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CAPITULO III Interferencia y Difraccin 1. Trmino de Interferencia Si en una regin del espacio coexisten dos ondas armnicas de la misma naturaleza e igual frecuencia , entonces, de acuerdo con el principio de superposicin, la onda resultante es la suma de ambas. Supngase dos ondas armnicas esfricas:
1 =
A1 sen(k r1 t + 1 ) r1
2 =
A2 sen(k r2 t + 2 ) r2
= 1 + 2 =
1 = k r1 1 y 2 = k r2 2
haremos: = k r
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A A A = 1 + 2 r r r 1 2
2
2
A A A A A = 1 + 2 + 2 1 2 cos(1 2 ) r r r1 r2 r 1 2
Salvo una constante, la expresin anterior est relacionada con las intensidades de las ondas componentes y la intensidad de la resultante, o sea:
= 1 + 2 + 12
donde el trmino 12 se denomina termino de interferencia.
12 = 2
A1 A2 cos[k (r1 r2 ) + (1 2 )] r1 r2
r r r 12 = 2 01 02 cos k1 k 2 r + (1 2 )
A distancias grandes 1 2 0 , y en este caso: = 2 0 (1 + cos k [r1 r2 ])
[(
de lado el trmino (1 2 ) que se relaciona con el concepto de coherencia y cuando es cero se dice que las fuentes son completamente coherentes, si es constante se dice que son coherentes y cuando es variable se dice que son incoherentes. 2. Interferencia producida por dos fuentes puntuales La figura siguiente representa dos fuentes puntuales completamente coherentes ubicadas sobre el eje y de un sistema de coordenadas cartesianas y la recta x = L , en donde se desea conocer para que valores de x existen mximos o mnimos de intensidad.
De acuerdo con esto los valores extremos que puede tomar la intensidad es 0 como mnimo y 4 0 como mximo. En la ltima expresin se ha dejado
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La intensidad en el punto P viene dada por la relacin: = 2 0 (1 + cos k [r1 r2 ]) Donde k [r1 r2 ] representa la diferencia ptica entre los recorridos de los dos haces de luz. La diferencia r1 r2 es aproximadamente:
r1 r2 h tg = hy L
Reemplazando estos valores en la expresin de la intensidad, la condicin de mximo de intensidad se obtiene haciendo cos(khy L ) = 1 y la condicin de mnimo se encuentra haciendo cos(khy L ) = 1 . Por lo tanto: Condicin de mximo: Condicin de mnimo:
y=m
L
h
m = 0, 1, 2, 3, ... m = 0, 1, 2, 3, ...
1L y = m + 2 h
En la figura anterior se muestra un grfico de la intensidad en funcin de la posicin para puntos sobre una pantalla ubicada en x = L . Los valores sealados corresponden a los mximos ms cercanos al mximo central. El mximo central se encuentra en y = 0 .
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3. Pelculas dielctricas Los efectos de interferencia se observan en materiales transparentes con espesores menores que la longitud de onda de la luz hasta placas con varios centmetros de espesor. Se dice que una capa de material es una pelcula delgada cuando el espesor es del orden de la longitud de onda. La figura siguiente muestra una placa transparente, de superficies planas paralelas, de espesor d y que es no absorbente. En cada reflexin la intensidad decrece apreciablemente de manera que se pueden considerar slo los dos primeros haces de luz reflejados. La lente que aparece tiene por objeto unir en un punto los rayos reflejados que son paralelos.
De la figura se puede calcular la diferencia de camino ptico para estos dos primeros rayos:
[r1 r2 ] = (AB + BC )n f
AB = BC =
AD n1
d cos f
AC = 2 d tg f AD = AC sen 1 = 2 d tg f nf n1 sen f
[r1 r2 ] = 2 d n f cos f
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Los rayos reflejados internamente sufrirn un cambio de con respecto a los rayos reflejados externamente. Si en la figura n1 = n 2 < n f entonces se debe considerar esta diferencia de fase, por lo tanto la intensidad viene dada por:
I = 2 I 0 { + cos (2 k 0 d n f cos f )} 1
El signo + o de no es relevante y escogeremos el signo para que la expresin final sea ms simple. Luego, para el caso por reflexin: Condicin de mximo: Condicin de mnimo: Pelcula en forma de cua Las franjas de interferencia en pelculas delgadas pueden ser tiles para determinar diferentes aspectos de la superficie de elementos pticos, por ejemplo, para ver si una superficie es opticamente plana o no. Si se coloca la superficie a examinar en contacto con un plano ptico (desviaciones menores que 4 ), el aire entre ambas superficies genera un patrn de interferencia de pelculas delgadas. Si la superficie es plana y la figura de interferencia presenta una serie de bandas rectas e igualmente espaciadas, entonces la pelcula de aire tiene forma de cua. En la figura siguiente se muestra una cua de material de ndice de refraccin n f inmerso en medios de ndices de refraccin n1 y n 2
1 2 d cos t = m + f 2
2 d cos t = m f m = 0, 1, 2, 3, ...
m = 0, 1, 2, 3, ...
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Si el ngulo es pequeo, las condiciones de mximos y de mnimos de interferencia estn dadas por las relaciones calculadas para lminas delgadas. S en la figura n1 = n 2 < n f : Condicin de mximos: Condicin de mnimos:
1 2d = m + f 2
2d = mf m = 0, 1, 2, 3, ...
m = 0, 1, 2, 3, ...
donde d es el espesor para un punto particular. Si d = x , las relaciones quedan: Condicin de mximos: 1 f x = m + 2 2 x=m
m = 0, 1, 2, 3, ...
f 2
m = 0, 1, 2, 3, ...
Una lente convexa de distancia focal grande que yace con la superficie curva sobre una placa plana de vidrio, deja un espacio de aire entre la lente y la placa de vidrio de espesor variable y se producen franjas de interferencia circulares (debido a la simetra). Si la luz proveniente de una fuente extensa cae sobre este dispositivo, prcticamente normal a l, las franjas circulares que se observan tienen un centro comn y se conocen como anillos de Newton.
Un clculo aproximado para encontrar las relaciones de mximos y mnimos en funcin de x (distancia radial a partir del centro de los anillos), se puede hacer utilizando el teorema de Pitgoras:
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R 2 = (R d ) + x 2
2
d=
x2 2R
m = 0, 1, 2, 3, ...
x2 = m R 5. Interfermetro de Michelson
m = 0, 1, 2, 3, ...
Bsicamente este tipo de instrumento est constituido por dos espejos y una placa con una de sus superficies funcionando como semi espejo. Tambin puede tener una placa compensadora que elimina la diferencia de recorrido en el interior de las placas.
La luz proveniente de una fuente puntual S incide sobre la placa A y es parcialmente reflejada en la segunda superficie dirigindose hacia el espejo E1 (trayectoria azul) en donde se refleja nuevamente y sigue la trayectoria indicada de azul hasta la parte inferior del dibujo. En la segunda superficie de la placa A el rayo parcialmente se refracta siguiendo la trayectoria roja hasta que finalmente llega al mismo lugar que el anterior. La diferencia de recorrido ptico resulta ser igual al doble de la diferencia de las distancias de los espejos E1 y E2 del punto en donde los dos haces se dividen (o sea la segunda superficie de la placa A ). Adems existe una diferencia de fase adicional porque el rayo rojo realiza una reflexin
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externa ms que el otro. Luego, la intensidad en el lugar donde se dirigen los rayos una vez que se encuentran nuevamente es: I = 2 I 0 { + cos(2 k 0 [d1 d 2 ] )} 1 La condicin de mxima intensidad es: La condicin de intensidad mnima es: 6. Difraccin de Fraunhofer La propagacin rectilnea de los rayos luminosos es una aproximacin adecuada para la mayora de los fenmenos pticos. Sin embargo, en alguna medida, la luz se curva en las cercanas de los obstculos opacos, de manera que las sombras siempre tienen lmites algo borrosos. Estas excepciones a la propagacin rectilnea de la luz se conocen como fenmenos de difraccin. Cuando las fuentes de luz, los obstculos y la pantalla donde se observa el fenmeno se encuentran a distancias efectivas infinitas, la difraccin recibe el nombre de difraccin de Fraunhofer. En el caso ms general, en el cual no se cumplen las condiciones anteriores, la difraccin se llama difraccin de Fresnel.
1 2 (d1 d 2 ) = m + 2
2 (d1 d 2 ) = m
m = 0, 1, 2, 3, ...
Las figuras anteriores muestran cmo se comportan las ondas luminosas en el caso de una difraccin de Fraunhofer y una difraccin de Fresnel. Para determinar cul mtodo se debe aplicar en el clculo de una difraccin, existe un criterio basado en la geometra. La figura a continuacin sirve para este propsito.
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L = d 2 + (b + h ) + d `2 +(b`+ h ) d 2 + b 2 d `2 +b`2
2 2
2 b+h 2 d 2 + (b + h ) d 1 + 1 2 d 2 b d 2 + b 2 d 1 + 1 2 d
11 1 b b` L + h + + h 2 2 d d ` d d `
Si las ondas incidentes fueran ondas planas, solamente existira el primer trmino, lo que indica que el segundo es una medida del efecto de la curvatura de las ondas. Si el segundo trmino es muy pequeo y comparado con la longitud de onda, podemos despreciarlo. Luego la condicin de validez para la difraccin de Fraunhofer es:
11 1 2 + h < 2 d d `
Difraccin de Fraunhofer por una rendija: Para analizar la difraccin de Fraunhofer se utiliza el principio de Huygens, que dice cada punto de un frente de ondas acta como una fuente de ondas secundarias, cuya superposicin produce un nuevo frente de ondas. Entonces, se puede suponer que la rendija es equivalente a una fuente lineal (recta) de fuentes puntuales, cuya superposicin producen la interferencia (en este caso denominada difraccin). En la figura siguiente, una rendija de ancho h es iluminada con una onda plana de longitud de ondas La rendija se divide en infinitas partes de manera que cada una de ellas tiene un ancho infinitesimal dy . Un
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elemento de rendija es elegido en forma arbitraria a una distancia y del centro de coordenadas.
y +h 2 ,
E=
E=
C h i (k r0 t ) sen e r0
1 k h sen 2
El trmino exponencial es el que le asigna propiedades ondulatorias a la funcin y por lo tanto lo que lo acompaa representa la amplitud de la onda. Como la intensidad es proporcional a la amplitud al cuadrado, entonces:
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Ch = cte r 0
sen
Ch 0 = cte r 0
La intensidad es mxima para = 0 y otros ceros se presentan para = m (siendo m un entero incluyendo el cero). Los mnimos se presentan para = m (donde m es un entero pero no cero). En funcin de los mnimos se presentan para:
h sen = m
Esta relacin indica que el ancho del mximo central es inversamente proporcional al ancho de la rendija y que es directamente proporcional a la longitud de onda. La expresin para la intensidad del mximo central indica que su amplitud es proporcional al ancho de la rendija. Difraccin de Fraunhofer por una doble rendija: El problema es similar al caso anterior pero cuando se realiza la integral, esta se separa en dos integrales cuyos lmites son, para la primera integral: ( b h ) ( b + h ) , 2 2 2 2 b h b h para la segunda integral: ( 2 2 ) ( 2 + 2 ) . En donde b representa la distancia entre ambas rendijas (medidas desde sus centros). Luego:
E= C 2 h i (k r0 t ) sen e cos r0
= 1 k h sen 2
= 1 k b sen 2
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sen 2 = cos 0
1,0 0,8 0,6 0,4 0,2 0,0 0 1 2
3 4 5
2
6
Difraccin de Fraunhofer por una triple rendija: En este caso se procede de la misma manera. La integral resultante se descompone en tres y cada una de ellas tiene como lmites lo siguiente: 1 integral: 2 integral: 3 integral:
( b h ) ( b + h ) 2 2 (+ b h ) (+ b + h ) 2 2
b +b 2 2
= 1 k h sen 2
sen3 3 sen
2
= 1 k b sen 2
Red de difraccin: Es posible generalizar las expresiones anteriores para un nmero N cualquiera de rendijas o distribuciones lineales de fuentes puntuales. El resultado que se obtiene es: C N h i (k r0 t ) sen sen N = 1 k h sen = 1 k b sen E= e 2 2 r0 N sen
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sen = 0
sen N N sen
Poder resolutivo de una red de difraccin Para una franja principal se cumple: ( )semi ancho =
b 1 k b sen = sen 2
b cos
Si esto se iguala al valor que toma el semi-ancho angular de una franja principal se obtiene:
( )semi ancho
N b cos
Por otro lado, la posicin de los mximos principales se presenta para: b sen = m , entonces la variacin finita de esta expresin para m = cte es:
b sen = m
b cos = m
m = cte
Luego
( )dist .mx. = m
b cos
m = cte
De acuerdo al criterio de Rayleigh la posicin lmite para la cual existe resolucin se obtiene igualando los dos valores de . Se define el poder de resolucin de una red de difraccin:
= mN
donde = (1 + 2 ) 2 y = 1 2 . El patrn de difraccin es la superposicin de dos patrones uno cuando la red se ilumina con luz de longitud de onda 1 y el otro cuando se ilumina con luz de longitud de onda 2 . Difraccin de Fraunhofer por una abertura circular: Como una forma de simplificar el clculo, se supone una divisin de la abertura en infinitas
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rendijas de longitud variable y ancho dy . La geometra del problema se muestra en la figura siguiente.
De manera similar a los casos anteriores la contribucin del campo elctrico de una de estas rendijas infinitesimales en un punto P es:
dE = dA i (k r t ) C dS i (k r t ) e = e r r
R 2 y 2 dy
El campo elctrico resultante es la integral de esta expresin, siendo los lmites de la integral entre los valores R y + R . Para resolver la integral se puede realizar el siguiente cambio de variable:
y = R sen R y +R dy = R cos d
1 k D sen 2
dE =
2 C R 2 i (k r0 t ) i sen e e cos 2 d r0
+
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E=
4 C R 2 i (k r0 t ) e r0
E=
J ( ) 4 C R 2 i (k r0 t ) e (3 2) 1 r0 E= C R 2 i (k r0 t ) 2 J 1 ( ) e r0
(3 2 ) =
1 2
3
2 4
2
5
2 4 6
2 2
lm 0
2 J 1 ( )
=1
Tamao del disco de Airy El patrn de difraccin que se forma cuando la abertura es circular es un disco central rodeado de anillos oscuros y brillantes, pero la intensidad de los anillos brillantes es muy reducida en comparacin con el disco central de manera que en muchos casos no se toman en cuenta. El disco central es brillante y su extensin se define como el rea encerrada en un crculo limitado por los puntos que corresponden al primer mnimo, es decir, a = 3,832 . Si se hace un grfico de la intensidad versus, para el disco de Airy se obtiene lo siguiente:
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Esto significa que el tamao del disco de Airy (radio del disco de Airy) expresado como un valor de la variable es 3,832 . O sea:
( ) Airy
( sen ) Airy
donde D es el dimetro de la abertura. Resolucin ptica
= 1,22
El tamao del disco de Airy determina la resolucin de los instrumentos pticos que tienen aberturas circulares como entrada de las ondas luminosas. Por ejemplo, la imagen de un objeto en un microscopio, telescopio o cmara fotogrfica cuyas aberturas son lentes corresponde a una superposicin de figuras de Airy. Si consideramos dos fuentes puntuales, las correspondientes figuras de Airy aparecern enfocadas en los puntos imgenes pero no sern puntuales sino que presentarn una dimensin dada por el tamao del disco de Airy. En el caso en que estos discos se traslapen existe una posicin crtica a partir de la cual la imagen parece ser slo una. El criterio denominado criterio de Rayleigh define esta posicin como aquella en que los discos de Airy se encuentran a una distancia igual a su radio, es decir, existe resolucin cuando se cumple lo siguiente:
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La figura siguiente muestra la relacin entre la posicin de dos objetos S1 y S 2 y la posicin de los discos de Airy.
En la figura anterior:
sen =
d L
( sen ) Airy
= 1,22
Adems d es la distancia entre S1 y S 2 y L la distancia de las fuentes a la lente. De acuerdo al criterio de Rayleigh, se pueden igualar estas expresiones y escribir:
d = 1,22
D L
En los microscopios, debido a la dificultad de acercar demasiado los objetos a la lente, (D L )mx 3,5 , Luego: d mn = 0,3 . Si = 5,6 10 5 [cm] , el