can be used to
cause diffraction to the drugged being. In this case obstacles will be little grates with different form of
opening, with this the several landlords of diffraction will have which themselves we will analyze to determine
the kind of little grate that is using and with the use of the equations of diffraction determining the parameter
of net.
Key words: Diffraction, grates, rays laser.
1. Introduccin
La difraccin es un fenmeno fsico que se produce en
las ondas cuando se distorsionan por un obstculo que
tenga dimensiones comparables con la longitud de
onda, , de la onda. El obstculo puede ser una
pequea abertura que solo permita pasar parte de la
onda que incide en la abertura. Tambin puede ser un
objeto pequeo (como un pelo frente a luz visible) que
impida el paso de una pequea parte del frente de
onda.
La difraccin se divide en: difraccin de Fraunhofer y
difraccin de Fresnel. En la difraccin de Fraunhofer
la fuente que produce la onda y la pantalla sobre la
que se forma los patrones de difraccin se encuentran
a grandes distancias del obstculo, es decir los rayos
que inciden sobre el obstculo y los que llegan a la
pantalla sern paralelos.
En la difraccin del tipo Fresnel la fuente es puntual y
la pantalla se encuentra muy cerca del obstculo.
2. Fundamento Terico:
2.1 Difraccin de Fraunhofer por una rendija
nica.
Se tiene una pequea rendija nica lineal, es decir en
la que solo se toma en cuenta el ancho, y sobre esta
incide una onda plana coherente. La onda al pasar la
rendija se desviara como se muestra en la figura 1.
La ecuacin para difraccin destructiva es
= u n bsen (1)
Donde b es la dimensin de la abertura de la rendija,
es el ngulo de desviacin del frente de onda, n es un
nmero entero que da el orden del mnimo (n0) y
es la longitud de onda. La intensidad de la onda
difractada es:

bsen
)

bsen
sen(
2
o
I I (2)
Si hacemos
2
kbsenu
| = , k=2/
Tendremos
2
o
sen
I I
|
|
=

(3)
Donde: = 0: Mximo principal
= ,2,3,..: Mnimos
Para los mximos secundarios:
k
B | t =
, k=1,2,3
1
B = 1.4303,
2
B = 2.4590,
3
B = 3.4707
De la figura 2:
k
k
k
Z
sen
R
u = y considerando que
k
R L ~ , donde L es la distancia de la rejilla a la
pantalla, esto es posible debido a que
k
z L <<
k
k K
k
B L
b L z B
z b

= = (4)
La grfica de intensidad que expresa la ecuacin 3 se
muestra en la figura 3. Y el patrn de difraccin
formado tiene la forma que se observa en la figura4.
Figura 1. Difraccin de fraunhofer (con lentes). S y P
se consideran en el infinito, al estar en el plano focal
de las lentes L1 y L2, respectivamente.
Figura 2. Difraccin de Fraunhofer por una rendija
nica.
Figura 3. Grfica de la intensidad del patrn de
difraccin de una rendija lineal.
Figura 4. Patrn de difraccin para una rendija
lineal.
2.2 Difraccin de Fraunhofer por una rendija
rectangular
Se tiene una rendija rectangular de lados a y b, como
se muestran en la figura 5.
La intensidad de la onda difractada tiene la ecuacin
2 2
( ) ( )
o
bsen asen
b a
sen sen
I I
bsen asen
b a
t u t u

t u t u

=




(5)
Entonces haciendo
( / 2) ; ka sen
o
o u =
;
( / 2) kb sen
|
| u = k=2/
2 2
( , ) (0)( ) ( )
sen sen
I x y I
o |
o |
=
(6)
De la figura 5:
x
sen
R
o
u ~ ,
y
sen
R
|
u ~
,
2
ka
x
R
o =
2
kb
y
R
| = (7)
Figura 5. Rendija rectangular.
, 0:
, 1.4303 , 2.4590 , 3.4707 ... :
sec
, , 2 , 3 ..... :
Mximoprincipal
Mximo undarios
Mnimos
o |
o | t t t
o | t t t
=
=
=
Para los mximos secundarios:
1 1 2 2 3 3
; ; 1, 2, 3
1.4303; 2.4590; 3.4707
k k
A B k
A B A B A B
o t | t = = =
= = = = = =
; ;
k k
k k
A B
a L b L
x y
= =
(8)
;
k k
k k
ax by
L
A B
= = (9)
En la figura 6 se muestra el patrn que se forma en
este caso.
Figura 6. Patrn de difraccin de una rendija
rectangular.
Se muestra en la figura 6 una rejilla porta muestras y
el patrn de difraccin que forma al incidirle con un
lser.
Figura 7. Rejilla y su patrn de difraccin.
2.3 Anlisis de Fourier: [3]
a) Transformada unidimensional de Fourier
1
( ) ( )
2
iux
f x F u e du
t

=

( ) ( )
iux
F u f x e dx

Caso I: La funcin para una rendija lineal esta dada


por:
1,..
( )
0,..
x a
f x
x a
<

=

>

Aplicando la Transformada de Fourier a esta funcin


tenemos:
( ) ( )
( ) 2 2 (0)sin ( )
( ) (0) sin ( ),
.
sen ua sen ua
F u a F c ua
u ua
F u F c
ua
o
o
= = =
=
=
b) Transformada bidimensional de Fourier
Dada una funcin f(x,y) definida en un plano x,y, la
transformada bidimensional de Fourier es la funcin
compleja F(u,v) determinada por la frmula:
( )
2
1
( , ) ( , )
4
i ux vy
f x y F u v e dudv
t
+ +
+

=

( )
( ) ( , )
i ux vy
F u f x y e dxdy
+ +
+

=

Caso II: La funcin para una rendija lineal esta dada
por:
1,.. ,
( )
0,.. ,
x a y b
f x
x a y b
< <

=

> >

Aplicando la Transformada de Fourier a esta funcin


tenemos:
( ) ( ) ( ) ( )
( , ) 4 4
( , ) (0, 0) sin ( )sin ( ),
, .
sen ua sen va sen ua sen vb
F u v ab
u v ua vb
F u v F c c
ua vb
o |
o |
= =
=
= =
3. Equipo experimental
Materiales:
- 5 rejillas de difraccin.
- Soporte de rejillas.
- Cinta mtrica.
- Un par de cuchillas metlicas.
Equipo:
- Fuente de rayos lser (633nm).
Figura 8. Equipo usado en el laboratorio. (a)Fuente
de rayos lser con el porta-muestras conteniendo las
rejillas de difraccin. (b) Rendija nica usada.
4. Procedimiento experimental
1. Con las dos cuchillas se simula una rendija
delgada. Luego se hace pasar por esta abertura
el lser.
2. Sobre una rejilla se incide luz de un lser, el
objetivo es formar un patrn de difraccin a
una larga distancia. Se procede de manera
similar con las otras rejillas.
Los patrones que se obtienen se muestran en las
figuras 9, 10, 11, 12, 13, 14 y 15.
Figura 9. Patrn de difraccin de la rendija nica.
Figura 10. Patrn de difraccin de la primera rejilla.
Figura 11. Patrn de difraccin de la primera rejilla
rotada 45
a
b
Figura 12. Patrn de difraccin de la tercera rejilla
Figura 13. Patrn de difraccin de la cuarta rejilla.
Figura 14. Patrn de difraccin de la quinta rejilla.
Figura 15. Patrn de difraccin de la rejilla patrn.
En la figura 9 se observa el patrn para el caso de una
rendija nica que se forma en una pantalla que esta a
214 cm de la rendija.
La figura 10 muestra el patrn de una rejilla con
rendijas cuadradas, aqu la distancia entre rejilla y
pantalla es 203.5 cm. La figura 11 es el patrn de
difraccin de la primera rejilla pero rotada 45 con
respecto al eje del laser.
La segunda rejilla se compone de rendijas cuadradas
con distinto parmetro de red. Esta rejilla esta a 208.5
cm de la pantalla.
La figura 12 muestra el patrn de difraccin de un
grupo de rendijas rectangulares, con una distancia
entre rejilla y pantalla de 208.4 cm.
La figura 13 muestra el patrn de una rejilla con
rendijas hexagonales, a 200.9 cm.
En la figura 14 se observa nuevamente el patrn para
rendijas rectangulares a 201 cm, pero con parmetros
de red mayores que los de la figura 10, esto debido a
que el patrn de difraccin es ms pequeo.
La figura 15 muestra el patrn de difraccin de la
rejilla patrn la cual es una rejilla cuadrada de
parmetro de red ms pequea que las anteriores
rejillas. Esta rejilla esta a una distancia de la pantalla
de 203.5 cm.
5. Clculos
A) Calculo del parmetro b de la red para la
rendija nica (anexo, pgina1):
Para los mximos secundarios:
k
B | t =
, k=1,2,3
1
B = 1.4303,
2
B = 2.4590,
3
B = 3.4707
De la ecuacin (4) tenemos que
k K
L
z B
b

=
k K
L
z B
b

A = A (10)
Como:
2
B -
1
B =1.0287;
3
B -
2
B =1.0117, entonces
podemos aproximar
1
1
k k
B B


Luego:
k
k
L L
z b
b z

A ~ =
A
De la hoja de datos tenemos que
633 ,
2.14
nm
L m
=
=
Tabla 1: Valores calcular del parmetro de red b.
zk (mm) bk (m)
z2-z1 6 225.77
z3-z2 6 225.77
z4-z3 6.5 208.40
promedio 220.0
Lego tenemos que el parmetro de la rendija es de:
b = 220.0 m
B) Calculo del parmetro b de la red para la rejilla
Patrn:
De la hoja de de resultados (Anexo, Pgina 2) para
la rejilla patrn se puede notar que la rejilla es
cuadrada, donde 52
k k
x y mm A = A = , entonces
de la ecuacin 8:
k
k
A
a b L
x

A
= =
A
(11)
Adems como:
2
A -
1
A =1.0287;
3
A -
2
A =1.0117,
entonces podemos aproximar
1
1
k k
A A

~
Entonces nos quedara:
52
L
a b
mm

= =
y con
633 ,
2.41
nm
L m
=
=
Con esto obtenemos el parmetro de red:
b = 29.34 m
C) Calculo del parmetro b de la red para la
Primera rejilla para un ngulo de desviacin de
0 y 45. (Anexo, pgina 3 y 5)
- Para una desviacin de 0 tenemos que el patrn en
la hoja de datos es cuadrada con longitudes
15.5
k k
x y mm A = A = , entonces de la ecuacin
hallada en (B):
1
k
a b L
x
=
A

Con
633 ,
2.035
nm
L m
=
=
Con estos datos obtenemos que el parmetro de red de
esta rejilla es:
b = 83.11 m
- Para una desviacin de 0 tenemos que el patrn
en la hoja de datos es rectangular con longitudes
18.17 , 15.5
k k
x mm y mm A = A = , entonces de la
ecuacin (8) tenemos que:
; ;
k k
L L
a b
x y

= =
A A
(12)
Con 1, 1
k k
A B A ~ A ~ y
633 ,
2.045
nm
L m
=
=
Con esto obtenemos que los parmetros de red sean:
71.24 m a u = y 83.51 m b u = .
D) Calculo del parmetro b de la red para la
Segunda rejilla (Anexo, pgina 6).
De la hoja de de resultados para la Segunda
rejilla se puede notar que el patrn es
rectangular y con longitudes
20.25 , 20.75
k k
x mm y mm A = A = , entonces
usando la ecuacin 12 y adems
633 , 2.085 nm L m = = obtenemos que:
65.17 m a u = y 63.61 m b u =
6. Resultados.
Tabla 2: Parmetros de red de las rejillas
analizadas.
Tipo de abertura
Parmetro de red
(m)
rendija hendidura 220.0
Rejilla patrn cuadrada 29.34
Rejilla 1 , 0 cuadrada 83.11
Rejilla 1, 45 rectangular a=71.24; b=83.51
Rejilla 2 rectangular a=65.17; b=63.61
7. Programas:
Con el siguiente programa en Matlab se simula el
comportamiento de la grafica intensidad I vs
bsen/, donde:
b: parmetro de la rendija,
L: distancia de la pantalla a la rendija
function difraccin
% I (b,L,lamda),
teta=linspace(-pi/4,pi/4,300); % intervalo de
valores que puede tomar el ngulo teta.
Io=100; % valor de la intensidad pico mxima (
%es relativo)
%b=220um; parmetro de la rendija nica
%= 633nm; longitud de onda del rayo lser.
%r = (b./lamda), se nombra a esta relacin "r"
% que es igual a 347.55
r=347.55;
x=r*(sin(teta))
u=(pi*r*sin(teta));
I=Io*(sin(u)./u).^2;
plot(x,I);
text(100,0.5,'G=G(b,L,)');
xlabel(' bsen(teta)/lamda ');
ylabel ( 'I );
Figura 16. Grfica I vs. bsen/ con
I= I (b,L,lamda).
Figura 17. Grfica I vs. bsen/2 con
I= I (b/2,L,lamda).
Figura 18. Grfica I vs.2bsen/ con
I= I (b,L/2,lamda).
Figura 19. Grfica I vs.2bsen/ con
I= I (2b,L,lamda).
8. Conclusiones:
- Si se dan la longitud de onda de la luz incidente as
como los valores de las distancias entre las
posiciones de los puntos iluminados en un patrn
de difraccin, se pueden determinar, por medio de
un anlisis matemtico, las posiciones y el arreglo
geomtrico de la rejilla que gener el patrn.
- De los resultados obtenidos se puede concluir que
a menor parmetro de red el patrn de difraccin
correspondiente se hace ms grande.
- La transformada de Fourier relaciona el espacio
directo con el espacio reciproco, que corresponde
al patrn de patrn de difraccin, y por tanto
relacionado con la distribucin de intensidades en
un determinado punto de la pantalla.
- Del Programa Difraccin se pueden obtener loas
distintas curvas de intensidad vs bsen/,
comparando con las graficas al variar los
parmetros como b, L y . De la figura 16,17 y 19
podemos notar que el mximo de intensidad
aumenta al reducir el parmetro b a la mitad y
disminuye cuando se duplica el parmetro b.
_________________________________________________
[1] Eugene Hecht, Optics.
[2] Moran M. Jos, Informe de difraccin de Rayos Lser, Facultad de Ciencias, UNI, Octubre del 2007.
[3] http://mecfunnet.faii.etsii.upm.es/difraccion/difraccion.html
[4] http://www.cie.uva.es/optica/Practicas/segundo/opticaII/fraunhofer/fraunhofer.htm
[5] http://www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/ondas/difraccion1/difraccion1.htm

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