CURRICULUM VITAE

Mara Georgina Ramrez Cruz. MAESTRA EN TECNOLOGA AVANZADA

FECHA DE NACIMIENTO: DIRECCIN: TELFONO PARTICULAR: DIRECCIN LABORAL: TELFONO LABORAL:

23 DE Abril de 1971. Mxico. DF, CP: 04600

(+52) 55 5547-3130. Av. IPN, No. 2508, Col. San Pedro Zacatenco, Mxico D. F, cp.: 07360.

CELULAR: E-MAIL.:

5547-3800, Ext.: 6255, 6250. CASA: 5547-3130. 044(55)3105-5827 ingeoramirez@yahoo.com.mx, gramirez@sees.cinvestav.mx

ESCOLARIDAD:

2007-2010
MAESTRA EN TECNOLOGA AVANZADA

UNIDAD PROFESIONAL INTERDISCIPLINARIA TECNOLOGAS AVANZADAS (UPIITA). ESPECIALIDAD EN TECNOLOGAS FOTNICAS.

INGENIERO EN COMUNICACIONES Y ELECTRNICA.

DE

INGENIERA

INSTITUTO POLITCNICO NACIONAL. GENERACIN 1989-1995. DOCUMENTO OBTENIDO: TTULO Y CDULA PROFESIONAL.
TCNICO EN ELECTRNICA INDUSTRIAL

CECYT 10 ING. CARLOS VALLEJO MRQUEZ". DE 1986-1989. DOCUMENTO OBTENIDO: CARTA DE PASANTE, BOLETA GLOBAL Y DIPLOMA DE TCNICO EN ELECTRNICA INDUSTRIAL.
DOMINIO DE LENGUAS EXTRANJERAS:

Escrito: 100%. Hablado: 100%. Traduccin: 100%. CERTIFICADO DE ESTUDIOS EMITIDO POR EL INSTITUTO NORTH AMERICAN ENGLISH CENTER.
INGLES: FRANCS: RUSO:

Escrito: 60%. Escrito: 40%.

Hablado: 60%. Hablado: 40%.

Traduccin 70% Traduccin: 40%

CURSOS DE CAPACITACIN Y ENTRENAMIENTO:

NOMBRE DEL CURSO 1997-2005 1.-Panamerican Crossing Cable System OM. 2.-DWDM Systems 3.-Submarine Management Systems 4.-Network Management (ETNA NEM) 5.-Bsico PDH ySDH. 6.-Redes de telecomunicaciones 7.-INGENIERIA (AXD 155-2, -3, - 3C). 8-SMUX 155-2 O&M 9-MINILINK-E 10.-Sistema de gestin ETNA-NEM 11.-O&M MINILINK 12.-DIGITAL CROSS-CONECT 4 /1-2 13.-PSINOPSIS AXE 14.-Ultrasonic Testing Level I,1996 15.-Ultrasonic Testing Leve II, 1996 16.-Ingeniera y operacin AXD2500-2 17.-Medicin de recubrimientos magnticos. 18.-Metrologa 19.-REDES NOVEL (LAN, WAN) 31.-Ingles Bsico, Intermedio y Avanzado, 1986 32.-XVIII International Materials Research Congress 2009 33.-Soc.Mex.de Ciencia y Tec. de Superficies y Materiales 34.-Comparacin de parmetros de diodos pin, 2010 35.-Espectroscopia de emisin de puntos cunticos CdSe/ZnS 36.-Anlisis de pelculas delgadas de Six Gex-1 por SIMS(2) 37.-Reunin de usuarios Bruker AXS 2009 38.-Optoelectrnica y fotnica orgnica/plstica 39.-Materiales compuestos para atenuar el campo elctrico 40.-SC y sus nano-estructuras 41.-preparacin de nanotubos nano-fibras a partir de polmeros 42.-Tcnicas foto-trmicas: Teora y aplicaciones 43.-Esquema de control servo visual para robots 3D 44.- Caracterizacin trmica de nano-partculas TIO2 45.-Electrnica orgnica 46.-Desarrollo de una tecnologa de bioconjugacin de Quantum Dots. 47.-Tpicos selectos de fotnica: Luz no clsica 48.-Sputtering Yield of Six Ge X-1 solid solution, 2010 49.-Study of isotropic effect for Li implantation in organic crystals 50.-Surface roughness of cesium ion beam sputtered CdS NOMBRE DEL CURSO

2006-2009 20.- Introduccin a Lab View. 21.-Seminario de Lab View 8.5. 22.-Seminario prctico de PACs. 23.-Seminario prctico de Visin. 24.-Certificacin Lab VIEW Bsico I y II CAN. 2007-2011 25.-XVI Int. Congress of Materials Research 2007. 26.-Seminario Prctico de adquisicin de datos 27-Miniaturizacin-auto diagnostico reparacin de Circuitos Integrados. 28.-Seminario de Ultra Alto vacio (VARIAN). 29.-Taller de materiales nano estructurados. 30.-Anlisis de pelculas delgadas de SixGe1-x SIMS.

EXPERIENCIA LABORAL:

1 de Octubre del 2006-ACTUALMENTE. CENTRO DE INVESTIGACIN Y DE ESTUDIOS AVANZADOS DEL INSTITUTO POLITCNICO NACIONAL (CINVESTAV, IPN).
Funcin: Auxiliar de Investigacin Nivel H. Departamento: Laboratorio de Espectrometra de Masas por Iones Secundarios

(SIMS), de la Seccin de Electrnica del Estado Slido (SEES) del Departamento de Ingeniera Elctrica.
Descripcin de actividades:

Medicin de espectros de masas de iones secundarios, medicin de perfiles en profundidad, optimizacin de parmetros en las mediciones con la tcnica SIMS. Mantenimiento preventivo y correctivo del espectrmetro de masas IMS-6F y sus sistemas perifricos, anlisis de resultados de las mediciones realizadas con la tcnica SIMS y elaboracin de los reportes correspondientes. Elaboracin de instructivos de operacin y mantenimiento de los equipos de laboratorio SIMS. Rediseo de la ingeniera de los perifricos del equipo. Configuracin del software del equipo IMS-6F en lenguaje LabVIEW, UNIX y LINUX. Elaboracin de programas para control de variables en el laboratorio utilizando el lenguaje de programacin LabVIEW. Administracin de los recursos financieros de los proyectos de investigacin del laboratorio SIMS, planeacin de gastos corrientes y de inversin, suministro de insumos, crecimiento de la infraestructura, desarrollo de proveedores y control de inventarios. 2005-2006 SISTEMAS DE CONTROL POR COMPUTADORA S.A. DE C.V. (S.A.C.S.A)
Funcin: Ingeniero de soporte tcnico. Departamento: Soporte Tcnico. Descripcin de actividades:

Calibracin de equipos de medicin del laboratorio de electrnica, tales como osciloscopios, multmetros, medidor de resistividad, inductancia, capacitancia (RLC), generador de frecuencias, medidor de potencia, etc. Soporte tcnico al rea de diseo electrnico con Circuitos Lgicos Programables (PLC`s). Revisin de circuitos impresos y pruebas de conductividad. Fabricacin y diseo en prototipos para sistemas de control y automatizacin. Soporte tcnico al departamento de ventas en la instalacin prueba y entrega de los sistemas fabricados.

2004-2005 RAIND BIRD (SISTEMAS AUTOMATIZADOS DE IRRIGACIN USA).

Funcin: Supervisor de control de calidad. Departamento: Control de calidad Descripcin de actividades:

Supervisin del trabajo de los Inspectores de Control de Calidad. Realizar la inspeccin fsica, cualitativa y cuantitativa, del material electrnico para las lneas de produccin de controladores electrnicos basados en Dispositivos Lgicos Programables (PLD). Supervisin de la medicin de dimensiones y caractersticas en los productos de a cuerdo a estndares internacionales, para proceder a su aceptacin o rechazo. Evaluacin de materiales de nuevos proveedores (elaboracin y aprobacin de procedimientos de control de calidad (QCPs y QAPs). Etiquetado de todo el material de entrada con leyendas de aceptado, rechazado o detenido. Manejo y aprobacin del concepto uso tal cual es (Use as Is) en coordinacin con Ingeniera, compras y supervisores de la lnea de produccin. Manejo cotidiano de comparadores pticos, microscopio electrnico, heigh gage, thickness gage, bloks de calibracin, lainas, micrmetro, caliper. Colaboracin en la elaboracin de patrones (fixture) y plantillas de prueba, para los equipos de entrada, proceso y salida de las lneas de produccin. 2002-2004 SISTEL (INGENIERA EN SISTEMAS DE TELECOMUNICACIONES).
Funcin: Supervisor de ingeniera e instalacin Departamento: rea de Ingeniera. Descripcin de actividades:

Realizar la Ingeniera de los proyectos de Telefona del Norte (TELNOR): Inspeccin de sitio (Site survey), planos de sala (floor plans), dimensionamiento de la red de transmisin, disposicin del cableado, matrices de materiales, informacin tcnica y de instalacin (modulo C), etc. Llevar a cabo el proceso de instalacin prueba, puesta en operacin y entrega de los equipos de Telecomunicacin SDH Y PDH, configuracin, programacin equipos de transmisin, fibra ptica y sistemas de microondas, manejando personal tcnico. Supervisar las actividades de un equipo de instalacin y montaje para proceder a la prueba de los equipos instalados. Planeacin de actividades con ventas, implementacin y soporte, para proyectos de redes de transmisin, manejando la red DCN y de trfico. Realizar la reingeniera para redes de Internet va satlite, cable, HDSL, cableado, instalacin y puesta en operacin. Mantenimiento preventivo y correctivo de redes de Internet, corporativas y operativas.

1999-2002 ALCATEL INDETEL INDUSTRIA TELECOMUNICACIN S.A. DE CV. (TELECOMUNICACIONES).

Funcin: Ingeniero de servicio Departamento: ASND (Alcatel Submarine Network Division) Descripcin de actividades:

Supervisin de la operacin y mantenimiento de la red submarina en el segmento llamado "Pan American-Crossing" (De Panam a Grover Beach California). Supervisar y coordinar las actividades de los tcnicos en electrnica. Asignacin de canales de transmisin clientes como: Telefona del norte (TELNOR), Bestel, Alcatel, etc. Asignacin de las cubicaciones para la instalacin de los equipos multiplexores de transporte como: AXD 2500, CROSS CONECT, STM-155 y (Multiplexores por divisin de longitud de onda densos (DWDM). Supervisin de la reparacin del Cable ptico submarino con Reflectmetros pticos de dominio en el tiempo (OTDR). Realizacin de las rutinas de mantenimiento, revisin de la red de gestin de Global Crossing con sistemas de gestin remota (Bandwidth Management, sistemas de radio y enlaces de comunicacin). Deteccin inmediata de cualquier ruptura, o falla en amplificadores y repetidores en la trayectoria Mazatln - Tijuana.

1997 -1999 ERICSSON TELECOM S.A. DE C.V. (TELECOMUNICACIONES).

Funcin: Supervisor de instalaciones e ingeniero de pruebas de transmisin. Departamento: rea de instalaciones. Descripcin de actividades:

Realizacin del proceso de instalacin, prueba, puesta en operacin, y entrega de los equipos de Telecomunicacin de tecnologa SDH Y PDH, configuracin, programacin y comisionamiento de equipos de transmisin, fibra ptica, multipar, coaxial y sistemas de microondas, manejando personal tcnico del rea de instalaciones y posteriormente de compaas subcontratadas (out sourcing). En el rea de Nuevos Productos, supervisin de las actividades de un equipo de trabajo llamado "clula". Planeacin las actividades con otras reas: implementacin, logstica, soporte y ventas para los proyectos de homologacin de los nuevos productos. Elaboracin de la ingeniera y el proceso de instalacin de un proyecto completo de los Nuevos Productos. Rediseo de productos, para reducir costos sin perder de vista estndares internacionales, ISO 9000 y SixSigma, cambiando partes como hierros, componentes, interfaces, atenuadores o fibras. Desarrollo de proveedores. Obtencin de matrices de material mecnico, equipo de prueba, herramienta, cableado y clculo de tiempos de trabajo.

1995 -1997 COMERCIO Y TRAFICO TCNICO DE MXICO S.A. DE C.V. (EQUIPO ULTRASNICOS PARA CONTROL DE CALIDAD).
Funcin: Ingeniero de soporte tcnico Departamento: rea de soporte tcnico Descripcin de actividades:

Realizacin del mantenimiento preventivo y correctivo a equipos ultrasnicos medidores de espesores y detectores de fallas. Calibracin de equipos medidores de espesores, equipos de pruebas destructivas, rayos X e infrarrojos utilizados en la revisin de materiales de diversas industrias como: Nacobre PEMEX, Telmex, Pistones Morinsa, FORD, UNAM, etc. Certificacin de equipos ultrasnicos marca Krauthkramer Branson, C-Scan, D- Scan. Deteccin de fisuras, fracturas o porosidades en capas de soldadura para ductos, silos, tuberas, tanques de gas. Calibracin de los equipos ultrasnicos para el control de calidad en las lneas de produccin (pistones MORINSA). 1993-1995 SISTEMAS DE CONTROL POR COMPUTADORA S.A. DE C.V. (S.A.C.S.A)
Funcin: Ingeniero de soporte tcnico. Departamento: Soporte Tcnico. Descripcin de actividades:

Calibracin de equipos de medicin del laboratorio de electrnica como osciloscopios, multmetros, medidor resistividad, inductancia y capacitancia (RLC), generador de frecuencias, medidor de potencia, etc. Soporte tcnico al rea de diseo electrnico con Circuitos digitales programables (PLC`s). Revisin de circuitos impresos y pruebas de conductividad. Diseo de prototipos de sistemas de control. Soporte tcnico al departamento de ventas en la instalacin prueba y entrega de los sistemas de control.

1990-1993 REPRESENTACIONES INDUSTRIALES, METALMECNICAS Y ELECTRNICAS.

Funcin: Tcnico electrnico. Departamento: Soporte a ventas Descripcin de actividades:

Mantenimiento del laboratorio de electrnica de los siguientes equipos: osciloscopios, multmetros, medidor RLC, generador de frecuencias, medidor de potencia. Demostracin de los equipos electrnicos de medicin y entrenamiento al cliente sobre su funcionamiento.
DOCENCIA:

2010 - ACTUALMENTE SAISAMX, S.A.DE C.V. SISTEMAS DE APLICACIN EN INTERNET DE MXICO SA DE CV.
Funcin: Directora de capacitacin en fibras pticas y multiplexin por divisin de

longitud de onda (DWDM).

Departamento: Consultora y capacitacin. Descripcin de actividades: Imparticin de asesoras y entrenamiento en el rea de telecomunicaciones: Fibras pticas nivel 1, 2 y 3. Entrenamiento en la instalacin de cables de fibra ptica, de equipo de mutiplexin, manejo de equipo de medicin de seales pticas y Reflectmetro ptico OTDR (Optical Time Domain Reflectometer), fabricacin de conectores y realizacin de empalmes con mnima dispersin. Entrenamiento en instalacin y prueba de multiplexores por divisin de longitud de onda densos (DWDM). Curso terico-prctico de diferentes equipos de telecomunicacin para redes pticas terrestres y submarinas, Redes Metropolitanas y de Larga distancia para clientes como TELMEX, CFE, SEDENA. (Servicio de consultora de no ms de 8 hrs. por semana).

1986-1989 Cursos de Ingls bsico e intermedio en Northamerican English Center (Cursos sabatinos). 2005-2006 Cursos de Ingls intermedio en Northamerican English Center (cursos sabatinos).

MANEJO DE EQUIPO ESPECIALIZADO:

SOFTWARE: Visual basic, Fortran, C++ (nivel bsico). Math CAD 14.0, AUTOCAD 4.0, 2D y 3D, software para diseo de dispositivos semiconductores Dolphin SMASH.v5.11.3 de SOLARIS, MathLAB 2006, MathCAD 7.3.0, Power Point, Frame, LabView bsico, etc. DCN (data communication network), DCX (Digital cross connect), Ruteadores CISCO, SDH, DWDM, equipos de sincrona, radio-enlaces, Mini-link (LOS) Line of optic studio. EQUIPOS DE MEDICIN: Medidor de potencia ptica, Vernier, medidor de nivel, operacin bsica de fresa y torno, taladro de pie, analizadores de trama PDH y SDH, OTDR, equipos ultrasnicos de medicin, equipos submarinos de medicin, Comparador ptico, caliper, heigh gage, thickness gage, microscopio electrnico, microscopio de fuerza atmica, analizador de dispersin de rayos X, perfilmetro, detector de fugas, Espectrmetro de masas por iones secundarios.
ARTCULOS INTERNACIONALES CON ARBITRAJE ESTRICTO:

2006-2011 1.-Kudriavtsev, Y., Gallardo, S., Villegas, A., Ramirez G., Luna, M., Aguilar, M., Asomoza, R. Analytical study of the obsidian hydration process, REVISTA MEXICANA DE FISICA, Volumen: 56, Issue: 3 Pages: 204-207, Published: JUN 2010 2.- Yu. Kudriavtsev, S. Gallardo, A. Villegas, G. Ramrez, R. Asomoza SIMS depth profiling of nano-sized semiconductor heteroestructures: theorical consideration, El artculo en extenso en Ion Surface Iterationscelebrado en Rusia en 2007. 3. - Yu. Kudriavtsev, S. Gallardo, A. Villegas, G. Ramirez, R. Asomoza.Energy dependence of secondary ion yield. El artculo en extenso en Ion Surface Iterationscelebrado en Rusia en 2007. 4.- Y. Kudriavtseva, S. Gallardoa, A. Villegasa, G. Ramreza, R. Asomozaa, V. Mishurnuy. Cesium ion sputtering with oxygen flooding: Experimental SIMS study of work function change. Applied Surface Science 254 (2008) 49614964. 5.-Y. Kudriavtsev, S. Gallardo, A. Villegas, G. Ramrez, R. Asomoza, Ionization probability of sputtered particles as a function of their energy part II. Positive Si* ions. Applied Surface Science 254 (2008) 3801-3807.

6.- Yu. Kudriavtsev, S. Gallardo, A. Villegas, G. Ramrez, R. Asomoza. Energy Dependence of Secondary Ion Yield Proceedings of International Conference on Ion Surface Interaction ISI-2007, Zvenigorod, Russia, August 24-28, 2007. V2, 50-53 pp. 7.- Yu. Kudriavtsev, S. Gallardo, A. Villegas, G. Ramirez, R. Asomoza. SIMS Depth Profiling of Nano-Sized Semiconductor Heterostructures: Theoretical Consideration. Ion-Surface Interactions ISI, XVIII International Conference. 24 al 28 de Agosto, 2007, Zvenigorod, Rusia. 52-55 pp
ARTCULOS NACIONALES CON ARBITRAJE:

8.- Georgina Ramrez, Yuriy Kudriavtsev, Lilia Martnez Prez, Espectrometra de Masas por Iones Secundarios (SIMS), Descubriendo la composicin elemental de los materiales. Revista Conversus 2009, volumen No: 83. Pgs. 26-29. Publicada en enero del 2010.
MEMORIAS EN CONGRESOS INTERNACIONALES:

2006-2010 1) O. Koudriavtseva, Yu. Kudriavtsev, A. Escobosa, M.Avendao, G.Ramirez, AlXga1-XN surface structure evolution under cesium and oxygen ion bombardment XIX INTERNATIONAL MATERIALS RESEARCH CONGRESS 2010, 15 19 August, Cancn, Mexico, Symposia: Advances in Semiconducting Materials, abstract 118. 2) Yu. Kudriavtsev, M. Avendano, G.Ramirez O. Koudriavtseva, N. Gonzalez, A.Escobosa, V.Sanches, R.Asomoza, analitical study of Ohmic contacts for pGaN, XIX INTERNATIONAL MATERIALS RESEARCH CONGRESS 2010, 15 19 August, Cancn, Mexico, Symposia: Advances in Semiconducting Materials, abstract 120 3) Yu. Kudriavtsev, M. Avendao, G. Ramirez, S. Nikishin, O. Koudriavtseva, A.Escobosa, R.Asomoza Depth profiling analysis of AlN/SAPPHIRE interface: reconstruction of original element distribution, XIX INTERNATIONAL MATERIALS RESEARCH CONGRESS 2010, 15 19 August, Cancn, Mexico, Symposia: Advances in Semiconducting Materials, abstract 121. 4) Yu. Kudriavtsev, S. Gallardo, A. Villegas, G.Ramirez, R. Asomoza, Calculation of the temperature in a collision cascade formed by an accelerated ion, International Conference on Interaction of charged particles with crystals, May 26 - 28, Moscow, 2009, p.98 5) Yu.Kudriavtsev, S.Gallardo, G.Ramirez, A.Villegas, O. Koudriavtseva, R.Asomoza, surface roughness of cesium ion beam sputtered CdS crystal,

XVIII International Material Research Congress, Cancun, Mexico, August 1621, 2009, Abstract Book, S13-P52 6) G.Ramirez, Yu.Kudriavtsev, R.Asomoza, L.Martinez, A.Kosarev, F.Torres, Sputtering yield of SiXGe1-X solid solution, XVIII International Material Research Congress, Cancun, Mexico, August 16-21, 2009, Abstract Book, S4-P26 7) Yu.Kudriavtsev, S.Gallardo, G.Ramirez, A.Villegas, O. Koudriavtseva, R.Asomoza, V.M. Korol, study of isotopic effect for Li implantation in organic crystals, XVIII International Material Research Congress, Cancun, Mexico, August 16-21, 2009, Abstract Book, S4-P11 8) S.Gallardo, G.Ramirez, R.Contreras, I.Martinez, J.S.Rojas, J. Hernandez, M.Lopez-Lopez, V.M.Sanches R., Yu. Kudriavtsev, A.Escobosa, Structural characterization of epitaxial GaN/AlN growth on Si(111) by MBE, International Conference on Surface, Materials and Vacuum, San Luis Potosi, Mexico September 21-25, 2009, Abstract Book, pg. 246
ASISTENCIA A CONGRESOS INTERNACIONALES:

1.- Georgina Ramrez, Yuriy Kudriavtsev, Lilia Martnez Prez, Espectrometra de Masas por Iones Secundarios (SIMS), Descubriendo la composicin elemental de los materiales. Revista Conversus 2009, volumen No: 83. Pgs. 26-29. Publicada en enero del 2010. 2.-** Yuriy, koudriavtsev, G. Ramrez, S. Gallardo, A. Villegas, R. Asomoza. Analytical study of thin AlN film on sapphireSociedad Mexicana de Ciencia y Tecnologa de Superficies y materiales 2009. 18TH International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, 16 agosto-21 de agosto de 2009. 3.-** Yuriy, koudriavtsev, G. Ramrez, S. Gallardo, A. Villegas, R. Asomoza. ** Surface roughness of cesium ion beam sputtered CdS crystal 18TH International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, 16 agosto-21 de agosto de 2009 4.-** Yuriy, koudriavtsev, G. Ramrez, S. Gallardo, A. Villegas, R. Asomoza. ** Sputtering yield of SiXGe1-X solid solution. 18TH International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, 16 agosto-21 de agosto de 2009. 5.-** Yuriy, koudriavtsev, G. Ramrez, S. Gallardo, R. Asomoza. ** Study of isotopic effect for Li implantation in organic crystals. 18TH International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, 16 agosto-21 de agosto de 2009.

6.-** Yuriy, koudriavtsev, G. Ramrez, S. Gallardo, R. Asomoza. ** ** SIMS study of segregation in InAs/GaAs Heteroestructures 1.- 16TH International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, 29 octubre-2 de noviembre 2007. 7.-** Yuriy, koudriavtsev, G. Ramrez, S. Gallardo, R. Asomoza.** SIMS depth profiling analysis of halogens in CdTe/CdS/TSO Solar Cells. 1.- 16TH International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, 29 octubre-2 de noviembre 2007. 8.-** Yuriy, koudriavtsev, G. Ramrez, S. Gallardo, R. Asomoza. ** ** Critical distance of secondary ion formation: experimental SIMS measurement 9.-S. Gallardo, Y. Kudriavtsev, A. Villegas, G. Ramirez and R. Asomoza ** SIMS Study of contaminants at a polymeric heterojunction, XXVII Congreso Nacional de la Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnologa de Superficies y materiales; Oaxaca Mxico 2007. 10.-S. Gallardo, Y. Kudriavtsev, A. Villegas, G. Ramirez and R. Asomoza ** SIMS Determination of segregation length at InAs/GaAs heterojunction. 2.XXVII Congreso Nacional de la Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnologa de Superficies y materiales; Oaxaca Mxico 2007. 11.-S. Gallardo, Y. Kudriavtsev, A. Villegas, G. Ramirez and R. Asomoza Congreso Internacional Characterization of materials characterizacin de materiales NACE). 28 de octubre al primero de noviembre del 2007** Advantages and limitations of 3_D SIMS Analysis. 12.- S. Gallardo, Y. Kudriavtsev, A. Villegas, G. Ramrez, R. Asomoza, E. CruzHernndez, J.S. Rojas-Ramrez, M. Lpez-Lpez. SIMS study of In segregation in InAs/GaAs heterostructures. SIMS XVI International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry. 13.-Yu. Kudriavtsev, S. Gallardo, A. Villegas, G. Ramirez, and R. Asomoza. Critical distance of secondary ion formation: experimental SIMS measurement. SIMS XVI International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry. 14.-O. Kudriavtseva, A. Morales, Y. Kudriavtsev, S. Gallardo, A. Villegas, G. Ramrez, R. Asomoza. SIMS depth profiling analysis of halogenes in CdTe/CdS/TSO Solar cells. SIMS XVI International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry.