.Documentacin: mtodos de caracterizacin de materiales a frecuencia de microondas.

DOCUENTACION: DIFERENTES METODOS PARA LA CARACTERIZACION DE MATERIALES A FRECUENCIA DE MICRROONDAS

Jorge Alberto Cadena Garca
e-mail: jacadenag@unal.edu.co

Jamer Leandro Acero

e-mail: jlaceror@unal.edu.co

diferentes mtodos encontrados para la medicin de r

RESUMEN: En este documento vamos a

plasmar, resumir y analizar los diferentes mtodos para la caracterizacin electromagntica de materiales a frecuencia de microondas. Vamos a ver las principales formas de medicin y analizaremos cul de ellas es la ms viable para darle solucin al problema propuesto en nuestra tesis. Revisaremos mtodos resonantes, no resonantes y algunos descritos por IPC.

, tanto un anlisis comparativo, como una

eleccin final para la diseo e implementacin del testfixture capaz de caracterizar materiales (moldeables a un recipiente) a una frecuencia de 2450 MHz.

2 METODOS DE CARACTERIZACION.
2.1 STUB LAMBDA- CUARTOS
Los stubs son longitudes de LT en corto circuito o circuito abierto que pretenden producir reactancias puras en el punto en que se conectan, para la frecuencia de lneas de inters. Cualquier valor de reactancia puede hacerse, con la longitud del stub variando entre cero y media longitud de onda. En este procedimiento (resonador por LT o tambin llamado resonador en T) se obtiene la constante dielctrica del sustrato diseando un filtro por medio de una lnea de transmisin y un stub abierto de cuarto de onda, as, el sistema presentara una frecuencia de resonancia que depender de las constante dielctrica de dicho sustrato. Por otro lado, se usa el factor de calidad Q para determinar la atenuacin y la tangente de prdidas del material. La constante dielctrica efectiva del material de cada stub dependiendo de la frecuencia est dada por:

ABSTRACT: in this document we going to

tralate, resume and analyze the electromagnetic characterization of different materials in microwave frequency. Let`s see the main methods to measurement and we going to analyze who of them it`s the most appropriate to solve our problem. we going to check nonresonant methods, resonant methods and some methods IPC.

PALABRAS CLAVE: constante dielctrica, permitividad, permeabilidad, tangente de prdidas, VNA, frecuencia de resonancia, factor de calidad, moto transverso elctrico.

1 INTRODUCCIN
El diseo de circuitos que trabajan a altas frecuencias y velocidades requiere el conocimiento de diferentes constantes electromagnticas, dependientes de la frecuencia, como lo son la constante dielctrica (r) y la tangente de prdidas ( ), de los diferentes substratos usados en la elaboracin del circuito. Estas constantes dependen bsicamente de diferentes factores como lo son la frecuencia o la temperatura, en nuestro trabajo por encontrar el valor de estas, para diferente tipo de materiales, vamos a enfocarnos en la dependencia que tiene la frecuencia, mas especficamente buscaremos los valores a una frecuencia de 2450 MHz. A continuacin veremos los

(1) Donde c es la velocidad de la luz en el espacio libre. Por otro lado, la medicin del factor de calidad incluye los efectos de prdidas del conductor, del dielctrico y las dadas por radiacin, dicha medicin se hace a travs de:

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calidad (Q) del modo TE101 dentro de la cavidad. Se escoge el modo TE101 ya que ofrece mejores ventajas, el 0 nos dice que el valor del espesor de la muestra tiene que ser insignificante comparado con las otras dimensiones.

(2) Qc es calculado a partir de las mediciones fsicas tales como el ancho de la lnea, su espesor, aspereza, etc.

De este modo, a partir del Qd, la constante dielctrica del material (r) y la constante dielctrica efectiva, se puede calcular la tangente de prdidas del sustrato con la siguiente relacin:

(3) FIGURA 2. Dimensiones y plano de la cavidad resonante rectangular. Tericamente la frecuencia de resonancia para el modo TE101 est dada por:

(4)

FIGURA 1. Ejemplo de un resonador en T con diferentes longitudes de stub.

En donde c es la velocidad de la luz en el espacio libre, r es la permeabilidad relativa, a y d el ancho y longitud respectivamente. Si la frecuencia es conocida, el nico valor desconocido seria la constante dielctrica que se hallara fcilmente. Podemos describir el factor de calidad Q como:

2.2 CAVIDAD RECTANGULAR

RESONANTE

(5)

El procedimiento bsicamente es construir una caja de cobre para formar la cavidad rectangular, dentro de Ella estar la muestra (tambin rectangular) que se va a medir. Se tiene que tener en la cara superior un agujero para colocar el puerto de alimentacin. Con esto obtendremos el parmetro S11 con ayuda del VNA (Vector Network Analyzer). Las dimensiones escogidas para la cavidad so obtienen dependiendo de que el primer pico en el parmetro S11 versus la frecuencia corresponda a la frecuencia de resonancia y factor de

Donde angular y

es la frecuencia de resonancia es el ancho de banda entre los puntos

donde el parmetro S11 es x. el factor de calidad sin carga esta representado por: (6)

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.
Donde: la antena vare y as determinar las caractersticas del dielctrico que provocaron el cambio.

(7)

El factor de calidad sin carga depende de las perdidas en el dielctrico y las perdidas por conduccin de las paredes de la cavidad.

(8) En una cavidad rectangular, el factor de calidad debido a prdidas por conduccin de las paredes esta descrita por la siguiente frmula:

(9) FIGURA 3. Antena tipo parche Donde Para hallar la permitividad efectiva es necesario conocer la frecuencia de resonancia, para una antena rectangular est dada por: se relacin con la tangente

El factor de calidad

de prdidas de la siguiente manera: (11) (10) Al obtener con el analizador vectorial el parmetro S11, tambin obtendremos la frecuencia de resonancia y el ancho de banda, con estos valores y las formulas antes descritas obtendremos los valores de la constante dielctrica y de la tangente de perdidas. Y se realiza la siguiente relacin:

(12) El clculo de la tangente de prdidas se basa en la medicin del factor de calidad de la antena:

2.3 ANTENA PARCHE

El diseo de una antena parche se basa fundamentalmente en la geometra del resonador y de caractersticas fsicas del sustrato que funciona como dielctrico entre la antena y el plano de referencia, as pues, la relacin radica en que la frecuencia de resonancia, a pesar que est determinada por las dimensiones del resonador cambiara cuando exista una variacin en la permitividad del dielctrico (el sustrato en este caso). En otras palabras, lo que se hace es agregar una lmina de dielctrico extra para que la permitividad efectiva en

(13) QT= Factor de calidad total, Qrad=Factor de calidad debido a las perdidas por radiacin, Qc=Factor de calidad debido a las perdidas por conduccin, Qd= Factor de calidad debido a las perdidas del dielctrico, Qsw= Factor de calidad debido a ondas de superficie. Este ltimo podemos despreciarlo para el caso de sustratos delgados.

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(14)

FIGURA 4. Dimensiones y plano de la cavidad resonante cilindrica (15) Para una cavidad resonante cilndrica en modo TE111 (se elije este modo ya que ofrece la menor frecuencia de resonancia para unas dimensiones dadas), la frecuencia de resonancia est dada por:

Los factores Qd y Qc debidos al sustrato utilizado y a las metalizaciones respectivamente, sern iguales en los casos con y sin supersustrato: sin embargo el factor Qrad es funcin de la permitividad relativa efectiva y por tanto vara para cada caso. Ahora podemos definir Qt0 y Qrad0 como los factores sin supersustrato y QtS y QradS como los factores con el supersustrato y tenemos:

(19) Los campos elctrico y magntico en el modo TE111 son:

(20) (16) (21) (17) (22) Al agregar el supersustrato se genera una diferencia de perdidas, de donde podemos obtener la tangente de prdidas del sustrato superpuesto.

(23)

(18)

(24) (25)

2.4 RESONADOR CILINDRICO

DIELECTRICO

Este metido es muy parecido al del resonador rectangular, se trata de implementar una cavidad cilndrica resonante y mediante mtodos analticos y con el valor de la frecuencia podremos hallar la constante dielctrica y la tangente de prdidas.

Donde es 1.841.

. Para el modo TE111

El factor de calidad total esta dado por:

(26)

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.
Donde (factor de calidad debido a las perdidas por conduccin) es: del resonador. Las condiciones anteriores (constante de fase y constante de atenuacin) se relacionan con la condicin de resonancia del medio:

(31) (27) Con base en las formulas anteriores podemos describir el valor de la frecuencia dependiendo del valor de las dimensiones de nuestro resonador y la constante dielctrica:

Y el factor de calidad debido a perdidas del dielctrico es:

(28) Para la tangente de perdidas tenemos que

(32) .

2.5 CARACTERIZACION DIELECTRICOS POR TDR

DE 2.6 METODO DE GUIA CORTOCIRCUITADA. METODO DE ROBERTS-VON HIPELL

Para la determinacin de constantes dielctricas de distintos medios se necesita de una gua de ondas cortocircuitada y parcialmente rellena por el dielctrico a caracterizar.

El TDR (reflectometra en dominio temporal) es una tcnica que fundamentalmente se basa en la medida de las seales reflejadas en la superficie de separacin de un medio que usualmente viene alojado en una lnea de transmisin. En este caso tambin nos enfocaremos en un resonador cilndrico y nos centraremos en las expresiones para la constante de fase () y constante de atenuacin ():

FIGURA 6. Gua de ondas rellena de una muestra dielctrica a lo largo de una longitud conocida de esta La muestra debe tener la misma forma que la gua, su superficie lateral ajustar exactamente a las paredes de la misma y las bases ser perpendiculares a la direccin de propagacin. Para realizar este tipo de caracterizacin se requiere de un montaje experimental como el siguiente: (29)

FIGURA 5. Resonador cilindrico, metodo por TDR

(30)

Donde y

es la frecuencia de resonancia

es la parte real de la constante dielctrica relativa

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.
FIGURA 7. Montaje experimental *Un diodo gunn con su correspondiente alimentacin y modulacin que genera una seal 9.23 GHz. * Una gua rectangular abierta de dimensiones interiores: a = 10.030 mm, b = 22.298 mm La determinacin de la constante dielctrica de un medio material a partir del mtodo de la gua cortocircuitada se realiza de la siguiente manera: Las posiciones del primer mnimo de ondas estacionarias cuando la gua no est cargada l0 y la posicin del mnimo l cuando la gua est cargada corresponder a un mximo en la seal V (dB) detectada por el medidor. Definimos el desplazamiento relativo d m como:

FIGURA 8. Guia rectangular abierta * Un medidor de ondas estacionarias que proporciona valores de tensin relativos a una referencia. * Un sistema de adquisicin que permite detectar mediante una sonda (antena diodo actuando como receptora) los mximos de seal y mediante la escala calibrada las posiciones de dichos mximos en la gua: (33) Siendo L el espesor de la muestra dielctrica. La posicin de estos mximos se determina a partir de los valores obtenidos desplazando la sonda a lo largo de la gua, cuando observamos en el medidor de ondas estacionarias la mxima seal. La diferencia entre el mximo y el mnimo de seal obtenido tanto en lnea cargada como en lnea en vaco:

(34) FIGURA 8. Test-fixture implementado * Una serie de clulas de las mismas dimensiones transversales que la gua y diferentes espesores cuya misin va a ser la de servir de alojamiento para la muestra cuya constante dielctrica vayamos a determinar. Estas relaciones permiten calcular la razn de ondas estacionarias para una gua de ondas rellena de vaco S0 o del dielctrico que estemos utilizando en cada caso S DIEL a partir de las ecuaciones de Maxwell. Una vez calculados estos valores se puede obtener la razn de ondas estacionarias en la gua cargada a partir de la expresin:

(35) Con los parmetros S0, S DIEL y d m y conocida la frecuencia que estamos utilizando en el interior de la gua, mediante un programa de clculo obtenemos la parte real e imaginaria de la constante dielctrica del medio que deseamos caracterizar. FIGURA 9. Alojamiento de la muestra * Un sistema de calentamiento que consta de un contenedor de aceite, calentado mediante una resistencia, y una bomba a motor que hace circular aceite sobre el mdulo que contiene la muestra dielctrica elevando as su temperatura. Dicho sistema permite controlar y visualizar en cada momento la temperatura a la que se encuentra la muestra.

2.7 METODOS NO RESONANTES.

Bsicamente estos mtodos se encargan de determinar las caractersticas de materiales dependiendo de la impedancia caracterstica y de la velocidad de onda en los materiales.

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2.7.1 METODO DE REFLEXION En este mtodo las propiedades de los materiales son calculadas dependiendo de la reflexin que ocurre al cambiar de un medio cualquiera a en material a medir. Es decir que nuestra medida depender del coeficiente de reflexin resultante determinando un plano. Usualmente este mtodo solo se puede usar para medir un parmetro. Se emplean 2 tipos de mtodos de reflexin los cuales son:

2.7.2 METODO DE TRANSMISION/REFLEXION

En este mtodo el material a medir se introduce en una lnea de transmisin y sus propiedades se encuentran dependiendo de la reflexin que ocurre sobre el material al igual que la transmisin. Este mtodo se usa bsicamente para materiales que sean de baja conductividad. A continuacin vemos el montaje bsico de este mtodo, en donde la impedancia en la lnea de transmisin es diferente a la impedancia del material medido:

FIGURA 12. Montaje bsico mtodo de transmisin/reflexin

2.8 TECNICA DE LENZING

FIGURA 10. Metodo de reflexion abierta Este mtodo consiste en metalizar todas las caras del sustrato para que de esta manera se cree una pequea cavidad resonante, y as, ya sea por transmisin o por reflexin se calcula la frecuencia de resonancia y luego poder determinar la constante dielctrica con algn buen rango de precisin. Estos dos parmetros estn relacionados en la pequea cavidad resonante de la siguiente manera:

(37) FIGURA 11. Mtodo de reflexin en corto Para hallar la constante dielctrica obtenemos una funcin dependiente de esta constante: (36) Donde es la admitancia calculada usando el modelo de apertura y es la admitancia obtenida por medicin. En este caso al encontrar el cero de la funcin obtendremos el valor de la constante dielctrica. Donde es la constante dielctrica, c es la velocidad de la luz, a y b son las dimensiones del sustrato y fpq es la frecuencia de resonancia en la cavidad para el modo (p, q). Esta frecuencia de resonancia se determina ya sea conectando un analizador de red o bien un generador de barrido y un cristal detector para medir la energa transmitida a travs de la cavidad como funcin de la frecuencia. Independiente mente del quipo que se use, las esquinas de la cavidad debern ser limpiadas de la metalizacin y conectar sus extremos en conectores APC-7. En la siguiente grafica podemos observar que los picos en la curva de transmisin versus frecuencia corresponden a la frecuencia de resonancia en la

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cavidad, teniendo esto, y a partir de la ecuacin anteriormente mencionada es posible calcular la constante dielctrica del sustrato. FIGURA 14. Montaje experimental, resonador cilindro dividido Este mtodo de medicin nos permite medir estas caractersticas de los materiales en un solo plano que sera la abertura del cilindro. A continuacin veremos un diagrama ms detallado del montaje del resonador:

FIGURA 13. Picos de transmision

FIGURA 15. Diagrama de explicativo del resonador cilndrico dividido. Bsicamente el montaje consiste en un cilindro dividido o 2 cilindros con una separacin, esta tiene que ser ajustable y este se usara en modo TE011. La frecuencia del resonador sin substrato alguno estar descrita por:

2.9 METODOS IPC

A continuacin describiremos algunos de mtodos IPC, los cuales ofrecen estndares electrnica, entre ellos en instrumentacin aplicada microondas, encontrados para la medicin de constante dielctrica y la tangente de prdidas algunos materiales. los en en la de

2.9.1 IPC-TM-650 medicin de la tangente de prdidas y la constante dielctrica usando un resonador de cilindro dividido.
Este mtodo describe un proceso no destructivo para la medicin de la constante dielctrica y de la tangente de prdidas de materiales dielctricos a frecuencia de microondas.

(38)

Donde C es la velocidad de la luz, es el primer cero de la funcin de Bessel del primer tipo de J1, a es el radio del cilindro y L es la longitud de este. Podemos calcular las dimensiones del cilindro teniendo la frecuencia de resonancia y el factor de calidad, para esto vemos que:

(39)

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(40)

En donde

es la permeabilidad en el vaco y

FIGURA 17. Montaje experimental, metodo ipc clip. . (41) Bsicamente ponemos nuestra muestra de poco espesor en el clip, paso seguido mediremos la capacitancia encontrada entre la terminal del clip y la plataforma. Ahora para encontrar la constante dielctrica usaremos la siguiente forma:

Por ltimo teniendo en cuenta las mediciones con el analizador vectorial de frecuencia y parmetros S, y segn las formulas que rigen a este mtodo, obtendremos la tangente de perdidas y la constante dielctrica. A continuacin vemos el parmetro S21 caracterstico de nuestro resonador cilndrico dividido:

(42) En donde C es la capacitancia medida, t es el espesor del sustrato y A el rea de nuestra muestra, cilndrica o cuadrada.

2.9.3 IPC-TM-650 medicin de constate dielctrica y tangente de perdidas usando el mtodo de los 2 fluidos.

FIGURA 16. Parametro S21

Es un mtodo para determinar la constante dielctrica y la tangente de prdidas de materiales aislantes a una frecuencia de 1 MHz. No depende de manera directa o indirecta del grosor del material por lo que es muy efectivo a la hora de caracterizar laminados y pelculas delgadas, pero tambin puede ser utilizado en muestras de hasta 6,25 mm de espesor. Este mtodo utiliza el aire como un fluido y otro liquido adecuado, normalmente Dow 200 1.0CS que es una silicona liquida. Se usan valores establecidos para la permitividad del aire, la permitividad del fluido y de la muestra pues se pueden calcular fcilmente.

2.9.2 IPC-TM-650 medicin de constate dielctrica y tangente de perdidas usando le mtodo del clip.

3 CONCLUSIONES
En este mtodo tendremos una muestra la cual no tendr mucho espesor, el montaje es el siguiente: Despus de examinar la mayora de mtodos encontrados podemos ver varias caractersticas de ellos. Una de ellas seria por ejemplo que muchos de estos mtodos de medicin estn diseados para la

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caracterizacin de muestras planares o de poco espesor, por otro lado vemos que algunas se pueden adaptar para que se midan muestras en 3 dimensiones por asi decirlo o de mucho espesor. Haciendo un anlisis comparativo y teniendo en cuanta los materiales usados para la implementacin, para el correcto desarrollo y solucin de nuestra tesis hemos decidido disear e implementar un resonador cilndrico, ya que es el ms apto para lo que queremos hacer, es decir para caracterizar cualquier mezcla, ya sea liquida o solida, adems de que su misma implementacin servir como recipiente de contencin para la muestra. [6] John Q. Howell, A Quick Accurate Method to Measure the
Dielectric Constant of a Microwave Integrated-Circuit Substrate, IEEE Trans. on Microwave Theory and Technique, vol. MTT-21, pp. 142-143, March 1973.

[6] Jerzy Krupka, MEASUREMENTS OF POWDERS AND

LIQUIDS EMPLOYING DIELECTRIC RESONATOR TECHNIQUE, Department of Electronics and Information Technology Warsaw University of Technology, Poland

[7] Universidad de zaragoza, CARACTERIZACIN

DIELCTRICA POR T. D. R. DE UNA MEZCLA RESINA EPOXY TITANATO DE CALCIO.

[8] Universidad de Zaragoza, CARACTERIZACION DE

DIELECTRICOS A FRECUENCIA DE MICROONDAS, Zaragoza 5 de julio de 2004.

Tambin hemos visto que tenemos que tener muy en cuenta las mediciones que tomemos de la frecuencia de resonancia ya que todo nuestro trabajo puede depender de ello, es decir el correcto manejo de los equipos de medicin es una de las claves para un buen desarrollo de lo que estamos haciendo.

[9] IPC-TM-650 TEST METHODS MANUAL, find them in

http://www.ipc.org/default.aspx

Por ultimo cabe resaltar que aunque en este informe no se plasmaron precios o test-fixtures ya fabricados, encontramos que los precios en el mercado son muy costosos adems de que la mayora ofrecen implementados mtodos para la medicin de caractersticas en muestras de poco espesor, es decir que segn viendo todo lo encontrado, nuestro trabajo es de gran importancia ya que se puede realizar un testfixture de bajo costo, comparado por ejemplo con el Hewlett Packard Mdl 16022A, y realizar un trabajo de instrumentacin en altas frecuencias en donde no importe que clase de muestra se ponga en el recipiente.

4 REFERENCIAS
[1] AGILENT TECNOLOGIES, Basic Accurate Method to
Measure the Dielectric Constant of a Microwave Integrated-circuit substrate, IEEE Trans. On microwave theory and technique, vol. MTT-21

[2] SILVA, Oliver PANTOJA, John, Diseo de Secador

Industrial continuo a presin atmosfrica con microondas, proyecto de grado ingeniera electrnica.

[3] WANG, Chen, Determining Dielectric Constant and Loss

Tangent in FR-4, UMR EMC laboratory technical report, March 2000

[4] POZAR, David microwave engineering, segunda edicion. [5] L. F. Chen, C. K. Ong, Microwave electronics: measurement
and materials characterization, 2004.

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