Les methodes experimentales des determinations

de structures cristallines par rayons X.

Par

A. GUZNIER et G. VON ELLER.

Avee 79 Figures.

1. Introduction. Le but de ce chapitre est de decrire les methodes qui permet-

tent de determiner la structure d'un cristal ou d'un solide forme par l'assemblage
de nombreux cristaux de meme espece grace a la diffraction de rayons X.
Dans plusieurs aut res articles de cette Encyclopedie on a montre Ie rMe
essentiel joue par Ie reseau reciproque. C'est Ie reseau reciproque que les ex-
periences de diffraction mettent en evidence. D'une fayon plus precise, ce qu'on
peut determiner, ce sont les parametres de la maille de ce reseau et Ie module
du facteur de structure attache a chaque noeud.
L'objet de la premiere partie de cet article est d'abord de decrire les appareils
ainsi que les methodes utilises pour determiner Ie reseau reciproque, les uns et
les autres variant suivant la forme sous laquelle se presente l'echantillon, cristal
unique ou poudre microcristallisee.
Le deuxieme stade consiste a passer des donnees que 1'0n possede sur Ie
reseau reciproque a la structure du crista!. Les difficuItes theoriques de ce pas-
sage ont ete decrites dans l'article de J. BOUMAN. Nous montrerons ici comment
et dans quelle mesure elles sont pratiquement resolues.
Enfin, nous passerons en revue les diverses applications des experiences de
diffraction des rayons X, autres que la determination des structures atomiques
du crista!.
A. Les appareils de la Radiocristallographie.
En general, un solide cristallise est compose d'un agregat de petits cristaux
dont les dimensions varient de quelques microns a quelques centimetres. II y a
deux etats d'echantillons favorables a l'etude radiocristallographique: Ie cristal
unique caracterise par ses formes exterieures geometriques et la poudre formee
d'un tres grand nombre de tres petits grains d'orientation quelconque.
Le dernier cas est evidemment Ie plus frequent puisqu'on peut s'y ramener
en broyant tres finement Ie solide, mais Ie monocristal est necessaire pour une
etude complete de la structure.

I. Les diagrammes de diffraction d'un cristal unique.

Un cristal immobile recevant un pinceau de rayons paralleles et monochro-
matiques de direction donnee ne donne pas naissance, en general, a des rayons
diffractes ou, en tout cas, a un tres petit nombre, insuffisant pour renseigner
sur la structure du reseau reciproque. Le principe des methodes qui permet
d'obtenir des diagrammes utiles a ete expose d'autre part. Nous allons voir
comment elles sont realisees.
Handbuch der Physik. Bd. XXXII.

A. Guinier et al., Structural Research / Strukturforschung

© Springer-Verlag OHG. Berlin · Göttingen · Heidelberg 1957
2 A. GUINIER et G. VON ELLER: Les methodes experimentales. Sect. 2.

2. La methode de LAUE. Cette technique est la plus ancienne. Elle consiste

a irradier un cristal immobile au moyen d'un rayonnement X «blanc», c'est-a-
dire aussi n§gulierement polychromatique que possible (Fig. 1).
Quand une famille de plans reticulaires fait l'angle {} avec Ie pinceau incident,
les longueurs d'onde telles que la relation de BRAGG nA = 2dsin{} soit verifiee,

pion
crls!o/hn
fO/secou Inclden! fa/sccou InC/den!
p/on cnsfol/;n

p/Ililue
pho!ogroph/~ue
a b
Fig. 1 a et b. Dispositif de LAcE (principe). a) Montage pour diagrammes aux petits angles. b) Montage pour diagrammes
aux grands angles.

peuvent etre reflechies par les plans conside.res et on observe un rayon diffracte
dans une direction telle que la bissectrice des rayons incident et diffracte soit
confondue avec la normale au plan.
Le but du diagramme de LAUE est d'enregistrer les directions des rayons
diffractes (Fig. 2), ce qui permet de determiner les directions des plans reti-
culaires. Par contre, comme
on ne connait pas la longueur
d'onde des rayons diffractes,
on ne peut pas connaitre la
distance interreticulaire d des
plans. '.
.' En principe, une chambre
. ., ........
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pour
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diagramme de LAUE se
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compose d'un collimateur de-
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finissant un fin pinceau de
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rayons X tombant sur Ie petit
cristal a etudier. Une plaque
' .. ·\,·t.~ . · .,:,"'. 'f
• I ' • ,~ , .. ] : - . ; plane normale au faisceau
. ~. '. ....... '. • I" •
.'.. "., ~. ,:''';~·.-·I::''., . enregistre les faisceaux dif-
..... -•• i:.· . .• ;. •
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.....- . ..
fractes a des angles 2{} in-
<I' •

ferieurs a 90° (en pratique

'. . - -.. ... • a 60°). Dans un autre dis ·
positif (diagramme de LAUE
en retour) Ie film photo-
graphique est perce au centre
pour laisser passer Ie collima-
Fig. 2. Cliche de LAUE (beryl). (RIMSKY.)
teur et on enregistre les ra-
yons diffractes agrand angle.
Comme exemple de chambre de LAUE, nous decrirons l'appareil de BARRAUD
(Fig. 3) destine a obtenir des diagrammes de LAUE de precision!.
Sur un banc d'optique fixe peuvent se de placer deux socles independants :
Ie premier porte un collimateur interchangeable, long de 5 a 35 cm. et une platine
destinee a recevoir Ie cristal; Ie second re<;oit un chassis photographique plan
1 J. BARRAUD: Bull. Soc. fran". Miner. Crist. 74, 223 (1951).