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Captulo dieciseis
UNO Analizar la funcin de control de la calidad en las operaciones de produccin y de servicio. DOS Definir varios trminos utilizados en el control de la calidad como: causas aleatorias, causas asignables, bajo control y fuera de control, atributo, variable, grficas de medias e intervalos, grficas p y c y grficas de p y c barra. TRES Elaborar e interpretar un diagrama de Pareto.
1-1
CINCO Elaborar e interpretar un diagrama de valor medio (o media) y un diagrama de amplitud de variacin. SEIS Realizar e interpretar dos diagramas por atributos: diagrama de porcentaje de defectuosos y diagrama de nmero de defectos por unidad. SIETE Describir el muestreo de aceptacin. OCHO Elaborar una grfica (o curva) caracterstica de operacin para diversos planes de muestreo.
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Diagramas de control
El control estadstico de la calidad hace nfasis en el control del proceso con el objeto de controlar la calidad de un proceso de manufactura o de una operacin de servicio mediante tcnicas de muestreo. Las tcnicas de muestreo estadstico se usan como ayuda en la manufactura de un producto de acuerdo a especificaciones en lugar de intentar la inspeccin de la calidad una vez fabricado el producto. Los diagramas de control se usan para monitorear el proceso.
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Causas de variacin
Existen variaciones en todas las partes producidas en el proceso de manufactura. Hay dos fuentes de variacin:
variacin aleatoria se debe al azar y no se puede eliminar por completo. variacin asignable es no aleatoria y se puede reducir o eliminar.
Nota: la variacin puede cambiar y cambiar la forma, dispersin y tendencia central de la distribucin de las caractersticas medidas del producto.
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El objetivo de los diagramas de control de la calidad es determinar y visualizar en una grfica el momento en que ocurre una causa asignable en el sistema de produccin para poder identificarla y corregirla. Esto se logra con la seleccin peridica de una pequea muestra de la produccin actual.
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La media o la grfica x barra est diseada para variables de control como peso, longitud, etc. El lmite superior de control (LSC) y el lmite inferior de control (LIC) se obtienen a partir de la ecuacin: LSC = X + A2 R y LIC = X - A2 R
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El diagrama de amplitudes est diseado para mostrar si la amplitud total de la medicin est dentro o fuera de control. El lmite superior de control (LSC) y el lmite inferior de control (LIC) se obtienen a partir de la ecuacin:
LSC = D4 R y LIC = D3 R
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EJEMPLO 1
Un fabricante de sillas giratorias desea determinar si el proceso de manufactura est dentro o fuera del control. Cada 15 minutos durante un periodo de cinco horas se selecciona un rodamiento y se mide su dimetro. Los dimetros obtenidos (en mm) son:
Horas 1 2 3 4 5
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#mm 23 26 24 24 25
#mm 24 24 32 28 24
#mm 26 30 26 31 25
#mm 28 27 27 26 27
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EJEMPLO 1
continuacin
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EJEMPLO 1
continuacin
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EJEMPLO 1
continuacin
Determine el LSC y el LIC para la amplitud de dimetro. LSC = 2.282(5.8) = 13.24 LIC = 2.282(0) = 0. Est el proceso fuera de control? Observe en la siguiente diapositiva que el proceso est dentro de control. No hay puntos fuera de los lmites de control.
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EJEMPLO 1
continuacin
Grfica de X barra
LSC=30.58 Medias M=26.35 LIC=22.12
1
Amplitudes
5
LSC=13.24
R=5.800
LIC=0
Grfica R
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El diagrama de porcentaje de defectuosos se llama tambin diagrama p o diagrama de p barra. La grfica muestra la porcin de la produccin que no es aceptable. Esta porcin se puede encontrar con total de elementos defectuoso s p= total de elementos muestreado s
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El LSC y el LIC se calculan como el porcentaje medio de defectos ms o menos tres veces el error estndar de los porcentajes:
p (1 p ) LSC y LIC p 3 n
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EJEMPLO 2
Un fabricante de zapatos de carreras quiere establecer los lmites de control para el porcentaje de defectuosos. Diez muestras de 400 zapatos revelaron que el porcentaje medio de defectuosos era 8%. Dnde establecera el fabricante los lmites de control?
.08(1.08) .08 3 400 .08.041
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El diagrama c o diagrama de c barra est diseado para el control del nmero de defectos por unidad. El LSC y el LIC se obtienen mediante:
LSC y LIC c3 c
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EJEMPLO 3
Un fabricante de tabletas de circuitos para cmputo examin 10 de ellas ina vez fabricadas. El nmero de defectos obtenidos por tableta fue: 5, 3, 4, 0, 2, 2, 1, 4, 3 y 2. Establezca los lmites de control apropiados. c 26 / 10 2.6
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Muestreo de aceptacin
El muestreo de aceptacin es un mtodo para determinar si un lote de productos que se recibe cumple los estndares especificados.
Est basado en tcnicas de muestreo aleatorio. Una muestra aleatoria de n unidades se obtiene del lote recibido. c es el nmero mximo de unidades defectuosas que se pueden encontrar en la muestra del lote para considerarse aceptable.
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Una curva CO, o curva caracterstica de operacin, se desarrolla usando la distribucin binomial de la probabilidad con el fin de determinar la probabilidad de aceptar un lote con distintos niveles de calidad
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EJEMPLO 4
Suponga que un fabricante y un proveedor acordaron un plan de muestreo con n = 10 y un nmero de aceptacin de 1. Cul es la probabilidad de aceptar un lote con 5% defectuosos y un lote con 10% defectuosos?
p( r 1, n 10, p .05) .599 .315 .914 p( r 1, n 10, p .1) .349 .387 .736