Interfermetro

Esquema de un interfermetro de Jamin.

El interfermetro es un instrumento que emplea la interferencia de las ondas de luz para medir con
gran precisin longitudes de onda de la luz misma.
Hay muchos tipos de interfermetros, en todos ellos se utilizan dos haces de luz que recorren
dos trayectorias pticas distintas, determinadas por un sistema de espejos y placas que, finalmente,
convergen para formar un patrn de interferencia.
Contenido
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- 1 Usos de interfermetro
- 2 Medicin de la longitud de onda de la luz
o 2.1 Medicin de distancias
o 2.2 Medicin de ndices de refraccin
o 2.3 El interfermetro en Astronoma
o 2.4 El experimento de Michelson y Morley
- 3 Vase tambin
- 4 Enlaces externos
[editar]Usos de interfermetro
[editar]Medicin de la longitud de onda de la luz
Para medir la longitud de onda de un rayo de luz monocromtica se utiliza un interfermetro dispuesto
de tal forma que un espejo situado en la trayectoria de uno de los haces de luz puede desplazarse una
distancia pequea, que puede medirse con precisin, con lo que es posible modificar la trayectoria
ptica del haz. Cuando se desplaza el espejo una distancia igual a la mitad de la longitud de onda de la
luz, se produce un ciclo completo de cambios en las franjas de interferencia. La longitud de onda se
calcula midiendo el nmero de ciclos que tienen lugar cuando se mueve el espejo una distancia
determinada.
[editar]Medicin de distancias
Cuando se conoce la longitud de onda de la luz empleada, pueden medirse distancias pequeas en la
trayectoria ptica analizando las interferencias producidas. Esta tcnica se emplea, por ejemplo, para
medir el contorno de la superficie de los espejos de los telescopios.
[editar]Medicin de ndices de refraccin
Los ndices de refraccin de una sustancia tambin pueden medirse con un interfermetro, y se calculan
a partir del desplazamiento en las franjas de interferencia causado por el retraso del haz.
[editar]El interfermetro en Astronoma


Imagen obtenida con un interfermetro de Michelson utilizando luz lser.
En astronoma el principio del interfermetro tambin se emplea para medir el dimetro de estrellas
grandes relativamente cercanas como, por ejemplo, Betelgeuse. Como los interfermetros modernos
pueden medir ngulos extremadamente pequeos, se emplean tambin en este caso en estrellas
gigantes cercanas para obtener imgenes de variaciones del brillo en la superficie de dichas estrellas.
Recientemente ha sido posible, incluso, detectar la presencia de planetas fuera del Sistema Solar a
travs de la medicin de pequeas variaciones en la trayectoria de las estrellas. El principio del
interfermetro se ha extendido a otras longitudes de onda y en la actualidad est generalizado su uso
en radioastronoma.
[editar]El experimento de Michelson y Morley
Artculo principal: Experimento de Michelson y Morley
Con el interfermetro se realiz uno de los experimentos ms famosos de la historia de la fsica, con el
cual ambos investigadores intentaron medir la velocidad de la Tierra en el supuesto ter luminfero. En
dicho experimento se encontr que la velocidad de la luz en el vaco es constante, independiente del
observador, lo que es uno de los postulados de la Teora de la Relatividad Especial de Albert Einstein.
Ver interfermetro de Michelson.


INTERFERMETRO DE MICHELSON
Un interfermetro es un dispositivo que utiliza franjas de
interferencia para llevar a cabo medidas precisas de distancias.
(En la siguiente figura se muestra un diagrama esquemtico de
un interfermetro de Michelson).

La luz procedente de una fuente puntual incide sobre una placa
A, parcialmente plateada de forma que divide el haz reflejando
una parte y transmitiendo otra. El haz reflejado viaja hasta el
espejo M
2
y es de nuevo reflejado hasta el ojo situado en O. El
haz transmitido viaja a travs de una placa compensadora B,
que tiene el mismo espesor que la placa A, llega al espejo M
1
y
se refleja de nuevo hacia la placa A y luego al ojo en O. El
objeto de la placa compensadora B es conseguir que ambos
haces atraviesen el mismo espesor de vidrio. El espejo M
1
es
fijo, pero el espejo M
2
se puede desplazar hacia delante y atrs
mediante un sistema de ajustes con tornillos muy fino y
exactamente calibrado. Los dos haces se combinan en O y
forman un diagrama de interferencia. Este diagrama se
comprende ms fcilmente considerando el espejo M
2
y la
imagen del espejo M
1
producida por el espejo del divisor del haz
A. Esta imagen la designaremos por M'
1
en el esquema. Si los
espejos M
1
y M
2
estn exactamente perpendiculares entre s y
equidistantes del divisor del haz, la imagen de M'
1
coincidir con
M
2
. Si no es as, M'
1
estar ligeramente desplazada y formar un
pequeo ngulo con respecto a M
2
. El diagrama de interferencia
en O ser entonces el de una pelcula delgada en forma de cua
de aire entre M'
1
y M
2
. Si ahora se mueve el espejo M
2
, se
desplazar el diagrama de franjas. Si se conoce la distancia que
se ha movido el espejo M
2
, puede determinarse la longitud de
onda de la luz.
Otra aplicacin del interfermetro es la medicin del ndice de
refraccin del aire( o de cualquier otro gas). Uno de los haces
procedentes de la placa A se hace pasar a travs de un
recipiente en el que se puede hacer el vaco. La longitud de
onda de la luz en el aire ' est relacionada con la que posee en
el vaco por '= /n, en donde n es ndice de refraccin del aire.
Cuando se hace el vaco en el recipiente mencionado, la longitud
de onda que pasa a su travs aumenta de modo que existen
menos ondas en la longitud del recipiente. Esto origina un
desplazamiento del diagrama de franjas. Midiendo dicho
desplazamiento puede determinarse el ndice de refraccin.

DIAGRAMA DE INTERFERENCIA DE DOS RENDIJAS
Los diagramas de interferencia de la luz procedente de dos o
ms focos solo pueden observarse si los focos son coherentes, o
sea, si estn en fase o tienen una diferencia de fase que es
coherente con el tiempo.
En el famoso experimento ideado por Thomas Young en 1801
se producan dos fuentes luminosas coherentes iluminando dos
rendijas paralelas con una sola fuente. Suponemos que las
rendijas son muy estrechas. Cada rendija acta como una
fuente lineal, que es equivalente a una fuente puntual en dos
dimensiones. El diagrama de interferencia se observa sobre una
pantalla bastante alejada de las rendijas, que estn separadas
entre s en una distancia d. A distancias muy grandes de las
rendijas, las lneas que van desde las mismas hasta un cierto
punto Psobre la pantalla son aproximadamente paralelas y la
diferencia de trayectos es d senu.Todo lo anteriormente
relatado se puede observar en la figura siguiente (apartado c)

As pues, tenemos mximos de interferencia en unos ngulos
dados por
d senu =m m=0,1,2,3,...
Los mnimos de interferencia se presentan en
d senu =(m+ 1/2) m=0,1,2,3,...
La diferencia de fase en el punto P es
o = (2t/) d senu
La distancia y
m
medida a lo largo de la pantalla desde el punto
central hasta la m-sima franja brillante (figura anterior,
apartado b) est relacionada con el ngulo u por
tg u =y
m
/ L
donde L es la distancia de las rendijas a la pantalla. Para
un u pequeo, tenemos
sen u=tg u =y
m
/ L
Por tanto, en el caso de ngulos pequeos, la distancia medida
a lo largo de la pantalla hasta la franja m-sima viene dada por
y
m
= m (L/d)
La amplitud de la onda resultante es 2A
o
cos(1/2)o. Posee su
valor mximo igual a 2A
o
cuando las ondas se encuentran en
fase, y es igual a 0 cuando estn desfasadas 180. Como la
intensidad es proporcional al cuadrado de la amplitud, la
intensidad en el punto P es
I =4I
o
cos
2
(1/2)o
en donde I
o
es la intensidad de la luz que se obtiene en la
pantalla para cualquiera de las rendijas por separado.
La figura siguiente muestra el diagrama de intensidad como se
ve en la pantalla. Se indica un grfico de la intensidad en
funcin del senu. La lnea a trazos muestra la intensidad media,
que es el resultado de promediar sobre muchos mximos y
mnimos de interferencia. Sera la intensidad que se obtendra
en dos fuentes si actuasen independientemente sin interferencia
.


Interfermetro Fabry-Prot


Cerquillos de interferencia que muestran la estructura fina de un interfermetro de
Fabry-Prot. La fuente de luz es una lmpara fra de deuterio.
En ptica, un interfermetro de Fabry-Prot, o Etalon est, normalmente, constituido por una placacon
dos superficies reflectantes, o dos espejos paralelos altamente reflectantes (tcnicamente, el primero es
un etalon y el posterior es un interfermetro, pero la terminologa se usa, con frecuencia, de manera
indistinta). Cuando se determina su espectro de transmisin en funcin de la longitud de onda se verifica
que existen picos de gran transmisin que corresponden a la resonancia del etalon. Se nombr despus
de Charles Fabry y Alfred Perot.
1
"Etalon" proviene del francs talon, que significa "clculo de medida"
o "estndar".
2

El efecto de resonancia de un interfermetro de Fabry-Prot es idntico al que se usa en un filtro
dicroico. Los filtros dicroicos son colecciones secuenciales muy delgadas de interfermetros de Fabry-
Prot y estn as caracterizados y diseados usando las mismas reglas matemticas.
Los etalones se usan con bastante frecuencia en telecomunicaciones, lseres y espectroscopa de
control y medida de longitudes de onda. Los recientes avances en las tcnicas de fabricacin han
permitido la creacin de interfermetros de Fabry-Prot extremadamente precisos.
Contenido
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- 1 Aplicaciones
- 2 Referencias
- 3 Vase tambin
- 4 Enlaces externos
[editar]Aplicaciones


Una imagen de la corona solar tomada con el LASCO C1 corongrafo que emplea un
interfermetro de Fary-Prot para escanear la corona solar a un nmero de longitudes
de onda prximas a la lnea de 5308 . La figura es una imagen codificada del efecto
Doppler de la lnea, la cual se puede asociar con la velocidad de la corona de plasma,
acercndose o alejndose de la cmara del satlite. En el clculo de la velocidad, la
componente de la velocidad debida a la rotacin solar se ha suprimido
La aplicacin comn ms importante es su uso como filtro dicroico, en el que una serie de capa de
etalones se depositan sobre una superficie ptica mediante tcnicas de deposicin de vapor. Estos
filtros pticos tienen, usualmente, una capacidad reflectante exacta y pasan ms bandas que los
filtros de absorcin. Por el propio diseo del filtro funcionan ms fros que los filtros de absorcin
puesto que pueden reflejar longitudes de onda no deseadas. Los filtros dicroicos se usan
ampliamente en equipos pticos tales como fuentes de luz, cmaras y equipos astronmicos
Empleo en redes de telecomunicaciones para el multiplexado de longitudes de onda en equipos
add-drop multiplexers con bancos de etalones sintonizados de diamante o slicefundida. Estos
bancos son pequeos cubos iridiscentes de aproximadamente 2 mm de tamao en un lado,
montados en pequeos estantes mecanizados con alta precisin. Los materiales se eligen para
mantener estables las distancias espejo a espejo y guardar la estabilidad de las frecuencias usadas
en las transmisiones, incluso cuando varia la temperatura. Se prefiere el diamante porque presenta
una mejor conduccin del calor y un menor coeficiente de dilatacin. Desde el ao 2005, algunos
equipos de comunicaciones comenzaron a usar etalones de estado slido que son de fibra ptica.
Esto elimina la mayora de las dificultades de montaje, alineamiento y enfriamiento de los equipos.

Interferometro de Young
Hola a todos, quizas alguien me pueda ayudar con este ejercicio
-----------------------------------------------------------------------
Sea un interferometro de Young en el cual una fuente puntual
So de longitud de onda ilumina las dos rendijas del interferometro S1 y S2
separadas una distancia d (ver figura). La fuente So es desplazada fuera del eje del
sistema en forma perpendicular a este una distanciax (L>>x), provocando un
desplazamiento en la franja central del patron de interferencia sobre la pantalla
respecto a la posicion original, en la cual So estaba en el eje del sistema. Se desea
compensar el corrimiento sufrido de modo de volver al patron de interferencia original,
utilizando una placa de un material de indice de refraccion n colocada sobre una de las
rendijas.
Que espesor debe tener la placa y sobre cual rendija (S1 o S2) debe colocarse?
(Nota: L,D>>d,x)
----------------------------------------------------------------------
Yo se que primero hay que hallar el desplazamiento de la franja central del patron de
interferencia luego de provocado el desplazamiento x de la fuente So, el cual ya lo he
hallado y es: Dx/L. Pero no logro terminarlo, desde ya les agradezco mucho, saludos.
Imgenes adjuntas


Interfermetro de Michelson


Esquema de un interfermetro de Michelson.


Visualizacin de los anillos de interferencia.
El interfermetro de Michelson, inventado por Albert Abraham Michelson es un interfermetro que
permite medir distancias con una precisin muy alta. Su funcionamiento se basa en la divisin de un haz
coherente de luz en dos haces para que recorran caminos diferentes y luego converjan nuevamente en
un punto. De esta forma se obtiene lo que se denomina la figura de interferencia que permitir medir
pequeas variaciones en cada uno de los caminos seguidos por los haces. Este interfermetro fue
usado por Michelson junto con Edward Morley para probar precisamente la inexistencia del ter, en el
famoso experimento de Michelson y Morley.

Contenido
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- 1 Configuracin
- 2 Aplicaciones
- 3 Vase tambin
- 4 Enlaces externos
[editar]Configuracin
En un principio, la luz es dividida por una superficie semiespejada (o divisor de haz) en dos haces. El
primero es reflejado y se proyecta hasta el espejo (arriba), del cual vuelve, atraviesa la superficie
semiespejada y llega al detector. El segundo rayo atraviesa el divisor de haz, se refleja en el espejo
(derecha) luego es reflejado en el semiespejo hacia abajo y llega al detector.
El espacio entre el semiespejo y cada uno de los espejos se denomina brazo del interfermetro.
Usualmente uno de estos brazos permanecer inalterado durante un experimento, mientras que en el
otro se colocarn las muestras a estudiar.
Hasta el observador llegan dos haces, que poseen una diferencia de fase dependiendo
fundamentalmente de la diferencia de camino ptico entre ambos rayos. Esta diferencia de camino
ptico puede depender de la posicin de los espejos o de la colocacin de diferentes materiales en cada
uno de los brazos del interfermetro. Esta diferencia de camino har que ambas ondas puedan sumarse
constructivamente o destructivamente, dependiendo de si la diferencia es un nmero entero de
longitudes de onda (0, 1, 2,...) o un nmero entero ms un medio (0,5; 1,5; 2,5; etc.) respectivamente.
En general se emplean lentes para ensanchar el haz y que sea fcilmente detectable por un fotodiodo o
proyectando la imagen en una pantalla. De esta forma el observador ve una serie de anillos, y al
desplazar uno de los espejos notar que estos anillos comienzan a moverse. En esta forma se puede
explicar la conservacin de la energa, ya que la intensidad se distribuir en regiones oscuras y regiones
luminosas, sin alterar la cantidad total de energa.
[editar]Aplicaciones
Generalmente cuando se monta un interferometro de Michelson se observa una figura de interferencia
inicial, de la que no se puede determinar cul es la diferencia de camino, porque si se observa una
suma constructiva slo se puede inferir que la diferencia es mltiplo de la longitud de onda. Por esto el
interfermetro se usa para medir pequeos desplazamientos; una vez que se tiene una figura de
interferencia inicial, al cambiar la posicin de uno de los espejos se ver que las franjas de interferencia
se mueven. Si tomamos un punto de referencia, por cada franja que lo atraviese habremos movido el
espejo una distancia equivalente a una longitud de onda (menor al micrmetro.)
Hacia fines del siglo XIX, este interfermetro se utilizaba con fuentes luminosas de descarga en gases,
con un filtro y una pequea rendija. En particular, para el experimento de Michelson y Morley, se utiliz
la luz proveniente de alguna estrella. Actualmente en cualquier laboratorio de enseanza bsico se
puede montar uno de estos interfermetros utilizando un lser.

Interfermetro de Mach-Zehnder

1. Introduccin
2. FSR (Rango Espectral Libre o Free Spectral
Range),FWHM y Finura
3. Filtros MZI en Cascada
Aplicacin interactiva
4. Referencias



1. Introduccin
El esquema de un filtro de Mach-Zehnder, est compuesto por dos acopladores
de -3dB y dos tramos de fibra de diferente longitud, uno de L + y otro L . El
substrato utilizado es normalmente silicio y las regiones de la gua de ondas son
de SiO2 , el cual tiene un elevado ndice de refraccin.

Figura 1. Esquema de un Filtro Mach-Zehnder
Para describir el funcionamiento del MZI, vamos a considerar que opera como un
demultiplexor, es decir, utiliza una nica entrada, en este caso la Entrada 1. Las
explicaciones siguientes se harn tomando como referencia la Figura 1.
Si se le aplica una seal de entrada al filtro MZI, al llegar sta al primer
acoplador direccional, su potencia se divide por igual entre el brazo de arriba (de
longitud L) y el de abajo (de longitud L+ ). Pero la seal en uno de los brazos
experimenta un salto de fase de /2 con respecto al otro. Concretamente, la seal
que se acopla al brazo de arriba no sufre ningn cambio, sin embargo la parte de
la seal que se acopla al brazo de abajo sufre un cambio de fase de /2 . Tras
propagarse a lo largo de los brazos, las seales llegan al segundo acoplador
direccional. En este punto, la seal que se propaga por el brazo de abajo
experimenta un desfase adicional de , debido a la diferencia de longitud
entre los dos caminos. Para la Salida 1, la seal procedente del brazo de abajo
sufre otro retraso de fase de /2 respecto a la seal que se transmite por el brazo
de arriba, de esto modo la diferencia de fase relativa total entre las dos seales en
la Salida 1 es de /2 + + /2 . Sin embargo para la Salida 2, la seal
transmitida por el brazo de arriba sufre un cambio de fase de /2 , quedando una
diferencia de fase relativa total entre las dos seales de /2 + - /2
= .
Si se considera = k y k impar, las seales en la Salida 1 se aaden en
fase. Por ejemplo, si k =3, la diferencia de fase entre las seales es 3 + = 4
, con lo cual al final estn en fase. Por otro lado, en la Salida 2 las seales se
aaden en oposicin de fase, es decir con una diferencia de fase igual a ,
cancelndose entre ellas. Se deduce de todo esto, que las seales que pasan de la
Entrada 1 a la Salida 1 son las que tienen un = k siendo k impar y las
seales que pasan de la Entrada 1 a la Salida 2, son las que tienen un = k
siendo k par [RaSi98].
La respuesta en frecuencia ptica que cumple lo expuesto hasta ahora es la
siguiente

[3.1]
donde .
representa la funcin de transferencia de la Entrada 1 a la Salida 1,
y representa la funcin de transferencia entre la Entrada 1 y la Salida 2.
La representacin de la ecuacin [3.1] se pueden observar en las Figuras 2 y 3.
Comparando las dos funciones se aprecia el impacto del desfase que hay
entre y .

Figura 2. Funcin de transferencia en la salida Seno,

Figura 3. Funcin de transferencia en la salida Coseno,
Interfermetro de Mach-Zehnder
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Interfermetro de Mach-Zehnder.
El interfermetro de Mach-Zehnder es un dispositivo utilizado para determinar la relacin de cambio
de fase entre dos colimado vigas de una coherente fuente de luz. El interfermetro se ha utilizado, entre
otras cosas, para medir los pequeos cambios de fase en uno de los dos rayos causados por una
pequea muestra o el cambio en la longitud de uno de los caminos. El aparato lleva el nombre de los
fsicos Mach Ludwig (el hijo de Ernst Mach ) y Ludwig Zehnder .
El interfermetro de Michelson es un interfermetro de Mach-Zehnder que se ha doblado sobre s
misma. La principal diferencia es que en el interfermetro de Michelson, de la divisin ptica de haz
tambin se utiliza para combinar los rayos.
Contenido
[hide]
- 1 Cmo funciona
o 1.1 Puesta en marcha
o 1.2 Propiedades
o 1.3 Observar el efecto de una muestra
- 2 Vase tambin
o 2.1 Tcnicas de visualizacin de flujo
- 3 Referencias
- 4 Enlaces externos
[ editar ]Cmo funciona
[ editar ]Set-up
Un haz colimado se divide por un espejo semitransparente . Los dos haces resultantes (el "haz de
muestra" y el "haz de referencia") son cada uno se refleja en un espejo . Los dos haces a continuacin,
pasar un segundo espejo semi-plateado y entre dos detectores ("detector de 1" y "detector de 2"). Es
importante que las superficies completamente plateados y plateado-medio de todos los espejos, excepto
el ltimo, frente a la viga de entrada, y que la superficie semi-plateado del ltimo espejo frente a la salida
del haz que sale en la misma orientacin que el haz original colimado . Es decir, si el haz original es
horizontal, la superficie semi-plateado del espejo ltima debe mirar hacia el rayo horizontal saliente.
[ editar ]Propiedades
Es importante tener en cuenta que el medio de un espejo es lo que hay detrs de l, es decir, si un
sustrato de vidrio tiene su superficie semi-plateado o plateado completamente frente a la entrada del
haz, el haz de entrada viaja por el aire y se refleja en los superficie de un medio de vidrio. Sin embargo,
si la superficie semi-plateado o plateado totalmente rostros de la viga de entrada, la viga de entrada
viaja a travs del cristal y se refleja en la superficie de un medio de aire.
Las siguientes reglas se aplican a los cambios de fase debido al material:
Reflexin o la refraccin en la superficie de un medio con un ndice de refraccin menor no causa
ningn cambio de fase.
Reflexin en la superficie de un medio con un ndice de refraccin ms elevado provoca un
desplazamiento de fase de la mitad de unalongitud de onda .
La velocidad de la luz es ms lenta en los medios de comunicacin, con un ndice de refraccin
mayor que el de un vaco, que es 1. En concreto, su velocidad es: , Donde c es la
velocidad de la luz en el vaco y n es el ndice de refraccin. Esto provoca un aumento del
desplazamiento de fase proporcional a (n - 1) x longitud recorrida.
Teniendo en cuenta las reglas anteriores, espejos, incluyendo semi-plateado espejos, tienen las
siguientes propiedades:
Una longitud de onda media de cambio de fase se produce despus de una reflexin desde el frente
de un espejo, ya que el medio detrs del espejo (vidrio) tiene un ndice de refraccin ms alto que el
medio de la luz se desplaza en (el aire).
Si k es el cambio de fase constante que incurra al pasar por una placa de vidrio en el que reside un
espejo, un total de 2 k de cambio de fase se produce cuando se refleja en la parte trasera de un
espejo. Esto se debe a la luz que viaja hacia la parte posterior de un espejo entrar en la placa de
vidrio, incurriendo en cambio k fase, y luego se reflejan en el espejo sin cambio de fase adicional ya
que el aire slo est detrs del espejo, y viajar de nuevo de vuelta a travs de la placa de vidrio
incurrir en un cambio k fase adicional.
[ editar ]Observar el efecto de una muestra
Sin una muestra, no hay diferencia de fase en los dos haces en un detector, produciendo
constructiva interferencia . Ambos haces se han sometido a un cambio de fase de (longitud de onda
+ k) debido a dos frontales de reflexiones y una transmisin a travs de una placa de vidrio. En el
detector 2, hay una diferencia de fase de media longitud de onda, produciendo una interferencia
destructiva completa. El haz de referencia en el detector 2 ha sufrido un cambio de fase de 0,5 x
(longitud de onda) + 2 k, debido a un frontal de reflexin y dos transmisiones. El haz de muestra en el
detector 2 ha sufrido un cambio de fase (longitud de onda k + 2) debido a dos frontales de reflexiones y
una reflexin posterior-lateral. Por lo tanto, cuando no hay muestra, slo un detector recibe la luz.
Si una muestra se coloca en la trayectoria del haz de la muestra, las intensidades de los haces entrar en
los dos detectores va a cambiar, lo que permite el clculo del cambio de fase provocado por la muestra.


El uso paradjico de interfermetro de Mach-Zehnder: Cmo se observa solo fotn
en un saber acerca de la existencia de un obstculo en M?