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CARTAS DE CONTROL
PARA ATRIBUTOS
PLANTILLA PARA REGISTRO DE DEFECTOS
Carta c
Depto. Producto: Operacin: Inspeccin Final
Fecha: 2 3 4 5 6 9 10 11 12 13 16 17 18 19 20 23
N de Piezas 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10
45
40 LS C = 3 5 . 16
35
30
25 LC = 2 1. 3 1
20
15
10 LIC = 7 . 4 6
5
0
Cantidad
Tiempo
Costo
Calidad
Para calcular los limites de control se parte del supuesto de que la cantidad
de piezas defectuosas por subgrupo sigue una distribucin binomial, los
limites estn dados por :
w 3w
p (1 p )
p p y pi
i
n
p (1 p )
LCS p 3
n
Lnea central = p
p (1 p )
LCI p 3
n
En caso de que el tamao muestral (ni ) sea diferente para cada subgrupo, a la
hora de calcular los lmites segn el modelo de Shewart, podemos optar por:
1. Obtener los lmites usando el ni asociado a cada muestra, con lo que las
lneas de control no sern rectas (darn saltos arriba y abajo segn ni
disminuya o aumente),
p
d i
ni
Formulas para encontrar los limites
p (1 p ) p (1 p )
LCS p 3 LCI p 3
n n
p nuevo
d np i d
n n d
p0 p nuevo
P0 es la lnea central
y representa al valor
p0 (1 p0 ) patrn o de referencia
LCS p0 3 correspondiente a la
n
frecuencia de no
conformidad
p0 (1 p0 )
LCI p0 3
n
7. Lograr el objetivo:
p( 1 - p )
___ 0 ,291( 1 - 0 ,291 )
LSC p = p+3 0,291+ 3 =0 ,483
n 50
__
___
p(1 p) 0,291(1 - 0,291)
LIC p p - 3 0,291 - 3 0,099
n 50
fraccin defectuosa
muestra 50
La investigacin revela:
411+(-30-26-34-25)= 296
296
p 0,247
1200
0,247(1 0,247)
LCS 0,247 3 0,430
50
0,247(1 0,247)
LCI 0,247 3 0,064
50
Armazones Armazones
Fecha Muestra defectuosos en Fecha Muestra defectuosos en
muestra de 50 muestra de 50
Mayo 28 29 14 junio14 44 4
30 30 5 15 45 5
31 31 8 16 46 2
Junio 1 32 8 18 47 3
3 33 9 19 48 5
4 34 4 20 49 5
5 35 8 21 50 4
6 36 4 22 51 5
7 37 10 23 52 4
8 38 6 25 53 6
9 39 5 26 54 6
10 40 9 27 55 3
11 41 7 28 56 6
12 42 4 29 57 7
13 43 2 30 58 5
23 09/12/2017
Control de Calidad - Capitulo VI: Cartas de Control para Atributos
01 de junio
Existen procesos en los que se aplica una carta p , donde el tamao del
subgrupo ni es muy variable, debido a que esta asociado con tamaos de
lotes o alguna otra circunstancia que hace imprctico trabajar con el
mismo tamao de subgrupo como referencia
Los limites de control en este caso dependen del valor de ni ,
Numero pequeo de ste hace que los lmites sean ms amplios , y
viceversa;
Un valor grande de ni hace que los lmites de la carta p sean mas
estrechos
Los limites de control se calculan para cada subgrupo
p(1 - p )
LCS = p + 3
ni
Lnea central = p
p(1 p)
LCI p 3
ni
50,515 1,015
d 1015 p (1 p )
p i 0,020 LCS p 3
ni 50,515 n
p (1 p ) 0,020(1 0,020)
LCS p 3 0,020 0,029
n 2385
p (1 p ) 0,020(1 0,020)
LCS p 3 0,020 0,011
n 2385
d n p
i
y d n p(1 p)
i
LCS n p 3 n p (1 p )
Lnea central n p
LCI n p 3 n p (1 p )
__
Lnea central = n p = 120 * 0 ,07625 = 9 ,15
35
Esto est tan cerca al valor anterior que podemos tomar la lnea
central anterior y los lmites anteriores, como estndar para la
operacin del diagrama de control durante el periodo siguiente.
LCL anterior
N Defectos
N grupo
grupo Grafica c: revisar los limites, basando el
35 51 nuevo promedio en los puntos 35-50
36 33
37 40
38 40
39 46
40 32
41 46
42 49
43 31
44 36
45 41
46 49
47 39
48 49
49 43
50 43
ci cantidad de defectos en el
subgrupo i
ni tamao del subgrupo i
Total defectos
i = = ; i =
Total articulos inspeccionados n
Limite de control
525
Clculo del tamao de subgrupo promedio n 21,875
24
1,04 1,04
LCS 1,04 1,69 LCS 1,04 0,38
21,875 21,875
GRAFICA c, GRAFICA u
En estas cartas la caracterstica de calidad, que es
un Atributo, se representa a travs del nmero de
defectos encontrados en las piezas que conforman los
lotes ( rayones, tejido desigual en telas,nmero de
nudos y otros defectos en los paneles, etc.)
c : Para dimensiones constantes.
u : Para dimensiones variables
1 12 0.24 16 8 0.16
2 15 0.30 17 10 0.20
3 8 0.16 18 5 0.10
4 10 0.20 19 13 0.26
5 4 0.08 20 11 0.22
6 7 0.14 21 20 0.40
7 16 0.32 22 18 0.36
8 9 0.18 23 24 0.48
9 14 0.28 24 15 0.30
10 10 0.20 25 9 0.18
11 5 0.10 26 12 0.24
12 6 0.12 27 7 0.14
13 17 0.34 28 13 0.26
14 12 0.24 29 9 0.18
15 22 0.44 30 6 0.12
0.23 * 0.77
0.2313 +3 =0.4102
p(1 - p)
LSC p p 3
n 50
LIC p p 3
p(1 - p)
0.2313 - 3
0.23 * 0.77
=0.05243
n 50
P Chart for C1
0.5 1
1
0.4 UCL=0.4102
Proportion
0.3
P=0.2313
0.2
0.1
LCL=0.05243
0.0
0 10 20 30
Sample Number
Ejemplo 2:
Utilizando los datos del diagrama anterior, construya la grfica np e interprete los resultados.
15
NP=11.57
10
5
-3.0SL=2.621
0
0 10 20 30
Sample Number
Control de Calidad - Capitulo VI: Cartas de Control para
55 Atributos 09/12/2017
X R
.
Ejercicio 3
Se toman las medidas de los dimetros de una pieza
cilndrica, el tamao de muestra de cada subgrupo es de
cinco, y se toman 25 subgrupos a intervalos de 1 hr.
Realice la carta de control
R =0.198
X = 0.71
LSCR= D4R = 2.11* 0.198 = 0.41
LICR = D3R =0
UCL=0.8254
0.8
Sample Mean
0.7 Mean=0.7112
0.6 LCL=0.5970
Subgroup 0 5 10 15 20 25
0.7 1
0.6
Sample Range
0.5
0.4 UCL=0.4187
0.3
0.2 R=0.198
0.1
0.0 LCL=0
Se calculan los limites de control para cada subgrupo, ya que al tener tamaos de
muestra diferentes estos son variables.
Grfica con lmites constantes:
Para la realizacin de los diagramas de control con lmites constantes utilizamos las
frmulas siguientes:
Control de Calidad - Capitulo VI: Cartas de Control para
59 Atributos 09/12/2017
Los parmetros para el grfico son:
LSC X X A3 S LIC S B4 S
LSC S B3 S
LIC X X A3 S
25
Sample Mean
15
UCL=13.70
Mean=10.87
LCL=8.033
5
Subgroup 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
4
UCL=3.725
Sample StDev
2
S=1.451
1
0 LCL=0
Control de Calidad - Capitulo VI: Cartas de Control para
60 Atributos 09/12/2017