Vous êtes sur la page 1sur 96

I E C 60 2 55-2 6

®
Edition 3.0 201 3-05

I N TE RN ATI ON AL

S TAN D ARD

N ORM E

I N TE RN ATI ON ALE

M eas u ri n g re l ays an d protecti on eq u i pm e n t –

P art 2 6: E l ectrom ag n eti c com pati bi l i ty req u i rem en ts

Re l ai s d e m es u re et d i s pos i ti fs d e prote cti on –

P arti e 2 6: Exi g e n ce s d e com pati bi l i té él e ctrom ag n éti q u e


IEC 60255-26:201 3
T H I S P U B L I C AT I O N I S C O P YRI G H T P RO T E C T E D

C o p yri g h t © 2 0 1 3 I E C , G e n e v a , S wi tz e rl a n d

All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form
or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from
either IEC or IEC's member National Committee in the country of the requester.
If you have any questions about IEC copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication,
please contact the address below or your local IEC member National Committee for further information.
Droits de reproduction réservés. Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les
microfilms, sans l'accord écrit de la CEI ou du Comité national de la CEI du pays du demandeur.
Si vous avez des questions sur le copyright de la CEI ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette
publication, utilisez les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de la CEI de votre pays de résidence.
IEC Central Office Tel.: +41 22 91 9 02 1 1
3, rue de Varembé Fax: +41 22 91 9 03 00
CH-1 21 1 Geneva 20 info@iec.ch
Switzerland www.iec.ch

Ab o u t th e I E C

The I nternational Electrotechnical Commission (I EC) is the leading global organization that prepares and publishes
I nternational Standards for all electrical, electronic and related technologies.
Ab o u t I E C p u b l i c a ti o n s

The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC. Please make sure that you have the
latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published.

U s efu l l i n ks:

IEC publications search - www.iec.ch/searchpub Electropedia - www.electropedia.org


The advanced search enables you to find IEC publications The world's leading online dictionary of electronic and
by a variety of criteria (reference number, text, technical electrical terms containing more than 30 000 terms and
committee,…). definitions in English and French, with equivalent terms in
It also gives information on projects, replaced and additional languages. Also known as the International
withdrawn publications. Electrotechnical Vocabulary (IEV) on-line.
IEC Just Published - webstore.iec.ch/justpublished Customer Service Centre - webstore.iec.ch/csc
Stay up to date on all new IEC publications. Just Published If you wish to give us your feedback on this publication
details all new publications released. Available on-line and or need further assistance, please contact the
also once a month by email. Customer Service Centre: csc@iec.ch.

A p ro p o s d e l a C E I

La Commission Electrotechnique I nternationale (CEI ) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des
Normes internationales pour tout ce qui a trait à l'électricité, à l'électronique et aux technologies apparentées.
A p ro p o s d e s p u b l i c a ti o n s C E I

Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu. Veuillez vous assurer que vous possédez
l’édition la plus récente, un corrigendum ou amendement peut avoir été publié.

Li en s u ti l es:

Recherche de publications CEI - www.iec.ch/searchpub Electropedia - www.electropedia.org


La recherche avancée vous permet de trouver des Le premier dictionnaire en ligne au monde de termes
publications CEI en utilisant différents critères (numéro de électroniques et électriques. Il contient plus de 30 000
référence, texte, comité d’études,…). termes et définitions en anglais et en français, ainsi que
Elle donne aussi des informations sur les projets et les les termes équivalents dans les langues additionnelles.
publications remplacées ou retirées. Egalement appelé Vocabulaire Electrotechnique
International (VEI) en ligne.
Just Published CEI - webstore.iec.ch/justpublished
Restez informé sur les nouvelles publications de la CEI. Service Clients - webstore.iec.ch/csc
Just Published détaille les nouvelles publications parues. Si vous désirez nous donner des commentaires sur
Disponible en ligne et aussi une fois par mois par email. cette publication ou si vous avez des questions
contactez-nous: csc@iec.ch.
I E C 60 2 55-2 6
®
Edition 3.0 201 3-05

I N TE RN ATI ON AL

S TAN D ARD

N ORM E

I N TE RN ATI ON ALE

M eas u ri n g rel ays an d protecti on eq u i pm e n t –

P art 2 6: E l ectrom ag n eti c com pati bi l i ty req u i rem en ts

Rel ai s d e m es u re e t d i s pos i ti fs d e prote cti on –

P arti e 2 6: E xi g en ces d e com pati bi l i té él e ctrom ag n éti q u e

INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION

COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
INTERNATIONALE PRICE CODE
CODE PRIX X

ICS 29.1 20.70 ISBN 978-2-83220-81 6-8

Warn i n g ! M ake s u re th at you ob tai n ed th i s pu bl i ca ti on from an au th ori zed d i s tri bu tor.

Atten ti on ! Veu i l l ez vou s ass u rer q u e vou s avez obten u cette pu bl i cati on vi a u n d i stri b u teu r ag ré é.

® Registered trademark of the International Electrotechnical Commission


–2– 60255-26 © I EC: 201 3

CONTENTS

FOREWORD . .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. .. ... ... ... ... ... ... ... ... .. 4
I NTRODUCTI ON .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. .. . ... ... ... ... ... ... ... ... ... 6
1 Scope .. ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... .. 7
1 . 1 General ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... .. . ... ... ... ... 7
1 . 2 Em ission . ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. .. ... ... . 7
1 . 3 I mm unity . ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. .. ... ... . 7
2 Norm ative references . ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . . 8
3 Term s and definitions . ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . . 9
4 Definition of environm ental levels . ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... 1 0
4. 1 General ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... .. . ... ... ... . 1 0
4. 2 Zone A, severe electrical environment . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... .. ... ... ... ... ... ... ... . 1 0
4. 3 Zone B, typical electrical environment . ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. .. 1 0
5 Em ission .. ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... . 1 1
5. 1 Em ission enclosure ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... . 1 1
5. 2 Em ission auxiliary power supply port ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . . ... ... ... ... ... ... ... . 1 1
6 I mm unity .. ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... . 1 3
6. 1 I mm unity enclosure ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... . 1 3
6. 2 I mm unity auxiliary power suppl y port ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . . ... ... ... ... ... ... ... . 1 4
6. 3 I mm unity comm unication port . ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... 1 6
6. 4 I mm unity input and output ports ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... .. ... ... ... ... ... ... 1 8
6. 5 I mm unity functional earth port ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... .. ... ... ... ... ... ... 20
7 Test set-up and procedures .. ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... . . 20
7. 1 Em ission . ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. .. ... .. 20
7. 1 . 1 General . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... 20
7. 1 . 2 Radiated emission . ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... .. 21
7. 1 . 3 Conducted em ission ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. 21
7. 2 I mm unity . ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. .. ... .. 21
7. 2. 1 General . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... 21
7. 2. 2 General test conditions .. ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... 22
7. 2. 3 Electrostatic discharge .. ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... .. ... ... ... ... ... ... 24
7. 2. 4 Radiated interference . ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... 25
7. 2. 5 Electrical fast transient .. ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... .. ... ... ... ... ... ... 27
7. 2. 6 Slow damped oscillatory wave . ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... .. .. 28
7. 2. 7 Surge .. .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... . .. 29
7. 2. 8 Conducted interference . ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... 30
7. 2. 9 Power frequency im munity on d. c. binary inputs ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. 32
7. 2. 1 0 Power frequency m agnetic field . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... .. 33
7. 2. 1 1 Voltage dips and voltage interruptions on power suppl y voltage (a. c.
or d. c. ) . .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . . ... ... 34
7. 2. 1 2 Voltage ripple on d.c. power suppl y voltage .. ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 35
7. 2. 1 3 Gradual shut down / start-up tests ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... . .. ... ... .. 36
8 Criteria for acceptance .. ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... 37
8. 1 Em ission . ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. .. ... .. 37
8. 2 I mm unity . ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. .. ... .. 38
9 Test report ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... .. ... ... ... ... . 39
60255-26 © I EC: 201 3 –3–

Annex A (norm ative) Power frequency imm unity tests on binary inputs ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. 40
Annex B (inform ative) Background inform ation for power frequency tests . ... ... ... ... ... ... ... ... ... 44
Annex C (norm ative) Application of discharges for electrostatic discharge test . ... ... ... ... ... ... . 45
Bibliograph y .. .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... 46

Figure 1 – Ports for measuring relays and protection equipment ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... . 9
Figure 2 – Gradual shut down/start-up test .. ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . .. ... ... ... ... ... ... ... 36
Figure A. 1 – Example of Class A differential m ode tests .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... .. . ... 42
Figure A. 2 – Example of Class B differential m ode tests .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... .. . ... 42
Figure A. 3 – Example of common m ode tests ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... .. . 43

Table 1 – Em ission tests – Enclosure port ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... ... .. 1 1
Table 2 – Em ission tests – Auxiliary power supply port .. ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... .. . ... .. 1 2
Table 3 – I mm unity tests – Enclosure port ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... ... .. 1 3
Table 4 – I mm unity tests – Auxiliary power supply port .. ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... .. . ... .. 1 4
Table 5 – I mm unity tests – Comm unication port ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... ... .. . 1 6
Table 6 – I mm unity tests – I nput and output ports .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... .. . ... ... ... ... ... ... . 1 8
Table 7 – I mm unity tests – Functional earth port .. ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . 20
Table 8 – Radiated em ission test . .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 21
Table 9 – Conducted emission test ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... .. 21
Table 1 0 – Electrostatic discharge imm unity test . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... . .. ... ... ... ... ... ... . 24
Table 1 1 – Radiated interference imm unity test (frequency sweep) .. ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... .. 25
Table 1 2 – Radiated interference immunity test (spot frequencies)... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... . . 26
Table 1 3 – Electrical fast transient im m unity test ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... . .. ... ... ... ... . 27
Table 1 4 – Slow dam ped oscillatory wave imm unity test .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... .. . ... 28
Table 1 5 – Surge imm unity test . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... . 29
Table 1 6 – Conducted interference imm unity test (frequency sweep) . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. 30
Table 1 7 – Conducted interference imm unity test (spot frequencies) .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. 31
Table 1 8 – Power frequency imm unity test ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... 32
Table 1 9 – Power frequency m agnetic field imm unity test ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. 33
Table 20 – Voltage dips and voltage interruptions test ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. .. . ... ... 34
Table 21 – Voltage ripple test . ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... 35
Table 22 – Gradual shutdown and start-up test . ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... .. . 36
Table 23 – Acceptance criteria for imm unity tests .. ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... .. ... .. 38
–4– 60255-26 © I EC: 201 3

INTERNATI ONAL ELECTROTECHNI CAL COMMISSI ON


____________
M E AS U RI N G RE L AYS AN D P RO T E C T I O N E Q U I P M E N T –

P a rt 2 6 : E l e c t ro m a g n e ti c c o m p a ti b i l i t y re q u i re m e n ts

FOREWORD
1 ) The I nternati on al Electrotechni cal Comm ission (I EC) is a worl d wid e organization for stan dardization com prisin g
all n ation al el ectrotechnical comm ittees (I EC National Comm ittees). The object of I EC is to prom ote
internati onal co-operation on all q uestions concerni ng stand ardi zati on in the el ectrical an d electronic fi elds. To
this en d and in additi on to other acti vities, I EC pu blish es I nternational Stan dards, Techn ical Specificati ons,
Technical Reports, Publicl y Avail abl e Specificati ons (PAS) an d Gu ides (h ereafter referred to as “I EC
Publication(s)”). Th ei r preparation is entrusted to tech nical comm ittees; any I EC N ational Comm ittee interested
in the subj ect dealt with m ay partici pate in this preparatory work. I nternational, governm ental an d n on -
governm ental organ izations l iaising with th e I EC also participate i n this preparation. I EC collaborates closel y
with the I ntern ational Organi zation for Stand ardization (I SO) in accordance with con ditions determ ined by
agreem ent between th e two organi zati ons.
2) The form al decisions or ag reem ents of I EC on tech nical m atters express, as n early as possible, an i nternati onal
consensus of opi nion on the rel evant subjects since each technical com m ittee has representati on from all
interested I EC N ational Com m ittees.
3) I EC Publications have the form of recom m endations for intern ational use an d are accepted by I EC National
Com m ittees in that sense. While all reasonable efforts are m ade to ensure that the tech nical content of I EC
Publications is accu rate, I EC cann ot be h eld responsi ble for th e way in which th ey are used or for an y
m isinterpretation by an y en d u ser.
4) I n order to prom ote intern ational u niform ity, I EC National Com m ittees und ertake to apply I EC Publications
transparentl y to the m axim um extent possible i n their national an d regi on al publicati ons. Any d ivergence
between an y I EC Publication and the correspondi ng national or regi on al publicati on sh all be clearl y in dicated in
the latter.
5) I EC provi des n o m arking procedure to i ndicate its approval an d can not be rend ered responsi ble for any
equi pm ent declared to be i n conform ity with an I EC Pu blication.
6) All users shou ld ensure that th ey have the l atest editi on of thi s publicati on.
7) No liability shall attach to I EC or its directors, em ployees, servants or ag ents inclu din g in divi dual experts and
m em bers of its technical com m ittees and I EC Nati on al Com m ittees for any person al i njury, property d am age or
other dam age of any nature whatsoever, wheth er di rect or indirect, or for costs (includ i ng leg al fees) and
expenses arisi ng out of the publ ication, use of, or relian ce upon, this I EC Publicati on or any other I EC
Publications.
8) Attention is drawn to th e N orm ative references cited in th is publ ication. Use of the referenced publ ications is
indispensable for the correct applicati on of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that som e of the elem ents of this I EC Publication m ay be the su bject of
patent rig hts. I EC shall not be held responsibl e for identifyi ng any or all such patent ri ghts.

I nternational Standard I EC 60255-26 has been prepared by I EC technical comm ittee 95:
Measuring relays and protection equipm ent.

This third edition cancels and replaces the second edition published in 2008. This third edition
also cancels and replaces the following standards: I EC 60255-22-1 : 2007,
I EC 60255-22-2:2008; I EC 60255-22-3: 2007, I EC 60255-22-4: 2008, I EC 60255-22-5: 2008,
I EC 60255-22-6:2001 and I EC 60255-22-7: 2003, I EC 60255-1 1 : 2008, I EC 60255-25: 2000 and
I EC 60255-26:2008. This edition constitutes a technical revision.

This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous
edition:
a) definition of test specifications, test procedures and acceptance criteria per phenom ena
and port under test in one docum ent;
b) extension of radiated em ission m easurem ent for frequencies above 1 GH z;
c) limitation of radiated em ission m easurem ent at 3 m distance for small equipm ent only;
d) addition of zone A and zone B test level on surge test;
60255-26 © I EC: 201 3 –5–

e) extension of tests on the auxiliary power suppl y port by a. c. and d. c. voltage dips, a.c.
component in d. c. (ripple) and gradual shut-down / start-up;
f) harmonization of acceptance criteria for immunity tests.
The text of this standard is based on the following documents:
FDI S Report on votin g
95/309/FDI S 95/31 2/RVD

Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.

This publication has been drafted in accordance with the I SO/I EC Directives, Part 2.

A list of all the parts in the I EC 60255 series, published under the general title Measuring
relays and protection equipment, can be found on the I EC website.
The comm ittee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until
the maintenance result date indicated on the I EC web site under "http://webstore. iec.ch" in
the data related to the specific publication. At this date, the publication will be
• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or
• amended.
–6– 60255-26 © I EC: 201 3

INTRODUCTION
This part of the I EC 60255 series specifies all of the requirements for electrom agnetic
com patibility in a single document.

As such, it is considered as an overview docum ent for m easuring relays and protection
equipm ent. The detailed test procedures are given in other referenced standards.

This part of I EC 60255 does not include the reversal of d. c. power suppl y polarity test which
had been provided in I EC 60255-1 1 , because this is a safety test. This test will be covered by
future I EC 60255-27.
60255-26 © I EC: 201 3 –7–

M E AS U RI N G RE L AYS AN D P RO T E C T I O N E Q U I P M E N T –

P a rt 2 6 : E l e c t ro m a g n e ti c c o m p a ti b i l i t y re q u i re m e n ts

1 S cop e

1 .1 G e n e ra l

This part of the I EC 60255 series is applicable to m easuring relays and protection equipm ent,
taking into account combinations of devices to form schem es for power system protection
including the control, monitoring, comm unication and process interface equipment used with
those systems.

This standard specifies the requirements for electrom agnetic compatibility for m easuring
relays and protection equipm ent.

Tests specified in this standard are not required for equipm ent not incorporating electronic
circuits, for exam ple electromechanical relays.

The requirem ents specified in this standard are applicable to measuring relays and protection
equipm ent in a new condition and all tests specified are type tests onl y.

1 .2 Em i ssi on

The object of this standard is to specify limits and test methods, for m easuring relays and
protection equipment in relation to electrom agnetic emissions which may cause interference
in other equipm ent.

These emission limits represent electromagnetic compatibility requirem ents and have been
selected to ensure that the disturbances generated by m easuring relays and protection
equipm ent, operated norm all y in substations and power plants, do not exceed a specified
level which could prevent other equipm ent from operating as intended.

Test requirem ents are specified for the enclosure and auxiliary power suppl y ports.

1 .3 I m m u n i ty

This standard is to specify the imm unity test requirements for measuring relays and protection
equipment in relation to continuous and transient, conducted and radiated disturbances,
including electrostatic discharges.

These test requirem ents represent the electromagnetic com patibility imm unity requirements
and have been selected so as to ensure an adequate level of imm unity for m easuring relays
and protection equipm ent, operated norm all y in substations and power plants.
NOTE 1 Safety considerati on s are not covered in this stan d ard.
NOTE 2 I n special cases, situ ations will arise where the levels of distu rbance could exceed the l evels specifi ed in
this standard, for exam ple where a h an d-hel d transm itter or a m obil e tel ephone is used in close proxim ity to
m easuring relays an d protection equi pm ent. I n these instances, special precauti ons an d procedures could h ave to
be em ployed.
–8– 60255-26 © I EC: 201 3

2 N orm ati ve referen ces

The following docum ents, in whole or in part, are normativel y referenced in this document and
are indispensable for its application. For dated references, onl y the edition cited applies. For
undated references, the latest edition of the referenced docum ent (including an y
amendments) applies.

I EC 60255-1 : 2009, Measuring relays and protection equipment – Part 1: Common


requirements
Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-2: Testing and
I EC 61 000-4-2: 2008,
measurement techniques – Electrostatic discharge immunity test
Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-3: Testing and
IEC 61 000-4-3: 2006,
measurement techniques – Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test
Amendment 1 : 2007
Amendm ent 2: 201 0

Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-4: Testing and


IEC 61 000-4-4: 201 2,
measurement techniques – Electrical fast transient/burst immunity test
IEC 61 000-4-5: 2005, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-5: Testing and
measurement techniques – Surge immunity test
Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-6: Testing and
I EC 61 000-4-6: 2008,
measurement techniques – Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency
fields
Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-8: Testing and
I EC 61 000-4-8: 2009,
measurement techniques – Power frequency magnetic field immunity test
IEC 61 000-4-1 1 :2004, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-11: Testing and
measurement techniques – Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity
tests
IEC 61 000-4-1 6:1 998,Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-16: Testing and
measurement techniques – Test for immunity to conducted, common mode disturbances in
the frequency range 0 Hz to 150 kHz
Am endment 2: 2009

IEC 61 000-4-1 7: 1 999, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-17: Testing and
measurement techniques – Ripple on d.c. input power port immunity test
Am endm ent 1 : 2001
Am endment 2: 2008

IEC 61 000-4-1 8: 2006, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-18: Testing and
measurement techniques – Damped oscillatory wave immunity test
Am endm ent 1 : 201 0

I EC 61 000-4-29:2000, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-29: Testing and


measurement techniques – Voltage dips, short interruptions and voltage variations on d.c.
input power port immunity tests
CI SPR 1 1 : 2009, Industrial, scientific and medical equipment – Radio-frequency disturbance
characteristics – Limits and methods of measurement
Am endment 1 : 201 0
60255-26 © I EC: 201 3 –9–

CI SPR 22: 2008, Information technology equipment – Radio disturbance characteristics –


Limits and methods of measurement

3 Terms and definitions


For the purposes of this docum ent, the following terms and definitions apply.

3.1
EUT
Equipment Under Test
equipm ent which m ay be either a m easuring relay or protection equipment

3.2
small equipment
equipm ent, either positioned on a table top or standing on the floor which, including its cables
fits in a cylindrical test volume of 1 , 2 m in diameter and 1 , 5 m above the ground plane.

3.3
port
particular interface of the specified EUT with the extern al electromagnetic environment
SEE: Figure 1

Enclosure port
Auxiliary power supply port Functional earth port

Output port
EUT
Input port Communication port

IEC 1203/13

Figure 1 – Ports for measuring relays and protection equipment

3.4
auxiliary power supply port
a.c. or d. c. auxiliary energizing input of the EUT

3.5
communication port
interface with a comm unication and/or control system perm anentl y connected to the EUT

3.6
enclosu re port
ph ysical boundary of the EUT through which electromagnetic fields may radiate or impinge

3.7
functional earth port
port on the EUT which is connected to earth for purposes other than electrical safety

3.8
input port
port through which th e EUT is energized or controlled in order to perform its function(s)
EXAMPLE Current an d voltag e transform er, bin ary in put, etc.
– 10 – 60255-26 © I EC: 201 3

3.9
output port
port through which the EUT produces predetermined changes

EXAMPLE Contacts, optocou plers, anal og ue output, etc.

3.1 0
coupling/decoupling network
CDN
electrical circuit for the purpose of transferring energy from one circuit to another/
electrical circuit for the purpose of preventing test voltages applied to the EUT from affecting
other devices, equipm ent, or systems which are not under test

3.1 1
common mode
CM
mode between each active conductor and a specified reference, usually earth or ground
reference plane

3.1 2
differential mode
DM
mode between an y two of a specified set of active conductors

4 Definition of environmental levels


4.1 General
The environm ental levels shall be selected in accordance with the m ost realistic installation
and environm ental conditions in which the EUT is expected to operate.

Based on comm on installation practices, the recomm ended selection of test levels is the
following:

4.2 Zone A, severe electrical environment


The installation is characterized by the following attributes:
• no suppression of electrical fast transients/bursts in the power suppl y and control and
power circuits which are switched by relays and contactors;
• no separation of the industrial circuits from other circuits associated with environments of
higher severity levels;
• no separation between power suppl y, control, signal and comm unication cables;
• use of common m ulti-core cables for control and signal lines.
The outdoor area of industrial process equipment, where no specific installation practice has
been adopted, of power stations, open-air H V substation switch yards and gas insulated
switchgear may be representative of this environm ent.

4.3 Zone B, typical electrical environment


The installation is characterized by the following attributes:
• no suppression of electrical fast transients/bursts in the power suppl y and control circuits
which are switched by relays (no contactors);
• poor separation of the industrial circuits from other circuits associated with environm ents
of higher severity levels;
60255-26 © I EC: 201 3 – 11 –

• dedicated cables for power supply, control, signal and communication lines;
• poor separation between power suppl y, control, signal and communication cables;
• availability of earthing system represented by conductive pipes, ground conductors in the
cable trays (connected to the protective earth system ) and by a ground m esh.
The area of industrial process equipment, the power plants and the relay room of open-air H V
substations may be representative of this environm ent.

5 Em i ssi on

5. 1 Em i ssi on e n c l o s u re

Tabl e 1 – Em i ssi on t e s t s – E n c l o s u re p o rt

E n v i ro n m e n t a l Basi c Te s t
I te m F re q u e n c y r a n g e L i m i ts
ph en om en a s t a n d a rd p ro c e d u re

40 dB( µ V/m ) quasi peak


at 1 0 m
30 MH z to 230 MH z
50 dB( µ V/m ) quasi peak
at 3 m
1 .1 Ra d i a t e d em i ssi on
ab CI SPR 1 1 See 7. 1 . 2
(bel ow 1 G H z)
47 dB( µ V/m ) quasi peak
at 1 0 m
230 MH z to 1 000 M Hz
57 dB( µ V/m ) quasi peak
at 3 m
56 dB( µ V/m ) average
1 GH z to 3 GHz 76 dB( µ V/m ) peak
at 3 m
1 .2 Ra d i a te d em i ssi on
CI SPR 22 See 7. 1 . 2
(above 1 G H z)
60 dB( µ V/m ) average
3 GH z to 6 GHz 80 dB( µ V/m ) peak
at 3 m
a Measuri ng rel ays and protecti on eq uipm ent are apparatus which satisfy th e class A lim its. Lim its can be
m easured at a nom inal distance of 3 m, 1 0 m or 30 m . A m easurin g distance less than 1 0 m is allowed only for
equi pm ent wh ich com plies with the d efiniti on gi ven in 3. 2. I n case of m easurem ents at a separati on distance of
30 m an in verse proporti on ality factor of 20 dB per d ecad e shall be used to n orm alize th e m easured data to
the specified distance for d eterm ining com pliance.
b The l im its specified for the 3 m separati on distance appl y only to sm all equi pm ent m eetin g th e size criterion
defin ed in 3. 2.

Conditional testing procedure


• The highest internal source of an EUT is defined as the highest frequency generated or
used within the EUT or on which the EUT operates or tunes.
• I f the highest frequency of the internal sources of the EUT is less than 1 08 M H z, the
m easurement shall onl y be made up to 1 GH z.
• I f the highest frequency of the internal sources of the EUT is between 1 08 MH z and
500 MH z, the measurement shall only be m ade up to 2 GH z.
• I f the highest frequency of the internal sources of the EUT is between 500 MH z and
1 GH z, the m easurem ent shall only be m ade up to 5 GH z.
• I f the highest frequency of the internal sources of the EUT is above 1 GH z, the
m easurement shall be m ade up to 5 tim es the highest frequency or 6 GH z, whichever is
less.
5. 2 Em i ss i on a u x i l i a ry p o w e r s u p p l y p o rt

See Table 2.
– 12 – 60255-26 © I EC: 201 3

Tabl e 2 – E m i ss i on t e s t s – Au x i l i a ry p o w e r s u p p l y p o rt

E n v i ro n m e n t a l Basi c Te s t
I te m F re q u e n c y r a n g e L i m i ts
ph en om en a s t a n d a rd p ro c e d u re

2. 1 C o n d u c te d 79 dB( µ V) quasi peak


em i ssi on 0, 1 5 MH z to 0, 50 MH z
66 dB( µ V) average
CI SPR 22 See 7. 1 . 3
73 dB( µ V) quasi peak
0, 5 M H z to 30 M Hz
60 dB( µ V) average
60255-26 © I EC: 201 3 – 13 –

6 I m m u n i ty

6. 1 I m m u n i t y e n c l o s u re

T a b l e 3 – I m m u n i t y t e s t s – E n c l o s u re p o rt

Basi c Te s t Ac c e p t a n c e
E n v i ro n m e n t a l Te s t
I te m U n i ts s t a n d a rd p ro c e d u re c ri t e ri a
ph en om en a s p e c i fi c a t i o n
(s e e 8. 2 )

3. 1 Ra d i a t e d

ra d i o fre q u e n c y

e l e c t ro m a g n e t i c

fi e l d

Frequency sweep
Test frequ ency 80 to 1 000 MH z
ran ge
1 400 to 2 700 MH z
Test field strength 1 0 V/m (r. m . s. )
(prior to
m odulation )
Am plitude 80 % AM (1 kH z)
m odulated
Sweep rate ≤1 % (of precedi ng
freq uency valu e)
Spot frequencies I EC
61 000-4-3 7. 2. 4 A
Test spot 80 ± 0, 5 % MH z
freq uenci es
1 60 ± 0, 5 % MH z
380 ± 0, 5 % MH z
450 ± 0, 5 % MH z
900 ± 5 MH z
1 850 ± 5 MH z
2 1 50 ± 5 MH z
Test field strength 1 0 V/m (r. m . s. )
(prior to
m odulation )
Am plitude 80 % AM (1 kH z)
m odulated
Duty cycle 1 00 %
3. 2 E l e c t ro s t a t i c

d i s c h a rg e

I EC See 7. 2. 3 B
Contact 2 4 6 kV (charg e voltag e) 61 000-4-2
Air 2 4 8 kV (charg e voltag e)
3. 3 P o w e r fre q u e n c y

m a g n e t i c fi e l d

I EC See 7. 2. 1 0
Conti nu ous 30 A/m 61 000-4-8 A
1 s to 3 s 300 A/m B
– 14 – 60255-26 © I EC: 201 3

6. 2 I m m u n i t y a u x i l i a ry p o w e r s u p p l y p o rt

T a b l e 4 – I m m u n i t y t e s t s – Au x i l i a ry p o w e r s u p p l y p o rt

I te m E n v i ro n m e n t a l Te s t U n i ts Basi c Te s t Ac c e p t a n c e

ph en om en a s p e c i fi c a t i o n s t a n d a rd p ro c e d u re c ri t e ri a

(s e e 8. 2 )

4. 1 C o n d u c te d

d i s t u rb a n c e i n d u c e d

b y ra d i o - fr e q u e n c y

fi e l d s

Frequency sweep
Test frequ ency 0, 1 5 to 80 MH z
ran ge
Test level (pri or to 10 V (r. m . s. )
m odulation )
Source im ped ance 1 50 Ω
Am plitude 80 % AM (1 kH z)
m odulated
I EC See 7. 2. 8 A
Sweep rate ≤1 % (of precedi ng 61 000-4-6
freq uency valu e)
Spot frequencies
Test spot 27 ± 0, 5 % MH z
frequenci es
68 ± 0, 5 % MH z
Test level (pri or to 10 V (r. m . s. )
m odulation )
Source im ped ance 1 50 Ω
Am plitude 80 % AM (1 kH z)
m odulated
Duty cycle 1 00 %
4. 2 F a s t tra n s i e n ts

Rise tim e tr / 5 / 50 ns
duration tim e td
Test level I EC See 7. 2. 5 B
61 000-4-4
Zone A 4 kV peak voltage
Zone B 2 kV peak voltage
Repetition frequency 5 kHz
4. 3 S l ow d am ped

o s ci l l a to ry wa ve

Voltage oscillation 1 MH z
freq uency
Test level
Differenti al m ode 1 kV peak voltage I EC See 7. 2. 6 B
61 000-4-1 8
Com m on m ode 2, 5 kV peak voltage
Voltage rise tim e 75 ns
Repetition frequency 400 Hz
Output im ped ance 200 Ω
60255-26 © I EC: 201 3 – 15 –

I te m E n v i ro n m e n t a l Te s t U n i ts Basi c Te s t Ac c e p t a n c e

ph en om en a s p e c i fi c a t i o n s t a n d a rd p ro c e d u re c ri t e ri a

(s e e 8. 2 )

4. 4 S u rg e

Front tim e / 1 , 2 / 50 (8 / 20) µ s voltage (current)


tim e to half val ue
Source im ped ance 2 Ω
Test level
Line-to-lin e
Zone A 0, 5 1 2 kV
Zone B 0, 5 1 kV I EC See 7. 2. 7 B
61 000-4-5
Cou plin g resistor 0 Ω
Cou plin g capacitor 18 µF
Line-to-earth
Zone A 0, 5 1 2 4 kV
Zone B 0, 5 1 2 kV
Cou plin g resistor 10 Ω
Cou plin g capacitor 9 µF
4. 5 A. C . an d d . c. vo l ta g e

d i ps

Test level 0 % resid ual voltage


I EC
Duration tim e 61 000-4-1 1
See 7. 2. 1 1 A
a. c. 0, 5 to 25 a cycles I EC
b 61 000-4-29
d. c. 1 0 to 1 000 ms
Test level 40 % resid ual voltage
I EC
Duration tim e 61 000-4-1 1
d
See 7. 2. 1 1 C
a. c. 1 0/1 2 cycles I EC
61 000-4-29
d. c. 200 ms
Test level 70 % resid ual voltage
I EC
Duration tim e 61 000-4-1 1
d
See 7. 2. 1 1 C
a. c. 25/30 cycles I EC
61 000-4-29
d. c. 500 ms
4. 6 A. C . an d d . c. vo l ta g e

i n t e rru p t i o n s

Test level 0 % residual voltag e


I EC
Duration tim e 61 000-4-1 1
See 7. 2. 1 1 C
a. c. 250/300 cycles I EC
61 000-4-29
d. c. 5 s
4. 7 A. C . com pon en t i n

d . c. ( ri p p l e )

Test level 1 5 % of rated V


d. c. valu e I EC
c 61 000-4-1 7 See 7. 2. 1 2 A
Test frequ ency 1 00/1 20 Hz, sin usoidal
waveform .
– 16 – 60255-26 © I EC: 201 3

I te m E n v i ro n m e n t a l Te s t U n i ts Basi c Te s t Ac c e p t a n c e

ph en om en a s p e c i fi c a t i o n s t a n d a rd p ro c e d u re c ri t e ri a

(s e e 8. 2 )

4. 8 G ra d u a l s h u t-

d o w n / s t a rt - u p ( fo r

d . c. p o w e r s u p p l y)

Shut-d own ram p 60 s


Power off 5 m in --- See 7. 2. 1 3 C
Start-u p ram p 60 s
a Manufactu rer shall declare th e duration am ong th e followin g values: 0, 5 cycle, 1 cycle, 2, 5 cycles, 5 cycles,
1 0 cycles or 25 cycles.
b Manufactu rer shall declare th e duration am ong th e followin g values: 1 0 m s, 20 m s, 30 m s, 50 m s, 1 00 m s,
200 m s, 300 m s, 500 ms or 1 000 m s.
c Test shall be don e at a freq uen cy of twice the specified power system frequency(s).
d
“1 0/1 2 cycles” m eans “1 0 cycles for 50 Hz test” an d “1 2 cycl es for 60 Hz test”.

6. 3 I m m u n i t y c o m m u n i c a t i o n p o rt

T ab l e 5 – I m m u n i ty tes ts – C o m m u n i cati on p o rt

I te m E n v i ro n m e n t a l Te s t U n i ts Basi c Te s t Ac c e p t a n c e

ph en om en a s p e c i fi c a t i o n s t a n d a rd p ro c e d u re c ri t e ri a

(s e e 8. 2 )

5. 1 C o n d u c te d

d i s t u rb a n c e i n d u c e d

b y ra d i o - fr e q u e n c y

fi e l d s

Frequency sweep
Test frequ ency rang e 0, 1 5 to 80 MH z
Test level (pri or to 10 V (r. m . s. )
m odulation )
Source im ped ance 1 50 Ω
Am plitude 80 % AM (1 kH z)
m odulated
I EC See 7. 2. 8 A
Sweep rate ≤1 % (of precedi ng 61 000-4-6
freq uency valu e)
Spot frequencies
Test spot freq uencies 27 ± 0, 5 % MH z
68 ± 0, 5 % MH z
Test level (pri or to 10 V (r. m . s. )
m odulation )
Source im ped ance 1 50 Ω
Am plitude 80 % AM (1 kH z)
m odulated
Duty cycle 1 00 %
5. 2 F a s t tra n s i e n ts

Rise tim e tr / 5 / 50 ns
Duration tim e td
Test level I EC See 7. 2. 5 B
61 000-4-4
Zone A 2 kV peak voltage
Zone B 1 kV peak voltage
Repetition frequency 5 kHz
60255-26 © I EC: 201 3 – 17 –

I te m E n v i ro n m e n t a l Te s t U n i ts Basi c Te s t Ac c e p t a n c e

ph en om en a s p e c i fi c a t i o n s t a n d a rd p ro c e d u re c ri t e ri a

(s e e 8. 2 )

5. 3 S l ow d am ped

osci l l atory wave

Voltage oscillation 1 MH z
frequency
Test level
I EC See 7. 2. 6 B
Differenti al m ode 0 kV peak vol tage 61 000-4-1 8
Com m on m ode 1 kV peak voltage
Voltage rise tim e 75 ns
Repetition frequency 400 Hz
Output im pedance 200 Ω
5. 4 S u rg e

Front tim e / 1 , 2 / 50 (8 / µs voltage


tim e to half val ue 20) (current)
Source im ped ance 2 Ω
Test level
I EC See 7. 2. 7 B
Line-to-earth 61 000-4-5
Zone A 0, 5 1 2 4 kV
Zone B 0, 5 1 2 kV
Cou plin g resistor a 0 Ω
Cou plin g capacitor a 0 µF
a These cou plin g valu es are for screen ed com m unication ports. For u nscreened com m unication ports use
coupl i ng val ues gi ven in Table 6, item 6. 4.
– 18 – 60255-26 © I EC: 201 3

6. 4 I m m u n i t y i n p u t a n d o u t p u t p o rt s

Tabl e 6 – I m m u n i ty tests – I n p u t an d o u t p u t p o rt s

I te m E n v i ro n m e n t a l Te s t U n i ts Basi c Te s t Ac c e p t a n c e

ph en om en a s p e c i fi c a t i o n s t a n d a rd p ro c e d u re c ri t e ri a

(s e e 8. 2 )

6. 1 C o n d u c te d

d i s t u rb a n c e i n d u c e d

b y ra d i o - fr e q u e n c y

fi e l d s

Frequency sweep
Test frequ ency rang e 0, 1 5 to 80 MH z
Test level (pri or to 10 V (r. m . s. )
m odulation )
Source im ped ance 1 50 Ω
Am plitude 80 % AM (1 kH z)
m odulated
I EC See 7. 2. 8 A
Sweep rate ≤1 % (of precedi ng 61 000-4-6
freq uency valu e)
Spot frequencies
Test spot freq uencies 27 ± 0, 5 % MH z
68 ± 0, 5 % MH z
Test level (pri or to 10 V (r. m . s. )
m odulation )
Source im ped ance 1 50 Ω
Am plitude 80 % AM (1 kH z)
m odulated
Duty cycle 1 00 %
6. 2 F a s t tra n s i e n ts

Rise tim e tr / 5 / 50 ns
duration tim e td
Test level I EC See 7. 2. 5 B
61 000-4-4
Zone A 4 kV peak voltage
Zone B 2 kV peak voltage
Repetition frequency 5 kHz
6. 3 S l ow d am ped

osci l l atory wave

Voltage oscillation 1 MH z
frequency
Test level
c I EC See 7. 2. 6 B
Differenti al m ode 1 kV peak voltage 61 000-4-1 8
Com m on m ode 2, 5 kV peak vol tage
Voltage rise tim e 75 ns
Repetition frequency 400 Hz
Output im ped ance 200 Ω
60255-26 © I EC: 201 3 – 19 –

I te m E n v i ro n m e n t a l Te s t U n i ts Basi c Te s t Ac c e p t a n c e

ph en om en a s p e c i fi c a t i o n s t a n d a rd p ro c e d u re c ri t e ri a

(s e e 8. 2 )

6. 4 S u rg e

Front tim e / 1 , 2/50 (8/20) µs voltage (current)


tim e to half val ue
Source im ped ance 2 Ω
Test level
Line-to-lin e
Zone A 0, 5 1 2 kV
Zone B 0, 5 1 kV I EC See 7. 2. 7 B
61 000-4-5
Cou plin g resistor 40 Ω
Cou plin g capacitor 0, 5 µF
Line-to-earth
Zone A 0, 5 1 2 4 kV
Zone B 0, 5 1 2 kV
Cou plin g resistor b 40 Ω
Cou plin g capacitor b 0, 5 µF
6. 5 P o w e r fre q u e n c y
a

Zone A
Test voltage 1 50 V r. m . s.
differential m ode
Cou plin g resistor 1 00 Ω
Cou plin g capacitor 0, 1 µF
Test voltage 300 V r. m . s.
comm on m ode
Cou plin g resistor 220 Ω
Cou plin g capacitor 0, 47 µF I EC See 7. 2. 9 A
61 000-4-1 6
Zone B
Test voltage 1 00 V r. m . s.
differential m ode
Cou plin g resistor 1 00 Ω
Cou plin g capacitor 0, 047 µF
Test voltage 300 V r. m . s.
comm on m ode
Cou plin g resistor 220 Ω
Cou plin g capacitor 0, 47 µF
a The power frequ ency test is on ly appl icable to bin ary in put ports.
b For screened in put/output, e. g. transd ucer i nput/output use coupli ng as per Table 5, item 5. 4.
c I n m ore severe environm ents a differenti al test voltage of 2, 5 kV m ay be requi red for cu rrent and voltage
transform er inputs.
– 20 – 60255-26 © I EC: 201 3

6. 5 I m m u n i t y fu n c t i o n a l e a rt h p o rt

T ab l e 7 – I m m u n i ty te s t s – F u n cti o n a l e a rt h p o rt

I te m E n v i ro n m e n t a l Te s t U n i ts Basi c Te s t Ac c e p t a n c e

ph en om en a s p e c i fi c a t i o n s t a n d a rd p ro c e d u re c ri t e ri a

(s e e 8. 2 )

7. 1 C o n d u c te d

d i s t u rb a n c e i n d u c e d

b y ra d i o - fr e q u e n c y

fi e l d s

Frequency sweep
Test frequ ency rang e 0, 1 5 to 80 MH z
Test level (pri or to 10 V (r. m . s. )
m odulation )
Source im ped ance 1 50 Ω
Am plitude 80 % AM (1 kH z)
m odulated
I EC See 7. 2. 8 A
Sweep rate ≤1 % (of freq uency) 61 000-4-6
Spot frequencies
Test spot freq uencies 27 ± 0, 5 % MH z
68 ± 0, 5 % MH z
Test level (pri or to 10 V (r. m . s. )
m odulation )
Source im ped ance 1 50 Ω
Am plitude 80 % AM (1 kH z)
m odulated
Duty cycle 1 00 %
7. 2 F a s t tra n s i e n ts

Rise tim e tr / 5 / 50 ns
duration tim e td
Test level I EC See 7. 2. 5 B
61 000-4-4
Zone A 4 kV peak voltage
Zone B 2 kV peak voltage
Repetition frequency 5 kHz

7 T e s t s e t -u p a n d p ro c e d u re s

7. 1 Em i ssi on

7. 1 . 1 G e n e ra l

The tests shall be carried out with the equipm ent under reference conditions as stated in
I EC 60255-1 , CI SPR 1 1 and CI SPR 22.

The tests shall be carried out with the rated values of auxiliary energizing and input
energizing quantities applied to the appropriate circuits of the EUT. The applied values shall
be representative of norm al in-service quiescent conditions and the EUT shall neither be in a
transient operational state nor in an operated state. Half of the binary inputs and half of the
output relays shall be energized. Communication modules, if an y, shall be activated.

For relays with a wide operating power suppl y range or rating, the radiated emissions shall be
performed on the lowest and the highest nom inal voltage of the relay power suppl y.
60255-26 © I EC: 201 3 – 21 –

The conducted emission shall be performed on all nominal voltages of the relay power suppl y.

For m ost of their operational life, m easuring relays and protection equipment are in a
quiescent state, and the instances when they may be operating or operated are extrem el y
short; in these instances, the emissions from the EUT are not considered to be of
significance.

7. 1 . 2 Ra d i a te d em i s s i on

See Table 8.

T a b l e 8 – Ra d i a t e d em i s s i o n te st

Te s t s e t-u p T e s t p ro c e d u re

I n accord ance with CI SPR 1 1 for radi ated em ission


Test configu rati on below 1 GHz and i n accordance with CI SPR 22 for
rad iated em ission above 1 GH z
Distance and m ethod See Table 1
Detail s of m ounti ng I nstal led accordi ng to m anufacturer’s specification
Freq uency ran ge See Table 1
Acceptance criteria Class A limits See Table 1

7. 1 . 3 C on d u cted emi ssion

See Table 9.

T ab l e 9 – C o n d u cted emi ssion test

Te s t s e t-u p T e s t p ro c e d u re

Test configu rati on I n accord ance with CI SPR 22


Applicable ports A. C. and d. c. au xil iary power suppl y port
Detail s of m ounti ng I nstal led accordi ng to m anufacturer’s specification
Freq uency ran ge See Table 2
Acceptance criteria Class A limits See Table 2

7. 2 I m m u n i ty

7. 2. 1 G e n e ra l

The general test set-up, i. e. the test generator, coupling and decoupling devices for each
immunity test is specified in the appropriate basic standard for each test.

7. 2. 2 details the general conditions that shall be com plied with when carrying out imm unity
testing to measuring relays and protection equipment.

7. 2. 3 to 7. 2. 1 3 detail the test procedures and specific applications of the imm unity tests that
shall be applied to m easuring relays and protection equipment.
– 22 – 60255-26 © I EC: 201 3

7.2.2 General test conditions


7.2.2.1 Test reference condition
The test reference conditions shall be as stated in I EC 60255-1 unless the relevant basic
standard of the I EC 61 000-4 series referred to in this standard, states test reference
conditions that have stricter tolerances.

Where there are m any input or output ports of identical circuits on a board or m odule, such as
binary inputs or output contacts and there are m an y such boards in the EUT and the test is
applied directl y to the circuits, then it shall be sufficient to test onl y three such circuits on
each of the board or m odule in each slot in order to claim compliance with that particular test.
This onl y applies to imm unity tests that are applied to ports of the EUT rather than the
enclosure as a whole.

7.2.2.2 Configuration
The EUT shall be configured and set-up in accordance with the manufacturer’s
recomm endations in such a way that it is representative of the way that the EUT will be used
in normal service.

Input and output ports shall be connected and energized as appropriate in line with normal
service conditions and installation practice.

The EUT comm unication port(s) shall be connected and configured in accordance with the
manufacturer’s recommendations.
NOTE Som e guidance on testing is gi ven in Ann ex A of I EC 60255-1 : 2009.

7.2.2.3 Cable specification


The cable type used for each input and output port shall be as recomm ended by the
manufacturer. Where there is a restriction on the m aximum cable length used on an input or
output port this shall be stated by the manufacturer. The maximum cable length used shall be
as recomm ended for each test according to the basic standard.

7.2.2.4 Support and monitoring equipment


Auxiliary support and m onitoring equipm ent shall be connected to the EUT to provide signals
to exercise all the functions of the EUT and to monitor the EUT during the application of the
test. The support and monitoring equipment shall be chosen so that it does not have an y
adverse influence on the test and is not affected by the interference applied during the
imm unity tests. Where the application of the test does affect the auxiliary support and
monitoring equipment suitable filtering and de-coupling networks shall be used that do not
affect the applied test. The values and exam ples of filtering and de-coupling networks are
contained within the basic standards.

7.2.2.5 Settings
Protection settings and functional settings shall be applied to the EUT with reference to
I EC 60255-1 . The delay settings shall be set to their m inim um values. The imm unity tests
shall be carried out with the EUT in the quiescent state and where indicated in the test
procedure in the operated state also. For current transformer inputs the most sensitive rating
shall be used.

7.2.2.6 Functional tests


Functional tests to verify the correct operation of the EUT within its accuracy rating shall be
carried out before and after the application of the im munity tests. Some individual tests shall
also require functional tests to be carried out during the application of the imm unity test.
60255-26 © I EC: 201 3 – 23 –

Whenever this is required it will be stated in the test procedure for the appropriate test. I n
case of m ultifunctional relays the m anufacturer should at least dedicate one protection
function, normall y the main function, for checking the ad equate operation during EMC
imm unity tests.

7. 2. 2. 7 Test g en erator veri fi cati on

The output of the test generator shall be verified as stated in the basic standard.
– 24 – 60255-26 © I EC: 201 3

7.2.3 Electrostatic discharge


See Table 1 0.

Table 1 0 – Electrostatic discharge immu nity test


Test set-up Test procedure
EUT config urati on See 7. 2. 2. 2
I nitial m easurem ent The tests shall be carried out i n accord ance to 7. 2. 2

Detail s of m ounti ng/support The EUT is pl aced in its case or housing i n as close to
installed cond itions as possible
Tests shall be applied as follows:
− the contact discharge method is the preferred method;
Discharge m ethod − the air discharge method shall only be used when the
accessible surfaces of the EUT are non-conducting;
− the direct and indirect application test method shall be
used.
Application of the discharges See Ann ex C
Test voltage See Table 3, item 3. 2
The EUT will h ave norm al perform ance with in th e
specification lim its when en erg ized an d subj ected to th e
electrostatic disch arges.
The tests shall be carried out with au xi liary energi zi ng
quantities appli ed to th e appropri ate circuits, using i nput
energi zi ng q uantiti es eq ual to rated val ues. The val ues
of input energ izi ng q uantities shall be within twice the
assigned error below of the transitional state, see
I EC 60255-1 : 2009, Annex A. Since the coi ncidence of
electrostatic disch arges an d a prim ary fault is
considered to be unlikel y, th e effect of the el ectrostatic
discharges on the EUT i n its transition al or operate
condition is not consi dered.
The points selected for the application of th e test shall
be those which are accessible to the operator un der
norm al service conditions, incl udin g comm unication
ports and th ose poi nts for setti ng adjustm ents that can
onl y be accessed by rem ovi ng the relay cover. Setting
adjustm ents which n ecessitate any action other than
rem oval of the cover, such as rem oval of a m odul e, are
not inclu ded.
Measurem ent and verification during th e test
The applicati on of discharge to any poi nt of the
equi pm ent which is accessible onl y for repai r an d
m aintenance pu rposes is outside the scope of this
standard. I n th e selection of test points, attention shall
be gi ven to the followin g:
- knobs, push-buttons, switch es, comm unication
interface, etc. , accessible un der norm al service;
- poi nts on covers of insulati ng m aterial wh ere
conductin g parts are close to the insid e of th e cover;
- poi nts on con ductin g parts not belongin g to, but
placed i n the vicinity of, th e EU T, when this has an
insulati ng cover.
To achieve reproduci ble results, it is recomm ended that
the selected test points are specified by th e
m anufacturer (see Ann ex C).

Testing shal l be satisfied at all levels gi ven i n Table 3,


item 3. 2.
Acceptance criteria See Table 3, item 3. 2.
60255-26 © I EC: 201 3 – 25 –

7. 2. 4 Rad i ated i n terferen ce

7. 2. 4. 1 Freq u en cy sweep

See Table 1 1 .

Tabl e 1 1 – Rad i ated i n terferen ce i m m u n i ty test (freq u en cy sweep)

Test set-u p Test proced u re


EUT config urati on See 7. 2. 2. 2.
I nitial m easurem ent The tests shall be carried out i n accord ance to 7. 2. 2.
Details of m ounti ng/support The EUT is pl aced in the cali brated test fiel d.
Freq uency ran ge to be swept See Table 3, item 3. 1 .
Modul ation See Table 3, item 3. 1 .
The d well tim e at each freq uen cy shall be 0, 5 s. I n
Dwell tim e those cases wh ere the EUT operate tim e is greater than
0, 5 s, the d well tim e shall be in creased until operati on
of the EUT is possibl e.
Test field strength See Table 3, item 3. 1
The EUT will h ave norm al perform ance with in th e
specification lim its when en erg ized an d subj ected to th e
electrom ag netic field.
The tests shall be carried out with au xi liary energi zi ng
quantities appli ed to th e appropri ate circuits, using i nput
Measurem ent and verification during th e test energi zi ng q uantiti es eq ual to rated val ues. The effect
of this disturbance on th e relay in its transitional or
operate state is not considered . The valu es of the in put
energi zi ng q uantiti es shall be within twice the assigned
error of the transitional state, see I EC 60255-1 : 2009,
Annex A.
Acceptance criteria See Table 3, item 3. 1 .
– 26 – 60255-26 © I EC: 201 3

7. 2. 4. 2 Spot freq u en ci es

See Table 1 2.

Tabl e 1 2 – Rad i ated i n terferen ce i m m u n i ty test (spot freq u en ci es)

Test set-u p Test proced u re


EUT config urati on See 7. 2. 2. 2.
I nitial m easurem ent The tests shall be carried out i n accord ance to 7. 2. 2.
Detail s of m ounti ng/support The EUT is pl aced in the cali brated test fiel d.
Spot frequencies See Table 3, item 3. 1 .
Modul ation See Table 3, item 3. 1 .
Duty cycle See Table 3, item 3. 1 .
Test duration ≥ 10 s
The d well tim e at each spot frequency shal l be sufficient
Dwell tim e for the EU T to chan ge from the quiescent state to the
operate state.
Test field strength See Table 3, item 3. 1 .
The EUT is capable of correct operati on and reset in th e
presence of an el ectrom agn eti c field from a radiation
source at th e gi ven spot frequ encies.
During each spot freq uency test, the input energ izi ng
Measurem ent and verification during th e test quantities shall be adjusted to cause the EUT to ch an ge
from the norm al energi zed state to the operated state,
and held until th e EUT operates correctly. The in put
energi zi ng q uantiti es shall th en be re-adjusted to cause
the EUT to reset.
Acceptance criteria See Table 3, item 3. 1 .
60255-26 © I EC: 201 3 – 27 –

7.2.5 Electrical fast transient


See Table 1 3.

Table 1 3 – Electrical fast transient immunity test


Test set-up Test procedure
EUT config urati on See 7. 2. 2. 2.
I nitial m easurem ent The tests shall be carried out i n accord ance to 7. 2. 2.
All au xiliary eq uipm ent used to provid e the EUT with
signals for norm al operati on, and to verify the correct
operati on of th e EUT, shall be decou pled.
For th e functional earth port, th e fast transient/bu rst test
is not applicabl e to this port if i nterfaci ng with cabl es
whose total length accord ing to the m anufacturer’s
function al specification is al ways less than 3 m .
Detail s of m ounti ng/support The fast transient/burst test is not applicable to th e
comm unications port if interfacing with cabl es which
are, i n norm al use, perm anentl y conn ected, and whose
total length accordi ng to th e m anufacturer’s functional
specification is al ways l ess than 3 m .
Where the EUT is m ounted in a cubicle, th e tests m ay
be conducted i n the cubicle. N o test shall be perform ed
on interconnectin g cabl es withi n the sam e cubicle.
Application ports/m ethods
Au xili ary power suppl y port CDN
AC current and voltage ports CDN
Functional earth port Capacitive coupling cl am p
Binary in puts Capacitive coupling cl am p
Output contacts Capacitive coupling cl am p
Com m unication ports Capacitive coupling cl am p

Test voltage See Table 4, item 4. 2, Tabl e 5, item 5. 2, Table 6, item


6. 2, Tabl e 7, item 7. 2.

Repetition frequency See Table 4, item 4. 2, Tabl e 5, item 5. 2, Table 6, item


6. 2, Tabl e 7, item 7. 2.
See Table 4, item 4. 2, Tabl e 5, item 5. 2, Table 6, item
Test wave form characteristic 6. 2, Tabl e 7, item 7. 2.
The EUT will h ave norm al perform ance with in th e
specification lim its when en erg ized an d subj ected to th e
disturbance.
The tests shall be carried out with auxi liary energi zi ng
quantities appli ed to th e appropri ate circuits, using i nput
energi zi ng q uantiti es equal to rated val ues. The effect
Measurem ent and verification during th e test of this disturbance on th e relay in its quiescent and
operate state is considered. The valu es of the in put
energi zi ng q uantiti es shall be within twice the assigned
error of the transitional state, see I EC 60255-1 : 2009,
Annex A.
The test voltag e shall be appli ed in com m on m ode to
one port at a tim e for at least 1 m in for each polarity.

Acceptance criteria See Table 4, item 4. 2, Tabl e 5, item 5. 2, Table 6, item


6. 2, Tabl e 7, item 7. 2
– 28 – 60255-26 © I EC: 201 3

7. 2. 6 Sl ow d amped osci l l atory wave

See Table 1 4.

Table 1 4 – Slow d am ped oscil latory wave i m m u n ity test

Test set-u p Test proced u re


EUT config urati on See 7. 2. 2. 2
I nitial m easurem ent The tests shall be carried out i n accord ance to 7. 2. 2.
All au xiliary eq uipm ent used to provid e the EUT with
signals for norm al operati on, and to verify th e correct
Detail s of m ounti ng/support operati on of th e EUT, shall be decou pled.
Where the EUT is m ounted in a cubicle, th e tests m ay
be conducted with th e EUT in the cubicl e.
The d am ped oscillati ng wave shall be the en vel ope of
Waveform the 5 th peak which shall be > 50% of the initi al peak
val ue and th e 1 0 th peak which shall be < 50% of the
initial peak val ue.

Voltage rise time See Table 4, item 4. 3, Tabl e 5, item 5. 3 and Table 6,
item 6. 3.

Voltage oscillation frequency See Table 4, item 4. 3, Tabl e 5, item 5. 3 and Table 6,
item 6. 3.

Source im ped ance See Table 4, item 4. 3, Tabl e 5, item 5. 3 and Table 6,
item 6. 3.

Freq uency repetition See Table 4, item 4. 3, Tabl e 5, item 5. 3 and Table 6,
item 6. 3.
Test duration 2 s m inim um
Len gth to con nection 2 m m axim um

Test l evel See Table 4, item 4. 3, Tabl e 5, item 5. 3 and Table 6,


item 6. 3.
Application ports/m ethods
Au xili ary power suppl y port a CM/DM with CDN
I nput and output a CM/DM with CDN
Com m unication ports b CM
The EUT will h ave norm al perform ance with in th e
specification lim its when en ergized an d subj ected to th e
disturbance.
The tests shall be carried out with au xi liary energi zi ng
c quantities appli ed to th e appropri ate circuits, using i nput
Measurem ent and verification during the test energi zi ng q uantiti es eq ual to rated val ues. The effect
of this disturbance on th e relay in its quiescent and
operate state is considered. Th e val ues of th e input
energi zi ng q uantiti es shall be within twice the assigned
error of the transitional state, see I EC 60255-1 : 2009,
Annex A.

Acceptance criteria See Table 4, item 4. 3, Tabl e 5, item 5. 3 and Table 6,


item 6. 3.
a Com m on m ode test shall be perform ed between each in depen dent port and earth an d between each
independent port an d all other independent ports coupl ed to earth.
b The d am ped oscillatory wave test is not appl icabl e to the com m unication port if interfacin g with cables which
are not perm anentl y connected , or wh ose total l en gth accordi ng to the m anufacturer’s functi onal specification is
al ways less than 3 m .
c Where the operating tim e of th e EUT is longer than 2 s, the test voltage shall be applied for a period l on ger
than th e actual operati ng tim e of the EUT. Th e m inim um tim e interval between two successive tests shall be
1 s.
60255-26 © I EC: 201 3 – 29 –

7. 2. 7 Su rg e

See Table 1 5.

Tabl e 1 5 – Su rg e i m m u n i ty test

Test set-u p Test proced u re


EUT configurati on See 7. 2. 2. 2
I nitial m easurem ent The tests shall be carried out i n accord ance to 7. 2. 2
The EUT shall be config ured in accordance with 7. 2. 2
The EUT shall be tested in di vi dual ly on a bench or table
top. Where the EUT is m ounted in a cubicle an d is onl y
used with oth er d evices then th e tests m ay be conducted
with the EUT in th e cubicle. An y requi rem ents for
insulati ng supports for the EUT as stated in the basic
standard shall be followed.
The support equipm ent shall be config ured in accord ance
Details of m ounti ng/support with 7. 2. 2, an y req uirem ents for insul ating su pports for
the support equi pm ent an d interconn ecting cables as
stated in th e basic stand ard sh al l be followed.
The con nections between the EUT and the test generator
shall be l ess than 2 m , and except in th e case of the
testing of the com m unications port, con nections between
the EUT and th e coupl ing/decoupli ng n etworks shall also
be less than 2 m .
The m axim um cable length of screen ed i nterfaces shal l be
not m ore than 20 m .
Application ports an d valu es of source im pedance and
coupli ng capacitance a b c d
Au xili ary power suppl y port See Table 4, item 4. 4.
AC current and voltage ports See Table 6, item 6. 4.
Binary in puts See Table 6, item 6. 4.
Output contacts See Table 6, item 6. 4.
Com m unication ports a, e See Table 5, item 5. 4.
Test waveform characteristic See Table 4, item 4. 4, Tabl e 5, item 5. 4, Table 6, item
6. 4.
Test voltages See Table 4, item 4. 4, Tabl e 5, item 5. 4, Table 6, item
6. 4.
The EUT will h ave norm al perform ance with in the
specification lim its when en erg ized an d subj ected to th e
surge im m unity test.
The tests shall be carried out with au xi liary energi zi ng
quantities appli ed to th e appropri ate circuits, using i nput
energi zi ng q uantiti es eq ual to rated val ues.
The effect of this distu rbance on the relay in its
transitional or operate state is not consid ered. Th e valu es
of the in put energi zin g qu antiti es shall be withi n twice th e
assigned error of the transition al state, see I EC 60255-
1 : 2009, Ann ex A.
Measurem ent and verification during th e test
The n um ber of tests shall be at least five positive and five
neg ative surges. The repetition rate shall be a m axim um
of 1 surg e/m in.
Because of the possibility th at the EUT h as non -li near
current-voltag e characteristics, all lower test voltages u p
to and i nclud ing the m axim um test voltage sel ected shal l
be satisfied.
The surges shall be appl ied l in e to earth and li ne to li ne
where appropri ate. When testing lin e to earth the test
voltage sh all be applied successively between each of the
lines an d earth.
Acceptance criteria See Table 4, item 4. 4, Tabl e 5, item 5. 4, Table 6, item 6. 4
a Unless otherwise stated, n o test is advised for ports interfaci ng with cables whose total l en gth accordin g to the
m anufacturer’s functional specification is al ways less than 1 0 m .
– 30 – 60255-26 © I EC: 201 3

b No li ne to li ne test is ad vised on in put and output ports which accord ing to th e m anufacturer’s fu nctional
specification are al ways interfacing with twisted pair screen ed cabl es.
c The appl ication of th e surge i s to sim ulate a lig htni ng strike and hence is a sh ort du ration high en ergy pul se.
Low im ped ance h igh sensitivity circuits m ay produce a start signal when such a pu lse is appli ed. I f this is the
case the rel ay (EUT) h as interpreted the pulse correctly as per th eir desi gn. I n that case th e m anufacturer shall
state an y tim e delays or settin g lim itations which sh oul d be appli ed to ensure im m unity to the surg e pu lse.
d Where the couplin g capacitor has an effect on the operation of the circuit und er test, altern ative m ethods of
coupli ng networks are allowed as descri bed in the basic standard, exam ples of such devices are a gas
discharge tube or a varistor. Where such an alternati ve cou plin g network is used it shoul d be stated in the test
report.
e For u nscreened comm unication ports use coupl ing as specified in Tabl e 6, item 6. 4.

7.2.8 Conducted interference

7.2.8.1 Frequency sweep


See Table 1 6.

Table 1 6 – Conducted interference immunity test (frequency sweep)


Test set-up Test procedure
EUT config urati on See 7. 2. 2. 2
I nitial m easurem ent The tests shall be carried out i n accord ance to 7. 2. 2.
All au xiliary eq uipm ent used to provid e the EUT with
signals for norm al operati on an d to verify the correct
operati on of th e EUT, shall be decou pled.
Detail s of m ounti ng/support Where the EUT is m ounted in a cubicle, th e test m ay be
conducted in th e cubicle.
No test shall be perform ed on i nterconn ecting cabl es
within the sam e cubicle.

Application ports/m ethods For cou plin g m ethod on different application ports, see
I EC 61 000-4-6.

Test level See Table 4, item 4. 1 , Tabl e 5, item 5. 1 , Table 6, item


6. 1 , Tabl e 7, item 7. 1 .

Freq uency ran ge to be swept See Table 4, item 4. 1 , Tabl e 5, item 5. 1 , Table 6, item
6. 1 , Tabl e 7, item 7. 1 .

Am plitude m odulation See Table 4, item 4. 1 , Tabl e 5, item 5. 1 , Table 6, item


6. 1 , Tabl e 7, item 7. 1 .
The d well tim e at each freq uen cy shall be not l ess than
Dwell tim e 0, 5 s. I n those cases wh ere th e EUT operate tim e is
greater than 0, 5 s, the d well ti m e shall be increased
until operation of th e EUT is possible.

Test level See Table 4, item 4. 1 ; Tabl e 5, item 5. 1 ; Table 6, item


6. 1 an d Table 7, item 7. 1 .
The EUT will h ave norm al perform ance with in th e
specification lim its when en erg ized an d subj ected to th e
conducted distu rbance.
The tests shall be carried out with au xi liary energi zi ng
Measurem ent and verification during th e test quantities appli ed to th e appropri ate circuits, using i nput
energi zi ng q uantiti es eq ual to rated val ues. The effect
of this disturbance on th e relay in its transitional or
operate state is not considered . The valu es of the in put
energi zi ng q uantiti es shall be within twice the assigned
error of the transitional state.

Acceptance criteria See Table 4, item 4. 1 ; Tabl e 5, item 5. 1 ; Table 6, item


6. 1 an d Table 7, item 7. 1 .
60255-26 © I EC: 201 3 – 31 –

7.2.8.2 Spot frequencies


See Table 1 7.

Table 1 7 – Conducted interference immunity test (spot frequencies)


Test set-up Test procedure
EUT config urati on See 7. 2. 2. 2.
I nitial m easurem ent The tests shall be carried out i n accord ance to 7. 2. 2.
All au xiliary eq uipm ent used to provid e the EUT with
signals for norm al operati on an d to verify the correct
operati on of th e EUT, shall be decou pled.
Detail s of m ounti ng/support Where the EUT is m ounted in a cubicle, th e test m ay be
conducted in th e cubicle.
No test shall be perform ed on i nterconn ecting cabl es
within the sam e cubicle.

Application ports/m ethods For cou plin g m ethod on different application ports see
I EC 61 000-4-6.

Spot frequencies See Table 4, item 4. 1 ; Tabl e 5, item 5. 1 ; Table 6, item


6. 1 an d Tabl e 7, item 7. 1 .

Am plitude m odulation See Table 4, item 4. 1 ; Tabl e 5, item 5. 1 ; Table 6, item


6. 1 an d Tabl e 7, item 7. 1 .

Duty cycle See Table 4, item 4. 1 ; Tabl e 5, item 5. 1 ; Table 6, item


6. 1 an d Table 7, item 7. 1 .
Test duration ≥ 10 s
The d well tim e at each spot frequency shal l be sufficient
Dwell tim e for the EU T to chan ge from the quiescent state to the
operate state.

Test level See Table 4, item 4. 1 ; Tabl e 5, item 5. 1 ; Table 6, item


6. 1 an d Tabl e 7, item 7. 1 .
The EUT is capable of correct operati on and reset in th e
presence of th e cond ucted d isturbance at the gi ven spot
freq uenci es.
During each spot freq uency test, the input energ izi ng
Measurem ent and verification during th e test quantities shall be adjusted to cause the EUT to ch an ge
from the norm al energi zed state to the operated state,
and held until th e EUT operates correctly. The in put
energi zi ng q uantiti es shall th an be readj usted to cause
the EUT to reset.

Acceptance criteria See Table 4, item 4. 1 ; Tabl e 5, item 5. 1 ; Table 6, item


6. 1 an d Table 7, item 7. 1 .
– 32 – 60255-26 © I EC: 201 3

7. 2. 9 Power freq u en cy i m m u n i ty on d . c. bi n ary i n pu ts

See Table 1 8.

Tabl e 1 8 – Power freq u en cy i m m u n i ty test

Test set-u p Test proced u re


EUT config urati on See 7. 2. 2. 2.
I nitial m easurem ent The tests shall be carried out i n accord ance to 7. 2. 2.
Detail s of m ounti ng/support The EUT is pl aced in norm al operatin g cond ition.
Application ports an d valu es of source im pedance and See Table 6, item 6. 5.
coupli ng capacitance a b
Test frequ ency Rated frequency, e. g. 1 6, 7 Hz, 50 H z or 60 Hz.
Test voltage See Table 6, item 6. 5.
The tests shall be carried out with au xi liary energi zi ng
quantities eq ual to rated valu es applied to th e au xili ary
d. c. power supply port.
The test voltag e shall onl y be appl ied with th e d. c.
binary input not energi zed to verify that it d oes operate
Measurem ent and verification during th e test correctly. I f the d. c. bin ary in put has software or
hard ware controllable del ay, th en the test voltage
should be appl ied fi rst with th e delay set to its m inim um
val ue. I f this results in failu re, then th e delay valu e
should be i ncreased and th e test voltag e re-appl ied until
the test is passed; the val ue of this final d. c. bin ary
input delay shall be record ed i n the test report.
Acceptance criteria See Table 6, item 6. 5.
NOTE 1 Ann ex A contai ns technical inform ation for the power frequ ency imm unity tests.
NOTE 2 Ann ex B contai ns background i nform ation for th e power frequency im m unity tests.
a The differenti al m ode test is not req uired on d. c. bi nary input ports which, accordin g to the m anufacturer’s
function al specificati on, al ways have an interface vi a m ulti-core screen ed or twisted pai r (screen ed or
unscreened) cables.
b Unless otherwise stated, n o test is requi red for d. c. bin ary i n put ports interfaci ng with cables whose total length
accordi ng to th e m anufacturer’ s functional specification is al ways less than 1 0 m .
60255-26 © I EC: 201 3 – 33 –

7. 2. 1 0 Power freq u en cy m ag n eti c fi el d

See Table 1 9.

Tabl e 1 9 – Power freq u en cy m ag n eti c fi el d i m m u n i ty test

Test set-u p Test proced u re


EUT config urati on See 7. 2. 2. 2.
I nitial m easurem ent The tests shall be carried out i n accord ance to 7. 2. 2.

Detail s of m ounti ng/support The EUT is pl aced in the m agn etic field of a 1 m × 1 m
induction coil.
Rated power frequ ency of the EUT, which is used wh ere
Test frequ ency the EUT is intended to be installed, (e. g. 50 H z or
60 H z).
Conti nu ous: ≥ 60 s
Test duration
Short tim e: 1 s to 3 s
Test field strength See Table 3, item 3. 3.
The EUT will h ave norm al perform ance with in th e
specification lim its when en erg ized an d subj ected to th e
m agnetic field.
The tests shall be carried out with au xi liary energi zi ng
quantities appli ed to th e appropri ate circuits, using i nput
Measurem ent and verification during th e test energi zi ng q uantiti es eq ual to rated val ues. The effect
of this disturbance on th e relay in its quiescent and
operate state is considered. Th e val ues of th e input
energi zi ng q uantiti es shall be within twice the assigned
error of the transitional state, see I EC 60255-1 : 2009,
Annex A.

Acceptance criteria See Table 3, item 3. 3.


– 34 – 60255-26 © I EC: 201 3

7.2.1 1 Voltage dips and voltage interruptions on power supply voltage (a.c. or d.c.)
See Table 20.

Table 20 – Voltage dips and voltage interruptions test


Test set-up Test procedure
Accessories shall be conn ected accord ing to
m anufacturer’s specification.
EUT shall be in a qui escent state.
EUT config urati on
Half of th e bin ary in puts an d h alf of the output rel ays
shall be energ ized.
Com m unication m odules, if an y, shall be activated.
I nitial m easurem ent The tests shall be carried out i n accord ance to 7. 2. 2.
Complementary test procedu re
Selection of application points The tests shall be applied to power supply term inals.
Test level s See Table 4, item 4. 5 an d item 4. 6.
Num ber of trials 3
Tim e interval between trials ≥1 0 s
The voltage in this standard uses the rated voltage for
the EUT as a basis for voltage test level specification.
Where the EUT has a rated vol tage ran ge, th e test
procedu re shall be appl ied at the lowest voltag e
declared i n the voltag e rang e.
Exam ple: EUT with a rated voltage ran ge of 1 00 V to
Measurem ent and verification during th e test 200 V ± 20 % should be tested at 80 V.
For EUT i nten ded to be powered by d. c. power suppl y,
onl y the correspondin g tests shall be done. For EUT
inten ded to be used with a. c. power supply, onl y the
correspon din g tests shall be d one. For EUT i nten ded to
be used eith er with a. c. power suppl y or with d. c. power
suppl y both tests shall be don e.
Acceptance criteria See Table 4, item 4. 5 an d item 4. 6.
60255-26 © I EC: 201 3 – 35 –

7.2.1 2 Voltage ripple on d.c. power supply voltage


See Table 21 .

Table 21 – Voltage ripple test


Test set-up Test procedure
Accessories shall be conn ected accord ing to m anufacturer’s
specification.
EUT shall be in a qui escent state.
EUT config urati on
Half of the bin ary in puts an d h alf of the output rel ays shal l be
energi zed.
Com m unication m odules, if an y, shall be activated.
I nitial m easurement The tests shall be carried out i n accord ance to 7. 2. 2.
Complementary test procedu re
Selection of application points The tests shall be applied to power supply term inals.
Test level See Table 4, item 4. 7.
Test duration 1 m in
Measurem ent and verification during the The voltage in this standard uses the rated voltage for the EU T as a
test basis for voltage test level specification. Where the EUT h as a rated
voltage range, the test proced u re shal l be applied for both th e lowest
and high est voltag e declared i n the voltage ran ge.
Exam ple: EUT with a rated voltage ran ge of 1 00 V to 200 V ± 20 %
should be tested at 80 V and 240 V.
Acceptance criteria See Table 4, item 4. 7.
– 36 – 60255-26 © I EC: 201 3

7.2.1 3 Gradual shut down / start-up tests


See Table 22.

Table 22 – Gradual shutdown and start-up test


Test set-up Test procedure
Accessories shall be conn ected accord ing to m anufacturer’s
specification.
EUT shall be in a qui escent state.
EUT config urati on
Half of the bin ary in puts an d h alf of the output rel ays shal l be
energi zed.
Com m unication m odules, if an y, shall be activated.
I nitial m easurement The tests shall be carried out i n accord ance to 7. 2. 2.
Complementary test procedu re
Selection of application points The tests shall be applied to power supply term inals.
Test level See Table 4, item 4. 8
Measurem ent and verification during the The voltage in this standard uses the rated voltage for the EU T as a
test basis for voltage test level specification. Where the EUT h as a rated
voltage range, the test proced u re shal l be applied at the l owest
voltage declared in th e voltag e ran ge.
Exam ple: EUT with a rated voltage ran ge of 1 00 V to 200 V ± 20 %
should be tested at 80 V (see Figu re 2).
Acceptance criteria See Table 4, item 4. 8.

U (V) 60 s 5 min 60 s
Ue

Ue min

SUL
SDL

0
0 t (s)
IEC 1 204/1 3

Key
U
e rated au xili ary power suppl y voltage
U
e m in lower lim it of Ue
SDL shut-d own lim it
SUL start-u p lim it

Figure 2 – Gradual shut down/start-up test


60255-26 © I EC: 201 3 – 37 –

8 Criteria for acceptance


8.1 Emission
The EUT shall satisfy the requirem ents of this specification if conducted and radiated
emissions during the tests do not exceed the lim its given in Table 1 and Table 2.

The results of an evaluation of the emissions of EUTs having at least one of each type of
identical m odule can be applied to configurations having more than one of each type of those
modules. This is permissible because it has been found that, in practice, em issions from
identical modules are not additive. This non-additive principle can be applied to protection
equipment m ade up of a num ber of identical measuring relays.
– 38 – 60255-26 © I EC: 201 3

8. 2 I m m u n i ty

See Table 23.

T a b l e 2 3 – Ac c e p t a n c e c ri t e ri a fo r i m m u n i t y t e s t s

C ri t e ri a F u n cti o n C o n d i ti o n s fo r a c c e p t a n c e

A Protection Norm al perform ance with in th e specification lim its, durin g and
after the test.
Com m and and control Norm al perform ance with in th e specification lim its, durin g and
after th e test.
Measurem ent No d eg rad ation du rin g test.
I ntegral h um an-m achine No d eg rad ation or no loss of fu nction d uri ng test. No l oss of
interface an d visual alarm s stored data.
Data com m unication b Possible bit error rate i ncrease but no l oss of transm itted data.
Binary in put, bi nary output an d No u n wanted chan ge of status is al lowed d uri ng th e test a .
output contacts
B Protection Norm al perform ance with in th e specification lim its, durin g an d
after th e test.
Com m and and control Norm al perform ance with in th e specification lim its, durin g an d
after th e test.
Measurem ent Tem porary deg radati on d uri ng test, with self-recovery at the end
of the test. No loss of stored d ata.
I ntegral hum an-m achine Tem porary deg radati on or loss of function d uring test, with self-
interface an d visual al arm s recovery at the end of th e test. No loss of stored data.
Data com m unication b Possible bit error rate i ncrease but no l oss of transm itted data.
Binary in put, bi nary output an d No u n wanted chan ge of status is allowed duri ng th e test a .
output contacts
C Protection Tem porary l oss of function provid ed th e function is self-
recoverable.
No u n wanted operation sh all be observed.
Com m and and control Tem porary l oss of function provid ed the function is self-
recoverable.
No u n wanted operation sh all be observed.
Measurem ent Tem porary l oss of function provid ed the function is self-
recoverable.
I ntegral h um an-m achine Tem porary l oss of function provid ed the function is self-
interface an d visual alarm s recoverable.
Data com m unication b Tem porary l oss of function, provid ed th e function is self-
recoverable Possibl e loss of transm itted data.
Binary in put, bi nary output an d No u n wanted chan ge of status is allowed duri ng th e test a .
output contacts
I f the m anufactu rer is using a specification for degrad ation d uri ng or after th e testin g req uired by this stan dard ,
the specification shal l be provi ded i n the product docum entation avail abl e to th e user.
a For bi nary i nputs the m anufacturer shal l state the m inim um filterin g valu e for which th e test was successful.
b Excl udi ng comm unication ports for protection or control functional ity. For those acceptance criteri a see
protection or com m and and control.
60255-26 © I EC: 201 3 – 39 –

9 Test report

A test report giving the test procedures and results shall always be produced.

The test report shall include at least the following basic inform ation:
a) a title (e. g. “test report”);
b) the name and address of the laboratory, and the location where the tests were carried out,
if different from the address of the laboratory;
c) a unique identification of the test report (such as the serial num ber), and on each page an
identification that helps to recognize the page as part of the test report and a clear
identification of the end of the test report;
d) the nam e and address of the client;
e) a description of the condition of the EUT and its unambiguous identification;
f) the date(s) of perform ance of the test;
g) the test results with, where appropriate, the units of measurement;
h) the name(s), function(s), and signature(s) or equivalent identification of person(s)
authorizing the test report;
i) where relevant, a statement to the effect that the results relate onl y to the EUT.
I n addition to the above basic information, test reports shall include the following information:
j) the test conditions;
k) the test methods;
l) the m easuring equipment used;
m) the test conclusion(pass/fail);
n) where appropriate and n eeded, opinions and interpretations.
– 40 – 60255-26 © I EC: 201 3

An nex A
(normative)
Power frequ ency im mu ni ty tests on bin ary i npu ts

A. 1 General

The power frequency immunity tests are based on the concepts described in I EC 61 000-4-1 6,
referring to that publication where applicable. The objective of the tests is to confirm that the
equipm ent under test (EUT) will operate correctly when energized and subj ected to short
duration, conducted, comm on and differential mode power frequency disturbances applied to
d.c. binary inputs, at the rated freq uency of the EUT, for exam ple 1 6, 7 H z, 50 H z or 60 H z.

The testing of pilot wire schem es between substations is not covered by these tests.

A. 2 Test cl asses

Class A test levels are applicable to substations with high earth fault currents, and where the
standard wiring practices allows the d.c. binary inputs to be wired to primary plant auxiliary
contacts via 'open' loops. An open loop occurs where the go and return leads are allowed in
different m ulti-core cables, and therefore face the risk of following substantiall y different
paths. This produces a large potential area of magnetic flux linkage with the prim ary earth
fault current, which causes high levels of power frequency interference.

Class B test levels are applicable to either:


• substations with low earth fault currents, for example substations which use isolated or
Petersen coil earthing; or
• where wiring practice guarantees that the d. c. binary inputs are not wired in 'open' loops;
open loops are avoided by using the go and return wires in the sam e multi -core cable; this
ensures that the go and return routes are essentially identical, and that the area of
m agnetic flux linkage wi th the prim ary earth fault current is small, thus minim izing the
levels of power frequency interference.

A. 3 Test eq ui pment

A. 3. 1 G en eral

Where the test frequency is not that of the available m ains distribution network, an alternative
test generator will have to be used, for exam ple as described in 6. 1 . 3 of
I EC 61 000-4-1 6: 1 998, Amendment 2: 2009.

A. 3. 2 Test g en erator

The test generator typi cally consists of a variable transformer connected to the mains
distribution network and an isolation transform er. The generator shall have the following
characteristics:

Waveform : Sinusoidal, total harm onic distortion less


than 1 0 %.

Open circuit output voltage range: 1 00 V to 300 V r. m. s. ( ± 1 0 %).

I mpedance: Less than 1 50 Ω .


60255-26 © I EC: 201 3 – 41 –

Frequency: Selected rated frequency ( ± 0, 5 H z).

On/off output voltage swi tching: Synchronized at zero crossing (0° ± 1 0°) or
increased from zero / decreased to zero
(see A. 4. 3).

A.3.3 Verification of the test generator


I n order to ensure that the results when using different test generators can be meaningfull y
com pared, the following characteristics of the generator shall be calibrated or verified:
– output voltage waveform ;
– voltage generator impedance;
– frequency accuracy;
– open circuit output voltage accuracy.
The verifications shall be carried out with a voltage probe and oscilloscope or other equivalent
measuring instrum ents with a minimum bandwidth of 1 MH z. The accuracy of these
instruments shall be better than ± 5 %.

A.3.4 Coupling networks


The coupling networks enable the test voltage to be applied in both comm on and differential
mode (see Figures A. 1 , A. 2 and A. 3 for typical test set-ups).

The networks consist of a resistor and capacitor in series. The values for these com ponents
for the tests are shown in Table 6, item 6.5, and the values for each pair of capacitors and
resistors shall be m atched with a tolerance of 1 %.

A.4 Test set-up


A.4.1 General
Figures A. 1 and A. 2 show typical test set-ups for differential mode tests, and Figure A. 3
shows a typical test set-up for common mode tests. Connections between the EUT and the
coupling network shall be less than 2 m .

A.4.2 Earthing connections


The EUT, the auxiliary equipment and the test equipm ent shall com ply with their safety
earthing requirements at all tim es. Additionall y, the EUT shall be connected to the earthing
system in accordance with the m anufacturer’s specifications.

A.4.3 Auxiliary equipment


All auxiliary equipm ent, used to provide the EU T with signals for normal operation, and to
verify the EUT’s correct operation, shall be decoupled so that the test voltage does not affect
the auxiliary equipm ent.

Auxiliary equipm ent required for the EUT to operate as defined by the specifications (e.g.
comm unication equipment, modem , printer, etc. ), as well as auxiliary equipm ent necessary for
ensuring an y data transfer and verification of the functions, shall be connected to the EUT.
However, as far as possible the num ber of cables to be m onitored will be lim ited by taking into
consideration onl y the representative functions.

The test generator shall be connected to the d. c. binary input port of the EUT. When this port
consists of multiple identical circuits, onl y a representative number of these circuits, as
– 42 – 60255-26 © I EC: 201 3

defined by the m anufacturer, need to be tested in order to verify the correct operation of
the EUT.

The test voltage shall be applied for at least 1 0 s so that the EUT’s operating perform ance
can be verified. The test voltage shall be applied as shown in Figures A. 1 , A. 2 and A. 3.

When a test generator with zero crossing synchronization is not available, in order to avoid
unwanted transients at turn on and turn off, the test voltage m ay be increased from zero to
the required level at the start of the test, and decreased to zero at the end of the test. The
duration of these start and end phases shall not be included as part of the test tim e, and they
shall each have duration of less than 20 % of the time of application of the required test
voltage.

Test generator
1 50 V

R = 1 00 Ω R = 1 00 Ω Coupling
network
C = 0,1 µF C = 0,1 µF

EUT

Common
IEC 1205/13

Figure A.1 – Example of Class A differential mode tests

Test generator
1 00 V

R = 1 00 Ω R = 1 00 Ω Coupling
network
C = 0,047 µF C = 0,047 µF

EUT

Common

Figure A.2 – Example of Class B differential mode tests


60255-26 © I EC: 201 3 – 43 –

Test generator
300 V

R = 220 Ω R = 220 Ω Coupling


network
C = 0,47 µF C = 0,47 µF

EUT

Common

IEC 1207/13

Figure A.3 – Example of common mode tests


– 44 – 60255-26 © I EC: 201 3

Annex B
(informative)
Background information for power frequency tests

Conducted interference voltages are generated by different sources of interference, and can
be transferred by inductive or capacitive coupling to the supply cables, signal cables and
earthing of measuring relays and protection equipm ent.

The electronic environm ent in which the equipment is used is also related to the sources of
interference which may be present in different kinds of installations, for example substations,
and is also related to the coupling which is given by the norm al installation of the equipm ent,
i. e. power suppl y, location, type of cables, earthing, screening, filtering, etc.

I n the case of an earth fault in a substation, a high current passes through the earthing
system, and thus the electrical potential of different parts of the substation will be raised with
respect to each other and to earth. This m eans that the cables used for signaling between
equipm ent are subjected, in the case of balanced systems, to comm on m ode voltages at
mains frequency. Additionall y, in unbalanced circuits, a differential mode voltage is
generated, the m agnitude of which depends on the unbalance in the input circuit within the
equipm ent and the ph ysical arrangem ent of the signal cabling.

Sim ilar interference voltages of mains frequency can also be induced in signal cables without
an y earth fault current, for exam ple if a power cable and a signal cable are laid parallel to and
close to each other.

I t is recognized that these types of interference will to some degree appear on all copper
circuits within a substation, and it is these interference voltages which this power frequency
test attempts to sim ulate.

I t should be noted that although capacitive coupling is used to apply the test voltage to
the signal cabling, this test rem ains valid for sim ulating both capacitive and inductivel y
coupled interference, as both these types of interference result in an induced voltage on the
signal cables.
60255-26 © I EC: 201 3 – 45 –

Annex C
(normative)
Application of discharges for electrostatic discharge test

The contact discharge m ethod of testing (the preferred m ethod) shall be applied to conductive
surfaces of the EUT.

The air discharge method shall onl y be used when the accessible surfaces of the EUT are
non-conducting.

The test voltage shall be increased from the minimum to the selected test level, in order to
determine an y threshold of failure.

I t is recommended that the discharge generator includes a m onitor device for indication of the
actual application of the discharge at the corresponding level.

The test shall be performed with single discharges. I t shall be repeated on each selected test
point at least 1 0 tim es with positive polarity and 1 0 times with negative polarity of test voltage.

The recomm ended time interval between successive single discharges is 1 s, although longer
intervals may be necessary to determ ine whether a failure has occurred.

The points to which the discharges shall be applied m ay be selected by means of an


exploration carried out at a repetition rate of 20 discharges per second, or more.

The discharge generator shall be held perpendicular to the surface to which the discharge is
applied. This im proves repeatability of the test results.

The discharge return cable of the generator shall be kept at a distance of at least 0, 2 m from
the EUT and metal surfaces, other than the ground plane, whilst the discharge is being
applied.

For contact discharge tests, the tip of the discharge electrode shall touch the EUT before the
discharge switch is operated.

I n the case of painted surfaces covering a conducting substrate at the intended point of test,
the following procedure shall be adopted:
• where the coating is not declared to be an insulating coating by the equipm ent
manufacturer, then the pointed tip of the generator shall penetrate the coating so as to
make contact with the conducting substrate;
• where the coating is declared as insulating with a declared withstand voltage exceeding
the appropriate test voltage level for air discharge tests, the contact discharge test shall
not be applied to such surfaces.
For air discharge tests, the discharge tip of the discharge electrode shall approach and touch
the EUT as fast as possible without causing mechanical dam age. After each discharge, the
discharge electrode shall be rem oved from the EU T, and the generator shall be retriggered in
readiness for the next single discharge. This procedure shall be repeated until the discharges
are completed.

For test method of ungrounded equipment, see I EC 61 000-4-2.


– 46 – 60255-26 © I EC: 201 3

Bibliography
I EC 61 000-4 (all parts), Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Basic standards
I EC/TS 61 000-6-5, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 6-5: Generic standards –
Immunity for power station and substation environments

_____________
– 48 – 60255-26 © CEI : 201 3

SOMMAIRE
AVANT-PROPOS . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 50
I NTRODUCTI ON .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. .. . ... ... ... ... ... ... ... ... . 52
1 Dom aine d’application ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... 53
1 . 1 Généralités . ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... .. ... .. 53
1 . 2 Em ission . ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. .. ... .. 53
1 . 3 I mm unité . ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. .. ... .. 53
2 Références norm atives .. ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... 54
3 Term es et définitions .. ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... 55
4 Définition des niveaux d’environnement ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... . 56
4. 1 Généralités . ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... .. ... .. 56
4. 2 Zone A, environnement électrique sévère . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... .. . ... ... ... ... ... .. 56
4. 3 Zone B, environnement électrique norm al . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... .. . ... ... ... ... ... .. 57
5 Em ission .. ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... . 57
5. 1 Em ission par l’enveloppe ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... .. 57
5. 2 Em ission par l’accès d’alim entation auxiliaire ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... 58
6 I mm unité .. ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... . 59
6. 1 I mm unité de l’enveloppe .. ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 59
6. 2 I mm unité de l’accès d’alimentation auxiliaire . ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... 60
6. 3 I mm unité de l’accès comm unication . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... . 62
6. 4 I mm unité des accès par les entrées et les sorties .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... . 64
6. 5 I mm unité de l’accès par la borne de terre fonctionnelle . ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... .. 66
7 Procédures et installation d’essai . ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... 66
7. 1 Em ission . ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. .. ... .. 66
7. 1 . 1 Généralités .. ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... 66
7. 1 . 2 Emission rayonnée .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... .. . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. 67
7. 1 . 3 Emission conduite . ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... .. 67
7. 2 I mm unité . ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. .. ... .. 67
7. 2. 1 Généralités .. ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... 67
7. 2. 2 Conditions générales d’essai ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... ... ... .. .. 68
7. 2. 3 Décharge électrostatique . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. .. . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... 70
7. 2. 4 I nterférences rayonnées .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... ... ... ... 71
7. 2. 5 Transitoire électrique rapide . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... . 73
7. 2. 6 Onde oscillatoire faiblem ent amortie ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... .. ... 74
7. 2. 7 Onde de choc ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 75
7. 2. 8 I nterférences conduites . ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... 76
7. 2. 9 I mmunité à la fréquence du réseau sur les entrés d.c. binaires . ... ... ... ... ... .. 78
7. 2. 1 0 Cham p m agnétique à la fréquence du réseau . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... .. 79
7. 2. 1 1 Creux de tension et interruptions de la tension d’alimentation
(courant alternatif ou continu) .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. .. ... ... ... ... ... ... ... . 80
7. 2. 1 2 Ondulation de tension sur l’alim entation courant continu ... ... .. ... ... ... ... ... ... . 81
7. 2. 1 3 Essais de coupure/rétablissement progressifs ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... .. 82
8 Critères d’acceptation . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... .. . ... ... ... ... 83
8. 1 Em ission . ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. .. ... .. 83
8. 2 I mm unité . ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. .. ... .. 84
9 Rapport d’essai .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. .. . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... .. 85
60255-26 © CEI : 201 3 – 49 –

Annexe A (norm ative) Essais d’im m unité à la fréquence du réseau sur les entrées
binaires . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... . .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 86
Annexe B (inform ative) I nform ations générales concernant les essais à fréquence
industrielle . ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... 90
Annexe C (norm ative) Application de décharges pour l’essai de décharge
électrostatique .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... .. . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 91
Bibliographie . .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... 92

Figure 1 – Accès des relais de mesure et dispositifs de protection ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... .. 55
Figure 2 – Essai de coupure/rétablissem ent progressif .. .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... 82
Figure A. 1 – Exemple d’ e ssais de Classe A en m ode différentiel ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... . 88
Figure A. 2 – Exemple d’essais de Classe B en m ode différentiel ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 88
Figure A. 3 – Exemple d’essais en m ode comm un .. ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. . ... ... .. ... .. 89

Tableau 1 – Essais d’ém ission – Accès par l’enveloppe . .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... 57
Tableau 2 – Essais d’ém ission – Accès d’alimentation auxiliaire . ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. . 58
Tableau 3 – Essais d’imm unité – Accès par l’enveloppe .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... .. . ... 59
Tableau 4 – Essais d’imm unité – Accès d'alimentation auxiliaire . ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. . 60
Tableau 5 – Essais d’imm unité – Accès communication . .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... .. ... ... ... 62
Tableau 6 – Essais d’imm unité – Accès par les entrées et les sorties ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. 64
Tableau 7 – Essais d’imm unité – Accès par la borne de terre fonctionnelle ... ... ... ... ... ... ... ... ... 66
Tableau 8 – Essai d’émission rayonnée . ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... 67
Tableau 9 – Essai d’émission conduite .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... .. . ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. 67
Tableau 1 0 – Essai d’imm unité contre les décharges électrostatiques .. ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... 70
Tableau 1 1 – Essai d’imm unité aux interférences rayonnées (balayage en fréquence) . ... ... ... 71
Tableau 1 2 – Essai d’imm unité aux interférences rayonnées (fréquences ponctuelles) . ... .. ... 72
Tableau 1 3 – Essai d’imm unité au transitoire électrique rapide ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 73
Tableau 1 4 – Essai d’imm unité à l’onde oscillatoire faiblem ent amortie . ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... 74
Tableau 1 5 – Essai d’imm unité à l’onde de choc . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... . .. ... ... ... ... ... ... . 75
Tableau 1 6 – Essai d’imm unité aux interférences conduites (balayage en fréquence) ... ... .. ... 76
Tableau 1 7 – Essai d’imm unité aux interférences conduites (fréquences ponctuelles) ... ... ... 77
Tableau 1 8 – Essai d’imm unité à la fréquence du réseau . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . . ... ... ... 78
Tableau 1 9 – Essai d’imm unité au champ magnétique à la fréquence du réseau .. ... ... ... ... ... .. 79
Tableau 20 – Essai de creux de tension et d’interruptions de tension . ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. 80
Tableau 21 – Essai d’ondulation de tension ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... . .. ... ... ... ... ... ... .. . 81
Tableau 22 – Essai de coupure et de rétablissem ent progressif . ... ... ... ... ... ... ... ... ... .. ... ... ... . .. .. 82
Tableau 23 – Critères d’acceptation pour les essais d’immunité .. ... .. ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... . 84
– 50 – 60255-26 © CEI : 201 3

COMMI SSION ÉLECTROTECHNIQUE I NTERNATIONALE


____________
RE L AI S D E M E S U RE E T D I S P O S I T I F S D E P RO T E C T I O N –

P a rti e 2 6 : E x i g e n c e s d e c o m p a ti b i l i té é l e c tro m a g n é ti q u e

AVANT-PROPOS
1 ) La Com m ission Electrotechni que I ntern ational e (CEI ) est une organisation m ondial e de norm alisation
com posée de l'ensem ble d es com ités électrotechniqu es n ati onau x (Com ités nationau x de la CEI ). La CEI a
pou r objet de favoriser la coopérati on i nternati on ale pour toutes les questions de normalisation d ans l es
dom aines d e l'él ectricité et de l'électroni que. A cet effet, l a CEI – entre autres activités – publ ie d es Norm es
internati onales, d es Spécifications tech niq ues, d es Rapports techniq ues, d es Spécificati ons accessibles au
publ ic (PAS) et des Guid es (ci -après d énom m és "Publication (s) de l a CEI "). Leur élaboration est confiée à d es
com ités d'études, au x travau x desquels tout Com ité national intéressé par l e sujet traité peut participer. Les
org anisati ons intern ation ales, gou vern em entales et non gou vernem entales, en liaison avec la CEI , participent
égal em ent au x travau x. La CEI collabore étroitem ent avec l'Organisation I nternational e de N orm alisation (I SO),
selon d es conditi ons fi xées par accord entre l es deu x organisations.
2) Les décisions ou accords offici els de l a CEI concernant les q uestions tech niq ues représentent, dans la m esure
du possible, un accord international sur les suj ets étu diés, étant d onn é que les Com ités n ation au x d e l a CEI
intéressés sont représentés d ans chaqu e com ité d’étud es.
3) Les Publicati ons d e la CEI se présentent sous la form e de recom m andations international es et sont ag réées
comm e tel les par l es Com ités nationau x d e la CEI . Tous les efforts raisonn abl es sont entrepris afin que l a CEI
s'assure d e l'exactitud e d u conten u techn iqu e d e ses publ ications; l a CEI n e peut pas être ten ue responsable
de l'éventuelle m auvaise util isation ou interprétation qui en est faite par un q uelconq ue util i sateur fi nal .
4) Dans le but d'encou rager l'u niform ité internati onal e, les Com ités nation au x d e la CEI s'en gagent, d ans toute l a
m esure possible, à appl iqu er de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs pu blicati ons
national es et régi on ales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications
national es ou régi on ales correspond antes d oi vent être i ndi qu ées en term es clairs dans ces dernières.
5) La CEI elle-m êm e ne fournit aucune attestation d e conform ité. Des org anism es de certification i nd épendants
fournissent d es services d'évaluati on de conform ité et, d ans certai ns secteu rs, accèdent au x m arques de
conform ité de l a CEI . La CEI n'est responsabl e d'aucun des services effectués par les org anism es de
certification ind épend ants.
6) Tous les utilisateurs d oi vent s'assurer qu'ils sont en possession d e la d ernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabil ité ne doit être im putée à l a CEI , à ses adm inistrateurs, em ployés, au xili aires ou
m andataires, y com pris ses experts particuli ers et les m em bres de ses com ités d'étud es et des Com ités
nationau x d e la CEI , pou r tout préj udice causé en cas d e d omm ages corporels et m atéri els, ou de tout autre
dom m age de quel que natu re que ce soit, directe ou indi recte, ou pou r supporter les coûts (y com pris les frais
de j ustice) et les dépenses découlant de la pu blicati on ou d e l'util isation d e cette Publicati on de l a CEI ou d e
toute autre Publicati on d e la CEI , ou au crédit qu i lui est accordé.
8) L'attenti on est attirée sur les références norm atives citées d ans cette publication. L'utilisation de publ ications
référencées est obl igatoire pou r un e appl icati on correcte de la présente publicati on.
9) L’attention est attirée sur le fait qu e certai ns d es él ém ents d e la présente Publication d e l a CEI peuvent fai re
l’obj et d e d roits de brevet. La CEI ne sau rait être tenu e pou r responsabl e de ne pas avoi r i d entifié de tels droits
de brevets et de ne pas avoi r signalé leur existence.

La N orme internationale CEI 60255-26 a été établie par le com ité d'études 95 de la CEI :
Relais de m esure et dispositifs de protection.

Cette troisième édition annule et remplace la seconde édition parue en 2008. Cette troisièm e
édition annule et remplace aussi les norm es suivantes. CEI 60255-22-1 : 2007,
CEI 60255-22-2: 2008, CEI 60255-22-3: 2007, CEI 60255-22-4: 2008, CEI 60255-22-5: 2008,
CEI 60255-22-6:2001 , CEI 60255-22-7:2003, CEI 60255-1 1 : 2008, CEI 60255-25: 2000 et
CEI 60255-26: 2008. Cette édition constitue une révision technique.

Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition
précédente:
a) définition des spécifications d’essais, des procédures d’essais et des critères
d’acceptation par phénomène et accès sous test en un seul docum ent;
b) extension de la m esure des émissions rayonnées pour les fréquences au-delà de 1 GH z;
60255-26 © CEI : 201 3 – 51 –

c) limitation de la mesure des émissions rayonnées à une distance de 3 m seulem ent pour
les petits m atériels;
d) ajout d’un niveau d’essai zone A et zone B pour l’essai d’onde de choc;
e) extension des essais de creux de tension a. c et d.c, de composante a c (ondulation) en
d. c et de coupure/rétablissement progressif sur les accès d’alim entation auxiliaire;
f) harmonisation des critères d’acceptation pour les essais d’im munité.
Le texte de cette norme est issu des docum ents suivants:

FDI S Rapport de vote


95/309/FDI S 95/31 2/RVD

Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute inform ation sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norm e.

Cette publication a été rédigée selon les Directives I SO/CEI , Partie 2.

Une liste de toutes les parties de la série des CEI 60255, publiées sous le titre général Relais
de mesure et dispositifs de protection, peut être consultée sur le site web de la CEI .

Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas m odifié avant la date de
stabilité indiquée sur le site web de la CEI sous "http://webstore. iec. ch" dans les données
relatives à la publication recherchée. A cette date, la publication sera
• reconduite,
• supprimée,
• remplacée par une édition révisée, ou
• am endée.
– 52 – 60255-26 © CEI : 201 3

INTRODUCTION
La présente partie de la CEI 60255 regroupe l’ensemble des exigences de compatibilité
électromagnétique dans un seul document.

En tant que telle, elle constitue le docum ent d’ensem ble pour les relais de mesure et
dispositifs de protection. Les procédures d’essais détaillées sont décrites dans les autres
norm es citées en référence.

La présente partie de la norm e CEI 60255 n’inclut pas l’essai d’inversion de polarité de
l’alim entation courant continu qui était donné dans la CEI 60255-1 1 , car il s’agit d’un essai de
sécurité. Cet essai sera considéré dans la future CEI 60255-27.
60255-26 © CEI : 201 3 – 53 –

RE L AI S D E M E S U RE E T D I S P O S I T I F S D E P RO T E C T I O N –

P a rti e 2 6 : E x i g e n c e s d e c o m p a ti b i l i té é l e c tro m a g n é ti q u e

1 D o m a i n e d ’ a p p l i c a ti o n

1 .1 G é n é ra l i t é s

La présente partie de la série CEI 60255 est applicable aux relais de mesure et dispositifs de
protection, y com pris toute combinaison de dispositifs pour former des systèmes pour la
protection de réseaux d’alimentation tels que des dispositifs de commande, de surveillance de
comm unication et d’interface processus utilisées avec ces systèmes.

Cette norm e spécifie les exigences de com patibilité électrom agnétique pour les relais de
mesure et dispositifs de protection.

Les essais spécifiés dans cette norm e ne sont pas requis pour les matériels ne contenant pas
de circuits électroniques, comm e par exemple les relais électromécaniques.

Les exigences spécifiées dans cette n orm e sont applicables aux relais de mesure et
dispositifs de protection à l’état neuf et tous les essais décrits sont des essais de type.

1 .2 Em i ss i on

L’objet de la présente norm e est de spécifier, pour les relais de m esure et dispositifs de
protection, les limites et méthodes de test pour les émissions électromagnétiques
susceptibles de perturber le fonctionnement d’autres appareils.

Ces limites d’émission représentent les exigences en termes de com patibilité


électrom agnétique et ont été déterminées de manière à assurer que les perturbations
générées par le relais de mesure et dispositif de protection, normalement utilisé dans les
sous-stations et les centrales de production, n’excèdent pas un niveau pouvant perturber le
fonctionnem ent attendu des autres appareils.

Les exigences d’essais sont spécifiées pour l’accès par l’enveloppe et les bornes
d’alimentation auxiliaire.

1 .3 I m m u n i té

Le but de cette norm e est de spécifier, pour les relais de mesure et dispositifs de protection,
les exigences d’essais d’immunité aux perturbations permanentes et transitoires, conduites et
rayonnées, décharges électrostatiques incluses.

Ces exigences d’essais représentent les exigences d’immunité en termes de com patibilité
électromagnétique et ont été déterminées de manière à assurer u n niveau d’im munité
adéquat pour les relais de mesure et dispositifs de protection fonctionnant normalem ent dans
des sous-stations et des centrales de production.
NOTE 1 Les aspects liés à la sécurité n e sont pas couverts par l a présente norm e.
NOTE 2 Dans certains cas, il est possibl e q ue l es ni veau x de perturbation excèdent les n iveau x spécifi és par l a
présente norm e, par exem ple lorsq u’u n ém etteur-récepteu r portatif ou un téléphone m obil e est utilisé à proxim ité
imm édiate des rel ais de m esure ou du dispositif de protection. Dans ces circonstances, il peut être nécessaire
d’em ployer des précauti ons particulières.
– 54 – 60255-26 © CEI : 201 3

2 Références normati ves

Les docum ents suivants sont cités en référence de manière norm ative, en intégralité ou en
partie, dans le présent document et sont indispensables pour son application. Pour les
références datées, seule l’édition citée s’applique. Pour les références non datées, la
dernière édition du document de référence s’applique (y compris les éventuels
amendem ents).

CEI 60255-1 : 2009, Relais de mesure et dispositifs de protection – Partie 1: Exigences


communes
CEI 61 000-4-2: 2008, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-2: Techniques d’essai
et de mesure – Essai d’immunité aux décharges électrostatiques
CEI 61 000-4-3: 2006, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-3: Techniques d’essai
et de mesure – Essai d’immunité aux champs électromagnétiques rayonnés aux fréquences
radioélectriques
Am endement 1 :2007
Amendem ent 2:201 0

CEI 61 000-4-4: 201 2, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-4: Techniques d’essai
et de mesure – Essais d’immunité aux transitoires électriques rapides en salves
CEI 61 000-4-5: 2005,Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-5: Techniques d’essai
et de mesure – Essai d’immunité aux ondes de choc
CEI 61 000-4-6: 2008, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-6: Techniques d’essai
et de mesure – Immunité aux perturbations conduites, induites par les champs
radioélectriques
CEI 61 000-4-8: 2009,Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-8: Techniques d’essai
et de mesure – Essai d’immunité au champ magnétique à la fréquence du réseau
CEI 61 000-4-1 1 :2004, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-11: Techniques
d’essai et de mesure – Essais d’immunité aux creux de tension, coupures brèves et variations
de tension
Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-16: Techniques
CEI 61 000-4-1 6: 1 998,
d’essai et de mesure – Essai d’immunité aux perturbations conduites en mode commun dans
la gamme de fréquences de 0 Hz à 150 kHz
Am endement 2: 2009

Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-17: Techniques


CEI 61 000-4-1 7: 1 999,
d’essai et de mesure – Essai d’immunité à l’ondulation résiduelle sur entrée de puissance à
courant continu
Amendem ent 1 :2001
Amendement 2:2008

CEI 61 000-4-1 8: 2006, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-18: Techniques


d’essai et de mesure – Essai d’immunité à l’onde oscillatoire amortie
Amendem ent 1 :201 0

CEI 61 000-4-29:2000, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-29: Techniques


d’essai et de mesure – Essais d’immunité aux creux de tension, coupures brèves et variations
de tension sur les accès d’alimentation en courant continu
60255-26 © CEI : 201 3 – 55 –

CI SPR 1 1 : 2009, Appareils industriels, scientifiques et médicaux – Caractéristiques de


perturbations radioélectriques – Limites et méthodes de mesure
Am endem ent 1 :201 0

CI SPR 22: 2008, Appareils de traitement de l’information – Caractéristiques des perturbations


radioélectriques – Limites et méthodes de mesure

3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent docum ent, les term es et définitions suivants s’appliquent.

3.1
équipement sous test
EST
équipement qui peut être soit un relais de m esure soit un dispositif de protection

3.2
petit matériel
matériel qui est soit posé sur une table ou sur le sol et qui, câbles inclus entre dans un
volum e cylindrique de 1 , 2 m de diam ètre et d’une hauteur au sol de 1 , 5 m

3.3
accès
interface particulière de l’EST spécifié avec l’environnement électrom agnétique extérieur
VOI R: Figu re 1 .

Accès par l’enveloppe Accès par la borne de terre


Accès alimentation auxiliaire fonctionnelle

Accès sortie
EST
Accès entrée Accès communication

IEC 1203/13

Figure 1 – Accès des relais de mesure et dispositifs de protection

3.4
accès d’alimentation auxiliaire
accès par les bornes d'alim entation auxiliaire en courant continu ou alternatif du m atériel sous
test

3.5
accès communication
interface avec un système de comm ande et/ou de comm unication connectée en perm anence
à l’EST

3.6
accès par l’enveloppe
frontière physique de l’EST à travers laquelle les cham ps électrom agnétiques peuvent
rayonner ou pénétrer

3.7
accès par la borne de terre fonctionnelle
point sur l’appareil sous test connecté à la terre dans un but autre que la sécurité électrique
– 56 – 60255-26 © CEI : 201 3

3.8
accès entrée
accès par lequel l’EST est alimenté ou commandé afin qu’il remplisse sa ou ses fonctions

EXEMPLE Entrées pou r transform ateur de cou rant ou de ten sion, entrées tout-ou-rien, etc.

3.9
accès sortie
accès par lequel l’EST fournit des changem ents d’états prédéterm inés
EXEMPLE Contacts, photocoupleurs, sorti e an alogiq ue, etc.

3.1 0
réseau de couplage/découplage
CDN
circuit électrique ayant pour but de transférer de l’énergie d’un circuit à un autre pour éviter
que l’application des essais de tension appliqués à l’EST affecte d’autres m atériels,
équipem ent ou systèm es qui ne sont pas en essai

3.1 1
mode commun
CM
mode entre chaque conducteur actif et un plan de référence spécifié, généralem ent la terre ou
un plan de référence mis à la terre

3.1 2
mode différentiel
DM
mode entre tout couple d’un ensem ble donné de conducteurs actifs

4 Définition des niveaux d’environnement


4.1 Généralités
Les niveaux d’environnem ent doivent être définis en fonction des conditions d’environnement
et d’installation les plus réalistes dans lequel l’EST est prévu de fonctionner.

Basée sur des pratiques d’installation courantes, la sélection recommandée des niveaux
d’essai est la suivante:

4.2 Zone A, environnement électrique sévère


L’installation est caractérisée par les attributs suivants:
• pas de suppression des transitoires électriques rapides en salves dans les alimentations
de puissance et dans les circuits de comm ande et de puissance qui sont comm andés par
des relais et des contacteurs;
• pas de séparation des circuits industriels des autres circuits associés à des
environnem ents de niveau de sévérité supérieure;
• pas de séparation entre les câbles des alimentations de puissances, de comm ande, de
signalisation et de communication;
• utilisation de câbles multiconducteurs comm uns pour la comm ande et la signalisation .
La zone des équipements de processus industriels située à l’extérieur où aucune mesure
particulière d’installation n’a été prise, com me dans des stations de puissance, des sous-
stations HT ouvertes et de l’appareillage isolé par gaz peut être représentative de cet
environnement.
60255-26 © CEI : 201 3 – 57 –

4.3 Zone B, environnement électrique normal


L’installation est caractérisée par les attributs suivants:
• pas de suppression des transitoires électriques rapides en salves dans les alimentations
de puissance et dans les circuits de com mande qui sont commandés par des relais (pas
de contacteurs);
• faible séparation des circuits industriels des autres circuits associés à des
environnem ents de niveau de sévérité supérieure;
• câbles dédiés pour les alimentations de puissances, de commande, de signalisation et de
comm unication;
• faible séparation entre les câbles des alim entations de puissances, de commande, de
signalisation et de communication;
• présence de système de m ise à la terre com posé de tubes, conducteurs de terre dans des
chemins de câbles (connectés au système de protection de m ise à la terre) et par un
m aillage de terre.
La zone où se trouvent des équipements de processus industriel comm e dans des centrales
de production, les bâtiments de relayage des sous-stations HT ouvertes peut être
représentative de cet environnem ent.

5 Emission
5.1 Emission par l’enveloppe
Tableau 1 – Essais d’émission – Accès par l’enveloppe
Point Phénomène Gamme de fréquen ce Limites Norme de Procédure
d’environn ement référen ce d’ essai
40 dB( µ V/m ) quasi -crête
à 10 m
30 MH z à 230 MH z
Emission 50 dB( µ V/m ) quasi -crête
rayonn ée à3m
1 .1 (au -dessous d e CI SPR 1 1 Voir 7. 1 . 2
47 dB( µ V/m ) quasi -crête
1 GHz) ab à 10 m
230 MH z à 1 000 MH z
57 dB( µ V/m ) quasi -crête
à3m
56 dB( µ V/m ) m oyenn e
1 GH z à 3 GHz 76 dB( µ V/m ) crête
Emission
rayonn ée à3m
1 .2 (au -dessus d e CI SPR 22 Voir 7. 1 . 2
60 dB( µ V/m ) m oyenn e
1 GHz)
3 GH z à 6 GHz 80 dB( µ V/m ) crête
à3m
a Les relais d e m esure et dispositifs de protection sont d es appareils qui satisfont aux lim ites de l a Cl asse A.
Les lim ites peuvent être m esurées à un e distance nom inale de 3 m , 1 0 m ou 30 m . Une di stance de m esure
inférieu re à 1 0 m est perm ise seulem ent pou r les m atériels q ui satisfont à la définiti on d onn ée en 3. 2. En cas
de m esure à u ne distance d e séparation de 30 m , pour déterm iner l a conform ité, un facteur i nversem ent
proportionnel de 20 dB par d écade doit être utilisé pour n orm aliser l es données m esurée à un e distance
spécifiée.
b Les lim ites spécifiées pour la distance d e séparation de 3 m s’appli qu ent seu lem ent au x petits m atériels qui
satisfont au x critères de taille définis en 3. 2.
– 58 – 60255-26 © CEI : 201 3

Conditions de la procédure d’essai


• La plus grande source interne d’un EST est définie comme la plus haute fréquence
générée ou utilisée dans l’EST ou sur laquelle l’EST fonctionne ou est accordé.
• Si la plus haute fréquence des sources internes de l’EST est inférieure à 1 08 MH z, la
m esure doit être seulement faite j usqu’ à 1 GH z.
• Si la plus haute fréquence des sources internes de l’EST est comprise entre 1 08 MH z et
500 MH z, la mesure doit être seulem ent faite jusqu’à 2 GH z.
• Si la plus haute fréquence des sources internes de l’EST est comprise entre 500 MH z et
1 GH z, la m esure doit être seulement faite jusqu’à 5 GH z.
• Si la plus haute fréquence des sources internes de l’EST est au-delà de1 GH z, la mesure
doit être faite jusqu’à 5 fois la plus haute fréquence ou 6 GH z en prenant la plus petite des
valeurs.
5.2 Emission par l’accès d’alimentation auxiliaire
Voir le Tableau 2.

Tableau 2 – Essais d’émission – Accès d’alimentation au xiliaire


Point Phénomène Gamme de fréquen ce Limites Norme de Procédure
d’ environn ement référen ce d’essai
2. 1 Emission conduite 79 dB( µ V) quasi -crête
0, 1 5 MH z à 0, 50 MH z
66 dB( µ V) m oyenn e
CI SPR 22 Voir 7. 1 . 3
73 dB( µ V) quasi -crête
0, 5 M H z à 30 M Hz
60 dB( µ V) m oyenn e
60255-26 © CEI : 201 3 – 59 –

6 I m m u n i té

6. 1 I m m u n i té d e l ’ e n ve l o p p e

Tabl e au 3 – E s s a i s d ’ i m m u n i t é – Ac c è s p a r l ’ e n v e l o p p e

N o rm e d e P ro c é d u re C ri t è re s
P h én om èn e S p é c i fi c a t i o n
Poi n t U n i té s ré fé re n c e d ’ ess ai d ’ a c c e p t a ti o n
d ’ e n v i ro n n e m e n t d e l ’ ess ai
( vo i r 8 . 2 )

3. 1 Ch am p

é l e c t ro m a g n é t i q u e

ra d i o fr é q u e n c e

ra yo n n é

Balayage en fréquence
Gamm e de fréquences 80 à 1 000 MH z
d’essai
1 400 à 2 700 MH z
Contrai nte d e cham p 10 V/m (efficace)
d’essai (avant la
m odulation )
Modul ation d’am plitu de 80 % MA (1 kH z)
Vitesse de bal ayag e ≤1 % (de la val eu r
de fréquence
précédente)
Fréquences CEI
ponctuelles 61 000-4-3 7. 2. 4 A
Valeu rs des 80 ± 0, 5 % MH z
fréq uences d’essai
1 60 ± 0, 5 % MH z
380 ± 0, 5 % MH z
450 ± 0, 5 % MH z
900 ± 5 MH z
1 850 ± 5 MH z
2 1 50 ± 5 MH z
Contrai nte d e cham p 10 V/m (efficace)
d’essai (avant la
m odulation )
Modul ation d’am plitu de 80 % MA (1 kH z)
Rapport cycliq ue 1 00 %
3. 2 D é c h a rg e

é l e c t ro s t a t i q u e

Au contact 2 4 6 kV (tension de CEI Voir 7. 2. 3 B


charg e) 61 000-4-2

Dans l’ air 2 4 8 kV (tension de


charg e)
3. 3 C h a m p m a g n é ti q u e à

l a fré q u e n c e d u ré s e a u
CEI Voir 7. 2. 1 0
Conti nu 30 A/m 61 000-4-8 A
1 s à3s 300 A/m B
– 60 – 60255-26 © CEI : 201 3

6. 2 I m m u n i té d e l ’ accès d ’ a l i m en tati on a u x i l i a i re

Tabl eau 4 – E s s a i s d ’ i m m u n i t é – Ac c è s d ' a l i m e n t a t i o n a u x i l i a i re

Poi n t Ph én om èn e S p é c i fi c a t i o n U n i té s N o rm e P ro c é d u r e C ri t è re s

d ’ e n v i ro n n e m e n t d e l ’ ess ai de d ’ ess ai d ’ a c c e p t a ti o n

ré fé re n c e ( vo i r 8 . 2 )

4. 1 P e rt u rb a t i o n con d u i te

i n d u i te p a r d e s c h a m p s

ra d i o fr é q u e n c e

Balayage en fréquence
Gamm e de fréquences 0, 1 5 à 80 MH z
d’essai
Niveau d’essai (avant la 10 V (efficace)
m odulation )
I m pédance d e source 1 50 Ω
Modul ée en am plitud e 80 % MA (1 kH z) CEI
Vitesse de bal ayag e ≤1 % (de la val eu r 61 000-4- Voir 7. 2. 8 A
de fréqu ence 6
précédente)
Fréquences ponctuelles
Valeu rs des fréquences 27 ± 0, 5 % MH z
d’essai 68 ± 0, 5 % MH z
Niveau d’essai (avant la 10 V (efficace)
m odulation )
I m pédance d e source 1 50 Ω
Modul ée en am plitud e 80 % MA (1 kH z)
Rapport cycliq ue 1 00 %
4. 2 T ra n s i t o i re s ra p i d e s

Tem ps de m ontée tr / 5 / 50 ns
durée td
Niveau d’essai CEI
Zone A 4 kV tension 61 000-4- Voir 7. 2. 5 B
crête 4
Zone B 2 kV tension
crête
Fréq uence de répétition 5 kHz
4. 3 O n d e o s c i l l a to i re

fa i b l e m e n t a m o r t i e

Fréq uence de l ’oscillati on 1 MH z


en tensi on
Niveau d’essai
Mode d ifférentiel 1 kV tension
crête CEI
Mode com m un 2, 5 kV tension 61 000-4- Voir 7. 2. 6 B
crête 18
Tem ps de m ontée de la 75 ns
tension
Fréq uence de répétition 400 Hz

I m pédance d e sortie 200 Ω


60255-26 © CEI : 201 3 – 61 –

Poi n t Ph én om èn e S p é c i fi c a t i o n U n i té s N o rm e P ro c é d u r e C ri t è re s

d ’ e n v i ro n n e m e n t d e l ’ ess ai de d ’ ess ai d ’ a c c e p t a ti o n

ré fé re n c e ( vo i r 8 . 2 )

4. 4 On d e d e ch o c

Durée du front d e m ontée 1 , 2 / 50 (8 / µ s tension


/ 20) (cou rant)
Durée à m i-hauteur
I m pédance d e source 2 Ω

Niveau d’essai
Entre fils
Zone A 0, 5 1 2 kV CEI
61 000-4- Voir 7. 2. 7 B
Zone B 0, 5 1 kV 5
Résistance d e cou plage 0 Ω
Capacité de coupl ag e 18 µF
Entre fil et terre
Zone A 0, 5 1 2 4 kV
Zone B 0, 5 1 2 kV
Résistance d e cou plage 10 Ω
Capacité de coupl ag e 9 µF
4. 5 C re u x d e t e n s i o n en

a l te rn a ti ve e t e n c o n ti n u

Niveau d’essai 0 % tension CEI


Durée résid uell e 61 000-4-
en altern atif 11
Voir 7. 2. 1 1 A
en conti nu 0, 5 à 25 a cycles CEI
b ms 61 000-4-
1 0 à 1 000 29
Niveau d’essai 40 % tension CEI
Durée résid uell e 61 000-4-
en altern atif 11
Voir 7. 2. 1 1 C
en conti nu. 1 0/1 2 d cycles CEI
ms 61 000-4-
200 29
Niveau d’essai 70 % tension CEI
Durée résid uell e 61 000-4-
en altern atif 11
Voir 7. 2. 1 1 C
en conti nu. 25/30 d cycles CEI
ms 61 000-4-
500 29
4. 6 I n t e rru p t i o n d e te n s i o n

en a l t e rn a t i v e e t e n

c o n ti n u

Niveau d’essai 0 % tension CEI


Durée résid uell e 61 000-4-
en altern atif 29
Voir 7. 2. 1 1 C
en conti nu. 250/300 cycles CEI
s 61 000-4-
5 11
4. 7 C o m p o s a n te a l te rn a ti ve

en c o n ti n u ( o n d u l a ti o n )

Niveau d’essai 1 5 % de la V
val eu r contin u CEI
Fréq uence d’ essai assignée Hz, ond e 61 000-4- Voir 7. 2. 1 2 A
1 00/1 20 c sinusoïdale. 17

4. 8 C o u p u re / ré t a b l i s s e m e n t

p ro g re s s i f ( p o u r

a l i m e n ta ti o n en c o u ra n t

c o n ti n u )

Ram pe décroissante 60 s
Cou pu re 5 m in --- Voir 7. 2. 1 3 C
Ram pe croissante 60 s
– 62 – 60255-26 © CEI : 201 3

a Le fabricant doit déclarer la d urée parm i les val eu rs suivantes: 0, 5 cycle, 1 cycle, 2, 5 cycles, 5 cycles, 1 0
cycles ou 25 cycles.
b Le fabricant doit décl arer la du rée parm i les valeurs sui vantes: 1 0 m s, 20 m s, 30 m s, 50 m s, 1 00 m s, 200 m s,
300 m s, 500 m s ou 1 000 m s.
c L’essai d oit être fait à u ne fréq uence égale à 2 fois la/les fréq uence(s) spécifi ée(s) du réseau.
d "1 0/1 2 cycles" signifi e "1 0 cycles pou r l’essai à 50 H z" et "1 2 cycles pou r l’essai à 60 Hz".

6. 3 I m m u n i té d e l ’ accès co m m u n i cati on

Tabl eau 5 – E s s a i s d ’ i m m u n i t é – Ac c è s c o m m u n i c a t i o n

Poi n t P h én om èn e S p é c i fi c a t i o n U n i té s N o rm e d e P ro c é d u re C ri t è re s

d ’ e n v i ro n n e m e n t d e l ’ ess ai ré fé re n c e d ’ ess ai d ’ a cc e p ta ti o n

(vo i r 8 . 2 )

5. 1 P e rt u rb a t i o n con d u i te

i n d u i te p a r d e s

ch am p s

ra d i o fr é q u e n c e

Balayage en fréquence
Gamm e de fréquences 0, 1 5 à 80 MH z
d’essai
Niveau d’essai (avant 10 V (efficace)
la m odulation)
I m pédance d e source 1 50 Ω
Modul ée en am plitud e 80 % MA (1 kH z)
Vitesse de bal ayag e ≤1 % (de la val eur CEI Voir 7. 2. 8 A
de fréquence 61 000-4-6
précédente)
Fréquences
ponctuelles
Valeu rs des 27 ± 0, 5 % MH z
fréq uences d’essai MH z
68 ± 0, 5 %
Niveau d’essai (avant 10 V (efficace)
la m odulation)
I m pédance d e source 1 50 Ω
Modul ée en am plitud e 80 % MA (1 kH z)
Rapport cycliq ue 1 00 %
5. 2 T ra n s i t o i re s ra p i d e s

Tem ps de m ontée tr / 5 / 50 ns
Durée td
Niveau d’essai
Zone A 2 kV tension CEI Voir 7. 2. 5 B
crête 61 000-4-4
Zone B 1 kV tension
crête
Fréq uence de 5 kHz
répétition
60255-26 © CEI : 201 3 – 63 –

Point Phénomène Spécification Unités Norme de Procédure Critères


d’environnement de l’essai référence d’essai d’acceptation
(voir 8. 2)
5. 3 Onde oscillatoire
faiblement amortie
Fréq uence de 1 MH z
l’oscillation en tension
Niveau d’essai
Mode d ifférentiel 0 kV tension
crête CEI
Mode com m un 1 kV tension 61 000-4- Voir 7. 2. 6 B
crête 18
Tem ps de m ontée de 75 ns
la tension
Fréq uence de
répétition 400 Hz
à 1 MHz
I m pédance d e sortie 200 Ω
5. 4 Onde de choc
Durée du front d e 1 , 2 / 50 (8 / µs tension
m ontée / 20) (cou rant)
Durée à m i-hauteur
I m pédance d e source 2 Ω
Niveau d’essai
Entre fils CEI
61 000-4-5 Voir 7. 2. 7 B
Zone A 0, 5 1 2 4 kV
Zone B 0, 5 1 2 kV
Résistance d e 0 Ω
couplage a
Capacité de 0 µF
couplage a

a Ces valeurs de coupl ag e sont pou r des accès comm unicati on écrantés. Pou r d es accès de com m unication
non écrantés, util iser les valeu rs du Tableau 6, point 6. 4.
– 64 – 60255-26 © CEI : 201 3

6. 4 I m m u n i t é d e s a c c è s p a r l e s e n t ré e s e t l e s s o rt i e s

Tabl eau 6 – E s s a i s d ’ i m m u n i t é – Ac c è s p a r l e s e n t ré e s e t l e s s o rt i e s

Poi n t Ph én om èn e S p é c i fi c a t i o n U n i té s N o rm e d e P ro c é d u re C ri t è re s

d ’ e n v i ro n n e m e n t d e l ’ ess ai ré fé re n c e d ’ essai d ’ a cc e p ta ti o n

( vo i r 8 . 2 )

6. 1 P e rt u rb a t i o n con d u i te

i n d u i te p a r d e s

ch am p s

ra d i o fr é q u e n c e

Balayage en fréquence
Gamm e de fréquences 0, 1 5 à 80 MH z
d’essai
Niveau d’essai (avant 10 V (efficace)
la m odulation)
I m pédance d e source 1 50 Ω
Modul ée en am plitud e 80 % MA (1 kH z)
Vitesse de bal ayag e ≤1 % (de la val eu r CEI
de fréqu ence 61 000-4-6 Voir 7. 2. 8 A
précédente)
Fréquences
ponctuelles
Valeu rs des 27 ± 0, 5 % MH z
fréq uences d’essai MH z
68 ± 0, 5 %
Niveau d’essai (avant 10 V (efficace)
la m odulation)
I m pédance d e source 1 50 Ω
Modul ée en am plitud e 80 % MA (1 kH z)
Rapport cycliq ue 1 00 %
6. 2 T ra n s i t o i re s ra p i d e s

Tem ps de m ontée tr / 5 / 50 Ns
durée td
Niveau d’essai
Zone A 4 kV tension CEI
crête 61 000-4-4 Voir 7. 2. 5 B

Zone B 2 kV tension
crête
Fréq uence de 5 kHz
répétition
6. 3 O n d e o s c i l l a to i re

fa i b l e m e n t a m o r t i e

Fréq uence de 1 MH z
l’oscillation en tension
Niveau d’essai
Mode d ifférentiel c 1 kV tension
crête CEI
Mode com m un 2, 5 kV tension 61 000-4- Voir 7. 2. 6 B
crête 18
Tem ps de m ontée de 75 ns
la tension
Fréquence de
répétition 400 Hz

I m pédance d e sortie 200 Ω


60255-26 © CEI : 201 3 – 65 –

Point Phénomène Spécification Unités Norme de Procédure Critères


d’environnement de l’essai référence d’essai d’acceptation
(voir 8. 2)
6. 4 Onde de choc
Durée du front d e 1 , 2 / 50 (8 / µs tension
m ontée / 20) (cou rant)
Durée à m i-hauteur
I m pédance d e source 2 Ω
Niveau d’essai
Entre fils
Zone A 0, 5 1 2 kV
Zone B 0, 5 1 kV
Résistance d e 40 Ω CEI
couplage 61 000-4-5 Voir 7. 2. 7 B

Capacité de 0, 5 µF
couplage
Entre fil et terre
Zone A 0, 5 1 2 4 kV
Zone B 0, 5 1 2 kV
Résistance d e 40 Ω
couplage b
Capacité de 0, 5 µF
couplage b
6. 5 Fréquence du réseau a

Zone A
Essai en tension en 1 50 V efficace
m ode différentiel
Résistance d e 1 00 Ω
couplage
Capacité de 0, 1 µF
couplage
Essai en tension en 300 V efficace
m ode comm un
Résistance d e 220 Ω
couplage
Capacité de 0, 47 µF CEI
couplage 61 000-4- Voir 7. 2. 9 A
Zone B 16
Essai en tension en 1 00 V efficace
m ode différentiel
Résistance d e 1 00 Ω
couplage
Capacité de 0, 047 µF
couplage
Essai en tension en 300 V efficace
m ode comm un
Résistance d e 220 Ω
couplage
Capacité de 0, 47 µF
couplage
a L’essai à l a fréquence d u réseau est seul em ent applicabl e au x accès d’entrées logi qu es.
b Pour les entrées/sorties écrantées, par exem ple les entrées/sorties de transm etteurs utiliser l e couplag e
selon le Tabl eau 5 point 5. 4.
c Dans des en viron nem ents plu s sévères u n essai en tension différenti elle d e 2, 5 kV peut être dem andé pour
les entrées des transform ateurs de tension et de courant.
– 66 – 60255-26 © CEI : 201 3

6. 5 I m m u n i t é d e l ’ a c c è s p a r l a b o rn e d e t e rre fo n c t i o n n e l l e

Tabl e au 7 – E s s a i s d ’ i m m u n i t é – Ac c è s p a r l a b o rn e d e t e rre fo n c t i o n n e l l e

poi n t P h én om èn e S p é c i fi c a t i o n U n i té s N o rm e d e P ro c é d u re C ri t è re s

d ’ e n v i ro n n e m e n t d e l ’ ess ai ré fé re n c e d ’ ess ai d ’ a c c e p t a ti

on (vo i r

8. 2)

7. 1 P e rt u rb a t i o n con d u i te

i n d u i te p a r d e s

ch am p s

ra d i o fr é q u e n c e

Balayage en
fréquence
Gamm e de 0, 1 5 à 80 MH z
fréq uences d’essai
Niveau d’essai (avant 1 0 V (efficace)
la m odulation)
I m pédance d e source 1 50 Ω
Modul ée en am plitud e 80 % MA (1 kH z)
CEI Voir 7. 2. 8 A
Vitesse de bal ayag e ≤1 % (de la val eu r de 61 000-4-6
fréq uence précéd ente)
Fréquences
ponctuelles
Valeu rs des 27 ± 0, 5 % MH z
fréq uences d’essai
68 ± 0, 5 % MH z
Niveau d’essai (avant 1 0 V (efficace)
la m odulation)
I m pédance d e source 1 50 Ω
Modul ée en am plitud e 80 % MA (1 kH z)
Rapport cycliq ue 1 00 %
7. 2 T r a n s i t o i re s ra p i d e s

Tem ps de m ontée tr / 5 / 50 ns
durée td
Niveau d’essai CEI
61 000-4-4 Voir 7. 2. 5 B
Zone A 4 kV tension crête
Zone B 2 kV tension crête
Fréq uence de 5 kHz
répétition

7 P ro c é d u re s e t i n s t a l l a t i o n d ’ e s s a i

7. 1 Em i ssi on

7. 1 . 1 G é n é ra l i t é s

Les essais doivent être effectués avec le m atériel dans les conditions de référence comm e
spécifié dans la CEI 60255-1 , CI SPR 1 1 et CI SPR 22.

Les essais doivent être effectués avec les valeurs assignées des grandeurs d’alim entation
d’entrée et d’alim entation auxiliaire appliquées aux circuits appropriés de l’EST. Les valeurs
appliquées doivent être représentatives des conditions normales de service en veille et l’EST
ne doit ni être dans un état de fonctionnem ent transitoire ni être en train de fonctionner. La
moitié des entrées binaires et la moitié des relais de sortie doivent être alim entées. S’il y des
modules de communication, ceux-ci doivent être activés.
60255-26 © CEI : 201 3 – 67 –

Pour les relais ayant une large gamm e de fonctionnem ent de leur alimentation ou une large
gamm e de tensions assignées, les ém issions rayonnées doivent être effectuées à la plus
faible et la plus forte valeur nom inale de la tension d’alim entation du relais

Les émissions conduites doivent être effectuées à toutes les tensions nominales
d’alim entation du relais

Dans la plus grande partie de leur vie, les relais de mesure et les dispositifs de protection
sont dans un état de veille et les périodes où ils peuvent être en train de fonctionner ou en
fonctionnement sont extrêmement courtes. Dans ces conditions les ém issions provenant de
l’EST ne sont pas considérées com me significatives.

7. 1 . 2 Em i ss i on ra y o n n é e

Voir le Tableau 8.

Tabl eau 8 – Essai d ’ ém i ssi on ra y o n n é e

I n s ta l l a ti o n d ’ essai P ro c é d u r e d ’ e s s a i

Selon CI SPR 1 1 pou r les ém issions rayonnées au-


Confi guration d e l’essai dessous de 1 GH z et selon CI SPR 22 pour l es
ém issions rayonn ées au -d el à de 1 GH z
Distance et m éthod e Voir Tableau 1
Détails d e m ontage I nstal lé selon la spécification d u fabricant
Gamm e de fréquence Voir Tableau 1
Critères d’ acceptati on lim ites Class A Voir Tableau 1

7. 1 . 3 Em i ssi on con d u i te

Voir le Tableau 9.

Tabl eau 9 – Essai d ’ ém i ssi on con d u i te

I n s ta l l a ti o n d ’ essai P ro c é d u r e d ’ e s s a i

Confi guration d e l’essai Selon CI SPR 22


Accès concernés Accès alim entation au xili aire al tern ative et conti nu
Détails d e m ontage I nstal lé selon l a spécification d u fabricant
Gamm e de fréquence Voir Tableau 2
Critères d’ acceptati on lim ites Classe A Voir Tableau 2

7. 2 I m m u n i té

7. 2. 1 G é n é ra l i t é s

Les généralités sur l’installation d’essai, c'est-à-dire le générateur d’essai, les dispositifs de
couplage et de découplage pour chaque essai d’immunité sont spécifiées dans la norme de
référence appropriée pour chaque essai.

7. 2. 2 énum ère les conditions générales à respecter pour réaliser un essai d’im m unité pour
des relais de m esure et dispositifs de protection.

7. 2. 3 à 7. 2.1 3 énum èrent les procédures d’essai et les applications spécifiques des d’essais
d’im munité qui doivent être réalisés pour les relais de m esure et les dispositifs de protection.
– 68 – 60255-26 © CEI : 201 3

7.2.2 Conditions générales d’essai


7.2.2.1 Conditions de référence pou r les essais
Les conditions de référence pour les essais doivent être celles spécifiées dans la CEI 60255-
1 à m oins que la norm e de référence correspondante de la série CEI 61 000-4 citée dans la
présente norme, spécifie des conditions de référence qui ont des tolérances plus strictes.

Lorsqu’il y a de nom breux accès d’entrée ou de sortie de circuits identiques sur un e carte ou
un m odule, telles que des entrées binaires ou des contacts de sortie et qu’il y a beaucoup de
telles cartes dans l’EST et que l’essai est fait directement sur les circuits, alors il doit être
suffisant de faire l’essai sur seulement 3 circuits de chaque carte ou module dans chaque
emplacem ent de façon à déclarer la conform ité à cet essai particulier. Ceci s’applique
uniquement aux essais d’imm unité qui sont effectués sur les accès de l’EST plutôt que sur
l’enveloppe dans son ensemble.

7.2.2.2 Configuration
L’EST doit être configuré et installé selon les recommandations du fabricant de telle façon
que ce soit représentatif de la façon dont l’ EST sera utilisé en service normal.

Les accès d’entrées et de sorties doivent être connectés et alim entés comm e ils le seraient
dans des conditions normales d’utilisation et d’installation.

Les accès de communication doivent être connectés et configurés selon les recommandations
du fabricant.
NOTE Des conseils su r les tests sont donnés à l’Annexe A d e la CEI 60255-1 : 2009.

7.2.2.3 Spécification des câbles


Le type de câble utilisé pour chaque accès d’entrée et de sortie doit être celui recomm andé
par le fabricant. Lorsqu’il y a une restriction sur la longueur maximale de câble utilisée sur
une entrée ou une sortie, celle-ci doit être précisée par le fabricant. Pour chaque essai, la
longueur m axim ale de câble utilisée doit être celle recommandée par la norm e de référence.

7.2.2.4 M atériels d’enregistrement et de support aux essais


Les matériels d’enregistrement et de support aux essais doivent être connectés à l’EST pour
délivrer des signaux activant toutes les fonctions de l’EST durant la réalisation de l’essai. I ls
doivent être choisis de façon à ce qu’ils n’aient aucune mauvaise influence sur l’essai et qu’ils
ne soient pas perturbés par les interférences appliquées durant l’essai d’imm unité. Quan d la
réalisation de l’essai perturbe les m atériels d’enregistrem ent et de support aux essais, des
filtres adaptés et des réseaux de découplage doivent être utilisés de façon à ne plus perturber
l’essai, les valeurs et exemples de filtre et de réseau de découplage sont indiqués dans les
normes de référence.

7.2.2.5 Réglages
Les réglages des protections et des fonctions doivent être réalisées sur l’EST en se référant
à la CEI 60255-1 . Les réglages de temporisation doivent être à leur valeur minimale pratique.
Les essais d’im m unité doivent être effectués avec l’EST en état de repos et aussi en état de
fonctionnement lorsque cela est précisé dans la procédure d’essai. Les entrées
transform ateurs de courant doivent être réglées à leur valeur les plus sensibles.

7.2.2.6 Essais fonctionnels


Des essais fonctionnels pour vérifier le fonctionnement correct de l’EST dans la lim ite de ses
précisions doivent être effectués avant et après la réalisation des essais d’immunité. Des
essais individuels doivent aussi exiger des essais fonctionnels à réaliser durant l’essai
60255-26 © CEI : 201 3 – 69 –

d’imm unité, lorsque ceci est exigé cela est indiqué dans la procédure d’essai pour l’essai
approprié. En cas de relais m ultifonctions, il est recom mandé que le fabricant dédie au moins
une fonction de protection, en général la fonction principale, pour tester si son
fonctionnement est satisfaisant pendant l’essai d’imm unité.

7. 2. 2. 7 Véri fi cati on d u g én érateu r d ’ essai

Les sorties du générateur d’essai doivent être vérifiées comm e précisé dans la norm e de
référence.
– 70 – 60255-26 © CEI : 201 3

7. 2. 3 D é c h a rg e é l e c t ro s t a t i q u e

Voir le Tableau 1 0.

Tabl e au 1 0 – Es s ai d ’ i m m u n i t é c o n t re l e s d é c h a rg e s é l e c t ro s t a t i q u e s

I n s ta l l a ti o n d ’ essai P ro c é d u re d ’ e s s a i

Confi guration d e l’EST Voir 7. 2. 2. 2


Mesu res in itial es Les essais doi vent être réalisés selon 7. 2. 2
L’EST est placé dans son enveloppe ou arm oire dans
Détails d e m ontage/su pport des conditi ons d’i nstall ation au ssi proches q ue
possible
Les essais doivent être effectués de la façon suivante:
– la m éthode de décharge par contact est celle
préférée;
Méthod e de déch arge – l a m éthode de décharg e dans l’air doit être uti lisée
seulem ent qu and l es surfaces accessibles de l’EST
ne sont pas cond uctrices;
– la m éthode d’essai par application di recte et
indi recte d oit être utilisée.
Application d es décharg es Voir Ann exe C
Tension d’essai Voir Tableau 3, point 3. 2.
L’EST aura d es perform ances norm ales dans les
lim ites spécifiées lorsqu’ il est alim enté et soum is au x
décharg es électrostatiqu es.
L’essai d oit être réalisé avec les gran deurs
d’alim entati on au xiliai re appliq uées au x circuits
appropri és en util isant les g ran deu rs d’al im entation
égal es à leur val eu r assignée. Les valeu rs des
grand eu rs d’alim entati on d ’entrée d oivent être égal es
à la valeur de l’ état de transiti on m oins deu x fois
l’erreur assig née. voi r CEI 60255-1 : 2009, An nexe A.
Puisque l a coïncid ence entre u ne d écharge
él ectrostati qu e et un défaut pri m aire est considérée
im probable, l’ effet de l a déch arge él ectrostatiq ue su r
l’EST dans sa cond ition de fon ctionnem ent ou de
transition n’ est pas consid éré.
Les poi nts sélection nés pour l ’ appl ication de l’ essai
doi vent être ceu x qui sont accessibles à l’opérateu r
dans les conditions norm ales de service, inclu ant les
accès comm unication et les points qui sont seu lem ent
accessibles en enlevant l e capot du relais pou r aj uster
des réglages. Les aj ustem ents de régl ages q ui
Mesu res et vérifications du rant l’essai nécessitent u ne action autre q ue celle qui consiste à
enlever le capot, tell e qu e le retrait d’ un m odul e ne
sont pas inclus.
L’appl icati on d e la d écharg e en tout point d u m atériel
qui n’ est accessible qu e pou r l a réparation et la
m aintenance est en d ehors du dom aine d’ applicati on
de cette n orm e. Dans la sélecti on d es points d’ essai, il
faut faire attention au x points suivants:
– boutons, boutons poussoirs, interrupteurs,
interfaces de comm unication, etc. accessibles en
service norm al;
– points su r des capots en m atéri au x isol ants quand
les parti es cond uctrices sont proch es de l’i ntérieur
du capot;
– points sur d es parties cond uctrices n’apparten ant
pas à l’EST m ais situées à proxim ité de cel ui-ci
lorsqu’il a un capot isolant.
Pour obtenir d es résu ltats reproductibl es, il est
recom m andé qu e les poi nts d’essais choisis soient
spécifiés par le fabricant. (voi r Annexe C).
L’essai d oit être satisfaisant pour tous l es niveau x
don nés dans le Tableau 3, poi nt 3. 2.
Critères d’ acceptati on Voir Tableau 3, point 3. 2.
60255-26 © CEI : 201 3 – 71 –

7. 2. 4 I n t e rfé re n c e s ra y o n n é e s

7. 2. 4. 1 B a l a ya g e e n fré q u e n c e

Voir le Tableau 1 1 .

Tabl eau 1 1 – Essai d ’ i m m u n i t é a u x i n t e rfé re n c e s ra y o n n é e s ( b a l a y a g e e n fré q u e n c e )

I n s ta l l a ti o n d ’ essai P ro c é d u re d ’ e s s a i

Confi guration d e l’EST Voir 7. 2. 2. 2

Mesu res in itial es Les essais doi vent être réalisés selon le parag raphe
7. 2. 2.
Détails d e m ontage/su pport L’EST est placé d ans le cham p d’essai calibré.
Gamm e de fréquences à bal ayer Voir Tableau 3, point 3. 1 .
Modul ation Voir Tableau 3, point 3. 1 .
Le tem ps de repos à ch aqu e fréqu ence d oit être égal à
0, 5 s. Dans les cas où l e tem ps de fonction nem ent de
Tem ps de repos l’EST est supéri eu r à 0, 5 s, le tem ps de repos doit être
augm enté j usqu’ à ce qu e le fonctionn em ent de l’EST
soit possible.
Contrai nte d e cham p pou r l’essai Voir Tableau 3, point 3. 1 .
L’EST aura d es perform ances norm ales d ans les
lim ites spécifiées lorsqu’ il est alim enté et soum is au
cham p électrom agn étiqu e.
L’essai d oit être réalisé avec les gran deurs
d’alim entati on au xiliai re appliq uées au x circuits
appropri és en util isant les g ran deu rs d’al im entation
Mesu res et vérifications du rant l’essai égal es à leur val eu r assign ée. Les effets de cette
perturbation sur l e relais d ans son état d e transition ou
de fonctionn em ent ne sont pas considérés. Les
val eu rs des gran deu rs d’ alim entation d’entrée doivent
être égal es à la val eu r de l’ état de transition m oins
deu x fois l’erreur assign ée. Voi r CEI 60255-1 : 2009
Annexe A.
Critères d’ acceptati on Voir Tableau 3, point 3. 1 .
– 72 – 60255-26 © CEI : 201 3

7. 2. 4. 2 F ré q u e n c e s p o n c t u e l l e s

Voir le Tableau 1 2.

Tabl eau 1 2 – Es s ai d ’ i m m u n i t é a u x i n t e rfé re n c e s ra y o n n é e s

( fré q u e n c e s p o n c t u e l l e s )

I n s ta l l a ti o n d ’ essai P ro c é d u r e d ’ e s s a i

Confi guration d e l’EST Voir 7. 2. 2. 2.


Mesu res in itial es Les essais doi vent être réalisés selon 7. 2. 2.
Détails d e m ontage/su pport L’EST est placé dans le cham p d’essai calibré.
Fréq uences ponctu ell es Voir Tableau 3, point 3. 1 .
Modul ation Voir Tableau 3, point 3. 1 .
Rapport cycliq ue Voir Tableau 3, point 3. 1 .
Durée de l’essai ≥ 10 s
Le tem ps de repos pou r chaq ue poi nt de fréq uence
Tem ps de repos doit être suffisant pou r qu e l’EST passe de son état de
repos à celui de travail.
Contrai nte d e cham p pou r l’essai Voir Tableau 3, point 3. 1
L’EST est capabl e d’ avoir un fonction nem ent correct et
de se m ettre à zéro en présence d’u n cham p
électrom agnétiq ue venant d’un e source de
rayon nem ent à l a fréquence ponctuelle donnée.
Durant chaqu e essai en fréquence ponctuell e, les
Mesu res et vérifications du rant l’essai grand eu rs d’alim entati on d ’entrée d oivent être
ajustées d e façon à faire changer l ’EST de son état
norm al d’ alim entation à son état de foncti onn em ent et
m aintenues jusqu’à ce qu e l’EST fonctionn e
correctem ent. Les grand eu rs d’ alim entation d’entrée
doi vent être réajustées de façon à rem ettre l ’EST à
zéro.
Critères d’ acceptati on Voir Tableau 3, point 3. 1 .
60255-26 © CEI : 201 3 – 73 –

7. 2. 5 T ra n s i t o i re é l e c t ri q u e ra p i d e

Voir le Tableau 1 3.

Tabl e au 1 3 – Es s ai d ’ i m m u n i t é a u t ra n s i t o i re é l e c t ri q u e ra p i d e

I n s ta l l a ti o n d ’ essai P ro c é d u r e d ’ e s s a i

Confi guration d e l’EST Voir 7. 2. 2. 2.


Mesu res in itial es Les essais doi vent être réalisés selon 7. 2. 2.
Tous les m atériels au xi liai res u tilisés pou r fou rni r les
signau x perm ettant d e fai re fon ctionner n orm al em ent
l’EST et pou r vérifi er l e fonctionnem ent correct doivent
être décou plés.
L’essai d e transitoire rapi de en salves n’ est pas
appl icabl e à l’accès terre foncti onn elle si el le est
interfacée avec d es câbles d on t la lon gueur totale,
selon les spécificati ons fonctionnel les du fabricant, est
toujours inféri eu re à 3 m .
Détails d e m ontage/su pport L’essai d e transitoire rapi de en salves n’ est pas
appl icabl e à l’accès com m unication si ell e est
interfacée avec d es câbles q ui sont en fonctionn em ent
norm al con nectés en perm an ence et dont la long ueu r
totale, selon les spécificati ons fonction nell es du
fabricant, est toujours inféri eu re à 3 m .
Quan d l’EST est m onté dans u ne arm oire, les essais
peu vent être réal isés d ans cette arm oire. Aucun essai
ne d oit être réalisé su r les câbl es d’intercon nexion à
l’intérieur d e cette m êm e arm oire.

Accès concernés/m éthodes


Accès alim entation au xili aire CDN
Accès tension alternati ve et courant altern atif CDN
Accès terre fonctionn ell e Pince de cou plage capaciti ve
Entrées binai res Pince de cou plage capaciti ve
Contacts de sorties Pince de cou plage capaciti ve
Accès comm unication Pince de cou plage capaciti ve

Tension d’essai Voir Tableau 4, point 4. 2, Tabl eau 5, poi nt 5. 2,


Tableau 6, poi nt 6. 2, Tableau 7, poi nt 7. 2.

Fréq uence de répétition Voir Tableau 4, point 4. 2, Tabl eau 5, poi nt 5. 2,


Tableau 6, poi nt 6. 2, Tableau 7, poi nt 7. 2.
Voir Tableau 4, point 4. 2, Tabl eau 5, poi nt 5. 2,
Caractéristique de la forme de l’onde d’essai Tableau 6, poi nt 6. 2, Tableau 7, poi nt 7. 2.
L’EST aura d es perform ances norm ales d ans les
lim ites spécifiées lorsqu’ il est alim enté et soum is à la
perturbation.
Les essais doi vent être réalisés avec les g ran deurs
d’alim entati on extérieure appli quées au x circuits
appropri és, en utilisant les g randeurs d’ alim entation
Mesu res et vérifications du rant l’essai d’entrée à leurs valeurs assign ées. L’effet d e cette
perturbation sur l e relais d ans son état d e repos ou de
fonction nem ent est pris en con sidération. Les valeurs
des gran deu rs d’alim entation d ’entrée d oi vent être
égal es à la val eu r de l’ état d e transiti on m oins deu x
fois l’erreur assig née, voi r CEI 60255-1 : 2009 Annexe
A.

Critères d’ acceptati on Voir Tableau 4, point 4. 2, Tabl eau 5, poi nt 5. 2,


Tableau 6, poi nt 6. 2, Tableau 7, poi nt 7. 2.
– 74 – 60255-26 © CEI : 201 3

7. 2. 6 O n d e o s c i l l a t o i re fa i b l e m e n t a m o rt i e

Voir le Tableau 1 4.

Tabl eau 1 4 – Es s ai d ’ i m m u n i t é à l ’ o n d e o s c i l l a t o i re fa i b l e m e n t a m o rt i e

I n s ta l l a ti o n d ’ e ssai P ro c é d u r e d ’ e s s a i

Confi guration d e l’EST Voir 7. 2. 2. 2


Mesu res in itial es Les essais doi vent être réalisés selon 7. 2. 2.
Tous les m atériels au xi liai res u tilisés pou r fou rni r à
l’EST les signau x n écessaires à son fonctionn em ent
norm al et pou r vérifi er l e foncti onnem ent correct
Détails d e m ontage/su pport doi vent être découpl és.
Lorsq ue l’EST est m onté dans une arm oire, l es essais
peu vent être réalisés avec l’EST dans l’arm oire
L’on de d e tensi on am orti e doit avoir u ne en vel oppe
Form e d’onde avec l a 5 èm e crête qui doit être supérieu re à 50 % de l a
val eu r crête i nitial e et la 1 0 èm e crête q ui doit être
inférieu re à 50 % de l a valeur de la crête in itial e.

Temps de montée de la tension Voir Tableau 4, point 4. 3, Tabl eau 5, poi nt 5. 3 et


Tableau 6, poi nt 6. 3.

Fréquence d’oscillation de la tension Voir Tableau 4, point 4. 3, Tabl eau 5, poi nt 5. 3 et


Tableau 6, poi nt 6. 3.

I m pédance d e source Voir Tabl eau 4, point 4. 3, Tabl eau 5, poi nt 5. 3 et


Tableau 6, poi nt 6. 3.

Fréq uence de répétition Voir Tableau 4, point 4. 3, Tabl eau 5, poi nt 5. 3 et


Tableau 6, poi nt 6. 3.
Durée de l’essai 2 s m inim um
Lon gueur de con nexi on 2 m m axim um

Niveau d’essai Voir Tableau 4, point 4. 3, Tabl eau 5, poi nt 5. 3 et


Tableau 6, poi nt 6. 3.
Accès concernés/m éthodes
Accès alim entation au xili aire a CM/DM avec CDN
Entrées et sorties a CM/DM avec CDN
Accès comm unication b CM
L’EST aura d es perform ances norm ales d ans les
lim ites spécifiées lorsqu’ il est alim enté et soum is à la
perturbation.
Les essais doi vent être effectu és avec l es grand eu rs
d’alim entati on au xiliai res appli quées au x circuits
Mesu res et vérifications du rant l’essai c appropri és avec des g randeurs d’alim entation d’ entrée
égal es à leurs valeurs assignées. Les effets de cette
perturbation sur l e relais d ans son état d e repos et d e
fonction nem ent sont pris en com pte. Les valeurs d es
grandeu rs d’al im entati on d ’entrée d oivent être égal es
à la valeur de l’ état de transiti on m oins deu x fois
l’erreur assig née, voi r CEI 60255-1 : 2009 An nexe A.

Critères d’ acceptati on Voir Tableau 4, point 4. 3, Tabl eau 5, poi nt 5. 3 et


Tableau 6, poi nt 6. 3.
a L’essai en m ode com m un doit être réalisé entre chaqu e accès ind épend ant et l a terre et entre ch aq ue accès
indépendant et tous les autres accès indépen dants couplés à l a terre.
b L’essai d’ on de oscill atoire am ortie n’est pas applicabl e à l’ accès comm unication s’il est interfacé avec des
câbles q ui n e sont pas connectés en perm anence ou d ont la longu eur totale sel on la spécificati on
fonction nell e du fabricant est toujours inféri eu re à 3 m .
c Lorsq ue l e tem ps de fonction nem ent de l’EST est supérieur à 2 s, l’essai en tensi on doit être appli qu é
pen dant un tem ps plus lon g q ue le tem ps réel de fonction n em ent de l’EST. Le tem ps m inim um entre deu x
essais successifs doit être ég al à 1 s.
60255-26 © CEI : 201 3 – 75 –

7. 2. 7 O n d e d e ch o c

Voir le Tableau 1 5.
Tabl eau 1 5 – Es s ai d ’ i m m u n i té à l ’ on d e d e ch o c

I n s ta l l a ti o n d ’ e ssai P ro c é d u r e d ’ e s s a i

Confi gu ration d e l’EST Voir 7. 2. 2. 2


Mesu res in itial es Les essais doi vent être réalisés selon 7. 2. 2
L’EST doit être confi gu ré sel on 7. 2. 2.
L’EST doit être essayé i ndi vid uell em ent sur le dessus
d’un e table ou d ’un banc. Lorsque l’EST est m onté
dans un e arm oire et qu’il est seulem ent utilisé avec
d’autres appareils alors, les essais peuvent être
réalisés avec l’EST dans l’arm oire. Toutes les
exi gences concernant les supports isol ants de l’EST
doi vent être respectées comme précisé dans la norm e
de référence.
Les m atériels utilisés pour l’ essai doivent être m is en
œuvre selon 7. 2. 2. Toutes les exig ences concernant
Détails d e m ontage/su pport les supports isol ants des m atériels uti lisés pour l’essai
et des câbles d’interconnexi on doi vent être respectées
comm e précisé dans l a norm e de référence.
Les con nexi ons entre l ’EST et le générateur d’ essai
doi vent être inféri eures à 2 m et sauf dans le cas de
l’essai de l’accès comm unication, les con nexions entre
l’EST et les réseaux de coupl age/décou plage doi vent
avoir une l on gueur i nférieu re à 2 m .

La lon gu eu r m axim ale du câbl e des interfaces qui sont


écrantées ne doit pas être supéri eure à 20 m .
Accès concernés et valeurs d e la source d’im pédance
et de la capacité de cou plage a b c d
Accès alim entation au xili aire Voir Tableau 4, point 4. 4.
Accès tension alternati ve et courant altern atif Voir Tableau 6, point 6. 4.
Entrées binai res Voir Tableau 6, point 6. 4.
Contacts de sorties Voir Tableau 6, point 6. 4.
Accès comm unication a e Voir Tableau 5, point 5. 4.

Caractéristi que de l’ ond e d’ essai Voir Tableau 4, point 4. 4, Tableau 5, point 5. 4,


Tableau 6, poi nt 6. 4.
Tensions d’essai Voir Tableau 4, point 4. 4, Tableau 5, point 5. 4,
Tableau 6, poi nt 6. 4.
L’EST au ra d es perform ances norm ales d ans l es
lim ites spécifiées lorsqu ’il est alim enté et soum is à
l’essai d’im m unité à l’on de d e choc.
Les essais doivent être réali sés avec l es gran deu rs
d’alim entati on au xi liai res appl iquées sur l es circuits
appropri és en utilisant les g ran deurs d’ alim entation
d’entrées égales à leurs valeurs assignées.
L’effet d e l a pertu rbation sur le rel ais dans son état d e
fonction nem ent ou en transitoire n’est pas pris en
com pte. Les val eu rs des g randeurs d’ alim entati on
d’entrée doi vent être égal es à la val eu r de l’état de
transition m oins deux fois l’erreu r assig née. Voi r
CEI 60255-1 : 2009, Annexe A.
Mesures et vérifications du rant l’essai
Le n om bre d’ essais doit être au m oins égal à cin q
ond es de ch oc positi ves et cinq ondes de choc
nég atives. La vitesse de répétiti on doit être au
m axim um égale à 1 on de de choc par m inute.
Puisqu’il est possible q ue l’EST ait des
caractéristiqu es cou rant/tension n on lin éai re, tous l es
essais des tensi ons basses jusqu’à la tension
m axim ale et cell e-ci com prise doi vent être satisfaits.
Les ond es de choc doi vent être appliq uées entre
conducteurs et terre et entre cond ucteu rs lorsqu e cel a
est approprié. Lors de l’essai entre cond ucteu rs et
terre, la tension d’essai doit être appli quée
successivem ent entre ch aq ue conducteur et l a terre.
Critères d’ acceptati on Voir Tableau 4, point 4. 4, Tableau 5, point 5. 4,
Tableau 6, poi nt 6. 4
– 76 – 60255-26 © CEI : 201 3

a Sauf indicati on contrai re, aucun essai n’est requis pour l es accès interfacés avec des câbles dont la
long ueur totale est tou jou rs inféri eure à 1 0 m selon les spécifications fonctionn elles d u fabri cant.
b Aucun essai entre cond ucteurs n’est requis sur les accès entrées et sorties qui selon les spécifications
fonction nell es du fabricant son t toujou rs interfacés avec d es pai res écrantées et toronn ées.
c L’applicati on d e l’on de d e choc sim ule un éclai r de foudre et a donc un e forte énergi e d’i m pulsion avec un
tem ps court. Cette onde peut causer u n sign al d e dém arrage l orsqu’el le est appli qu ée sur des circuits
sensibles à fai ble im péd ance comm e par exem ple celui d es transform ateurs de courant. Si tel est le cas et
que l e rel ais (EST) prenne en com pte correctem ent cette im pulsion comm e prévu alors, le fabricant doit
préciser tout retard ou lim itations de régl ag e q ui doi vent être pris en com pte pour assu rer l’i mm unité à cette
ond e de choc.
d Lorsq ue l a capacité de coupl age a u n effet sur l e fonctionnem ent d u circuit en essai, des m éthod es
alternati ves de réseau x de cou plag e sont possibl es comm e décrit dans la norm e de référen ce, des exem ples
de tels dispositifs sont une varistance ou un tube à déch arge de gaz. Lorsq u’u n tel réseau altern atif de
couplage est utilisé, il est recomm andé de le préciser d ans le rapport d’essai.
e Pour les accès comm unication non écrantés utiliser un cou plag e comm e précisé dans le Tableau 6, poin t
6. 4.

7. 2. 8 I n t e rfé re n c e s c o n d u i t e s

7. 2. 8. 1 B a l a ya g e e n fré q u e n c e

Voir le Tableau 1 6.

Tabl eau 1 6 – Es s ai d ’ i m m u n i t é a u x i n t e rfé re n c e s c o n d u i t e s ( b a l a y a g e e n fré q u e n c e )

I n s ta l l a ti o n d ’ essai P ro c é d u re d ’ e s s a i

Confi guration d e l’EST Voir 7. 2. 2. 2.


Mesu res in itial es Les essais doi vent être réalisés selon 7. 2. 2.
Tous les m atériels au xi liai res u tilisés pou r fou rni r à
l’EST les signau x pou r un fonctionn em ent norm al et
pou r vérifi er l e fonctionn em ent correct de l’EST
doi vent être découpl és.
Détails d e m ontage/su pport Quan d l’EST est m onté dans u ne arm oire, les essais
peu vent être réal isés sur l ’arm oire.
Aucun essai n e doit être réalisé sur les câbl es
d’intercon nexion à l’i ntérieur d e l’arm oire.

Accès concernés/m éthodes Pour l a m éthode d e cou plage sur les différents accès,
voi r CEI 61 000-4-6.

Niveau d’essai Voir Tableau 4, point 4. 1 , Tabl eau 5, poi nt 5. 1 ,


Tableau 6, poi nt 6. 1 , Tableau 7, poi nt 7. 1 .

Gamm e de fréquence à bal ayer Voir Tableau 4, point 4. 1 , Tabl eau 5, poi nt 5. 1 ,
Tableau 6, poi nt 6. 1 , Tableau 7, poi nt 7. 1 .

Modul ation d’am plitu de Voir Tableau 4, point 4. 1 , Tabl eau 5, poi nt 5. 1 ,
Tableau 6, poi nt 6. 1 , Tableau 7, poi nt 7. 1 .
Le tem ps de repos à ch aqu e fréquence d oit être égal à
0, 5 s. Dans les cas où l e tem ps de fonctionnem ent de
Tem ps de repos l’EST est supéri eu r à 0, 5 s, ce tem ps de repos doit
être augm enté de façon à ce q ue le fonction nem ent de
l’EST soit possible.

Niveau d’essai Voir Tableau 4, point 4. 1 ; Tabl eau 5, poi nt 5. 1 ;


Tableau 6, poi nt 6. 1 and Tableau 7, point 7. 1 .
L’EST aura d es perform ances norm ales d ans les
lim ites spécifiées lorsqu’ il est alim enté et soum is à la
perturbation con duite.

Mesu res et vérifications du rant l’essai Les essais doi vent être réalisés avec les g ran deurs
d’alim entati on auxiliai res appli quées sur les circuits
appropri és en util isant les g randeurs d’al im entation
d’entrées égales à l eurs valeurs assignées. L’effet de
la pertu rbati on su r le relais dans son état d e
fonction nem ent ou en transitoi re n’est pas pris en
60255-26 © CEI : 201 3 – 77 –

I n s ta l l a ti o n d ’ essai P ro c é d u re d ’ e s s a i

com pte. Les valeurs des grand eurs d’ alim entati on


d’entrée doi vent être égales à l a val eur d e l’état d e
transition m oins deu x fois l’erreur assignée.

Critères d’ acceptati on Voir Tableau 4, point 4. 1 ; Tabl eau 5, poi nt 5. 1 ;


Tableau 6, poi nt 6. 1 et Tableau 7, poi nt 7. 1 .

7. 2. 8. 2 F ré q u e n c e s p o n c t u e l l e s

Voir le Tableau 1 7.

Tabl eau 1 7 – Es s ai d ’ i m m u n i t é a u x i n t e rfé re n c e s c o n d u i t e s

( fré q u e n c e s p o n c t u e l l e s )

I n s ta l l a ti o n d ’ essai P ro c é d u r e d ’ e s s a i

Confi guration d e l’EST Voir 7. 2. 2. 2.


Mesu res in itial es Les essais doi vent être réalisés selon 7. 2. 2.
Tous les m atériels au xi liai res u tilisés pou r fou rni r à
l’EST les signau x pou r un fonctionn em ent norm al et
pou r vérifi er l e fonctionnem ent correct de l’EST
doi vent être découpl és.
Détails d e m ontage/su pport Quan d l’EST est m onté dans u ne arm oire, les essais
peu vent être réalisés sur l ’arm oire.
Aucun essai n e doit être réalisé sur les câbl es
d’intercon nexion à l’i ntérieur d e l’arm oire.
Accès concernés/m éthodes Pour l a m éthode d e cou plage sur les différents accès
concernés voir CEI 61 000-4-6.
Fréq uences ponctuell es Voir Tableau 4, point 4. 1 ; Tabl eau 5, poi nt 5. 1 ;
Tableau 6, poi nt 6. 1 and Tableau 7, point 7. 1 .
Modul ation d’am plitu de Voir Tableau 4, point 4. 1 ; Tabl eau 5, poi nt 5. 1 ;
Tableau 6, poi nt 6. 1 and Tableau 7, point 7. 1 .
Rapport cycliq ue Voir Tableau 4, point 4. 1 ; Tabl eau 5, poi nt 5. 1 ;
Tableau 6, poi nt 6. 1 and Tableau 7, point 7. 1 .
Durée de l’essai ≥ 10 s
Le tem ps de repos à ch aqu e fréqu ence ponctu elle doit
Tem ps de repos être suffisant pou r q ue l’EST passe de son état de
repos à celui de fonctionn em ent.
Niveau d’essai Voir Tableau 4, point 4. 1 ; Tabl eau 5, poi nt 5. 1 ;
Tableau 6, poi nt 6. 1 and Tableau 7, point 7. 1 .
L’EST est capabl e de fonction n er et d e se rem ettre à
zéro correctem ent en présence d’un e pertu rbati on
conduite à u ne fréq uence ponctuelle don née.
Durant chaqu e essai en fréquence ponctuell e, les
grand eu rs d’alim entati on d ’entrée d oivent être
Mesu res et vérifications du rant l’essai ajustées de façon à ce que l ’EST change de son état
alim enté norm alem ent à celui de fonctionn em ent et
m aintenu jusqu’au fonctionn em ent correct de l’EST.
Les gran deu rs d’alim entation d ’entrée d oi vent alors
être réajustées pou r entrai ner l a rem ise à zéro de
l’EST.
Critères d’ acceptati on Voir Tableau 4, point 4. 1 ; Tabl eau 5, poi nt 5. 1 ;
Tableau 6, poi nt 6. 1 and Tableau 7, point 7. 1 .
– 78 – 60255-26 © CEI : 201 3

7. 2. 9 I m m u n i t é à l a fré q u e n c e d u ré s e a u s u r l e s e n t ré s d . c . b i n a i re s

Voir le Tableau 1 8.

Tabl eau 1 8 – Essai d ’ i m m u n i t é à l a fré q u e n c e d u ré s e a u

I n s ta l l a ti o n d ’ essai P ro c é d u r e d ’ e s s a i

Confi guration d e l’EST Voir 7. 2. 2. 2.


Mesu res in itial es Les essais doi vent être réalisés selon 7. 2. 2.

Détails d e m ontage/su pport L’EST est placé d ans des con d itions norm ales de
fonction nem ent.
Accès concernés et valeurs d e l’im pédance de sou rce Voir Tableau 6, point 6. 5.
et de la capacité de cou plage a b

Fréquence d’ essai Fréq uence assign ée, par exem ple 1 6, 7 H z, 50 Hz or


60 H z.
Tension d’essai Voir Tableau 6, point 6. 5.
Les essais doi vent être effectu és avec l es grandeu rs
d’alim entati on au xiliai res égal es à la val eu r assign ée
appl iqu ée su r l ’accès alim entation au xi liai re de
puissance en d. c.
L’essai en tension doit seulem ent être appli qué avec
les entrées d. c. bin aires non al im entées pou r vérifi er
s’il fonction ne vraim ent correctem ent. Si les entrées
Mesu res et vérifications du rant l’essai binaires cou rant contin u ont un e tem porisation
logiciel le ou m atériel le al ors, l’ essai en tension est d e
préférence d’ abord appliq ué avec la tem porisation
rég lée à sa valeu r m inim al e. Si cela entrai ne u ne
défail lance alors, il est recom mand é d’augm enter la
val eu r de l a tem porisati on et d e réappliq uer la tensi on
d’essai jusq u’à ce que l ’essai soit réussi; la val eu r d e
cette tem porisation final e d es entrées bi nai res cou rant
continu doit être enregistrée d ans le rapport d’essai.
Critères d’ acceptati on Voir Tableau 6, point 6. 5.
NOTE 1 Ann exe A: contient d es inform ations tech niq ues sur les essais d’imm unité à la fréq uence du réseau
NOTE 2 Ann exe B: contient des inform ations d e fon d pour l es essais d’imm unité à la fréqu ence du réseau.
a L’essai en m ode différentiel n ’est pas exigé su r l es accès d’entrées binaires courant con tinu q ui selon la
spécification fonction nel le d u fabricant ont toujours u n e interface au travers de câbles écrantés
m ulticonducteu rs ou d e pai res toronnées (écrantées ou non ).
b Sauf indicati on contrai re, aucun essai n’ est req uis pou r les accès d’entrées bin aires courant contin u avec
des câbles d ont la longueu r totale est toujours i nférieure à 1 0 m sel on les spécifications fonction nell es d u
fabricant.
60255-26 © CEI : 201 3 – 79 –

7. 2. 1 0 C h a m p m a g n é t i q u e à l a fré q u e n c e d u ré s e a u

Voir le Tableau 1 9.

Tabl eau 1 9 – Es s ai d ’ i m m u n i té au c h a m p m a g n é t i q u e à l a fré q u e n c e d u ré s e a u

I n s ta l l a ti o n d ’ essai P ro c é d u re d ’ e s s a i

Confi guration d e l’EST Voir 7. 2. 2. 2.


Mesu res in itial es Les essais doi vent être réalisés selon 7. 2. 2.
Détails of m ontage/support L’EST est placé d ans le cham p m agnétiqu e d’u ne
bobi ne d ’in duction de 1 m × 1 m
La fréqu ence assig née du réseau d e l’EST qui est
Fréq uence d’ essai utilisée l à où il est destiné à être instal lé, (par exem ple
50 H z ou 60 Hz).
Conti nu: ≥ 60 s
Durée de l’essai
Cou rte d urée: 1 s à 3 s
Contrai nte d e cham p d’essai Voir Tableau 3, point 3. 3.
L’EST aura d es perform ances norm ales d ans les
lim ites spécifiées lorsqu’ il est alim enté et soum is au
cham p m agnétique.
Les essais doi vent être effectu és avec l es grand eu rs
d’alim entati on auxiliai res appli quées au x circuits
Mesu res et vérifications du rant l’essai appropri és avec des g ran deurs d’alim entation d’ entrée
égal es à leurs valeurs assignées. Les effets de cette
perturbation sur l e rel ais d ans son état d e repos et d e
fonction nem ent sont pris en com pte. Les val eurs d es
grand eu rs d’alim entati on d ’entrée d oivent être égal es
à la valeur de l’ état de transiti on m oins deu x fois
l’erreur assig née voir l a CEI 60255-1 : 2009, Annexe A.
Critères d’ acceptati on Voir Tableau 3, point 3. 3.
– 80 – 60255-26 © CEI : 201 3

7. 2. 1 1 C re u x d e t e n s i o n e t i n t e rru p t i o n s d e l a t e n s i o n d ’ a l i m e n t a t i o n ( c o u ra n t

a l t e rn a t i f o u c o n ti n u )

Voir le Tableau 20.

Tabl eau 2 0 – Es s ai d e c re u x d e t e n s i o n e t d ’ i n t e rru p t i o n s d e t e n s i o n

I n s ta l l a ti o n d ’ e ssai P ro c é d u r e d ’ e s s a i

Les accessoires d oi vent être conn ectés selon l es spécifications du


fabricant.
L’EST doit être d ans un état de repos.
Confi gu ration d e l’EST
La m oitié des entrées bin aires et la m oitié des relais d e sortie
doi vent être alim entées.
Les éventuels m odules d e comm unication doivent être acti vés.
Mesu res initial es Les essais doi vent être réalisés selon 7. 2. 2.
P ro c é d u re d ’ e s s a i c o m p l é m e n ta i re

Choi x d es poi nts d’applicati on Les essais doi vent être appliq u és au x conn exi ons d e l’alim entation
de puissance.
Niveau x d ’essai Voir Tableau 4, point 4. 5 et poi nt 4. 6.
Nom bre d ’essais 3
Durée entre les essais ≥ 10 s
Mesu res et vérifications du rant l’essai La tensi on d ans cette n orm e utilise la tensi on assig née de l’EST
comm e référence pour l a spéci fication d u ni veau d’ essai en tension.
Lorsque l’EST à une plage d e tension assignée, la procédu re d’essai
doit être appli quée à l a plus fai ble tension d éclarée dans la pl age.
Exem ple: L'EST avec un e pl ag e de tension assignée com prise entre
1 00 V et 200 V ± 20 % est de préférence testé à 80 V.
Pour l es EST prévus d’ être ali m entés en courant conti nu seu ls les
essais relatifs au courant conti nu d oivent être réal isés. Pour l es EST
prévus d ’être alim entés en cou rant alternatifs, seuls les essai s
rel atifs au cou rant alternatif d oivent être réalisés. Pou r les EST
prévus d ’être alim entés aussi bien en cou rant alternatif q u’en
courant contin u les d eux essai s doivent être réalisés.
Critères d’ acceptati on Voir Tableau 4, point 4. 5 et poi nt 4. 6.
60255-26 © CEI : 201 3 – 81 –

7. 2. 1 2 O n d u l ati on d e ten si on su r l ’ al i m en tati on c o u ra n t c o n t i n u

Voir le Tableau 21 .

Tabl eau 21 – Es s ai d ’ o n d u l ati o n d e te n s i o n

I n s ta l l a ti o n d ’ e ssai P ro c é d u r e d ’ e s s a i

Les accessoires d oi vent être connectés selon l es spécifications du


fabricant.
L’EST doit être d ans un état de repos.
Confi gu ration d e l’EST
La m oitié des entrées binaires et la m oitié des relais d e sortie
doi vent être alim entées.
Les éventuels m odules d e comm unication doivent être acti vés.
Mesu res initial es Les essais doi vent être réalisés selon 7. 2. 2.
P ro c é d u re d ’ e s s a i c o m p l é m e n ta i re

Choi x d es poi nts d’applicati on Les essais doi vent être appliq u és au x conn exi ons d e l’alim entation
de puissance.
Niveau d’essai Voir Tableau 4, point 4. 7.
Durée de l’essai 1 m in
Mesu res et vérifications du rant l’essai La tensi on d ans cette n orm e utilise la tensi on assig née de l’EST
comm e référence pour l a spéci fication d u ni veau d’ essai en tension.
Lorsque l’EST à une plage d e tension assignée, la procédu re d’essai
doit être appli quée à l a fois à l a plus fai ble tension et à la plu s forte
tension déclarée dans la pl age. Exem ple: l'EST avec u ne plage d e
tension assignée com prise entre 1 00 V et 200 V ± 20 % est de
préférence testé à 80 V et 240 V.
Critères d’ acceptati on Voir Tableau 4, point 4. 7.
– 82 – 60255-26 © CEI : 201 3

7. 2. 1 3 E s s a i s d e c o u p u re /ré t a b l i s s e m e n t p ro g re s s i fs

Voir le Tableau 22.

Tabl e au 2 2 – Essai d e c o u p u re e t d e ré t a b l i s s e m e n t p ro g re s s i f

I n s ta l l a ti o n d ’ e ssai P ro c é d u r e d ’ e s s a i

Les accessoires d oi vent être conn ectés selon l es spécifications du


fabricant.
L’EST doit être d ans un état de repos.
Confi gu ration d e l’EST
La m oitié des entrées binaires et la m oitié des relais d e sortie doit
être alim entée.
Les éventuels m odules d e comm unication doivent être acti vés.
Mesu res initial es Les essais doi vent être réalisés selon 7. 2. 2.
P ro c é d u re d ’ e s s a i c o m p l é m e n ta i re

Choi x d es poi nts d’applicati on Les essais doi vent être appliq u és au x conn exi ons d e l’alim entation
de puissance.
Niveau d’essai Voir Tableau 4, point 4. 8.
Mesu res et vérifications du rant l’essai La tensi on d ans cette n orm e utilise la tensi on assig née de l’EST
comm e référence pour l a spéci fication d u ni veau d’ essai en tension.
Lorsque l’EST à une plage d e tension assignée, la procédu re d’essai
doit être appli quée à l a plus fai ble tension d éclarée dans la pl age.
Exem ple: l'EST avec une plage de tension assign ée com prise entre
1 00 V et 200 V ± 20 % est de préférence testé à 80 V (voir
Figu re 2).
Critères d’ acceptati on Voir Tableau 4, point 4. 8.

U (V) 60 s 5 min 60 s
Ue

Ue min

SUL
SDL

0
0 t (s)
IEC 1 204/1 3

Lég en d e

U
e tension assignée d’ alim entation auxili aire
U
e m in lim ite basse de Ue
SDL lim ite de coupu re
SUL lim ite de rétablissem ent

F i g u re 2 – E s s a i d e c o u p u re / ré t a b l i s s e m e n t p ro g re s s i f
60255-26 © CEI : 201 3 – 83 –

8 Critères d’acceptation
8.1 Emission
L’EST doit satisfaire les exigences de cette spécification si les émissions rayonnées et
conduites durant les essais n’excèdent pas les limites données dans le Tableau 1 et le
Tableau 2.

Les résultats d’une évaluation de l’ém ission d’EST ayant au moins un de chaque type de
module identique peuvent être appliqués aux configurations ayant plus d’un de chaque type
de ces m odules. Cela est perm is car il a été constaté que, en principe, les émissions de
modules identiques ne s’additionnent pas. Ce principe de non addition peut être appliqué aux
dispositifs de protection faits d’un nom bre de relais de mesure identiques.
– 84 – 60255-26 © CEI : 201 3

8. 2 I m m u n i té

Voir le Tableau 23.

Tabl eau 2 3 – C ri t è re s d ’ a c c e p t a t i o n pou r l es es sai s d ’ i m m u n i té

C ri t è re s F o n cti o n C o n d i ti o n s d ’ a c c e p t a ti o n

A Protection Perform ance norm ale dans l es lim ites spécifiées, durant et
après l’essai.
Com m ande et contrôle Perform ance norm ale dans l es lim ites spécifiées, durant et
après l’essai.
Mesu re Pas de dégradati on durant l’ essai.
I nterface hom m e-m achine Pas de dégradati on ou pas de perte de fonction du rant
intég ré et alarm es visuel les l’essai. Pas de perte des donn ées en registrées.
Don nées de com m unication b Possibl e au gm entation du tau x de bit d’ erreur m ais pas de
perte de don nées transm ises.
Entrée bin aire, sorti e binaire, Aucun chan gem ent d‘ état indésirabl e n’ est adm is durant
contacts de sorti e l’essai. a
B Protection Perform ance norm ale dans l es lim ites spécifiées, durant et
après l’essai.
Com m ande et contrôle Perform ance norm ale dans l es lim ites spécifiées, durant et
après l’essai.
Mesu re Dégradation tem poraire du rant l’essai avec auto réparation à
la fin d e l’essai. Pas de perte d es don nées enregistrées.
I nterface hom m e-m achine Dégradation tem poraire ou perte de foncti on d urant l’essai
intégré et alarm es visuelles avec auto réparation à la fin de l’essai. Pas de perte d es
don nées enregistrées.
Don nées de com m unication b Possibl e au gm entation du tau x de bit d’ erreur m ais pas de
perte de don nées transm ises.
Entrée bin aire, sorti e binaire, Aucun chan gem ent d‘ état non désiré n’est adm is durant
contacts de sorti e l’essai. a
C Protection Perte temporaire d e la fonction à conditi on que l a fonction
soit auto réparabl e.
Aucun fonctionn em ent indési rable n e doit être observé.
Com m ande and contrôle Perte temporaire de la fonction à conditi on que l a fonction
soit auto réparabl e.
Aucun fonctionn em ent indési rable n e doit être observé
Mesu re Perte temporaire de la fonction à conditi on que l a fonction
soit auto-réparable.
I nterface hom m e-m achine Perte temporaire de la fonction à conditi on que l a fonction
intégré et alarm es visuelles soit auto–réparable.
Don nées de com m unication b Perte tem poraire d e la fonction à conditi on q ue l a fonction
soit auto-réparabl e. Perte possible d e donn ées transm ises.
Entrée bin aire, sorti e binaire, Aucun chan gem ent d‘ état non désiré n’est adm is durant
contacts de sorti e l’essai. a
Si le fabricant a une spécification d em andée par cette norm e qui entrai ne u ne dégrad ation du rant ou après
l’essai, cette spécification doit être fournie dans la docum entation d u prod uit disponible à l’ utilisateu r.
a Pour l es entrées bi nai res, le fabricant d oit préciser l es valeurs m inim ales de filtrage pou r lesquelles l’essai
était satisfaisant.
b A part l es accès com m unication pour les fonctions de protection ou de com m ande. . Pour ces critères
d’acceptati on, voi r protection ou comm ande et contrôl e.
60255-26 © CEI : 201 3 – 85 –

9 Rapport d’essai
Un rapport d’essai donnant les procédures d’essai et les résultats doit toujours être produit.

Le rapport d’essai doit toujours inclure au moins les inform ations de base suivantes:
a) un titre (par exem ple “rapport d’essai”);
b) le nom et l’adresse du laboratoire et le lieu où les essais ont été réalisés, si différent de
l’adresse du laboratoire;
c) une identification unique du rapport d’essai (comm e le numéro de série), et sur chaque
page une identification pour s’assurer que la page fait partie du rapport d’essai et une
identification claire précisant le fin du rapport d’essai;
d) le nom et l’adresse du client;
e) une description de l’état de l’EST, et son identification sans ambiguïté;
f) la ou les dates de réalisation de l’essai;
g) les résultats d’essai avec le cas échéant, les unités de mesure;
h) le ou les nom s, la ou les fonctions, et le ou les signatures ou identification équivalente des
personnes ayant autorisé le rapport d’essai ;
i) si cela est pertinent, un relevé des effets des résultats concernant seulem ent l’EST.
En plus de ces inform ations de base, les rapports d’essai doivent comporter les
renseignem ents suivants:
j) les conditions d’essai;
k) les méthodes d’essai;
l) le m atériel de mesure utilisé;
m) la conclusion d’essai (succès/échec);
n) les avis et interprétations, si appropriés et nécessaires.
– 86 – 60255-26 © CEI : 201 3

Annexe A
(normative)
Essais d’immunité à la fréquence du réseau sur les entrées binaires

A.1 Généralités
Les essais d’immunité à la fréquence du réseau sont basés sur les concepts décrits dans la
CEI 61 000-4-1 6, référant éventuellement à cette publication . Le but de ces essais est de
confirm er que le m atériel en essai (EST) fonctionnera correctement quand il sera alimenté et
soumis à des perturbations de courte durée, conduites, en mode com m un et différentiel à la
fréquence du réseau et appliquées aux entrées d.c. binaires, à la fréquence assignée de
l’EST, par exemple 1 6, 7 H z, 50 H z ou 60 H z

L’essai de schémas avec fils pilotes entre sous-stations n’est pas couvert par ces essais.

A.2 Classes d’essai


Les niveaux d’essai de Classe A sont applicables aux sous-stations ayant de forts courants
de défaut à la terre et où les pratiques standards de câblage permettent de câbler les entrées
d.c. binaires aux contacts auxiliaires des stations prim aires par l’interm édiaire de boucles
ouvertes. Une boucle ouverte existe lorsque les fils d’aller et de retour sont possibles dans
différents câbles m ulticonducteurs et qu’il peut donc y avoir le risque de différents chemins
possibles. Ceci entraine une grande surface potentielle de flux de fuite magnétique avec le
courant primaire de défaut à la terre, ce qui créé des niveaux importants d’interférence à la
fréquence du réseau.

Les niveaux d’essai de Classe B sont applicables soit à:


• des sous-stations ayant de faibles courants de défaut à la terre par exem ple des sous-
stations utilisant une neutre isolé ou une bobine de Petersen; ou
• lorsque les pratiques de câblage garantissent que les entrées d.c. binaires ne sont pas
câblées en boucle ouverte; les boucles ouvertes sont évitées en utilisant le m êm e câble
m ulticonducteur pour l’aller et le retour; ceci assure que l’aller et le retour sont vraiment
les mêmes et que la surface du flux de fuite m agnétique avec les courants de défaut
prim aire est faible m inim isant ainsi le niveau d’interférence à la fréquence du réseau.

A.3 Matériel d’essai


A.3.1 Généralités
Lorsque l’essai en fréquence n’est pas à la fréquence du réseau, un autre générateur d’essai
devra être utilisé, par exem ple com me décrit dans 6. 1 . 3 de la CEI 61 000-4-1 6: 1 998,
Amendement 2: 2009.

A.3.2 Générateu r d’essai


Le générateur d’essai consiste généralem ent en un transformateur variable connecté au
réseau de distribution et un transform ateur d’isolem ent. Le générateur doit avoir les
caractéristiques suivantes:

Forme d’onde: Sinusoïdale, distorsion harmonique totale inférieure à 1 0 %.


Gamm e de tension de 1 00 V à 300 V efficace ( ± 1 0 %).
sortie en circuit ouvert:
60255-26 © CEI : 201 3 – 87 –

I mpédance: I nférieure à 1 50 Ω .
Fréquence: Fréquence assignée choisie ( ± 0, 5 H z).
Comm utation on/off de Synchronisée au passage à zéro (0° ± 1 0°) ou augm entée
la tension de sortie: de zéro/ décroitre de zéro (voir A.4. 3).
A. 3 . 3 V é ri fi c a t i o n du g é n é ra t e u r d ’ e s s a i

De façon à s’assurer que les résultats peuvent être significativement com parés lorsque l’on
utilise différents générateurs d’essai , les caractéristiques suivantes des générateurs doivent
être calibrées ou vérifiées:
– forme d’onde de la tension de sortie;
– im pédance du générateur de tension ;
– précision en fréquence;
– précision de la tension de sortie en circuit ouvert.
Les vérifications doivent être faites avec une sonde de tension et un oscilloscope ou d’autres
appareils de mesure équivalents avec une bande passante m inim ale de 1 MH z. La précision
de ces appareils doit être m eilleure que ± 5 %.

A. 3 . 4 Ré s e a u x d e c o u p l a g e

Les réseaux de couplage permettent de faire à la fois les essais en tension en m ode comm un
et en m ode différentiel (voir Figures A. 1 , A. 2 et A. 3 pour des installations d’essai type).

Les réseaux consistent en la mise en série d’une résistance et d’une capacité. Pour les
essais, les valeurs de ces com posants sont indiquées dans le Tableau 6, point 6. 5, et les
valeurs de chaque couple de capacité et résistance doivent être appareillées avec une
tolérance de 1 %.

A. 4 I n s ta l l a ti o n d ’ e s s a i

A. 4 . 1 G é n é ra l i t é s

Les Figures A. 1 et A. 2 m ontrent des installations d’essai type pour les essais en mode
différentiel et la Figure A. 3 montre une installation d’essai type pour les essais en mode
comm un. Les connexions entre l’EST et le réseau de couplage doivent être inférieures à 2 m .

A. 4 . 2 C o n n e xi o n s à l a t e rre

Les exigences de m ise à la terre pour sécurité de l’EST, des m atériels auxiliaires et du
dispositif d’essai doivent être respectées à tout mom ent. En plus, l’EST doit être connecté au
système de mise à la terre selon les spécifications du fabricant.

A. 4 . 3 M a t é ri e l s a u x i l i a i re s

Tous les matériels auxiliaires utilisés pour fournir à l’EST les signaux nécessaires à son
fonctionnement normal et pour vérifier son fonctionnement correct, doivent être découplés de
façon à ce que l’essai en tension n’affecte pas les m atéri els auxiliaires.

Les m atériels auxiliaires nécessaires pour le fonctionnem ent de l’EST défini selon les
spécifications (par exemple, le matériel de comm unication, modem, imprim ante, etc.), ainsi
que les matériels auxiliaires nécessaires pour assurer tout transfert de données et contrôle
des fonctions doivent être connectés à l’EST. Cependant, le nombre de câbles à surveiller
doit être autant que possible limité en lim itant l’attention aux fonctions représentatives.
– 88 – 60255-26 © CEI : 201 3

Le générateur d’essai doit être connecté à l’accès entrée binaire courant continu de l’EST.
Lorsque cet accès consiste en plusieurs circuits identiques, seulem ent un nombre
représentatif de ces circuits comm e défini par le fabricant ont besoin d’être essayés pour
vérifier le fonctionnem ent correct de l’EST.

La tension d’essai doit être appliquée pendant au m oins 1 0 s de façon à ce que les
performances de l’EST puissent être vérifiées. La tension d’essai doit être appliquée comm e
indiqué dans les Figures A. 1 , A. 2 et A.3.

Lorsqu’un générateur d'essai avec synchronisation au zéro de tension n’est pas disponible,
de façon à éviter des transitoires indésirables à l’ouverture et à la fermeture, la tension
d’essai peut être augmentée de zéro à la valeur demandée au début de l’essai et réduite à
zéro à la fin de l’essai. Les durées de ce démarrage et de cette phase finale ne doivent pas
être incluses dans le temps d’essai et ils doivent avoir chacun une durée de m oins de 20 %
du tem ps d’application de la tension pour l’essai dem andé.

Générateur d’essai
1 50 V

R = 1 00 Ω R = 1 00 Ω Réseau de
couplage
C = 0,1 µF C = 0,1 µF

EST

Commun

IEC 1205/13

Figu re A.1 – Exemple d’ essais de Classe A en mode différentiel

Générateur d’essai
1 00 V

R = 1 00 Ω R = 1 00 Ω Réseau de
couplage
C = 0,047 µF C = 0,047 µF

EST

Commun
IEC 1206/13

Figu re A.2 – Exemple d’essais de Classe B en mode différentiel


60255-26 © CEI : 201 3 – 89 –

Générateur d’essai
300 V

R = 220 Ω R = 220 Ω Réseau de


couplage
C = 0,47 µF C = 0,47 µF

EST

Commun
IEC 1207/13

Figu re A.3 – Exemple d’essais en mode commun


– 90 – 60255-26 © CEI : 201 3

An n e x e B

(informative)
I n fo rm a ti o n s g é n é ra l e s c o n c e rn a n t

l e s e s s a i s à fré q u e n c e i n d u s tri e l l e

Les tensions d’interférence conduites sont générées par différentes sources d’interférences et
peuvent être transm ises par couplage inductif ou capacitif avec les câbles d’alimentation, les
câbles de signalisation et les mises à la terre des relais de m esure et des dispositifs de
protection.

L’environnement dans lequel le m atériel est utilisé est aussi en lien avec les sources
d’interférence qui peuvent être présentes dans différents types d’installations, par exem ple
des sous-stations et est aussi en lien avec le couplage qui est donné par l’installation norm ale
des m atériels c'est-à-dire les alim entations de puissance, le lieu, le type de câbles, les mises
à la terre, les écrans, le filtrage etc.

Dans le cas d’un défaut à la terre dans une sous-station, un courant im portant passe dans la
mise à la terre et fait ainsi m onter le potentiel électrique des différentes parties de la sous-
station par rapport à chacune des autres parties et par rapport à la terre. Ceci signifie que les
câbles utilisés pour les signaux entre m atériels sont sujets dans le cas de systèmes équilibrés
à des tensions de mode comm un à la fréquence du réseau. De plus dans les systèmes
déséquilibrés, une tension de mode différentielle est générée avec une amplitude dépendant
du déséquilibre entre le circuit d’entrée et le matériel et de l’arrangem ent ph ysique du
câblage des signaux.

De telles tensions d’interférence de la fréquence du réseau peuvent aussi être induites dans
les câbles de signalisation sans aucun courant de défaut à la terre par exem ple, si un câble
de puissance et un câble de signalisation chem inent en parallèle et proches l’un de l’autre.

Il est reconnu que ces types d’interférences apparaitront à certain degré sur tous les circuits
en cuivre à l’intérieur d’une sous-station et ce sont ces interférences que ces essais à la
fréquence du réseau essaient de sim uler.

Il faut noter que bien qu’un couplage capacitif soit utilisé pour faire l’essai en tension sur le
câblage signalisation, cet essai reste valable pour sim uler à la fois les interférences par
couplage inductif et capacitif car ces deux interférences entraînent une tension induite sur les
câbles de signalisation.
60255-26 © CEI : 201 3 – 91 –

Annexe C
(normative)
Application de décharges pour l’essai
de décharge électrostatique
La m éthode d’essai de décharge par contact (méthode préférée) doit être appliquée aux
surfaces conductrices de l’EST.

La m éthode d’essai de décharge dans l’air doit seulement être utilisée lorsque les surfaces
accessibles de l’EST sont non conductrices.

La tension d’essai doit être augm entée depuis le minim um jusqu’au niveau d’essai
sélectionné, de façon à déterminer tout seuil de défaillance

I l est recomm andé que le générateur de décharge comporte un dispositif d’ enregistrement


pour indiquer la réelle décharge appliquée au niveau correspondant.

L’essai doit être réalisé avec des décharges uniques. Pour chaque point d’essai sélectionné,
il doit être répété au m oins 1 0 fois avec une polarité positive et 1 0 fois avec une polarité
négative de la tension d’essai.

L’intervalle de temps recomm andé entre des décharges simples successives est de 1 s, bien
que des intervalles plus longs puissent être nécessaires pour déterminer si une défaillance
est apparue ou pas.

Les points où les décharges doivent être appliquées peuvent être sélectionnés par une
exploration faite à une vitesse de répétition de 20 décharges par seconde ou plus.

Le générateur de décharge doit être maintenu perpendiculaire à la surface sur laquelle la


décharge est appliquée. Ceci améliore la répétitivité des résultats d’essai.

Pendant l’application de la décharge, le câble retour de décharge du générateur doit être


maintenu à une distance d’au moins 0, 2 m de l’EST et des surfaces m étalliques autres que le
plan de masse.

Pour les essais de décharge par contact, la pointe de l’électrode de décharge doit toucher
l’EST avant de manœuvrer l’interrupteur de décharge.

Dans le cas de surfaces peintes recouvrant un substrat conducteur au point d’essai choisit, la
procédure suivante doit être mise en œuvre:
• lorsque la couche n’est pas déclarée par le fabricant comm e étant une couche isolante,
alors la pointe du générateur doit pénétrer la couche de façon à entrer en contact avec le
substrat conducteur;
• lorsque la couche est déclarée comm e étant isolante avec une tenue déclarée en tension
supérieure à la tension d’essai appropriée pour l’essai par décharge dans l’air, l’essai de
décharge par contact ne doit pas être appliqué à une telle surface.
Pour les essais de décharge dans l’air, la pointe de décharge de l’électrode doit approcher et
toucher l’EST aussi rapidem ent que possible sans causer de domm ages mécaniques. Après
chaque décharge, l’électrode de décharge doit être retirée de l’EST, et le générateur doit être
redéclenché et réinitialisé pour la prochaine décharge sim ple. Cette procédure doit être
répétée j usqu’à ce que les décharges soient terminées.

Pour la méthode d’essai des m atériels non reli és à la terre voir la CEI 61 000-4-2.
– 92 – 60255-26 © CEI : 201 3

Bibliographie
CEI 61 000-4 (toutes les parties), Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Normes
de référence
CEI /TS 61 000-6-5, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 6-5: Normes génériques –
Immunité pour les environnements de centrales électriques et de poste

_____________
I N TE RN ATI O N AL

E LE CTRO TE CH N I CAL

CO M M I S S I O N

3, ru e d e Va re m bé

P O B ox 1 3 1

CH -1 2 1 1 G e n e va 2 0

S wi tze rl a n d

Te l : + 41 22 91 9 02 1 1

F a x: + 4 1 22 91 9 03 00

i n fo @i e c. ch

www. i e c. ch

Vous aimerez peut-être aussi