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Connaissance et Prvention des risques

CETE
Normandie Centre

Risques naturels

Slingram
Mthodes lectromagntiques basses frquences

Objectif
L'objectif des mesures gophysiques de surface est de dcrire la structure interne d'un sol (nature des matriaux, paisseurs, fracturation) par la mesure d'une grandeur physique en surface (vitesse des ondes sismiques, rsistivit).

Mthode
La mthode Slingram est une mthode lectromagntique basse frquence en champ proche. Elle permet la mesure de la conductivit lectrique des matriaux, c'est--dire, leur aptitude conduire un courant lectrique quasi-continu. Les conductivimtres sont des appareils composs de deux boucles de courant mettrice et rceptrice, verticales ou horizontales par rapport au sol. La source gnre un champ magntique primaire une frquence donne (de quelques kHz, si bien que les champs considrs sont dans un rgime quasicontinu) via une bobine dinduction relie une source oscillante. Lorsque le champ primaire rencontre une anomalie conductrice, un champ secondaire, beaucoup plus faible, est cr. C'est la mesure du rapport de la composante du champ secondaire en quadrature par rapport au champ primaire (figure 1) qui va permettre de dcrire au mieux les htrognits conductrices du sous(S/m), sol en terme de conductivit apparente (.m)]. [inverse de la rsistivit apparente
Figure 1 - Principe de la mthode Slingram (Chouteau*, 2001)

Dans le cas de bobines horizontales coplanaires (cf. schma), la composante en quadrature est directement proportionnelle au champ secondaire. A une distance sparant l'metteur du rcepteur trs infrieure une longueur d'onde dans le sol, ce champ prsente un dphasage de 90 par rapport au champ primaire. Le rapport des champs magntiques primaire et secondaire en quadrature, est alors directement proportionnel la conductivit apparente du terrain. Il est donn par : et

et

sont respectivement les modules des champs magntiques primaire et secondaire

est la frquence de l'onde mise dans la boucle mettrice est la permabilit magntique du vide.

(*) Chouteau M., 2001, mthodes lectriques, lectromagntiques et sismiques, Gophysique applique II, GLQ 3202, Notes de Cours, cole Polytechnique de Montral.

Laboratoire Rgional des Ponts et Chausses de Rouen


Centre dtudes Techniques de lquipement Normandie Centre
010 - LRR - 09 / 2009 Ministre de lcologie, de lnergie, du Dveloppement durable et de la Mer

Figure 2a - Appareil EM34 Figure 2b - Appareil EM31

Les appareils utiliss par l'ERA 23 sont fabriqus par une socit canadienne Geonics (figure 2a-2b). La profondeur d'investigation annonce par les constructeurs est la profondeur pour laquelle le dispositif est sensible en champ proche la prsence d'une couche conductrice. La mesure de la conductivit apparente concerne l'ensemble des matriaux compris entre les boucles et cette profondeur approximative. Seules la distance s entre bobines et leur orientation par rapport la surface influent sur la profondeur d'investigation (figure 2c).

Figure 3 - Exemple de rsultats : Cartes de conductivit apparente. EM34 utilis selon le mode HD pour des distances entre boucles de 10 m, 20 m et 40 m, ce qui donne respectivement une profondeur d'investigation approximative de 7,50 m, 15 m et 30 m - Rapport Mesures gophysiques Port 2000 - Cyrille Fauchard ERA 23 juillet 2005

Les rsultats (exemple figure 3) prsentent les conductivits apparentes (en mS/m) mesures le long de profils pour une configuration donne de dispositif.
Offset Orientation Frquence

(m)

Hz

Profondeur de pntration

(m)

EM31 EM31 EM34 EM34 EM34 EM34 EM34 EM34

H V H V H V H V

3.66 3.66 10.00 10.00 20.00 20.00 40.00 40.00

9 800 9 800 6 400 6 400 1 600 1 600 400 400

3.7 5.5 7.5 15.0 15.0 30.0 30.0 60.0

Figure 2c : Mise en uvre sur le terrain

Figure 4 - Profondeurs dinvestigation indicatives

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