INSTITUTO

TECNOLGICO
DE CD. MADERO

DIVISIN DE ESTUDIOS
DE POSGRADO
E INVESTIGACIN

TPICOS DE NUEVOS MATERIALES CATALTICOS

ING. DAVID MACIAS FERRER, L.P.,M.E.

G86070090
Presenta:

DIFRACCIN DE RAYOS X

La difraccin de rayos X puede proporcionar informacin

detallada de la estructura tridimensional en estado slido de

muestras cristalinas de compuestos orgnicos, inorgnicos y organometalicos, consistiendo en la descripcin geomtrica en trminos de
distancias y ngulos de enlace, ngulos de torsin, etc. Tambin se
puede obtener informacin sobre empaquetamientos, interacciones
intermoleculares, etc.

CLASIFICACION DEL ESTADO SLIDO

Dependiendo de la distribucin interna que sostienen los
tomos, los slidos pueden ser clasificados en amorfos,
policristalinos y cristalinos. Los slidos amorfos no poseen una
estructura atmica definida. Los policristalinos estn divididos en
regiones o grnulos que poseen estructuras propias definidas pero
de tamaos y orientaciones irregulares. Los slidos cristalinos se
diferencian porque sus tomos constituyentes se encuentran
distribuidos en forma regular a travs del cuerpo.

Cristalino

Amorfo

Policristalino

La ordenacin espacial y el tamao de los cristales puede

ponerse de manifiesto mediante la difraccin de rayos X.

Cuando un haz de rayos X incide sobre la superficie de un

slido ordenado regularmente se produce una difraccin descrita
por la Ley de Bragg.

ESTRUCTURAS CRISTALINAS

Diamante

Grafito

Un cristal es un material slido en el cual las molculas se

arreglan de forma ordenada siguiendo un mismo patrn de
acomodo para todo el material, los acomodos posibles de un cristal
o sistema cristalino han sido descritos en las llamadas celdas o
Redes de Bravais, y su estudio corresponde a la cristalografa. Son
ejemplos de cristales no polimricos la sal comn y el diamnte.

Cloruro de Sodio

Diamante

REDES DE BRAVAIS

ANTECEDENTES DE DIFRACCION DE RAYOS X

Los rayos X fueron descubiertos accidentalmente por Wilhelm Conrad
Rntgen (18451923) en 1895 cuando experimentaba con la
produccin de rayos catdicos en tubos de descarga cubiertos con
papel negro. Descubri que el haz de electrones producido en el
ctodo incida en el vidrio del tubo y produca una radiacin X de
pequea intensidad. Rntgen no lleg a determinar la longitud de

onda de ese nuevo tipo de radiacin electromagntica.

W. Roentgen, demostr que los nuevos rayos se

propagaban en lnea recta con una velocidad anloga a la de la luz
y que eran capaces de atravesar materiales opacos a la luz. A
principios del ao de 1912, Laue se dio cuenta de que los Rayos X

tenan longitud de onda adecuada para poder ser difractados por

los tomos que componen los cristales.

En 1912, el fsico alemn Max Von Laue (1879-1960) y su equipo,

sugirieron que los tomos de un cristal estn espaciados a una distancia tan
pequea que les permite servir como electos de una rejilla de difraccin
tridimensional para los rayos X.
Se llevaron a cabo ensayos con un cristal de sulfato de cobre, al que
se le someti a la accin de los rayos X haciendo que el haz incidiera en una
placa fotogrfica. El resultado fue la impresin de la placa por una serie de
manchas distribuidas geomtricamente alrededor de una mancha central

grande producida por el haz directo de rayos X demostrndose as que se

produca difraccin. Este era el comienzo de la cristalografa de rayos X. La
disposicin de los puntos resultantes del modelo de Laue depende de las
disposiciones relativas de los tomos del cristal.

Los rayos X son la radiacin electromagntica cuya longitud de onda

() varia de 0.1 a 100 .

La tcnica de Rayos-X puede ser aplicada tanto al anlisis

cualitativo como al cuantitativo.
Es posible identificar los compuestos qumicos cristalinos que
constituyen a un material.
Permite evaluar la proporcin de estos compuestos y si es
necesario, determinar si el compuesto de inters se encuentra
presente en la muestra

William Henry Bragg (1862-1942) y su hijo William Lawrence Bragg

(1890-1971) descubrieron que los rayos difractados en una muestra
empezaron a dar resultados con respecto a la resolucin de las
estructuras de los cristales. La porcin del espectro electromagntico
que est entre la luz ultravioleta y la radiacin es llamada la regin

de Rayos X.

Se dice que cuando la radiacin electromagntica incide

sobre un tomo, los electrones oscilan con la misma frecuencia que

el campo. Como los rayos X son una onda electromagntica que viaja
en el espacio, es de suponerse que gran parte de los electrones que
se encuentran en su trayectoria oscilen con la misma frecuencia.

Cada uno de los electrones puede considerarse como un

oscilador separado, que emite una radiacin electromagntica,
cuya amplitud es muy dbil, si la comparamos con la de la onda

incidente, para dar una onda resultante correspondiente al

tomo.

Interaccin del haz electrnico con la materia

LEY DE BRAGG
Difundida por W.L. Bragg para el anlisis de la estructura de cristales.
Donde n es el orden de una reflexin (n {1,2,3....}), es la longitud
de onda, d es la distancia entre planos paralelos de la lattice y es el
anglo entre el rayo incidente y el plano del enrejado conocido
tambin como el anglo de Bragg.

DIFRACCIN DE RAYOS X
La difraccin (de los rayos X) es el fenmeno fsico a travs del cual se
manifiesta la interaccin fundamental de los rayos X con los cristales
(materia ordenada).

La intensidad del haz difractado depende de:

a) La intensidad y la longitud de onda del haz incidente.
b) La estructura del cristal, es decir, del arreglo de los tomos en
la celda unitaria; arreglo caracterizado que se conoce como
factor de estructura.
c) El volumen de los cristales que difractan.
d) El ngulo de difraccin.
e) La absorcin de rayos X por el cristal.
f)

El arreglo experimental utilizado

La difraccin de rayos X es una tcnica muy verstil para el anlisis

cualitativo y cuantitativo de compuestos cristalinos. La informacin
obtenida incluye tipos de fases cristalinas, estructura de las mismas,
grado de cristalinidad, cantidad de contenido amorfo, tamao y
orientacin de cristales, etc.

APLICACIONES DE LA DIFRACCIN DE RAYOS X

Determinacin mineralgica y cristalogrfica de cualquier tipo de material
de tipo cristalino.
Estudios de transformacin de fases en funcin de la temperatura desde
24C hasta 160C .
Anlisis cuantitativo de fases.
Determinacin de tamao de cristal
Determinacin cuantitativa de amorfos en polmeros medianamente
cristalinos .
Determinacin
inoxidables.

cuantitativa de elementos en aceros al carbn e

Esta tcnica nos permite caracterizar la homogeneidad de la fase

cristalina as como y el dimetro promedio de los cristales a lo largo
de una direccin [ h k l].
Mtodo de polvos, es el mas utilizado en el estudio de materiales
cristalinos. Dicho mtodo consiste en hacer pasar un haz de Rayos X a
una muestra previamente depositada en un portaobjetos con un
espesor homogneo.
Capas orientadas, consiste en dispersar de la muestra en un solvente
(agua o acetona) y esparcirla en un portaobjetos, la cual produce
una capa delgada al evaporarse el solvente. Esta tcnica permite
acentuar ciertas familias de planos cristalinos, ya que los cristalitos se
acomodan en orientaciones preferenciales a medida que se evapora el
solvente.

DISPERSION DE UN AGREGADO DE ATOMOS

Los rayos X dispersados por varios tomos de un material,

originan

radiacin

en

todas

direcciones,

producindose

interferencias debido a los de fases coherentes inducidos por los

vectores interatmicos que fijan la posicin relativa de los tomos.
En una molcula o en un agregado de tomos, este efecto se conoce
como efecto de interferencia interna, mientras que nos referiremos
como efecto de interferencia externa al que se produce entre
molculas o entre agregados. Los diagramas de dispersin reflejan la

intensidad relativa de cada uno de estos efectos:

Las figuras representan el efecto de interferencia

externo.
El interno, que en este caso es debido a un slo
tomo, viene simplemente reflejado por la
intensidad relativa de los mximos.
Obsrvese cmo el movimiento trmico en el
lquido suaviza y disminuye el perfil de dispersin
presente en el vidrio.
En el cristal el perfil de dispersin se convierte en
picos definidos donde los otros diagramas
presentan picos anchos y contnuos. En este caso, el
efecto total se conoce como difraccin.
Es de notar cmo el fenmeno de la dispersin
refleja el "orden interno de la muestra", esto es las
correlaciones de posicin entre los tomos.

IDENTIFICACIN DE FASES
Los materiales cristalinos producen distintos perfiles de difraccin de
rayos-X en donde se pueden identificar fase (s) presentes en el
material. El Centro Internacional para Datos de Difraccin (ICDD)
cuenta con una gran base datos para cerca de 63,000 materiales para
su identificacin.

IDENTIFICACIN DE FASES
Los materiales cristalinos producen distintos perfiles de difraccin de
rayos-X en donde se pueden identificar fase (s) presentes en el
material. El Centro Internacional para Datos de Difraccin (ICDD)
cuenta con una gran base datos para cerca de 63,000 materiales para
su identificacin.

IDENTIFICACIN DE FASES
Los materiales cristalinos producen distintos perfiles de difraccin de
rayos-X en donde se pueden identificar fase (s) presentes en el
material. El Centro Internacional para Datos de Difraccin (ICDD)
cuenta con una gran base datos para cerca de 63,000 materiales para
su identificacin.

TABLAS DE CRISTALOGRAFIA DE RAYOS-X

Las Tablas Internacionales de cristalografa de Rayos X contienen informacin
sobre los 230 grupos espaciales que existen.

EQUIPO DE DIFRACCIN DE RAYOS X

El equipo de rayos-X consta de las

siguientes partes:
a)

Fuente de rayos-x

b)

Goniomtro de 2 crculos ( y 2)

c)

Portamuestras

d)

Detector

e)

Computadora para control del

instrumento y anlisis de datos.

PREPARACIN DE LA MUESTRA

Primero molienda
Segundo tamizado
Tercero montaje del
portamuestras.

METODOLOGA
En esta tcnica se usan muestras slidas y tamizadas a tamao
menor de 53 m. Las muestras pulverizadas se depositan sobre un
porta muestra, evitando, en lo posible, la orientacin preferente de
los cristales.

Sobre la muestra se hace incidir un haz de rayos X (lo mas cercano a

lo monocromtico)

Los rayos difractados (diferentes para cada cristal) son registrados y

traducidos en un difractograma en un ordenador.