Cartas de Control

para atributos
 Cartas de control para atributos
Datos de Atributos
Tipo Medicin Tamao de Muestra ?
p Fraccin de partes defectuosas, Constante o variable > 30
defectivas o no conformes

np Nmero de partes defectuosas Constante > 30

c Nmero de defectos Constante = 1 Unidad de

inspeccin

u Nmero de defectos por unidad Constante o variable en

unidades de inspeccin
 Cartas de control para Atributos
Situaciones fuera de control
Un punto fuera de los lmites de control.
Siete puntos consecutivos en un mismo lado de de la lnea central.
Siete puntos consecutivos, todos aumentando o disminuyendo.
Catorce puntos consecutivos, alternando hacia arriba y hacia abajo.

Carta C
C Chart for Pitted S
15
Lmite Superior de Control
1

3.0SL=12.76
Sample Count

10

Lnea Central
C=5.640
5

0
Lmite Interior de Control
-3.0SL=0.000

0 5 10 15 20 25

Sam pl e Num ber

Nmero de Muestras

Ahora, veamos algunos ejemplos...

3
 Carta p (Atributos)

Tambin se llaman Cartas de Porcentaje Defectivo o Fraccin

Defectiva
Monitorea el % de defectos o fraccin defectiva en una muestra
El tamao de muestra (n) puede variar
Recalcula los lmites de control cada vez que (n) cambia

Terminologa
n = tamao de cada muestra (por ejemplo, produccin
semanal)
np = nmero de unidades defectuosas en cada muestra
p = proporcin (porcentaje) de defectos en cada muestra -
(fraccin defectiva)
k = nmero de muestras
4
 Carta p (Atributos)

np # de productos defectivos en cada muestra

pi = =
ni # de productos inspeccionados en la muestra
Clculo de los lmites de control

n1 p1 + n2p2 + n3 p3 + ...+ nk pk Fraccin defectiva

p =
n1 + n2 + n3 + ... + nk promedio

p (1- p) p (1- p)
LSC = p + 3 LIC = p - 3
n n

Nota: Recalcular los lmites en cada

muestra (ni) si n es variable 5
 Carta p (Cont...)
Ejemplo: Algunos componentes no pasaron la inspeccin final. Los datos de falla se
registraron semanalmente tal como se muestra a continuacin.

n np p
# de Fraccin de
componentes Componentes componentes
inspeccionados defectuosos defectuosos

7 0 0.000
7 0 0.000
K = 13 semanas 15 2 0.133
14 2 0.143
48 6 0.125
22 0 0.000
18 6 0.333
7 0 0.000
14 1 0.071
9 0 0.000
14 2 0.143
12 2 0.167
8 1 0.125

6
 ...Carta p (Cont..)
Ejemplo:
Grfica P para Fraccin Defectiva
0.5

0.4
3.0SL= 0.4484 LSC
Proporci

0.3
n

0.2

0.1 P= 0.1128 p
0.0 -3.0SL= 0.000
LIC
0 5 10
Nmero de muestra

Observe como el LSC vara conforme el tamao (n) de cada muestra vara.
Por qu el LIC es siempre cero?
Qu pas en la muestra 7? (33.3% defectos)
Qu oportunidades para mejorar existen?,
Podemos aprender algo de las muestras 1, 2, 6, 8, y 10?
Podra este proceso ser un buen proyecto de mejora?
7
 ... Carta np (Atributos)

Se usa cuando se califica al producto como bueno/malo,

pasa/no pasa.
Monitorea el nmero de productos defectuosos de una
muestra
El tamao de muestra (n) es constante y mayor a 30.

Terminologa (igual a grfica p, aunque n es constante)

n = tamao de cada muestra (Ejemplo: produccin semanal)
np = nmero de unidades defectuosas en cada muestra
k = nmero de muestras

8
 ...Carta np (Atributos)

np = # de productos defectuosos en una muestra

n = tamao de la muestra
k = Nmero de muestras o subgrupos
p = Suma de productos defectuosos / Total inspeccionado
Total inspeccionado = n * k

Clculo de los lmites de control

n p1 + np2 + n p3 + ...+ npk
np = k

LSC = np + 3 np (1-p) LIC = np - 3 np (1-p)

9
 ...Carta np (Cont..)
Ejemplo 1: en un proceso se inspeccionan K = 15 lotes tomando n = 4000
partes de cada lote, se rechazan algunas partes por tener defectos, como sigue:
n np
# de partes
# de partes inspeccionadas defectuosas
4000 2
4000 3
4000 3
4000 2
4000 4
4000 2
4000 3
4000 3
4000 6
4000 8
4000 3
4000 4
4000 4
4000 7
4000 6
K=15 lotes 10
 ... Carta np (Cont...)
Ejemplo 1:

Carta np de nmero de defectivos o defectuosos

10 3.0 LSC=10.03
No. De fecetivos

5
Np =4.018 np

0 - 3.0S LIC=0.0 LIC

0 5 10 15
Nmero de muestras

El tamao de la muestra (n) es constante

Los lmites de control LSC y LIC son constantes

Esta carta facilita el control por el operador ya que el evita

hacer clculos 11
 ... Carta c (Atributos)

Monitorea el nmero de defectos por cada unidad de inspeccin

(1000 metros de tela, 200 m2 de material, un TV)
El tamao de la muestra (n unidades de inspeccin) debe ser
constante
Ejemplos:
- Nmero de defectos en cada pieza
- Nmero de cantidades ordenadas incorrectas en rdenes
de compra
Terminologa
c = Nmero de defectos encontrados en cada
unidad o unidades constantes de inspeccin
k = nmero de muestras
12
 ... Carta c (Atributos)

Clculo de los lmites de control

c1 + c2 + c3 + ...+ ck
c=
k

LSC = c + 3 c LIC = c - 3 c

13
 ... Carta c (cont..)
Ejemplo: Se inspeccionaron 20 hojas de un nuevo papel de regalo buscando
defectos. Los resultados se observan a continuacin.

No. Lote No. Def No. Lote No. Def c1 + c2 + c3 + ...+ ck

1 5 11 3 c=
2 4 12 15
k
152
3 3 13 10 c=
4 5 14 8 20
5 16 15 4
6 1 16 2
7 8 17 10
8 9 18 12
LSC = 7.6 + 3 (2.757) = 15.87
9 9 19 7
10 4 20 17 LSI = 7.6 - 3 (2.757) = -0.67

14
 Attribute (c) Chart Number of defects
Lower control limit
Upper control limit
Center line

18

16
Number of defects

14

12

10

0
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25 27 29 31 33 35 37 39 41 43 45 47 49

Sample number

Observe el valor de la ltima muestra; est fuera del lmite

superior de control (LSC)
Qu informacin, anterior a la ltima muestra, debi haber
obviado el hecho de que el proceso iba a salir de control?
 ...Carta u (Atributos)

Monitorea el nmero de defectos en una muestra de n unidades

de inspeccin. El tamao de la muestra (n) puede variar
Los defectos por unidad se determinan dividiendo el nmero de
defectos encontrados en la muestra entre el nmero de unidades
de inspeccin incluidas en la muestra (DPU o nmero de
defectos por unidad) .

Ejemplos:
Se toma una muestra de tamao constante de tableros por
semana, identificando defectos visuales por tablero.

Se inspeccionan aparatos de TV por turno, se determinan los

defectos por TV promedio.
16
 ... Carta u (cont...)

Terminologa
n = tamao de cada muestra en unidades de inspeccin
(por ejemplo, produccin semanal)
c = Nmero de defectos encontrados en cada muestra
de unidades de inspeccin
u = defectos por unidad (DPU)
k = nmero de muestras
c = # de defectos en una muestra de n unidades de
inspeccin
n = Nmero de unidades de inspeccin en cada muestra
u = c / n = DPU = Nmero de defectos por unidad
17
 ... Carta u (cont...)

Ui = Ci / ni Defectos por unidad para cada muestra

Clculo de los lmites de control

c1 + c2 + c3 + ...+ ck Nmero de defectos por
u=
n1 + n2 + n3 + ...+ nk Unidad promedio

LSC = u + 3 u LIC = u - 3 u
ni ni
Nota: Recalcular los lmites en cada tamao de muestra (ni)
Se puede tomar n promedio o estandarizar para tener Lmites de control
constantes
18
 ... Carta u (cont..)
Ejemplo 1: Un proceso de soldadura suelda 50 PCBs por semana
Los defectos visuales observados se registran
cada semana.
n c u
Defectos
# PCB Visuales
Soldados Observados DPU
50 305 6.1
50 200 4.0
50 210 4.2
50 102 2.0
50 198 4.0
50 167 3.3
50 187 3.7
50 210 4.2
50 225 4.5
50 247 4.9
50 252 5.0
50 215 4.3
k=12 semanas
19
 ... Carta u (Cont.)
Ejemplo 1:

Grfica U para Defectos

Conteo de muestras

1
6

5
LSC
3.0L SC= 5.066

4
U = 4.197 u
-3.0L IC=3.328
3
LIC
2 1
0 5 10
Nmero de Muestras

Observe como los lmites de control permanecen constantes

cuando se utiliza un tamao de muestra constante igual a 50
Cules son las dos observaciones de mayor inters?
Los datos muestran alguna tendencia?
20
 ... Carta u (cont...)
Ejemplo 2: Defectos encontrado al inspeccionar varios
lotes de productos registrados por semana
Lote n c = Defectos u = DPU
Lote Unidade s De fe ctos DPU
1 10 60 6
2 12 75 6.3
3 7 42 6
4 14 77 5.5
5 12 69 5.8
6 12 72 6
7 13 76 5.8
8 10 55 5.5
9 9 51 5.7
10 14 78 5.6
11 13 72 5.5
12 13 77 5.9
13 12 74 6.2
14 10 57 5.7
15 11 62 5.6
16 13 41 3.2
17 11 30 2.7
18 15 45 3
19 15 42 2.8
20 14 40 2.9

k=20 semanas
21
 ... Carta u (cont..)
Ejemplo 2:

Grfica U para Defectos

Nmero de efectos

7 3.0L SC
=6.768
LSC
6

5 U=4.979 u
4
-3.0L IC=3.190
3 LIC
2
0 10 20
Nmero de Muestras

Observe que ambos lmites de control varan cuando el

tamao de muestra (n) cambia.

En que momentos estuvo el proceso fuera de control?

22
Grfica de Control por Atributos

Resumen

Grfica de
Control
de Atributos

Piezas Defectos por

Defectuosas pieza

Grfica p Grfica np Grfica u Grfica c

Grfica de Control por Atributos

Grficas de Control por Atributo

Tamao de
Tipo Data Formula CL UCL LCL
Muestra

Piezas
p defectuosas Varia p=np/n p=np/n p+3p(1-P)/n p-3p(1-P)/n
n=n/k

Piezas
np defectuosas Constante p=np/n np=np/k np+3np(1-P) np-3np(1-P)

Defectos por
c Pieza Constante c c=c/k c+3c c-3c

Defectos por
u Pieza Varia u=c/n u=c/n u+3u/n u-3u/n
Etapas del Control Estadstico de Procesos

Etapa 1:
Ajuste del
Control proceso
estadstico

Etapa 2:
Control del
proceso
Etapa 1: Ajuste del proceso
Se recogen unas 100-200 mediciones y se realiza un
grfico de control.

a) Proceso bajo control: se adoptan los lmites de control.

b) Pocos puntos fuera de control (2 o 3):se eliminan y se

calculan nuevos lmites.

c) Observaciones no siguen un patrn aleatorio,

investigar, eliminar causas asignables y comenzar
nuevamente el proceso de ajuste
Etapa 2: Control del proceso

Nuevas observaciones del proceso productivo, se

registran en grficos de control con los lmites
establecidos en la etapa 1.

Si el proceso se sale de control, se detiene y se

investigan las causas. Eliminada la causa del
problema se continua la produccin.
Clasificacin de los mtodos estadsticos de C.C.

Mtodos Estadsticos de
Control de Calidad

Control Estadstico de Procesos Muestreo de Aceptacin

(grficos de control) (planes de muestreo)

Atributos Variables Atributos Variables