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Universit Mentouri de Constantine

Facult des Sciences


Dpartement de Physique
ELEMENTS DE DIFFRACTION
DES RAYONS x
&
Travaux Pratiques
(D.E.S Physique - 4
me
anne)
Pr. Lounis CHEKOUR
Diffraction des rayons X
2
Premire partie
Gnralits sur la diffraction des RX
I Introduction....4
II - Proprits des RX....4
1 - Nature des RX
2 - Production des RX
2.1 - Tube RX
2.1.1 -Tube de Coolidge
2.1.2 -Tube anode tournante
2.1.3 - Synchrotron
2.2 - Spectre d'mission
2.2.1 - Spectre continu
2.2.2 - spectre de raies
III - Thorie de la diffraction des RX....17
1 - Diffraction des RX par les cristaux
1.1 - Condition de BRAGG
1.2 - Condition LAUE
2 - Direction du faisceau diffract
IV - Interaction des RX avec la matire...26
1 - Absorption des RX par la matire : Loi macroscopique
2 - Variation du coefficient d'absorption en fonction de la
longueur d'onde des RX et du numro atomique de la matire
3 - Fluorescence X
3.1 - Fluorescence due aux raies caractristiques
3.2 - Fluorescence due au fond continu
4 - Effet Auger
5 - Diffusion des RX par la matire
5.1 - Effet Compton : diffusion incohrente
5.2 - Diffusion cohrente
V - Monochromatisation des RX....35
1 - Filtrage |, monochromatisation approche
2 - Mono-chromatisation rigoureuse
2.1 - Monochromateur primaire
Diffraction des rayons X
3
2.2 - Monochromateur secondaire
VI - Dtection des RX41
1 - Les compteurs
1.1 - Compteur gaz scell
1.1.1 - Description
1.1.2 - Fonctionnement d'un compteur gaz
1.1.3 - Le compteur proportionnel
1.1.3.1 - Forme du signal
1.1.3.2 - Allure du pic principal
1.1.3.3 - Pic de fuite
1.1.3.4 - Rsolution du compteur
1.2 - Le compteur scintillation
1.3 - Le compteur semi-conducteur
2 - Electronique de mesure
2.1 - Alimentation haute tension
2.2 - Pramplificateur
2.3 - Amplificateur
2.4 - Discriminateur
. 2.5 - Compteur d'impulsions
2.6 - Analyseur monocanal
2.7 - Analyseur multicanaux
2.8 - Temps mort
3 - Statistiques de comptage
3.1 - Introduction
3.2 - Caractre alatoire des comptages
3.2.1 - Variables alatoires
3.2.2 - Distribution
3.3 - Test d'hypothse
3.4 - Pratique de contrle
VII - Quelques applications de la diffraction des RX - Contraintes rsiduelles
2 - Textures
3 - Diffraction en incidence rasante
Diffraction des rayons X
4
Seconde Partie
Manipulations
T.P 1 ..59
EMISSION X (I)
Enregistrement et tude d'un spectre d'mission donn par un tube de RX
T.P 2..65
EMISSION X (II)
Influence de la haute tension - Dtermination de la constante de Planck
T.P 3.67
ABSORPTION DES RX (I)
filtrage |, dtermination du coefficient d'absorption d'un matriau
T.P 4.....69
ABSORPTION DES RX (II)
Variation du coefficient d'absorption en fonction de la longueur d'onde des RX
T.P 5.71
MISE EN UVRE DE LA METHODE DIFFRACTOMETRIQUE
Identification de phases
Diffraction des rayons X
5
GENERALITES SUR LES RX ET LA
DIFFRACTION X
Diffraction des rayons X
6
INTRODUCTION
A la suite de la dcouverte des rayons X par Rntgen en 1895, les premires applications ont
t tournes vers l'tude des cristaux car on esprait mettre en vidence les atomes constitutifs des
molcules et confirmer ainsi la justesse du nombre d'Avogadro.
En 1912 le physicien Lae dtermine grce un rseau cristallin la longueur d'onde de rayons
X. Il devint donc possible de faire l'inverse, c'est--dire de dterminer les distances entre les atomes
grce ces mmes rayons. La plupart des scientifiques du dbut du sicle dont Pasteur utilisrent
ainsi les rayons X pour tudier les corps cristalliss.
La diffraction des rayons X est une mthode universellement utilise pour identifier la nature
et la structure des produits cristalliss. En effet, cette mthode ne s'applique qu' des milieux
cristallins (roches, cristaux, minraux, pigments, argiles...) prsentant les caractristiques de l'tat
cristallin, c'est--dire un arrangement priodique, ordonn et dans des plans rticulaires
tridimensionnels des atomes constitutifs. Les atomes s'organisent donc en plans rticulaires plus ou
moins denses qui sont dsigns par leurs coordonnes (h, k, l) dans un systme de reprage de
l'espace. La mthode permet ainsi clairement de distinguer les produits amorphes (verres...) des
produits cristalliss.
Le diffractomtre est l'outil idal pour les tudes de poudre. Dans sa conformation de base, il
est compos de : l'enceinte de protection, du meuble, de la gaine et de son tube rayons X, du
monochromateur (Ge(111) ou graphite plan), d'un systme de fentes, du porte-chantillon de base,
du dtecteur courbe CPS 120 et de son lectronique, d'une mmoire tampon, et d'un gnrateur 3.5
kW.
Dans le march de lanalyse daujourdhui, le contrle sa production industrielle intgre de
plus en plus la diffraction des rayons X. Ces dix dernires annes, les volutions technologiques ont
permis dadapter lutilisation de la DRX dans des environnements industriels trs demandeurs et
exigeants.
La DRX est aussi largement reconnue pour sa souplesse et sa capacit rsoudre un nombre
pratiquement illimit de problmes danalyse de matriaux. Elle est souvent la seule technologie
capable de donner un rsultat. Ce qui est particulirement vrai dans le domaine de lexpertise lgale.
APPLICATIONS :
- Identification de phases,
- Rflexion ou transmission,
- Analyses quantitatives,
- Dtermination des paramtres de maille,
- Raffinement de structure,
- Microdiffraction,
- Degr de cristallinit,
Diffraction des rayons X
7
- Contrle industriel,
- Expertise lgale,
- Applications aux uvres dart.
La mthode de diffraction de poudres est traditionnellement utilise pour l'identification de
phases, la dtermination de paramtres de maille et l'analyse des imperfections structurales. Des
banques de donnes comme celle de l'ICDD, peuvent tre facilement consultes sur CDROM,
permettant ainsi la comparaison ou l'identification de donnes exprimentales.
Diffraction des rayons X
8
I PROPRIETES DES RAYONS X
Les rayons X ont t dcouverts en 1895 par W. Rntgen Wrzbug en Allemagne. Il baptise
les rayons quil a dcouverts Rayons X avec le X comme linconnue en Mathmatiques. Le
pouvoir des rayons X, qui a sembl merveilleux, de traverser des parois opaques et de rvler
lintrieur du corps humain a immdiatement donn un grand retentissement populaire cette
dcouverte scientifique. Les premires applications (tableau 1) ont t tournes vers l'tude des
cristaux car on esprait mettre en vidence les atomes constitutifs des molcules et confirmer ainsi
la justesse du nombre d'Avogadro.
Rayonnement incident
Effet Infra-rouge Lumire, UV Rayons X
absorption FTIR spectromtrie d'absorption radiographie
fluorescence microscope laser spectromtrie de fluorescence X
diffraction diffraction X
effet photolectrique XPS, ESCA
Tableau 1 - Mthodes d'analyse utilisant un rayonnement incident lectromagntique
En 1912 le physicien Lau dtermine grce un rseau cristallin la longueur d'onde de rayons
X. Il devint donc possible de faire l'inverse, c'est--dire de dterminer les distances entre les atomes
grce ces mmes rayons. La plupart des scientifiques du dbut du sicle dont Pasteur utilisrent
ainsi les rayons X pour tudier les corps cristalliss.
I.1 - Nature des rayons X
Les Rayons X sont des lectromagntiques que lon retrouve dans le large domaine des
radiations (fig.1), qui va des longueurs donde trs courtes de lordre de 10
-4
nm jusqu celles de
lordre de plusieurs kilomtres.
On appelle rayons X les radiations comprises entre 0,02 et 50 environ. Ces limites ne sont
pas prcises et, en fait, cest plutt leur mode de production qui dfinit les rayons X : ils sont mis
par le bombardement de la surface dun solide par des rayons cathodiques ou faisceaux dlectrons
acclrs par des tensions variant entre 10
3
et 10
6
volts.
Du ct des grandes longueurs donde, le domaine des rayons X est limit pratiquement du
fait de labsorption de plus en plus considrable par toute matire, mme de faible densit, si bien
que ces rayons, dits rayons mous (5 -100 ), deviennent trs difficiles utiliser et dtecter quand
la longueur donde crot. Les rayons X sont relis au domaine de lultraviolet trs lointain par des
radiations qui ont t produites et tudies mais qui sont trs peu employes.
Du ct des petites longueurs donde (rayonnement "dur" e [0.01-0.5 ]), des sources trs
haute tension deviennent ncessaires, et la limitation est due aux difficults techniques de
ralisation. Le domaine des rayons X (fig.2) recouvre celui des rayons mis par certains atomes
radioactifs.
Diffraction des rayons X
9
10
-14
10
-12
10
-10
10
-8
10
-6
10
-4
10
-2
1 10
2
10
4
10
6
10
8
Rayons
Gamma
Rayons
X
Radiations
Ultra-
Viollettes
Radiations
Infra-
rouges
Ondes
Radar
Ondes Radiolectriques
FM TV ondes
Grandes ondes moyennes et
courtes ondes
Circuits
En
courant
alternatif
VIOLET BLEU VERT JAUNE ORANGE ROUGE
Fig. 1 - Les RX dans l'chelle des longueurs d'onde des rayonnements lectromagntiques
RX durs RX mous
Fig. 2 - Domaines de longueur d'onde des RX durs et mous (1 = 0.1nm =10
-10
m)
Dans le cas de l'application du diffractomtre, l'intervalle utilis est [0.1 - 3] , les limites du
domaine tant approximatives.
Lensemble des radiations lectromagntiques a fondamentalement une nature commune : ce
qui les distingue dans leur interaction avec la matire est le paramtre qui caractrise chacune : la
longueur donde , ou lnergie E du photon. Un photon est une particule de masse nulle non
charge, se dplaant la vitesse de la lumire c et transportant une quantit dnergie E
dtermine.
Les rayons X possdent, comme toute forme d'nergie radiante, un double caractre
ondulatoire et corpusculaire. Ils peuvent tre assimils, dans le second cas, un ensemble de
particules se propageant la vitesse de la lumire et dont l'nergie est donne par :

u
hc
h E = =
Avec : - h = 6.6254 10
-34
joules. Seconde, constante de Planck
- , longueur d'onde (m)
- c = 3 10
8
m/s, vitesse de la lumire dans le vide.
En introduisant les valeurs numriques, on obtient une relation simple permettant le passage
() 2.5 1 0.5 0.05
Spectre visible
400 500 600 700
Longueur donde en nm
Bleu
vert
Jaune
vert
Diffraction des rayons X
10
de l'nergie la longueur d'onde :
( 1 )
Ordre de grandeur :
Les rayonnements lectromagntiques les plus couramment utiliss en diffraction appatiennent la gamme des
rayons X allant de 0.2 2. Ce qui correspond des nergies comprises entre 60 KeV et 6 KeV, environ. Cette nergie
est trs grande par rapport lnergie dexcitation des atomes qui est de lordre de 10 eV; mais elle est du mme ordre
de grandeur que lnergie dexcitation des couches profondes.
L'intensit d'une onde lectromagntique est proportionnelle au carr de l'amplitude du
vecteur champ lectrique. En pratique exprimentale de diffraction, l'intensit mesure est
gnralement exprime en impulsions ou en nombres de photons dtects par unit de temps.
I.2 - Production des rayons X
Actuellement, la source de rayons X la plus intense, mais trs rarement disponible, est celle
fournit par un synchrotron. Plus habituellement sont utiliss les tubes anodes fixes et parfois
anode tournante.
I.2.1 - Tubes rayons X
I.2.1.1 - Tube de Coolidge
La source usuelle des rayons X est appele le tube de Coolidge (fig.3, 4), du nom de son
inventeur (1917). Cest un tube vide pouss comportant deux lectrodes :
- une cathode mettrice dlectrons qui est un filament de tungstne chauff par effet
thermoonique,
- et une anticathode reprsentant la cible mtallique qui est porte, dans les tubes ordinaires,
un potentiel positif de lordre de 10 50 kV.
Les caractristiques dun tube RX sont reportes dans le tableau 2.
) (
12398
) (

=
A
eV E

Diffraction des rayons X


11
Fig.3 - Dtails dun tube classique RX
Fig. 4 - Schma dun tube rayons X.
Cest cette trs haute tension (THT) qui acclre les lectrons du filament pour aller
bombarder la cible et produire les rayons X. Cette dernire doit tre refroidie, car la plus grande
partie de lnergie cintique des lectrons est transforme en chaleur. Moins de 1% de cette nergie
est transforme en rayons X. La distribution spectrale dun tube rayons X est compose dun
rayonnement continu (rayonnement de freinage) et de radiations caractristiques du matriau
composant la cible. Le tube est muni dune fentre en bryllium pour absorber les rayonnements
visibles.
Contact
THT
Anode
(filament)
Cathode
(cible)
Fentre au bryllium
Enceinte sous vide
Circuit de
refroidissement
Diffraction des rayons X
12
Foyer
(mm)
Foyer optique Puissance (W)
Trait
(mm)
Point
(mm) Cr Fe Co Cu Mo Ag W
1x10 0,1x10 1x1 1800 1500 1800 2000 2400 2000 2400
0,4x8 0,04x8 0,4x0,8 1300 900 1200 1500 2000 1500 2000
0,15x8 0,015x8 0,15x0,8 800 300 600 800 800 800 800
2x12 0,2x12 2x1,2 2700 2200 2700 2700 2700 2700 2700
0,4x12 0,04x12 0,4x1,2 1800 1500 2200 2200 3000 2200 3000
Tableau 2 Caractristiques des tubes rayons X
I.2.1.2 - Tube anode tournante
Les tubes RX anode tournante peuvent fournir une puissance qui peut atteindre 8 fois celle
fournie par un tube classique, mais la technologie d'laboration de tels tubes est bien plus
complique. La rotation de l'anode est de l'ordre de 6000 tours par minute, le vide assez pouss (10
-
7
mbar) est assur par un systme de pompes primaire et turbomolculaire. La puissance maximale
est de 18 kW.
I.2.1.3 - Synchrotron RX
Le rayonnement synchrotron est un autre exemple du champ lectromagntique rayonn par
une particule acclre.
Dans le cas des tubes RX, le rayonnement est engendr par le freinage des lectrons
acclrs par une THT et par mission radiative suite lexcitation des niveaux dnergie des
atomes de la cible et leur dsexcitation.
Dans le cas du synchrotron, le rayonnement X est obtenu partir dlectrons ou de positrons
acclrs. En effet, daprs les lois de l'lectromagntisme toute particule charge acclre met un
rayonnement. C'est cette ide qui servit la construction de synchrotron, et ce, en acclrant des
lectrons dans le vide par des forces magntiques. Ces derniers mettent un spectre de rayons X
continu. Un systme de filtrage est ncessaire pour sectionner la radiation utiliser.
L'intensit du rayonnement synchrotron est considrable par rapport aux autres sources de RX.
Le gain peut dpasser d'un facteur 1000 10000 dans certains cas. Lanalyse des couches minces
(jusqu quelques dizaines de nanomtres) et mme des matriaux amorphes devient possible.
I.2.2 - Spectre d'mission d'un tube RX
Deux phnomnes bien distincts, bass sur l'interaction d'lectrons avec les atomes, sont
lorigine de la production des rayons X, lmission du spectre continu, dune part, et celle des raies
caractristiques, dautre part.
I.2.2.1 - Spectre continu
Le spectre dmission est constitu par un ensemble de radiations dont lintensit varie de
faon continue avec la longueur donde. La figure 5 donne lexemple dun spectre mis par une
Diffraction des rayons X
13
anticathode de tungstne. Les faits essentiels sont les suivants :
- Le spectre comporte un seuil dmission brusque du ct des courtes longueurs donde.
Cette limite infrieure est inversement proportionnelle la tension applique.
- Quand la tension applique au tube crot, la proportion des radiations de courte longueur
donde augmente : on dit que le rayonnement devient plus dur.
Fig. 5 - Distribution spectrale dune mission X
(D : discontinuit due l'auto absorption de la cible).
Daprs llectromagntisme classique, un lectron en mouvement acclr met une
radiation lectromagntique continue. Or, dans le tube de rayons X, l'lectron est dclr
brusquement aprs son interaction avec la cible. Sa vitesse au moment de limpact est gale
(2e/m)V, soit 50 000 kilomtres par seconde pour V = 8 000 volts; elle sannule sur un parcours de
lordre dun quelques microns dans le mtal de lanticathode. Il en rsulte une mission radiative
qui constitue le rayonnement de freinage ou fond continu. C'est l'interaction coulombienne des
lectrons (fig.6) avec les noyaux de la cible qui provoque leur freinage et l'mission conscutive des
RX. Cet effet est dit de Bremstrahlung.
Comme l'interaction coulombienne dpend directement de la distance de l'lectron au noyau,
et comme les lectrons passent des distances diffrentes des noyaux, le freinage de chacun
lectron est diffrent et par consquent les nergies rayonnes sont diffrentes. C'est ainsi qu'on
obtient un fond continu constitu de photons de diverses longueurs d'ondes.
La prsence dun seuil dmission (
minimale
ou h v
Max
) est explique par le transfert intgral
de l'nergie incidente des lectrons quand ceux-ci sont arrts brutalement dans la cible. Ainsi,
l'nergie de llectron est transforme dans le choc en photon h v dont lnergie ne peut tre
suprieure celle de llectron incident gale e V. Il existe donc une limite suprieure de la
frquence de la radiation ou bien une limite infrieure de la longueur donde, telle que :
()
K
o
K
|
I
n
t
e
n
s
i
t

(
c
p
s
-
u
.
a
)

min
Spectre Continu
Raies
Caractristique
s
0 0.5 1 1.5 2
D
Diffraction des rayons X
14
eV
hc
h s =

u
Soit,
) (
12398
) ( min
volts V
A =
(2)
O : h est la constante de Planck, v la frquence du rayonnement, e la charge de llectron et c
la vitesse de la lumire.
Ordre de grandeur :
La longueur d'onde minimale d'un spectre d'mission d'un tube de rayons X soumis une alimentation de
30 kV est : = 0.41 . Ces radiations correspondent des rayonnements durs.
L'nergie du fond continu a pour expression :
m
AiZV I = (3)
O, A = constante de proportionnalit,
m = constante qui vaut approximativement 2.
Empiriquement, on peut dire que le maximum de l'intensit du spectre se produit pour une
longueur donde de lordre de (3/2)
m
. La dcroissance vers les grandes longueurs donde tient en
partie labsorption des rayons X dans lanticathode elle-mme et aussi dans la fentre de sortie du
tube.
Fig. 6 - Origine du spectre continu : Rayonnement de freinage ou Bremsstrahlung.
La forme du spectre dpend du numro atomique Z de latome (fig.7b), de l'intensit I et de la
tension V (fig.7a) applique entre cathode et l'anode. Notons que l'intensit intgrale du spectre
continu est proportionnelle ZV. L'interprtation thorique de l'effet "Bremsstrahlung", trs
complexe, n'est pas pour le moment en parfait accord avec l'exprimentation.
lectron incident
d'nergie E
cintique
AE = E
cintique
- hv
hv
lectron
Ze
Interaction
lectron - noyau
Diffraction des rayons X
15
Des lectrons de grande nergie, soumis un champ magntique normal leur vitesse,
subissent une acclration et mettent un rayonnement, dit rayonnement synchrotron (fig. 8), qui
peut comprendre des radiations X, si lnergie des lectrons est assez grand. Il existe actuellement
dans le monde quelques grands acclrateurs qui sont des sources de rayonnement synchrotron,
dune intensit plus de mille fois suprieure celle des tubes rayons X classiques.
Fig.7 - Variation du spectre du fond continu en fonction (units arbitraires) :
(a) de la tension applique, (b) du numro atomique Z du matriau cible pour une tension donne
0 20 40 60 80
L

L
|
L
o
Energie (keV)
Fig. 8 - Distribution spectrale :
Synchrotron (3 GeV), tube en tungstne (45 kV)
P
h
o
t
o
n
s
/
s
e
c
o
n
d
e
Tube classique
Synchrotron
1
0
0
1
0
3
1
0
6
I
()
(b)
Au (79)
Ag (47)
Cr (24)
I
V
1
> V
2
> V
3
(a)

min1

min2

min3

V
1
V
2
V
3
()
Diffraction des rayons X
16
Le spectre de raies caractristiques nexiste pas dans ce cas car tout le rayonnement est issu
du freinage dlectrons ou de particules charges. Il y a lieu, naturellement de procder une
monochromatisation du rayonnement obtenu pour son utilisation en diffraction. Ce rayonnement
permet une analyse plus minutieuse des couches minces et mme de matriaux amorphes.
Signalons que des objets varis dans lunivers mettent des rayons X. Ils ne sont pas
observables sur terre, parce quils sont absorbs dans latmosphre. Mais les observatoires sur
satellites ont ouvert lre de lastronomie par rayons X.
La distribution spectrale d'un tube rayons X est donne approximativement par la loi de
Kramers :
)
1
)( 1 (
3
0
=
I
I
iZ I N (4)
I.2.2.2 - Raies caractristiques
Au spectre continu se superpose un spectre de raies dont les longueurs donde, indpendantes
des conditions de fonctionnement de tube, ne dpendent que de la nature de lanticathode. Ce sont
les raies caractristiques des atomes constituant lanticathode.
Contrairement aux spectres optiques qui sont trs complexes et composs dun trs grand
nombre de raies, les spectres de RX caractristiques comprennent un petit nombre de raies. Ils sont
constitus par des groupes de raies, dsigns par des sries de lettres K, L, M, etc. Chaque srie
comporte une suite de raies qui se succdent de faon homologue. Celles-ci forment des sries
reconnaissables dun lment lautre, et les longueurs donde prennent des valeurs prcises et
spcifiques pour chaque lment. La frquence v dune raie dtermine dans une srie est une
fonction simple du nombre atomique Z de llment (loi de Moselle) :
) ( o u = Z c (5)
Expression dans laquelle c et o sont des constantes, o tant voisine de lunit.
La raie Ko est la plus intense des raies dun lment. Elle est situe dans la srie K, et a une
longueur donde variant de 0.013 nm, pour luranium, 1.19 nm pour le sodium
Lorigine des raies caractristiques est la suivante (fig. 9) : Certains atomes de lanticathode,
sous laction du choc des lectrons du faisceau cathodique, sont ioniss, cest--dire quun lectron
gravitant autour du noyau est expuls. Latome se trouve alors dans un tat excit.
Pour sa dsexcitation, et pour retrouver un tat stable, la place laisse libre (trou) est occupe
par un lectron dune orbite plus loigne du noyau : ce saut est accompagn dune mission dun
photon correspondant lnergie que llectron a perdu en se rapprochant du noyau.
Si W
i
(i = k) et W
f
(f = L) sont les nergies initiale et finale, la raie mise aura la frquencev,
telle que :
f i w w h = u (6)
Diffraction des rayons X
17
L
Photolectron
Fig. 9 - Excitation (a) et dsexcitation (b) d'un atome.
Dans latome, les lectrons sont tous des niveaux dnergie bien dfinie. Il en rsulte que
lnergie du photon mis par radiation, est aussi bien dtermine. Do lmission dun certain
nombre de raies composes chacune de photons de mme nergie caractristique des niveaux entre
lesquels a lieu la transition lectronique. Ainsi, ces raies sont dites caractristiques.
Exemple : La raie K
o
est mise lors du saut dun lectron de la couche L
III
la couche K. Lnergie
des photons contenus dans cette raie s'crit :
k LIII k
w w h =
o
u
L'intensit des raies caractristiques dpend du courant du tube i, de la tension applique V et
du potentiel d'excitation du niveau V
K
des atomes de la cible. Pour une raie K, l'intensit est donne
approximativement par :
n
k raieK V V Bi I ) ( ) ( =
O B est une constante, et n une autre constante qui avoisine 1.5 mais qui dpend de V et
varie entre 1 et 2.
Les couches lectroniques qui interviennent dans lmission des raies X sont les couches
profondes de latome. Les niveaux dnergie que peuvent occuper les lectrons sont peu nombreux.
Ils dpendent, en premire approximation, de la charge du noyau central et sont indpendants des
lectrons extrieurs qui rgissent les proprits chimiques des atomes et les spectres optiques. De l
rsultent la simplicit des spectres X.
Les spectres X correspondent des transitions entre niveaux d'nergie de couches profondes.
Tandis que les spectres optiques proviennent des transitions entre les niveaux des couches externes.
Ceux-ci sont trs nombreuses et dpendent de la liaison dans laquelle est engag latome :
Do la complexit des spectres optiques et leur dpendance vis--vis des liaisons chimiques.
K
K
Photon
X
lacune
(b) (a)
Electron
incident
Diffraction des rayons X
18
Lmission dun photon peut aussi correspondre une transition entre deux tats dun noyau.
Elle est lorigine des rayons mis par des noyaux radioactifs. Gnralement, les diffrences
dnergie entre deux tats du noyau sont de lordre du mgalectronvolt (longueur donde de lordre
de 10
-3
), mais certaines transitions donnent des radiations du domaine des rayons X. Il y a des
atomes radioactifs qui sont des sources de rayons X monochromatiques. Ces sources seraient trs
commodes mais, malheureusement, elles sont bien moins intenses que les missions caractristiques
dun tube rayons X dans des conditions normales de fonctionnement.
La quantit de matire radioactive qui serait ncessaire pour atteindre les mmes intensits
occuperait un volume incompatible avec les applications usuelles des rayons X, o lon utilise un
foyer ponctuel dont les dimensions sont de lordre de quelques diximes de millimtre.
Toutefois, ces sources sont maintenant ncessaires pour des applications telle que leffet
Mssbauer.
La figure 10 montre les raies caractristiques d'un atome de cuivre. Par exemple, les
transitions vers les niveaux K conduisent des raies monochromatiques nommes : K
o1
, K
o2
, K
|1
,
K
|2
, etc. Il y va de mme pour les autres transitions sur les autres niveaux L, M,
Les transitions possibles ou probables sont dtermines par des rgles de slection dfinies en
mcanique quantique :
An = 0, Al = 1, Aj = 0
Les intensits relatives des rais d'mission K
o
et K
|
sont, pour le cuivre, dans les rapports :
) 2 ( 2 ) 1 ( o o k I k I = ; ) ( 10 ) 1 ( | o k I k I =
N
M
o
1
o
2
|
1
|
2
L
|
1
|
2
Srie L
o
1
o
2

1

2
K
Srie K
Fig. 10 - Schma des transitions des raies caractristiques d'un atome de cuivre.
Diffraction des rayons X
19
Elment K
o1
() K
o2
() K
o
() K
|1
()
Ag 0.55941 0.56380 0.56084 0.49707
Mo 0.70930 0.71359 0.71073 0.63229
Cu 1.54056 1.54439 1.54184 1.39222
Ni 1.65791 1.66175 1.65919 1.540014
Co 1.78897 1.79285 1.79026 1.62079
Fe 1.93604 1.93998 1.93998 1.75661
Cr 2.28970 2.29361 2.29100 2.08487
Tableau. 3 - Energies et longueurs donde des raies K caractristiques des matriaux utiliss dans les tubes RX
Le tableau 3, rassemble les nergies et les longueurs donde des raies K caractristiques des
matriaux les plus utiliss dans les tubes RX.
La longueur donde de la raie K
o
non rsolue :
3
2 2 | o
o

k k
k
+
=
(7)
Ainsi, l'nergie de la raie Cu (K
o1
) est gale la diffrence des nergies de liaison des niveaux
K et L
III
, c'est dire :
) ( ) ( ) ( 1 1 Cu E Cu E Cu E LIII k k = o
Diffraction des rayons X
20
II - NOTIONS DE CRISTALLOGRAPHIE
Plus de 95% des solides existent ltat cristallis. Dautres substances comme les verres,
ainsi que les liquides, les gaz et les plasmas ont une structure amorphe.
Les matriaux peuvent tre classs selon quils prsentent :
- une structure parfaitement dsordonne comme les gaz monoatomiques,
- un ordre courte distance tel les gaz multiatomiques, les verres et les substances
amorphes,
- une structure bien ordonne, cest dire les substances cristallises.
Certains solides peuvent passer dun tat cristallis un tat amorphe ou inversement, par
exemple par fusion ou sublimation.
Initialement, le domaine de la cristallographie tait limit ltude gomtrique des cristaux.
II.1 - Rseaux cristallins
Une grande partie de la matire solide (mtaux, oxydes, minraux, sels...) est sous forme
cristalline.
II.1.1 - Cristal monoatomique
Cest un empilement infini et rgulier d'atomes identiques :
- infini : la distance entre deux atomes voisins d'un cristal est de quelques angstrms
(1 = 10
-10
m), donc dans un cristal de 1 micron cube, il y a de l'ordre de 10
12
atomes, soit
10 000 milliards ;
- rgulier : les atomes sont empils de manire ordonne, selon un schma rptitif ou
"rseau" (lattice en anglais).
Un rseau est un ensemble de points, ou "nuds", en 3 dimensions, qui prsente la proprit
suivante : Lorsque l'on se translate dans l'espace selon certains vecteurs, on retrouve exactement le
mme environnement. Il y a donc une priodicit spatiale (fig.11).
Fig. 11 - Invariance par translation dans un rseau
Diffraction des rayons X
21
Le rseau est donc un objet mathmatique descriptif. A chaque nud de ce rseau se trouve
un "motif", c'est dire un objet physique, souvent un atome. Dans certains cas, le motif peut tre
une molcule (par exemple, I
2
dans un cristal d'iode, H
2
O dans un cristal de glace, produit
organique cristallis comme le sucre...), voir une molcule trs complexe. Il faut donc maintenant
tendre la dfinition prcdente aux diffrents cas.
II.1.2 - Cristal
Cest un empilement infini et rgulier de motifs identiques, un motif pouvant tre un atome,
plusieurs ou bien une molcule.
On peut illustrer ces notions de motif (Fig.12) et de rseau dans le cas d'un carrelage : les
carreaux sont les motifs, et leurs emplacements sont les nuds d'un rseau.
Fig. 12 - Illustration de la notion de motif et de rseau dans un carrelage
Ceci fut confirm en 1912 par les expriences de diffraction de rayons X sur la matire par
Laue : la figure de diffraction tant elle-mme un rseau ordonn, cela ne peut s'expliquer que s'il y
a une priodicit spatiale.
Diffraction des rayons X
22
Les principales symtries sont :
paralllpipdes rectangles
Cubique
Ttragonale ou
Quadratique
(base carre)
Orthorhombique
(base rectangulaire)
Prismes droits
Hexagonale
(base losange 120
o
)
Monoclinique
(base paralllogramme
quelconque)
prismes obliques
Rhombodrique ou
Trigonale
(tous les cts sont gaux,
tous les angles sont
gaux)
Triclinique
(prisme quelconque)
Fig.13 - Principales symtries cristallines
Diffraction des rayons X
23
On voit que l'on peut dcouper le rseau en mailles, une maille tant la plus petite portion
(fig.14) du rseau ayant les mmes symtries que le rseau lui-mme. Une maille est donc un
prisme compos de plusieurs nuds ; le rseau est un empilement de mailles lmentaires.
Fig. 14 - Exemple de mailles lmentaires dans des rseaux deux dimensions
Les motifs sont donc situs aux nuds du rseau, c'est dire aux 8 sommets de la maille
lmentaire. Cependant, on a parfois des motifs situs au centre de la maille, structure dite
"centre", ou bien encore aux centres des faces, structure dite " faces centres" (fig.15).
Fig. 15 - Structures cubique centre (cc - ou body centered cubic bcc) et cubique faces centres (cfc - ou face
centered cubic fcc).
En combinant ces diffrentes possibilits, on obtient les 14 rseaux de Bravais (cf II.1.5)
II. 1.3 - Paramtres de maille (fig. 16)
Fig. 16 - Paramtre de 4 types de maille classiques
Diffraction des rayons X
24
Les paramtres de maille dsignent les dimensions de la maille lmentaire. Dans le cas le
plus complexe, le rseau triclinique, on a 6 paramtres : trois dimensions a, b et c, et trois angles, o,
| et . Dans le cas du rseau cubique, on ne cite qu'un paramtre de maille, a (puisque a = b = c, et
que o = | = = 90), dans le cas d'un orthorhombique, on n'en cite que trois, a, b et c (puisque o =
| = = 90), et dans le cas de l'hexagonal, on en cite galement trois, a, c et = 120 (puisque a =
b, et que o = | = 90).
II. 1.4 - Plans nodaux (plans atomiques) et indices de Miller
On appelle un plan nodal (fig. 17 et 18) l'ensemble des nuds situs sur un plan de l'espace.
Cette notion joue un rle trs important dans les phnomnes de diffraction ainsi que pour la
dformation plastique. tant donn que la plupart des motifs tudis sont des atomes uniques, on
parle souvent de "plan atomique". Un des problmes de la cristallographie consiste donc dcrire
ces plans, c'est dire notamment donner leur orientation dans l'espace. Cette orientation est
donne par trois nombres entiers mis entre parenthse, dits "indices de Miller", et traditionnellement
appels h, k et l ; on parle ainsi de plans (100), (110)... La premire ide consiste donc dfinir une
base vectorielle lie au rseau. On prend pour vecteurs de la base les arrtes de la maille
lmentaire ; donc, en dehors des structures cubiques, la base est quelconque, c'est dire ni
orthogonale, ni norme.
L'orientation d'un plan est dcrite, comme en mathmatiques, par la donne de son vecteur
normal. Dans le cas d'un rseau cubique, ce vecteur est perpendiculaire au plan. Dans le cas d'un
rseau quelconque, il n'est plus perpendiculaire au sens "angle droit", mais si on dformait la maille
pour la rendre cubique, alors il le deviendrait. Ce sont les coordonnes de ce vecteur qui forment les
indices de Miller. Lorsque des coordonnes de vecteur sont ngatives, on place une barre au-dessus
de l'indice de Miller correspondant : par exemple, le plan reprsent par le vecteur de composantes
(-1,1,2) sera not (1 1 2). Cependant, la barre au-dessus ne faisant pas partie des polices
informatiques standard, on le verra aussi souvent crit (-112). Pour des raisons gomtriques
videntes, si l'on change le signe des trois indices, on obtient le mme plan, (hkl) = (-h-k-l).
Du fait de l'invariance par translation du cristal, il y a une infinit de plans parallles entre
eux. La distance, qui spare deux plans parallles voisins, est appele "distance inter-rticulaire", et
est note d
hkl
. On remarque que plus les indices de Miller sont levs, plus les plans sont proches
(plus d
hkl
est petit).
Diffraction des rayons X
25
Fig. 17 - Plans nodaux, vecteurs normaux et distance inter-rticulaire
Fig. 18 - Exemples de plans nodaux dans un rseau cubique
Dans le cas ou il y a des nuds au centre des mailles ou des faces, il peut y avoir des "sous-
plans" (fig.19) d'indices suprieurs :
Diffraction des rayons X
26
Fig. 19 - "Sous-plans" de type (002) dans une structure cubique centre
II.1.5 - Rseaux de Bravais
Au paragraphe II.1.2, nous avons dcrit 7 formes de mailles, 7 rseaux lmentaires. Chaque
rseau peut se dcliner de quatre manires :
- Simple : il y a un motif chacun des 8 sommets de la maille, notation P (primitive) ;
- Centre : il y a de plus un motif au centre de la maille, notation I
- A faces centres : il y a un motif au centre de chaque face, notation F (face) ;
- A deux faces centres : il y a un motif au centre de deux faces opposes, notation C ;
O C dsigne les faces perpendiculaires l'axe des z, puisque le paramtre c est la dimension de la
maille selon cet axe, on peut avoir de mme A ou B ;
ceci, il faut ajouter la structure rhombodrique : dans le cas de la symtrie trigonale (ou
rhombodrique), on peut avoir les motifs disposs en rhombodre au sein d'une maille hexagonale ;
en plus des 12 nuds aux sommets du prisme base hexagonale, on a des nuds situs sur les
segments parallles l'axe ; ceci est not R (rhombodre) ; seules les mailles trigonales peuvent tre
R.
On obtient donc ainsi 14 rseaux de Bravais (cf. tableau 3.1).
Diffraction des rayons X
27
Systme simple (P) centr (I)
2 faces centres
(C)
faces centres
(F)
structure
rhombodique
(R)
Cubique
Hexagonal
Ttragonal
(quadratique)
Trigonal
(rhombodrique)
Orthorhombique
Monoclinique
Triclinique
Tableau 4 - Les 14 rseaux de Bravais
Diffraction des rayons X
28
II.1.6 - Indices de Miller
Du fait de l'invariance par translation, il y a une infinit de plans atomiques parallles un
plan atomique donn. Considrons une maille lmentaire munie de son repre dfini au paragraphe
2.3. Alors, le plan d'orientation (hkl) le plus proche de l'origine mais ne passant pas par l'origine,
coupe l'axe des x en 1/h, l'axe des y en 1/k et l'axe des z en 1/l ; si l'un des indices est nul,
alors le plan est parallle l'axe, avec la convention .
Fig. 20 - Indice de Miller et interception des axes
Dans le repre de la maille, le plan a pour quation
h.x + k.y + l.z = C
O C est une constante.
* Ranges nodales
Il peut tre intressant de reprer les directions, les droites, dans un cristal. C'est par exemple
trs utilis dans le domaine de la dformation plastique (vecteurs de Burger).
- Dfinition
On appelle range nodale une droite de l'espace passant par des nuds du cristal.
De mme que pour les plans nodaux, on parle souvent de "ranges atomiques". Les indices de
Miller d'une range sont nots entre crochets [uvw]. u, v et w sont des entiers qui sont les
composantes d'un vecteur de la droite. Les nombres ngatifs tant nots avec une barre au-dessus.
On parle aussi de direction cristallographique pour dsigner les indices [uvw].
Diffraction des rayons X
29
Fig. 21 - Indice de Miller de quelques directions cristallographiques dans une maille triclinique
* Cas des structures cubiques
Dans le cas des structures cubiques, on peut appliquer toutes les relations classiques de la
gomtrie et de la trigonomtrie. On peut par exemple calculer aisment la distance inter-
rticulaire :
O a est le paramtre de la maille.
De plus, d'aprs les symtries des structures cubiques, on voit que les plans (100), (010) et
(001) sont quivalents. De manire plus gnrale, si l'on considre les plan (hkl), alors tous les plans
obtenus par permutation des indices et par leur changement de signe sont quivalents ((hkl), (hlk),
(lhk).) ; on parle alors de famille de plans {hkl} (notation entre accolades). Ainsi, la famille {110}
comprend les plans :
De mme, les directions cristallographiques obtenues par permutation et changement de signe
des indices de Miller sont quivalentes, on parle donc de famille de ranges <uvw> (notation entre
brackets). Ainsi, la famille <110> comprend les droites :
Mais ceci n'est malheureusement valable que pour les rseaux cubiques...
Diffraction des rayons X
30
III - THEORIE DE LA DIFFRACTION des RX
III.1 - Introduction
La diffraction des rayons X (DRX) est une mthode universellement utilise pour identifier la
nature et la structure des produits cristalliss. Cette mthode ne s'applique, jusqu' rcemment, qu'
des milieux cristallins (roches, cristaux, minraux, pigments, argiles...) prsentant les
caractristiques de l'tat cristallin, c'est--dire un arrangement priodique et ordonn des atomes
dans des plans rticulaires (hkl) tridimensionnels. La mthode permet ainsi clairement de distinguer
les produits amorphes (verres...) des produits cristalliss. La diffraction des rayons X sur poudre est
une mthode d'analyse de phases non destructive. Au dbut de son introduction (annes 1910), la
diffraction des rayons X tait utilise surtout pour dterminer les structures des cristaux.
Grce l'avance technologique moderne, qui a introduit la diffractomtrie, la diffraction
permet la dtermination des structures nouvellement labores, et d'identifier en quelques minutes
les phases cristallises prsentes dans tout matriau par comparaison automatise avec un fichier de
rfrences ractualis annuellement et comportant actuellement les donnes de plus de 69 500
composs. Elle permet galement d'tudier les conditions de formation de phases, leur volution en
fonction de la temprature ou de l'atmosphre, donc de connatre le comportement d'un matriau
dans les conditions d'utilisation telles que la temprature, le balayage gazeux, etc. D'autres
applications de la diffraction des RX ont t aussi dveloppes. On citera :
- La dtermination des macrocontraintes et microcontraintes rsiduelles
- La dtermination du degr de texture ou d'orientation prfrentielle,
- L'analyse des dpts en films minces, jusqu quelques centaines dangstrms (diffraction
en incidence rasante).
- Lanalyse des couches minces par rflectomtrie, etc.
Le diffractomtre de poudres, compte parmi les appareils les plus utiliss actuellement dans le
monde industriel et de la recherche, cause de sa simplicit et de sa gnralit d'emploi. Par contre,
le diffractomtre pour monocristaux qui permet l'tude des structures des cristaux est surtout utilis
dans les instituts de cristallographie de chimie et de biologie.
Actuellement on assiste l'utilisation de synchrotrons dont la technique est base sur le
principe de l'mission d'un rayonnement par des particules charges acclres des vitesses
proches de celle de la lumire. Cette technique permet d'tudier les couches minces et trs
rcemment les matriaux amorphes.
III.2 - Thorie de la diffraction des rayons X
A la suite de la dcouverte des rayons X par Rntgen en 1895, les premires applications ont
t tournes vers l'tude des cristaux car on esprait mettre en vidence les atomes constitutifs des
molcules et confirmer ainsi la justesse du nombre d'Avogadro.
En 1912 le physicien Lae dtermine grce un rseau cristallin la longueur d'onde de rayons
X. Il devint donc possible de faire l'inverse, c'est--dire de dterminer les distances entre les atomes
Diffraction des rayons X
31
grce ces mmes rayons. La plupart des scientifiques du dbut du sicle dont Pasteur utilisrent
ainsi les rayons X pour tudier les corps cristalliss.
III.2.1 - Diffraction des RX par les cristaux
III.2.1.1 - Principe
Les corps cristallins peuvent tre considrs comme des assemblages de plans rticulaires
plus ou moins denses. Les plans contiennent les atomes (fig.22) : certains plans contiennent bien
plus d'atomes que d'autres en fonction de la formule chimique du minral. Ces plans rticulaires
sont spars par des distances caractristiques (d) selon la nature du cristal ou du minral considr.
Trois ou quatre distances rticulaires bien choisies permettent une reconstitution du rseau cristallin
du minral.
Avec un rayonnement de longueur d'onde suffisamment petit on peut obtenir des diffractions
par les plans rticulaires (de la mme manire que les rayons lumineux sont diffracts par les petites
fentes d'un rseau en optique). Cette rfraction est d'autant plus intense que le plan est dense
c'est--dire riche en atomes.
On assiste au phnomne de diffraction dans une direction donne, si les ondes du
rayonnement diffuses par les nuds des diffrents plans rticulaires du rseau cristallin engendrent
une interfrence constructive dans cette mme direction. Cette condition s'exprime de manire
simple soit dans le rseau direct, en considrant les familles des plans (hkl) dans le rseau direct
(condition de Bragg), soit par la condition de Laue, en considrant les ranges [hkl]* du rseau
rciproque.
III.2.1.2 - Condition de BRAGG
Soient deux ondes arrivant sur deux plans rticulaires sous un angle d'incidence u et
diffuses sous le mme angle (fig.23). La diffrence de marche entre les ondes, entre les plans (P) et
(P) est donne par :
Fig. 22 - Organisation tri - priodique d'un cristal
Diffraction des rayons X
32
O
O'
u
H
H'
(1)
(2)
(1')
I n t e r f r e n c e s :
Constructives
Destructives
Diffraction Absence
de
diffraction
(P)
(P)
(2')
) (
sin
) (
2 ' '
hkl hkl
d H O HO u o = + =
La diffraction aura lieu quand la condition d'interfrence constructive est vrifie, savoir :
o n =
La condition de diffraction, dite de Bragg est alors :
u ) ( ) ( ) ( sin 2 hkl hkl hkl n d = (3)
Cette quation reprsente la relation fondamentale qui rgie la diffraction.
- - - - - - -
- - - - - - -
- - - - - -
Fig. 23 : Principe de la loi de Wulff-Bragg
Remarque 1 : On assistera au phnomne de diffraction, ce qui est peu probable, si et seulement si on a :
Une diffusion accompagne dinterfrences constructives
Remarque 2:
De la relation (1) :
sinu s 1 s 2d
hkl
La longueur d'onde du rayonnement utilis en diffraction doit tre de l'ordre de la distance inter rticulaire des
matriaux cristallins. Comme ces distances sont de l'ordre de quelques angstrms, le rayonnement correspondant
appartient au domaine des RX ( II-1).
La longueur des RX utiliss en diffraction est comprise entre 0.1 et 3 environ.
2u
d
(hkl)
Diffusion
Rayonnement
diffus
Rayonnement
incident

Atomes
d
(hkl)
Diffraction des rayons X
33
Pour effectuer les mesures, l'appareil de base est un goniomtre. Il diffre peu des
goniomtres classiques qui servent mesurer les angles entre les plans des faces cristallines (les
angles didres) si ce n'est la prsence d'une source de rayons X (les rayons utiliss ont gnralement
une longueur d'onde de l'ordre de 0,5 2 ) et d'un dtecteur ou d'un film photographique.
III.2.1.3 - Condition de Laue
La condition de diffraction exige que :
- Le vecteur K

A soit un vecteur du rseau rciproque,


R K K K

= = A 0
- Les extrmits des vecteurs 0 K

et K

soient des nuds du rseau rciproque.


-
Rayonnement incident
Dans le R.R, la distance inter-rticulaire scrit :
*
) (
R
n
d hkl =
,
De la figure 24, on relve :
u

u ) ( ) ( ) ( sin 2
2 2
*
sin hkl hkl hkl n d
d n
r
= = =
Ou de la figure 25, on dduit :
u

u ) (
) (
sin 2
2 * 2 2
sin hkl
hkl
n d
d
n
R K
K
= = =
A
=
P
u
Q
O
2/
2u
Cristal
r*
Rayonnement transmis
Direction du
rayonnement diffract
u
Sphre de rsolution
Fig. 24 - Position de la sphre de rflexion dans un rseau rciproque
Sphre d'Ewald
Diffraction des rayons X
34
u
Nud du rseau
AK
K
0
K
Nud du rseau
Famille de
plans (hkl)
On retrouve ainsi la condition de Bragg partir de celle de Laue (fig.IV.4).
Fig. 25 - Condition de diffraction de Laue.
III.2.1.4 - Direction du faisceau diffract
Fig.26 - Directions du faisceau diffract.
Dans le cas de poudres dont les cristallites sont orients de manire alatoire, la direction de
diffraction, donne par la loi de Bragg, gnre des cnes (fig. 26) de rvolution dont l'axe est
confondue avec la direction du faisceau incident.
Faisceau
incident
Echantillon
Rayons diffracts
retour
Faisceau
Emergeant
Cnes de diffraction
"en retour"
Cnes de diffraction
"en direct"
Faisceau
incident
Rayons diffracts
direct
Diffraction des rayons X
35
III.2.2 - Les diffrentes mthodes de diffraction des rayons X
Selon la nature du renseignement que l'on dsire obtenir - identification minralogique simple
ou structure cristalline - et selon la nature du matriau, diffrentes analyses sont possibles. Les
mthodes diffrent selon qu'elles utilisent des rayons X polychromatiques ou monochromatiques.
III.2.2.1 - La mthode de Lae
Elle utilise un petit cristal ou une section plane dans un cristal sur lesquels tombe le faisceau
polychromatique de rayons X. Le cristal est immobile et l'interaction des rayons X avec les plans
rticulaires fait que certaines incidences satisfont la relation de Wulff-Bragg. Les rayons diffracts
forment des taches : elles permettent de mettre en vidence la symtrie cristalline.
III.2.2.2 - La mthode des poudres ou de Debye-Scherrer
C'est la mthode la plus utilise lorsque le matriau est rductible une fine poudre (les grains
sont de l'ordre de 0,01 mm), ce qui est presque toujours possible.
On fait tomber le faisceau de rayons X qui est ici monochromatique sur la poudre
microcristalline dispose sur une petite baguette de verre, dans un petit capillaire ou encore tale
sur un lame mince spciale.
Fig. 27 - Principe de la chambre de Debye-Scherrer
F, C = fente, collimateur du rayonnement X, E = place de l'chantillon, P = puits d'absorption des rayons X
L'hypothse de base est que parmi tous les petits cristaux prsents (en principe non orients) il
s'en trouvera suffisamment pour prsenter des faces cristallines telles que des diffractions pourront
se faire selon l'angle 2 de Bragg.
Diffraction des rayons X
36
Selon les appareils, on enregistrera donc les rayons diffracts sur un film photographique avec
une chambre cylindrique ou on obtiendra un diffractogramme par l'intermdiaire d'un compteur de
rayons X (Geiger-Muller) qui dtectera les rayons diffracts et leur diffrente intensit.
Avec une chambre circulaire de Debye-Scherrer (fig. 27), on obtient sur le film des anneaux
concentriques dont chacun reprsente une distance rticulaire.
Sur le diffractogramme (fig. 28), on obtient une succession de pics correspondant des
angles prcis : chacun de ces pics correspond une distance rticulaire.
III.2.2.3 - La mthode du cristal tournant
Pour cette mthode il faut disposer d'un monocristal (de bonne qualit). Le cristal de petite
taille est plac au centre de la chambre. Il tourne autour de son axe et reoit le faisceau incident de
rayons X monochromatique. Chaque rayon rfract se traduit par l'apparition d'une tache sur la
plaque photographique. On peut ainsi tudier le rseau cristallin.
III.2.2.4 - Autres mthodes
La possibilit de dtection annulaire (et non plus circulaire comme dans le goniomtre ) ainsi
que l'augmentation considrable de la puissance du tube rayons X ( haute brillance : 60 kV, 200
mA) a donn naissance de nouveaux diffractomtres trs performants permettant d'analyser trs
peu de matire. Le modle Rigaku est particulirement recommand pour l'analyse des quantits
de l'ordre du milligramme ou des surfaces de l'ordre de 30 m
2
.
III.2.3 - Obtention des rsultats
Les diffrentes distances rticulaires des milliers de minraux naturels ou artificiels sont
disponibles sous forme de fiches, de recueils de fiches ou sur CD-Rom. Ils ont t labors par
l'ASTM (American Society for Testing Materials) et constituent la rfrence : plusieurs milliers de
minraux sont ainsi dcrits avec toutes leurs distances rticulaires.
Fig. 28 - Diagramme de Debye-Scherrer sur film.
L'identification se fait manuellement (on indexant les pics) ou automatiquement en utilisant
des logiciels d'identification et les banques de donnes de rfrences ASTM.
Raies de diffraction
Diffraction des rayons X
37
Les diffrents anneaux correspondent aux pics obtenus avec le diffractomtre. Ils indiquent
une valeur de distance rticulaire.
Les difficults d'application de la mthode diffractomtrique sont lies :
- La ncessit de prlever et mettre suffisamment de matire dans le porte substrat, pour
quelle soit reprsentative ;
- La prsence de plusieurs produits : les mlanges sont toujours difficiles analyser car les
pics caractristiques peuvent se confondre ;
- Certains effets de matrice ou de structure (argiles par exemple) qui peuvent perturber
l'analyse diffractomtrique.
III.2.4 - Applications aux uvres d'art
L'application de la diffractomtrie l'tude des constituants des uvres d'art se heurte la
ncessit de prlever suffisamment de matire pour obtenir un rsultat satisfaisant. Plusieurs
dizaines de milligrammes de matire sont en effet ncessaires pour obtenir une analyse.
Analyse de pierres prcieuses (gemmes)
Les gemmes sont parfois difficiles identifier car les pierres naturelles sont trs difficiles
diffrencier des minraux artificiels ou de simples verres colors. La diffraction permet d'identifier
le cristal sans ambigut.
Analyse des sels d'altration des pierres, des cramiques, des terres cuites
Les sels d'altration des matriaux pierreux sont constitus de minraux souvent de mme
aspect cristallis blanchtre avec des teneurs fortes en calcium. La diffraction des rayons X permet
de diffrencier facilement les diffrents produits d'altration : sulfates de calcium, chlorures de
calcium, nitrates de calcium etc.
Analyse des pigments des peintures (de chevalet, murales...)
En association avec les mthodes d'analyse lmentaires (qui ne donne accs qu' l'lment
chimique et non la formule complte) la diffraction permet une dtermination parfaite des
minraux constitutifs des pigments. Par exemple l'azurite et la malachite ne donnent qu'un signal
cuivre en analyse lmentaire. Seule la diffraction des rayons X permet de les diffrencier. Il en est
de mme des pigments base de plomb ou de fer. Les blancs de plomb sont particulirement bien
identifis par cette mthode, alors qu'en spectromtrie lmentaire diffrents lments gnent la
reconnaissance.
Les produits de corrosion des mtaux dont les bronzes, qui sont des chlorures, des sulfates,
des oxydes de cuivre sont bien identifis en diffraction X alors qu'en spectromtrie d'nergie ils ne
donnent qu'un signal Cu.
Diffraction des rayons X
38
III.3 - La diffraction des lectrons
Beaucoup moins utilise que la diffraction des rayons X, la diffraction lectronique est une
puissante mthode d'identification des composs minralogiques microscopiques. A ce titre elle
prsente un grand intrt pour l'tude des constituants des uvres d'art.
Principe
En microscopie lectronique transmission, le faisceau d'lectrons peut servir non seulement
constituer les images mais aussi en le dfocalisant, pour obtenir des diffractions. On dmontre
qu'il existe une relation simple entre la distance des plans rticulaires (h,k,l) du rseau direct et la
distance sparant les nuds correspondants du rseau rciproque (d*) (celui-ci ne sera pas dtaill
ici car il s'agit d'une notion complexe).
d
s
d
hkl
hkl -
=
2
Avec s
2
produit de la longueur d'onde du faisceau utilis et de la distance du film la
prparation.
En comparant avec un standard interne (en gnral de l'aluminium) on peut calculer les
distances interrticulaires des minraux observs par une formule approprie.
L'avantage est donc de combiner l'observation microscopique fort grossissement (de l'ordre
de x 20 000 ) avec l'identification cristallographique.
Applications
A partir de coupes stratigraphiques de peintures de chevalet, des sections ultra-fines ont t
pratiques afin d'obtenir une prparation pour microscopie lectronique transmission : il est en
effet ncessaire que le faisceau lectronique traverse l'chantillon pour l'observation. Ceci ncessite
une dlicate opration de coupe avec un microtome spcial.
Sur la coupe observe, les grains de pigments peuvent tre aisment diffrencis des autres
minraux (quartz, calcite...) et des produits organiques.
Les pigments eux-mmes peuvent tre dtermins par l'analyse minralogique en complment
des observations morphologiques et des analyses lmentaires par spectromtrie X de dispersion
d'nergie
Diffraction des rayons X
39
IV - Interaction des rayons X avec la matire
Les diffrents processus d'interaction des photons X avec la matire sont rsums sur le
schma (fig. 29) suivant :
Fig. 29 - Diffrents processus d'interaction photons - matire
IV.1 - Absorption des rayons X dans la matire : Loi macroscopique
Labsorption des rayons X dans la matire se traduit par la diminution de lintensit du
faisceau traversant un cran. Les photons disparus du faisceau transmis sont soit, dvis par
diffusion (effet Compton, diffusion de Reileight,) soit absorb compltement par interaction
photo-lectrique avec les atomes. C'est ce dernier phnomne qui constitue l'absorption vraie du
rayonnement X.
Fig. 30 - Loi d'absorption
Pour un faisceau incident parallle de rayons x mononchromatique d'nergie E
0
et d'intensit
I
0
(fig. 30), pntrant sous incidence normale dans un matriau d'paisseur x (x en cm) et de densit
(g/cm
3
), le rayonnement transmis est absorb suivant une loi exponentielle dite de Lambert.
L'intensit transmise I est donne par la relation :
x x
e I e I I

= = 0 0
A
B
S
O
R
P
T
I
O
N
I
0
I
Photolectrons
Photons transmis
Electron Auger
Diffusion Compton
Diffusion Reyleigh
Fluorescence
dx
x
Photons
incidents

Diffraction des rayons X


40
Avec, : coefficient d'absorption linaire (cm
-1
)
et
= (

/
) : coefficient d'absorption mssique (cm.g
-1
).
Le coefficient d'absorption massique, conrtrairement au coefficient d'absorption linaire, ne
dpend pas de l'tat dans lequel se trouve les lments absorbants (liquide, solide ou gazeux). Et de
ce fait, sont faciles tabuler (voir annexe).
Il se trouve que l'effet photolectrique, en gnral, est le mcanisme le plus prpondrant dans
le phnomne d'absorption des rayons X par la matire.
Etant donn que l'absorption est un phnomne atomique, le coefficient d'absorption d'un
compos ou d'un mlange, est la somme des coefficients atomiques de chaque lment, multipli
par le nombre d'atomes correspondants. Il en rsulte une rgle d'addition des coefficients
d'absorption massiques :
i
i
i
c
) ( ) (

=
O c
i
est la concentration massique de l'lment i.
IV.2 - Variation du coefficient d'absorption en fonction de la longueur d'onde et
d'un numro atomique Z
La variation du coefficient dabsorption en fonction de la longueur donde (fig. 20), pour un
lment donn, prsente des discontinuits qui sexpliquent par le mcanisme de leffet
photolectrique.
Le choc de latome et du photon est comparable celui de latome et de llectron, choc dcrit
lors de ltude de lmission des raies caractristiques : latome qui a absorb le photon est ionis,
cest--dire quun lectron est expuls d'une couche profonde de l'atome. Pour quune certaine
couche, K par exemple, puisse tre ionise, il faut que lnergie du photon (E = hc / ) soit
suprieure ou gale lnergie de liaison (
k
k
hc
W

= ) de llectron, soit,
wk
k
hc
=


L'lectron ject, appel photo-lectron, emporte l'nergie excdante sous forme d'nergie
cintique :
i i W h E = u
chaque couche lectronique correspond une longueur donde limite, comme il lui
correspond un potentiel limite dexcitation V
.
Dans le cas de couche, par exemple, ces deux valeurs
sont relies par la relation :
) (
12398
) (
volts
hc
A
V eV k k
k
= =

Diffraction des rayons X


41

L1

L2
Le coefficient d'absorption varie en fonction de la longueur d'onde du rayonnement utilis et
du numro atomique de l'lment absorbant. Entre deux discontinuits d'absorption (/) varie
comme le cube de la longueur d'onde (fig. 31), et comme la quatrime puissance du numro
atomique :
4 3
Z C

=
A chaque discontinuit d'absorption, la constante C varie fortement. Ceci est d ce qu'une
discontinuit marque l'endroit de l'chelle des longueurs d'onde o le photon incident est capable
d'jecter un lectron d'une couche atomique donne.
Z

|
|
.
|

\
|

Fig.31 - Variation du coefficient d'absorption (u, a) en fonction de la longueur d'onde (u, a).
Le coefficient d'absorption correspond, en fait, la contribution de quatre processus (fig. 32):
l'effet photolectrique, la diffusion cohrente, la diffusion incohrente et la cration de paires
lectron-positron.
Il est souvent utile de connatre pour les substances usuelles, l'paisseur qui rduit de moiti,
par exemple (tableau 5), l'intensit d'un rayonnement de sa valeur initiale On trouve facilement
que :

) , (
2 1
69 . 0
Z
x
=

L3

Diffraction des rayons X


42
Compton
Photolectrique
K
L M
Reileigh
(

)
Z
Tantale
10 10
1
10
2
10
3
Fig. 32 - Diffrents processus d'interaction
:
()
Substance absorbante
Air
0C, 760mm Hg
Cellophane Al Cu Pb
0.1
0.7
1.5
2.0
.
4100
620
260
43
4
1.10
0.49
16
0.50
0.056
0.025
2.1
0.016
0.016
0.0071
0.16
0.0044
Tableau 5 - Epaisseur (mm) de substance absorbante rduisant de moiti l'intensit d'un rayonnement.
IV.3 - Effet de la Fluorescence (fig. 33)
Lorsqu'on irradie un volume de matire de la cible avec des lectrons, il y a mission d'un
rayonnement X. Ce dernier peut, ventuellement, son tour ioniser par effet photolectrique,
d'autres atomes appartenant un d'autres lments, et ce, avant son mergence de la cible. Il en
rsulte le mme processus d'mission X que celui qui a t dcrit pour l'excitation par des lectrons.
Le rayonnement secondaire dit de fluorescence due aux photons primaires, se superposera au
rayonnement primaire (d aux lectrons) et ne peut tre diffrenci par le spectromtre.
E(keV) (chel. log)
Diffraction des rayons X
43
E
A
1
E
A
2
Atome A Atome B
Fig.33 - Mcanisme de fluorescence
IV.3.1 - Fluorescence due aux raies caractristiques
La cible ou anticathode, est gnralement compose de plusieurs lments, surtout quand
celle-ci est utilise de faon accrue provoquant la pollution et la formation d'oxydes et d'autres
phases. Et lorsqu'on analyse le spectre d'mission d'un tube (de cuivre par exemple), des photons
(engendrs par l'excitation d'lments autres que le cuivre), dont l'nergie est suprieure celle du
niveau k de la cible, peuvent exciter les niveaux de cette dernire. Les raies correspondantes
peuvent tre caches par superposition avec les raies de fluorescence et deviendront plus intenses
que dans la ralit.
IV.3.2 - Fluorescence due au fond continu
De la mme faon, dans le spectre du cuivre toute la bande spectrale (A =
0
-
l
) comprise
entre la longueur d'onde minimale
0
et la longueur marquant la discontinuit d'absorption
l
, est
capable d'exciter par fluorescence le niveau l.
Remarquons que l'effet de la fluorescence est pratiquement ngligeable dans le cas o la cible
serait utilise comme anticathode d'mission ou production des RX. Car le filtrage attnue les raies
satellites dues la fluorescence ventuellement prsentes. Le matriau de l'anticathode ne prsente
gnralement que des lments trangers sous forme de traces, dont la concentration dpend du
vieillissement du tube. L'influence de la fluorescence peut tre importante dans le cas d'une mise en
uvre d'une analyse quantitative d'un chantillon.
IV.4 - Effet Auger
Ce mode de dsexcitation (fig.34) de l'atome conduit l'mission d'un lectron par effet
photolectrique interne" au lieu d'un photon X. Dans le cas des lments lgers, l'mission Auger est
importante et se trouve en concurrence avec le phnomne de fluorescence X. Il prsente ainsi une
double ionisation de l'atome, perturbant ses niveaux d'nergie.
La spectroscopie Auger est utilise pour l'analyse superficielle des matriaux.
Photolectron Photolectron
lectron
hv = E
B
2
- E
B
1
E = E
A
2
- E
A
1
= hv
o
> E
B
1
E
B
2
E
B
1
Diffraction des rayons X
44
IV.5 - Diffusion des rayons X par la matire : Interactions rayonnement X -matire
Outre les rayonnements lectroniques et de fluorescence, lis leffet photolectrique, toute
matire touche par les rayons X met un rayonnement secondaire dont la longueur donde est gale
(ou trs voisine) celle du rayonnement primaire : c'est la diffusion sans changement de longueur
d'onde ou diffusion cohrente. Elle gnre des interfrences constructives qui donnent naissance
la diffraction. Elle est lorigine de lapplication scientifique la plus importante des rayons X, la
dtermination de la structure atomique des cristaux.
IV.5.1 - Effet photolectrique 2 (fig. 35, 36)
L'nergie du photon incident est totalement transfre un lectron d'une couche interne
(photolectron).
Fig. 35 - Effet photolectrique
La vacance cre dans la couche interne est comble par un lectron issu d'une couche plus
externe, l'nergie tant libre sous forme d'un photon X de fluorescence ou d'un lectron Auger.
Les photons X de rarrangement des couches lectroniques portent le nom gnrique de la
couche contenant la vacance initiale : X
K
, X
L
,...
Un photon d'nergie incidente E
I
(fig. 36) qui interagit avec un lectron d'un atome cible peut
jecter cet lectron de son orbite en lui communiquant une nergie cintique E
C,
telle que :
Fig.34 - Mcanisme de l'effet
Auger
Photon
Electron Auger
Diffraction des rayons X
45
E
C
= E
I
- E
L
,
O E
L
est l'nergie de liaison de l'lectron ject de son orbite.
Fig.36 - Effet photolectrique
Si l'nergie du photon incident est infrieure l'nergie de liaison de l'lectron K, l'effet
photolectrique se fait avec un lectron de la couche L,... etc.
a) Le photolectron mis en mouvement perd son nergie par phnomne d'ionisation du
milieu, comme on l'a vu lors du premier cours: Ces ionisations sont l'origine des
radiolsions.
b) La seconde consquence d'une interaction par effet photolectrique est la rorganisation du
cortge lectronique pour combler la lacune sur la couche dont a t expuls l'lectron.
Il en rsulte essentiellement l'mission d'un autre lectron d'une couche encore plus
priphrique que l'on appelle un lectron Auger.
IV.5.3 - Effet Compton ; diffusion incohrente (fig. 37)
Cest en 1926 que A. H. Compton a dcouvert, en tudiant le spectre du rayonnement
diffus, que celui-ci comportait, ct de la longueur donde de la radiation incidente, une radiation
de longueur donde lgrement plus grande, la diffrence ne dpendant pas de la nature du diffuseur
mais seulement de langle de diffusion. Leffet Compton sexplique simplement en appliquant les
lois de la conservation de lnergie et du moment au choc du photon et dun lectron libre.
Le photon est dvi, llectron acquiert une nergie cintique qui dpend de langle de
diffusion, et lnergie de recul est soustraite lnergie du photon hv.
Diffraction des rayons X
46
Le photon secondaire hv' correspond ainsi une radiation de frquence moindre, donc de
plus grande longueur donde que la radiation incidente. La rmission de ces photons se fait avec un
dphasage alatoire, le rayonnement Compton est dit incohrent. Il contribue au bruit de fond du
spectre d'mission.
Une partie de l'nergie du photon incident est transfre un lectron d'une couche
priphrique. L'nergie incidente se trouve donc rpartie entre l'lectron Compton et le photon
diffus.
Fig. 37 - Effet Compton
IV.5.3 - Production de paires
L'nergie du photon incident ( > 1 022 eV) est totalement absorbe pour la cration d'une
paire lectron-positon. Ce processus est suivi d'une annihilation dans laquelle le positon et un
lectron s'annihilent mutuellement en gnrant une paire de photons de 511 keV mis 180 l'un de
l'autre (fig. 38).
Fig. 38 - Principe de la production de paire
IV.5.4 - Diffusion cohrente
Dans le cas de la diffusion sans changement de longueur donde, tous les atomes de la matire
forment un ensemble de sources cohrentes dont les radiations peuvent interfrer. Or les distances
entre atomes dans les systmes condenss sont du mme ordre de grandeur que la longueur donde
Diffraction des rayons X
47
des rayons X. Grce ces conditions favorables, des phnomnes dinterfrences sont observs. Au
lieu quune nergie trs faible soit rpartie dans tout lespace, le rayonnement diffus se concentre
dans les directions particulires o il devient bien plus intense. On obtient ainsi des figures de
diffraction, do il est possible de dduire des donnes sur les positions respectives des atomes.
Le phnomne lmentaire de la diffusion cohrente est la diffusion dune onde par un
lectron. La thorie classique montre, en effet, que seuls les lectrons, et non les noyaux, de masses
bien plus leves sont des sources diffusantes. Un atome intervient donc par lintermdiaire de ses
lectrons. En premire approximation, le nombre atomique Z suffit le caractriser. Lamplitude de
l'onde diffuse est proportionnelle Z. De plus, la thorie classique montre, ce que vrifie
lexprience, que lamplitude dcrot avec le paramtre (sin2u
1
/); 2u
1
tant langle de diffusion et
la longueur donde.
Les interfrences entre les ondelettes diffuses par les diffrents atomes dun corps sont
remarquables surtout quand ce corps est un cristal. Cest--dire quand les atomes sont
priodiquement disposs selon un rseau cristallin. Dans un cristal, les atomes homologues peuvent
tre groups, dune infinit de faons, en familles de plans rticulaires parallles et quidistants. En
considrant une famille de plans (hkl), irradis par des R X de longueur donde , Bragg a dmontr
que les interfrences annulaient exactement la radiation diffuse, sauf si langle dincidence que fait
le faisceau incident avec cette famille de plans tait reli la distance interrticulaire d
(hkl)
de cette
mme famille par la relation :
u n d
hkl
= sin 2
) (
O n est un nombre entier, correspondant l'ordre de diffraction. Cest la relation dite de Bragg.
Pour les angles de Bragg u
1
, u
2,
, Correspondant aux valeurs possibles de n (on doit avoir
n < 2 d), les ondes diffuses par tous les atomes sont en phase, donc leurs amplitudes sajoutent,
ce qui donne naissance un rayon diffract dans la direction de rflexion sur les plans rticulaires.
Ainsi, quand un rayon diffract est observ, on en dduit lorientation des plans rticulaires
rflchissants et leur distance rticulaire.
Diffraction des rayons X
48
V - Monochromatisation des RX.
Alors que le spectre d'mission des sources de RX (tubes et synchrotron) est poly-
chromatique, les expriences de diffraction, except la mthode de Laue, ncessitent un
rayonnement monochromatique. Diffrentes techniques de monochromatisation ont t
dveloppes, dans le but d'obtenir un rayonnement dont le rapport pic sur bruit de fond soit
optimum. Les deux dispositifs les plus utiliss sont :
- Filtrage |
- Monochromateur plan.
V.1 - Filtrage |, monochromatisation approche (Fig. 39)
Le spectre d'mission des RX mis par une cible excite sous une tension suprieure la
tension critique est compos de trois parties, essentiellement :
- Un bruit de fond ou continu,
- Des raies caractristiques K
o
et K
|
de l'anticathode ou cible utilise,
- Des raies caractristiques dues la pollution du tube.
La monochromatisation du rayonnement d'un tube RX consiste conserver le rayonnement
K
o
et attnuer autant que possible et le bruit de fond, les raies satellites et particulirement la raie
K
|
qui est la plus gnante dans l'analyse des spectrogrammes.
L'absorption slective des filtres est mise profit pour "monochromatiser" le faisceau de RX
poly - chromatique sortant du tube :
- Toutes les longueurs d'onde avant la discontinuit sont fortement absorbes
- Toutes celles immdiatement aprs, le sont lgrement (fig.39)
Pour une anticathode donne, on choisit un matriau filtre (Tableau 6) dont la discontinuit
d'absorption K est situe entre les longueurs d'onde K
|
et K
o
de l'anticathode.
Diffraction des rayons X
49
0.5 1.5 2
Z
|
.
|

\
|

[cm
2
g
-1
]
Fig.39 : Effet du filtre | sur un spectre d'mission d'une anticathode.

k
()
K
o
K
|
()
()
Spectre dmission aprs
filtrage
Variation du coefficient.
dabsorption du filtre K
|
utilis
K
|
K
o
I
n
t
e
n
s
i
t

(
u
.
a
)
Diffraction des rayons X
50
Elm
ent
(Ko) en (K|)en Filtre
Discontinuit de
k
()
Mo 0.711 0.632 (Z-2)Zr 0.6873
Cu 1.542 1.392 (Z-1)Ni 1.4839
Co 1.790 1.621 (Z-1)Fe 1.7394
Fe 1.937 1.756 (Z-1)Mn 1.8916
Cr 2.291 2.085 (Z-1)V 2.2630
Tableau 6 : Diffrentes anticathodes et leur filtre associ.
Pour dterminer l'paisseur du filtre, on utilise habituellement l'un des deux critres suivants :
- Un filtre donnant un rapport dintensit des raies (K
|
) et (K
o
) gal ou infrieur au 1/100
au niveau du dtecteur
- Une attnuation de 50% sur le rayonnement K
o
.
V.2 - Monochromatisation rigoureuse
Fig. 40 - Cristal monochromateur plan

i
(rayonnement
polychromatique)
u
2
u
1
(hkl)
1
(hkl)
2

i
: rayonnement
monochromatique
diffract

2
Diffraction des rayons X
51
Une monochromatisation rigoureuse est obtenue en plaant un cristal monocristallin dans le
faisceau direct ou diffract. On choisira un rayonnement monochromatique de longueur d'onde
donne, en calant le monocristal sur un angle u de manire ne faire diffracter que la raie en
question. Ainsi, on placera le monocristal de LiF (2d=4.026 ) u =22.49 pour obtenir la raie K
o
(fig.40) du cuivre.
Remarque :
Pour obtenir, par exemple, la raie Ko (
Ko
= 1.54 ) tube du cuivre, il faut caler le mono-cristal
(analyseur) u =22.49.
V.2.1 - Monochromateur primaire (fig. 41)
L'avantage important du monochromateur plac entre la source de RX et l'chantillon est la
possibilit de le maintenir en position fixe, ne perturbant pas les rglages dlicats, surtout quand on
veut isoler la raie K
o1
. On utilise des cristaux de rflectivit leve et de haute rsolution, tels que le
quartz (2d
1011
= 6.532 ), le silicium (2d
111
= 6.271 ) ou autres.
Fig. 41 - Schma de principe du montage avec monochromateur primaire.
Lenregistrement des raies (111) - 2u = 38.2 - et (333) - 2u = 157.8 de l'or, en utilisant
respectivement le monochromateur (fig.42 a) et le filtre K
|
(fig.42 b) montre bien la rsolution relative des
deux mthodes.
2u
Tube Rx
Echantillon
Dtecteur
Monochromateur
primaire
Fente
rceptrice
Fente de
divergence
Cercle
goniomtrique
Diffraction des rayons X
52
Fig.42 - Enregistrement des raies (111) - 2u = 38.2 - et (333) - 2u = 157.8 de l'or, respectivement avec
monochromateur et filtre K
|
.
V. 2.2 - Monochromateur secondaire (fig. 43)
L'avantage de placer le cristal entre l'chantillon et le dtecteur est d'liminer les
rayonnements incohrents et de fluorescence. Le montage du cristal ne ncessite aucune
modification du diffractomtre conventionnel et permet de placer le monochromateur simplement
sans rajustement.

Fig. 43 - Schma de principe du montage avec monochromateur secondaire.


(111)
(333)
(111)
(333)
2u
I
n
t
e
n
s
i
t

(
u
.
a
)
Echantillon
Dtecteur
2u
Tube
Rx
Cristal
Monochromateur
Echantillon
Cercle de
focalisation
Cercle
goniomtrique
Fente de
divergence
Fente de
rception
(a) Filtre K
|
(b) Monochromateur
Diffraction des rayons X
53
VI - Dtection et mesure des rayons X
La dtection des RX consiste les mettre en vidence, et en mesurer soit leur intensit soit
leur nergie.
- Dtection qualitative : Ecran fluorescent
Les RX d'intensit suffisante provoquent la fluorescence du sulfure de zinc dans le domaine
du visible. Ce compos dpos sur un long support (bras) permet de localiser le faisceau primaire,
soit pour s'assurer de la prsence des RX qui arrive sur l'chantillon ou des diffrents rglages du
faisceau incident. Comme l'interaction rayons X - matire est relativement faible, il est pratiquement
impossible de mettre en vidence un faisceau diffract l'aide de l'cran fluorescent.
- Dtection semi-qualitative : Films photographiques
Pour la dtection semi-quantitative, on utilise les films photographiques composs
d'mulsions d'halognure d'argent qui sont dvelopps et rendus visibles par rvlation chimique.
C'est la mthode la plus ancienne, celle qui est l'origine de la dcouverte des RX en 1895 par
Roentgen qui observa le noircissement de plaques photographiques proximit d'un tube de
Krookes en fonctionnement. Ce moyen de dtection permet la mesure d'intensit des RX en
valuant le noircissement du film l'aide d'un microdensimtre optique. La prcision des mesures
est limite par diffrents facteurs :
- Influence de la dilatation des films
- Superposition des intensits des raies du mme ordre
- Erreurs de mesures manuelles
- Mesure imprcise des intensits.
- Dtection qualitative et quantitative : Dtecteurs de photons
De nos jours, pour avoir une bonne prcision de la mesure de l'intensit diffracte, on
nutilise pratiquement que des dtecteurs comptant le nombre de photons ou d'impulsions.
Quelque soit le type de dtecteurs, on peut en dfinir un certain nombre de caractristiques
gnrales :
- Temps mort t
m
: temps qui s'coule aprs dtection d'un photon pour que
l'appareil rponde un nouveau photon,
- Taux maximum par comptage : nombre maximal de photons pouvant tre
compts par seconde; li au temps mort, le temps maximal est thoriquement gal 1/tm.
- Rapport : signal / bruit de fond important,
- Efficacit : Nombre d'impulsions comptes pour 100 photons incidents
Diffraction des rayons X
54
- Seuil nergtique de dtection : nergie minimale que doit possder un photon
incident pour dclencher le processus de dtection,
- une parfaite linarit entre les amplitudes des impulsions de l'amplificateur et
l'nergie des RX dtects
VI.1 - Le compteur
Les compteurs utilisent la proprit du pouvoir ionisant des RX. C'est ainsi que les
constructeurs ont pens raliser des compteurs remplissage gazeux, comme celui mont sur le
diffractomtre vertical "Philips" ou des compteurs "solide" soit scintillations NaI ou semi-
conducteur Si-Li.
VI.1.1 - Compteur gaz scell
VI.1.1.1 - description (Fig. 44)
cathode
-e
-
-e
-
-e
-
E
Fentre en bryllium
Fig.44 -Schma de principe de fonctionnement d'un dtecteur gaz
Le compteur gaz est form d'une enceinte cylindrique conductrice en acier qui joue le rle
de cathode, et d'un fil mtallique coaxial qui port un potentiel positif joue le rle d'anode.
Le tube contient un mlange gazeux qui sera ionis par le faisceau incident de RX. Dans le
compteur flux gazeux (utilis en analyse par fluorescence X), on fait circuler un mlange de 90%
de xnon et 10% de mthane. Dans le compteur scell le mlange est form de xnon et d'halogne
avec les mmes proportions.
VI.1.1.2 Fonctionnement du compteur gaz
Lorsqu'un photon X d'nergie E
0
arrive dans le compteur, son nergie est absorbe
entirement pour ioniser un atome de gaz par effet photolectrique. Ainsi, un lectron d'un niveau i
est chass de son orbite avec une nergie cintique E
c
= E
0
- E
i
. E
i
, tant l'nergie d'ionisation du
niveau i excit. Le retour l'tat fondamental de l'atome peut s'effectuer suivant deux processus :
R
E
0
-W
m
+ V
E=hv
E
0
-nW
m
-- Pr-ampli
-- Ampli
-- Chane de
comptage
Mesure
C
photons
Anode
Diffraction des rayons X
55
R
e
c
o
m
b
i
n
a
i
s
o
n
- par transitions radiatives, avec mission de photons
- ou, par transition Auger, avec missions lectroniques (lectrons Auger)
Les photolectrons et les lectrons Auger perdront leur nergie progressivement par
interactions inlastiques successives, en crant d'autres ionisations et en gnrant d'autres paires
lectrons ions.
L'ionisation tant un phnomne alatoire, si c reprsente l'nergie moyenne ncessaire pour
la cration d'une paire d'lectron - ion, le nombre moyen de paires formes est gal :
c
0 E
N =
O, c est compris entre 20 et 30 eV, selon le gaz utilis.
Ordre de grandeur
Pour l'argon (c = 26.4 eV), un photon de 10 keV peut engendrer : 10
4
/ 23.4 = 380 ionisations
Un champ lectrique E

cre par la haute tension positive V du fil coaxial permet de collecter


ces lectrons en les acclrant vers l'anode. Leur nombre d'lectrons dpend de la tension applique
au compteur.
Lorsque V crot, on distingue exprimentalement (fig.45) six rgimes de fonctionnement du
compteur :
- Rgime de recombinaisons :
La tension applique est trop faible pour acclrer les n lectrons primaires vers l'anode : les
paires lectrons ions se recombinants. La collection est pratiquement nulle.
Fig. 46 - Diffrents rgimes de fonctionnement d'un compteur gaz.
C
h
a
m
b
r
e
d
'
i
o
n
i
s
a
t
i
o
n
C
o
m
p
t
e
u
r
p
r
o
p
o
r
t
i
o
n
n
e
l
P
r
o
p
o
r
t
i
o
n
n
a
l
i
t

C
o
m
p
t
e
u
r
G
e
i
g
e
r
-
D

c
h
a
r
g
e
A
r
c
V
Intensit (A)
0
1
0
1
0
2
1
0
3
1
0
4
1
0
5
1
0
1
0
Diffraction des rayons X
56
- Rgime de chambre d'ionisation
La tension est juste suffisante pour collecter les n lectrons primaires, mais ne peut augmenter
leur nombre par amplification. Les courants produits sont trs faibles dans le cas d'un rayonnement
X diffract, de l'ordre de 10
-14
10
-15
, ncessitant pour leur mesure des lectromtres trs sensibles.
Cette rgion est peu utilise pour cette raison.
- Rgime proportionnel
Au-dessus d'une certaine valeur du potentiel V (ordre de quelques centaines de volts), les
lectrons produits par un photon acquirent dans le champ lectrique une nergie suffisante pour
ioniser eux-mmes d'autres atomes de gaz, produisant de nouveaux lectrons, acclrs leur tour
et ainsi de suite, dclenchant ce qu'on appelle une avalanche, dite de TOWNSEND, au niveau du fil
coaxial. La charge ainsi rcupre crot avec la tension de polarisation et avec l'nergie des
lectrons. Mais, pour une mme tension la charge reste proportionnelle l'nergie des photons
incidents. On arrive ainsi rester dans la rgion de proportionnalit avec des coefficients
d'amplification pouvant atteindre 10
5
.
- Rgime de proportionnalit limite
Lorsque V dpasse une certaine valeur limite, il se produit des interactions entre les
avalanches. La zone des avalanches envahit progressivement tout e l'enceinte. La proportionnalit
entre taux de comptage et le nombre de photons incidents n'est plus assure. Cette rgion prsente
peu d'intrt.
- Rgime du compteur Geiger Muller
Lorsque la tension V augmente encore et atteint une valeur juste infrieure celle provoquant
la dcharge spontane (ordre de 1000 1300 V), il suffit d'un photon incident pour dclencher cette
dcharge : le phnomne d'avalanche devient gnral, avec excitation supplmentaire due
particulirement l'mission d'lectrons par les parois et l'lectrode, soumis au bombardement
ionique et lectronique, ainsi qu' l'mission de rayonnement ultraviolet. Pour amortir le
phnomne, on place une rsistance leve R dans le circuit d'utilisation provoquant une chute de
tension sensible qui coupe la dcharge. Un auto amortissement peut aussi tre produit, comme dans
le compteur proportionnel, par addition d'une proportion de gaz organique ou d'halogne. L'impact
d'un photon produira, quelle que soit l'nergie incidente (suprieure au seuil) une avalanche : il n'y a
donc plus aucune proportionnalit entre l'amplitude du signal et l'nergie.
- Rgime de dcharge
La tension V tant suprieure au seuil de dclenchement de la dcharge, celle-l devient
spontane et permanente.
- Rgime de l'arc
A une tension encore plus leve, un arc lectrique jaillit entre les lectrodes, dtruisant le
compteur.
Diffraction des rayons X
57
Dans les applications des RX, on utilise gnralement le compteur proportionnel et le
compteur Geiger-Muller.
VI.1.2 - Le compteur proportionnel - Le compteur proportionnel
Le compteur peut tre assimil un condensateur qui se charge, suite l'ionisation du gaz et
le phnomne d'avalanche, puis se dcharge dans une rsistance R. La dcharge tant recueillie sous
forme de signal qui est analys par un dispositif lectronique.
a) Forme du signal (fig. 4)
L'avalanche fait apparatre au voisinage du fil coaxial (anode) une charge lectrique
e N Q . =
Avec en moyenne :
c
0
.
E
A n A N = =
O : A, dsigne le coefficient d'amplification du gaz et
n, le nombre moyen d'ionisations cres avant toute avalanche.
Le fil anodique prsente une certaine capacit C, par rapport la masse. La charge Q
provoque une chute maximale max V A de la tension de polarisation, gale :
C
e AE
C
Q
V
.
. 0
max
c
= = A
En fait, la chute de tension n'atteint pas la valeur max V A , mais se stabilise autour d'une valeur
moyenne V
m
. Cette stabilit est due au nuage d'ions qui se forme autour de l'anode.
0.5 1
a b c
Fig. 77 : Forme de l'impulsion dlivre par le compteur proportionnel :
(a) temps de latence, (b) temps de monte, (c) temps de dcroissance.
Lorsque l'ionisation est acheve, le compteur se dcharge comme un condensateur dans la
rsistance R. La dure du phnomne est infrieure 1s. En ralit, le compteur ne compte pas
pendant la dure de la dcharge, qui est de l'ordre de 200ns. C'est le temps mort du compteur.
AV
max
V
min
t(s)
V
Diffraction des rayons X
58
b) Allure du pic principal
Mme dans les meilleures conditions de fonctionnement de l'ensemble de l'appareillage, les
impulsions provoques par un flux de photons X d'nergie E
0
donne, n'ont pas toutes la mme
amplitude. C'est le caractre alatoire de l'vnement "ionisation" qui engendre les fluctuations des
amplitudes et une rpartition des hauteurs des impulsions proche d'une gaussienne centre sur une
valeur moyenne V
m
. Cette tension vrifie (fig. 48) la relation de proportionnalit :
c
0
.
E
K Vm =
O, k est un facteur de proportionnalit qui englobe les effets du coefficient d'amplification
A, l'influence du gaz poly-atomique et la gomtrie du compteur.
Fig. 48 - Forme gaussienne des amplitudes (pic) - Rsolution du compteur proportionnel.
c) Pic de fuite
Aprs l'absorption d'un photon incident, si la dsexcitation de l'atome ionis se fait par
l'mission d'un lectron Auger, la totalit de l'nergie incidente du photon est rcupre par le
compteur sous forme de charges. Mais si l'nergie du photon 0 E est suprieure l'nergie k E
(nergie d'ionisation de la couche k du gaz), et si le photolectron est un lectron K, une transition
radiative avec "mission d'un photon k peut avoir lieu. Ce photon d'nergie k E a une faible
probabilit d'tre absorb par le gaz et peut tre considr comme perdu. Il reste une nergie 0 E
k E , qui se dissipera en ionisant un nombre (N') d'atomes. Nombre exprim par :
c
k E E
N

=
0
'
Ce phnomne se manifeste par la prsence d'un pic, dit pic de fuite (fig.49), d'intensit plus
faible que celle du pic principal et dont l'nergie moyenne est centre sur la valeur ( 0 E k E ).
V
V
m
I
m
I
m
/2
ot
I
Diffraction des rayons X
59
Fig. 49 - Rpartition en amplitude des impulsions (a) pic de fuite, (b) pic principal.
d) Rsolution du compteur
L'largissement de la rpartition gaussienne (pic) en amplitudes des impulsions
engendres par les photons X, limite le pouvoir sparateur entre deux photons dont les nergies
sont voisines. La capacit de discriminer ou de sparer deux signaux d'nergies voisines est
reprsente par le pouvoir de rsolution R :
V
V
R
o
100 % =
O: oV est la largeur mi-hauteur du pic principal et V l'nergie du maximum du pic principal.
VI.1.3 - Le compteur scintillations (fig. 49)
La partie active du dtecteur solide est le scintillateur qui transforme un photon X en un
certain nombre de photons lumineux se manifestant par une scintillation. Pour tre intressant
comme dtecteur d'une certaine gamme de rayonnement, le scintillateur doit tre tel quel :
- absorber la plus grande proportion du rayonnement incident
- tre transparent pour ses propres scintillations
- avoir un temps mort faible
L'iodure de sodium activ au thallium NaI(Tl) est le scintillateur le plus utilis en diffraction
X pour son efficacit de scintillation lev et son important coefficient d'absorption pour ces
rayonnements.
Le phnomne de dtection est rgi par les processus suivants :
- absorption des photons incidents par le scintillateur
- production de lumire dans le scintillateur par excitation des niveaux d'nergie optiques
actifs, puis dsexcitation de ces niveaux avec mission de lumire
- collection de la lumire (absorption des photons) par la photocathode
- mission de photolectrons par la photocathode
I
% hauteur des
impulsions
(a)
(b)
Diffraction des rayons X
60
- collection de ces photolectrons par la premire dynode
- multiplication des lectrons par les dynodes suivantes
- collection des lectrons par l'anode.
Fig. 49 - Schma de principe d'un dtecteur scintillation
Le photomultiplicateur (PM) convertit les signaux lumineux en signaux lectriques avec un
taux de conversion de 10
6
10
8
lectrons par photon incident.
VI.1.4 - Le compteur semi-conducteur (fig. 50)
.
n i p
-
- Si(Li)
-
-
Fig.50 - Schma de principe d'un dtecteur Si(Li)
Les meilleures performances de haute rsolution en nergie sont ralises l'aide des
dtecteurs semi-conducteur comme le SI(Li), constitu par des diodes de silicium dopes au
lithium. Ces diodes, polarises en sens inverse, se comportent comme une chambre d'ionisation
RX
Scintillateur photomultiplicatrice Electrons secondaires
Photocathode
- H.T.
Vers le Pr-
amplificateur
Anode
Diviseur de tension
dynode
Photon-
lectron
Prampli- Ampli
Cryostat
Zone refroidie
l'azote liquide
V
RX
lectron
Diffraction des rayons X
61
l'tat solide. Par la compensation au lithium, on ralise une zone de jonction conduction
intrinsque (P-I-N), relativement, relativement paisse et de valeur ohmique leve, dans laquelle
les photons X incidents sont absorbs et convertis en impulsions lectriques. Un photon X perd
entirement son nergie dans le cristal par effet photo lectrique et produit une rafale de
photolectrons. Ces derniers excitent des lectrons d'atomes SI de la bande de valence vers la bande
de conduction, crant ainsi des paires d'lectron - trou. L'nergie de cration d'une paire lectron -
trou est de 3.81 eV pour le silicium. Le dtecteur semi-conducteur fournit un nombre de charges
libres n trs lev :
c
E
N=
Sous l'action d'un champ lectrique important, ces porteurs sont spars, puis collects sur les
lectrodes en mtal (Al, Au). Il apparat une impulsion lectrique dont l'amplitude est
proportionnelle l'nergie des photons incidents.
Comme dtecteur semi-conducteur refroidissement par azote liquide, on utilise les
compteurs en silicium ou germanium compenss au lithium (Si-i ou Ge-Li).
La qualit la plus importante de ce dtecteur est sa rsolution en nergie, bien meilleure que
celle des autres types dtecteurs.
Dtecteur
Efficacit pour
Cu(Ko) (%)
Coefficient
d'amplification
Temps
mort
(s)
Taux de
comptage
max.
Seuil nergtique
de dtection (eV)
Proportionnel
(Ar-CH
4
) 30 10-10
5
0.5 210
6
26
Scintillation
NaI(Tl) 50
1 (sans PM)
10
6
(avec PM) 0.2 510
6
50
Semi-conducteur
(Si-Li) 100 1 1 10
6
3.5
Tableau 7 : Comparaison des principales caractristiques des dtecteurs ionisation
VI.3 - Electronique de mesure
La figure 51 reporte le schma de l'lectronique impulsionnelle associe aux trois types de
dtecteurs ( gaz, scintillation et semi-conducteur Si-Li)
Diffraction des rayons X
62
Fig.51 - Electronique de mesure
VI.3.1 - Alimentation haute tension
Le gnrateur fournit une tension continue de haute stabilit, de l'ordre de 1600 volts pour les
compteurs scells gaz, de 900 volts pour les dtecteurs scintillation et de 500 volts pour un
dtecteur semi-conducteur Si(Li).
VI.3.2 Pramplificateur
L'information issue du dtecteur est une quantit de charges lectriques proportionnelle
l'nergie des photons incidents. La charge totale de cette impulsion est intgre et convertie l'aide
d'un pramplificateur en un signal de tension refltant la proportionnalit de l'nergie arrivant au
dtecteur.
VI.3.3 Amplificateur d'impulsions
L'amplificateur linaire d'impulsions transforme le signal du pramplificateur, de l'ordre de
quelques mV, pour le rendre apte la mesure. Aprs amplification et mise en forme, le signal de
sortie est gnralement compris entre 0 et 1.0 V
VI.3.4 Discriminateur des amplitudes des impulsions (fig.52)
Les impulsions correspondant une amplitude donne peuvent tre slectionnes l'aide d'un
discriminateur. En mode intgral, on rejette uniquement les impulsions dont l'amplitude est
infrieure un seuil minimum. Cette mthode permet surtout d'liminer le bruit de fond de
l'amplificateur. En mode diffrentiel, les amplitudes des impulsions sont slectionnes par deux
niveaux infrieur et suprieur formant une fentre, la ligne infrieure tant le seuil minimum.
Ce dernier mode permet la slection d'impulsions correspondant une nergie fixe est
principalement utilise en diffraction X, afin de rejeter les impulsions correspondant des nergies
non utiles telles que celles du bruit de fond, du pic de fuite ou de raies de fluorescence. Cet
ensemble joue le rle d'un discriminateur en nergie des photons X.
Dtecteur
Pr-
ampli
Ampli
Discrimination
Chane de
comptage
Analyseur
multicanaux
Calculateur
Haute
tension
RX
Diffraction des rayons X
63
Fig.52 - Discrimination : V
1
impulsion accepte, V
2
et V
3
impulsions limines
L'analyseur peut fonctionner selon deux modes :
V
1
V
2
V
3
t
V
t
V
t
V
W
t
V
LL
hv
Discriminateur 2
Window
Discriminateur 1
Lower Level
(LL)
Rsultat de la
discrimination
et comptage
Mise en forme
Compteur +
pramplificateur
t
V
LL
W
Diffraction des rayons X
64
- Mode intgral (LL) : On procde au rglage du seuil infrieur; toutes les impulsions de
tension suprieure sont transmises au compteur. Le seuil d'environ 5% est ncessaire pour liminer
le bruit de fond lectronique du pr ampli.
- Mode diffrentiel (w : 10 -100%) : La discrimination se fait, dans ce cas, l'aide d'un seuil
infrieur et un seuil suprieur qui correspondent la distribution des impulsions que nous voulons
slectionner.
VI.3.5 Compteur d'impulsions
Une chelle de comptage raccorde au calculateur par l'intermdiaire d'une interface indique
le nombre d'impulsions enregistres la sortie du discriminateur.
Les impulsions normalises dlivres par le discriminateur peuvent galement tre envoyes
dans un intgrateur transformant les impulsions en une tension continue proportionnelle au taux de
comptage pour tre utilis par un enregistreur.
VI.3.6 - Analyseur multicanaux
L'impulsion gaussienne, de l'amplificateur, est transforme l'aide d'un convertisseur
analogue - digital, en un signal dont la dure est proportionnelle l'amplitude d'entre. Ce signal est
alors adress dans un canal donn de l'analyseur multicanaux et finalement les informations
accumules dans la mmoire du multicanaux aboutissent un histogramme (fig.53) du nombre
d'impulsions en fonction du canal ou de l'nergie aprs calibration.
Fig. 53 - Traitement du signal
En diffraction X avec mesure angulaire, cette fonction sert surtout de contrle et un analyseur
de 200 canaux gnralement suffisants. Par contre, avec les dtecteurs semi-conducteur,
0 10 20 30
Temps ( s)
0 1 2 3
Tension (V)
10
3
Intensit
(impulsions)
Tension (V)
Sortie de l'amplificateur
Ecran des multicanaux
K|
Ko
Bruit fond
3
2
1
0
Diffraction des rayons X
65
l'analyseur doit comporter entre 1024 et 4096 canaux pour effectuer une analyse fine.
VI.3.7 Temps mort
Le temps mort du compteur gaz mont sur le diffractomtre vertical "Philips" est de 200 ns.
Mais ce temps mort peut varier avec l'nergie des photons, du vieillissement du compteur et avec le
taux de comptage. On prfre alors fixer le temps mort lectronique t suprieur celui du compteur
de faon supprimer les variations alatoires de la dure relle de comptage. Ce temps mort non
extensible est fix, dans la baie Philips 1390 1s. Ainsi, ds qu'une impulsion est compte, la
chane reste aveugle pendant 1s.
Si N est le taux de comptage rel, et ' N le taux de comptage apparent donn par la chane,
celle-ci reste aveugle pendant ' N t par seconde. Le taux de comptage apparent est donn par :
) 1 ( ' ' t N N N =
O : N et ' N sont exprims en nombre d'impulsions par seconde.
VI.4 - Statistiques des comptages
VI.4.1 - Introduction
Les mesures effectues par comptage de photons ou autres particules conduisent l'obtention
de rsultats exprimentaux alatoires de part leur nature. Les aspects lis au caractre alatoire sont,
entre autres : contrle de l'instrument et la dtection des valeurs aberrantes.
VI.4.2 caractre alatoire des comptages
VI.4.2.1 Variables alatoires
Les valeurs des comptages successifs ne sont pas identiques, toutes choses gales par ailleurs.
Un comptage n'est pas une valeur dtermine, c'est une grandeur alatoire. Une variable de ce type
peut prendre un ensemble de valeurs : x
1
, , x
i
, x
n
. Chaque valeur x
i
tant affecte d'une
probabilit P
i
. L'ensemble des valeurs x
i
suit une loi de distribution statistique dfinie par cette
application. Une grandeur alatoire ne peut tre dfinie compltement que par sa loi de probabilit.
On appelle moyenne, et variance o les moments d'ordre 1 et 2 (centr) de la distribution, o
tant l'cart type.
* Moyenne :

=
=
n
i
i x
n
1
1

* Variance :

=
=
n
i
i
x
n
1
2 2
) (
1
o
n tant le nombre de comptages non rptitifs.
Diffraction des rayons X
66
* Ecart - type =
o o = =
2
variance
VI.4.2.2 Distributions
Le nombre de distributions possibles pour des variables alatoires est infini. On dmontre
que les comptages de photons X accumuls suivant des temps fixes ont une distribution qui peut
tre dcrite par une loi connue, de distribution de variables entires positives, appele loi de
Poisson, qui a la forme :
) exp(
!
) (

=
x
x
x P
Avec : x 0, o =
Nous allons considrer le caractre Poissonnien des mesures faites en pr-temps comme une
hypothse fondamentale.
VI.4.3 Tests d'hypothse
Si l'instrument fonctionne convenablement, toutes choses gales par ailleurs, la variable
observe des comptages doit obir au caractre Poissonnien de sa distribution.
Le _ (khi 2) est dfini par la relation suivante :

=
n
i
i
m
m x
1
2
2
) (
,
Avec :

=
=
n
i
i
x
n
m
1
1
20 n
Dans ce cas de figure, on montre que le _ (m>10) est asymptotiquement distribu. comme
une variable de _ (n-1) degr de libert.
Cette mthode du test du _ permet de contrler trs simplement la stabilit de la mesure. Il
suffit, pour une srie de n comptage, relatifs la mme mesure faite pendant un mme temps donn,
de calculer la valeur du _ et de la comparer sa valeur critique de la table (voir annexe) pour (n -
1) degr de libert, au seuil de probabilit choisi.
VI.4.4 Pratique de contrle
Chaque mesure est constitue par une srie de n comptages faits chacun avec un pr-
temps donn. A la fin de la srie on calcule la valeur du _ et on la compare aux valeurs critiques,
aux seuils o = 5%, 1% et 0.1%. Si _ est plus petit que la valeur 5%, il n'y a pas de raison de
considrer que le comptage n'est pas Poissonnien, et ceci peut tre admis comme une preuve d'une
mesure de bonne qualit.
Si _ est compris entre les valeurs 5% et 1% la mesure est considre comme moyenne,
mdiocre entre 1% et 0.1%. Le seuil de probabilit ou risque d'erreur de premire espce, c'est
Diffraction des rayons X
67
dire le risque de considrer comme trop grande une valeur de _ qui correspond au fait une
fluctuation naturelle.
Dans un travail de routine, les rsultats des applications du test sont calculs et affichs par
le micro-ordinateur de faon que l'oprateur puisse dcider de faon rationnelle de la suite donner
aux mesures. L'utilisation systmatique de ce test est une manire trs efficace de surveiller
l'instrument. En effet, beaucoup de dfauts n'apparaissent leur dbut que par une augmentation de
la dispersion des mesures, qui sans contrle statistique, passe inaperue.
VII - Quelques applications de la diffraction des RX
La diffraction des rayons X sur poudre est une mthode d'analyse de phases non destructive.
Grce aux technologies modernes, elle permet d'identifier en quelques minutes les phases
cristallises prsentes dans tout matriau par comparaison avec un fichier de rfrences ractualis
annuellement et comportant actuellement les donnes de 69 500 composs (fichier J.C.P.D.S.).
Elle permet galement d'tudier les conditions de formation de phases, leur volution en
fonction de la temprature ou de l'atmosphre, donc de connatre le comportement d'un matriau en
conditions d'utilisation (temprature, balayage gazeux, etc.).
- Contraintes rsiduelles
- Textures
- Incidence rasante
La diffraction X sous incidence rasante permet de dterminer la cristallographie superficielle
sur 20 quelques centaines de nanomtres. Contrairement au montage classique, l'angle d'incidence
entre le rayonnement X et le plan de l'chantillon est constant et faible (0,1 3) ce qui permet de
limiter la pntration des rayons X. Il est ainsi possible d'analyser des couches superficielles:
implantation d'ions, agrgats, etc.
Diffraction des rayons X
68
Seconde Partie
MANIPULATIONS
Diffraction des rayons X
69
Prambule
Les travaux pratiques de physique constituent une interface entre les concepts thoriques acquis des
cours magistraux et des travaux dirigs, et la comprhension vritable des phnomnes physiques et leurs
exploitations dans la vie professionnelle et sociale. Il est, par consquent, indispensable que ltudiant porte
un nouveau regard dintressement et de motivation sur les travaux pratiques.
Le volume horaire des sances de TP est de 3 4 heures. Les comptes rendus doivent tre remis
imprativement avant la fin de chaque sance. Dans le barme de notation lavancement dans la ralisation
du TP est pondr environ 20% de la note globale. Par consquent, pour pouvoir mener bien le travail
demand et en tirer le maximum de profits (enseignement et note) il est conseill ltudiant :
- de lire attentivement le polycopi et de prparer, avant la sance de TP, proprement le
squelette du compte rendu. Ce dernier doit contenir exclusivement
(*)
:
- Le(s) but(s) du TP
- Description personnalise et succincte du matriel utilis et de la mise en uvre de
lexprimentation :
- Les rsultats des mesures (tableaux des valeurs, courbes...)
- Interprtation des rsultats
- Conclusion
- Didentifier, chaque dbut de manipulation les lments du montage raliser
- Dessayer, par votre propre initiative, de monter les lments de lexprience et de rflchir
sur la faon de dmarrer et de mener la manipulation.
- De savoir exactement les grandeurs que vous mesurez
- Deffectuer vos mesures et erreurs avec le plus grand soin
- De faire appel lenseignant quen cas de blocage
- De ne pas hsiter pour marquer un temps darrt aprs chaque mesure pour la regarder
dun oeil critique et de dcider si celle-ci est bonne (cohrente) ou aberrante. Dans ce dernier cas, chercher
lorigine de lerreur (instrumentale, mesure ou calcul), sinon faites appel lenseignant
- De dessiner proprement vos courbes, dabord sur du papier millimtr (brouillon), la fin de
chaque manipulation (ou mieux encore, porter chaque point exprimental obtenu sur le graphe avant de
passer la mesure suivante)
- De se comporter de faon simple et naturelle, de manire faciliter la communication avec
lenseignant. Il ny a pas de pdagogie ou de passation de savoir sans communication !
- Dessayer dapprendre se comporter devant un problme scientifique de manire nergique
(motivation et dtermination) rationnelle (logique des vnements) et efficace (rsolution rapide du
problme).
(*)
N.B : Ne pas recopier le texte et les schmas du polycopi dans le compte rendu.
Diffraction des rayons X
70
T.P - 1
EMISSION X (I)
Analyse d'un spectre
d'mission donn par un tube RX
Diffraction des rayons X
71
I - Description du diffractomtre de poudres (fig. 1 et 2)
Fig. 1 : (a) Goniomtre Philips, (b) Goniomtre de la marque Bruker-AXS, type D8
a)
Dtecteur
Tube RX
Porte
chantillon
b)
Diffraction des rayons X
72
Ampli
Pr-ampli
I=f(2u)
La composition du diffractomtre, type Philips (fig.1) est la mme que les autres appareils
utilisant les rayonnements corpusculaires ou photoniques, tels que :
- les montages de Debye - Scherrer, de Laue,
- les spectromtres I.R (infrarouge), U.V (ultraviolet)
- les spectromtres aux rayonnements visibles,
- les spectromtres aux rayonnements corpusculaires (microscopie lectronique,
neutrons,etc.).
Ces appareils sont constitus de trois lments fondamentaux :
- source de rayonnement
- porte-chantillon
- systme de dtection.
L'appareil le plus utilis, en diffraction X, est le diffractomtre de poudres focalisation de
Bragg Brentano (fig.1 et 2). Il est constitu d'un tube RX, d'un porte-chantillon, d'un dtecteur,
d'un systme de fentes et d'un goniomtre. L'avantage qu'il prsente est l'obtention de raies de
diffraction trs fines et d'intensit importante.
Tube
F O
'
Dtecteur
Fig. 2 - Schma d'un diffractomtre.
Enregistreur
Compteur
Digital
0028710
Baie
lectronique
Zoom
Gn-
rateur
Refroidis-
-seur
Echantillon
axe du
goniomtre
2u
Traitement des donnes
et rsultats
Goniomtre et dtection Source
RX
Cercle de
mesure
Diffraction des rayons X
73
Un circuit d'eau assure le refroidissement de l'anticathode, o 98% de l'nergie apporte
par les lectrons est transforme en effet calorifique. Un systme de scurit assure la protection du
tube.
Le faisceau divergent est issu du foyer du tube. Il passe par une fente primaire dite de
"divergence" qui focalise ce dernier sur l'chantillon pour tre diffract, avec les conditions de
Bragg, et converger en un point (fente de rception) situ sur le cercle de focalisation.
Une fente "anti-diffusion", place devant la fente rceptrice, limine les photons parasites
issus soit de l'chantillon ou de l'extrieur. Un balayage de l'angle de diffraction est obtenu l'aide
d'un goniomtre nomm u - 2u. L'chantillon plan effectue un mouvement de rotation uniforme
de vitesse angulaire e = du/dt. Le dtecteur muni de sa fente rceptrice place sur le point de
focalisation tourne autour de l'chantillon avec une vitesse uniforme double 2e. Le rayon R = OS
du cercle goniomtrique reste constant et son centre O est fixe. Par contre, le rayon r (r= R/2sinu)
du cercle de focalisation diminue constamment mesure que u crot, pendant que son centre O'
varie suivant un mouvement hlicodal.
Les points de focalisation sont dlimits par l'anode (foyer du tube) et par la fente
rceptrice (F') place devant le dtecteur. Selon le degr de focalisation dfini par les grandeurs de
la source et des diffrentes fentes, on obtient soit un diagramme intensit leve, soit un
diagramme haute rsolution.
La figure 2 schmatise le parcours des RX suivant les diffrents lments du diffractomtre
2 cercles u - 2u. Au niveau de la source et de la fente du dtecteur, la section rectangulaire du
faisceau est large de 0.04 mm 0.2 mm. Quand la rsolution n'est pas primordiale cette largeur peut
aller jusqu' 2mm et sa longueur de 8 12 mm La divergence horizontale ou quatoriale,
contrle par la fente d'ouverture fixe ou variable est gnralement comprise entre 0.05 et 3
comme la fente anti-diffusion. La divergence verticale ou axiale est dlimite par des fentes de
Soller primaires ou/et secondaires dont la divergence est de l'ordre de 2.
Aprs dtection des photons que le compteur transforme en charge lectrique, un
pramplificateur assure la transformation de cette charge en une diffrence de potentiel de quelques
mV. Un amplificateur donne de ce signale une tension de quelques volt.
On utilise comme dtecteurs conventionnels les compteurs scintillateur ou les compteurs
proportionnels gaz.
La plupart des goniomtres ont des mouvements u et 2u qui peuvent tre coupls ou
dcoupls volont, selon la spcificit de la manipulation de l'utilisateur, et peuvent tre monts
horizontalement ou verticalement.
2 - Manipulation sur diffractomtre Philips
Il s'agit d'obtenir un spectre d'mission du faisceau primaire des RX et d'en tudier les
caractristiques.
Un monocristal de LiF (fluorure de lithium) est dispos dans le porte chantillon *(fig.3). Il
ne diffracte, pour un angle u donn, que pour les longueurs d'onde telles que :
Diffraction des rayons X
74
r
O
O'
Tube RX
2u
Dtecteur
u n d hkl = sin 2 ) (
(hkl) LiF
Fig.3 - Gomtrie du montage
La mise en uvre de lenregistrement dun spectrogramme se fait comme suit :
- Mise sous tension du refroidisseur (Zphir), s'assurer au toucher du tube, que la
temprature de ce dernier est de 10C environ.
- Mise sous tension du gnrateur. L'affichage de la haute tension et du courant doit tre
au minimum avant de dmarrer.
- Mettre la tension et le courant dsirs, en les augmentant progressivement. Ne jamais
dpasser la puissance maximale requise.
- Oprer sans filtre :
Choisir les paramtres : le range (chelle de lintensit) et les vitesses du goniomtre
et du droulement du papier.
Placer l'chantillon LiF(2d
(200)
= 4.026 ) sur le porte chantillon de manire ce que
l'axe de rotation du goniomtre appartienne au plan de l'chantillon. Comme le LiF diffracte
intensment, exposer seulement une surface de quelques mm, et choisir un range (chelle des
intensits) qui fait rentrer le maximum du bruit de fond dans le spectrogramme.
Choisir le 2u
0
du spectre, en fonction de la tension applique
Dclencher la mise en route du goniomtre et de l'enregistreur en mme temps.
Surveiller le droulement de la mesure
S
Cercle de focalisation
u
Diffraction des rayons X
75
3 - Dpouillement du spectrogramme (tab.1)
Raie N
1 2 3
2 u ()
Intensit I (cps)
()
Dsignation de la raie
(Ko, K|, )
Transition lectronique
Matriau cible
Intensit I(cps) maximale du
fond continu
(minimale) ()
THTapplique (kV)
Tableau 1
* Lintensit relative est obtenue en divisant lintensit de chaque raie par celle de la raie dintensit maximale.
- Relever les angles 2u des diffrentes raies du spectre
- Slectionner les raies les plus intenses, dites caractristiques de la cible pure
- Identifier partir de ces raies importantes et des tables donnes en annexe, le matriau
qui constitue la cible du tube.
- A quelles transitions lectroniques ces raies correspondent-elles ?
- Dterminer la longueur d'onde
min
minimale et celle du maximum. Interprtation.
- Calculer le rapport des intensits des deux raies (identifies) les plus intenses.
4 - Analyse du spectre
- Dcrivez le spectre en donnant ses caractristiques et les points singuliers
- Expliquer le ou les phnomnes observs.
Diffraction des rayons X
76
T.P - 2
EMISSION X (II)
Influence de la haute tension et
dtermination de la constante de Planck
Diffraction des rayons X
77
Du point de vue manipulation, lenregistrement se fait de la mme manire que dans le TP
prcdent.
Spectre 1 2 3

minimale
()
Intensit relative (%) des raies
les plus importantes : (I/I
o
)*
Intensit (cps) maximale du fond
continu
Tension (kV)
Tableau 1
Trois spectres dmission ont t enregistrs pour trois THT (tableau 1) tout en gardant
les autres conditions constantes (courant, vitesse du goniomtre, vitesse de dfilement du papier,
etc.)
- Quels sont les paramtres des spectres obtenus, qui sont sensibles la variation de la
THT ;
- Expliquer ces variations observes ;
- Tracer V = f (1/). Commenter la courbe obtenue ;
- En dduire la valeur de la constante de Planck h.
- Interprtation.
- Conclusion
Diffraction des rayons X
78
T.P - 3
ABSORPTION RX (I)
Filtrage | - dtermination du coefficient
d'absorption d'un matriau
Diffraction des rayons X
79
1) Filtrage | (cf. IV-2)
- Enregistrer un spectre d'mission sans mettre le filtre, comme il a t ralis pendant la
sance prcdente
- Mettre en place le filtre correspondant (cf. IV-2) au tube utilis, et enregistrer dans les
mmes conditions que prcdemment un deuxime spectre.
- Calculer les rapports des intensits des mmes raies des spectres obtenus avec et sans
filtrage
- Comparer les caractristiques des spectres obtenus
- Interprtation.
2) Mesure du coefficient d'absorption d'un matriau
- Mise en place de l'chantillon (monocristal LiF, 2d = 4.03) de telle manire que l'axe du
goniomtre soit dans le plan de sa surface, et que la surface irradie ou prsente au faisceau
incident, soit minimale. La diffraction du LiF tant trs intense, le compteur peut recevoir un
nombre d'impulsion important, crant ainsi une avalanche d'ions au niveau du gaz et endommager le
compteur.
- Mettre une tension et une intensit minimales (20kV, 5mA).
- Procder un enregistrement d'un spectre d'mission, sans filtre, pour localiser les raies
Ko et K| de l'anticathode utilise.
3) Mise en uvre de la mesure des coefficients d'absorption d'un chantillon d'aluminium
(paisseur de 0.1mm, densit = 2.7 g/cm
3
)
- Oprer sans le filtre. Caler manuellement le goniomtre sur les positions 2u des raies Ko
et K| respectivement , en saidant de l'affichage digital.
- Lire et enregistrer dans tableau ci-aprs, le nombre d'impulsions correspondant aux deux
raies I(Ko) et I(k|), respectivement, dix fois et pendant 10 s pour chaque mesure.
- Relever, ainsi, les intensits des raies en prsence du filtre : [I(Ko) et I(k|)] ; et en
labsence du filtre [I
0
(Ko) et I
0
(k|)].
- Calculer, partir de donnes rcoltes, les coefficients d'absorption massique pour les
raies Ko et K|
- Vrifier la qualit des mesures obtenues en appliquant le test du _
4) Dtermination de l'paisseur d'un chantillon d'aluminium
Il s'agit de mettre en uvre la mme manipulation que prcdemment sauf que l'objectif est
de mesurer l'paisseur d'un chantillon d'aluminium, et ce, en considrant que son coefficient
d'absorption a la mme valeur que celle obtenue prcdemment.
Diffraction des rayons X
80
T.P - 4
ABSORPTION des RX (II)
Variation du coefficient d'absorption d'un
matriau en fonction de la longueur d'onde
des RX
Diffraction des rayons X
81
Du point de vue manipulation, lenregistrement se fait de la mme manire que dans le TP
prcdent.
- Installer lchantillon diffractant de d
hkl
connu : LiF, 2d
(200)
= 4.03
- Mettre le filtre dont on cherche connatre la variation de son coefficient d'absorption, et
qui correspond (tabl. 3) au tube utilis.
- Procder la lecture des impulsions pour chaque pas A2u du compteur choisis tels que :
- A2u = 0.5 pour les points situs autour de la discontinuit d'absorption en
2u,
- A2u = 5 pour les points loin de la discontinuit,
- Relever lintensit I avec filtre et I
0
sans filtre. Chaque mesure doit tre rpte dix fois
successivement, et le comptage se faisant pendant 10 seconde par point. Faire le traitement
statistique.
Elment (Ko) en (K|) en Filtre Discontinuit de () []
Mo 0.711 0.632 Zr 0.6873
Cu 1.542 1.392 Ni 1.4839
Co 1.790 1.621 Fe 1.7394
Fe 1.937 1.756 Mn 1.8916
Cr 2.291 2.085 V 2.2630
- Tracer / = f() et ln (/) = f(ln()).
- Exploiter et discuter les graphes obtenus
- Conclusion.
Diffraction des rayons X
82
T.P - 5
MISE EN UVRE DE LA
METHODE DIFFRACTOMETRIQUE (I)
Identification de phases
Cas dun chantillon monophas
Diffraction des rayons X
83
1 Choix des conditions exprimentales
1.1 Choix du tube et des paramtres de production des RX
1.1.1 Choix du tube, effet de la fluorescence X
Fig.1 Choix d'une longueur d'onde incidente
Dans les expriences de diffraction, on cherche viter la contribution de la fluorescence
X du matriau tudi. Cette fluorescence X (cf. III-3) conduit, sur les enregistrements, un fond
continu important qui peut masquer des pics de diffraction de faible intensit qui sont parfois
indispensable l'analyse du spectrogramme. Pour liminer cet effet, on choisit du rayonnement
incident (tube) dont la longueur d'onde de la raie ko ne doit pas tre plus courte que la longueur
d'onde de la discontinuit K du matriau tudi (fig.1). En d'autres termes, l'nergie des photons de
la raie Ko utilise doit tre infrieure l'nergie d'ionisation de la couche K du matriau analys. Et
ce, naturellement, pour ne pas exciter sa fluorescence X.
Si la fluorescence X due la raie Ko est supprime, le phnomne peut subsister avec les
longueurs d'onde du fond continu situe entre
min
et
k
, mme si l'intensit de celles-ci soit
attnue au pralable par un filtre.
Exemples :
- Dans le cas de la figure 24, si le rayonnement choisi est celui du tube de cobalt fonctionnant
sous la haute tension de 25 kV, la fluorescence X sera provoque par les photons de longueur d'onde
situes entre
min
= 0.496 et
k
= 1.743 .
Cette dernire correspondant la discontinuit d'absorption, appele
K
edge du Fer.
Matriau tudi : Fe
()

ko
(Cu) =1.54 - forte fluoresence
1.5

k
(Fe) =1.74
2
600
400
200
(Fe)

ko
(Co) =1.79 ; Fluorescence trs rduite

ko
(Fe) =1.94 Fluorescence rduite

ko
(Cr) =2.29 Fluorescence rduite
Diffraction des rayons X
84
- Dans ce mme cas de figure, on peut tudier un acier avec le rayonnement non filtr d'un
tube de chrome (
K o
=2.291 ), en plaant un filtre de vanadium (
K edge
= 2.269 ) entre le
dtecteur et l'chantillon. Ainsi, il absorbera les photons de fluorescence de < 2.269 .
- On peut galement tudier un chantillon de fer avec le rayonnement de cuivre (
K o
= 1.54
) en plaant devant le dtecteur un filtre d'aluminium qui absorbe plus les photons de fluorescence
du fer ( / = 85 cmg
-1
) qui contribue au fond continu, que le rayonnement du cuivre ( / = 49
cmg
-1
) qui lui, contribue al diffraction.
1.1.2 Choix du tube et la distribution des raies de diffraction
On choisit, galement, un tube en fonction de la distribution des raies au niveau du spectre
que l'on veut obtenir. Pour un chantillon donn, les premires raies du spectre ralis avec un tube
de cuivre (
K o
=1.54 ), par exemple, apparatront des angles relativement grands que si le tube
tait en molybdne (
Ko
=071 ). Le spectre va se dplacer vers les petits angles lorsque la longueur
d'onde du tube diminue. Ceci, selon la relation de Bragg : 2d
(hkl)
sinu = n
1.2 Choix des paramtres de production des RX
1.2.1 Choix de la THT
Pour avoir un bon rapport I (raie Ko) / I (bruit de fond), on choisit une THT (tableau 1) de
l'ordre de trois fois la tension d'excitation V
K
:
V
K
=12400/
K
, o
K
est la longueur d'onde qui correspond l'nergie d'ionisation W
k
de
la couche K des atomes constituant l'anticathode. Au del de cette valeur, l'intensit globale du
spectre peut tre augmente, mais le bruit de fond sera plus important provoquant parfois le
recouvrement de petites raies de l'chantillon analys.
Tube W
k
(keV) THT (kV)
Cu 8.97 30
Fe 7.11 25
Co 7.70 7.70
Cr 5.90 30
Tableau 1
1.2.2 Choix de l'intensit du filament
L'intensit du tube est rgle de faon obtenir la raie K suffisamment leve. L'intensit
de la raie caractristique K, mesure partir du niveau suprieur du bruit de fond,, est donne par
relation :
I = Bi (V - V
k
)
3/2
Avec : B : une constante, i : courant lectronique, V : THT applique, V
k
: Tension excitatrice du
niveau K
Diffraction des rayons X
85
K|

ko
=1.54
On choisit en outre, l'intensit lectronique i, en sachant que la dure de vie du tube sera
d'aussi grande que l'intensit applique sera choisie petite. Ainsi, on ne dpassera gure les 10 15
mA, sauf pour des manipulations courtes et spcifiques.
1.3 Obtention du rayonnement monochromatique
1.3.1 Filtrage | ou monochromatisation non rigoureuse (fig.2, tableau 2)
Le filtrage repose sur l'absorption diffrentielle de part et d'autre de la discontinuit
d'absorption des matriaux. Pour obtenir un rayonnement monochromatique on utilise un filtre sous
forme de lame constitue d'un lment tel que sa discontinuit d'absorption K, la plus marque, se
trouve entre les raies Ko et K| du tube mis en place.
Fig. 2 - Filtrage | : Cas du cuivre.
(Trait plein : Spectre d'mission Trait discontinu : Courbe d'absorption du filtre Nickel)
Exemple :
Dans le cas de lanticathode de cuivre (
Ko
= 1.54 ,
k|
= 1.39 . ), le filtre le plus
appropri est le nickel dont la discontinuit k est
k
= 1.48 . Cette dernire est comprise,
effectivement, entre les raies Ko et K|.
()
I
n
t
e
n
s
i
t

,
u
n
i
t

a
r
b
i
t
r
a
i
r
e
(
c
p
s
)
Ko

k
=1.48

(
g
.
c
m
-
2
)

k|
=1.39
Diffraction des rayons X
86
D'une manire gnrale, le filtre qui correspond une anticathode de numro atomique Z
est celui dont l'lment possde le numro atomique Z-1. Cette rgle n'est pas toujours valable pour
les lments lourds. Aussi, pour le rayonnement du Mo (Z=42), on prend le filtre de numro
atomique 40, soit Z -2.
L'paisseur du filtre est gnralement choisie afin d'obtenir un rapport des intensits tell
que :
I (Ko) / I(k|) = 100.
Emission
Filtre
Elt Z

Ko1
()

Ko2
()

K|
()
W
k
(keV)
Elment Z
W
k
(keV)

K
()
Epaisseur
(m)
[I(
Ko
) /I(
K|
)]
=100
Mo 42 0.711 0.713 0.632 20.0 (Z-2) Zr 40 17.998 0.689 81
Cu 29 1.542 1.544 1.392 8.979 (Z-1) Ni 28 8.333 1.488 15
Co 27 1.790 1.793 1.621 7.709 (Z-1) Fe 26 7.114 1.743 12
Fe 26 1.937 1.94 1.756 7.114 (Z-1) Mn 25 6.539 1.896 11
Cr 24 2.291 2.294 2.085 5.989 (Z-1) V 23 5.465 2.070 11
Tableau 2
Monochromatisation rigoureuse (Fig.3)
Le principe du monochromateur repose sur la rflexion slective du rayonnement par une
famille de plans rticulaires (hkl), de pouvoir rflecteur lev. On rgle la position de rflexion du
monochromateur de telle faon que seule la raie voulue, la
Ko1
par exemple, soit diffracte ou
rflchie sur le monocristal. L'avantage du monochromateur est son aspect rigoureux dans sa
rsolution. L'inconvnient principal qu'il prsente est la perte d'intensit qu'il engendre. On peut
utiliser des lames de clivage telles que (001) LiF, (001)- mica, etc.
Diffraction des rayons X
87
u(ko
1
) u(ko
1
)
2u(ko
1
)
Fig.3 Rflexion slective du rayonnement ko
1.2.3 Rglage de la haute tension du compteur proportionnel
Fig.4 : Variation de l'intensit (nombre d'impulsions) en fonction de la tension (HV)
applique au compteur.
La courbe de variation (fig.4) des impulsions en fonction de la HV est caractrise par la
prsence d'un palier o le nombre d'impulsions reste constant pour une mme intensit des RX
incidents. Mais l'amplitude de ces imputions crot en fonction de la mme tension. Ce palier
correspond au rgime proportionnel du compteur. On rgle la HV au tiers de ce palier, selon les
tensions croissantes.
2 - Mise en uvre de l'analyse qualitative
Les diagrammes de poudre ne sont pas, en gnral, suffisants pour permettre une
dtermination complte de la structure d'un matriau.
ko
1
+ko
2
+k|
+ fond continu
ko
1
monocristal
(hkl)
I(cps) Mo Cu Cr
HV
Diffraction des rayons X
88
Un diagramme de diffraction consiste en une liste de distances intrrticulaires
dcroissantes correspondante des angles de diffraction croissants. Actuellement l'utilisation la plus
courante des diagrammes de poudre est l'analyse qualitative, c'est dire l'identification des phases.
Chaque substance cristallise prsente un diffractogramme unique car les positions des
raies dpendent des dimensions de la cellule lmentaire, tandis que les intensits des raies
dpendent du type d'atomes et de leur arrangement dans le cristal. Par consquent, chaque
substance ou phase peut tre identifie par son "empreinte digitale" caractrise par les distances
rticulaires d
(hkl)
et les intensits des raies (hkl) correspondantes.
2.1 - Enregistrement d'un diagramme de diffraction
On choisit les conditions de diffraction selon l'chantillon analyser, et en se rfrant aux
paragraphes prcdents. On choisit aussi les paramtres suivants :
- vitesse de rotation du goniomtre
- vitesse de dfilement du papier enregistreur
- constante de temps
- le range (ou l'chelle ) des intensits
2.2 - Dpouillement du spectre
- On relve minutieusement les positions angulaires de toutes les raies en utilisant la mthode
manuelle du milieu de la corde mi-hauteur (fig.5) et leur intensit en coups par seconde (cps))
respective. Le bruit de fond tant soustrait auparavant.
- On calcule les distances inter rticulaires d
m
et les intensits relatives I
m
/I
0
de toutes les
raies. I
0
est l'intensit de la raie la plus intense.
- On dresse la liste sous forme de tableau, o les raies sont classes selon les d
m
dcroissants
avec leur intensit relative.
Diffraction des rayons X
89
Raie 2u Sin(u) I(cps) I/I
0
(%) d()
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
Tableau 3 - Prsentation des rsultats du dpouillement dun spectre
Raies d() I/I
0
(%)
1
2
3
Tableau 4 : Classement des trois raies les plus intenses
3 - Evaluation
3.1 description des fichiers
Jusqu' prsent environ 60000 phases ont t dnombres et collectes tout d'abord par
Hanawalt de la Dow Chemical Compagny (1936), puis constitus en fichiers par l'American Society
for Testing and Material (ASTM entre 1941 et 1968) et actuellement par le Joint Comittee on
Powder on Power Diffraction Standard (JCPDS depuis 1969). Environ 2000 phases sont
rpertories chaque anne.
JCPDS Powder Diffraction file (PDF) publie ainsi les trois fichiers suivants pouvant tre
subdiviss selon les phase inorganiques, minralogiques, organiques et organo-mtalliques :
a) Une recherche manuelle selon la mthode de Hanawalt dite sous forme de livre et
rpertoriant les phases suivant les valeurs des distances inter-rticulaires.
Diffraction des rayons X
90
b) Un index classifi par ordre alphabtique des phases comprenant les formules
chimiques, les valeurs des distances inter-rticulaires des trois raies les plus intenses et le numro
de la carte PDF.
c) Une bibliothque de toutes les fiches comportant un maximum d'informations.
3.2 - Recherche des phases
Nous prsentons deux mthodes, l'une manuelle de Hanawalt et la mthode automatique de
Jonhson-Vand.
3.2.1 Recherche manuelle de Hanawalt
Elle consiste reprer dans le fichier de recherche les trois raies les plus intenses enregistres.
Les donnes sont prpares suivant les d (d
1
, d
2
, ) dcroissants avec des intensits relatives
la raie la plus intense norme 100.
Parmi les fichiers, on cherche celui o apparat d
m
de la raie la plus intense et on slectionne
les phases en tenant compte de la tolrance sur d. Par exemple, si d = 2.68 avec (Ad = 0.01 ) on
choisit entre d = 2.67 et d = 2.69 . On regarde ensuite si d
2
et d
3
sont prsents dans le sous-
groupe et s'ils sont appareills avec une phase en contrlant les intensits relatives.
Un dernier test consiste confirmer la phase avec la fiche complte.
Tandis que la mthode reste relativement simple dans le cas d'une seule composante (et si
les donnes sont correctes), la mthode risque d'tre ardue ds que deux et fortiori plusieurs
phases sont mlanges. Lidentification devient encore lus dlicate quand on est en prsence de
superposition de raies correspondant diffrentes phases.
3.2.2 Recherche automatique de Jonhson - Vand
Cette stratgie, la plus utilise, compare le diagramme complet de l'chantillon inconnu,
successivement chaque fiche JCPDS. On peut explorer toutes ces fiches en moins d'une minute.
Mais pour diminuer le temps d'acquisition on peut se rfrer la composition chimique, la
provenance de l'chantillon ou un fichier plus rduit comme l'organique ou le minralogique.
Le principe est le suivant : pour chaque standard (ou fiche), la raie la plus intense est
examine en premier (alors que dans la mthode manuelle, c'est la raie la plus intense de l'inconnue
qui est considre en premier), puis vrifie si elle est prsente dans l'inconnu. Si c'est le cas alors
on vrifie si la deuxime puis la troisime raie est vrifie, et ainsi de suite. Dans la plupart des cas
les trois raies les plus intenses sont suffisantes pour la premire identification. La comparaison doit
tenir compte de la position et de l'intensit des raies. Ensuite on vrifie la superposition des autres
raies pour valider.
Diffraction des rayons X
91
Fiche caractristique dune phase
Diffraction des rayons X
92
Lecture
Histoire, Protection & Applications des RX
1) Historique
____L'histoire des dcouvertes en optique ondulatoire est passionnante et exemplaire en ce
qui concerne les tapes d'une vraie dmarche scientifique. Nous n'en donnerons dans ce texte de
manipulation qu'un bref rsum. La bibliographie et les liens internet permettront ceux qui
aiment la Physique et son histoire de complter leurs connaissances.
C'est en 1657 [1] que le mathmaticien franais Pierre Fermat (1601-1665) nonce le
premier principe fondamental de l'optique dont nous donnons ici la forme initiale:
"La nature agit toujours par les voies les plus courtes"
Pierre Fermat contestait vigoureusement les propositions initiales de Descartes qui servaient
de base sa Dioptrique. Descartes supposait en effet que la vitesse de la lumire tait plus faible
dans l'air que dans l'eau. La controverse fut trs vive. Il qualifiait la dmonstration de l'auteur du
fameux "discours de la mthode" de "vritable paralogisme" En utilisant son principe et des
suppositions inverses, Fermat, qui ne disposait pas des facilits du calcul intgral parvenait
cependant dmontrer mathmatiquement les mmes lois de la rfraction que Descartes.
Dans les ouvrages actuels, sans doute pour viter toute confusion avec "le principe
du moindre effort", l'nonc du principe de Fermat est propos sous une forme moins
gnrale, mais plus explicite :
"La lumire se propage d'un point un autre sur une trajectoire telle que la dure du parcours
soit minimale ou plutt stationnaire"
La notion de chemin optique en dcoule directement. On en dduit les lois de la rflexion, de
la rfraction et plus gnralement celles de l'optique gomtrique. Les notions de stigmatisme des
systmes optiques dans la formation des images font galement appel au principe de Fermat. Les
calculs de chemins optiques jouent un rle fondamental dans l'interprtation des phnomnes de
diffraction et d'interfrence.
On attribue la dcouverte de la diffraction au pre jsuite italien de Bologne Francesco
Grimaldi [1] (1618-1663). Citons la premire proposition de son ouvrage publi en 1665 :
"Physico-mathesis de Lumine, coloribus et iride"
Diffraction des rayons X
93
___" Lumen propagatur seu diffunditur non solum Directe, Refracte, ac Refexe, sed etiam
Quatro modo, Diffracte."
Enferm dans une chambre obscure il perait de minuscules ouvertures dans un rideau noir
expos au soleil. Il interposait sur le trajet du faisceau un cran perc d'un petit trou ou une fente,
un bord d'cran, des fils, des cheveux, de la toile, des plumes d'oiseaux. Chaque fois il observait sur
un cran plac derrire ces objets, des franges irises en dehors du trajet gomtrique normal. Il
suppose donc que le changement de trajectoire de la lumire lors de son passage proximit
d'objets opaques, est la consquence d'un phnomne nouveau qu'il appelle diffraction.
Grimaldi a probablement observ des interfrences avec deux sources proches. Mais ses
descriptions ne sont pas suffisamment prcises pour conclure.
2) Protection des rayonnements
Les rayonnements mous utiliss en radiocristallographie sont facilement absorbs par les
tissus humains et sont donc trs dangereux. Une exposition de courte dure des mains au
rayonnement direct peut causer des brlures douloureuses qui peut mettre plusieurs annes se
gurir. Il faut avoir l'esprit que les effets ne sont pas immdiatement douloureux. Des atteintes
aussi srieuses peuvent tre produites par les rayonnements diffuss par les sources secondaires
telles que fentes primaires et secondaires, entre du dtecteur, etc. Ne pas faire de manipulations
utilisant les RX dans des lieux non ars. L'air ionis ambiant peut provoquer des maux de tte et
un fourmillement au niveau de la peau qui risquent de provoquer des complications insouponnes.
Malgr les efforts des constructeurs pour pouvoir ajuster un appareil automatiquement, il
existe encore des cas o on est amen effectuer un ajustement manuel. Dans ce cas, on utilisera
des outils de rglage longs, ainsi qu'une protection par panneaux de verre plomb ou de feuilles
de plomb.
Des proprits des rayons X dcoulent un certain nombre dapplications qui en font
limportance pratique.
3) Applications des RX
Le rayonnement X est particulirement utilis dans les domaines de la recherche scientifique, de
l'industrie et de la mdecine.
- Recherche
L'tude des rayons X a jou un rle essentiel en physique thorique, en particulier dans le
dveloppement de la mcanique quantique. Les rayons X ont permis aux physiciens de confirmer
exprimentalement les thories de la cristallographie. En utilisant des mthodes de diffraction des
rayons X, il est possible d'identifier des substances cristallines et de dterminer leur structure.
Pratiquement toutes les connaissances actuelles dans ce domaine ont t dcouvertes ou vrifies
par examen aux rayons X. Il est galement possible d'appliquer des mthodes de diffraction des
Diffraction des rayons X
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rayons X des substances rduites en poudre, non cristallines mais affichant une certaine
rgularit de structure molculaire. Au moyen de telles mthodes, il est possible d'identifier des
composants chimiques et de dterminer la taille de particules ultramicroscopiques. Les lments
chimiques et leurs isotopes peuvent tre identifis par la spectroscopie rayons X, qui dtermine
les longueurs d'onde des raies caractristiques dans leurs spectres. Plusieurs lments ont t
dcouverts par analyse de leurs spectres de rayons X.
La microradiographie permet de produire des images grain fin, qui peuvent tre
considrablement agrandies. Il est possible de combiner deux radiographies dans un projecteur
pour produire une image tridimensionnelle appele stroradiogramme. On utilise galement la
radiographie en couleur pour renforcer le dtail des radiographies ; dans ce processus, des
diffrences d'absorption des rayons X par un spcimen sont qualifies de couleurs diffrentes. Des
informations trs dtailles sont fournies par la microsonde lectronique, qui utilise un faisceau
d'lectrons trs prcisment dfini pour gnrer des rayons X dans une zone de spcimen ne
dpassant pas 1 m
2
.
- Industrie
Outre les applications de recherche des rayons X en physique, chimie, minralogie,
mtallurgie et biologie, les rayons X sont utiliss dans l'industrie comme outil de recherche et pour
de nombreux processus de test. Ils sont prcieux pour tester des moulages mtalliques sans les
dtruire. Des images par rayons X sur des plaques photographiques rvlent la prsence de taches,
mais l'inconvnient d'une telle inspection est que l'quipement de radiographie nergie
ncessairement trs leve est encombrant et onreux. Dans certains cas, par consquent, on les
remplace par des radio-isotopes, qui mettent des rayons gamma trs pntrants. Ces sources
d'isotopes peuvent tre enchsses dans des conteneurs relativement lgers, compacts et blinds. En
radiographie industrielle, les techniciens ont utilis le cobalt 60 et le csium 137. Le thulium 70 a
t utilis dans des projecteurs isotopes petits et commodes pour certaines applications mdicales
et industrielles.
De nombreux produits industriels subissent une inspection de routine au moyen de rayons X,
qui permet l'limination des produits dfectueux ds la production. La dtection de gemmes fausses
et de marchandises de contrebande lors des contrles douaniers utilise aussi les rayons X. On
utilise des rayons X ultradoux pour prouver l'authenticit d'uvres d'art et pour restaurer des
images.
- Mdecine
Les radiographies et la fluoroscopie sont trs couramment utilises en mdecine comme outils
de diagnostic. En radiothrapie, les rayons X sont utiliss pour traiter certaines affections, comme
par exemple le cancer, en exposant des tumeurs aux rayons X.
La valeur des radiographies des fins de diagnostic provient des proprits pntrantes des
rayons X. Quelques annes peine aprs leur dcouverte, les rayons X ont t utiliss pour
localiser des corps trangers, des balles par exemple, l'intrieur du corps humain. Avec
l'amlioration des techniques d'examen par rayons X, la radiographie a rvl d'infimes altrations
Diffraction des rayons X
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des tissus et de nombreux tats pathologiques ont pu tre diagnostiqus par ce moyen. Les rayons X
ont fourni la plus importante mthode de diagnostic de la tuberculose lorsque cette maladie est
dclare. Les images des poumons taient faciles interprter, car les espaces remplis d'air sont
moins opaques aux rayons X que les tissus pulmonaires. Diverses autres cavits corporelles
peuvent tre remplies artificiellement avec des substances de contraste, plus ou moins opaques que
les tissus environnants, de manire qu'un organe particulier apparaisse plus distinctement sur
l'image. Le sulfate de baryum, trs opaque aux rayons X, est utilis pour radiographier le tractus
gastro-intestinal. Certains composs opaques sont administrs par voie orale ou intraveineuse
avant l'examen des reins ou de la vsicule biliaire. De telles teintures peuvent avoir des effets
secondaires importants et ne devraient tre employes qu'aprs une consultation minutieuse.
L'utilisation du diagnostic par radiographie a diminu rcemment par suite de la concurrence
d'autres mthodes d'investigation parfois plus fiables et moins dangereuses (endoscopies, scanner,
chographie, etc.).
Un appareil de radiographie rayons X offre des vues anatomiques claires de n'importe
quelle partie du corps humain, y compris des tissus mous. L'appareil de tomograpie axiale
informatise (CAT ou CT) tourne de 180 autour du corps d'un patient, en mettant un faisceau de
rayons X fin comme un pinceau en 160 points diffrents. Des cristaux placs face au faisceau
recueillent ce dernier et enregistrent les taux d'absorption des diverses paisseurs de tissus et d'os.
Ces donnes sont ensuite retransmises un ordinateur, qui les transforme en une image l'cran.
En utilisant le mme dosage de rayonnement que celui de la machine rayons X conventionnelle, il
est possible de rendre environ cent fois plus claire tout une tranche du corps humain. Le
scanner a t invent dans les annes 1970 par Godfrey Hounsfield, ingnieur en lectronique
britannique, et il devint d'usage courant vers 1979.
L'absorption faible des rayons X par la matire donne un moyen dexplorer lintrieur
dobjets opaques aux radiations lumineuses. Le principe consiste faire lombre de lobjet partir
dune source ponctuelle sur un cran fluorescent ou un film photographique; suivant lpaisseur de
lobjet traverser, on change la longueur donde moyenne du rayonnement, donc le coefficient
moyen dabsorption, en rglant la tension applique au tube rayons X, de 10 kilovolts pour les
objets minces et lgers 300 kilovolts pour les pices mtalliques paisses (10 cm dacier). Les
variations de lintensit de limage correspondent soit des variations dpaisseurs si lobjet est
homogne, soit des variations de composition chimique pour des objets htrognes, soit la
combinaison de ces deux causes.
La radiographie est utilise en mdecine pour lobservation de lintrieur du corps humain.
Les diffrences de densit des tissus, comme les os et la chair, des cavits ou des corps trangers
sont rendues visibles. Si lon injecte des substances hauts poids atomiques, on en suit la
rpartition dans le sang par exemple.
Les doses reues par le patient en radiographie sont assez faibles pour tre inoffensives. Par
contre, on utilise aussi en radiothrapie les rayons X doses considrablement plus fortes pour
dtruire certains tissus, la difficult tant de dterminer la gomtrie des faisceaux et leur intensit
pour minimiser les effets nocifs sur les tissus sains.
La radiographie industrielle est utilise pour contrler ltat interne de pices en cours de
fabrication ou termines : dtection des htrognits dans les pices coules, qualit des
soudures des circuits lectriques lintrieur dun isolant opaque, etc.
Diffraction des rayons X
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Le pouvoir de rsolution dune radiographie est limit par la dimension de la source et par la
superposition des ombres provenant de toute lpaisseur de lobjet. Avec des tubes foyer trs fin
(infrieur 1 mm), lobjet tant prs de la source, on obtient sur un film plac grande distance
des ombres agrandies et dune nettet telle que lon distingue des dtails de lordre de grandeur du
diamtre de la source. Une autre technique, la microradiographie, consiste choisir un objet sous
forme de lamelle trs mince applique contre le film. Avec des rayons mous (tension de lordre de
1 kV), on arrive obtenir des images de coupes biologiques permettant de localiser les lments
lourds lchelle du micron, ce qui est un complment trs important de lexamen usuel de la
prparation au microscope optique.
- Lanalyse radiocristallographique
La dtermination de la structure atomique des molcules dans les cristaux est un outil
essentiel du chimiste et du biochimiste. Un autre usage de la diffraction des rayons X est la
recherche des phases dans une poudre de microcristaux. En effet, le diagramme de poudre de
lchantillon est la superposition des diagrammes des phases cristallises constituantes. Pour les
identifier, il existe des programmes informatiques partir des donnes sur les phases pures,
Powder Diffraction Data, recueillies et classes par International Centre for Diffraction Data
(tats-Unis). En 1995, ce fichier comporte soixante mille espces. Cette mthode danalyse est
utilise en mtallographie (structure des alliages), en chimie du solide et en minralogie.
Pour une phase connue, le diagramme de diffraction peut donner des informations dtailles,
la grandeur exacte de la maille dpendant des impurets dissoutes dans la phase et de son tat de
tension lastique. Les variations sont trs faibles, mais la prcision de la mesure des paramtres de
la maille est telle que ces variations sont utilisables quantitativement.
Le cristal rel contient des dfauts qui perturbent la parfaite priodicit du cristal idal
parfait : dfauts localiss (lacunes, dislocations, macles, entre autres) ou rpartis (ordre imparfait
dans lalternance des atomes dun alliage mtallique). Il existe des techniques spciales de
diffraction qui peuvent mettre en vidence ces dfauts dont le rle est important dans la physique
du mtal: technique de Lang pour la photographie des lignes de dislocation, diffusions anormales
provoques par lordre imparfait des atomes dans un cristal mixte.
Dans les solides amorphes ou les liquides, il nexiste plus dordre grande distance, mais,
nanmoins, la disposition des proches voisins dun atome donn nest pas compltement irrgulire
comme dans un gaz: on dit quil y a un ordre petite distance, et cest ce qui caractrise la
structure de ltat amorphe. La diffraction des rayons X est capable dindiquer la rpartition
statistique des atomes par rapport un atome pris comme origine. Cest la seule information que
lon tire des donnes exprimentales. Il y a dailleurs de grandes similitudes en ce qui concerne
lordre petite distance dans des substances de compositions et de proprits diffrentes: cela
tient, en particulier, au fait que le paramtre important dans lempilement des atomes est leur taille
et que celle-ci varie relativement peu dune espce lautre. Aussi les diagrammes de diffraction
dun corps amorphe ne permettent-ils pas de lidentifier, comme cela se fait avec les phases
cristallises.
- La spectrographie X
Lapplication fondamentale des spectres caractristiques des diffrents atomes est la
Diffraction des rayons X
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dtermination des niveaux dnergie des lectrons. Dans ce cas aussi, il existe des applications plus
pratiques qui sont actuellement fort rpandues.
Lintrt de la spectrographie X tient ce que les diffrents atomes de lmetteur sont
caractriss sparment les uns des autres. Le spectre observ est, avec une trs bonne
approximation, indpendant des combinaisons entre atomes. En outre, un autre avantage est la
simplicit des spectres: ceux-ci sont semblables pour les diffrents atomes et comportent un faible
nombre de raies qui sont faciles identifier, mme si lmetteur contient des lments de nombres
atomiques voisins. Ainsi, laide des tables de longueurs donde de tous les lments, le
dpouillement du spectre mis par un metteur contenant plusieurs sortes datomes est ais, ce qui
permet une analyse quantitative lmentaire de lmetteur. Mais lintensit des raies mises par
deux lments est fonction des proportions relatives de ces lments. On conoit donc quavec
laide des spectres talons obtenus avec des mlanges de proportions connues on puisse faire une
analyse quantitative.
Pour exciter le spectre X, il y a deux procds: soit bombarder lchantillon avec des
lectrons (excitation directe), soit avec des rayons X de courte longueur donde (fluorescence).
La seconde mthode est plus aise car lchantillon peut tre irradi dans lair par un tube
fonctionnant sous haute tension. Tel est le principe de lanalyse par fluorescence X, qui sest
beaucoup dveloppe dans les laboratoires industriels parce que cest une mthode non destructive
danalyse lmentaire du solide. Chaque lment est caractris par la raie dmission la plus
intense; on dispose les dtecteurs de faon enregistrer ces raies. Ainsi, la rponse de ces
dtecteurs peut tre enregistre puis traite par ordinateur de faon donner les proportions des
lments cherchs dans lchantillon: il existe des analyseurs automatiques fonctionnement
continu. La composition dun produit (par exemple, une tle dalliage ou un mlange
dalimentation dun four ciment) peut tre contrle et ventuellement modifie instantanment.
Si les analyses qualitatives ou semi-quantitatives sont trs aises, il est ncessaire de prendre
dassez nombreuses prcautions exprimentales et de faire subir de multiples corrections aux
rsultats bruts pour arriver une analyse quantitative prcise sans erreurs systmatiques.
Lexcitation par lectron du spectre dmission est plus complique puisque lchantillon doit
tre introduit dans le vide; elle est utilise dans la microsonde lectronique (Castaing, 1952) parce
que lon peut raliser une analyse ponctuelle de lchantillon. Le faisceau dlectrons excitateurs
est focalis sur une surface de lchantillon de lordre de 1 micromtre carr. Comme la
pntration des lectrons est de lordre de 1 micromtre, le volume metteur est de 1 micromtre
cube. Par dplacement de lchantillon sous le faisceau, on explore point par point sa surface;
lindication des dtecteurs disposs de faon enregistrer la raie caractristique principale dun
lment reproduit la variation de la teneur de cet lment dun point un autre.
Dans les microsondes actuelles, la rponse du dtecteur peut tre envoye sur lcran dun
oscillographe cathodique qui est balay en synchronisme avec le mouvement de lchantillon.
Ainsi, on obtient sur lcran la carte de la rpartition dun lment avec un pouvoir sparateur de
lordre de celui dun microscope optique. En changeant le rglage du dtecteur, on obtient
successivement les cartes de rpartition des divers lments. Lanalyse quantitative, aprs des
corrections diverses, atteint une prcision de lordre de 1 p.100.
Diffraction des rayons X
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Repres
1895 : ROENTGEN, dcouverte des rayons-X
1905 : BARKLA, dmonstration du comportement ondulatoire des rayons-X
1912 : EWALD, tude de la propagation de la lumire dans les cristaux [thse de Ph.D.]
1912 : von LAUE, ralisant que la distance interatomique cristalline est de l 'ordre de la longueur
d'onde de rayons-X, suggre FRIEDRICH et KNIPPING, sur la base des travaux de EWALD, de vrifier
que les cristaux agissent comme rseaux de diffraction pour les RX
1912 : FRIEDRICH et KNIPPING, exprience concluante de la prdiction deVon LAUE
1913 : W.L. BRAGG, explication des rsultats exprimentaux de F & K [condition de diffraction]
1913 : W.H. BRAGG, ralisation du premier spectromtre RX. Obtention des spectres X du NaCl,
de KCl et de KBr
1913 : SOMMERFELD, calcul de l'intensit des pics de diffraction X. Notion de facteur de forme
atomique et de facteur de structure
Bibliographie
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- Cullity B.D., Elements of X-Ray Diffraction (1956) Addiso-Wesley Publishing
Company, Inc.
- J. P. Eberhart, Mthodes physiques dtude des minraux et des matriaux solides, Doin, Editeurs,
1976.
- R. Jenkins et R. L. Snyder, Introduction to X-ray powder diffractometry
vol. 138 in Chemical Analysis: A series of monographs on analytical chemistry and its
applications (J. D. Winefordner editor), d. Wiley Interscience, 1996
- J.-P. Eberhart Analyse structurale et chimique des matriaux,
d. Dunod (Paris), 1997
- J. Protas, Diffraction des rayonnements, Dunod d., 1999.
- N. Broll Caractrisation de solides cristalliss par diffraction X. PE 1 080, Trait,
Analyse et Caractrisation.
- A. Guinier, Thorie et technique de la radiocristallographie, Dunod d., 1964.
- Cohen Tanoudji C., Mcanique quantique, Vol. 1et 2, Collection Enseignement des
- Diu B. Laloe F., Sciences. Hermann ed., 1977.
- Vasco Ronchi "Histoire de la lumire" Librairie Armand Colin 1956"
- Jos-Philippe Prez ; Optique gomtrique et ondulatoire; Editions Masson 1994
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- Les cahiers de Science & Vie n5: " Fresnel : qu'est-ce que la lumire"
- Les cahiers de Science & Vie n25 "Comment on a russi mesurer la vitesse de la lumire"
- Les cahiers de Science & Vie n17 "Maxwell ou les champs de la lumire"
- Les cahiers de Science & Vie n30 "Hertz : comment il a rvl l'existence des ondes radio"
- P. Fleury J.P. Mathieu : Images Optiques Editions Eyrolles 1960 p.236